JP6832524B2 - 光ディスクの検査方法 - Google Patents

Description

本開示は、光ディスクがデータを正常に記録または再生できる状態であるかどうかを検査する検査方法に関する。

情報（データ）の記録が可能な光ディスクが普及し、広く使用されている。特許文献１には、光ディスクの表面に付着したキズまたは汚れ等のディフェクトを検出する光ディスクのディフェクト検出方法が開示されている。

特開平１０−４０５４６号公報

本開示は、光ディスクがデータを正常に記録または再生できる状態であるかどうかを高い精度で検査することができる検査方法を提供する。

本開示の検査方法は、記録型の光ディスクの検査方法であって、前記光ディスクは、データが記録された場合にエラー訂正が行われる単位である記録単位を複数含む記録層を有し、前記検査方法は、レーザ光を前記記録層に集光する集光ステップと、前記記録層で反射した前記レーザ光に応じた電気信号を取得する取得ステップと、取得された前記電気信号において、当該電気信号の信号レベルが所定値よりも低くなる第一期間を前記記録単位に対応する第二期間ごとに特定することにより、前記光ディスクの異常の有無を判定する判定ステップと、判定結果を出力する出力ステップとを含む。

本開示の検査方法は、光ディスクがデータを正常に記録または再生できる状態であるかどうかを高い精度で検査することができる。

図１は、実施の形態に係る情報記録システムの外観斜視図である。 図２は、マガジンの外観斜視図である。 図３は、マガジンの分解斜視図である。 図４は、光ディスクの記録層の構造を示す模式断面図である。 図５は、光ディスクの記録層の構造を示す平面図である。 図６は、実施の形態に係る情報記録システムの機能構成を示すブロック図である。 図７は、光ディスクの検査方法のフローチャートである。 図８は、第二制御部の第一期間の特定方法を説明するための図である。 図９は、レーザ光が集光された記録層を示す第一模式図である。 図１０は、レーザ光が集光された記録層を示す第二模式図である。 図１１は、径方向に長いキズまたは付着物の有無を推定する方法を説明するための模式図である。

以下、適宜図面を参照しながら、実施の形態を詳細に説明する。但し、必要以上に詳細な説明は省略する場合がある。例えば、既によく知られた事項の詳細説明や実質的に同一の構成に対する重複説明を省略する場合がある。これは、以下の説明が不必要に冗長になるのを避け、当業者の理解を容易にするためである。

なお、発明者らは、当業者が本開示を十分に理解するために添付図面および以下の説明を提供するのであって、これらによって特許請求の範囲に記載の主題を限定することを意図するものではない。添付図面は、模式図であり、必ずしも厳密に図示されたものではない。また、添付図面において、実質的に同一の構成に対しては同一の符号を付しており、重複する説明は省略または簡略化される場合がある。

（実施の形態）
［情報記録システムの概要］
まず、実施の形態に係る情報記録システムの概要について説明する。図１は、実施の形態に係る情報記録システムの外観斜視図である。

図１に示されるように、情報記録システム２００は、情報記録装置１００と、情報端末１１０と、表示装置１２０とを備える。

情報記録装置１００は、複数の光ディスクを用いてデータを記憶するデータアーカイバである。情報端末１１０及び表示装置１２０は、情報記録システム２００におけるユーザインターフェースであり、ユーザは、情報端末１１０及び表示装置１２０を用いて、情報記録装置１００に記録された情報の読み出し、及び、情報記録装置１００への情報の記録指示を行うことができる。

情報記録装置１００は、具体的には、マガジンストッカー１０と、複数のマガジン２０と、ピッカー３０と、キャリア４０と、複数のディスクドライブ５０と、制御装置６０とを備える。

マガジン２０は、複数の光ディスクを収容する筐体である。図２は、マガジン２０の外観斜視図であり、図３は、マガジン２０の分解斜視図である。

図２及び図３に示されるように、マガジン２０は、複数の光ディスク８０が上下方向に積み重なった状態で収容されるマガジントレイ２１と、マガジントレイ２１を収容するケース２２とを有する。１つのマガジントレイ２１には、例えば、１２枚の光ディスク８０が収容される。

光ディスク８０は、円盤状の記録媒体である。実施の形態では、光ディスク８０は、記録型（追記型）の光ディスクであって、例えば、１枚あたり１００ＧＢ程度のデータが記録される。なお、追記型の光ディスク８０は、情報を付加的に記録する記録媒体であり、一旦記録されたデータを書き換えることはできない。

ピッカー３０は、マガジンストッカー１０に収容された複数のマガジン２０の中から１つのマガジン２０を選択し、選択したマガジン２０のマガジントレイ２１を引き出す。また、ピッカー３０は、引き出したマガジントレイ２１を保持し、複数のディスクドライブ５０の近傍まで搬送する。ピッカー３０は、マガジントレイ２１に収納された複数の光ディスク８０を互いに接触しないように分離するセパレータ３１を有する。

キャリア４０は、セパレータ３１により分離された複数の光ディスク８０を、当該分離された状態でセパレータ３１から受け取り、複数のディスクドライブ５０の挿入口５１に１枚ずつ挿入する。

ディスクドライブ５０は、光ディスク８０への情報の記録及び、光ディスク８０の再生を行う装置である。ディスクドライブ５０は、トレイを使用せずに光ディスク８０をローディングするスロットイン方式のディスクドライブである。複数のディスクドライブ５０は、上下方向（高さ方向）に積み重ねられている。情報記録装置１００が備える複数のディスクドライブ５０の総数は、マガジン２０に収容された光ディスク８０の総数と等しく、実施の形態では１２である。

制御装置６０は、ピッカー３０、キャリア４０、及びディスクドライブ５０などの各装置の動作を制御する制御装置である。

以上説明したような情報記録装置１００は、使用開始前に複数のマガジン２０の検査を行う。情報記録装置１００は、具体的には、マガジン２０内の光ディスク８０が未記録の状態で、当該光ディスク８０にキズまたは付着物が無いかの検査を行う。

［光ディスクの構造］
次に、光ディスク８０の記録層の構造について説明する。図４は、光ディスクの記録層の構造を示す模式断面図である。図５は、光ディスクの記録層の構造を示す平面図である。

上述のように、光ディスク８０は、記録型（追記型）の光ディスクである。図４に示されるように、光ディスク８０は、上面及び下面にそれぞれ３つの記録層を有する。光ディスク８０は、上面側にＬａｙｅｒ０（図４のＬ０）、Ｌａｙｅｒ１（図４のＬ１）、及びＬａｙｅｒ２（図４のＬ２）の３つの記録層を有し、下面側にもＬａｙｅｒ０、Ｌａｙｅｒ１、及びＬａｙｅｒ２の３つの記録層を有する。

また、図５に示されるように、１つの記録層においては、中心付近からスパイラル状にグルーブ（溝）が形成され、グルーブ及びランド（溝と溝の間の領域）の一方が、記録マークが形成されるトラック８１とされている。なお、グルーブ及びランドの両方がトラック８１とされてもよい。

トラック８１は、複数のＥＣＣ（Ｅｒｒｏｒ Ｃｏｒｒｅｃｔｉｎｇ Ｃｏｄｅ）ブロック８２に分割されている。言い換えれば、複数のＥＣＣブロック８２は、記録層においてスパイラル状のトラックを構成している。ＥＣＣブロック８２は、記録単位の一例であって、データが記録された場合にエラー訂正が行われる単位である。

トラック８１（グルーブ）は、トラック８１沿に沿って細かいウォブリング構造を有し、ディスクドライブ５０は、ウォブリング構造を光ディスク８０内のアドレス情報として認識することができる。ウォブリング構造によれば、ディスクドライブ５０は、データが記録される前の光ディスク８０であっても、安定してアドレスを特定することができる。

［情報記録システムの機能構成］
次に、情報記録システム２００の機能構成について説明する。図６は、情報記録システム２００の機能構成を示すブロック図である。

図６に示されるように、情報記録システム２００は、情報記録装置１００と、情報端末１１０と、表示装置１２０とを備える。情報端末１１０は、例えば、パーソナルコンピュータであり、表示装置１２０は、例えば、液晶ディスプレイである。

また、情報記録装置１００は、主として、ディスクドライブ５０及び制御装置６０を備える。まず、ディスクドライブ５０の詳細な構成について説明する。ディスクドライブ５０は、光ヘッド５２と、スピンドルモータ５３と、サーボ制御部５４と、アドレス特定部５５と、二値化処理部５６と、レーザ駆動部５７と、第一制御部５８と、第一記憶部５９とを備える。

光ヘッド５２は、光ディスク８０の記録層にレーザ光を集光し、光ディスク８０の記録層で反射したレーザ光を受光する。また、光ヘッド５２は、受光したレーザ光を電気信号に変換して出力する。光ヘッド５２は、電気信号として、ウォブル信号、サーボエラー信号、及び、データ信号を出力する。光ヘッド５２は、具体的には、光ピックアップ装置であり、レーザ光を出射するレーザ光源、及び、レーザ光を電気信号に変換するフォトディテクタ（フォトダイオード）を有する。

ウォブル信号は、光ディスク８０のウォブリング構造に応じた信号であり、トラック８１内でレーザ光が集光されている位置（集光位置）のアドレスを示す信号である。サーボエラー信号は、レーザ光を記録層にフォーカスし、かつ、集光位置をトラック８１に追従させるための信号である。データ信号は、トラック８１に記録されたデータを示す信号である。

スピンドルモータ５３は、サーボ制御部５４の制御に基づいて、光ディスク８０を回転させる。サーボ制御部５４は、光ヘッド５２から出力されるサーボエラー信号に基づいて、レーザ光を記録層にフォーカスし、かつ、集光位置をトラック８１に追従させる制御を行う。また、サーボ制御部５４は、スピンドルモータ５３の回転数を制御する。サーボ制御部５４は、例えば、第一制御部５８によって制御される。

アドレス特定部５５は、ウォブル信号に基づいて、記録層内のレーザ光の集光位置のアドレスを特定する。アドレス特定部５５は、具体的には、ＡＤＣ（Ａｎａｌｏｇ Ｄｉｇｉｔａｌ Ｃｏｎｖｅｒｔｅｒ）回路を含む。ＡＤＣ回路は、ウォブル信号に対して、ＤＣ変動を抑制するＨＰＦ（Ｈｉｇｈ Ｐａｓｓ Ｆｉｌｔｅｒ）処理、ウォブル信号の再生に不要な高域ノイズを除去するＬＰＦ（Ｌｏｗ Ｐａｓｓ Ｆｉｌｔｅｒ）処理、及び、ウォブル信号の振幅変動を抑制するＡＧＣ（Ａｕｔｏ Ｇａｉｎ Ｃｏｎｔｒｏｌ）処理などのアナログ信号処理を行う。

また、アドレス特定部５５には、さらに、ＰＬＬ（Ｐｈａｓｅ Ｌｏｃｋｅｄ Ｌｏｏｐ）回路及び復調回路が含まれる。ＡＤＣ回路は、ＰＬＬ回路から供給されるクロック信号を用いて、アナログ信号処理された後のウォブル信号をディジタル化する。ＰＬＬ回路は、ディジタル化され、かつ、ＢＰＦ処理されたウォブル信号から、当該ウォブル信号に同期したクロック信号を生成し出力する。復調回路は、ＰＬＬ回路から出力されるクロック信号を基準に、サンプリングされたウォブル信号からアドレス情報を復調する。この結果、記録層内のレーザの集光位置のアドレスが特定される。

二値化処理部５６は、光ヘッド５２から出力されるデータ信号を二値化する処理を行う。二値化処理部５６は、具体的には、ＡＤＣ回路を含む。ＡＤＣ回路は、データ信号に対して、ＤＣ変動を抑制するＨＰＦ処理、二値化に不要な高域ノイズを除去するＬＰＦ処理、及び、データ信号の振幅変動を抑制するＡＧＣ処理等のアナログ信号処理を行う。

また、二値化処理部５６には、さらに、ＰＬＬ回路、適応フィルタ、及び、復調回路が含まれる。ＡＤＣ回路は、データＰＬＬ回路から供給されるクロック信号を用いて、データ信号をディジタル化する。ディジタル化されたデータ信号は、適応フィルタによってフィルタ処理された後、復調回路によって二値化データに変換される。なお、詳細は図示されないが、二値化データに対しては、その後、誤り訂正処理などが行われる。

レーザ駆動部５７は、第一制御部５８の制御に基づいて、光ヘッド５２にレーザ光を出射させる。レーザ駆動部５７は、具体的には、半導体レーザ用の駆動回路である。なお、レーザ駆動部５７は、光ヘッド５２に含まれてもよい。

第一制御部５８は、ディスクドライブ５０が備える各構成要素の制御、及び、制御装置６０との通信を行う。第一制御部５８は、具体的には、プロセッサ、マイクロコンピュータ、または専用回路などによって実現される。第一制御部５８は、プロセッサ、マイクロコンピュータ、及び、専用回路のうち２以上の組み合わせによって実現されてもよい。なお、詳細は図示されないが、第一制御部５８と制御装置６０との間には、通信インターフェース（通信回路）が介在する。

第一記憶部５９は、第一制御部５８が実行する制御プログラムなどが記憶される記憶装置である。第一記憶部５９は、具体的には、半導体メモリなどによって実現される。

次に、制御装置６０について説明する。制御装置６０は、第二制御部６１と、第二記憶部６２とを備える。

第二制御部６１は、例えば、情報端末１１０からの指示に基づいて、ピッカー３０、キャリア４０、及び、ディスクドライブ５０などの各装置の動作を制御する。第二制御部６１は、具体的には、プロセッサ、マイクロコンピュータ、または専用回路などによって実現される。第二制御部６１は、プロセッサ、マイクロコンピュータ、及び、専用回路のうち２以上の組み合わせによって実現されてもよい。なお、詳細は図示されないが、第二制御部６１と情報端末１１０との間には、通信インターフェース（通信回路）が介在する。

また、第二制御部６１は、情報記録装置１００が使用開始される前、つまり、マガジン２０内の光ディスク８０が未記録の状態で、当該光ディスク８０にキズまたは付着物が無いかの検査を行う。このような検査の詳細については後述する。

第二記憶部６２は、第二制御部６１が実行する制御プログラムなどが記憶される記憶装置である。この制御プログラムには、光ディスク８０（マガジン２０）の検査用のプログラムが含まれる。第二記憶部６２は、具体的には、半導体メモリなどによって実現される。

［光ディスクの検査方法］
次に、制御装置６０（第二制御部６１）が行う、マガジン２０内の光ディスク８０の検査方法について説明する。図７は、光ディスク８０の検査方法のフローチャートである。なお、図７のフローチャートは、第二制御部６１がピッカー３０及びキャリア４０を制御して光ディスク８０をディスクドライブ５０に挿入した後、１つの光ディスク８０に対して行われる検査方法を示す。

まず、第二制御部６１は、第一制御部５８を介してレーザ駆動部５７及びサーボ制御部５４を制御することにより、レーザ光を光ディスク８０の記録層に集光する（Ｓ１１）。このとき、第二制御部６１は、第一制御部５８を介してサーボ制御部５４を制御してスピンドルモータ５３を回転させることにより、記録層に集光されたレーザ光のビームスポットを光ディスク８０の記録層のトラック８１に追従させる。

次に、第二制御部６１は、記録層で反射したレーザ光に応じたデータ信号を取得する（Ｓ１２）。記録層にデータが記録された状態においては、データ信号は、記録されたデータに応じて信号レベルが変動する信号であるが、本検査方法は、データが未記録の光ディスク８０を対象に行われる。データが未記録の状態において、データ信号は、通常、ほぼ一定の信号レベルとなるが、光ディスク８０の表面にキズまたは付着物がある場合にはレーザ光の反射量が低下するため、信号レベルが低下する。つまり、データ信号の信号レベルが低下している期間は、キズまたは付着物がある期間であるとみなすことができる。

そこで、第二制御部６１は、ステップＳ１２において取得されたデータ信号において、当該データ信号の信号レベルが所定値よりも低くなる第一期間をＥＣＣブロック８２に対応する第二期間ごとに特定する（Ｓ１３）。図８は、第一期間の特定方法を説明するための図である。

図８では、検査中のデータ信号が図示されている。上述のように、記録層に集光されたレーザ光のビームスポットは、光ディスクの回転によってトラック８１に沿って進む。光ディスク８０の表面の対象部分にキズまたは付着物があれば、トラック８１のうち対象部分に重なる部分にビームスポットが当たっている間は、データ信号の信号レベルが低下する。図８では、第一期間Ｔ_１において、データ信号の信号レベルが所定値よりも低下している。

第一期間Ｔ_１の長さが長いほど、光ディスク８０の表面に大きなキズまたは付着物が有ると考えられる。このため、第一期間Ｔ_１の長さが所定期間よりも長い場合に、このような光ディスク８０には異常がある（使用不可能である）と判定する検査方法が考えられる。なぜなら、このような光ディスク８０には、キズまたは付着物が障害となって、データを正常に記録または再生できない可能性があるからである。

しかしながら、このような検査方法によって使用不可能であると判定された光ディスク８０は、実際には使用できる場合がある。具体的には、図８に示されるように、第一期間Ｔ_１が２つの第二期間Ｔ_２１及び第二期間Ｔ_２２にまたがっている場合、つまり、キズまたは付着物が２つのＥＣＣブロック８２にまたがって存在する場合である。

上述のように、ＥＣＣブロック８２は、データが再生された場合にエラー訂正が行われる単位である。１つのＥＣＣブロック８２においてキズまたは付着物がない領域が確保されていればエラー訂正が可能であり、通常はデータの再生に問題が生じない。図８の例では、第一期間Ｔ_１には、一のＥＣＣブロック８２に対応する第二期間Ｔ_２１に属する第一期間Ｔ_１１と、他のＥＣＣブロック８２に対応する第二期間Ｔ_２２に属する第一期間Ｔ_１２とが含まれる。このような場合、第一期間Ｔ_１１の長さ及び第一期間Ｔ_１２の長さのそれぞれが所定の長さ未満であれば、通常はデータの記録に問題が生じない。

そこで、ステップＳ１３では、第二制御部６１は、ＥＣＣブロック８２に無関係に第一期間を特定するのではなく、データ信号において、第一期間をＥＣＣブロック８２に対応する第二期間ごとに特定する。図８の例では、第二制御部６１は、第二期間Ｔ_２１に含まれる第一期間Ｔ_１１を特定し、第二期間Ｔ_２２に含まれる第一期間Ｔ_１２を特定する。

なお、データ信号のうち第二期間の始点及び終点（２つのＥＣＣブロック８２の境界）は、アドレス特定部５５から出力されるアドレスに基づいて特定することができる。データ信号が所定値以下となるか否かは、例えば、コンパレータ回路などによって特定できる。所定値は、例えば、データ信号の信号レベルの最大値の５０％とされるが、特に限定されない。

そして、第二制御部６１は、第一期間Ｔ_１１の長さ及び第一期間Ｔ_１２の長さのそれぞれが所定の長さ以上であるか否かを判定する（Ｓ１４）。第一期間の長さは、例えば、タイムカウンタ等によって計測できる。所定の長さは、例えば、６００Ｂｙｔｅの情報量に相当する長さである。第二期間の長さは、６４ＫＢｙｔｅの情報量に相当するため、所定の長さは、第二期間の長さの１％程度の長さである。なお、所定の長さは、特に限定されないがエラー訂正が許容される所定の情報量に対応する長さであるとよい。

第二制御部６１は、第一期間Ｔ_１１の長さ及び第一期間Ｔ_１２の長さの少なくとも一方が所定の長さ以上であると判定すると（Ｓ１４でＹｅｓ）、光ディスク８０に異常があると判定する（Ｓ１５）。つまり、光ディスク８０には、データを正常に記録または再生できないような大きなキズまたは付着物があると判定する。

一方、第二制御部６１は、第一期間Ｔ_１１の長さ及び第一期間Ｔ_１２の長さの両方が所定の長さ未満であると判定すると（Ｓ１４でＮｏ）、光ディスク８０に異常がないと判定する（Ｓ１６）。つまり、光ディスク８０には、データを正常に記録または再生できないような大きなキズまたは付着物はないと判定する。

最後に、第二制御部６１は、判定結果を出力する（Ｓ１７）。判定結果は、例えば、情報端末１１０に出力される。この結果、例えば、表示装置１２０には、判定結果（検査結果）を示す画像が表示される。

以上のような検査方法によれば、光ディスク８０がデータを正常に記録または再生できる状態であるかどうかを高い精度で検査することができる。

［変形例１］
上述のように、光ディスク８０は、上面及び下面にそれぞれ３つの記録層を有する。つまり、光ディスク８０は、複数の記録層が積層された構造を有する。ここで、例えば、光ディスク８０の上面及び下面の一方の面を検査するときには、レーザ光は、３つの記録層のうちの１つの記録層に集光されればよい。このとき、レーザ光は、３つの記録層のいずれに集光されてもよい。図９及び図１０は、レーザ光が集光された記録層を示す模式図である。

図９では、複数の記録層のうち光ヘッド５２から最も遠い記録層であるＬａｙｅｒ０にレーザ光が集光され、図１０では、複数の記録層のうち光ヘッド５２に最も近い記録層であるＬａｙｅｒ２にレーザ光が集光されている。

ここで、Ｌａｙｅｒ０にレーザ光が集光されているときの光ディスク８０の表面におけるビームスポット径ｒ１は、Ｌａｙｅｒ２にレーザ光が集光されているときの光ディスク８０の表面におけるビームスポット径ｒ２よりも小さい。図９及び図１０に示されるように、付着物７０は、光ディスク８０の表面に付着するため、表面におけるビームスポット径が小さいほど、高い精度で付着物７０の有無の検査を行うことができる。つまり、図１０に示されるように、光ディスク８０に含まれる複数の記録層のうち光ヘッド５２に最も近い記録層にレーザ光が集光されることで、検査精度を高めることができる。

［変形例２］
光ディスク８０には、データの記録または再生の障害となるようなキズまたは付着物が１つもないことが望ましい。したがって、光ディスク８０の検査においては、１つの記録層に含まれるＥＣＣブロック８２の数と同じ数の第二期間が特定され、特定された全ての第二期間が、当該第二期間に含まれる第一期間が所定の長さ未満であるという条件を満たすことが理想的である。光ディスク８０のように両面記録型の光ディスクにおいては、上面側の記録層、及び、下面側の記録層のそれぞれにおいて、上記の条件を満たすことが理想的である。

しかしながら、特定された複数の第二期間のうち、一部の第二期間が条件を満たさない場合、つまり、光ディスク８０に、キズまたは付着物によって記録に使用できないと推定されるＥＣＣブロック８２（以下、不良ＥＣＣブロックと記載する）が含まれる場合であっても、不良ＥＣＣブロックのアドレスが記憶され、不良ＥＣＣブロックへの記録が回避されれば、光ディスク８０を使用することができる。なお、不良ＥＣＣブロックは、言い換えれば、所定の長さ以上の第一期間を含む第二期間に対応するＥＣＣブロックである。

そこで、第二制御部６１は、所定の長さ以上の第一期間を含む第二期間の数、つまり、不良ＥＣＣブロックの数に基づいて、光ディスク８０の異常の有無を判定してもよい。第二制御部６１は、具体的には、データ信号における所定の長さ以上の第一期間を含む第二期間の数（記録層における不良ＥＣＣブロックの数）が所定数以上である場合に、光ディスク８０に異常があると判定してもよい。

所定数は、例えば、記録容量に応じて定められるとよい。所定数は、例えば、１枚の光ディスク８０の最大記録容量うち不良ＥＣＣブロックの記録容量の合計が１０％未満となるような数に定められる。

［変形例３］
第二制御部６１は、光ディスク８０の径方向に長いキズまたは付着物があると推定される場合に、光ディスク８０に異常があると判定してもよい。図１１は、径方向に長いキズまたは付着物の有無を推定する方法を説明するための模式図である。なお、図１１に図示されているトラック８１は、実際にはスパイラル状であるが、説明のために簡略化して記載されている。

図１１において、ＥＣＣブロック群８３は、トラック８１のうち光ディスク８０の中心（最内周）からｌ周目の部分に含まれる複数のＥＣＣブロック８２からなる。ＥＣＣブロック群８４は、トラック８１のうち光ディスク８０の中心からｍ周目の部分に含まれる複数のＥＣＣブロック８２からなり、ＥＣＣブロック群８５は、トラック８１の中心からｎ周目の部分に含まれる複数のＥＣＣブロック８２からなる。なお、ｌ、ｍ、ｎは、互いに異なる自然数である。

ここで、ＥＣＣブロック群８３、ＥＣＣブロック群８４、及び、ＥＣＣブロック群８５のそれぞれに少なくとも１つの不良ＥＣＣブロックが含まれる場合には、径方向に長い付着物７１（またはキズ）が存在していると推定される。

そこで、第二制御部６１は、ＥＣＣブロック群８３、ＥＣＣブロック群８４、及び、ＥＣＣブロック群８５のそれぞれに少なくとも１つの不良ＥＣＣブロックが含まれると判断した場合に、光ディスク８０に異常があると判定してもよい。

第二制御部６１は、具体的には、取得されたデータ信号において、トラック８１のｌ周目の部分に対応する期間、トラック８１のｍ周目の部分に対応する期間、及び、トラック８１のｎ周目の部分に対応する期間のそれぞれに、所定の長さ以上の第一期間を含む第二期間が含まれる場合に、光ディスク８０に異常があると判定してもよい。なお、データ信号内のトラック８１のｌ周目の部分に対応する期間、トラック８１のｍ周目の部分に対応する期間、及び、トラック８１のｎ周目の部分に対応する期間のそれぞれは、アドレス特定部５５から出力されるアドレスに基づいて特定することができる。

これにより、第二制御部６１は、径方向に長いキズまたは付着物があると推定される光ディスク８０を異常ありと判定することができる。

また、トラック８１のｌ周目、ｍ周目、及びｎ周目は、例えば、等間隔に設定され、ｌ＜ｍ＜ｎであるとすると、ｍ−ｌは、ｎ−ｍに等しくなる。ｍ−ｌ及びｎ−ｍのそれぞれは、例えば、１以上の整数である。このように、第二制御部６１は、データ信号のうち、等間隔に選択された、互いに隣り合わないＮ周分のトラックに対応するＮの期間のそれぞれに、所定の長さ以上の第一期間を含む第二期間が少なくとも１つ含まれる場合に、光ディスク８０に異常があると判定してもよい（Ｎは２以上の整数）。

なお、第二制御部６１は、少なくとも２つのＥＣＣブロック群（例えば、ＥＣＣブロック群８４、及び、ＥＣＣブロック群８５）のそれぞれに、少なくとも１つの不良ＥＣＣブロックが含まれると判断した場合に、光ディスク８０に異常があると判定すればよい。つまり、第二制御部６１は、取得されたデータ信号において、トラック８１のうち光ディスク８０の中心からｍ周目の部分に対応する期間、及び、トラック８１のうち光ディスク８０の中心からｎ周目の部分に対応する期間のそれぞれに、所定の長さ以上の第一期間を含む第二期間が含まれる場合に、光ディスク８０に異常があると判定すればよい。

［変形例４］
上記検査方法では、光ディスク８０ごとに判定結果が出力されたが、マガジン２０ごとに判定結果が出力されてもよい。つまり、マガジン２０ごとに異常の有無（使用可否）が判定されてもよい。

ここで、マガジン２０に収容された複数の光ディスク８０のうちキズまたは付着物が発生しやすいのは、一番上に位置する第一光ディスクの上面である。なぜなら、第一光ディスクの上面は、ケース２２に接触しやすいからである。同様に、マガジン２０に収容された複数の光ディスク８０のうち一番下に位置する第二光ディスクの下面もキズまたは付着物が発生しやすい。なぜなら、第二光ディスクの下面は、マガジントレイ２１に接触しやすいからである。

そこで、マガジン２０ごとに異常の有無が判定される場合には、マガジン２０内の全ての光ディスク８０を検査対象とするのではなく、第一光ディスク及び第二光ディスクのみが検査対象とされてもよい。より詳細には、第一光ディスクの上面側の記録層、及び、第二光ディスクの下面側の記録層のみが検査の対象とされてもよい。

この場合、検査においては、第一光ディスクの上面側の記録層、及び、第二光ディスクの下面側の記録層のみを対象として、当該記録層にレーザ光が集光される。つまり、１つのマガジン２０に対して、２つの記録層のみが検査の対象となる。異常の有無の判定には、上述したどの方法が用いられてもよい。

そして、第一光ディスク及び第二光ディスクの少なくとも一方が異常であると判定された場合に、マガジン２０が異常であることを示す判定結果が出力される。

このように、第一光ディスクの上面側の記録層、及び、第二光ディスクの下面側の記録層のみが選択的に検査されることにより、効率的にマガジン２０の異常の有無を判定することができる。

［効果等］
以上説明したように、上記実施の形態は、記録型の光ディスク８０の検査方法に関する。光ディスク８０は、データが記録された場合にエラー訂正が行われる単位であるＥＣＣブロック８２を複数含む記録層を有する。ＥＣＣブロック８２は、記録単位の一例である。検査方法は、レーザ光を記録層に集光する集光ステップ（Ｓ１１）と、記録層で反射したレーザ光に応じたデータ信号を取得する取得ステップ（Ｓ１２）とを含む。検査方法は、取得されたデータ信号において、当該データ信号の信号レベルが所定値よりも低くなる第一期間をＥＣＣブロック８２に対応する第二期間ごとに特定する（Ｓ１３）ことにより、光ディスク８０の異常の有無を判定する判定ステップ（Ｓ１４〜Ｓ１６）と、判定結果を出力する出力ステップ（Ｓ１７）とを含む。データ信号は、電気信号の一例である。

このような検査方法によれば、ＥＣＣブロック８２ごとに障害となるキズまたは付着物の有無が判定されるため、光ディスク８０がデータを正常に記録できる状態であるかどうかを高い精度で検査することができる。

また、判定ステップでは、取得されたデータ信号において、第二期間に含まれる第一期間の長さが所定の長さ以上である場合に、光ディスク８０に異常があると判定してもよい。

これにより、上記検査方法は、例えば、ＥＣＣブロック８２が、データが記録された場合にエラー訂正が可能であるかを考慮して光ディスク８０の検査を行うことができる。

また、変形例２のように、判定ステップでは、取得されたデータ信号における、所定の長さ以上の第一期間を含む第二期間の数に基づいて、光ディスクの異常の有無を判定してもよい。

これにより、上記検査方法は、例えば、必要な記録容量を考慮して光ディスク８０の検査を行うことができる。

また、変形例３のように、複数のＥＣＣブロック８２は、記録層においてスパイラル状のトラック８１を構成し、判定ステップでは、取得されたデータ信号において、トラック８１のうち光ディスク８０の中心からｍ（ｍは自然数）周目の部分に対応する期間、及び、トラック８１のうち光ディスク８０の中心からｎ（ｎはｍと異なる自然数）周目の部分に対応する期間のそれぞれに、所定の長さ以上の第一期間を含む第二期間が含まれる場合に、光ディスク８０に異常があると判定してもよい。

これにより、上記検査方法は、径方向に長いキズまたは付着物があると推定される光ディスク８０を異常ありと判定することができる。

また、変形例１のように、光ディスク８０は、複数の記録層が積層された構造を有し、集光ステップでは、複数の記録層のうちレーザ光を出射する光ヘッド５２に最も近い記録層にレーザ光を集光してもよい。

これにより、光ディスク８０の表面におけるビームスポット径が小さくなる。このため、上記検査方法は、高い精度で付着物の有無の検査を行うことができる。

また、変形例４のように、検査方法は、上下方向に積み重なった状態でマガジン２０に収容された複数の光ディスク８０であって、それぞれが上面及び下面の両方に記録層を有する複数の光ディスク８０のうち、一番上に位置する第一光ディスク及び一番下に位置する第二光ディスクのみを対象として行われてもよい。集光ステップでは、第一光ディスクの上面側の記録層、及び、第二光ディスクの下面側の記録層のみを対象として、当該記録層にレーザ光を集光してもよい。出力ステップでは、判定ステップにおいて第一光ディスク及び第二光ディスクの少なくとも一方が異常であると判定された場合に、マガジンが異常であることを示す判定結果を出力してもよい。

これにより、キズまたは付着物７０が付着しやすい光ディスク８０の記録層のみが選択的に検査される。このため、上記検査方法は、効率的にマガジン２０の異常の有無を判定することができる。

また、検査方法は、データが未記録の光ディスク８０を対象として行われてもよい。

これにより、上記検査方法は、データが未記録の光ディスク８０におけるキズまたは付着物の有無を判定することができる。

また、上記のように、ＥＣＣブロック８２は、記録単位の一例である。つまり、記録単位は、ＥＣＣブロックであってもよい。

これにより、上記検査方法は、ＥＣＣブロック８２ごとに障害となるキズまたは付着物の有無を検査することができる。

（他の実施の形態）
以上のように、本出願において開示する技術の例示として、実施の形態を説明した。しかしながら、本開示における技術は、これに限定されず、適宜、変更、置き換え、付加、省略などを行った実施の形態にも適用可能である。また、上記実施の形態で説明した各構成要素を組み合わせて、新たな実施の形態とすることも可能である。

そこで、以下、他の実施の形態をまとめて説明する。

上記実施の形態では、検査方法は、制御装置が備える第二制御部によって実行されたが、ディスクドライブが備える第一制御部によって実行されてもよい。また、検査方法に含まれる各処理が、情報記録装置が備える各構成要素によって分担されてもよい。

また、上記実施の形態において、第一制御部及び第二制御部などの構成要素は、専用のハードウェアで構成されるか、各構成要素に適したソフトウェアプログラムを実行することによって実現されてもよい。各構成要素は、ＣＰＵまたはプロセッサなどのプログラム実行部が、ハードディスクまたは半導体メモリなどの記録媒体に記録されたソフトウェアプログラムを読み出して実行することによって実現されてもよい。

また、上記実施の形態の検査方法は、各種記録型の光ディスクに適用可能である。例えば、ＡＤ（アーカイバルディスク（登録商標））、ＢＤ（ブルーレイディスク（登録商標））、ＤＶＤ、ＣＤなどの記録型のディスクに適用可能である。また、検査方法の対象となるディスクは、両面記録型であってもよいし、片面記録型であってもよい。

また、上記実施の形態において説明された検査方法における複数の処理の順序は一例である。複数の処理の順序は、変更されてもよいし、複数の処理のうち一部の処理が並行して実行されてもよい。

また、本開示の包括的または具体的な態様は、検査方法に限定されるものではなく、システムまたは装置として実現されてもよい。また、本開示の包括的または具体的な態様は、集積回路、コンピュータプログラムまたはコンピュータ読み取り可能なＣＤ−ＲＯＭなどの記録媒体で実現されてもよい。

例えば、本開示は、上記実施の形態で説明されたディスクドライブ、情報記録装置、または情報記録システムとして実現されてもよい。また、本開示は、上記検査方法をコンピュータに実行させるためのプログラムとして実現されてもよいし、当該プログラムが記録された非一時的な記録媒体として実現されてもよい。

以上のように、本開示における技術の例示として、実施の形態を説明した。そのために、添付図面および詳細な説明を提供した。

したがって、添付図面および詳細な説明に記載された構成要素の中には、課題解決のために必須な構成要素だけでなく、上記技術を例示するために、課題解決のためには必須でない構成要素も含まれ得る。そのため、それらの必須ではない構成要素が添付図面や詳細な説明に記載されていることをもって、直ちに、それらの必須ではない構成要素が必須であるとの認定をするべきではない。

また、上述の実施の形態は、本開示における技術を例示するためのものであるから、特許請求の範囲またはその均等の範囲において種々の変更、置き換え、付加、省略などを行うことができる。

本開示は、記録型の光ディスクの検査方法として有用である。

１０ マガジンストッカー
２０ マガジン
２１ マガジントレイ
２２ ケース
３０ ピッカー
３１ セパレータ
４０ キャリア
５０ ディスクドライブ
５１ 挿入口
５２ 光ヘッド
５３ スピンドルモータ
５４ サーボ制御部
５５ アドレス特定部
５６ 二値化処理部
５７ レーザ駆動部
５８ 第一制御部
５９ 第一記憶部
６０ 制御装置
６１ 第二制御部
６２ 第二記憶部
７０ 付着物
７１ 付着物
８０ 光ディスク
８１ トラック
８２ ＥＣＣブロック
８３、８４、８５ ＥＣＣブロック群
１００ 情報記録装置
１１０ 情報端末
１２０ 表示装置
２００ 情報記録システム

Claims (7)

1. 記録型の光ディスクの検査方法であって、
   前記光ディスクは、データが記録された場合にエラー訂正が行われる単位である記録単位を複数含む記録層を有し、
   前記検査方法は、
   レーザ光を前記記録層に集光する集光ステップと、
   前記記録層で反射した前記レーザ光に応じた電気信号を取得する取得ステップと、
   取得された前記電気信号において、当該電気信号の信号レベルが所定値よりも低くなる第一期間を前記記録単位に対応する第二期間ごとに特定することにより、前記光ディスクの異常の有無を判定する判定ステップと、
   判定結果を出力する出力ステップとを含み、
   前記検査方法は、上下方向に積み重なった状態でマガジンに収容された複数の光ディスクであって、それぞれが上面及び下面の両方に記録層を有する複数の光ディスクのうち、一番上に位置する第一光ディスク及び一番下に位置する第二光ディスクのみを対象として行われ、
   前記集光ステップでは、前記第一光ディスクの上面側の記録層、及び、前記第二光ディスクの下面側の記録層のみを対象として、当該記録層に前記レーザ光を集光し、
   前記出力ステップでは、前記判定ステップにおいて前記第一光ディスク及び前記第二光ディスクの少なくとも一方が異常であると判定された場合に、前記マガジンが異常であることを示す前記判定結果を出力する
   光ディスクの検査方法。
2. 前記判定ステップでは、取得された前記電気信号において、前記第二期間に含まれる前記第一期間の長さが所定の長さ以上である場合に、前記光ディスクに異常があると判定する
   請求項１に記載の光ディスクの検査方法。
3. 前記判定ステップでは、取得された前記電気信号における、所定の長さ以上の前記第一期間を含む前記第二期間の数に基づいて、前記光ディスクの異常の有無を判定する
   請求項１に記載の光ディスクの検査方法。
4. 複数の前記記録単位は、前記記録層においてスパイラル状のトラックを構成し、
   前記判定ステップでは、取得された前記電気信号において、前記トラックのうち前記光ディスクの中心からｍ（ｍは自然数）周目の部分に対応する期間、及び、前記トラックのうち前記光ディスクの中心からｎ（ｎはｍと異なる自然数）周目の部分に対応する期間のそれぞれに、所定の長さ以上の前記第一期間を含む前記第二期間が含まれる場合に、前記光ディスクに異常があると判定する
   請求項１に記載の光ディスクの検査方法。
5. 前記光ディスクは、複数の記録層が積層された構造を有し、
   前記集光ステップでは、複数の記録層のうち前記レーザ光を出射する光ヘッドに最も近い記録層に前記レーザ光を集光する
   請求項１〜４のいずれか１項に記載の光ディスクの検査方法。
6. 前記検査方法は、データが未記録の前記光ディスクを対象として行われる
   請求項１〜５のいずれか１項に記載の光ディスクの検査方法。
7. 前記記録単位は、ＥＣＣ（Ｅｒｒｏｒ Ｃｏｒｒｅｃｔｉｎｇ Ｃｏｄｅ）ブロックである
   請求項１〜６のいずれか１項に記載の光ディスクの検査方法。

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