JP6808420B2 - 撮像素子および撮像装置 - Google Patents

撮像素子および撮像装置 Download PDF

Info

Publication number
JP6808420B2
JP6808420B2 JP2016188328A JP2016188328A JP6808420B2 JP 6808420 B2 JP6808420 B2 JP 6808420B2 JP 2016188328 A JP2016188328 A JP 2016188328A JP 2016188328 A JP2016188328 A JP 2016188328A JP 6808420 B2 JP6808420 B2 JP 6808420B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
focus detection
detection data
image
data
phase difference
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2016188328A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2018056703A (ja
Inventor
博之 古用
博之 古用
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2016188328A priority Critical patent/JP6808420B2/ja
Priority to US15/709,210 priority patent/US10447915B2/en
Publication of JP2018056703A publication Critical patent/JP2018056703A/ja
Priority to US16/572,376 priority patent/US11356595B2/en
Application granted granted Critical
Publication of JP6808420B2 publication Critical patent/JP6808420B2/ja
Priority to US17/732,312 priority patent/US11843859B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14634Assemblies, i.e. Hybrid structures
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/60Control of cameras or camera modules
    • H04N23/67Focus control based on electronic image sensor signals
    • H04N23/672Focus control based on electronic image sensor signals based on the phase difference signals
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/71Charge-coupled device [CCD] sensors; Charge-transfer registers specially adapted for CCD sensors
    • H04N25/75Circuitry for providing, modifying or processing image signals from the pixel array
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/76Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
    • H04N25/78Readout circuits for addressed sensors, e.g. output amplifiers or A/D converters

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Studio Devices (AREA)
  • Focusing (AREA)
  • Automatic Focus Adjustment (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)

Description

本発明は、撮像素子および撮像装置に関するものである。
近年、デジタルカメラやスマートフォンなどの撮像装置が一般に普及している。これらの撮像装置には、被写体のピント(レンズのフォーカス位置)を自動的に合わせるオートフォーカス(AF)機能が搭載され、使用者は自らフォーカスを調節することなく、カメラ任せで撮影可能である。
また、デジタルカメラやスマートフォンなどでは、被写体を撮影するための撮像素子の撮像面に瞳分割された位相差画素を設け、位相差画素の出力データに基づいて位相差AFを行う撮像面位相差AFが採用されている機種も登場している。
位相差AFとは、ピントが正しく合っていると結像位置の異なる2つの像の位置が一定になるという考え方に基づくAF方式である。すなわち、ピントが合っているときはこの2つの像の間隔は一定であるため、2つの像の間隔を表す位相差情報からピントが合うレンズ位置が現在のレンズの位置からどれだけ離れているかを表すデフォーカス量を算出する。そして、算出されたデフォーカス量に基づいてフォーカスレンズをフォーカス位置に移動させることでピントを合わせるものである。
このような位相差AFによれば、デフォーカス量が1フレームの画像データから求まるため、被写体のピントを合わせるのに必要な時間が非常に短くなり、高速にピント合わせを行うことができる。さらに、特許文献1では、撮像面位相差AFの相関演算を行う機能を搭載した撮像素子が提案されている。
特開2016−9043号公報
しかしながら、AF演算精度や信頼性を向上させるために撮像面位相差AFに使用する位相差画素を増加させた場合、デフォーカス量の演算処理に時間が掛かるという問題がある。
本発明の目的は、位相差画素の増加に伴い演算時間が延びた場合でも、位相差AFの演算精度や信頼性を確保しながら、露光からフォーカス制御までの時間を短縮することのできる撮像素子およびそれを用いた撮像装置を提供することである。
本発明は、上記課題を解決するためになされたものであり、本発明に係る撮像素子は、光学的に結像された被写体像を画像信号に変換する複数の単位画素が行列状に配列された画素部と、前記画像信号に基づいて位相差検出を行うことにより第1の焦点検出データを生成する第1の焦点検出手段と、前記画像信号に基づいて前記第1の焦点検出手段よりも詳細な位相差検出を行うことにより第2の焦点検出データを生成する第2の焦点検出手段と、前記第2の焦点検出データを前記画像信号に基づく撮影画像データの前に付加するとともに、前記第1の焦点検出データを前記撮影画像データの後に付加して出力する出力手段と、を有することを特徴とする。
また、光学的に結像された被写体像を画像信号に変換する複数の単位画素が行列状に配列された画素部と、前記画像信号に基づいて位相差検出を行うことにより第1の焦点検出データを生成する第1の焦点検出手段と、前記画像信号に基づいて前記第1の焦点検出手段よりも詳細な位相差検出を行うことにより第2の焦点検出データを生成する第2の焦点検出手段と、前記第1の焦点検出データを前記画像信号に基づく撮影画像データの前に付加するとともに、前記第2の焦点検出データを前記撮影画像データの後に付加して出力する出力手段と、を有することを特徴とする。
本発明によれば、撮像面位相差AFの演算精度や信頼性を確保しながら、露光からフォーカス制御までの時間を短縮することができる。
実施例における撮像システムのシステム概要図。 実施例における撮像素子の概略構造図。 実施例における撮像素子の外形構成図。 実施例における撮像素子の断面図。 実施例における撮像素子の画素配列図。 実施例における焦点検出用信号を示した図。 実施例における撮像素子の概略図。 実施例におけるフローチャート図。 実施例1における撮像処理のタイミングを示す図。 実施例1における画像情報の読み出しイメージ図。 比較例における撮像処理のタイミングを示す図。 実施例におけるAF枠を示す図。 実施例2における撮像処理のタイミングを示す図。 実施例2における画像情報の読み出しイメージ図。
(実施例1)
図1は、本発明の実施例1における撮像装置を構成する撮像システムの概要を示したものである。
図1において、全体制御演算部509は、撮像システム全体の制御と各種演算処理を行う。レンズ部501は、レンズ駆動部502によってズーム、フォーカス等の駆動制御が行われる。メカニカルシャッタ(メカシャッタ)503、絞り504は、メカニカルシャッタ・絞り駆動部(シャッタ・絞り駆動部)505によって駆動制御される。
レンズ部501を通った被写体像は絞り504にて適切な光量に調整され、撮像素子506の撮像面上に光学的に結像される。撮像素子506の詳細な構成については、後述する。撮像素子506の撮像面上に結合した被写体像は画像信号に変換されて、さらにゲイン調整、アナログ信号からデジタル信号へのA/D変換が行われる。そして、撮像素子506からは、R、Gr、Gb、Bの各色のデジタル画像信号として撮像信号処理回路507に出力される。
撮像信号処理回路507では、受け取った各色のデジタル画像信号に対し、ノイズを軽減するローパスフィルタ処理やシェーディング補正処理、ホワイトバランス(WB)処理などの各種の撮像信号処理、各種補正処理、さらに画像信号の圧縮処理等を行う。
メモリ部508は、画像信号を一時的に記憶する。記録媒体512は、半導体メモリ等で構成された着脱可能な記憶媒体である。記録媒体制御インターフェース部(記録媒体制御I/F部)510は、記録媒体512に画像データを記録し、または記録媒体512に記録されている画像データの読み出しを行う。表示部511は、画像データの表示を行う。
外部インターフェース部(外部I/F部)513は、外部コンピュータ等と通信を行うためのインターフェースである。メモリ部14は、全体制御演算部509での演算結果等を記憶する。操作部515によりユーザが設定した撮像システムの駆動条件に関する情報は、全体制御演算部509に送られ、これらの情報に基づいて撮像システム全体の制御が行われる。
図2は、実施例1における撮像素子の概略をブロック図として示したものである。撮像素子506は、図1の全体制御演算部509により制御される。図2において、撮像素子506は、第1の半導体チップ(撮像層)10および第2の半導体チップ(回路層)11を有しており、第1の半導体チップ10と第2の半導体チップ11とは互いに積層されている。第1の半導体チップ10には、マトリクス状(行列状)に配列された複数の単位画素101が形成されている。第1の半導体チップ10は光入射側、すなわち、光学像の受光側に配置される。
第1の半導体チップ10において、画素部にマトリクス状に配列された複数の単位画素101は、行ごとに同じ転送信号線103、リセット信号線104、および行選択信号線105と接続される。また、複数の単位画素101は、列ごとに読み出し行単位で異なる垂直出力線102に接続される。
第2の半導体チップ11には、列ADCブロック111、行走査回路112、列走査回路113、タイミング制御回路114等の画素駆動回路、フレームメモリ117、演算部118、パラレル・シリアル変換部(P/S変換部)119などが形成されている。
このように、第1の半導体チップ10に複数の単位画素101を形成し、第2の半導体チップ11に画素駆動回路やメモリ回路や演算回路等を形成することで、撮像素子506の撮像層と回路層とで製造プロセスを分けることができる。そして、回路層における配線の細線化、高密度化による高速化、小型化、および高機能化を図ることが可能となる。
第2の半導体チップにおいて、スイッチ116は、チャンネル毎の水平信号線115−a、115−bに出力される画像信号を順次フレームメモリ117へ選択的に入力する。フレームメモリ117は、スイッチ116により入力された画像信号を一時的に記憶する。演算部118は、フレームメモリ117に記憶された画像信号に対する各種演算処理や後述するAF演算処理などを行う。AF演算結果は、必要に応じてフレームメモリ117に一時的に記憶される。
ここで、撮像素子から出力される画像信号を用いたAF方式としては、コントラストAF方式と撮像面位相差AF方式がある。コントラストAFは、ピントが正しく合っている画像であればコントラスト値が高くなるという考え方に基づくAF方式である。すなわち、フォーカスレンズを動かしながら撮像素子から得られる画像データのコントラスト情報を逐次解析し、被写体のコントラスト(明暗差)の変化の傾向からコントラストが大きくなるフォーカス位置を探してピントを合わせるものである。
フォーカスレンズを動かしながら画像データの輝度変化を解析する必要があるため、位相差AF方式に比べて、焦点検出に時間がかかるというデメリットがある。
また、撮像面位相差AFは、撮像素子に瞳分割された位相差検出用画素を設け、位相差検出用画素から読み出した瞳分割された2つの画像の相対的な像ずれ量を相関演算により検出することで、デフォーカス量を検出することができる。このような撮像面位相差AFを行うためには、上述したように撮像素子に位相差検出用画素を設ける必要がある。コントラストAF、撮像面位相差AFには、それぞれメリット・デメリットが存在する。本実施例の撮像システムでは、その両方の要素を備え、コントラストAF方式と撮像面位相差AF方式を組み合わせた「ハイブリッド・オートフォーカス」を採用している。
演算部118で処理されフレームメモリ117に記憶されている画像情報とAF演算結果は、タイミング制御回路114により制御されるタイミングでP/S変換部119によりパラレル・シリアル変換を行われる。そして、撮像素子506の外部にある撮像信号処理回路507へと出力される。
図3は、図1で示した撮像素子506の外形図である。図3(a)は、撮像素子506を光の入射する側の斜め上から見た図、図3(b)は撮像素子506の断面図を示している。撮像素子506は、図2で示した第1の半導体チップ10と第2の半導体チップ11により構成される。第1の半導体チップ10と第2の半導体チップ11は互いに積層された積層構造となっており、それぞれに設けられている複数のマイクロパッド302を、複数のマイクロバンプ301を介して電気的に接続して一体化されている。
図4は、撮像素子506の断面構造の詳細を示す図である。
第1の半導体チップ(撮像層)10では、Si基板403上に配線層404が形成されている。Si基板403には、フォトダイオード(PD)202としてのn型拡散領域407が形成され、PD202の表面部(配線層404との境界部)にはp+拡散領域408が形成されている。さらに、Si基板403の表面部には、フローティングディフュージョン(FD)となるn+拡散領域409、スイッチ用トランジスタのn+拡散領域410が複数形成されている。
また、配線層404には、SiO2等の絶縁層内に各トランジスタのゲート配線411、信号伝搬用配線412が形成され、さらにその表面部にはCu等からなるマイクロパッド413が形成されている。n+拡散領域409、410とトランジスタのゲート配線411から転送トランジスタ202、リセットトランジスタ203、増幅トランジスタ204、選択トランジスタ205がそれぞれ構成される。さらに、n+拡散領域410をマイクロパッド413と接続するためのビア(VIA)414が形成されている。
第2の半導体チップ(回路層)11では、Si基板405上に配線層406が形成されている。Si基板405には、表面部にトランジスタの拡散領域416が複数形成されている。
また、配線層406には、SiO2等の絶縁層内に各トランジスタのゲート配線417、信号伝搬用配線418が形成され、さらにその表面部にはCu等からなるマイクロパッド419が形成されている。そして、トランジスタ拡散領域416やトランジスタのゲート配線417、信号伝搬用配線418などから各種回路が構成される。なお、回路断面の詳細は本発明の本質ではないため、ここでは説明を省略する。さらに、拡散領域416等をマイクロパッド419と接続するためのビア(VIA)420が形成されている。
なお、図4では、第1の半導体チップ(撮像層)10、第2の半導体チップ(回路層)11を積層接続端子としてマイクロバンプ415を用いて接続する構成例を示したが、マイクロバンプを用いずに直接接続することも可能である。
図5は、実施例1における撮像素子506の画素配列を模式的に示した図である。各単位画素に設けられるカラーフィルタの配列にはベイヤー配列が適用され、奇数行の画素には、左から順に赤(RED)と緑(GREEN)のカラーフィルタが交互に設けられる。また、偶数行の画素には、左から順に緑(GREEN)と青(BLUE)のカラーフィルタが交互に設けられる。
また、各画素において、オンチップマイクロレンズ201がカラーフィルタの上に構成されている。オンチップマイクロレンズ201の内側に配置された複数の矩形は、それぞれ瞳分割されたA画素101a、B画素101bを示している。A画素101aから読み出したA画素画像とB画素101bから読み出したB画素画像の相対的な像ずれ量を相関演算により検出することで、所定領域のデフォーカス量を検出することができる。なお、A画素画像信号とB画素画像信号を加算処理することにより、表示・記録用画像として使用することもできる。
図6は、実施例1において、演算部118へ送られる焦点検出用画像であるA像で形成されるA画素画像信号(A像信号)601aおよび焦点検出用画像であるB像で形成されるB画素画像信号(B像信号)601bからなる焦点検出用信号を示した図である。図6において、横軸は連結された信号の画素並び方向を示し、縦軸は信号の強度を示している。
図6では、レンズ501が撮像素子506に対してデフォーカスした状態であるため、A像信号601aは左側に、B像信号601bは右側にずれた状態となっている。このA像、B像のずれ量(位相差)を演算部118で算出する相関演算を行うことにより、レンズ501がどれだけデフォーカスしているかを表すデフォーカス量を検出することができる。A像、B像の一致の程度を表す量として、式(1)を用いることができる。
Figure 0006808420
ここで、aはA像信号の信号強度レベル、bはB像信号の信号強度レベルである。式(1)は、2像の一致が大きいほど小さくなり、合焦時に最小となる。さらに、B像に対してA像を相対的にp画素シフトしてUの値を計算し、それをPとする。
Figure 0006808420
2つの画像が合焦するシフト量でPは最小となり、シフト量からどの程度合焦位置からずれているかを示すデフォーカス量を算出する。また、A像、B像はデフォーカス量が0となった場合(合焦した場合)、完全に一致するはずだが、A像、B像に違いがある場合、撮像面位相差AFの精度が低下してしまう。
そこで2つの像の共通領域の面積を相関値として求め、求めた相関値に応じて信頼性を判断する。相関値が大きければ信頼性は高いと判断し、相関値が小さければ信頼性は低いと判断する。すなわち演算部118では、撮像面位相差AFの演算を行うとともに、演算結果の信頼性を判断する。
演算部118では、さらにコントラストAFの演算も行う。コントラストAFは、上述したように、被写体のコントラスト(明暗差)が大きいところが合焦位置であると判断する方式である。そして、A画素画像信号とB画素画像信号を加算処理することで得られる加算画像情報に対するコントラストを検出する。
コントラストの検出方法は、撮像画面を複数のブロックに分割した各ブロックにおいて、画像情報に対して画素間の輝度変化が大きくなるほど数値が大きくなるようにハイパスフィルタをかける。ハイパスフィルタによって算出された信号値を積算して画素間の輝度値の差の絶対値の和(SAD値)を求めることにより、そのブロックのコントラスト値を算出することができる。なお、コントラストの検出方法は、他の公知の方法を用いてもかまわない。
図7は、図2に示した撮像素子506内の単位画素101、演算部118およびフレームメモリ117と、撮像信号処理回路507のみを示した概略構成図である。
演算部118において、加算処理部1102は、単位画素101の各々から出力されるA像信号とB像信号の加算処理を行うことで(A+B)像信号を生成する。コントラストAF演算処理部1100は、(A+B)像信号を用いて第3の焦点検出方式であるコントラストAF演算処理を行いフレームメモリ117へ保存する。
並行して、簡易位相差AF演算処理部1103は、第1の焦点検出方式である簡易位相差AFの演算処理を行い、さらに信頼性判定部1104において、簡易位相差AFの演算結果(第1の焦点検出データ)の信頼性を判定する。そして簡易位相差AFの演算結果とその信頼性判定結果をフレームメモリ117へ保存する。単位画素101の画像情報である(A+B)像信号をフレームメモリ117へ保存する。
信頼性判定部104による簡易位相差AFの演算結果の信頼性判定で信頼性が低いと判断された場合には、フレームメモリ117からA像信号とB像信号を読み出す。そして、詳細位相差AF演算処理部1101において第2の焦点検出方式である詳細位相差AFの演算処理を行う。信頼性判定部1114において、詳細位相差AFの演算結果(第2の焦点検出データ)の信頼性を判定する。そして、詳細位相差AFの演算結果とその信頼性判定結果をフレームメモリ117へ保存する。その後、フレームメモリ117に保存されたAF演算結果が演算部118の外部に出力される。
なお、全体制御演算部509から撮像面位相差AF演算を全画素で行う指示があった場合には、簡易位相差AFや詳細位相差AFの演算結果の信頼性判定を行わず、全画素で位相差AF演算を行う。そして、次のフレームの画像情報の最後に位相差AF演算結果を付加して出力する。このように制御することにより、露光からのタイムラグは短縮されないが、撮像面位相差AFの演算精度や信頼性を高くすることが可能である。また、全画素で撮像面位相差AF演算を行うかどうかは、信頼性判定部1114による詳細位相差AF演算結果の信頼性を撮像信号処理回路507へ転送することで判断することも可能である。
図8(a)は、実施例1における撮影画像を生成するためのフローチャートである。S801において、各単位画素101の露光が行われる。S802において、単位画素101の各々からA像信号とB像信号が読み出しを開始する。読み出し開始と同時にS803において、撮像面位相差AFの演算処理を開始するためのトリガを発生させ、S804において、コントラストAFの演算処理を開始するためのトリガを発生させる。S805において、撮影画像データをフレームメモリ117へ保存する。
図8(b)は、実施例1における簡易位相差AF演算処理のフローチャートである。図8(a)のS803で発生したトリガを受けて処理が開始され、S806において、簡易位相差AF演算を行い、S807において、簡易位相差AF演算結果をフレームメモリ117へ保存する。次にS808において、簡易位相差AF演算結果の信頼性を判定し、信頼性が低いと判定した場合には、S809において、フレームメモリ117からA像信号とB像信号の読み出しを行う。
そして、S810において、詳細な位相差AF(詳細位相差AF)の演算処理を行い、S811において、演算結果をフレームメモリ117へ保存し、さらにS812において、外部へ転送する。また、S808において、簡易位相差AFの演算結果の信頼性が高いと判定した場合には、詳細位相差AFの演算処理を行わず、S812に進んで、簡易位相差AFの演算結果を外部へ転送する。
図8(c)は、実施例1におけるコントラストAF演算処理のフローチャートである。図8(a)のS804で発生したトリガを受けて処理が開始され、S813において、A像信号とB像信号の加算処理を行うことで、(A+B)像信号を生成する。S814において、(A+B)像信号を用いてコントラストAFの演算処理を行い、S815において、コントラストAFの演算結果をフレームメモリ117へ保存する。そして、S812において、コントラストAFの演算結果(第3の焦点検出データ)を外部へ転送する。
ここで、図8(a)〜(c)において、S812では、フレームメモリ117に保存されている各AF演算結果(簡易位相差AF演算結果、詳細位相差AF演算結果、コントラストAF演算結果)は撮影画像データとともに外部へ転送される。
図9は、実施例1における撮像処理のタイミングを示す図である。最初のフレームAの露光Aが行われ、次のフレームBの露光Bを行っている間に露光Aで得られる撮影画像データAの読み出しが行われる。この撮影画像データAの読み出しと並行してフレームAで得られる画像信号を用いたコントラストAFの演算処理と簡易位相差AFの演算処理が行われる。そして、図8(b)で説明したように簡易位相差AFの演算結果の信頼性を判定し、信頼性が低いと判定した場合には詳細位相差AFの演算処理が行われる。
図10は、撮像素子506から出力される撮影画像データのデータ構成を模式的に示した図である。図10に示すように、前フレームにおける詳細位相差AFの演算結果(図9の演算結果902)を現フレームの撮影画像データの先頭(前)に付加する。また、現フレームにおける簡易位相差AFの演算結果およびコントラストAFの演算結果(図9の演算結果901)を撮影画像データの最後(後)に付加する。
すなわち、各AF演算結果を撮影画像データの前後に付加して撮像素子506から出力する。簡易位相差AFの演算結果および詳細位相差AFの演算結果は、上述した式(2)で求められるデフォーカス量であり、コントラストAFの演算結果は、上述したSAD値である。
簡易位相差AF演算の信頼性が高いと判定された場合、全体制御演算部509は、撮影画像データの最後に付加された簡易位相差AFの演算結果または簡易位相差AFおよびコントラストAFの演算結果に基づいてフォーカス制御を行う。すなわち、レンズ駆動部502によりレンズ501を移動させる。また、簡易位相差AF演算の信頼性が低いと判定された場合には、次フレームの撮影画像データの先頭に付加された詳細位相差AFの演算結果または詳細位相差AFの演算結果およびコントラストAFの演算結果に基づいてフォーカス制御を行う。すなわち、レンズ駆動部502によりレンズ501を移動させる。
ここで比較のために、簡易位相差AFの演算処理を行わない場合について、図11を用いて説明する。最初のフレームAの露光Aが行われ、次のフレームBの露光を行っている間に露光Aで得られる撮影画像データAの読み出しが行われる。この撮影画像データAの読み出しと並行してフレームAで得られる画像信号を用いたコントラストAFの演算処理と詳細位相差AFの演算処理が行われる。
ここで、フレームAで得られる画像信号を用いた像面位相差AFの演算処理が撮影画像データAの読み出し完了までに終わらないため、次のフレームBで得られる撮影画像データBの最後に演算結果1401として付加して出力される。撮影画像データBの読み出しタイミングは、さらにその次のフレームCの露光Cを行っている間である。そのため、フォーカスレンズ移動開始までの時間が大幅に遅れることになり、露光からレンズのフォーカス制御を行うまでのタイムラグが発生する。
このように簡易位相差AF演算を行わない場合に対し、図9で説明したような撮像処理を行うことにより、撮影画像データとともに出力される同じフレームで得られる簡易位相差AF演算結果を用いてフォーカス制御を開始することが可能となることがわかる。
図12は、実施例1における簡易位相差AF演算と詳細位相差AF演算でそれぞれ使用するAF枠設定の一例を示した図である。簡易位相差AF演算で使用するAF枠の数は、詳細位相差AF演算で使用するAF枠の数よりも少なくなるように設定している。これは撮影画像データの出力完了前までに簡易位相差AFの演算処理を完了させるために演算を行う時間を短くするためである。
そして、設定されたAF選択枠の数および位置に応じて、簡易位相差AFの演算処理で使用する単位画素数を減少させることができる。簡易位相差AFの演算処理に使用する単位画素数を少なくすることで、演算処理時間を短縮することが可能となる。
また、詳細位相差AFの演算処理は、次フレームの撮影画像データの出力開始前までに完了させれば良い。ここで次フレームの撮影画像データの出力開始まではブランキング期間(撮影画像データを撮像信号処理回路507へ転送していない期間)が存在する。そのため、AF選択枠の数および位置とブランキング期間に応じて、詳細位相差AFの演算処理で使用する単位画素数を決定する。ブランキング期間があるため、詳細位相差AFの演算処理で使用する単位画素数を簡易位相差AFの演算処理で使用する単位画素数よりも多く設定することが可能である。
なお、簡易位相差AFの演算処理、詳細位相差AFの演算処理共に1単位画素あたりの演算速度を予め測定しておくことで、各AF演算で使用できる単位画素の数を決定することが可能である。また、被写体が暗い場合には画像信号にゲインを掛けることで、より信頼性の高い演算結果を得ることも可能である。さらに、撮像素子506は各位相差AF演算結果の信頼性に基づいて、信頼性の高いAF選択枠を自動で選択することも可能である。
以上のような構成により、撮像面位相差AFで使用する単位画素数の増加に伴って位相差AFの演算処理時間が延びた場合でも、露光からレンズのフォーカス制御までのタイムラグを短縮することができる。また、各位相差AFの演算処理の信頼性を判定することにより、撮像面位相差AFの演算精度や信頼性を確保することもできる。
なお、実施例1では、図5に示したように全単位画素が瞳分割された撮像素子を用いる構成について説明したが、全単位画素が瞳分割されている必要はなく、例えば一部の単位画素のみが瞳分割された構成の撮像素子を用いてもかまわない。
(実施例2)
実施例1では、撮影画像データの先頭に前フレームにおける詳細位相差AF演算結果を付加し、撮影画像データの最後に現フレームにおける簡易位相差AF演算結果およびコントラストAF演算結果を付加する構成例について説明した。これに対して実施例2では、撮影画像データの先頭に前フレームにおける簡易位相差AF演算結果およびコントラストAF演算結果を付加し、撮影画像データの最後に前フレームにおける詳細位相差AF演算結果を付加する場合について説明する。なお、実施例2に係る撮像装置や撮像素子の構成は前述した実施例1と同一であるため、ここではその説明を省略する。
図13は、実施例2における撮像処理のタイミングを示す図である。最初のフレームAの露光Aが行われ、次のフレームBの露光Bを行っている間に露光Aで得られる撮影画像データAの読み出しが行われる。この撮影画像データAの読み出しと並行してフレームAで得られる画像信号を用いたコントラストAFの演算処理と簡易位相差AFの演算処理が行われる。そして、図8(b)で説明したように簡易位相差AFの演算結果の信頼性を判定し、信頼性が低いと判定した場合には詳細位相差AFの演算処理が行われる。
図14は、実施例2において撮像素子506から出力される撮影画像データのデータ構成を模式的に示した図である。図14に示すように、前フレームにおける簡易位相差AF演算結果およびコントラストAF演算結果(図13の演算結果1301)を現フレームの撮影画像データの先頭(前)に付加する。また、前フレームにおける詳細位相差AFの演算結果(図13の演算結果1302)を現フレームの撮影画像データの最後(後)に付加する。そして、撮像素子506から出力する。
簡易位相差AF演算の信頼性が高いと判定された場合、全体制御演算部509は、撮影画像データの最初に付加された前フレームにおける簡易位相差AFの演算結果または簡易位相差AFおよびコントラストAFの演算結果に基づいてフォーカス制御を行う。すなわち、レンズ駆動部502によりレンズ501を移動させる。
また、簡易位相差AF演算の信頼性が低いと判定された場合には、撮影画像データの最後に付加された前フレームにおける詳細位相差AFの演算結果または詳細位相差AFおよびコントラストAFの演算結果に基づいてフォーカス制御を行う。すなわち、レンズ駆動部502によりレンズ501を移動させる。
以上のような構成にしたことにより、実施例1よりも露光からレンズのフォーカス制御を行うまでのタイムラグは大きくなるが、簡易位相差AFの信頼性を向上させた場合や、各AF演算処理による回路の消費電力を削減したい場合に本実施例は有効である。回路の消費電力を下げる場合、例えば、各AF演算処理部のクロック周波数を落とすなどの手段を用いることができる。
簡易位相差AFの演算処理およびコントラストAFの演算処理は、次フレームの撮影画像データの出力開始前までに完了させれば良い。ここで次フレームの撮影画像データの出力開始まではブランキング期間(撮影画像データ法を撮像信号処理回路507へ転送していない期間)が存在する。そのため、AF選択枠の数およびブランキング期間に応じて、簡易位相差AFの演算処理で使用する単位画素数を決定する。
また、詳細位相差AFの演算処理は、次フレームの撮影画像データの出力完了前までに完了させれば良い。ここで次フレームの撮影画像データの出力開始まではブランキング期間(撮影画像データを撮像信号処理回路507へ転送していない期間)と現フレームの撮影画像データの読み出し期間がある。そのため、AF選択枠の数、ブランキング期間、および現フレームの撮影画像データの読み出し期間に応じて、詳細位相差AFの演算処理で使用する単位画素数を決定する。
ブランキング期間および現フレームの撮影画像データの読み出し期間があるため、詳細位相差AFの演算処理で使用する単位画素数を簡易位相差AFの演算で使用する画素数よりも多く設定することが可能である。
なお、簡易位相差AFの演算処理、詳細位相差AFの演算処理共に1単位画素あたりの演算速度を予め測定しておくことで、各AF演算で使用できる単位画素の数を決定することが可能である。また、被写体が暗い場合には画像信号にゲインを掛けることで、より信頼性の高い演算結果を得ることも可能である。
また、本実施例では前フレームにおけるコントラストAFの演算結果を現フレームの撮影画像データの先頭に付加した。これに限らず、例えばコントラストAFの演算処理に時間を要する場合には、前フレームの詳細位相差AFの演算結果とともにコントラストAFの演算結果を現フレームの撮影画像データの最後に付加しても良い。
以上のような構成により、回路の消費電力を下げるために各AF演算処理部のクロック周波数を落とすような場合においても、露光からレンズのフォーカス制御までのタイムラグを短縮することができる。また、各位相差AFの信頼性を判定することにより、撮像面位相差AFの演算精度や信頼性を確保することもできる。
なお、実施例2でも、図5に示したように全単位画素が瞳分割された撮像素子を用いる構成について説明したが、全単位画素で瞳分割されている必要はなく、例えば一部の単位画素のみが瞳分割された構成の撮像素子を用いてもかまわない。
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されず、その要旨の範囲内で種々の変形及び変更が可能である。
(その他の実施例)
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア(プログラム)を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ(またはCPUやMPU等)がプログラムを読み出して実行する処理である。
101 画素
118 演算部
506 撮像素子
507 撮像信号処理回路
509 全体制御演算部

Claims (18)

  1. 光学的に結像された被写体像を画像信号に変換する複数の単位画素が行列状に配列された画素部と、
    前記画像信号に基づいて位相差検出を行うことにより第1の焦点検出データを生成する第1の焦点検出手段と、
    前記画像信号に基づいて前記第1の焦点検出手段よりも詳細な位相差検出を行うことにより第2の焦点検出データを生成する第2の焦点検出手段と、
    前記第2の焦点検出データを前記画像信号に基づく撮影画像データの前に付加するとともに、前記第1の焦点検出データを前記撮影画像データの後に付加して出力する出力手段と、
    を有することを特徴とする撮像素子。
  2. 前記出力手段は、前フレームにおける前記第2の焦点検出データを前記画像信号に基づく撮影画像データの前に付加するとともに、現フレームにおける前記第1の焦点検出データを前記撮影画像データの後に付加して出力することを特徴とする請求項1に記載の撮像素子。
  3. 光学的に結像された被写体像を画像信号に変換する複数の単位画素が行列状に配列された画素部と、
    前記画像信号に基づいて位相差検出を行うことにより第1の焦点検出データを生成する第1の焦点検出手段と、
    前記画像信号に基づいて前記第1の焦点検出手段よりも詳細な位相差検出を行うことにより第2の焦点検出データを生成する第2の焦点検出手段と、
    前記第1の焦点検出データを前記画像信号に基づく撮影画像データの前に付加するとともに、前記第2の焦点検出データを前記撮影画像データの後に付加して出力する出力手段と、
    を有することを特徴とする撮像素子。
  4. 前記出力手段は、前フレームにおける前記第1の焦点検出データを前記画像信号に基づく撮影画像データの前に付加するとともに、前フレームにおける前記第2の焦点検出データを前記撮影画像データの後に付加して出力することを特徴とする請求項3に記載の撮像素子。
  5. 前記複数の単位画素は、瞳分割されている単位画素を含むことを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の撮像素子。
  6. 前記第1および前記第2の焦点検出手段は、前記瞳分割されている単位画素から出力される画像信号に基づいて位相差を検出することを特徴とする請求項に記載の撮像素子。
  7. 前記第1の焦点検出手段により位相差検出を行う際に使用する単位画素の数は、前記第2の焦点検出手段により位相差検出を行う際に使用する単位画素の数より少ないことを特徴する請求項1乃至のいずれか1項に記載の撮像素子。
  8. 複数の半導体チップが互いに積層された積層構造であることを特徴とする請求項1乃至のいずれか1項に記載の撮像素子。
  9. 請求項1乃至のいずれか1項に記載の撮像素子と、
    前記撮像素子を駆動制御する制御手段と、
    を有することを特徴とする撮像装置。
  10. 前記第1の焦点検出データの信頼性が高い場合に、前記第1の焦点検出データに基づいてフォーカス制御を行い、前記第1の焦点検出データの信頼性が低い場合に、前記第2の焦点検出データに基づいてフォーカス制御を行うことを特徴する請求項に記載の撮像装置
  11. さらに、被写体のコントラストを検出することにより第3の焦点検出データを生成する第3の焦点検出手段を備えることを特徴とする請求項乃至のいずれか1項に記載の撮像素子。
  12. 前記出力手段は、前記第1の焦点検出データおよび前記第3の焦点検出データを前記撮影画像データの前に付加し、前記第2の焦点検出データを前記撮影画像データの後ろに付加することを特徴とする請求項11に記載の撮像素子。
  13. 前記出力手段は、前フレームにおける前記第1の焦点検出データおよび前記第3の焦点検出データを前記画像信号に基づく撮影画像データの前に付加するとともに、前フレームにおける前記第2の焦点検出データを前記撮影画像データの後に付加して出力することを特徴とする請求項12に記載の撮像素子。
  14. 前記出力手段は、前記第2の焦点検出データを前記撮影画像データの前に付加し、前記第1の焦点検出データおよび前記第3の焦点検出データを前記撮影画像データの後に付加することを特徴とする請求項11に記載の撮像素子。
  15. 前記出力手段は、前フレームにおける前記第2の焦点検出データを前記画像信号に基づく撮影画像データの前に付加するとともに、現フレームにおける前記第1の焦点検出データおよび前記第3の焦点検出データを前記撮影画像データの後に付加して出力することを特徴とする請求項14に記載の撮像素子。
  16. 複数の半導体チップが互いに積層された積層構造であることを特徴とする請求項11乃至15のいずれか1項に記載の撮像素子。
  17. 請求項11乃至16のいずれか1項に記載の撮像素子と、
    前記撮像素子を駆動制御する制御手段と、
    を有することを特徴とする撮像装置。
  18. 前記第1の焦点検出データの信頼性が高い場合に、前記第1の焦点検出データまたは前記第1の焦点検出データおよび前記第3の焦点検出データに基づいてフォーカス制御を行い、前記第1の焦点検出データの信頼性が低い場合に、前記第2の焦点検出データまたは前記第2の焦点検出データおよび前記第3の焦点検出データに基づいてフォーカス制御を行うことを特徴する請求項17に記載の撮像装置。
JP2016188328A 2016-09-27 2016-09-27 撮像素子および撮像装置 Active JP6808420B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016188328A JP6808420B2 (ja) 2016-09-27 2016-09-27 撮像素子および撮像装置
US15/709,210 US10447915B2 (en) 2016-09-27 2017-09-19 Image sensor and imaging apparatus with first and second focus detection data at a top and bottom of captured image data
US16/572,376 US11356595B2 (en) 2016-09-27 2019-09-16 Image sensor and imaging apparatus for outputting image data by discriminating whether to add a result of AF calculation to a captured image data
US17/732,312 US11843859B2 (en) 2016-09-27 2022-04-28 Image sensor and imaging apparatus for performing focus detection by detecting a phase difference based on an image signal

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016188328A JP6808420B2 (ja) 2016-09-27 2016-09-27 撮像素子および撮像装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2018056703A JP2018056703A (ja) 2018-04-05
JP6808420B2 true JP6808420B2 (ja) 2021-01-06

Family

ID=61685901

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016188328A Active JP6808420B2 (ja) 2016-09-27 2016-09-27 撮像素子および撮像装置

Country Status (2)

Country Link
US (3) US10447915B2 (ja)
JP (1) JP6808420B2 (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6808420B2 (ja) * 2016-09-27 2021-01-06 キヤノン株式会社 撮像素子および撮像装置
KR102587895B1 (ko) * 2018-09-13 2023-10-12 삼성전자주식회사 픽셀 어레이와 메모리 셀 어레이가 병합된 이미지 센서 및 이를 포함하는 전자 장치
JP7302455B2 (ja) * 2019-11-27 2023-07-04 株式会社リコー 撮像装置、フォーカス調整方法、フォーカス調整プログラム
KR20210109775A (ko) 2020-02-28 2021-09-07 삼성전자주식회사 이미지 센서 및 이의 모니터링 방법

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3887060B2 (ja) * 1997-04-09 2007-02-28 ペンタックス株式会社 電子スチルカメラの画像補正情報記録装置および画像復元処理装置
US7515816B2 (en) * 2004-12-10 2009-04-07 Casio Computer Co., Ltd. Imaging apparatus having a focus function
JP5206494B2 (ja) * 2009-02-27 2013-06-12 株式会社リコー 撮像装置、画像表示装置と、撮像方法及び画像表示方法並びに合焦領域枠の位置補正方法
JP5319347B2 (ja) * 2009-03-17 2013-10-16 キヤノン株式会社 撮像装置及びその制御方法
WO2013164937A1 (ja) * 2012-05-01 2013-11-07 富士フイルム株式会社 撮像装置及び合焦制御方法
JP2014175739A (ja) * 2013-03-07 2014-09-22 Olympus Corp 動画処理装置
KR102068748B1 (ko) * 2013-07-31 2020-02-11 삼성전자주식회사 디지털 촬영 장치, 그 제어 방법, 및 영상 재생 장치 및 방법
JP2015152749A (ja) * 2014-02-14 2015-08-24 キヤノン株式会社 撮像装置およびその制御方法
JP2015198391A (ja) * 2014-04-02 2015-11-09 キヤノン株式会社 撮像装置、撮像装置の制御方法、およびプログラム
JP2016009043A (ja) 2014-06-24 2016-01-18 ソニー株式会社 イメージセンサ、演算方法、および電子装置
US10554874B2 (en) * 2014-07-22 2020-02-04 Sony Semiconductor Solutions Corporation Solid-state imaging device and electronic equipment
JP6408866B2 (ja) * 2014-10-28 2018-10-17 キヤノン株式会社 画像処理装置およびその制御方法
WO2018044314A1 (en) * 2016-09-01 2018-03-08 Duelight Llc Systems and methods for adjusting focus based on focus target information
JP6808420B2 (ja) * 2016-09-27 2021-01-06 キヤノン株式会社 撮像素子および撮像装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2018056703A (ja) 2018-04-05
US20200014840A1 (en) 2020-01-09
US11356595B2 (en) 2022-06-07
US20180091726A1 (en) 2018-03-29
US10447915B2 (en) 2019-10-15
US11843859B2 (en) 2023-12-12
US20220256093A1 (en) 2022-08-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6384323B2 (ja) 撮像素子および撮像装置
JP5595014B2 (ja) 撮像装置
US11843859B2 (en) Image sensor and imaging apparatus for performing focus detection by detecting a phase difference based on an image signal
US9247122B2 (en) Focus adjustment apparatus and control method therefor
JP2014178603A (ja) 撮像装置
JP6271842B2 (ja) 測距装置、測距方法、および撮像装置
JP6561428B2 (ja) 電子機器、制御方法、及び制御プログラム
US10003734B2 (en) Image capturing apparatus and control method of image sensor
JP2014032214A (ja) 撮像装置及びその合焦位置検出方法
US9591203B2 (en) Image processing apparatus, image processing method, recording medium, and image pickup apparatus
WO2013171840A1 (ja) 撮像装置及び撮像装置の制御方法
JP6488545B2 (ja) 電子機器
JP2013113857A (ja) 撮像装置及びその制御方法
JP2013160991A (ja) 撮像装置
JP2007293370A (ja) 撮像装置
JP5486284B2 (ja) 撮像装置
JP2017216649A (ja) 撮像素子、撮像装置、および撮像信号処理方法
JP2012189878A (ja) 撮像装置
JP2008187614A (ja) 撮影装置
JP2018056944A (ja) 撮像装置および撮像素子
KR101839357B1 (ko) 촬상 장치 및 촬상 방법
JP6222976B2 (ja) 撮像装置、撮像システム、撮像装置の制御方法、プログラム、および、記憶媒体
JP2018056945A (ja) 撮像装置および撮像素子
JP2016225848A (ja) 撮像装置及び撮像素子の制御方法
JP2014102400A (ja) 撮像装置および撮像装置の制御方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20190918

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20200608

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20200630

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20200826

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20201110

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20201209

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 6808420

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151