JP6821254B2 - Cutting equipment - Google Patents

Cutting equipment Download PDF

Info

Publication number
JP6821254B2
JP6821254B2 JP2017032883A JP2017032883A JP6821254B2 JP 6821254 B2 JP6821254 B2 JP 6821254B2 JP 2017032883 A JP2017032883 A JP 2017032883A JP 2017032883 A JP2017032883 A JP 2017032883A JP 6821254 B2 JP6821254 B2 JP 6821254B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
unit
frame
chuck table
brush
holding surface
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2017032883A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2018134723A (en
Inventor
英司 山村
英司 山村
靖博 三浦
靖博 三浦
直功 瓜田
直功 瓜田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Disco Corp
Original Assignee
Disco Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Disco Corp filed Critical Disco Corp
Priority to JP2017032883A priority Critical patent/JP6821254B2/en
Publication of JP2018134723A publication Critical patent/JP2018134723A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP6821254B2 publication Critical patent/JP6821254B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
  • Dicing (AREA)

Description

本発明は、板状の被加工物を切削するための切削装置に関する。 The present invention relates to a cutting device for cutting a plate-shaped workpiece.

半導体ウェーハやパッケージ基板等を複数のチップへと分割する際には、例えば、回転軸となるスピンドルに環状の切削ブレードが装着された切削装置を使用する(例えば、特許文献1参照)。切削装置は、半導体ウェーハやパッケージ基板等の被加工物を負圧で吸引、保持するチャックテーブルを備えており、このチャックテーブルによって吸引、保持された状態の被加工物を切削する。 When dividing a semiconductor wafer, a package substrate, or the like into a plurality of chips, for example, a cutting device in which an annular cutting blade is mounted on a spindle serving as a rotation axis is used (see, for example, Patent Document 1). The cutting apparatus includes a chuck table that sucks and holds a workpiece such as a semiconductor wafer or a package substrate with a negative pressure, and the chuck table cuts the workpiece in a sucked and held state.

上述のような切削装置で被加工物を切削する際には、被加工物の表面又は裏面に被加工物よりも大きな円形の粘着テープ(ダイシングテープ)を貼付することが多い。そして、この場合には、粘着テープの外周部分に被加工物を囲む環状のフレームが固定される。これにより、チャックテーブルで被加工物を確実に吸引、保持できるようになり、また、被加工物の取り扱い易さも高まる。 When cutting a work piece with a cutting device as described above, a circular adhesive tape (dicing tape) larger than the work piece is often attached to the front surface or the back surface of the work piece. Then, in this case, an annular frame surrounding the workpiece is fixed to the outer peripheral portion of the adhesive tape. As a result, the work piece can be reliably sucked and held by the chuck table, and the work piece is easy to handle.

特開2003−234308号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2003-234308

ところで、高速に回転させた切削ブレードを被加工物に切り込ませると、被加工物から切り出される小さな端材が粘着テープから剥がれて飛散することがある。この端材が、例えば、環状のフレームに付着すると、被加工物の搬送時にフレームを適切に保持できない可能性が高まる。また、被加工物の搬送中に端材がフレームから落下して、チャックテーブル等に付着する恐れもある。 By the way, when a cutting blade rotated at high speed is cut into a work piece, small scraps cut out from the work piece may be peeled off from the adhesive tape and scattered. If this scrap material adheres to, for example, an annular frame, there is an increased possibility that the frame cannot be properly held during transportation of the workpiece. In addition, the scrap material may fall from the frame during transportation of the workpiece and adhere to the chuck table or the like.

本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、環状のフレームに付着する被加工物の端材を除去できる切削装置を提供することである。 The present invention has been made in view of such problems, and an object of the present invention is to provide a cutting device capable of removing scraps of a work piece adhering to an annular frame.

本発明の一態様によれば、環状のフレームの開口部に張られた粘着テープによって被加工物が支持されてなるフレームユニットを保持する保持面を有し、回転可能なチャックテーブルと、該チャックテーブルに保持された該フレームユニット内の該被加工物を切削ブレードで切削する切削ユニットと、該保持面と平行な加工送り方向に沿って該チャックテーブルを移動させる加工送りユニットと、該保持面と垂直な切り込み送り方向に沿って該切削ユニットを移動させる切り込み送りユニットと、該切削ユニットによる加工で該被加工物から切り出された端材を該チャックテーブルに保持された該フレームユニットの該フレームから除去する清掃ユニットと、を備え、該清掃ユニットは、該加工送りユニットによって該チャックテーブルが移動できる範囲内で該チャックテーブルの上方に配置され、該加工送り方向と交差する方向に延びるブラシと、該チャックテーブルに保持された該フレームユニットの該フレームに接触する清掃位置と、該清掃位置から離れた退避位置と、の間で該ブラシを移動させるブラシ移動ユニットと、を備え、該ブラシを該清掃位置に位置付けた状態で該チャックテーブルを回転又は加工送りさせることによって、該チャックテーブルに保持された該フレームユニットの該フレームに付着した該端材を該フレームから除去する切削装置が提供される。 According to one aspect of the present invention, a rotatable chuck table having a holding surface for holding a frame unit in which a work piece is supported by an adhesive tape stretched on an opening of an annular frame, and the chuck. A cutting unit that cuts the workpiece in the frame unit held by the table with a cutting blade, a machining feed unit that moves the chuck table along a machining feed direction parallel to the holding surface, and a holding surface. The cutting feed unit that moves the cutting unit along the cutting feed direction perpendicular to the above, and the frame of the frame unit in which the scraps cut out from the workpiece by the machining by the cutting unit are held on the chuck table. A cleaning unit for removing from the chuck table is provided, and the cleaning unit is arranged above the chuck table within a range in which the chuck table can be moved by the machining feed unit, and a brush extending in a direction intersecting the machining feed direction. The brush is provided with a cleaning position of the frame unit held on the chuck table in contact with the frame and a brush moving unit for moving the brush between a retracted position away from the cleaning position. Provided is a cutting device for removing the end material attached to the frame of the frame unit held by the chuck table from the frame by rotating or processing the chuck table while being positioned at the cleaning position. To.

上述した本発明の一態様において、該ブラシ移動ユニットは、該フレームユニットが該チャックテーブルに保持されていない状態で、該チャックテーブルの該保持面に接触する保持面清掃位置と、該保持面清掃位置から離れた該退避位置と、の間で該ブラシを移動させることができるように構成されており、該ブラシを該保持面清掃位置に位置付けた状態で該チャックテーブルを回転又は加工送りさせることによって、該チャックテーブルの該保持面に付着した該端材を該保持面から除去することが好ましい。 In one aspect of the present invention described above, in the brush moving unit, the holding surface cleaning position in contact with the holding surface of the chuck table and the holding surface cleaning in a state where the frame unit is not held by the chuck table. The chuck table is rotated or processed and fed while the brush is positioned at the holding surface cleaning position and is configured so that the brush can be moved between the retracted position away from the position. It is preferable to remove the offcuts adhering to the holding surface of the chuck table from the holding surface.

また、上述した本発明の一態様において、該ブラシは、該切削ユニットに対して該切削ブレードの回転に伴い該端材が飛散する側に配置されることが好ましい。 Further, in one aspect of the present invention described above, it is preferable that the brush is arranged on the side of the cutting unit on which the end material is scattered as the cutting blade rotates.

本発明の一態様に係る切削装置は、加工送り方向と交差する方向に延びるブラシと、このブラシを、環状のフレームに接触する清掃位置と、清掃位置から離れた退避位置と、の間で移動させるブラシ移動ユニットと、を含む清掃ユニットを備えている。そのため、ブラシを清掃位置に位置付けた状態でチャックテーブルを回転又は加工送りさせることによって、環状のフレームに付着する被加工物の端材を適切に除去できる。 The cutting apparatus according to one aspect of the present invention moves a brush extending in a direction intersecting the machining feed direction, a cleaning position in contact with the annular frame, and a retracted position away from the cleaning position. It is equipped with a brush moving unit and a cleaning unit including. Therefore, by rotating or processing the chuck table with the brush positioned at the cleaning position, it is possible to appropriately remove the scraps of the workpiece adhering to the annular frame.

切削装置の構成例を模式的に示す斜視図である。It is a perspective view which shows the structural example of a cutting apparatus schematically. 切削装置の構成例を模式的に示す平面図である。It is a top view which shows the structural example of a cutting apparatus schematically. 図3(A)は、被加工物から切り出された端材が飛散する様子を示す模式図であり、図3(B)は、フレームの清掃方法について説明するための模式図である。FIG. 3A is a schematic view showing how the scraps cut out from the work piece are scattered, and FIG. 3B is a schematic view for explaining a method of cleaning the frame. 図4(A)及び図4(B)は、保持面の一部の領域から端材が除去される様子を示す模式図である。4 (A) and 4 (B) are schematic views showing how scraps are removed from a part of the holding surface. 図5(A)及び図5(B)は、保持面の残りの領域から端材が除去される様子を示す模式図である。5 (A) and 5 (B) are schematic views showing how scraps are removed from the remaining region of the holding surface.

添付図面を参照して、本発明の一態様に係る実施形態について説明する。図1は、切削装置2の構成例を模式的に示す斜視図であり、図2は、切削装置2の構成例を模式的に示す平面図である。なお、図2では、切削装置2の一部が省略されている。図1及び図2に示すように、切削装置2は、各構成要素を支持する基台4を備えている。 An embodiment according to one aspect of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a perspective view schematically showing a configuration example of the cutting device 2, and FIG. 2 is a plan view schematically showing a configuration example of the cutting device 2. In FIG. 2, a part of the cutting device 2 is omitted. As shown in FIGS. 1 and 2, the cutting device 2 includes a base 4 that supports each component.

基台4の前方の角部には、開口4aが形成されており、この開口4a内には、昇降機構(不図示)によって昇降するカセット支持台6が設けられている。カセット支持台6の上面には、複数の被加工物11を収容するためのカセット8が載せられる。なお、図1及び図2では、説明の便宜上、カセット8の輪郭のみを示している。 An opening 4a is formed in the front corner of the base 4, and a cassette support 6 that moves up and down by an elevating mechanism (not shown) is provided in the opening 4a. On the upper surface of the cassette support 6, a cassette 8 for accommodating a plurality of workpieces 11 is placed. Note that, in FIGS. 1 and 2, only the outline of the cassette 8 is shown for convenience of explanation.

被加工物11は、例えば、シリコン等の半導体材料でなる円盤状のウェーハである。被加工物11の表面側は、格子状に設定された分割予定ライン(ストリート)で複数の領域に区画されており、各領域には、IC(Integrated Circuit)、MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)等のデバイスが形成されている。 The workpiece 11 is, for example, a disk-shaped wafer made of a semiconductor material such as silicon. The surface side of the workpiece 11 is divided into a plurality of regions by scheduled division lines (streets) set in a grid pattern, and each region includes an IC (Integrated Circuit), a MEMS (Micro Electro Mechanical Systems), or the like. Device is formed.

この被加工物11の裏面側には、被加工物11よりも径の大きい粘着テープ(ダイシングテープ)13が貼付されている。粘着テープ13の外周部分は、環状のフレーム15に固定されている。そのため、被加工物11は、環状のフレーム15の開口部に張られた粘着テープ13によって被加工物11が支持されてなるフレームユニットの状態で、カセット8に収容される。 An adhesive tape (dicing tape) 13 having a diameter larger than that of the workpiece 11 is attached to the back surface side of the workpiece 11. The outer peripheral portion of the adhesive tape 13 is fixed to the annular frame 15. Therefore, the workpiece 11 is housed in the cassette 8 in the state of a frame unit in which the workpiece 11 is supported by the adhesive tape 13 stretched on the opening of the annular frame 15.

なお、本実施形態では、シリコン等の半導体材料でなる円盤状のウェーハを被加工物11としているが、被加工物11の材質、形状、構造、大きさ等に制限はない。例えば、他の半導体、セラミックス、樹脂、金属等の材料でなる基板を被加工物11として用いることもできる。また、被加工物11の表面側に粘着テープ13を貼付しても良い。デバイスの種類、数量、形状、構造、大きさ、配置等にも制限はない。 In the present embodiment, the disk-shaped wafer made of a semiconductor material such as silicon is used as the workpiece 11, but the material, shape, structure, size, etc. of the workpiece 11 are not limited. For example, a substrate made of other materials such as semiconductors, ceramics, resins, and metals can be used as the workpiece 11. Further, the adhesive tape 13 may be attached to the surface side of the workpiece 11. There are no restrictions on the type, quantity, shape, structure, size, arrangement, etc. of the device.

カセット支持台6の側方には、X軸方向(前後方向、加工送り方向)に長い開口4bが形成されている。開口4b内には、ボールねじ式のX軸移動機構(加工送りユニット)10と、X軸移動機構10の上部を覆う防塵防滴カバー12とが配置されている。X軸移動機構10は、X軸移動テーブル10aを備えており、このX軸移動テーブル10aをX軸方向に移動させる。 A long opening 4b is formed on the side of the cassette support 6 in the X-axis direction (front-rear direction, machining feed direction). A ball screw type X-axis moving mechanism (machining feed unit) 10 and a dust-proof and drip-proof cover 12 covering the upper part of the X-axis moving mechanism 10 are arranged in the opening 4b. The X-axis moving mechanism 10 includes an X-axis moving table 10a, and moves the X-axis moving table 10a in the X-axis direction.

X軸移動テーブル10a上には、被加工物11を吸引、保持するチャックテーブル(保持テーブル)14が設けられている。このチャックテーブル14は、モータ等の回転駆動源(不図示)に連結されており、Z軸方向(鉛直方向、切り込み送り方向)に概ね平行な回転軸の周りに回転する。また、チャックテーブル14は、上述したX軸移動機構10によってX軸方向に移動する(加工送り)。 A chuck table (holding table) 14 for sucking and holding the workpiece 11 is provided on the X-axis moving table 10a. The chuck table 14 is connected to a rotation drive source (not shown) such as a motor, and rotates around a rotation axis substantially parallel to the Z-axis direction (vertical direction, cutting feed direction). Further, the chuck table 14 is moved in the X-axis direction by the X-axis moving mechanism 10 described above (machining feed).

チャックテーブル14の上面は、被加工物11を保持するための保持面14aになっている。保持面14aは、チャックテーブル14の内部に形成された吸引路(不図示)等を通じて吸引源(不図示)に接続されている。また、チャックテーブル14の周囲には、フレームユニット中の環状のフレーム15を四方から固定するための4個のクランプ16が設けられている。 The upper surface of the chuck table 14 is a holding surface 14a for holding the workpiece 11. The holding surface 14a is connected to a suction source (not shown) through a suction path (not shown) formed inside the chuck table 14. Further, around the chuck table 14, four clamps 16 for fixing the annular frame 15 in the frame unit from all sides are provided.

開口4bの上方には、フレームユニットを仮置きするための仮置き機構18が設けられている。仮置き機構18は、例えば、Y軸方向(左右方向、割り出し送り方向)に平行な状態を維持しながら接近、離隔される一対のガイドレール18a、18bを含む。各ガイドレール18a、18bは、フレームユニット(フレーム15)を支持する支持面と、支持面に概ね垂直な側面とを備え、カセット18から引き出されたフレームユニット(フレーム15)をX軸方向において挟み込んで所定の位置に合わせる。 A temporary placement mechanism 18 for temporarily placing the frame unit is provided above the opening 4b. The temporary placement mechanism 18 includes, for example, a pair of guide rails 18a and 18b that are approached and separated while maintaining a state parallel to the Y-axis direction (left-right direction, indexing feed direction). Each of the guide rails 18a and 18b has a support surface for supporting the frame unit (frame 15) and a side surface substantially perpendicular to the support surface, and sandwiches the frame unit (frame 15) drawn out from the cassette 18 in the X-axis direction. Adjust to the specified position with.

基台4の上方には、門型の第1支持構造20が開口4bを跨ぐように配置されている。第1支持構造20の前面(仮置き機構18側の面)には、Y軸方向に延びる第1レール22が固定されており、この第1レール22には、第1移動機構24等を介して第1搬送ユニット26が連結されている。第1搬送ユニット26は、例えば、フレームユニット(フレーム15)の上面に接触してこのフレームユニットを吸着、保持し、第1移動機構24によって昇降するとともに、第1レール22に沿ってY軸方向に移動する。 Above the base 4, a gate-shaped first support structure 20 is arranged so as to straddle the opening 4b. A first rail 22 extending in the Y-axis direction is fixed to the front surface of the first support structure 20 (the surface on the temporary placement mechanism 18 side), and the first rail 22 is connected to the first rail 22 via a first moving mechanism 24 or the like. The first transport unit 26 is connected. For example, the first transport unit 26 contacts the upper surface of the frame unit (frame 15), attracts and holds the frame unit, moves up and down by the first moving mechanism 24, and moves in the Y-axis direction along the first rail 22. Move to.

第1搬送ユニット26の開口4a側には、フレームユニット中のフレーム15を把持するための把持機構26aが設けられている。例えば、把持機構26aでフレーム15を把持して第1搬送ユニット26をY軸方向に移動させれば、カセット8に収容されているフレームユニットを仮置き機構18のガイドレール18a、18bに引き出し、又は、ガイドレール18a、18bに載せられているフレームユニットをカセット8に挿入できる。 A gripping mechanism 26a for gripping the frame 15 in the frame unit is provided on the opening 4a side of the first transport unit 26. For example, if the frame 15 is gripped by the gripping mechanism 26a and the first transport unit 26 is moved in the Y-axis direction, the frame unit housed in the cassette 8 is pulled out to the guide rails 18a and 18b of the temporary placement mechanism 18. Alternatively, the frame unit mounted on the guide rails 18a and 18b can be inserted into the cassette 8.

また、第1支持構造20の前面(仮置き機構118側の面)には、Y軸方向に延びる第2レール28が第1レール22の上方に固定されている。この第2レール28には、第2移動機構30等を介して第2搬送ユニット32が連結されている。第2搬送ユニット32は、例えば、フレームユニット(フレーム15)の上面に接触してこのフレームユニットを吸着、保持し、第2移動機構30によって昇降するとともに、第2レール28に沿ってY軸方向に移動する。 Further, a second rail 28 extending in the Y-axis direction is fixed above the first rail 22 on the front surface of the first support structure 20 (the surface on the temporary placement mechanism 118 side). A second transport unit 32 is connected to the second rail 28 via a second moving mechanism 30 or the like. The second transport unit 32, for example, comes into contact with the upper surface of the frame unit (frame 15), attracts and holds the frame unit, moves up and down by the second moving mechanism 30, and moves in the Y-axis direction along the second rail 28. Move to.

第1支持構造20の後方には、門型の第2支持構造34が配置されている。第2支持構造34の前面(第1支持構造20側の面)には、それぞれY軸Z軸移動機構(割り出し送りユニット、切り込み送りユニット)36を介して2組の切削ユニット38が設けられている。切削ユニット38は、Y軸Z軸移動機構36によってY軸方向に移動する(割り出し送り)とともに、Z軸方向に移動する(切り込み送り)。 A gate-shaped second support structure 34 is arranged behind the first support structure 20. Two sets of cutting units 38 are provided on the front surface of the second support structure 34 (the surface on the side of the first support structure 20) via Y-axis Z-axis movement mechanisms (indexing feed unit and cutting feed unit) 36, respectively. There is. The cutting unit 38 moves in the Y-axis direction (index feed) and moves in the Z-axis direction (cut feed) by the Y-axis Z-axis movement mechanism 36.

各切削ユニット38は、Y軸方向に概ね平行な回転軸となるスピンドル(不図示)を備えている。スピンドルの一端側には、円環状の切削ブレード40が装着されている。各スピンドルの他端側には、モータ等の回転駆動源(不図示)が連結されている。また、切削ブレード40の近傍には、被加工物11や切削ブレード40に純水等の切削液を供給するための供給ノズルが配置されている。この供給ノズルから切削液を供給しながら、回転させた切削ブレード40をチャックテーブル14に保持された被加工物11に対して切り込ませることで、被加工物11を切削できる。 Each cutting unit 38 includes a spindle (not shown) having a rotation axis substantially parallel to the Y-axis direction. An annular cutting blade 40 is mounted on one end side of the spindle. A rotary drive source (not shown) such as a motor is connected to the other end side of each spindle. Further, in the vicinity of the cutting blade 40, a supply nozzle for supplying a cutting liquid such as pure water to the workpiece 11 and the cutting blade 40 is arranged. The workpiece 11 can be cut by cutting the rotated cutting blade 40 into the workpiece 11 held on the chuck table 14 while supplying the cutting fluid from the supply nozzle.

切削ユニット38に隣接する位置には、被加工物11等を撮像するための撮像ユニット(カメラ)42が設けられている。この撮像ユニット42も、Y軸Z軸移動機構36によってY軸方向に移動するとともに、Z軸方向に移動する。 An imaging unit (camera) 42 for imaging the workpiece 11 and the like is provided at a position adjacent to the cutting unit 38. The image pickup unit 42 also moves in the Y-axis direction and also moves in the Z-axis direction by the Y-axis Z-axis movement mechanism 36.

第2支持構造34の後面(第1支持構造20とは反対側の面)には、チャックテーブル14に保持された状態のフレームユニット等に付着している被加工物11の端材を除去するための清掃ユニット44が設けられている。すなわち、清掃ユニット44は、X軸移動機構10によってチャックテーブル14が移動できる範囲内で、チャックテーブル14の上方に配置されている。 On the rear surface of the second support structure 34 (the surface opposite to the first support structure 20), scraps of the workpiece 11 adhering to the frame unit or the like held by the chuck table 14 are removed. A cleaning unit 44 for this purpose is provided. That is, the cleaning unit 44 is arranged above the chuck table 14 within a range in which the chuck table 14 can be moved by the X-axis moving mechanism 10.

この清掃ユニット44は、昇降機構(ブラシ移動ユニット)46を備えている。昇降機構46は、例えば、第2支持構造34の後面に固定されたシリンダと、シリンダに下方から挿入されたピストンロッドとで構成されており、流体供給源(不図示)から供給される流体の圧力を利用してピストンロッドを昇降させる。ピストンロッドの下端には、Y軸方向に延びるブラシ48が取り付けられている。すなわち、このブラシ48は、昇降機構46によって昇降する。 The cleaning unit 44 includes an elevating mechanism (brush moving unit) 46. The elevating mechanism 46 is composed of, for example, a cylinder fixed to the rear surface of the second support structure 34 and a piston rod inserted into the cylinder from below, and is a fluid supplied from a fluid supply source (not shown). The pressure is used to raise and lower the piston rod. A brush 48 extending in the Y-axis direction is attached to the lower end of the piston rod. That is, the brush 48 moves up and down by the elevating mechanism 46.

具体的には、昇降機構46は、フレームユニットがチャックテーブル14に保持されている状態で、このフレームユニットのフレーム15に接触するフレーム清掃位置と、フレーム清掃位置から上方に離れた退避位置と、の間でブラシ48を移動させる。よって、例えば、ブラシ48をフレーム清掃位置に位置付けた状態でチャックテーブル14を回転又はX軸方向に移動させれば、チャックテーブル14に保持されたフレームユニットのフレーム15に付着している端材をフレーム15から除去できる。 Specifically, the elevating mechanism 46 has a frame cleaning position in contact with the frame 15 of the frame unit while the frame unit is held by the chuck table 14, and a retracting position away from the frame cleaning position. Move the brush 48 between. Therefore, for example, if the chuck table 14 is rotated or moved in the X-axis direction with the brush 48 positioned at the frame cleaning position, the scraps adhering to the frame 15 of the frame unit held by the chuck table 14 can be removed. It can be removed from the frame 15.

また、昇降機構46は、フレームユニットがチャックテーブル14に保持されていない状態で、チャックテーブル14の保持面14aに接触する保持面清掃位置と、保持面清掃位置から上方に離れた退避位置と、の間でブラシ48を移動させる。よって、例えば、ブラシ48を保持面清掃位置に位置付けた状態でチャックテーブル14を回転又はX軸方向に移動させれば、チャックテーブル14の保持面14aに付着している端材を保持面14aから除去できる。 Further, the elevating mechanism 46 has a holding surface cleaning position in contact with the holding surface 14a of the chuck table 14 and a retracting position away from the holding surface cleaning position in a state where the frame unit is not held by the chuck table 14. Move the brush 48 between. Therefore, for example, if the chuck table 14 is rotated or moved in the X-axis direction while the brush 48 is positioned at the holding surface cleaning position, the scraps adhering to the holding surface 14a of the chuck table 14 can be removed from the holding surface 14a. Can be removed.

このブラシ48は、端材をフレーム15から除去する際にのみフレーム清掃位置に位置付けられ、また、端材を保持面14aから除去する際にのみ保持面清掃位置に位置付けられる。すなわち、端材をフレーム15から除去する際、及び端材を保持面14aから除去する際を除いて、ブラシ48は退避位置に位置付けられる。 The brush 48 is positioned at the frame cleaning position only when the scraps are removed from the frame 15, and is positioned at the holding surface cleaning position only when the scraps are removed from the holding surface 14a. That is, the brush 48 is positioned at the retracted position except when the scraps are removed from the frame 15 and when the scraps are removed from the holding surface 14a.

なお、清掃ユニット44の配置に特段の制限はないが、本実施形態では、清掃ユニット44の配置に必要なスペースや、被加工物11から切り出される端材が飛散する方向等を考慮して、第2支持構造34の後面側に清掃ユニット44を設けている。例えば、図2に示すように、フレームユニットをチャックテーブル14へと搬入し、チャックテーブル14からフレームユニットを搬出するための搬入搬出領域Aには、清掃ユニット44の配置に適したスペースがない。 The arrangement of the cleaning unit 44 is not particularly limited, but in the present embodiment, the space required for the arrangement of the cleaning unit 44, the direction in which the scraps cut out from the workpiece 11 are scattered, and the like are taken into consideration. A cleaning unit 44 is provided on the rear surface side of the second support structure 34. For example, as shown in FIG. 2, there is no space suitable for arranging the cleaning unit 44 in the carry-in / carry-out area A for carrying the frame unit into the chuck table 14 and carrying out the frame unit from the chuck table 14.

一方で、被加工物11を切削するための切削領域Bには、図2に示すように、切削ユニット38の後方側に清掃ユニット44を配置できるスペースが存在する。また、本実施形態に係る切削装置2では、被加工物11から切り出される端材が、切削ブレード40の回転に従い切削ユニット38の後方側へと飛散することが多い。そのため、このように、切削ブレード40の回転に伴い端材が飛散する側に清掃ユニット44を配置することで、フレーム15や保持面14aに付着している端材を除去し易くなる。 On the other hand, in the cutting region B for cutting the workpiece 11, as shown in FIG. 2, there is a space in which the cleaning unit 44 can be arranged on the rear side of the cutting unit 38. Further, in the cutting device 2 according to the present embodiment, the scraps cut out from the workpiece 11 often scatter toward the rear side of the cutting unit 38 as the cutting blade 40 rotates. Therefore, by arranging the cleaning unit 44 on the side where the scraps are scattered as the cutting blade 40 rotates, the scraps adhering to the frame 15 and the holding surface 14a can be easily removed.

開口4bに対して開口4aと反対側の位置には、洗浄ユニット50が配置されている。洗浄ユニット50は、筒状の洗浄空間内でフレームユニットを吸引、保持するスピンナテーブル52を備えている。スピンナテーブル52の下部には、スピンナテーブル52を所定の速さで回転させる回転駆動源(不図示)が連結されている。 The cleaning unit 50 is arranged at a position opposite to the opening 4a with respect to the opening 4b. The cleaning unit 50 includes a spinner table 52 that sucks and holds the frame unit in the tubular cleaning space. A rotation drive source (not shown) for rotating the spinner table 52 at a predetermined speed is connected to the lower portion of the spinner table 52.

スピンナテーブル52の上方には、フレームユニット中の被加工物11に向けて洗浄用の流体(代表的には、水とエアーとを混合した混合流体)を噴射する噴射ノズル54が配置されている。フレームユニットを保持したスピンナテーブル52を回転させて、噴射ノズル54から洗浄用の流体を噴射することで、被加工物11を洗浄できる。 Above the spinner table 52, an injection nozzle 54 for injecting a cleaning fluid (typically, a mixed fluid in which water and air are mixed) is arranged toward the workpiece 11 in the frame unit. .. The workpiece 11 can be cleaned by rotating the spinner table 52 holding the frame unit and injecting a cleaning fluid from the injection nozzle 54.

切削ユニット38で切削された被加工物11を含むフレームユニットは、例えば、第2搬送ユニット32で洗浄ユニット50へと搬入される。洗浄ユニット50で被加工物11を洗浄されたフレームユニットは、例えば、第1搬送ユニット26で仮置き機構18に載せられ、カセット8に収容される。 The frame unit including the workpiece 11 cut by the cutting unit 38 is carried into the cleaning unit 50 by the second transport unit 32, for example. The frame unit in which the workpiece 11 is washed by the washing unit 50 is placed on the temporary placement mechanism 18 by the first transport unit 26 and housed in the cassette 8.

X軸移動機構10、チャックテーブル14、仮置き機構18、第1移動機構24、第1搬送ユニット26、第2移動機構30、第2搬送ユニット32、Y軸Z軸移動機構36、切削ユニット38、撮像ユニット42、清掃ユニット44、洗浄ユニット50等の構成要素は、それぞれ、制御ユニット(不図示)に接続されている。この制御ユニットは、被加工物11の切削に必要な一連の工程に合わせて、上述した各構成要素を制御する。 X-axis moving mechanism 10, chuck table 14, temporary placement mechanism 18, first moving mechanism 24, first transport unit 26, second moving mechanism 30, second transport unit 32, Y-axis Z-axis moving mechanism 36, cutting unit 38 , The imaging unit 42, the cleaning unit 44, the cleaning unit 50, and the like are each connected to a control unit (not shown). This control unit controls each of the above-mentioned components according to a series of steps required for cutting the workpiece 11.

次に、この切削装置2で行われるフレーム15の清掃方法について説明する。図3(A)は、被加工物11から切り出された端材11aが飛散する様子を示す模式図である。図3(A)に示すように、高速に回転させた切削ブレード40を被加工物11に切り込ませると、被加工物11から切り出される小さな端材11aが粘着テープ13から剥がれて飛散することがある。 Next, a method of cleaning the frame 15 performed by the cutting device 2 will be described. FIG. 3A is a schematic view showing how the scrap 11a cut out from the workpiece 11 is scattered. As shown in FIG. 3A, when the cutting blade 40 rotated at high speed is cut into the work piece 11, the small end material 11a cut out from the work piece 11 is peeled off from the adhesive tape 13 and scattered. There is.

この端材11aは、切削ブレード40の回転方向に対応する方向(本実施形態では、後方)に飛散し易い。そのため、飛散する端材11aの多くは、図3(A)に示すように、チャックテーブル14の後方に位置する防塵防滴カバー12や、その更に後方に設けられた排出口(不図示)等に落下することになる。一方で、飛散する端材11aの中には、フレーム15に付着するものも存在する。なお、被加工物11を切削する際には、図3(A)に示すように、上述した退避位置にブラシ48が位置付けられる。そのため、端材11aや切削液がブラシ48に付着することは殆どない。 The scrap 11a tends to scatter in the direction corresponding to the rotation direction of the cutting blade 40 (in the present embodiment, rearward). Therefore, as shown in FIG. 3A, most of the scattered scraps 11a include a dust-proof and drip-proof cover 12 located behind the chuck table 14, and a discharge port (not shown) provided further behind. Will fall to. On the other hand, some of the scattered scraps 11a adhere to the frame 15. When cutting the workpiece 11, as shown in FIG. 3A, the brush 48 is positioned at the retracted position described above. Therefore, the scrap material 11a and the cutting fluid hardly adhere to the brush 48.

端材11aがフレーム15に付着すると、その後、フレームユニットを第2搬送ユニット32で洗浄ユニット50に搬送する時や、第1搬送ユニット26で仮置き機構18に搬送する時に、フレーム15を適切に保持できない可能性が高くなる。また、フレームユニットの搬送中に端材11aがフレーム15から落下して、チャックテーブル14の保持面14a等に付着する恐れもある。 When the scrap material 11a adheres to the frame 15, the frame 15 is appropriately transported to the cleaning unit 50 by the second transport unit 32 or to the temporary placement mechanism 18 by the first transport unit 26. It is more likely that it cannot be held. Further, the end material 11a may fall from the frame 15 during the transportation of the frame unit and adhere to the holding surface 14a or the like of the chuck table 14.

そこで、上述した清掃ユニット44を用いてフレーム15に付着した被加工物11の端材11aを除去する。図3(B)は、フレーム15の清掃方法について説明するための模式図である。本実施形態に係るフレーム15の清掃方法では、まず、X軸移動テーブル10aをX軸方向に移動させて、クランプ16(すなわち、フレーム15)を清掃ユニット44(ブラシ48)の下方に位置付ける。 Therefore, the cleaning unit 44 described above is used to remove the scrap 11a of the workpiece 11 adhering to the frame 15. FIG. 3B is a schematic view for explaining a method of cleaning the frame 15. In the method for cleaning the frame 15 according to the present embodiment, first, the X-axis moving table 10a is moved in the X-axis direction, and the clamp 16 (that is, the frame 15) is positioned below the cleaning unit 44 (brush 48).

次に、昇降機構46のピストンロッドを下降させて、ブラシ48を退避位置からフレーム清掃位置へと移動させる。その結果、ブラシ48はフレーム15に接触する。その後、ブラシ48をフレーム清掃位置に位置付けた状態で、例えば、図3(B)に示すように、チャックテーブル14(クランプ16)を1周以上回転させる。これにより、フレーム15に付着している端材11aをフレーム15から除去できる。 Next, the piston rod of the elevating mechanism 46 is lowered to move the brush 48 from the retracted position to the frame cleaning position. As a result, the brush 48 comes into contact with the frame 15. After that, with the brush 48 positioned at the frame cleaning position, for example, as shown in FIG. 3B, the chuck table 14 (clamp 16) is rotated one or more turns. As a result, the scrap material 11a adhering to the frame 15 can be removed from the frame 15.

なお、本実施形態では、ブラシ48をフレーム清掃位置に位置付けた状態で、チャックテーブル14を回転させているが、ブラシ48をフレーム清掃位置に位置付けた状態で、チャックテーブル14をX軸方向に移動させても良い。この方法では、フレーム15の一部の領域に付着している端材11aを除去できる。フレーム15の別の領域に付着している端材11aを除去したい場合には、チャックテーブル14の回転とX軸方向への移動とを繰り返せば良い。 In the present embodiment, the chuck table 14 is rotated with the brush 48 positioned at the frame cleaning position, but the chuck table 14 is moved in the X-axis direction with the brush 48 positioned at the frame cleaning position. You may let me. In this method, the scrap material 11a adhering to a part of the frame 15 can be removed. When it is desired to remove the end material 11a adhering to another region of the frame 15, the rotation of the chuck table 14 and the movement in the X-axis direction may be repeated.

次に、切削装置2で行われる保持面14aの清掃方法について説明する。上述のように、フレーム15に被加工物の端材11aが付着した状態のフレームユニットを搬送すると、この端材11aがフレーム15から落下して、チャックテーブル14の保持面14aに付着する恐れがある。また、他の何らかの理由で、保持面14aに端材11aが付着することも考えられる。 Next, a method of cleaning the holding surface 14a performed by the cutting device 2 will be described. As described above, when the frame unit in which the end material 11a of the work piece is attached to the frame 15 is conveyed, the end material 11a may fall from the frame 15 and adhere to the holding surface 14a of the chuck table 14. is there. Further, it is also conceivable that the scrap material 11a adheres to the holding surface 14a for some other reason.

そのような場合には、上述した清掃ユニット44を用いて保持面14aに付着した端材11aを除去する。図4(A)及び図4(B)は、保持面14aの一部の領域から端材11aが除去される様子を説明するための模式図である。本実施形態に係る保持面14aの清掃方法では、まず、X軸移動テーブル10aをできるだけ後方(X軸方向)に移動させて、チャックテーブル14のX軸方向における中央の領域、又は中央より前側の領域を清掃ユニット44(ブラシ48)の下方に位置付ける。 In such a case, the cleaning unit 44 described above is used to remove the scrap material 11a adhering to the holding surface 14a. 4 (A) and 4 (B) are schematic views for explaining how the end material 11a is removed from a part of the holding surface 14a. In the method for cleaning the holding surface 14a according to the present embodiment, first, the X-axis moving table 10a is moved as backward as possible (in the X-axis direction), and the central region of the chuck table 14 in the X-axis direction or the front side from the center. The area is positioned below the cleaning unit 44 (brush 48).

チャックテーブル14と清掃ユニット44との位置関係をこのようにするのは、清掃ユニット44の配置等の関係で、チャックテーブル14の前端(X軸方向)の領域を清掃ユニット44の下方に位置付けるのが難しいためである。もちろん、チャックテーブル14の前端(X軸方向)の領域を清掃ユニット44の下方に位置付けることができるのであれば、そうすると良い。 The positional relationship between the chuck table 14 and the cleaning unit 44 is set in this way because the region at the front end (X-axis direction) of the chuck table 14 is positioned below the cleaning unit 44 due to the arrangement of the cleaning unit 44 and the like. Is difficult. Of course, if the region at the front end (X-axis direction) of the chuck table 14 can be positioned below the cleaning unit 44, this is preferable.

次に、昇降機構46のピストンロッドを下降させて、ブラシ48を退避位置から保持面清掃位置へと移動させる。その結果、図4(A)に示すように、ブラシ48は保持面14aに接触する。その後、ブラシ48を保持面清掃位置に位置付けた状態で、例えば、図4(A)及び図4(B)に示すように、チャックテーブル14を前方(X軸方向)に移動させる。これにより、保持面14aの後方側(X軸方向)の半分以上の領域から端材11aを除去できる。 Next, the piston rod of the elevating mechanism 46 is lowered to move the brush 48 from the retracted position to the holding surface cleaning position. As a result, as shown in FIG. 4A, the brush 48 comes into contact with the holding surface 14a. After that, with the brush 48 positioned at the holding surface cleaning position, the chuck table 14 is moved forward (in the X-axis direction), for example, as shown in FIGS. 4 (A) and 4 (B). As a result, the scrap 11a can be removed from the region of more than half of the rear side (X-axis direction) of the holding surface 14a.

次に、保持面14aの残りの領域に付着する端材11aを除去する。図5(A)及び図5(B)は、保持面14aの残りの領域から端材11aが除去される様子を示す模式図である。具体的には、まず、昇降機構46のピストンロッドを上昇させて、ブラシ48を保持面清掃位置から退避位置へと移動させる。 Next, the scrap material 11a adhering to the remaining region of the holding surface 14a is removed. 5 (A) and 5 (B) are schematic views showing how the end material 11a is removed from the remaining region of the holding surface 14a. Specifically, first, the piston rod of the elevating mechanism 46 is raised to move the brush 48 from the holding surface cleaning position to the retracting position.

次に、図5(A)に示すように、チャックテーブル14を180°回転させて、上述した前後(X軸方向)の関係を入れ替える。また、X軸移動テーブル10aを後方(X軸方向)に移動させて、チャックテーブル14のX軸方向における中央の領域、又は中央より前側の領域を清掃ユニット44(ブラシ48)の下方に位置付ける。 Next, as shown in FIG. 5A, the chuck table 14 is rotated by 180 ° to replace the front-rear (X-axis direction) relationship described above. Further, the X-axis moving table 10a is moved rearward (in the X-axis direction), and the central region of the chuck table 14 in the X-axis direction or the region in front of the center is positioned below the cleaning unit 44 (brush 48).

次に、昇降機構46のピストンロッドを下降させて、ブラシ48を退避位置から保持面清掃位置へと移動させる。その結果、ブラシ48は保持面14aに接触する。その後、ブラシ48を保持面清掃位置に位置付けた状態で、例えば、図5(B)に示すように、チャックテーブル14を前方(X軸方向)に移動させる。これにより、保持面14aの残りの領域から端材11aを除去できる。 Next, the piston rod of the elevating mechanism 46 is lowered to move the brush 48 from the retracted position to the holding surface cleaning position. As a result, the brush 48 comes into contact with the holding surface 14a. After that, with the brush 48 positioned at the holding surface cleaning position, for example, as shown in FIG. 5B, the chuck table 14 is moved forward (in the X-axis direction). As a result, the scrap material 11a can be removed from the remaining region of the holding surface 14a.

以上のように、本実施形態に係る切削装置2は、X軸方向(加工送り方向)と交差する方向に延びるブラシ48と、このブラシ48を、環状のフレーム15に接触するフレーム清掃位置と、フレーム清掃位置から離れた退避位置と、の間で移動させる昇降機構(ブラシ移動ユニット)46と、を含む清掃ユニット44を備えている。そのため、ブラシ48をフレーム清掃位置に位置付けた状態でチャックテーブル14を回転又はX軸方向に移動(加工送り)させることによって、環状のフレーム15に付着する被加工物11の端材11aを適切に除去できる。 As described above, the cutting device 2 according to the present embodiment has a brush 48 extending in a direction intersecting the X-axis direction (machining feed direction), a frame cleaning position where the brush 48 comes into contact with the annular frame 15, and a frame cleaning position. A cleaning unit 44 including a retracting position away from the frame cleaning position and an elevating mechanism (brush moving unit) 46 for moving between the frame cleaning positions is provided. Therefore, by rotating or moving the chuck table 14 in the X-axis direction (processing feed) with the brush 48 positioned at the frame cleaning position, the end material 11a of the workpiece 11 adhering to the annular frame 15 can be appropriately removed. Can be removed.

また、本実施形態に係る切削装置2では、切削ユニット38に対して、切削ブレード40の回転に伴い端材11aが飛散する側に清掃ユニット44を配置しており、切削装置2内のスペースが有効に活用されている。そのため、切削装置2の大幅な設計変更や大型化を抑制しながら、フレーム15や保持面14aに付着している端材11aを適切に除去できる。 Further, in the cutting device 2 according to the present embodiment, the cleaning unit 44 is arranged on the side where the end material 11a scatters with the rotation of the cutting blade 40 with respect to the cutting unit 38, and the space in the cutting device 2 is increased. It is being used effectively. Therefore, it is possible to appropriately remove the end material 11a adhering to the frame 15 and the holding surface 14a while suppressing a large design change and an increase in size of the cutting device 2.

なお、上記実施形態に係る構造、方法等は、本発明の目的の範囲を逸脱しない限りにおいて適宜変更して実施できる。 The structure, method, and the like according to the above embodiment can be appropriately modified and implemented as long as they do not deviate from the scope of the object of the present invention.

2 切削装置
4 基台
4a、4b 開口
6 カセット支持台
8 カセット
10 X軸移動機構(加工送りユニット)
10a X軸移動テーブル
12 防塵防滴カバー
14 チャックテーブル(保持テーブル)
14a 保持面
16 クランプ
18 仮置き機構
18a、18b ガイドレール
20 第1支持構造
22 第1レール
24 第1移動機構
26 第1搬送ユニット
26a 把持機構
28 第2レール
30 第2移動機構
32 第2搬送ユニット
34 第2支持構造
36 Y軸Z軸移動機構(割り出し送りユニット、切り込み送りユニット)
38 切削ユニット
40 切削ブレード
42 撮像ユニット(カメラ)
44 清掃ユニット
46 昇降機構(ブラシ移動ユニット)
48 ブラシ
50 洗浄ユニット
52 スピンナテーブル
54 噴射ノズル
11 被加工物
13 粘着テープ(ダイシングテープ)
15 フレーム
2 Cutting device 4 Base 4a, 4b Opening 6 Cassette support 8 Cassette 10 X-axis movement mechanism (machining feed unit)
10a X-axis moving table 12 Dust-proof and drip-proof cover 14 Chuck table (holding table)
14a Holding surface 16 Clamp 18 Temporary placement mechanism 18a, 18b Guide rail 20 1st support structure 22 1st rail 24 1st moving mechanism 26 1st transport unit 26a Gripping mechanism 28 2nd rail 30 2nd moving mechanism 32 2nd transport unit 34 Second support structure 36 Y-axis Z-axis movement mechanism (index feed unit, notch feed unit)
38 Cutting unit 40 Cutting blade 42 Imaging unit (camera)
44 Cleaning unit 46 Lifting mechanism (brush movement unit)
48 Brush 50 Cleaning unit 52 Spinner table 54 Injection nozzle 11 Work piece 13 Adhesive tape (dicing tape)
15 frames

Claims (3)

環状のフレームの開口部に張られた粘着テープによって被加工物が支持されてなるフレームユニットを保持する保持面を有し、回転可能なチャックテーブルと、
該チャックテーブルに保持された該フレームユニット内の該被加工物を切削ブレードで切削する切削ユニットと、
該保持面と平行な加工送り方向に沿って該チャックテーブルを移動させる加工送りユニットと、
該保持面と垂直な切り込み送り方向に沿って該切削ユニットを移動させる切り込み送りユニットと、
該切削ユニットによる加工で該被加工物から切り出された端材を該チャックテーブルに保持された該フレームユニットの該フレームから除去する清掃ユニットと、を備え、
該清掃ユニットは、
該加工送りユニットによって該チャックテーブルが移動できる範囲内で該チャックテーブルの上方に配置され、該加工送り方向と交差する方向に延びるブラシと、
該チャックテーブルに保持された該フレームユニットの該フレームに接触する清掃位置と、該清掃位置から離れた退避位置と、の間で該ブラシを移動させるブラシ移動ユニットと、を備え、
該ブラシを該清掃位置に位置付けた状態で該チャックテーブルを回転又は加工送りさせることによって、該チャックテーブルに保持された該フレームユニットの該フレームに付着した該端材を該フレームから除去することを特徴とする切削装置。
A rotatable chuck table having a holding surface for holding the frame unit, in which the workpiece is supported by an adhesive tape stretched over the opening of the annular frame.
A cutting unit that cuts the workpiece in the frame unit held on the chuck table with a cutting blade, and
A machining feed unit that moves the chuck table along a machining feed direction parallel to the holding surface,
A notch feed unit that moves the cutting unit along a notch feed direction perpendicular to the holding surface, and
A cleaning unit for removing scraps cut out from the workpiece by processing by the cutting unit from the frame of the frame unit held on the chuck table is provided.
The cleaning unit
A brush that is arranged above the chuck table within a range in which the chuck table can be moved by the machining feed unit and extends in a direction intersecting the machining feed direction.
A brush moving unit for moving the brush between a cleaning position of the frame unit held on the chuck table in contact with the frame and a retracted position away from the cleaning position is provided.
By rotating or processing the chuck table with the brush positioned at the cleaning position, the scraps of the frame unit held by the chuck table attached to the frame can be removed from the frame. A characteristic cutting device.
該ブラシ移動ユニットは、該フレームユニットが該チャックテーブルに保持されていない状態で、該チャックテーブルの該保持面に接触する保持面清掃位置と、該保持面清掃位置から離れた該退避位置と、の間で該ブラシを移動させることができるように構成されており、
該ブラシを該保持面清掃位置に位置付けた状態で該チャックテーブルを回転又は加工送りさせることによって、該チャックテーブルの該保持面に付着した該端材を該保持面から除去することを特徴とする請求項1に記載の切削装置。
The brush moving unit has a holding surface cleaning position in contact with the holding surface of the chuck table and a retracting position away from the holding surface cleaning position in a state where the frame unit is not held by the chuck table. It is configured so that the brush can be moved between
The chuck table is rotated or processed and fed while the brush is positioned at the holding surface cleaning position, whereby the end material adhering to the holding surface of the chuck table is removed from the holding surface. The cutting apparatus according to claim 1.
該ブラシは、該切削ユニットに対して該切削ブレードの回転に伴い該端材が飛散する側に配置されることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の切削装置。 The cutting apparatus according to claim 1 or 2, wherein the brush is arranged on the side where the scraps are scattered as the cutting blade rotates with respect to the cutting unit.
JP2017032883A 2017-02-24 2017-02-24 Cutting equipment Active JP6821254B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017032883A JP6821254B2 (en) 2017-02-24 2017-02-24 Cutting equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017032883A JP6821254B2 (en) 2017-02-24 2017-02-24 Cutting equipment

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2018134723A JP2018134723A (en) 2018-08-30
JP6821254B2 true JP6821254B2 (en) 2021-01-27

Family

ID=63366372

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017032883A Active JP6821254B2 (en) 2017-02-24 2017-02-24 Cutting equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6821254B2 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7386424B2 (en) * 2019-09-20 2023-11-27 株式会社東京精密 Frame cleaning mechanism

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2818712B2 (en) * 1992-03-13 1998-10-30 古河電気工業株式会社 Ring frame cleaning equipment
JPH09186114A (en) * 1996-01-08 1997-07-15 Fujitsu Ltd Cleaning method of tape support frame
JP2003158095A (en) * 2001-11-26 2003-05-30 Hitachi Ltd Ring peeling and cleaning device and manufacturing method for semiconductor device
JP2012086301A (en) * 2010-10-19 2012-05-10 Renesas Electronics Corp Apparatus and method for producing semiconductor

Also Published As

Publication number Publication date
JP2018134723A (en) 2018-08-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6218600B2 (en) Processing equipment
JP5999972B2 (en) Holding table
JP2017084950A (en) Transfer mechanism of processing device
JP5580066B2 (en) Cutting equipment
JP5179928B2 (en) How to carry out the wafer
JP6498020B2 (en) Cleaning method of chuck table
JP6210847B2 (en) Cutting apparatus and cutting method
KR20180113165A (en) Cutting apparatus
JP6224350B2 (en) Processing equipment
CN109986461B (en) Cutting device
JP7184620B2 (en) cutting equipment
JP6847525B2 (en) Cutting equipment
JP6847529B2 (en) Cutting method of work piece
JP2017213628A (en) Cutting device
JP6821254B2 (en) Cutting equipment
KR102463650B1 (en) Machining apparatus
KR20190091196A (en) Setup method of cutting apparatus
JP6208587B2 (en) Cutting equipment
JP6388813B2 (en) Cutting equipment
JP6084115B2 (en) Processing equipment
JP6635864B2 (en) Processing equipment
JP6713195B2 (en) Chuck table
JP6987450B2 (en) Cutting equipment
JP2015050406A (en) Cutting device
JP6855130B2 (en) Processing equipment

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20191224

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20201223

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20210105

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20210105

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6821254

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250