JP6798325B2 - X-ray fluoroscope - Google Patents
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Description
本発明は、X線透視装置に関し、特に、X線透視画像上の関心領域に基づいてX線照射部の制御を行うX線透視装置に関する。 The present invention relates to an X-ray fluoroscope, and more particularly to an X-ray fluoroscope that controls an X-ray irradiation unit based on a region of interest on an X-ray fluoroscopic image.
従来、X線透視画像上の関心領域に基づいてX線照射部の制御を行うX線透視装置が知られている(たとえば、特許文献1参照)。 Conventionally, an X-ray fluoroscope that controls an X-ray irradiation unit based on a region of interest on an X-ray fluoroscopic image is known (see, for example, Patent Document 1).
上記特許文献1には、被検体に向かってX線を照射するX線照射部と、X線を受像するX線受像部と、被検体を載置する天板と、X線受像部によるX線受像結果に基づいてX線透視画像を生成するとともに、生成されたX線透視画像上の関心領域内の画像レベル(たとえば、各画素の輝度値の平均値)があらかじめ設定されている画像レベルに略一致するようにX線照射部を制御する制御部とを備えた、X線照射部の制御を行うX線画像診断装置(X線透視装置)が開示されている。すなわち、上記特許文献1のX線診断装置の制御部は、X線透視画像上の関心領域に基づいてX線照射部を制御する。具体的には、このX線画像診断装置において、制御部は、収集された関心領域内の画像レベルに基づいてX線の強度の過不足を判断し、X線の強度を調整するように構成されている。
The above-mentioned
また、従来、X線の照射範囲を絞る照射範囲制御部材を備えるX線透視装置が知られている。照射範囲制御部材は、X線照射部から照射され被検体に向かうX線の一部を遮蔽することにより、X線の照射範囲を制限する。また、照射範囲制御部材は、X線遮蔽率の高い物質により構成されている。 Further, conventionally, an X-ray fluoroscopy device including an irradiation range control member for narrowing the irradiation range of X-rays is known. The irradiation range control member limits the X-ray irradiation range by shielding a part of the X-rays emitted from the X-ray irradiation unit and directed toward the subject. Further, the irradiation range control member is composed of a substance having a high X-ray shielding rate.
上記特許文献1のX線画像診断装置(X線透視装置)では、制御部は、生成されたX線透視画像上の関心領域内の画像レベル(たとえば、各画素の輝度値の平均値)があらかじめ設定されている画像レベル(たとえば、各画素の輝度値の平均値)に略一致するようにX線照射部から照射されるX線の強度を制御する。ここで、上記特許文献1のX線画像診断装置に照射範囲制御部材を設ける場合は、照射範囲制御部材が関心領域に映りこむことにより、関心領域内にX線がほとんど検出されない部分が生じる場合があると考えられる。このように、照射範囲制御部材が関心領域に映りこむ部分が存在する場合、制御部は、照射範囲制御部材が関心領域に映りこむことに起因して関心領域全体としてX線の強度検出が低下することに伴い、X線照射部が照射するX線の強度を上げる制御を行うと考えられる。このため、関心領域のうち照射範囲制御部材が映りこまない部分のX線量が過剰となり、X線透視画像が明るくなりすぎるという不都合がある。その結果、X線透視画像の視認性が悪化するという問題点がある。
In the X-ray image diagnostic apparatus (X-ray fluoroscope) of
この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、この発明の1つの目的は、照射範囲制御部材が関心領域に映りこむ場合にも、X線透視画像の視認性が悪化するのを抑制することが可能なX線透視装置を提供することである。 The present invention has been made to solve the above problems, and one object of the present invention is to improve the visibility of the fluoroscopic image even when the irradiation range control member is reflected in the region of interest. It is to provide an X-ray fluoroscope which can suppress deterioration.
上記目的を達成するために、この発明の一の局面におけるX線透視装置は、被検体にX線を照射するX線照射部と、被検体を透過したX線を受像するX線受像部と、X線照射部から照射されるX線の照射範囲を絞る照射範囲制御部材と、X線受像部のX線受像に基づいてX線透視画像を取得し、照射範囲制御部材の開度の制御を行うとともに、X線透視画像上の関心領域に基づいてX線照射部から照射されるX線の照射強度の制御を行う制御部とを備え、制御部は、関心領域に照射範囲制御部材が映り込んでいる場合に、関心領域中の照射範囲制御部材が映りこむ部分の画素に所定の画素値を代入する関心領域代入制御を行うように構成されており、制御部は、関心領域代入制御により所定の画素値が代入された関心領域中の照射範囲制御部材が映りこむ部分の画素を含む関心領域全体の画素値に基づいて、X線照射部から照射されるX線の強度を調整するように構成されている。 In order to achieve the above object, the X-ray fluoroscope in one aspect of the present invention includes an X-ray irradiation unit that irradiates a subject with X-rays and an X-ray image receiving unit that receives X-rays that have passed through the subject. , An irradiation range control member that narrows the irradiation range of X-rays emitted from the X-ray irradiation unit, and an X-ray fluoroscopic image based on the X-ray image reception of the X-ray image receiving unit are acquired to control the opening degree of the irradiation range control member. The control unit includes a control unit that controls the irradiation intensity of X-rays emitted from the X-ray irradiation unit based on the region of interest on the fluoroscopic image, and the control unit has an irradiation range control member in the region of interest. If you are crowded reflected, it is configured to perform the ROI assignment control assigns a predetermined pixel value to a pixel of the portion being reflected irradiation range control member in related heart region, the control unit, the region of interest The intensity of X-rays emitted from the X-ray irradiation unit is determined based on the pixel values of the entire area of interest including the pixels of the portion where the irradiation range control member in the area of interest in which a predetermined pixel value is substituted by substitution control is reflected. It is configured to adjust.
この発明の一の局面によるX線透視装置では、上記のように、X線透視画像上に設定された関心領域中に照射範囲制御部材が映り込んでいる場合に、関心領域中の照射範囲制御部材が映りこむ部分の画素に所定の画素値を代入する関心領域代入制御を行う制御部を設ける。これにより、関心領域代入制御によって、照射範囲制御部材の映りこみによってX線が検出されなくなった部分に照射範囲制御部材の映りこみがなかった場合の画素値を代入することにより、関心領域に基づいてX線照射の強度の過不足を適切に取得することができる。その結果、関心領域中に照射範囲制御部材が映りこむことに起因して、被検体を透視するために照射されるX線の強度が上がりすぎてしまうのを抑制することができる。これにより、照射範囲制御部材が関心領域に映りこむ場合にも、X線透視画像の視認性が悪化するのを抑制することができる。また、X線の照射強度が過度に増加するのを抑制することができるため、X線透視装置の操作者や患者(被検体)の被曝量を軽減することができる。 The X-ray fluoroscopy apparatus according to an aspect of the present invention, as described above, when the irradiation range control member in the region of interest is set on the X-ray fluoroscopic image is crowded reflected, illumination range in Seki heart region control member provided with a control unit that performs control ROI assignment system assigns a predetermined pixel value to a pixel of a portion being reflected. Thus, the region of interest assignment control, by substituting the pixel value when the X-ray had no reflection of the irradiation range control member in the portion that is no longer detected by the reflection of the irradiation range control member, based on the region of interest Therefore, the excess or deficiency of the intensity of X-ray irradiation can be appropriately obtained. As a result, it is possible to prevent the intensity of the X-rays to be irradiated to see through the subject from being excessively increased due to the reflection of the irradiation range control member in the region of interest. As a result, even when the irradiation range control member is reflected in the region of interest, it is possible to suppress deterioration of the visibility of the fluoroscopic image. In addition, since it is possible to suppress an excessive increase in the X-ray irradiation intensity, it is possible to reduce the exposure dose of the operator of the X-ray fluoroscope and the patient (subject).
上記一の局面によるX線透視装置において、好ましくは、制御部は、照射範囲制御部材の開度に基づいて、X線受像部から取得したX線透視画像上の関心領域に照射範囲制御部材が映りこむ部分を取得するように構成されている。このように構成すれば、照射範囲制御部材の開度から、関心領域に照射範囲制御部材が映りこむ部分を容易に取得することができる。また、制御部は、照射範囲制御部材の開度が制御部によって制御されていることから、照射範囲制御部材の開度を容易に取得することができる。 In the X-ray fluoroscopy device according to the above aspect, preferably, the control unit has the irradiation range control member in the region of interest on the X-ray fluoroscopic image acquired from the X-ray image receiving unit based on the opening degree of the irradiation range control member. It is configured to acquire the reflected part. With this configuration, the portion where the irradiation range control member is reflected in the region of interest can be easily obtained from the opening degree of the irradiation range control member. Further, since the opening degree of the irradiation range control member is controlled by the control unit, the control unit can easily acquire the opening degree of the irradiation range control member.
上記一の局面によるX線透視装置において、好ましくは、制御部は、関心領域に照射範囲制御部材が映り込んでいる場合に、関心領域中の照射範囲制御部材が映りこむ部分を除外して新たな関心領域に更新する関心領域除外制御を行うように構成されており、制御部は、関心領域除外制御により更新された関心領域の画素値の平均値または最大値に基づいて、X線照射部から照射されるX線の強度を調整するように構成されており、制御部は、関心領域代入制御により所定の画素値が代入された関心領域中の照射範囲制御部材が映りこむ部分の画素を含む関心領域全体の画素値の平均値または最大値に基づいて、X線照射部から照射されるX線の強度を調整するように構成されている。このように構成すれば、関心領域除外制御によって、関心領域中の照射範囲制御部材が映りこむ部分を除外することにより、関心領域内の照射範囲制御部材が映りこんでいない部分のみに基づいて、X線照射の強度の過不足を適切に取得することができる。そして、関心領域代入制御または関心領域除外制御により更新された関心領域中の画素値または所定の画素値が代入された関心領域全体の画素値の平均値に基づいて制御する場合には、関心領域全体の画素値に基づいてX線の強度を調整することができる。また、関心領域代入制御または関心領域除外制御により更新された関心領域中の画素値または所定の画素値が代入された関心領域全体の画素値の最大値に基づいて制御する場合には、たとえば、画素値として輝度を考える場合に、関心領域中の最も明るい画素値に基づいてX線の強度を調整することができる。 In the X-ray fluoroscope according to the above aspect, preferably, when the irradiation range control member is reflected in the region of interest , the control unit excludes the portion in which the irradiation range control member is reflected in the region of interest. It is configured to perform the area of interest exclusion control that updates to the area of interest, and the control unit is an X-ray irradiation unit based on the average value or the maximum value of the pixel values of the area of interest updated by the area of interest exclusion control. The control unit is configured to adjust the intensity of X-rays emitted from the area, and the control unit determines the pixels of the portion in which the irradiation range control member in the area of interest in which a predetermined pixel value is assigned by the area of interest substitution control is reflected. It is configured to adjust the intensity of X-rays emitted from the X-ray irradiation unit based on the average value or the maximum value of the pixel values of the entire region of interest . With this configuration, the region of interest exclusion control excludes the portion of the region of interest in which the irradiation range control member is reflected, so that only the portion of the region of interest in which the irradiation range control member is not reflected is reflected. The excess or deficiency of the intensity of X-ray irradiation can be appropriately obtained. Then, when the pixel value in the interest region updated by the interest region assignment control or the interest region exclusion control or a predetermined pixel value is controlled based on the average value of the pixel values of the entire interest region to which the pixel value is substituted, the interest region is controlled. The intensity of X-rays can be adjusted based on the overall pixel value. Further, when the pixel value in the region of interest or a predetermined pixel value updated by the region of interest substitution control or the region of interest exclusion control is controlled based on the maximum value of the pixel value of the entire region of interest to which the pixel value is substituted, for example, When considering the brightness as a pixel value, the intensity of X-rays can be adjusted based on the brightest pixel value in the region of interest.
上記一の局面によるX線透視装置において、好ましくは、制御部は、関心領域除外制御を行う場合に、照射範囲制御部材が開いた場合は、初期に設定された関心領域を最大限として、照射範囲制御部材が映りこまなくなった部分のうちの更新された関心領域から除外されていた部分を再び関心領域に戻して新たな関心領域に更新する制御を行うように構成されている。このように構成すれば、被検体のX線透視中に一度閉じた照射範囲制御部材を再び開いた場合にも除外されていた部分が関心領域に戻されるため、制御部は、照射範囲の広がりに追随して関心領域を更新する(広げる)ことができる。また、関心領域は初期に設定された関心領域を最大限として更新される(広げられる)ため、関心領域が適切な範囲を超えて広がりすぎることを抑制することができる。 In the X-ray fluoroscope according to the above aspect, preferably, when the control unit performs the region exclusion control , when the irradiation range control member is opened, the initially set region of interest is maximized and irradiated. The range control member is configured to perform control to return the portion excluded from the updated region of interest of the portion that is no longer reflected to the region of interest and update it to the new region of interest. With this configuration, even when the irradiation range control member once closed during fluoroscopy of the subject is reopened, the excluded portion is returned to the region of interest, so that the control unit expands the irradiation range. The area of interest can be updated (expanded) in accordance with. In addition, since the region of interest is updated (expanded) to the maximum extent of the initially set region of interest, it is possible to prevent the region of interest from expanding beyond an appropriate range.
上記一の局面によるX線透視装置において、好ましくは、制御部は、関心領域代入制御を行う場合に、関心領域中の照射範囲制御部材が映りこまない部分の画素値の最大値を関心領域中の照射範囲制御部材が映りこむ部分に代入するように構成されている。このように構成すれば、照射範囲制御部材が関心領域に映りこむ部分に、照射範囲制御部材が関心領域に映りこまない部分の最大値を代入することにより、照射範囲制御部材が関心領域に映りこむ部分に照射範囲制御部材の映り込みがなかった場合の関心領域全体の仮定的な画素値を容易に代入することができる。具体的には、照射範囲制御部材で照射を遮った部分の多くには、透視したい被検体が存在していないと考えられるため、X線が被検体をほとんど透過せずに受像機に検出される部分と推測されるX線照射範囲制御部材が関心領域に映りこまない部分の画素値の最大値を照射範囲制御部材が関心領域に映りこむ部分に代入する。これにより、関心領域に照射範囲制御部材が映りこんだ場合でも、上記画素値を代入された関心領域全体に基づいてX線の照射強度を適切に調整することができる。 In the X-ray fluoroscope according to the above aspect, preferably, when performing the region of interest substitution control, the control unit sets the maximum value of the pixel value of the portion in the region of interest where the irradiation range control member is not reflected in the region of interest. It is configured to substitute for the part where the irradiation range control member of is reflected. With this configuration, the irradiation range control member is reflected in the region of interest by substituting the maximum value of the portion where the irradiation range control member is not reflected in the region of interest into the portion where the irradiation range control member is reflected in the region of interest. It is possible to easily substitute the hypothetical pixel value of the entire region of interest when the irradiation range control member is not reflected in the recessed portion. Specifically, since it is considered that there is no subject to be seen through in many of the parts where the irradiation is blocked by the irradiation range control member, X-rays are detected by the receiver with almost no transmission of the subject. The maximum value of the pixel value of the portion where the X-ray irradiation range control member is not reflected in the region of interest is substituted into the portion where the irradiation range control member is reflected in the region of interest. As a result, even when the irradiation range control member is reflected in the region of interest, the irradiation intensity of X-rays can be appropriately adjusted based on the entire region of interest to which the pixel value is substituted.
上記一の局面によるX線透視装置において、好ましくは、制御部は、関心領域除外制御と関心領域代入制御とを、被検体の撮影部位に応じて切り替え可能に構成されている。このように構成すれば、被検体の撮影部位に応じて関心領域除外制御と関心領域代入制御とを切り替えることができるので、透視する部位の状況や目的に応じてより望ましいX線透視画像を得ることができる。 In the X-ray fluoroscope according to the above aspect, the control unit is preferably configured so that the region of interest exclusion control and the region of interest substitution control can be switched according to the imaging site of the subject. With this configuration, the region of interest exclusion control and the region of interest substitution control can be switched according to the imaging site of the subject, so that a more desirable fluoroscopic image can be obtained according to the situation and purpose of the fluoroscopic site. be able to.
本発明によれば、上記のように、照射範囲制御部材が関心領域に映りこむ場合にも、X線透視画像の視認性が悪化するのを抑制することができる。 According to the present invention, it is possible to suppress deterioration of the visibility of the fluoroscopic X-ray image even when the irradiation range control member is reflected in the region of interest as described above.
以下、本発明を具体化した実施形態を図面に基づいて説明する。 Hereinafter, embodiments embodying the present invention will be described with reference to the drawings.
(X線透視装置の構成)
まず、図1および図2を参照して、本実施形態によるX線透視装置100の構成について説明する。
(Configuration of X-ray fluoroscope)
First, the configuration of the
図1に示すように、X線透視装置100は、被検体SにX線を照射して、被検体の撮影部位(透視部位または撮像部位)の透視または撮像をするように構成されている。また、X線透視装置100は、被検体SにX線を照射するX線照射部1と、被検体Sを透過したX線を受像するX線受像部2と、X線照射部1から照射されるX線の照射範囲を絞るMLC(Multi Leaf Collimator)3と、X線受像部2のX線受像に基づいてX線透視画像Iを取得し、MLC3の開度の制御を行うとともに、X線透視画像I上のROI(Region of Interest;関心領域)に基づいてX線照射部1から照射されるX線の照射強度の制御を行う制御部4とを備えている。なお、MLC3は、特許請求の範囲の「照射範囲制御部材」の一例である。また、ROIは、特許請求の範囲の「関心領域」の一例である。
As shown in FIG. 1, the
また、制御部4には、X線透視画像Iを表示するための表示部5と、X線透視装置100の操作を行うための操作部6とが接続されている。また、X線照射部1とX線受像部2とは、Cアーム8によって対向するように配置されている。すなわち、このX線透視装置100は、いわゆるCアーム型のX線透視装置の例を示している。また、X線照射部1とX線受像部2との間(MLC3とX線受像部2との間)には、被検体Sを載置するための天台7が設けられている。
Further, the
X線照射部1は、図示しないX線管を含んでいる。X線管は、内部の陽極および陰極のそれぞれに電流を流すことにより、過熱させるとともに、陽極と陰極との間に電圧をかけることにより、陰極から飛び出した熱電子が陽極に衝突する際にX線を放射するように構成されている。また、X線管で発生したX線は、X線受像部2に向けて照射されるように構成されている。なお、X線管にかけられる管電圧を変化させることにより、管電圧に応じて、照射されるX線の透視線量(照射強度)が決まる。
The
X線受像部2は、たとえば、FPD(Flat Panel Detector)により構成されている。また、FPDは、X線照射部1により照射され被検体Sを透過したX線を受像して、受像したX線を電気信号に変換するように構成されている。FPDは、内部に複数の画素(区画)を有する撮像素子を有し、対応する画素ごとにX線の強度を検出するとともに、画素ごとのX線の情報(検出信号)を画素値として電気信号(デジタルデータ)に変換する。電気信号に変換されたX線の情報は、制御部4に送信される。
The X-ray
MLC3は、図2に示すように、内部にX線遮蔽率の高い物質(たとえば、銅や鉛など)で構成された4枚の遮蔽板31、32、33および34を含む。遮蔽板31および遮蔽板32はD1方向に沿ってそれぞれ移動可能であり、互いに対向するように設けられている。また、遮蔽板33および遮蔽板34はD1と略直行するD2方向に沿ってそれぞれ移動可能であり、互いに対向するように設けられている。遮蔽板31〜34はX線照射部1から照射されたX線の一部を遮蔽し、X線照射範囲(図中に点線で示した範囲)を絞る。また、D1方向およびD2方向は、X線照射方向に略直交する面(天台7と略水平な面)と平行になる方向である。
As shown in FIG. 2, the
制御部4は、X線照射部1を駆動させるX線照射部ドライバ41と、X線受像部2を駆動させるX線受像部ドライバ42と、MLC3の開度を制御するMLCドライバ43と、天台7を駆動させる天台ドライバ47とを含む。また、制御部4は、PC(パーソナルコンピュータ)などの情報処理装置をも含む。具体的には、制御部4は、HDD(ハードディスクドライブ)およびメモリなどの記憶部44と、画像処理部45と、CPU(中央演算処理装置)などの主制御部46とを含んでいる。画像処理部45は、画像処理専用の演算処理部であってもよいし、CPUに画像処理プログラムを実行させることにより画像処理部45として機能させてもよい。また、画像処理専用の装置を画像処理部45として設けてもよい。
The
X線照射部ドライバ41、X線受像部ドライバ42、MLCドライバ43および天台ドライバ47は、それぞれポテンショメータ(図示せず)またはエンコーダ(図示せず)と、サーボモータ(図示せず)と、サーボモータによって駆動される移動機構(図示せず)とにより構成されている。主制御部46により、ポテンショメータまたはエンコーダの検出信号に基づくサーボモータの回転位置制御および回転位置取得が行われる。この結果、X線照射部1、X線受像部2および天台7の位置、速度および加速度が、制御部4によって制御および取得される。また、MLC3(遮蔽板31〜34)の開度が、制御部4によって制御および取得される。
The X-ray
なお、X線照射部1、X線受像部2および天台7の位置は、操作部6を用いた操作者の操作入力(移動指令)に従って移動するように制御される。具体的には、Cアーム8に繋がれたX線照射部1とX線受像部2とは、X方向およびY方向の並進移動、および、天台7の長手方向中心軸を回転軸としたR方向の回転移動が可能なように構成されている。これらの移動は、X線照射部ドライバ41およびX線受像部ドライバ42によって制御される。天台7は、図1中のX、Y、Z方向に並進移動可能に構成されている。天台7の移動は、天台ドライバ47によって制御される。また、天台7は操作者が手動により移動させることもできるように構成されている。
The positions of the
また、MLCドライバ43によって制御されるMLC3の開度は、操作者により選択される撮影部位に応じて設定される。また、MLC3の開度は、治療・診断の開始時または途中において、X線透視画像に映りこむ被検体Sの撮影部位の範囲や撮影部位の厚みによって変わる撮影部位を透過するX線の検出量に基づいて制御部4により自動的に行われる調整によって変更を行うことができるように構成されている。また、操作者の入力によっても、変更を行うことができるように構成されている。
Further, the opening degree of the MLC3 controlled by the
記憶部44には、主制御部46や画像処理部45が実行する各種プログラム441と、撮影されたX線透視画像Iのデータや撮影部位ごとにあらかじめ用意されたプリセットROIのデータを含む各種のデータ442とが格納されている。なお、プリセットROIは、特許請求の範囲の「初期に設定された関心領域」の一例である。
The
画像処理部45は、X線受像部2から送出されるX線透視画像Iのデータに基づいて、設定されたROI内の画像の画素値のデータなどを記憶部44や主制御部46に送出する。また、画像処理部45は、X線透視画像Iに画像処理を施し、表示部5にX線透視画像Iを表示させる。
The
主制御部46は、記憶部44に格納された制御プログラムを実行することによって、PCをX線透視装置100の制御部4として機能させる。また、主制御部46は、X線照射部ドライバ41、X線受像部ドライバ42および天台ドライバ47の並進位置または回転位置の制御、および、MLCドライバ43の開度制御を行う。具体的には、X線照射部ドライバ41、X線受像部ドライバ42、MLCドライバ43、および天台ドライバ47に設けられたエンコーダまたはポテンショメータの検出信号に基づいて、それぞれに設けられたサーボモータの駆動制御を行う。また、主制御部46は、X線照射部1によるX線照射に関する制御や、X線受像部2による検出信号の読み出し制御を行う。また、主制御部46は、画像処理部45から送出されるX線透視画像上のROIの画素値のデータに基づいて、X線照射部1にX線の照射強度を変更させる。
The
表示部5は、たとえば液晶モニタおよびバックライトの組み合わせなどの画像表示装置からなり、制御部4の画像出力に基づき画面表示を行う。たとえば、表示部5は、撮影されたX線透視画像Iを表示するほか、X線透視装置100の操作に関する各種画面表示を行う。
The
操作部6は、ユーザの操作入力を受け付けるキーボード、マウスおよび操作レバーなどからなる。制御部4は、この操作部6を介して、撮影モード(後述)のモード選択、各種撮影条件の入力や撮影開始の指示を受け付けるほか、X線照射部1、X線受像部2および天台7の移動指令や、撮影モードおよび撮影部位の選択の登録を受け付けるように構成されている。また、撮影モードとして後述する長尺撮影モードを選択する場合には、撮影範囲(開始点および終了点)を設定することもできる。
The operation unit 6 includes a keyboard, a mouse, an operation lever, and the like that receive user operation input. The
X線透視装置100は、天台7に横臥された被検体S(被撮影者)を撮影するように構成されている。具体的には、X線透視装置100は、天台7の上方に配置されたX線照射部1から照射され、被検体Sを透過したX線を、X線受像部2により受像して、X線透視画像Iを撮影するように構成されている。
The
また、X線透視装置100は、X線照射部1およびX線受像部2を被検体Sに対して所定位置に配置してX線撮影(X線透視またはX線撮像)することができるように構成されている。この場合、X線透視装置100は、撮影モードとして、比較的低いX線強度かつ短い時間間隔おいて連続的に撮影し、リアルタイムでX線透視画像Iを得る透視モードを選択ことができる。また、X線透視装置100は、撮影モードとして、比較的高いX線強度で所定回数撮影することにより、X線画像を撮像する通常撮像モードを選択することもできる。また、X線透視装置100は、撮影モードとして、被検体Sに対してX線照射部1およびX線受像部2を相対移動させながら連続して(順次)複数のX線画像を撮像するとともに、複数のX線画像をつなぎ合わせて、被検体Sの体軸方向(X方向)を長手方向とする長尺画像を撮像する長尺撮像モードを選択することもできる。また、X線透視装置100は、操作者が入力する被検体Sの撮影部位に応じて、第1制御または第2制御の選択、X線の強度や撮影時間・撮影間隔・撮影タイミングの最適化などを操作者の設定または制御部の自動制御により設定することができるように構成されている。本実施形態においては、X線照射部1、X線受像部2および天台7を所定位置に固定し、リアルタイムでX線透視画像Iを得るX線透視(透視モードによる撮影)を行う場合について述べる。
Further, the
ここで、本実施形態によるX線透視装置100では、MLC3の開度に基づいて、X線受像部2から取得したX線透視画像I上のROIにMLC3が映りこむ部分を取得するように構成されている。具体的には、制御部4(主制御部46)は、MLCドライバ43の駆動に基づいて遮蔽板31〜34の位置を取得するように構成されている。MLCドライバ43の駆動は、たとえば、MLCドライバ43が有するポテンショメータやエンコーダに基づいて検出される。具体的には、MLCドライバ43の有するサーボモータの回転角度を、遮蔽板31〜34の初期位置(たとえば、完全に閉じた状態など)と移動位置とにおいてかけられる電圧パルスに対する応答(ポテンショメータまたはエンコーダの応答)の比較から取得することにより、MLC3の開度を取得するように構成されている。また、制御部4(主制御部46)は、ROIの範囲を設定するように構成されている。その結果、制御部4は、取得したMLC3の開度と設定したROIの範囲とに基づいて、X線受像部2から取得したX線透視画像I上のROIにMLC3が映りこむ部分を取得(計算)するように構成されている。なお、X線照射部ドライバ41、X線受像部ドライバ42および天台ドライバ47も、MLCドライバ43と同様に、それぞれの有するポテンショメータまたはエンコーダの応答に基づき、それぞれの並進位置または回転位置の情報を主制御部46に送出するように構成されている。
Here, the
また、本実施形態によるX線透視装置100では、制御部4は、第1制御と第2制御とを、被検体Sの撮影部位に応じて切り替え可能に構成されている。具体的には、被検体Sの治療・診断開始時に、撮影部位の選択に応じて、あらかじめ最適化されているプリセットROIの設定、および、第1制御または第2制御の選択が行われる。以下では、第1制御および第2制御について、それぞれの詳細を説明する。
Further, in the
(第1制御)
図3〜図5を参照して、制御部4による第1制御について説明する。第1制御は、MLC3のROIを比較的小さく絞っている場合などに有効である。なお、たとえば、頭部を固定して治療・診察する場合など、それほど位置を大きく動かす必要がない撮影部位を透視する場合にROIを絞ることがある。
(1st control)
The first control by the
ここで、本実施形態によるX線透視装置100では、制御部4は、ROIにMLC3が映り込んでいる場合に、ROI中のMLC3が映りこむ部分を除外して新たなROIに更新する第1制御を行うように構成されている。
Here, in the
また、本実施形態によるX線透視装置100では、制御部4は、第1制御を行う場合に、MLC3が開いた場合は、プリセットROIを最大限として、MLC3が映りこまなくなった部分のうちの更新された前記関心領域から除外されていた部分を再びROIに戻して新たな前記関心領域に更新する制御を行うように構成されている。
Further, in the
また、本実施形態によるX線透視装置100では、制御部4は、第1制御と第2制御とを、被検体Sの撮影部位に応じて切り替え可能に構成されている。
Further, in the
制御部4は、操作部6を介して、操作者による被検体Sの撮影部位の選択を受け付け、被検体Sの撮影部位に応じてプリセットROIの範囲設定および第1制御または第2制御の選択を行う。以下では、第1制御が選択される場合について具体的に説明する。
The
まず、図3に基づいて、プリセットROIにMLC3が映りこんだ場合に、設定されたROIからMLC3の映りこみ部分を除外する制御について説明する。図3(1)に示すように、X線透視装置100の使用開始時に、制御部4は、プリセットROIを取得する。また、X線透視画像I上には、プリセットROIがROIとして設定される。このとき、プリセットROIと設定されているROIとは一致している。
First, based on FIG. 3, when the MLC3 is reflected in the preset ROI, the control for excluding the reflected portion of the MLC3 from the set ROI will be described. As shown in FIG. 3 (1), the
次に、図3(2)に示すように、MLC3の開度が変更されて、プリセットROIにMLC3の映り込みが生じるとする。ただし、プリセットROIを取得した時点でMLC3がプリセットROIに映りこんでいた場合も、以下と同様の制御となる。また、図3(2)に示すように、X線透視画像I中にMLC3が映りこんだ領域は、照射されるX線のほとんどが遮断されるため、ほとんどX線が検出されない。制御部4は、プリセットROI内のMLC3(遮蔽板31〜34のいずれか1つ以上)の映りこみを取得すると、MLC3の映りこみ部分をプリセットROIから除外したものを新たなROIとして設定する制御を行う。
Next, as shown in FIG. 3 (2), it is assumed that the opening degree of the
その結果、図3(3)に示すように、ROIは、ROIとMLC3とが共通した領域が除かれた新たなROIに更新される。また、制御部4は、新たなROIに更新された後も、MLC3の位置取得やROIの更新を行う制御を繰り返すように構成されている。なお、MLC3の開度(遮蔽板31〜34の位置)は、上記のように、MLCドライバ43の有するポテンショメータまたはエンコーダによって取得される。
As a result, as shown in FIG. 3 (3), the ROI is updated with a new ROI from which the region common to the ROI and the MLC3 is removed. Further, the
また、新たなROIが設定された後に、さらにMLC3の開度が変更されることによってプリセットROIにMLC3が映りこむ部分が増加した場合について説明する。この場合も、プリセットROIにMLC3が映りこむ部分が除外されることにより、さらに新たなROIに更新される制御が繰り返されるため、新たにMLC3が映りこみこむこととなった部分もROIから除外される。 Further, a case where the portion where the MLC3 is reflected in the preset ROI increases due to the change in the opening degree of the MLC3 after the new ROI is set will be described. In this case as well, by excluding the portion where the MLC3 is reflected in the preset ROI, the control for updating to a new ROI is repeated, so that the portion where the MLC3 is newly reflected is also excluded from the ROI. To.
次に、図4に基づいて、新たなROIが設定された後に、プリセットROIにMLC3が映りこむ部分が減少した場合に、設定されたROIにMLC3が映りこまなくなった部分を戻す制御について説明する。図4(1)に示すように、X線透視画像I上には、プリセットROI中にMLC3が映りこむ部分を除外したROIが設定されている。ここで、図4(2)に示すように、制御部4は、プリセットROI内にMLC3が映りこむ部分が減少した場合にも、減少した後にプリセットROIにMLCが映りこむ部分を取得し、MLC3の映りこみ部分をプリセットROIから除外する制御を行う。すなわち、図4(3)に示すように、再度ROIにMLCが映りこまない部分がROIとして設定されるため、更新されるROIには、プリセットROI中にMLC3が映りこまなくなった部分が戻される。
Next, based on FIG. 4, when the portion where the MLC3 is reflected in the preset ROI decreases after the new ROI is set, the control for returning the portion where the MLC3 is not reflected in the set ROI will be described. .. As shown in FIG. 4 (1), an ROI excluding the portion where the MLC3 is reflected in the preset ROI is set on the fluoroscopic image I. Here, as shown in FIG. 4 (2), even when the portion where the MLC3 is reflected in the preset ROI is reduced, the
まとめると、制御部4は、プリセットROIにMLC3が映りこむ部分を取得し、プリセットROIにMLC3が映りこむ部分を除外することにより、ROIを新たなROIに更新する制御を継続的に行うように構成されている。その結果、MLC3の開度の変化に伴い、ROIにMLC3が映りこむ部分が除外されるとともに、プリセットROIの範囲を最大限として、ROIにMLC3が映りこまなくなった部分が戻される制御が継続的に行われる。
In summary, the
ここで、本実施形態によるX線透視装置100では、制御部4は、更新されたROIの画素値の平均値または最大値に基づいて、X線照射部1から照射されるX線の強度を調整するように構成されている。
Here, in the
具体的には、制御部4は、MLC3の映りこみ部分を除いたROI中の画素値の平均値または最大値と、目標画素値との比較を継続的に行うように構成されている。設定されたROI内の画素値が目標画素値より「明るい」場合は、X線照射強度が強過ぎる(X線照射が過剰である)と考えられるため、X線照射部1にX線照射強度を下げさせる。設定されたROI内の画素値が目標画素値より「暗い」場合は、X線照射強度が弱過ぎる(X線照射が不足している)と考えられるため、X線照射部1にX線照射強度を下げさせる。設定されたROI内の画素値が目標画素値と一致する場合は、X線照射強度は最適である考えられるため、X線照射部1にX線照射強度を維持させる。なお、上記において、画素値の「明るい」および「暗い」という表現は、表示部5において表示する画像のネガとポジの関係を逆にすることにより入れ替わるため、あくまでX線の照射強度を説明するための便宜的な表現である。本実施形態においては、受像するX線が強い場合を明るく表示し、受像するX線が弱い場合を暗く表示する場合の例を説明する。
Specifically, the
以上のように、(プリセット)ROIにMLC3が映りこんだ部分を除外したROIの画像のデータに基づいてX線照射強度を設定するため、本発明のX線透視装置100では、X線の照射強度を適切に制御することができる。すなわち、ROIにMLC3が映りこむことにより「暗く」なったX線透視画像Iに基づいて、X線照射の強度を上げすぎることがない。その結果、被検体Sの撮影部位に適した視認性の良いX線透視画像Iを得ることができる。
As described above, in order to set the X-ray irradiation intensity based on the data of the ROI image excluding the portion where the MLC3 is reflected in the (preset) ROI, the
以下では、図5に基づいて、第1制御の流れを、フローチャートを用いて説明する。使用開始時に操作者が撮影部位を選択すると、撮影部位に応じて第1制御または第2制御が開始される。ここでは、第1制御が開始されるものとする。第1制御が開始されると、ステップS1において、制御部4は、記憶部44から撮影部位に応じた最適なプリセットROIを読み出し、ステップS2に進む。このとき、設定されたROIとプリセットROIは一致している。
Hereinafter, the flow of the first control will be described with reference to FIG. 5 by using a flowchart. When the operator selects the imaging region at the start of use, the first control or the second control is started according to the imaging region. Here, it is assumed that the first control is started. When the first control is started, in step S1, the
ステップS2において、制御部4は、MLC3の位置をMLCドライバ43から取得し、MLCの位置を計算し、ステップS3に進む。
In step S2, the
ステップS3において、制御部4は、プリセットROIとMLC内部領域(MLC3によりX線照射が遮蔽されていない領域)との共通領域を計算し、ステップS4に進む。
In step S3, the
ステップS4において、制御部4は、設定されたROIを、上記のプリセットROIとMLC内部領域との共通領域である新たなROIに更新し、ステップS5に進む。
In step S4, the
ステップS5において、制御部4は、更新された新たなROIにおいて画素値を取得し、ステップS6に進む。なお、ここで取得される画素値は、新たなROI内の画素値(たとえば、画素の輝度)の平均値または最大値である。
In step S5, the
ステップS6において、制御部4は、上記取得した新たなROI内の画素値とあらかじめ設定されている目標画素値との比較を行い、ステップS7に進む。なお、目標画素値は、ROI内の画素値を目標画素値に近づけることによりX線透視画像Iの視認性が高くなるように撮影部位に応じて調整されている所定の画素値である。
In step S6, the
ステップS7において、制御部4は、設定されたROI内の画素値と目標画素値との比較に基づいて、X線照射部1にX線照射強度を維持または変更させ、ステップS2に戻る。
In step S7, the
以降は、X線透視装置100による透視を終了するまで、第1制御のステップS2からS7までが繰り返される。すなわち、継続的にMLC3の開度が計算されるため、MLC3の開度が変更されることに伴い、プリセットROIの範囲を最大限として、ROIは新たなROIに更新される制御が継続的に行われる。また、X線照射部1によるX線照射強度が、MLC3の開度変更またはROI内の画素値の変化に伴い、継続的に変更される。
After that, steps S2 to S7 of the first control are repeated until the fluoroscopy by the
(第2制御)
図6および図7を参照して、制御部4による第2制御について説明する。第2制御は、MLC3のROIを比較的大きく開いて取っている場合などに有効である。なお、たとえば、腕や脚などにボルトやワイヤーなどを固定する手術など、被検体Sの治療部位の位置を大きく動かす必要が生じるX線透視の場合にROIを大きく開いて取ることがある。
(Second control)
The second control by the
ここで、本誌実施形態によるX線透視装置100では、制御部4は、ROI中のMLC3が映りこむ部分の画素に所定の画素値を代入する第2制御を行うように構成されている。
Here, in the
また、本誌実施形態によるX線透視装置100では、制御部4は、第2制御を行う場合に、ROI中のMLC3が映りこまない部分の画素値の最大値をROI中のMLC3が映りこむ部分に代入するように構成されている。
Further, in the
以下では、第2制御が選択される場合について具体的に説明する。なお、第1制御と第2制御とにおいて共通する内容については、適宜説明を省略する。 Hereinafter, the case where the second control is selected will be specifically described. The contents common to the first control and the second control will be omitted as appropriate.
図6に基づいて説明する。図6(1)に示すように、X線透視装置100の使用開始時に、制御部4は、プリセットROIを取得する。また、X線透視画像I上には、プリセットROIがROIとして設定される。また、プリセットROI中に被検体Sの撮影部位(手部)が映りこんでいる。なお、第2制御においては、設定されたROIの範囲は変更されることがないため、常に設定されたROIとプリセットROIとは一致している。そのため、第2制御の説明において以下では、説明の簡略化のために、プリセットROIを単にROIとして記載する。
This will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 6 (1), the
図6(2)に示すように、ROIにMLC3が映りこんだ場合を考える。ただし、第1制御同様、(プリセット)ROIを取得した時点でMLC3がROIに映りこんでいる場合も、同様の制御となる。制御部4は、ROI内にMLC3(遮蔽板31〜34のいずれか1つ以上)の映りこみを取得すると、ROI内の画素値(たとえば、輝度など)の最大値を取得する。また、制御部4は、取得した画素値を、MLC3がROIに映りこんでいる領域に代入する。通常、MLC3が映りこむ部分の画素値はMLC3が映りこまない部分の画素値よりも「暗く」なると考えられる。このため、ROIの画素値の最大値は、そのままROIにMLC3が映りこまない部分の画素値の最大値と一致すると考えられる。よって、本実施形態では、ROIにMLC3が映りこまない部分の画素値の最大値として、ROIの画素値の最大値を代入する。これにより、代入する値としてROIの画素値の最大値を取得するだけですむので、制御部4における処理量を低減することができる。
As shown in FIG. 6 (2), consider the case where the MLC3 is reflected in the ROI. However, as in the first control, the same control is performed when the MLC3 is reflected in the ROI when the (preset) ROI is acquired. When the
その結果、図6(3)に示すように、ROIとMLC3の映りこみ部分との共通した領域に上記の画素値を代入した画像が得られる。また、制御部4は、ROIに画素値を代入した後も、MLC3の位置取得やROIに画素値を代入する制御を繰り返すように構成されている。
As a result, as shown in FIG. 6 (3), an image is obtained in which the above pixel values are substituted in the common region between the ROI and the reflected portion of the MLC3. Further, the
MLC3によってX線照射が遮られる部分は、被検体Sの撮影部位がほとんど存在しない(映らない)部分と考えられる。そのため、たとえば、図6(2)および図6(3)に示すように、撮影部位が存在しない部分でありROIにMLC3が映りこまない部分のうち最も明るくなる部分の画素値によって、ROIにMLC3が映りこむ部分の大部分の画素値を近似的に置き換えることができると考えられる。このため、画素値として輝度を考える場合、ROI内の画素値の最大値は、MLC3がROIに映りこんでいない領域においてX線が最も強く入射する部分の画素(最も「明るい」画素)の値となる。ただし、ROIにMLC3が映りこむ領域内に、被検体Sの撮影部位が存在していても構わない。 The portion where the X-ray irradiation is blocked by the MLC3 is considered to be a portion where the imaging site of the subject S hardly exists (is not reflected). Therefore, for example, as shown in FIGS. 6 (2) and 6 (3), the pixel value of the brightest part of the portion where the imaging portion does not exist and the MLC3 is not reflected in the ROI is determined by the pixel value of the MLC3 in the ROI. It is considered that most of the pixel values of the part where is reflected can be approximately replaced. Therefore, when considering the brightness as the pixel value, the maximum value of the pixel value in the ROI is the value of the pixel (the "brightest" pixel) in the portion where X-rays are most strongly incident in the region where the MLC3 is not reflected in the ROI. It becomes. However, the imaging site of the subject S may exist in the region where the MLC3 is reflected in the ROI.
なお、図6(3)では、説明のために、ROI外においてX線透視画像IにMLC3が映りこむ部分には画素値の代入を行わないように示しているが、ROI外においてX線透視画像IにMLC3が映りこむ部分にも画素値の代入を行うように構成しても良い。また、表示部5に表示するX線透視画像Iは、画素値の代入を行う前のものであっても、画素値の代入を行った後のものであってもよい。
In FIG. 6 (3), for the sake of explanation, it is shown that the pixel value is not assigned to the portion where the MLC3 is reflected in the X-ray fluoroscopic image I outside the ROI, but the X-ray fluoroscopy is performed outside the ROI. The pixel value may be assigned to the portion where the MLC3 is reflected in the image I. Further, the X-ray fluoroscopic image I displayed on the
ここで、本実施形態によるX線透視装置100では、第2制御が選択された場合に、制御部4は、所定の画素値が代入されたROI全体の画素値の平均値または最大値に基づいて、X線照射部1から照射されるX線の強度を調整するように構成されている。
Here, in the
具体的には、制御部4は、ROIにMLC3が映りこんでいる部分に、所定の値としてROIにMLC3が映りこまない部分の画素値の最大値を代入し、代入されたROI全体の画素値の平均値と、目標画素値との比較を継続的に行うように構成されている。また、制御部4は、目標画素値との比較によりX線照射強度の過不足を継続的に取得するとともに、X線照射強度を制御する。すなわち、MLC3の開度の変更、または、MLC3が映りこまない部分の画素値の変化が生じた場合も、これらの変更または変化に追随してX線照射強度を適切なものに調整する制御を行うように構成されている。
Specifically, the
以上のように、(プリセット)ROIにMLC3が映りこんだ部分に、ROIの画素値の最大値を代入した画像のデータに基づきX線照射強度を設定するため、本発明のX線透視装置100では、X線の照射強度を適切に制御することができる。すなわち、ROIにMLC3が映りこむことにより「暗く」なったX線透視画像Iに基づいて、X線照射の強度を上げすぎることがない。その結果、被検体Sの撮影部位に適した視認性の良いX線透視画像Iを得ることができる。
As described above, in order to set the X-ray irradiation intensity based on the image data in which the maximum value of the pixel value of the ROI is substituted in the portion where the MLC3 is reflected in the (preset) ROI, the
なお、ROIにMLC3が映りこむ部分の画素値の最大値を所定の値として代入する上記の構成では、代入後のROI全体の画素値の最大値に基づいてX線の照射強度を調整してしまうと、代入以前の(当初の)ROI全体の画素値の最大値に基づいてX線の照射強度を調整する場合と同じ結果となるため、不要に処理量が増えてしまう。そのため、代入後のROI全体の画素値の最大値に基づいてX線の照射強度を調整する構成にする場合は、画素値の代入を省略してもよい。また、MLC3の映りこんだ部分に所定の値(MLC3が映りこまない部分の画素値の最大値)を代入したROI中の画素値の平均値または最大値と、目標画素値との比較、および、X線照射強度変更の制御については、第1制御と共通しているため省略する。
In the above configuration in which the maximum value of the pixel value of the portion where the MLC3 is reflected in the ROI is substituted as a predetermined value, the X-ray irradiation intensity is adjusted based on the maximum value of the pixel value of the entire ROI after the substitution. If this happens, the result will be the same as when the X-ray irradiation intensity is adjusted based on the maximum value of the pixel value of the entire (initial) ROI before substitution, so that the processing amount will increase unnecessarily. Therefore, if the configuration is such that the X-ray irradiation intensity is adjusted based on the maximum value of the pixel value of the entire ROI after substitution, the substitution of the pixel value may be omitted. Further, a comparison between the average value or the maximum value of the pixel values in the ROI in which a predetermined value (the maximum value of the pixel value of the portion where the MLC3 is not reflected) is substituted for the reflected portion of the
以下では、図7に基づいて、第2制御の流れを、フローチャートを用いて説明する。使用開始時に操作者が撮影部位を選択すると、撮影部位に応じて第1制御または第2制御が開始される。ここでは、第2制御が開始されるものとする。第2制御が開始されると、ステップS11において、制御部4は、記憶部44から撮影部位に応じた最適な(プリセット)ROIを読み出し、ステップS12に進む。
Hereinafter, the flow of the second control will be described with reference to FIG. 7 by using a flowchart. When the operator selects the imaging region at the start of use, the first control or the second control is started according to the imaging region. Here, it is assumed that the second control is started. When the second control is started, in step S11, the
ステップS12において、制御部4は、MLC3の位置をMLCドライバ43から取得し、MLCの位置を計算し、ステップS13に進む。
In step S12, the
ステップS13において、制御部4は、ROIとMLC内部領域(MLC3によりX線照射が遮蔽されていない領域)との共通領域を計算し、ステップS14に進む。
In step S13, the
ステップS14において、制御部4は、設定されたROI内の画素値(たとえば、輝度など)の最大値を取得し、ステップS15に進む。
In step S14, the
ステップS15において、制御部4は、取得したROI内の画素値の最大値を、プリセットROIとMLC内部領域との共通領域に代入し、ステップS16に進む。
In step S15, the
ステップS16において、制御部4は、上記画素値を代入したROI全体に含まれる画素の画素値の平均値を計算し、ステップS17に進む。
In step S16, the
ステップS17において、上記計算をされた画素値を代入したROI全体の画素値の平均値とあらかじめ設定されている目標画素値との比較を行い、ステップS18に進む。 In step S17, the average value of the pixel values of the entire ROI to which the calculated pixel values are substituted is compared with the preset target pixel value, and the process proceeds to step S18.
ステップS18において、制御部4は、設定されたROI内の画素値と目標画素値との比較に基づいて、X線照射部1にX線照射強度を維持または変更させ、ステップS12に戻る。
In step S18, the
以降は、X線透視装置100による透視を終了するまで、第2制御のステップS12からS18までが繰り返される。すなわち、継続的にMLC3の位置が計算されるため、MLC3の開度が変更されることに伴い、ROIにMLC3が映りこんでいる部分の画素値に、ROIにMLC3が映りこんでいない部分の画素値の最大値を代入する制御が継続的に行われる。また、X線照射部1によるX線照射強度が、MLC3の開度変更またはROI内の画素値の変化に伴い、継続的に変更される。
After that, steps S12 to S18 of the second control are repeated until the fluoroscopy by the
なお、第1制御と第2制御とで共通する内容については、適宜説明を省略した。また、第1制御は、特許請求の範囲の「関心領域除外制御」の一例であり、第2制御は、特許請求の範囲の「関心領域代入制御」の一例である。 The contents common to the first control and the second control are not described as appropriate. The first control is an example of the "region of interest exclusion control" in the claims, and the second control is an example of the "region of interest substitution control" in the claims.
(実施形態の効果)
本発明の実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
(Effect of embodiment)
In the embodiment of the present invention, the following effects can be obtained.
本発明の実施形態では、上記のように、X線透視装置100に、X線受像部2のX線受像に基づいてX線透視画像Iを取得し、MLC3の開度の制御を行うとともに、X線透視画像I上のROIに基づいてX線照射部1から照射されるX線の照射強度の制御を行う制御部4を設ける。また、制御部4を、X線透視画像I上に設定されたROI中にMLC3が映り込んでいる場合に、ROI中のMLC3が映りこむ部分を除外して新たなROIに更新する第1制御、または、関心領域中のMLC3が映りこむ部分の画素に所定の画素値を代入する第2制御のうち少なくとも1つを行うように構成する。これにより、第1制御を行う場合には、ROI中のMLC3が映りこむ部分を除外することにより、ROI内の照射範囲制御部材が映りこんでいない部分のみに基づいて、X線照射の強度の過不足を適切に取得することができる。また、第2制御を行う場合には、MLC3の映りこみによってX線が検出されなくなった部分にMLC3の映りこみがなかった場合の画素値を代入することにより、ROIに基づいてX線照射の強度の過不足を適切に取得することができる。その結果、ROI中にMLC3が映りこむことに起因して、X線がX線受像部2にほとんど検出されない部分が生じた場合にも、被検体Sを透視するために照射されるX線の強度が上がりすぎてしまうのを抑制することができる。これにより、MCL3(照射範囲制御部材)がROI(関心領域)に映りこむ場合にも、X線透視画像Iの視認性が悪化するのを抑制することができる。また、X線の照射強度が過度に増加するのを抑制することができるため、X線透視装置100の操作者や患者(被検体S)の被曝量を軽減することができる。
In the embodiment of the present invention, as described above, the
また、制御部4を、MLC3の開度に基づいて、X線受像部から取得したX線透視画像I上のROIにMLC3が映りこむ部分を取得するように構成する。これにより、MLC3の開度から、ROIにMLC3が映りこむ部分を容易に取得することができる。また、制御部4は、MLC3の開度が制御部4によって制御されていることから、MLC3の開度を容易に取得することができる。
Further, the
また、制御部4を、更新されたROI中の画素値または所定の画素値が代入されたROI全体の画素値の平均値または最大値に基づいて、X線照射部1から照射されるX線の強度を調整するように構成する。これにより、更新されたROI中の画素値または所定の画素値が代入されたROI全体の画素値の平均値に基づいて制御する場合には、ROI全体の画素値に基づいてX線の強度を調整することができる。また、更新されたROI中の画素値または所定の画素値が代入されたROI全体の画素値の最大値に基づいて制御する場合には、たとえば、画素値として輝度を考える場合に、ROI中の最も明るい画素値に基づいてX線の強度を調整することができる。
Further, the
また、制御部4を、第1制御を行う場合に、MLC3が開いた場合は、プリセットROIを最大限として、MLC3が映りこまなくなった部分のうちの更新されたROIから除外されていた部分を再びROIに戻して新たなROIに更新する制御を行うように構成する。これにより、被検体SのX線透視中に一度閉じたMLC3材を再び開いた場合にも除外されていた部分がROIに戻されるため、制御部4は、照射範囲の広がりに追随してROIを更新する(広げる)ことができる。また、ROIはプリセットROIを最大限として更新される(広げられる)ため、ROIが適切な範囲を超えて広がりすぎることを抑制することができる。
Further, when the
また、制御部4を、第2制御を行う場合に、ROI中のMLC3が映りこまない部分の画素値の最大値をROI中のMLC3が映りこむ部分に代入するように構成する。これにより、MLC3がROIに映りこむ部分に、MLC3がROIに映りこまない部分の最大値を代入することにより、MLC3がROIに映りこむ部分にMLC3の映り込みがなかった場合のROI全体の仮定的な画素値を容易に代入することができる。具体的には、MLC3で照射を遮った部分の多くには、透視したい被検体Sが存在していないと考えられるため、X線が被検体Sをほとんど透過せずに受像機に検出される部分と推測されるMLC3がROIに映りこまない部分の画素値の最大値をMLC3がROIに映りこむ部分に代入する。これにより、被検体Sの撮影部位に応じて第1制御と第2制御とを切り替えることができるので、透視する部位の状況や目的に応じてより望ましいX線透視画像Iを得ることができる。
Further, the
(変形例)
なお、今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態の説明ではなく特許請求の範囲によって示され、さらに特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更(変形例)が含まれる。
(Modification example)
It should be noted that the embodiments disclosed this time are exemplary in all respects and are not considered to be restrictive. The scope of the present invention is shown by the scope of claims rather than the description of the above-described embodiment, and further includes all modifications (modifications) within the meaning and scope equivalent to the scope of claims.
たとえば、上記実施形態では、X線透視装置100が第1制御および第2制御の両方を行う例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、X線透視装置100を、第1制御または第2制御のいずれか一方のみを行うように構成してもよい。
For example, in the above embodiment, the
また、上記実施形態では、第1制御を行う場合に、プリセットROIとMLC3が映りこむ部分との共通領域に更新したROIの画素値の平均値または最大値に基づいてX線照射強度を制御する例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、プリセットROIとMLC3が映りこむ部分との共通領域に更新したROIの画素値の平均または最大をとる計算以外の計算を施した画素値に基づいてX線照射強度を制御してもよい。 Further, in the above embodiment, when the first control is performed, the X-ray irradiation intensity is controlled based on the average value or the maximum value of the pixel values of the ROI updated in the common area between the preset ROI and the portion where the MLC3 is reflected. Although an example is shown, the present invention is not limited to this. In the present invention, even if the X-ray irradiation intensity is controlled based on the pixel values calculated other than the calculation of averaging or maximizing the pixel values of the ROI updated in the common area between the preset ROI and the portion where the MLC3 is reflected. Good.
また、上記実施形態では、第2制御を行う場合に、ROIにMLC3が映りこむ部分に代入する所定の値として、ROI全体の画素値の最大値を代入する例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、ROIにMLC3が映りこむ部分に代入する所定の値として、ROIにMLC3が映りこまない部分のみの画素値の最大値を代入するように構成してもよい。また、第2制御を行う場合に、ROIにMLC3が映りこむ部分に代入する所定の値として、たとえば、撮影部位ごとにあらかじめ調整された定数値(画素値)を代入するように構成してもよいし、ROIにMLC3が映りこまない部分の画素値に対して最大値を取る以外の計算を施して取得された画素値を代入するように構成してもよい。 Further, in the above embodiment, when the second control is performed, an example in which the maximum value of the pixel value of the entire ROI is substituted as a predetermined value to be substituted in the portion where the MLC3 is reflected in the ROI has been shown. Not limited to this. In the present invention, as a predetermined value to be substituted for the portion where the MLC3 is reflected in the ROI, the maximum value of the pixel value of only the portion where the MLC3 is not reflected in the ROI may be substituted. Further, when performing the second control, as a predetermined value to be substituted for the portion where the MLC3 is reflected in the ROI, for example, a constant value (pixel value) adjusted in advance for each imaging portion may be substituted. Alternatively, the ROI may be configured to substitute the pixel value obtained by performing a calculation other than taking the maximum value for the pixel value of the portion where the MLC3 is not reflected.
また、上記実施形態では、第2制御を行う場合に、ROIとMLC3が映りこむ部分との共通領域に所定の値を代入したROIの画素値の平均値に基づいてX線照射強度を制御する例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、ROIとMLC3が映りこむ部分との共通領域に所定の値を代入したROIの画素値の平均をとる計算以外の計算を施した画素値に基づいてX線照射強度を制御してもよい。 Further, in the above embodiment, when the second control is performed, the X-ray irradiation intensity is controlled based on the average value of the pixel values of the ROI in which a predetermined value is substituted into the common region of the portion where the ROI and the MLC3 are reflected. Although an example is shown, the present invention is not limited to this. In the present invention, the X-ray irradiation intensity is controlled based on the pixel values calculated other than the calculation of averaging the pixel values of the ROI by substituting a predetermined value into the common region of the ROI and the portion where the MLC3 is reflected. May be good.
また、上記実施形態では、MLC3に4枚の遮蔽板31、32、33および34が設けられている例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明のMLC3に、4枚以上の遮蔽板を設けてもよい。この場合、図中のD1、D2方向とは異なるD3方向を新たに設定し、D3方向に沿った遮蔽板を設けてもよい。また、遮蔽板31〜34は、それぞれ水平面内で移動方向と直行する方向において分割して複数枚とし、分割されたそれぞれの遮蔽板が独立に移動可能となるように構成してもよい。遮蔽板を上記のように分割する場合は、通常、遮蔽板は一方向(たとえば、D1方向)に設ければ十分である。また、図2中では遮蔽板をX線照射方向に対して薄い板で示したが、X線照射方向に対して厚い板として構成してもよい。
Further, in the above embodiment, an example in which the
また、上記実施形態では、制御部4(主制御部46)を、MLCドライバ43が有するポテンショメータまたはエンコーダによって取得した遮蔽板31〜34の位置に基づいてMLC3の開度を取得するように構成する例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、たとえば、MLC3に光学的な検出器を設けてMLC3の開度を取得するなど、他の構成で遮蔽板31〜34の位置を取得するように構成してもよい。また、X線透視画像Iに画素値の閾値を設定し、閾値よりも低い画素値を持つ部分をMLC3が映りこんだ部分と判断するように構成してもよい。
Further, in the above embodiment, the control unit 4 (main control unit 46) is configured to acquire the opening degree of the
また、上記実施形態では、プリセットROIが撮影部位の選択によって自動的に設定されるように構成されている例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、プリセットROIの設定は、たとえば、操作者による範囲指定によって設定されてもよいし、いくつかのプリセットROIの中から最適なものを操作者が選択する形式でもよい。 Further, in the above embodiment, an example in which the preset ROI is configured to be automatically set by selecting the imaging region is shown, but the present invention is not limited to this. In the present invention, the preset ROI may be set by, for example, specifying a range by the operator, or may be in a format in which the operator selects the optimum one from several preset ROIs.
また、上記実施形態では、X線透視装置100によって被検体Sの頭部や手部を透視する例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、X線透視装置100は、被検体Sの腰椎、腕部、脚部、胸部、腹部など幅広く撮影部位(透視部位)を選ぶことができる構成にしてもよい。また、撮影部位を選ぶことに加えて体型など個人差に基づいた調整をできるようにしても良い。また、本発明のX線透視装置100を、造影剤を用いて血管をX線撮影するアンギオグラフィ装置などに用いてもよい。また、説明のために、便宜的に頭部を透視する場合に第1制御を行い、手部を透視する場合に第2制御を行うものとして説明したが、頭部の透視に第2制御を行い、手部の透視に第1制御を行うように構成してもよい。また、撮影モードとして透視モードを行う場合に本発明を適用する実施形態の例を示したが、通常撮像モードや長尺撮像モードに本発明を用いてもよい。つまり、X線透視に限らず、X線撮像に本発明を用いてもよい。また、X線透視(透視撮影モード)のみを行うX線透視装置100に本発明を用いてもよい。
Further, in the above embodiment, an example in which the head or hand of the subject S is seen through by the
また、上記実施形態では、X線照射部1とX線受像部2とがCアーム8により支持されているCアーム型のX線透視装置の例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、たとえば、アイランド型のX線透視装置に本発明を適用してもよい。また、被検体S(治療・診察等対象者)が臥位の状態で透視する例を示したが、被検体Sが座位や立位の状態で透視する構成としてもよい。
Further, in the above embodiment, an example of a C-arm type X-ray fluoroscope in which the
また、上記実施形態では、説明の便宜上、制御部4による第1制御および第2制御を「フロー駆動型」のフローチャートを用いて説明したが、本発明はこれに限られない。制御部4の処理をイベント単位で実行する「イベント駆動型」により行ってもよい。この場合、完全なイベント駆動型で行ってもよいし、イベント駆動およびフロー駆動を組み合わせて行ってもよい。
Further, in the above embodiment, for convenience of explanation, the first control and the second control by the
1 X線照射部
2 X線受像部
3 MLC(照射範囲制限部材)
4 制御部
100 X線透視装置
ROI 関心領域
S 被検体
1
4
Claims (6)
前記被検体を透過したX線を受像するX線受像部と、
前記X線照射部から照射されるX線の照射範囲を絞る照射範囲制御部材と、
前記X線受像部のX線受像に基づいてX線透視画像を取得し、前記照射範囲制御部材の開度の制御を行うとともに、前記X線透視画像上の関心領域に基づいて前記X線照射部から照射されるX線の照射強度の制御を行う制御部とを備え、
前記制御部は、前記関心領域に前記照射範囲制御部材が映り込んでいる場合に、前記関心領域中の前記照射範囲制御部材が映りこむ部分の画素に所定の画素値を代入する関心領域代入制御を行うように構成されており、
前記制御部は、前記関心領域代入制御により所定の画素値が代入された前記関心領域中の前記照射範囲制御部材が映りこむ部分の画素を含む前記関心領域全体の画素値に基づいて、前記X線照射部から照射されるX線の強度を調整するように構成されている、X線透視装置。 An X-ray irradiation unit that irradiates the subject with X-rays,
An X-ray image receiving unit that receives X-rays that have passed through the subject,
An irradiation range control member that narrows the irradiation range of X-rays emitted from the X-ray irradiation unit, and
An X-ray fluoroscopic image is acquired based on the X-ray image receiving portion of the X-ray image receiving unit, the opening degree of the irradiation range control member is controlled, and the X-ray irradiation is performed based on the region of interest on the X-ray fluoroscopic image. It is equipped with a control unit that controls the irradiation intensity of X-rays emitted from the unit.
Wherein, when said irradiation range control member is crowded reflected, before Symbol ROI assignment that assigns the predetermined pixel value to a pixel of the irradiation range control member being reflected portion in the region of interest in said region of interest control is configured to control is carried out,
The control unit is based on the pixel value of the entire interest region including the pixel of the portion in which the irradiation range control member is reflected in the interest region to which a predetermined pixel value is substituted by the interest region substitution control. An X-ray fluoroscope that is configured to adjust the intensity of X-rays emitted from a line-irradiating unit .
前記制御部は、前記関心領域除外制御により更新された前記関心領域の画素値の平均値または最大値に基づいて、前記X線照射部から照射されるX線の強度を調整するように構成されており、
前記制御部は、前記関心領域代入制御により所定の画素値が代入された前記関心領域中の前記照射範囲制御部材が映りこむ部分の画素を含む前記関心領域全体の画素値の平均値または最大値に基づいて、前記X線照射部から照射されるX線の強度を調整するように構成されている、請求項1または2に記載のX線透視装置。 When the irradiation range control member is reflected in the area of interest, the control unit excludes a portion of the area of interest in which the irradiation range control member is reflected and updates the area of interest to a new area of interest. It is configured to perform exclusion control and
The control unit is configured to adjust the intensity of X-rays emitted from the X-ray irradiation unit based on the average value or the maximum value of the pixel values of the region of interest updated by the region exclusion control. and,
The control unit is the average value or the maximum value of the pixel values of the entire interest region including the pixels of the portion in which the irradiation range control member is reflected in the interest region to which a predetermined pixel value is substituted by the interest region substitution control. The X-ray fluoroscope according to claim 1 or 2, which is configured to adjust the intensity of X-rays emitted from the X-ray irradiation unit based on the above .
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