JP6821424B2 - 情報処理装置、情報処理方法、及びプログラム - Google Patents
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- 230000010365 information processing Effects 0.000 title claims description 41
- 238000003672 processing method Methods 0.000 title claims description 13
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 claims description 25
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 48
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 46
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 30
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 21
- 238000000034 method Methods 0.000 description 17
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 9
- 239000003921 oil Substances 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 5
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 5
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 4
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 2
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 238000004441 surface measurement Methods 0.000 description 2
- 241001422033 Thestylus Species 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000010705 motor oil Substances 0.000 description 1
- 230000001151 other effect Effects 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
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- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Instruments For Viewing The Inside Of Hollow Bodies (AREA)
Description
に関する。
前記入力部には、複数の凹部を有する被測定面の形状データが入力される。
前記設定部は、前記入力された形状データをもとに前記複数の凹部の各々を検出し、前記検出された前記凹部ごとに、前記凹部を含む除去対象領域を設定する。
凹部の面積に応じた除去対象領域を設定することで、凹部を除いた領域の表面粗さを高精度に測定することが可能となる。
これにより除去対象領域として、凹部の大きさを基準とした領域を設定することが可能となり、表面粗さの測定精度を向上させることが可能となる。
これにより除去対象領域として、適当な割合で凹部を拡大した領域を設定することが可能となり、表面粗さの測定精度を向上させることが可能となる。
これにより凹部の大きさを基準とした除去対象領域を簡単に設定することが可能となり、表面粗さの測定精度を向上させることが可能となる。
これにより凹部の大きさを基準とした除去対象領域を簡単に設定することが可能となり、表面粗さの測定精度を向上させることが可能となる。
これにより除去対象領域として、凹部を所定の拡大率で拡大した領域を設定することが可能となり、表面粗さの測定精度を向上させることが可能となる。
これにより高い精度で凹部を検出することができる。
例えば被測定面がシリンダ等の内壁等である場合に、形状データを平面に展開することで、高い精度で凹部を検出することができる。
これにより平均高さから所定の閾値以上低い部分を、凹部として精度よく検出することが可能となる。
これによりシリンダの内壁面の複数のピットを除いた領域の表面粗さを高精度に測定することが可能となる。
これによりシリンダの内壁面のクロスハッチを除いた領域の表面粗さを高精度に測定することが可能となる。
被測定面の表面性状として、凹部を除いた領域の表面粗さを高精度に測定することが可能となる。
前記取得された形状データをもとに前記複数の凹部の各々が検出され、前記検出された前記凹部ごとに、前記凹部を含む除去対象領域が設定される。
複数の凹部を有する被測定面の形状データを取得するステップ。
前記取得された形状データをもとに前記複数の凹部の各々を検出し、前記検出された前記凹部ごとに、前記凹部を含む除去対象領域を設定するステップ。
図1は、本発明の一実施形態に係る内壁測定装置の外観を模式的に示す図である。図2は、本実施形態に係る情報処理装置として機能するPC(Personal Computer)のハードウェア構成例を示す概略図である。なおPC以外のコンピュータが用いられてもよい。
シリンダ70の内壁面71には、例えば10μm程度〜数百μmの多孔質状の穴(くぼみ)からなる、複数のオイルピット(以下、単にピットと記載する)が形成されている。内壁面71の表面性状の測定要求として、ピットの数や形状等の測定に加えて、ピットが形成されていない平面領域の表面粗さの測定も挙げられる。内壁面71の全体に対して表面粗さを測定すると、ピットの部分が粗さとして解析されてしまうので、正確なデータが得られない。本実施形態では、以下に説明するように、ピット及びその周辺の領域を含むピット周辺領域が設定され、これが適宜除去される。
本発明は、以上説明した実施形態に限定されず、他の種々の実施形態を実現することができる。
E…周辺除去率
H…基準高さ
L…ピット径、幅寸法
M…測定対象物(シリンダブロック)
O1…基準円
O2…拡大円
R…基準矩形
70…シリンダ
71…内壁面
75…ピット
80…ピット周辺領域
85…平面領域
100…3次元座標測定機
209…通信部
210…I/F部
212…表面測定部
213…ピット周辺領域設定部
500…内壁測定装置
Claims (15)
- 複数の凹部を有する被測定面の形状データが入力される入力部と、
前記入力された形状データをもとに前記複数の凹部の各々を検出し、前記検出された前記凹部ごとに、前記凹部を含む除去対象領域を設定する設定部と
を具備し、
前記設定部は、前記検出された凹部の面積と略等しい面積を有する基準図形を設定し、前記基準図形の寸法を基準として前記除去対象領域を設定する
情報処理装置。 - 請求項1に記載の情報処理装置であって、
前記設定部は、前記基準図形の寸法と前記基準図形の寸法に所定の拡大率を積算した積算値との差を拡大量として前記凹部を拡大した領域を、前記除去対象領域として設定する
情報処理装置。 - 請求項1又は2に記載の情報処理装置であって、
前記基準図形は前記検出された凹部の面積と略等しい面積を有する円であり、前記寸法は前記円の径である
情報処理装置。 - 請求項1又は2に記載の情報処理装置であって、
前記基準図形は前記凹部の幅と略等しい幅を有する矩形であり、前記寸法は前記矩形の幅寸法である
情報処理装置。 - 請求項1から4のうちいずれか1項に記載の情報処理装置であって、
前記複数の凹部を有する被測定面は、複数のピットを有するシリンダの内壁面、又はクロスハッチが形成されたシリンダの内壁面である
情報処理装置。 - 複数の凹部を有する被測定面の形状データが入力される入力部と、
前記入力された形状データをもとに前記複数の凹部の各々を検出し、前記検出された前記凹部ごとに、前記凹部を含む除去対象領域を設定する設定部と
を具備し、
前記複数の凹部を有する被測定面は、複数のピットを有するシリンダの内壁面、又はクロスハッチが形成されたシリンダの内壁面である
情報処理装置。 - 請求項6に記載の情報処理装置であって、
前記設定部は、前記検出された凹部の面積に所定の拡大率を積算した積算値と、前記除去対象領域の面積とが略等しくなるように、前記除去対象領域を設定する
情報処理装置。 - 請求項1から7のうちいずれか1項に記載の情報処理装置であって、
前記設定部は、前記被測定面の形状データに対して基準高さを設定し、前記基準高さよりも所定の閾値以上低い部分を、前記凹部として検出する
情報処理装置。 - 請求項8に記載の情報処理装置であって、
前記設定部は、前記入力された形状データを平面に展開し、前記展開された前記形状データに対して前記基準高さを設定し、前記凹部を検出する
情報処理装置。 - 請求項8又は9に記載の情報処理装置であって、
前記基準高さは、前記形状データをもとに算出される前記被測定面の平均高さである
情報処理装置。 - 請求項1から10のうちいずれか1項に記載の情報処理装置であって、さらに、
前記設定された除去対象領域を除く領域の表面粗さを測定する測定部を具備する
情報処理装置。 - コンピュータが実行する情報処理方法であって、
複数の凹部を有する被測定面の形状データを取得する取得ステップと、
前記取得された形状データをもとに前記複数の凹部の各々を検出し、前記検出された前記凹部ごとに、前記凹部を含む除去対象領域を設定する設定ステップと
を含み、
前記設定ステップは、前記検出された凹部の面積と略等しい面積を有する基準図形を設定し、前記基準図形の寸法を基準として前記除去対象領域を設定する
情報処理方法。 - コンピュータが実行する情報処理方法であって、
複数の凹部を有する被測定面の形状データを取得する取得ステップと、
前記取得された形状データをもとに前記複数の凹部の各々を検出し、前記検出された前記凹部ごとに、前記凹部を含む除去対象領域を設定する設定ステップと
を含み、
前記取得ステップは、前記複数の凹部を有する被測定面の形状データとして、複数のピットを有するシリンダの内壁面の形状データ、又はクロスハッチが形成されたシリンダの内壁面の形状データを取得する
情報処理方法。 - コンピュータに情報処理方法を実行させるプログラムであって、
前記情報処理方法は、
複数の凹部を有する被測定面の形状データを取得する取得ステップと、
前記取得された形状データをもとに前記複数の凹部の各々を検出し、前記検出された前記凹部ごとに、前記凹部を含む除去対象領域を設定する設定ステップと
を含み、
前記設定ステップは、前記検出された凹部の面積と略等しい面積を有する基準図形を設定し、前記基準図形の寸法を基準として前記除去対象領域を設定する
プログラム。 - コンピュータに情報処理方法を実行させるプログラムであって、
前記情報処理方法は、
複数の凹部を有する被測定面の形状データを取得する取得ステップと、
前記取得された形状データをもとに前記複数の凹部の各々を検出し、前記検出された前記凹部ごとに、前記凹部を含む除去対象領域を設定する設定ステップと
を含み、
前記取得ステップは、前記複数の凹部を有する被測定面の形状データとして、複数のピットを有するシリンダの内壁面の形状データ、又はクロスハッチが形成されたシリンダの内壁面の形状データを取得する
プログラム。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US15/435,924 US10859376B2 (en) | 2016-02-25 | 2017-02-17 | Information processing apparatus, information processing method, and non-transitory computer readable recording medium |
DE102017001749.2A DE102017001749A1 (de) | 2016-02-25 | 2017-02-22 | Informationsverarbeitungsvorrichtung, informationsverarbeitungsverfahren und programm |
CN201710107340.8A CN107121087B (zh) | 2016-02-25 | 2017-02-27 | 信息处理装置和信息处理方法 |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016034780 | 2016-02-25 | ||
JP2016034780 | 2016-02-25 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017151090A JP2017151090A (ja) | 2017-08-31 |
JP6821424B2 true JP6821424B2 (ja) | 2021-01-27 |
Family
ID=59740617
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016249557A Active JP6821424B2 (ja) | 2016-02-25 | 2016-12-22 | 情報処理装置、情報処理方法、及びプログラム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6821424B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10859376B2 (en) | 2016-02-25 | 2020-12-08 | Mitutoyo Corporation | Information processing apparatus, information processing method, and non-transitory computer readable recording medium |
CN118168501B (zh) * | 2024-05-14 | 2024-07-19 | 荣成荣盛橡胶机械有限公司 | 一种机械配件精度检测装置 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4190828B2 (ja) * | 2002-08-21 | 2008-12-03 | Necエレクトロニクス株式会社 | プローブ検査装置および方法 |
JP5395470B2 (ja) * | 2009-03-12 | 2014-01-22 | ダイハツ工業株式会社 | 形状認識装置 |
JP2010276540A (ja) * | 2009-05-29 | 2010-12-09 | Nikke Kikai Seisakusho:Kk | 生体組織表面解析装置、生体組織表面解析プログラム、および生体組織表面解析方法 |
-
2016
- 2016-12-22 JP JP2016249557A patent/JP6821424B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2017151090A (ja) | 2017-08-31 |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20191111 |
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