JP6788419B2

JP6788419B2 - Inspection equipment, inspection equipment control methods, and programs

Info

Publication number: JP6788419B2
Application number: JP2016152565A
Authority: JP
Inventors: 和田　学; 学和田
Original assignee: Canon Inc
Current assignee: Canon Inc
Priority date: 2016-08-03
Filing date: 2016-08-03
Publication date: 2020-11-25
Anticipated expiration: 2036-08-03
Also published as: JP2018019880A

Description

本発明は、光を被検体上で走査して該被検体のデータを得る検査装置、該検査装置の制御方法、およびプログラムに関する。 The present invention relates to an inspection device that scans light on a subject to obtain data on the subject, a control method for the inspection device, and a program.

現在、検査装置の一つとして、被検眼の画像等のデータを得るために、共焦点レーザー走査検眼鏡（ＳＬＯ：ＳｃａｎｎｉｎｇＬａｓｅｒＯｐｈｔｈａｌｍｏｓｃｏｐｅ）が適用されている。このＳＬＯに代表される眼科撮影装置（検査装置の一態様）では、２種類のスキャナからなる走査光学系を用いて照明光を被検眼上で２次元走査することで画像を取得している。この時、２次元走査の主走査方向にはレゾナントスキャナ（共振型スキャナ）を、副走査方向にはガルバノスキャナを用いることが一般的である。 Currently, as one of the inspection devices, a confocal laser scanning ophthalmoscope (SLO: Scanning Laser Opthermoscope) is applied in order to obtain data such as an image of the eye to be inspected. In an ophthalmologic imaging apparatus (one aspect of an inspection apparatus) represented by this SLO, an image is acquired by two-dimensionally scanning an illumination light on an eye to be inspected using a scanning optical system composed of two types of scanners. At this time, it is common to use a resonant scanner (resonant scanner) in the main scanning direction of the two-dimensional scanning and a galvano scanner in the sub scanning direction.

近年このようなＳＬＯ装置に代表される眼科撮影装置では、高解像度化が求められている。また同時に、被検眼の診断を良好に行うために、データの取得から画像生成に至る動作に関して、高フレームレート化および高リフレッシュレート化が求められている。特許文献１に開示する構成では、レゾナントスキャナとガルバノスキャナとによる構成において、レゾナントスキャナを往復走査することによって１フレームで撮影される画素数を増やして高解像度化を達成している。 In recent years, an ophthalmologic imaging device represented by such an SLO device is required to have a high resolution. At the same time, in order to make a good diagnosis of the eye to be inspected, it is required to increase the frame rate and the refresh rate in the operation from data acquisition to image generation. In the configuration disclosed in Patent Document 1, in the configuration of the resonant scanner and the galvano scanner, the number of pixels captured in one frame is increased by reciprocating scanning of the resonant scanner to achieve high resolution.

ここで、往復走査とは、主走査方向で照明光の走査を行う場合、走査時の往路と復路の両方で情報の取得を行うことをいう。また、高フレームレート化は、表示画面に表示される画像一枚をデータより生成する際の単位時間あたりのフレーム数で表されるフレームレートの高速化をいう。高リフレッシュレート化は、例えば動画として連続的に表示画面に表示されている画像を、第一の画像から次のタイミングの第二の画像に置き換える際の置き換え速度に対応するリフレッシュレートの高速化をいう。 Here, the reciprocating scanning means that when scanning the illumination light in the main scanning direction, information is acquired in both the outward path and the return path during scanning. Further, increasing the frame rate means increasing the frame rate represented by the number of frames per unit time when one image displayed on the display screen is generated from data. The high refresh rate increases the refresh rate corresponding to the replacement speed when, for example, an image continuously displayed on the display screen as a moving image is replaced with a second image at the next timing from the first image. Say.

特開２０１４−６８７０３号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2014-68703

被検眼は、固視微動と称される運動を繰り返している。このため、画像取得時において、被検眼の固視微動を検出し、この固視微動に応じて照明光の走査位置を補正する眼底追尾（眼底トラッキング）を行う必要がある。その際、固視微動に素早く反応するためにも高フレームレート化および高リフレッシュレート化による眼底追尾の応答性向上は重要である。また、実際の検査において、ちらつきの少ない視認性のよい動画像の提供も求められており、この観点からも、画像生成のためのデータ取得、および画像の生成における更なる高フレームレート化および高リフレッシュレート化が望まれる。 The eye to be inspected repeats a movement called fixation tremor. Therefore, at the time of image acquisition, it is necessary to perform fundus tracking (fundus tracking) that detects the fixation tremor of the eye to be inspected and corrects the scanning position of the illumination light according to the fixation tremor. At that time, it is important to improve the responsiveness of fundus tracking by increasing the frame rate and the refresh rate in order to respond quickly to fixation tremor. Further, in actual inspection, it is required to provide a moving image with less flicker and good visibility. From this viewpoint as well, data acquisition for image generation and further increase in frame rate and increase in image generation are required. A refresh rate is desired.

なお、眼科撮影装置では、上述するように、レゾナントスキャナにより照明光の主走査方向の走査を行い、ガルバノスキャナにより照明光の副走査方向の走査を行うことが多い。特許文献１にも述べられるように、レゾナントスキャナによる往復走査により高解像度化を進める場合、画像の歪に対しても留意する必要がある。よって、眼底画像の観察時に検者に違和感を与えずに検査を行うために、眼底等の被検体のデータ取得に際して、画像の歪に関する視認性も高めることが望まれる。 In the ophthalmologic imaging apparatus, as described above, the resonant scanner often scans the illumination light in the main scanning direction, and the galvano scanner scans the illumination light in the sub-scanning direction. As described in Patent Document 1, when the resolution is increased by reciprocating scanning with a resonant scanner, it is necessary to pay attention to image distortion. Therefore, in order to perform the examination without giving the examiner a sense of discomfort when observing the fundus image, it is desired to improve the visibility regarding the distortion of the image when acquiring the data of the subject such as the fundus.

本発明は以上の状況に鑑みて、高解像度化に併せ、高フレームレート化を進めた場合であっても、歪が少なく視認性のよい被検体のデータを取得する検査装置を提供する。 In view of the above circumstances, the present invention provides an inspection device that acquires data of a subject with little distortion and good visibility even when the frame rate is increased in addition to the increase in resolution.

上記課題を解決するために、本発明の一実施態様に係る検査装置は、
照明光を被検体における主走査方向で往復走査する第一の走査部材と、
前記被検体において前記主走査方向とは交差する副走査方向で前記照明光を等速で走査する第二の走査部材と、
前記第一の走査部材と前記第二の走査部材とにより、前記照明光を前記被検体のデータ取得範囲における第一フィールドで２次元走査させ、前記データ取得範囲における前記第一フィールドとは異なる第二フィールドで２次元走査させる走査制御手段と、
前記第一フィールドおよび前記第二フィールドにおける前記照明光の前記被検体からの戻り光に基づいて各々の前記被検体のデータを取得するデータ取得手段と、を備え、
前記走査制御手段は、前記第一フィールドの前記２次元走査の走査開始位置を前記副走査方向に所定量ずらして前記第二フィールドを設定し、
前記照明光の２次元走査において、前記データ取得範囲における前記主走査方向の走査中心に近づくにつれ前記第一フィールドと前記第二フィールドの前記副走査方向の間隔が等間隔に近づくように、前記所定量を定めることを特徴とする。 In order to solve the above problems, the inspection device according to the embodiment of the present invention is
A first scanning member that reciprocates the illumination light in the main scanning direction of the subject,
A second scanning member that scans the illumination light at a constant velocity in a sub-scanning direction that intersects the main scanning direction in the subject.
The first scanning member and the second scanning member cause the illumination light to be two-dimensionally scanned in the first field in the data acquisition range of the subject, which is different from the first field in the data acquisition range. Scanning control means for two-dimensional scanning in two fields,
A data acquisition means for acquiring data of each subject based on the return light of the illumination light in the first field and the second field from the subject is provided.
The scanning control means sets the second field by shifting the scanning start position of the two-dimensional scanning of the first field by a predetermined amount in the sub-scanning direction.
In the two-dimensional scanning of the illumination light, the distance between the first field and the second field in the sub-scanning direction becomes closer to the same distance as the scanning center in the main scanning direction in the data acquisition range is approached. It is characterized by determining a fixed quantity.

本発明によれば、高解像度化に併せ、高フレームレート化を進めた場合であっても、歪が少なく視認性のよい被検体のデータを取得する検査装置を、提供できる。 According to the present invention, it is possible to provide an inspection apparatus for acquiring data of a subject with less distortion and good visibility even when the frame rate is increased in addition to the increase in resolution.

本発明の一実施例に係るＳＬＯ装置の構成を示す概略図である。It is the schematic which shows the structure of the SLO apparatus which concerns on one Example of this invention. 一実施例に係る画像取得の流れを示したフローチャートである。It is a flowchart which showed the flow of image acquisition which concerns on one Example. 図１に示す構成における補正用フォトダイオード上の照明光の走査を説明する図である。It is a figure explaining the scanning of the illumination light on the correction photodiode in the configuration shown in FIG. 図１に示す構成におけるレゾナントスキャナの主走査方向の走査位置と時間との関係を示す図と、補正用フォトダイオードが出力する信号を示す図である。It is a figure which shows the relationship between the scanning position and time in the main scanning direction of the resonant scanner in the configuration shown in FIG. 1, and is the figure which shows the signal which a correction photodiode outputs. 奇数フィールドの走査軌跡とサンプリングポイントとを例示する図である。It is a figure which illustrates the scanning locus and a sampling point of an odd field. 図１に示す表示部に表示されたＳＬＯ画像と走査フィールドとの関係を示す図である。It is a figure which shows the relationship between the SLO image displayed on the display part shown in FIG. 1 and a scanning field. 奇数フィールドに対して適切なオフセット量ずらして偶数フィールドを生成した時の、両フィールドの走査軌跡とサンプリングポイントの位置関係を示す図である。It is a figure which shows the positional relationship between the scanning locus of both fields, and a sampling point when an even field is generated by shifting an appropriate offset amount with respect to an odd field. 奇数フィールドに対して適切でないオフセット量ずらして偶数フィールドを生成した時の、両フィールドの走査軌跡とサンプリングポイントの位置関係を示す図である。It is a figure which shows the positional relationship between the scanning locus of both fields, and a sampling point when an even field is generated by shifting an unsuitable offset amount with respect to an odd field. 照明光を飛び越し走査で且つ片側走査する条件によりサンプリングを行う場合の走査軌跡とサンプリングポイントとを例示する図である。It is a figure which illustrates the scanning locus and a sampling point at the time of sampling under the condition of jump scanning and one-sided scanning of illumination light.

上述したように、レゾナントスキャナを用いた走査光学系では、往復走査により情報取得を行うことで高解像度化が進められる。これに対して更に高フレームレート化を進める場合は、往復走査に併せ、奇数フィールドおよび偶数フィールドの各々で画像を取得する所謂飛び越し走査を組み合わせることが考えられる。以下に述べる実施例では、この飛び越し走査と往復走査とを併せて行うことにより、高解像度化と、高フレームレート化とを達成する。 As described above, in the scanning optical system using the resonant scanner, the resolution can be increased by acquiring information by reciprocating scanning. On the other hand, in order to further increase the frame rate, it is conceivable to combine the reciprocating scanning with the so-called jump scanning in which images are acquired in each of the odd-numbered fields and the even-numbered fields. In the embodiment described below, high resolution and high frame rate are achieved by performing the jump scanning and the reciprocating scanning together.

ここで、例えば眼底における照明光の飛び越し走査とは、走査領域を主走査方向（横方向）と副走査方向（縦方向）とでます目状に定義した場合、１行目、３行目、５行目、…と、主走査方向で一行おきに照明光を走査することをいう。奇数フィールドはこの１、３、５…行の走査を行うフィールドをいい、偶数フィールドは２、４、６…行の走査を行うフィールドをいう。両フィールドより得られたデータを合せることにより、走査領域の全てのデータが得られる。奇数フィールドにおける往復走査の場合、１、５、９…行目が照明光による往路の走査に対応し、３、７、１１…行目が照明光による復路の走査に対応する。なお、ここでは、説明の都合上、奇数フィールドにおける各行と偶数フィールドにおける各行とは、副走査方向において同じ幅を有することとしている。しかし、偶数フィールドは奇数フィールドに対して副走査方向に任意の距離をずらして設定されていればよい。換言すれば、奇数フィールドを第一フィールド、偶数フィールドを第二フィールドとし、更なる例えば第三フィールドを設定する等、フィールドを更に設定してもよい。即ち、奇数フィールドでの照明光の走査の終了後、次のフィールドでの照明光の走査を行うために照明光の照射位置（走査開始位置）を副走査方向にずらすが、該ずらし量は奇数フィールド一行分のずらし量である必要はない。 Here, for example, in the case of jump scanning of illumination light in the fundus, when the scanning area is defined in a grid pattern in the main scanning direction (horizontal direction) and the sub-scanning direction (vertical direction), the first line, the third line, and the like. The fifth line, ..., Refers to scanning the illumination light every other line in the main scanning direction. The odd field refers to the field that scans the 1, 3, 5 ... Rows, and the even field refers to the field that scans the 2, 4, 6 ... rows. By combining the data obtained from both fields, all the data in the scanning area can be obtained. In the case of reciprocating scanning in an odd-numbered field, the 1, 5, 9 ... Lines correspond to the outward scanning by the illumination light, and the 3, 7, 11 ... Lines correspond to the return scanning by the illumination light. Here, for convenience of explanation, each row in the odd-numbered field and each row in the even-numbered field have the same width in the sub-scanning direction. However, the even-numbered fields may be set by shifting an arbitrary distance in the sub-scanning direction with respect to the odd-numbered fields. In other words, the odd field may be the first field, the even field may be the second field, and further fields may be set, for example, a third field may be set. That is, after the scanning of the illumination light in the odd field is completed, the irradiation position (scanning start position) of the illumination light is shifted in the sub-scanning direction in order to scan the illumination light in the next field, but the shift amount is odd. It does not have to be the amount of shift for one line in the field.

一フレームの画像は、これら奇数フィールドおよび偶数フィールド各々より得たデータより個別に生成して得ており、これら画像は交互に更新される。このように、以下の実施例では、照明光の飛び越し走査により眼底からデータを得て順次画像の生成と更新とを行う。また、照明光の走査における往路と復路との両方からデータを得ることも併せることにより、高解像度化に併せ、高フレームレート化を達成する。また、静止画像を得る際には、これら奇数フィールドの画像と偶数フィールドの画像とを合成することにより、通常の往復走査で得られる画素データの数と同様の数の画素データが得られる。 The one-frame image is obtained by individually generating from the data obtained from each of these odd-numbered fields and even-numbered fields, and these images are updated alternately. As described above, in the following embodiment, data is obtained from the fundus by interlaced scanning of the illumination light, and images are sequentially generated and updated. In addition, by obtaining data from both the outward path and the return path in scanning the illumination light, it is possible to achieve a high frame rate as well as a high resolution. Further, when obtaining a still image, by synthesizing these odd-numbered field images and even-numbered field images, the same number of pixel data as the number of pixel data obtained by normal reciprocating scanning can be obtained.

以下、本発明を実施するための例示的な実施例を、図面を参照して詳細に説明する。ただし、以下の実施例で説明する形状、或いは構成要素の相対的な位置等は任意であり、本発明が適用される装置の構成又は様々な条件に応じて変更できる。また、図面において、同一であるか又は機能的に類似している要素を示すために図面間で同じ参照符号を用いる。 Hereinafter, exemplary examples for carrying out the present invention will be described in detail with reference to the drawings. However, the shape described in the following examples, the relative positions of the components, and the like are arbitrary and can be changed according to the configuration of the device to which the present invention is applied or various conditions. Also, in the drawings, the same reference numerals are used between the drawings to indicate elements that are the same or functionally similar.

図１は、本発明の一実施例に係るＳＬＯ装置の構成の概略図である。なお本発明の適用対象はＳＬＯ装置に限られない。例えば、ＯＣＴ装置やＡＯ−ＳＬＯ装置など被検眼で照明光（測定光）を走査する、特にレゾナントスキャナにより走査する形式の眼科撮影装置等の検査装置に適用できる。 FIG. 1 is a schematic diagram of the configuration of an SLO device according to an embodiment of the present invention. The application target of the present invention is not limited to the SLO apparatus. For example, it can be applied to an inspection device such as an OCT device or an AO-SLO device that scans illumination light (measurement light) with an eye to be inspected, particularly a type of ophthalmologic imaging device that scans with a resonant scanner.

図に示すＳＬＯ装置は、データ取得部１００、システム部１０１、および表示部１０２を有する。データ取得部１００は、照明光を被検眼（本実施例では眼底Ｅｒ）上で走査することにより、輝度情報等の眼底Ｅｒに関するデータを取得する。システム部１０１は、データ取得部１００を制御し、該データ取得部１００より得たデータに基づいてＳＬＯ画像を生成する。表示部１０２は、システム部１０１によって生成されたＳＬＯ画像を表示する。なお、本実施例では各部が独立して配置される構成を例示しているが、システム部１０１と表示部１０２とを一体化する等、設置条件等に応じて各部を適宜一体化してもよい。また、ＯＣＴ装置等、他の装置と全体的に或いは部分的に組み合わせてもよい。 The SLO device shown in the figure has a data acquisition unit 100, a system unit 101, and a display unit 102. The data acquisition unit 100 acquires data related to the fundus Er such as luminance information by scanning the illumination light on the eye to be inspected (fundus Er in this embodiment). The system unit 101 controls the data acquisition unit 100 and generates an SLO image based on the data acquired from the data acquisition unit 100. The display unit 102 displays the SLO image generated by the system unit 101. In this embodiment, the configuration in which each part is arranged independently is illustrated, but each part may be appropriately integrated according to the installation conditions such as integrating the system unit 101 and the display unit 102. .. In addition, it may be combined with other devices such as an OCT device in whole or in part.

まず、データ取得部１００の構成について説明する。被検眼に対向する光路Ｌ１上には、対物レンズ１、ガルバノスキャナ２、レゾナントスキャナ３、レンズ４および５、ミラー６、並びにＳＬＯ光源８が順次配置されている。ミラー６の反射光軸上には、フォトダイオード７が配置されている。これら光学要素は、眼底Ｅｒに対するＳＬＯ光学系を構成している。 First, the configuration of the data acquisition unit 100 will be described. An objective lens 1, a galvano scanner 2, a resonant scanner 3, lenses 4 and 5, a mirror 6, and an SLO light source 8 are sequentially arranged on the optical path L1 facing the eye to be inspected. A photodiode 7 is arranged on the reflected optical axis of the mirror 6. These optical elements constitute an SLO optical system for fundus Er.

レンズ４は、ＳＬＯ光学系の焦点合わせのために、図中矢印にて示される光軸方向に対して、不図示のモータによって駆動される。ＳＬＯ光源８は、７８０ｎｍ付近の波長の光を照明光として射出する。フォトダイオード７は、照明光により照明された眼底Ｅｒからの戻り光を検出する。ミラー６は、穴あきミラーや、中空のミラーに金属等が蒸着されたプリズムからなり、ＳＬＯ光源８より射出された照明光と、眼底Ｅｒからの戻り光との光路を分離する。 The lens 4 is driven by a motor (not shown) in the direction of the optical axis indicated by the arrow in the figure for focusing of the SLO optical system. The SLO light source 8 emits light having a wavelength near 780 nm as illumination light. The photodiode 7 detects the return light from the fundus Er illuminated by the illumination light. The mirror 6 is composed of a perforated mirror or a prism in which metal or the like is vapor-deposited on a hollow mirror, and separates an optical path between the illumination light emitted from the SLO light source 8 and the return light from the fundus Er.

ＳＬＯ光源８から発せられた照明光は、ミラー６を通過し、レンズ５および４を通り、レゾナントスキャナ３およびガルバノスキャナ２によって眼底Ｅｒ上で走査される。眼底Ｅｒからの戻り光は、照明光と同じ経路を戻った後にミラー６によって反射され、フォトダイオード７へと導かれる。 The illumination light emitted from the SLO light source 8 passes through the mirror 6, passes through the lenses 5 and 4, and is scanned by the resonant scanner 3 and the galvano scanner 2 on the fundus Er. The return light from the fundus Er is reflected by the mirror 6 after returning in the same path as the illumination light, and is guided to the photodiode 7.

ガルバノスキャナ２およびレゾナントスキャナ３は、ＳＬＯ光源８から発せられた照明光を眼底Ｅｒ上で走査する走査光学系を構成する。レゾナントスキャナ３は眼底Ｅｒ上で照明光を主走査方向（Ｘ方向）に、ガルバノスキャナ２は眼底Ｅｒ上で照明光を副走査方向（Ｙ方向）に其々走査する。レゾナントスキャナ３は、共振周波数で高速に振動するミラーにより照明光を偏向させることで、照明光を眼底Ｅｒ上において主走査方向にライン状に走査することができる。ガルバノスキャナ２は、等速直線運動で動作して、レゾナントスキャナ３によって主走査方向に偏向させた光を、更に副走査方向に偏向させる。このようなレゾナントスキャナ３およびガルバノスキャナ２によって、照明光を眼底Ｅｒ上で２次元に走査することができる。 The galvano scanner 2 and the resonant scanner 3 constitute a scanning optical system that scans the illumination light emitted from the SLO light source 8 on the fundus Er. The resonant scanner 3 scans the illumination light on the fundus Er in the main scanning direction (X direction), and the galvano scanner 2 scans the illumination light on the fundus Er in the sub-scanning direction (Y direction). The resonant scanner 3 can scan the illumination light in a line in the main scanning direction on the fundus Er by deflecting the illumination light by a mirror that vibrates at high speed at the resonance frequency. The galvano scanner 2 operates in a constant velocity linear motion to further deflect the light deflected in the main scanning direction by the resonant scanner 3 in the sub-scanning direction. With such a resonant scanner 3 and a galvano scanner 2, the illumination light can be scanned two-dimensionally on the fundus Er.

なお、レゾナントスキャナ３は、照明光を反射するミラーと、該ミラーを軸中心に振動させる部材とから一般的に構成される。該部材は、共振現象を利用しているので該ミラーにより照明光を反射して眼底Ｅｒ上で走査する際に、走査速度に加減速が生じる。当該レゾナントスキャナ３は、環境変動などの影響によりその共振周波数（振動の周期）や振幅といった走査状態が変化することが知られている。本実施例では、補正用フォトダイオード９が、レゾナントスキャナ３の走査状態を検知するために配置されている。該補正用フォトダイオード９は、レゾナントスキャナ３およびガルバノスキャナ２により照明光を眼底Ｅｒ上で２次元に走査する際にＸＹの座標面で定義される走査範囲とは重ならない位置に配置されている。補正用フォトダイオード９を用いたレゾナントスキャナ３の走査状態の検知の詳細については、画像取得のフローを説明する際に述べる。 The resonant scanner 3 is generally composed of a mirror that reflects illumination light and a member that vibrates the mirror about an axis. Since the member utilizes the resonance phenomenon, the scanning speed is accelerated or decelerated when the mirror reflects the illumination light and scans on the fundus Er. It is known that the resonant scanner 3 changes its scanning state such as its resonance frequency (period of vibration) and amplitude due to the influence of environmental changes and the like. In this embodiment, the correction photodiode 9 is arranged to detect the scanning state of the resonant scanner 3. The correction photodiode 9 is arranged at a position that does not overlap with the scanning range defined by the XY coordinate plane when the illumination light is two-dimensionally scanned on the fundus Er by the resonant scanner 3 and the galvano scanner 2. .. The details of detecting the scanning state of the resonant scanner 3 using the correction photodiode 9 will be described when the flow of image acquisition is described.

システム部１０１は、データ取得部１００を制御する制御部１０とＳＬＯ画像を生成する画像生成部１１から構成されている。制御部１０は、ガルバノスキャナ２、レゾナントスキャナ３、レンズ４、フォトダイオード７、ＳＬＯ光源８、および補正用フォトダイオード９を制御する。画像生成部１１は、フォトダイオード７から取得されたデータに基づいて、ＳＬＯ画像を生成する。表示部１０２は、画像生成部１１で生成されたＳＬＯ画像を表示する。 The system unit 101 is composed of a control unit 10 that controls the data acquisition unit 100 and an image generation unit 11 that generates an SLO image. The control unit 10 controls the galvano scanner 2, the resonant scanner 3, the lens 4, the photodiode 7, the SLO light source 8, and the correction photodiode 9. The image generation unit 11 generates an SLO image based on the data acquired from the photodiode 7. The display unit 102 displays the SLO image generated by the image generation unit 11.

次に、上述したデータ取得部１００、システム部１０１、および表示部１０２から構成されるＳＬＯ装置における画像取得の際に実行される工程の流れを、図２のフローチャートを用いて説明する。また、個々のステップにおける詳細については、図３〜図８を参照して適宜説明する。当該フローチャートは、本実施例に係る検査装置の制御方法の一態様を構成し、該フローチャートの各ステップは該制御方法の各工程を構成する。 Next, the flow of the process executed at the time of image acquisition in the SLO apparatus including the data acquisition unit 100, the system unit 101, and the display unit 102 described above will be described with reference to the flowchart of FIG. Further, details of each step will be described as appropriate with reference to FIGS. 3 to 8. The flowchart constitutes one aspect of the control method of the inspection device according to the present embodiment, and each step of the flowchart constitutes each step of the control method.

ステップＳ２０１では、レゾナントスキャナ３により照明光を補正用フォトダイオード９上で走査する。具体的には、制御部１０が、レゾナントスキャナ３の駆動を開始させると共に、ガルバノスキャナ２を補正用フォトダイオード９に対応する副走査方向の所定の角度に位置させる。その後、制御部１０は、ＳＬＯ光源８を点灯させる。以上の操作により、ＳＬＯ光源８からの照明光は、図３に示すような走査軌跡１３で、補正用フォトダイオード９上で主走査方向に複数回往復走査される。 In step S201, the resonant scanner 3 scans the illumination light on the correction photodiode 9. Specifically, the control unit 10 starts driving the resonant scanner 3 and positions the galvano scanner 2 at a predetermined angle in the sub-scanning direction corresponding to the correction photodiode 9. After that, the control unit 10 turns on the SLO light source 8. By the above operation, the illumination light from the SLO light source 8 is reciprocally scanned a plurality of times in the main scanning direction on the correction photodiode 9 with the scanning locus 13 as shown in FIG.

なお、図３は、補正用フォトダイオード９上での照明光の走査を説明する図であって、併せて補正用フォトダイオード９と、眼底Ｅｒにおけるデータの取得範囲の、該補正用フォトダイオード９を含んで光軸に垂直な面上での対応面との関係を示している。即ち、図に示す取得範囲１２は、照明光で眼底Ｅｒを２次元走査する時のＸＹ面上のデータの取得範囲に対応する。補正用フォトダイオード９は、ステップＳ２０１において実行される１次元走査の際の走査軌跡１３と眼底Ｅｒの２次元走査の際のデータ取得範囲である取得範囲１２とが重ならない位置に配置される。 Note that FIG. 3 is a diagram for explaining the scanning of the illumination light on the correction photodiode 9, together with the correction photodiode 9 and the correction photodiode 9 in the data acquisition range in the fundus Er. The relationship with the corresponding surface on the surface perpendicular to the optical axis is shown. That is, the acquisition range 12 shown in the figure corresponds to the acquisition range of data on the XY surface when the fundus Er is two-dimensionally scanned by the illumination light. The correction photodiode 9 is arranged at a position where the scanning locus 13 during the one-dimensional scanning executed in step S201 and the acquisition range 12 which is the data acquisition range during the two-dimensional scanning of the fundus Er are not overlapped.

走査軌跡１３上での照明光の走査時、レゾナントスキャナ３による照明光の主走査方向の走査位置と時間との関係は図４（ａ）に示すような正弦波動作となる。ステップＳ２０１では、照明光を補正用フォトダイオード９上で複数回往復走査するが、図４（ａ）はその複数回の往復走査のうちの一部分を示している。図４（ａ）中の縦軸における点ｐは、主走査方向における補正用フォトダイオード９の位置を示している。同図によれば、補正用フォトダイオード９は、タイミングｔ１、ｔ２、およびｔ１’でＳＬＯ光源８からの照明光を受光する。図４（ｂ）は、補正用フォトダイオード９が該照明光を受光した際に出力する信号を示している。 When scanning the illumination light on the scanning locus 13, the relationship between the scanning position and the time in the main scanning direction of the illumination light by the resonant scanner 3 is a sinusoidal operation as shown in FIG. 4A. In step S201, the illumination light is reciprocally scanned a plurality of times on the correction photodiode 9, and FIG. 4A shows a part of the reciprocating scans a plurality of times. The point p on the vertical axis in FIG. 4A indicates the position of the correction photodiode 9 in the main scanning direction. According to the figure, the correction photodiode 9 receives the illumination light from the SLO light source 8 at the timings t1, t2, and t1'. FIG. 4B shows a signal output when the correction photodiode 9 receives the illumination light.

次にステップＳ２０２にて、ステップＳ２０１において補正用フォトダイオード９が出力する信号のタイミングｔ１、ｔ２、およびｔ１’を使って、制御部１０がレゾナントスキャナ３の動作を推定する。推定では次の式（１）が用いられる。

ここでＰｘはレゾナントスキャナ３の主走査方向の走査位置、Ａはレゾナントスキャナ３の振幅、ｔは時間を示す。更に、Ｔはレゾナントスキャナ３の振動周期を示し、Ｔ＝ｔ１‘−ｔ１で表わされる。また、Ｂは、レゾナントスキャナ３が１周期毎に出力する同期信号のタイミングｔ０とレゾナントスキャナ３の往路と復路の切り替わりのタイミングとの差分を示す。正弦波動作の山と谷とにおいて、レゾナントスキャナ３の往路と復路とが切り替わっている。 Next, in step S202, the control unit 10 estimates the operation of the resonant scanner 3 by using the timings t1, t2, and t1'of the signals output by the correction photodiode 9 in step S201. The following equation (1) is used in the estimation.

Here, Px indicates the scanning position of the resonant scanner 3 in the main scanning direction, A indicates the amplitude of the resonant scanner 3, and t indicates the time. Further, T indicates the vibration period of the resonant scanner 3 and is represented by T = t1'−t1. Further, B indicates the difference between the timing t0 of the synchronization signal output by the resonant scanner 3 for each cycle and the timing of switching between the outward path and the returning path of the resonant scanner 3. At the peaks and valleys of the sine wave operation, the outward path and the return path of the resonant scanner 3 are switched.

以上の式（１）における（ｔ、Ｐｘ）に対して（ｔ１、ｐ）および（ｔ２、ｐ）を代入した２本の方程式を解くことによって、上述した定数ＡおよびＢを求めることができる。従って、式（１）によってレゾナントスキャナ３の動作を推定することができる。以上に述べた、補正用フォトダイオード９、および該補正用フォトダイオード９からの出力に基づいてレゾナントスキャナ３の振動の周期の検出を行う制御部１０の対応するモジュールは、本実施例での周期検出手段を構成する。また、同様にこれら構成は、レゾナントスキャナ３の振動の振幅を検出する際には、本実施例での振幅検出手段を構成する。 The above-mentioned constants A and B can be obtained by solving the two equations in which (t1, p) and (t2, p) are substituted for (t, Px) in the above equation (1). Therefore, the operation of the resonant scanner 3 can be estimated by the equation (1). The modules corresponding to the correction photodiode 9 and the control unit 10 that detects the vibration cycle of the resonant scanner 3 based on the output from the correction photodiode 9 described above are the cycles in the present embodiment. Configure the detection means. Similarly, these configurations constitute the amplitude detecting means in the present embodiment when detecting the amplitude of the vibration of the resonant scanner 3.

次に、ステップＳ２０３にて、制御部１０が以降のステップＳ２０４およびＳ２０７で行われるデータのサンプリングタイミングを決定する。その際、上述したステップＳ２０２で求めたレゾナントスキャナ３の動作の推定結果が使われる。例えば、不図示の主走査方向ｐｘ１の地点におけるＳＬＯ画像（データ）を取得する際のサンプリングタイミングは、式（１）にＰｘ＝ｐｘ１を代入してｔに対して解くことで得られる。１フレームのＳＬＯ画像において主走査方向でデータを取得したい全ての位置に対して上述の計算を其々行うことによって、全てのデータ取得のためのサンプリングタイミングを得ることが可能となる。本実施例では、奇数フィールドと偶数フィールドとにおけるデータ取得位置が、副走査方向において直線上に並ぶようにサンプリングタイミング（データ取得のタイミング）が決定される。また、眼底上でのこのデータ取得位置は、推定されたレゾナントスキャナ３の動作に基づいて、後述する表示部１０２にＳＬＯ画像を表示する際の画素の配置と対応付けられる。 Next, in step S203, the control unit 10 determines the data sampling timing performed in subsequent steps S204 and S207. At that time, the estimation result of the operation of the resonant scanner 3 obtained in step S202 described above is used. For example, the sampling timing when acquiring the SLO image (data) at the point of the main scanning direction px1 (not shown) can be obtained by substituting Px = px1 into the equation (1) and solving for t. By performing the above calculation for all the positions where data is to be acquired in the main scanning direction in the SLO image of one frame, it is possible to obtain the sampling timing for all the data acquisition. In this embodiment, the sampling timing (data acquisition timing) is determined so that the data acquisition positions in the odd-numbered field and the even-numbered field are aligned on a straight line in the sub-scanning direction. Further, this data acquisition position on the fundus is associated with the arrangement of pixels when displaying the SLO image on the display unit 102, which will be described later, based on the estimated operation of the resonant scanner 3.

次に、ステップＳ２０４にて、制御部１０は眼底Ｅｒに対し飛び越し走査における奇数フィールドの走査を行う。上述したように、ステップＳ２０１からステップＳ２０３では、ガルバノスキャナ２を補正用フォトダイオード９に対応する副走査方向の所定の角度に位置させていた。ステップＳ２０４では、ガルバノスキャナ２を副走査方向に等速直線運動させることで、レゾナントスキャナ３とガルバノスキャナ２による照明光の２次元走査が行われる。 Next, in step S204, the control unit 10 scans the fundus Er in an odd-numbered field in the jump scan. As described above, in steps S201 to S203, the galvano scanner 2 was positioned at a predetermined angle in the sub-scanning direction corresponding to the correction photodiode 9. In step S204, the galvano scanner 2 is moved linearly at a constant velocity in the sub-scanning direction, so that the resonant scanner 3 and the galvano scanner 2 perform two-dimensional scanning of the illumination light.

図５は、ステップＳ２０４で行われる、奇数フィールドにおける照明光の走査における走査軌跡とそのサンプリングポイントとを例示したものである。同図において、走査軌跡は実線で描かれている。同図中、後述するサンプリングポイントＯ１１の左からＯ１７の右にかけては右向きの矢印に示される走査軌跡を示す。また、サンプリングポイントＯ３７の右からＯ３１の左にかけては左向きの矢印に示される走査軌跡を示す。図中の矢印の向きを見るとレゾナントスキャナ３の往路と復路が、走査軌跡の右端と左端とにおいて切り替わっていることが分かる。更に図中の黒丸で示される点は、眼底Ｅｒにおけるデータの取得領域における奇数フィールドのサンプリングポイントを示す。同図において、上述したように、往復走査にて黒丸が往路と復路の両方に存在するように、レゾナントスキャナ３の往路と復路の両方よりデータの取得がされている。なお、図中の一点鎖線Ｍ１は、レゾナントスキャナ３による照明光の主走査範囲における主走査方向の中心を示している。 FIG. 5 illustrates a scanning locus and a sampling point thereof in scanning the illumination light in an odd-numbered field, which is performed in step S204. In the figure, the scanning locus is drawn by a solid line. In the figure, from the left of the sampling point O11 to the right of O17, which will be described later, the scanning locus indicated by the right-pointing arrow is shown. Further, from the right of the sampling point O37 to the left of O31, the scanning locus indicated by the arrow pointing to the left is shown. Looking at the direction of the arrow in the figure, it can be seen that the outward path and the return path of the resonant scanner 3 are switched between the right end and the left end of the scanning locus. Further, the points indicated by black circles in the figure indicate sampling points of odd-numbered fields in the data acquisition region in the fundus Er. In the figure, as described above, data is acquired from both the outward path and the return path of the resonant scanner 3 so that black circles exist on both the outward path and the return path in the reciprocating scan. The alternate long and short dash line M1 in the figure indicates the center of the illumination light by the resonant scanner 3 in the main scanning direction in the main scanning direction.

取得された奇数フィールド全てのサンプリングポイントは、主走査方向に等間隔でサンプリングされている。これは、ステップＳ２０３で所望のサンプリングポイントが得られるようなサンプリングタイミングを計算し、当該計算に基づくサンプリングが行われることによる。しかし、副走査方向におけるサンプリングポイントの間隔は、等間隔に配置されていない。これは時間に応じてレゾナントスキャナ３の動作が図４に示した正弦波状で変化していることが影響している。 The sampling points of all the acquired odd-numbered fields are sampled at equal intervals in the main scanning direction. This is because the sampling timing is calculated so that a desired sampling point can be obtained in step S203, and sampling is performed based on the calculation. However, the intervals of sampling points in the sub-scanning direction are not evenly spaced. This is due to the fact that the operation of the resonant scanner 3 changes in a sinusoidal shape shown in FIG. 4 with time.

ステップＳ２０５にて、画像生成部１１はステップＳ２０４で取得された２次元走査のデータから奇数フィールドのＳＬＯ画像を生成する。生成されたＳＬＯ画像は表示部１０２に表示されるか、或いは表示されているＳＬＯ画像から新たに生成されたＳＬＯ画像への更新が行われる。図６は表示部１０２に表示されたＳＬＯ画像を示したものであり、図中の実線の矢印にて示される１、３、５…の奇数行の画素が、更新対象の奇数フィールドの画素となる。 In step S205, the image generation unit 11 generates an odd-numbered field SLO image from the two-dimensional scanning data acquired in step S204. The generated SLO image is displayed on the display unit 102, or the displayed SLO image is updated to the newly generated SLO image. FIG. 6 shows an SLO image displayed on the display unit 102, and the pixels in the odd-numbered rows 1, 3, 5, ... Indicated by the solid arrows in the figure are the pixels in the odd-numbered field to be updated. Become.

ここで、図５中のサンプリングポイントＯ１１で取得されたデータは、図６中の画素Ｐ１１に表示される。同様に、図５中のサンプリングポイントＯ１４、Ｏ１７、Ｏ３７、Ｏ３４、およびＯ３１で取得されたデータは、図６中の画素Ｐ１４、Ｐ１７、Ｐ３７、Ｐ３４、およびＰ３１に其々表示される。ステップＳ２０２におけるレゾナントスキャナ３の動作の推定により、画像生成部１１は往路と復路がどこで切り替わっているかを含め、サンプリングポイントと画像中の画素との対応付けを行う。 Here, the data acquired at the sampling point O11 in FIG. 5 is displayed in the pixel P11 in FIG. Similarly, the data acquired at the sampling points O14, O17, O37, O34, and O31 in FIG. 5 are displayed in pixels P14, P17, P37, P34, and P31 in FIG. 6, respectively. By estimating the operation of the resonant scanner 3 in step S202, the image generation unit 11 associates the sampling points with the pixels in the image, including where the outward path and the return path are switched.

レゾナントスキャナとガルバノスキャナを用いて往復走査かつ飛び越し走査でデータを取得した場合、奇数フィールドと偶数フィールドの走査位置の関係次第によっては、該データより生成された画像に歪が発生する場合がある。具体的には、奇数フィールドと偶数フィールドとの間でサンプリングポイントと画素との対応関係のずれ方に差が生じ、両フィールドから得た画像を交互に表示した場合にこの差のある部分に画像のちらつきや違和感等を発生させてしまう。以降では、この対応関係のずれが生じている部分を、画像中で歪を生じている部分といい、ずれ方の差が大きくなることを歪が大きくなるという。詳細については図７および図８を参照して後述するが、眼科では被検眼の取得したい疾病部等の注目領域を画像の中心に位置させることが多いため、画像の主走査方向の中心に歪が発生することは好ましくない。即ち、注目領域における画像歪を抑制するために、該画像歪に関連する、飛び越し走査において奇数フィールドから偶数フィールドに変わる際の副走査方向でのずらし量を適切に設定することを要する。 When data is acquired by reciprocating scanning and jump scanning using a resonant scanner and a galvano scanner, distortion may occur in the image generated from the data depending on the relationship between the scanning positions of the odd-numbered field and the even-numbered field. Specifically, there is a difference in the deviation of the correspondence between the sampling points and the pixels between the odd-numbered field and the even-numbered field, and when the images obtained from both fields are displayed alternately, the image is displayed in the differenced part. It causes flickering and discomfort. Hereinafter, the portion where the deviation of the correspondence relationship occurs is referred to as the portion where the distortion occurs in the image, and the larger difference in the deviation is referred to as the larger distortion. Details will be described later with reference to FIGS. 7 and 8, but in ophthalmology, the area of interest such as the diseased part to be acquired by the eye to be inspected is often positioned at the center of the image, so that the image is distorted at the center of the main scanning direction of the image. Is not preferable. That is, in order to suppress the image distortion in the region of interest, it is necessary to appropriately set the amount of shift in the sub-scanning direction when changing from the odd-numbered field to the even-numbered field in the skip scan related to the image distortion.

次のステップＳ２０６では、制御部１０は、飛び越し走査時において偶数フィールドを設定する際の適切なオフセット量（上述したずらし量）を計算する。ここでオフセット量とは、飛び越し走査時における奇数フィールドの走査位置と偶数フィールドの走査位置とが重複しないように、奇数フィールドに対し偶数フィールドの走査位置を副走査方向にオフセットさせる量を意味する。ステップＳ２０６で計算され、設定されるオフセット量により、両フィールドより得たデータから生成されるＳＬＯ画像が副走査方向で歪む領域を調整できる。以下に述べる例では、表示部１０２の表示画素上で見ていった場合に、主走査方向の中心で画像が歪まないようにしている。なお、このステップＳ２０６で決められたオフセット量は、以降での奇数フィールドと偶数フィールドとの移行の際において全て適用される。 In the next step S206, the control unit 10 calculates an appropriate offset amount (the above-mentioned shift amount) when setting an even-numbered field during the jump scan. Here, the offset amount means an amount that offsets the scanning position of the even-numbered field with respect to the odd-numbered field in the sub-scanning direction so that the scanning position of the odd-numbered field and the scanning position of the even-numbered field do not overlap during the skip scan. With the offset amount calculated and set in step S206, the region where the SLO image generated from the data obtained from both fields is distorted in the sub-scanning direction can be adjusted. In the example described below, the image is prevented from being distorted at the center in the main scanning direction when viewed on the display pixels of the display unit 102. The offset amount determined in step S206 is all applied in the subsequent transition between the odd-numbered field and the even-numbered field.

図７は、奇数フィールドに対し偶数フィールドの走査位置を最適なオフセット量でずらした時の両フィールドの走査軌跡およびサンプリングポイントを示している。図７上で奇数フィールドの走査軌跡は実線で示されており、ステップＳ２０４で行われた照明光の走査軌跡を示している。これに対し、偶数フィールドの走査軌跡は破線で示されている。また、奇数フィールドおよび偶数フィールドの各々でのサンプリングポイントは、其々黒丸および白丸で示されている。なお、以降の説明において、奇数フィールドに対応する走査軌跡は全て実線で、偶数フィールドに対応する走査軌跡は全て破線で示される。また、奇数フィールドおよび偶数フィールドの各々のサンプリングポイントは、全て黒丸および白丸で示される。 FIG. 7 shows the scanning loci and sampling points of both fields when the scanning positions of the even fields are shifted by the optimum offset amount with respect to the odd fields. The scanning locus of the odd-numbered field is shown by a solid line on FIG. 7, and shows the scanning locus of the illumination light performed in step S204. On the other hand, the scanning locus of the even field is shown by a broken line. Sampling points in each of the odd and even fields are indicated by black and white circles, respectively. In the following description, all scanning trajectories corresponding to odd-numbered fields are indicated by solid lines, and all scanning loci corresponding to even-numbered fields are indicated by broken lines. In addition, sampling points of odd-numbered fields and even-numbered fields are all indicated by black circles and white circles.

ここで、主走査方向の走査中心である一点鎖線Ｍ１上のサンプリングポイントに着目すると、奇数フィールドのサンプリングポイントと偶数フィールドのサンプリングポイントとの間隔は、副走査方向で等間隔Ｄ１になっている。また、両フィールドのサンプリングポイントが副走査方向において交互に並んでいる。一方レゾナントスキャナ３の主走査方向の中心から離れた一点鎖線Ｍ２、Ｍ３に着目するとサンプリングポイントの間隔は副走査方向に等間隔ではなく、間隔Ｄ１〜Ｄ６を取ることが分かる。更に一点鎖線Ｍ２上の間隔Ｄ１、Ｄ２、Ｄ３の関係と一点鎖線Ｍ３上の間隔Ｄ４、Ｄ５、Ｄ６の関係を比較すると、主走査方向の中心から離れるにつれて副走査方向に等間隔ではなくなっていくことが分かる。なお、ここで等間隔ではないとはサンプリングポイント間の間隔が複数（本実施例では３）種類となることをいい、等間隔でなくなっていくとはこの複数種類の間隔の相違がより大きくなっていくことをいう。 Here, focusing on the sampling points on the one-point chain line M1 which is the scanning center in the main scanning direction, the distance between the sampling points of the odd-numbered fields and the sampling points of the even-numbered fields is D1 at equal intervals in the sub-scanning direction. In addition, the sampling points of both fields are alternately arranged in the sub-scanning direction. On the other hand, focusing on the alternate long and short dash lines M2 and M3 away from the center of the resonant scanner 3 in the main scanning direction, it can be seen that the sampling points are not evenly spaced in the sub-scanning direction, but are spaced D1 to D6. Furthermore, comparing the relationship between the intervals D1, D2, and D3 on the alternate long and short dash line M2 and the relationship between the intervals D4, D5, and D6 on the alternate long and short dash line M3, the distance from the center of the main scanning direction becomes less equal in the sub-scanning direction. You can see that. Here, if the intervals are not equal, it means that there are a plurality of types of intervals between sampling points (3 in this embodiment), and if the intervals are not equal, the difference between the plurality of types of intervals becomes larger. It means to go.

ここで、サンプリングポイントと図６に示した表示部１０２の表示画素との関係を考慮すると、一点鎖線Ｍ１上でのサンプリングポイントからは対応する画素のデータが正しく得られている。しかし、主走査方向中心から離れるにつれ、一点鎖線Ｍ２上ではデータの取得位置と画素の配置とのずれが大きくなる。更に、一点鎖線Ｍ３上では、ずれるだけではなく、間隔Ｄ５を形成するサンプリングポイントの配置に示されるように、副走査方向でのデータ取得位置が第一フィールドのものと第二フィールドのものとが入れ替わっている。このため、実際のサンプリングポイントと対応する画素の配置とが変わってしまった領域が生じている。即ち、第一フィールドのサンプリングポイントと第二フィールドのサンプリングポイントとが副走査方向で交互に配置されていたものが、交互でなくなっている。 Here, considering the relationship between the sampling point and the display pixel of the display unit 102 shown in FIG. 6, the data of the corresponding pixel is correctly obtained from the sampling point on the alternate long and short dash line M1. However, as the distance from the center in the main scanning direction increases, the deviation between the data acquisition position and the pixel arrangement increases on the alternate long and short dash line M2. Further, on the alternate long and short dash line M3, not only the data is shifted, but also the data acquisition positions in the sub-scanning direction are those in the first field and those in the second field, as shown in the arrangement of the sampling points forming the interval D5. It has been replaced. For this reason, there is a region where the actual sampling point and the arrangement of the corresponding pixels have changed. That is, the sampling points of the first field and the sampling points of the second field are alternately arranged in the sub-scanning direction, but are no longer alternating.

このように、サンプリングポイントが副走査方向に等間隔ではなくなる、或いは両フィールドから交互に得られなくなるということは、ＳＬＯ画像が副走査方向で歪むということを意味する。即ち、飛び越し走査の副走査方向のオフセット量を図７に示すように与えた場合に得られるＳＬＯ画像では、主走査方向の中心に近づけば近づくほど、副走査方向の歪がなくなる。これに対して、主走査方向の中心から離れれば離れるほど、ＳＬＯ画像上で副走査方向に歪が生じる或いは生じた歪が大きくなる。しかし、画像生成して観察したい注目領域は画像中心に配置されることがほとんどであり、この場合に得られる画像における注目領域に関しては高い視認性が得られる。 As described above, the fact that the sampling points are not evenly spaced in the sub-scanning direction or cannot be obtained alternately from both fields means that the SLO image is distorted in the sub-scanning direction. That is, in the SLO image obtained when the offset amount in the sub-scanning direction of the skip scanning is given as shown in FIG. 7, the closer to the center of the main scanning direction, the less the distortion in the sub-scanning direction. On the other hand, the farther away from the center in the main scanning direction, the greater the distortion generated or the generated distortion in the sub scanning direction on the SLO image. However, in most cases, the region of interest to be image-generated and observed is arranged in the center of the image, and high visibility can be obtained with respect to the region of interest in the image obtained in this case.

図７に示した場合において、奇数フィールドに対する偶数フィールドの走査位置の適切なオフセット量は一点鎖線Ｍ１上の間隔Ｄ１となる。従って、その際の偶数フィールドにおける照明光の走査開始位置は、奇数フィールドにおける照明光の走査開始位置を副走査方向に所定量として間隔Ｄ１だけずらせて設定される。即ち、偶数フィールドは、奇数フィールドにおける照明光の走査開始位置を副走査方向に間隔Ｄ１だけずらせて設定される。当該間隔Ｄ１は、実際には副走査方向の走査速度とレゾナントスキャナ３の周期（上述した周期検出手段の出力）に基づいて定められる。より具体的には、ガルバノスキャナ２の等速直線運動時の照明光の走査速度Ｖとレゾナントスキャナ３の照明光の走査周期Ｔの４分の１の時間との掛け算によって計算される。 In the case shown in FIG. 7, the appropriate offset amount of the scanning position of the even field with respect to the odd field is the interval D1 on the alternate long and short dash line M1. Therefore, the scanning start position of the illumination light in the even field at that time is set by shifting the scanning start position of the illumination light in the odd field by the interval D1 as a predetermined amount in the sub-scanning direction. That is, the even-numbered field is set by shifting the scanning start position of the illumination light in the odd-numbered field by the interval D1 in the sub-scanning direction. The interval D1 is actually determined based on the scanning speed in the sub-scanning direction and the period of the resonant scanner 3 (the output of the period detecting means described above). More specifically, it is calculated by multiplying the scanning speed V of the illumination light during the constant velocity linear motion of the galvano scanner 2 and the scanning period T of the illumination light of the resonant scanner 3 by a quarter of the time.

次に、図７に示す例との対比として、適切ではないずらし量によって偶数フィールドを設定した場合について、図８を用いて説明する。図８は、奇数フィールドと、該奇数フィールドに対して上述したオフセット量を間隔Ｄ１０として設定した偶数フィールドとの両フィールドについて、その走査軌跡およびサンプリングポイントを示している。 Next, as a comparison with the example shown in FIG. 7, a case where an even field is set by an inappropriate shift amount will be described with reference to FIG. FIG. 8 shows the scanning loci and sampling points of both the odd-numbered fields and the even-numbered fields in which the offset amount described above is set as the interval D10 with respect to the odd-numbered fields.

ここで一点鎖線Ｍ５上のサンプリングポイントに着目すると、サンプリングポイントの間隔は副走査方向に等間隔Ｄ７になっている。ただし、奇数フィールドのサンプリングポイントと偶数フィールドのサンプリングポイントとは、交互にではなく２つおきに入れ替わるように配置されている。一点鎖線Ｍ４上のサンプリングポイントに着目すると、サンプリングポイントの間隔は副走査方向にＤ８とＤ９とで２種類あり等間隔ではない。また、副走査方向において、奇数フィールドのサンプリングポイントが２つ並んだ後に偶数フィールドのサンプリングポイントが２つ並ぶように、サンプリングポイントが２つおきに入れ替わっている。更に一点鎖線Ｍ１上のサンプリングポイントでは、両フィールドのサンプリングポイントは重複し、且つ重複位置同士の間隔がＤ１０となっている。ここで、一点鎖線Ｍ４上の間隔Ｄ８、Ｄ９の関係と一点鎖線Ｍ１上の間隔Ｄ１０の関係を比較する。主走査方向の中心に近づけば近づくほど、間隔Ｄ９は間隔Ｄ１０に近づき、間隔Ｄ８は０に近づき、副走査方向に並ぶサンプリングポイントは等間隔からより離れていくことが分かる。 Focusing on the sampling points on the alternate long and short dash line M5, the intervals between the sampling points are equal intervals D7 in the sub-scanning direction. However, the sampling points of the odd-numbered fields and the sampling points of the even-numbered fields are arranged so as to be alternated with each other rather than alternately. Focusing on the sampling points on the alternate long and short dash line M4, there are two types of sampling point intervals, D8 and D9, in the sub-scanning direction, which are not equal intervals. Further, in the sub-scanning direction, the sampling points are switched every two so that two sampling points of the even-numbered field are lined up after two sampling points of the odd-numbered field are lined up. Further, at the sampling points on the alternate long and short dash line M1, the sampling points of both fields overlap, and the distance between the overlapping positions is D10. Here, the relationship between the intervals D8 and D9 on the alternate long and short dash line M4 and the relationship between the intervals D10 on the alternate long and short dash line M1 are compared. It can be seen that the closer to the center of the main scanning direction, the closer the interval D9 is to the interval D10, the closer the interval D8 is to 0, and the sampling points arranged in the sub-scanning direction are further away from the equal interval.

このように、飛び越し走査の副走査方向のオフセット量によっては、得られるＳＬＯ画像で生じる歪は、主走査方向の中心に近づけば近づくほど副走査方向に大きくなる。また、当該歪は、主走査方向の中心から離れれば離れるほど副走査方向に小さくなる。なお、図８の場合の奇数フィールドに対する偶数フィールドの走査位置のオフセット量である間隔Ｄ１０は、ガルバノスキャナ２の等速直線運動時の走査速度Ｖとレゾナントスキャナ３の走査周期Ｔの２分の１の時間との掛け算によって計算される。 As described above, depending on the amount of offset in the sub-scanning direction of the skip scan, the distortion generated in the obtained SLO image becomes larger in the sub-scanning direction as it approaches the center of the main scanning direction. Further, the distortion becomes smaller in the sub-scanning direction as the distance from the center in the main scanning direction increases. In the case of FIG. 8, the interval D10, which is the offset amount of the scanning position of the even-numbered field with respect to the odd-numbered field, is half of the scanning speed V of the galvano scanner 2 during the constant velocity linear motion and the scanning period T of the resonant scanner 3. It is calculated by multiplying the time of.

図７で示したずらし量が間隔Ｄ１の場合、一点鎖線Ｍ１上、一点鎖線Ｍ２上、及びそのさらに外側の領域で、奇数フィールドのサンプリングポイントと偶数フィールドのサンプリングポイントは副走査方向で交互に位置している。このため、データ取得位置と対応する画素とにおいて、各々周辺のデータ取得位置と周辺画素との配置は変わらない。なお、図８に示すずらし量が間隔Ｄ１０の場合、両フィールドの全てのサンプリングポイントは、上述したように副走査方向で２つおきに位置している。この場合、ＳＬＯ画像の表示画素とサンプリングポイントとの対応関係を副走査方向において２つおきに入れ替わるよう、サンプリングポイントと画素配置とを一意に定めておけば、画素の配置が入れ替わることは避けられる。しかし、ＳＬＯ画像において歪がない領域はデータ取得範囲における周辺部のみとなり、実際に眼底等を観察して診断のための情報等を得る上では適当ではない。 When the shift amount shown in FIG. 7 is the interval D1, the sampling points of the odd-numbered fields and the sampling points of the even-numbered fields are alternately positioned on the alternate long and short dash line M1 and the outermost dash-dotted line M2 in the sub-scanning direction. doing. Therefore, in the data acquisition position and the corresponding pixel, the arrangement of the peripheral data acquisition position and the peripheral pixel does not change. When the shift amount shown in FIG. 8 is the interval D10, all the sampling points of both fields are located every two in the sub-scanning direction as described above. In this case, if the sampling points and the pixel arrangement are uniquely defined so that the correspondence between the display pixels of the SLO image and the sampling points is exchanged every two in the sub-scanning direction, the pixel arrangements can be avoided from being exchanged. .. However, in the SLO image, the region without distortion is only the peripheral portion in the data acquisition range, which is not suitable for actually observing the fundus and the like to obtain information for diagnosis and the like.

以上より、本実施例では、奇数フィールドに対して偶数フィールドを生成する際に、副走査方向に偶数フィールドの走査開始位置をずらす所定量として、間隔Ｄ１を用いることとしている。なお、該所定量は厳密にＤ１にすることを要さず、照明光の２次元走査において、データ取得範囲における主走査方向の走査中心に近づくにつれ奇数フィールドと偶数フィールドの副走査方向の間隔が等間隔に近づくように定められればよい。これにより、中心部、或いは主走査方向の走査中心或いはその周辺領域において、歪の小さいＳＬＯ画像が得られる。 From the above, in the present embodiment, when the even-numbered field is generated for the odd-numbered field, the interval D1 is used as a predetermined amount for shifting the scanning start position of the even-numbered field in the sub-scanning direction. It should be noted that the predetermined amount does not need to be strictly set to D1, and in the two-dimensional scanning of the illumination light, the distance between the odd-numbered field and the even-numbered field in the sub-scanning direction increases as the scanning center in the main scanning direction in the data acquisition range approaches. It may be set so as to approach equal intervals. As a result, an SLO image with small distortion can be obtained in the central portion, the scanning center in the main scanning direction, or the peripheral region thereof.

なお、実際の眼底等の観察の際に病変等の観察を目的としてデータ取得範囲から得られる画像においては、注目領域において歪が少なければ良いともいえる。この場合、データ取得範囲の中の注目領域において、該領域内の主走査方向の中心で副走査方向に並ぶ両フィールドのサンプリングポイントが等間隔で並べば、該注目領域でのＳＬＯ画像の歪を抑えることができる。この場合、実際には奇数フィールドの２つのサンプリングポイントと偶数フィールドの２つのサンプリングポイントとが、該主走査方向の中心で副走査方向に交互且つ等間隔で並ぶ。 In the image obtained from the data acquisition range for the purpose of observing the lesion or the like when actually observing the fundus or the like, it can be said that it is good if there is little distortion in the region of interest. In this case, if the sampling points of both fields arranged in the sub-scanning direction at the center of the main scanning direction in the area of interest in the data acquisition range are arranged at equal intervals, the distortion of the SLO image in the area of interest is generated. It can be suppressed. In this case, in reality, the two sampling points of the odd-numbered field and the two sampling points of the even-numbered field are arranged alternately and at equal intervals in the sub-scanning direction at the center of the main scanning direction.

例えば一点鎖線Ｍ２上で、部分的にサンプリングポイントがこの条件を満たすようにずらし量を設定するとする。なお、以下の説明において、奇数フィールドのサンプリングポイントを黒丸と、偶数フィールドのサンプリングポイントを白丸と称する。この場合、一点鎖線Ｍ２上には、等間隔で上から順に黒丸、白丸、黒丸、白丸と並ぶセットが一定の間隔を空けて並ぶ。そして、当該セットの一番下の白丸と、次のセットの一番上の黒丸との間の該一定の間隔は、上述する等間隔よりも広くなる。図７に例示した偶数フィールドと奇数フィールドとのずらし量を小さくするにつれて、この黒丸、白丸、黒丸、白丸の等間隔の並びの一セットが副走査方向に並ぶ位置が、一点鎖線Ｍ１上から一点鎖線Ｍ３上に向かってシフトしていく。また、シフトするに従って、上下のセット間の間隔は広くなる。また、ずらし量がＤ１を超えると、並びの順が変わってしまう主走査方向の範囲が広くなり、上述した並び順での等間隔が維持できなくなる。 For example, suppose that the shift amount is partially set on the alternate long and short dash line M2 so that the sampling points satisfy this condition. In the following description, the sampling points of odd-numbered fields are referred to as black circles, and the sampling points of even-numbered fields are referred to as white circles. In this case, on the alternate long and short dash line M2, sets of black circles, white circles, black circles, and white circles are arranged at regular intervals in order from the top. Then, the constant interval between the white circle at the bottom of the set and the black circle at the top of the next set is wider than the above-mentioned equal interval. As the amount of shift between the even-numbered field and the odd-numbered field illustrated in FIG. 7 is reduced, the position where a set of equidistant arrangements of black circles, white circles, black circles, and white circles are arranged in the sub-scanning direction is one point from the alternate long and short dash line M1. It shifts toward the chain line M3. Also, as the shift increases, the distance between the upper and lower sets becomes wider. Further, when the shift amount exceeds D1, the range in the main scanning direction in which the order of arrangement is changed becomes wide, and the equal intervals in the above-mentioned arrangement order cannot be maintained.

即ち、ずらし量はＤ１以下の条件とすることが好ましい。これにより、副走査方向に並ぶ、奇数フィールドのサンプリングポイント、偶数フィールドのサンプリングポイント、奇数フィールドのサンプリングポイント、および偶数フィールドのサンプリングポイントの４つの間では交互且つ等間隔が部分的に維持される。なお、この条件は、往路走査時において主走査方向の走査中心（Ｍ１）から離れる方向における領域においての条件である。往路走査時において主走査方向の走査中心（Ｍ１）から近づく方向における領域においては逆となる。 That is, it is preferable that the shift amount is D1 or less. As a result, alternating and equidistant intervals are partially maintained among the four sampling points of the odd field, the sampling point of the even field, the sampling point of the odd field, and the sampling point of the even field arranged in the sub-scanning direction. It should be noted that this condition is a condition in the region in the direction away from the scanning center (M1) in the main scanning direction during the outward scanning. The opposite is true in the region in the direction approaching the scanning center (M1) in the main scanning direction during the outward scanning.

従って、部分的な歪は生じるが、少なくとも４つのサンプリングポイントに関しては等間隔且つ交互の条件が満たされるため、ある程度のＳＬＯ画像の歪の抑制ができる。 Therefore, although partial distortion occurs, distortion of the SLO image can be suppressed to some extent because the conditions of equal intervals and alternating conditions are satisfied for at least four sampling points.

また、図８で述べたように副走査方向でのサンプリングポイントの並び方が、例えば両フィールド間で交互に位置するか２つおきに位置するかにより、データ取得時のサンプリングポイントに対応する画素配置を変えることを要する。しかし、並び方が一定の領域が注目領域とする範囲を超えていれば、画素の配置を対応させて変える必要がなくなる。このことは、画像生成時の計算負荷を下げることにつながる。ここで、眼底画像に関しては、基本的にデータ取得範囲の中央領域が注目領域となることが多い。即ち、注目領域の理想位置はデータ取得範囲の中央となり、この場合の注目領域の主走査方向中心は主走査方向の走査中心となる。従って、オフセット量である間隔Ｄ１は、図７に示す条件を中心とし、この条件から注目領域が周辺に領域に移動し、その注目領域の主走査方向中心で上述したサンプリングポイントの交互且つ等間隔の並びという条件が満たされることが好ましい。 Further, as described in FIG. 8, the pixel arrangement corresponding to the sampling points at the time of data acquisition depends on whether the sampling points are arranged in the sub-scanning direction, for example, alternately or every two fields. Need to be changed. However, if the area in which the arrangement is constant exceeds the range to be the area of interest, it is not necessary to change the arrangement of the pixels in a corresponding manner. This leads to a reduction in the calculation load at the time of image generation. Here, with respect to the fundus image, the central region of the data acquisition range is often the region of interest. That is, the ideal position of the region of interest is the center of the data acquisition range, and the center of the region of interest in the main scanning direction is the scanning center in the main scanning direction. Therefore, the interval D1, which is an offset amount, is centered on the condition shown in FIG. 7, and the region of interest moves to the periphery from this condition, and the sampling points described above are alternately and equidistant at the center of the main scanning direction of the region of interest. It is preferable that the condition of the arrangement of is satisfied.

上述した理由に基づいて求められたオフセット量を用いて偶数フィールドを設定し、ステップＳ２０７にて、制御部１０は照明光を偶数フィールドで２次元走査する。２次元走査によりデータを得た後、ステップＳ２０８にて、画像生成部１１はステップＳ２０７で取得された２次元走査のデータから偶数フィールドのＳＬＯ画像を生成する。生成されたＳＬＯ画像は表示部１０２に表示されるか、或いは表示されているＳＬＯ画像から新たに生成されたＳＬＯ画像への更新が行われる。 An even-numbered field is set using the offset amount obtained based on the reason described above, and in step S207, the control unit 10 two-dimensionally scans the illumination light in the even-numbered field. After obtaining the data by the two-dimensional scanning, in step S208, the image generation unit 11 generates an even-numbered field SLO image from the two-dimensional scanning data acquired in step S207. The generated SLO image is displayed on the display unit 102, or the displayed SLO image is updated to the newly generated SLO image.

眼底観察におけるアライメント時にはＳＬＯの動画像が取得され、撮影時にはＳＬＯ静止画像が取得される。そのため、アライメント時のＳＬＯ動画像では、ステップＳ２０１からステップＳ２０８までの操作を繰り返せばよい。また、撮影時のＳＬＯ静止画像については、ステップＳ２０５とＳ２０８とにおいて各々得られた奇数フィールドおよび偶数フィールドのデータから１つの静止画像を生成すればよい。 A moving image of SLO is acquired at the time of alignment in fundus observation, and a still image of SLO is acquired at the time of photographing. Therefore, in the SLO moving image at the time of alignment, the operations from step S201 to step S208 may be repeated. Further, as for the SLO still image at the time of shooting, one still image may be generated from the data of the odd field and the even field obtained in steps S205 and S208, respectively.

以上説明したように、奇数フィールドに対し偶数フィールドの走査位置を所定量である間隔Ｄ１でずらすことによって、ＳＬＯ画像を副走査方向の画素上で見ていった場合に、主走査方向の中心でＳＬＯ画像が歪まないようにすることができる。眼科では、被検眼の取得したい疾病部等の注目領域を画像の中心に位置させることが多いため、これにより診断等に好適なＳＬＯ画像が提供できる。また、照明光の走査において、往復走査と飛び越し走査で画像取得を行っているので、これらの組み合わせによる高解像度化および高フレームレート化が同時に達成できる。 As described above, when the SLO image is viewed on the pixels in the sub-scanning direction by shifting the scanning position of the even-numbered fields with respect to the odd-numbered fields at a predetermined interval D1, at the center of the main scanning direction. The SLO image can be prevented from being distorted. In ophthalmology, the area of interest such as the diseased part to be acquired by the eye to be inspected is often located at the center of the image, so that an SLO image suitable for diagnosis or the like can be provided. Further, in the scanning of the illumination light, since the image acquisition is performed by the reciprocating scanning and the jump scanning, it is possible to simultaneously achieve high resolution and high frame rate by combining these.

ここで、上述した所定量のオフセットによる偶数フィールド設定に関しては、飛び越し走査で往復走査する場合にのみ有効であり、飛び越し走査で片側走査する場合には効果がない。図９に、飛び越し走査で片側走査する場合の測定光の走査軌跡とサンプリングポイントを示す。この場合、オフセット量としての間隔Ｄ１１とすることで、ＳＬＯ画の副走査方向の歪は生じない。しかし、得られる画素データが少なくなり、高解像度化が難しくなる。なお、ここで片側走査とは往路と復路のどちらか一方でのみサンプリングを行うことを意味する。 Here, the above-mentioned even-numbered field setting with a predetermined amount of offset is effective only in the case of reciprocating scanning in the jump scanning, and has no effect in the case of one-sided scanning in the skip scanning. FIG. 9 shows a scanning locus and a sampling point of the measurement light in the case of one-sided scanning by jump scanning. In this case, by setting the interval D11 as the offset amount, distortion in the sub-scanning direction of the SLO image does not occur. However, the amount of pixel data that can be obtained decreases, making it difficult to increase the resolution. Here, one-sided scanning means that sampling is performed only on either the outward path or the return path.

また、上述した実施例では奇数フィールドに対し偶数フィールドを図７上で紙面下側にオフセットさせたが、紙面上側にオフセットさせても同様の効果を得ることができる。また、フィールドの数は奇数偶数の２つに限定されず、上述したように更なるフィールドを有してもよい。以上より、本実施例の奇数フィールドは第一フィールドとして、偶数フィールドは第一フィールドとは異なる第二フィールドとして定義する。 Further, in the above-described embodiment, the even-numbered fields are offset to the lower side of the paper surface with respect to the odd-numbered fields, but the same effect can be obtained by offsetting the even-numbered fields to the upper side of the paper surface. Further, the number of fields is not limited to two odd and even numbers, and may have additional fields as described above. From the above, the odd field of this embodiment is defined as the first field, and the even field is defined as the second field different from the first field.

なお、上述した実施例では、レゾナントスキャナ３とガルバノスキャナ２とを照明光走査に用いるＳＬＯ装置を例として述べている。当該例では、レゾナントスキャナ３は、照明光を被検眼における主走査方向で往復走査する第一の走査部材を構成する。また、ガルバノスキャナ２は、被検眼において主走査方向とは交差する副走査方向で照明光を等速で走査する第二の走査部材を構成している。主走査方向と副走査方向とは実施例のように直交することが好ましいが、一定の角度により交差するように設定されていればそれでもよい。制御部１０は、走査制御手段として上述した両スキャナにより、照明光を被検眼におけるデータ取得範囲における奇数フィールドで２次元走査させ、且つデータ取得範囲における該奇数フィールドとは異なる偶数フィールドで２次元走査させる。フォトダイオード７および該フォトダイオードに上述したタイミングにて輝度等のデータを取得させる制御部１０のモジュールはデータ取得手段を構成する。画像生成部１１は、画像生成手段として、奇数フィールドおよび偶数フィールドにおける照明光の被検眼からの戻り光に基づいて取得したデータに基づいてＳＬＯ画像を生成する。 In the above-described embodiment, an SLO apparatus using the resonant scanner 3 and the galvano scanner 2 for illumination light scanning is described as an example. In this example, the resonant scanner 3 constitutes a first scanning member that reciprocally scans the illumination light in the main scanning direction in the eye to be inspected. Further, the galvano scanner 2 constitutes a second scanning member that scans the illumination light at a constant velocity in the sub-scanning direction that intersects the main scanning direction in the eye to be inspected. The main scanning direction and the sub-scanning direction are preferably orthogonal to each other as in the embodiment, but may be used as long as they are set to intersect at a certain angle. The control unit 10 causes the illumination light to be two-dimensionally scanned in an odd-numbered field in the data acquisition range in the eye to be inspected by both scanners described above as scanning control means, and two-dimensionally scans in an even-numbered field different from the odd-numbered field in the data acquisition range. Let me. The photodiode 7 and the module of the control unit 10 that causes the photodiode to acquire data such as brightness at the timing described above constitute a data acquisition means. The image generation unit 11 generates an SLO image as an image generation means based on the data acquired based on the return light of the illumination light in the odd-numbered field and the even-numbered field from the eye to be inspected.

制御部１０は、上述したように、ガルバノスキャナ２による照明光の等速直線走査時の走査速度と周期検出手段の出力に基づいて、オフセット量としての所定量を求める。更に、該制御部１０は、周期検出手段の出力と振幅検出手段の出力に基づいて、奇数フィールドおよび偶数フィールドから取得するデータが副走査方向に直線上に並ぶようにデータを取得するタイミングを定める。 As described above, the control unit 10 obtains a predetermined amount as an offset amount based on the scanning speed at the time of constant velocity linear scanning of the illumination light by the galvano scanner 2 and the output of the period detecting means. Further, the control unit 10 determines the timing of acquiring the data so that the data acquired from the odd-numbered field and the even-numbered field are arranged in a straight line in the sub-scanning direction based on the output of the periodic detection means and the output of the amplitude detection means. ..

なお上述した実施例では主走査方向にレゾナントスキャナを用いる例を示したが、照明光走査時に加減速が発生するガルバノスキャナ、音響光学素子（Ａｃｏｕｓｔｏ−ＯｐｔｉｃＤｅｆｌｅｃｔｏｒ）やＭＥＭＳ（ＭｉｃｒｏＥｌｅｃｔｒｏＭｅｃｈａｎｉｃａｌＳｙｓｔｅｍ）スキャナを主走査方向に用いた場合でも本発明は適用できる。また、上述した実施例では主走査方向で加減速が生じる走査手段により照明光の走査が行われ、副走査方向が等速直線運動を行う走査手段により照明光の走査が行われていた。しかし、これら走査手段を入れ替え、主走査方向が等速直線運動での走査、副走査方向が加減速を生じさせる走査となる構成でも同様の効果を得ることができる。 In the above-described embodiment, an example in which a resonant scanner is used in the main scanning direction is shown, but a galvano scanner in which acceleration / deceleration occurs during illumination light scanning, an acoustic optical element (Acousto-Optic Defector), or a MEMS (Micro Electro Mechanical System) scanner The present invention can be applied even when the above is used in the main scanning direction. Further, in the above-described embodiment, the illumination light is scanned by the scanning means in which acceleration / deceleration occurs in the main scanning direction, and the illumination light is scanned by the scanning means in which the sub-scanning direction performs a constant velocity linear motion. However, the same effect can be obtained even in a configuration in which these scanning means are replaced so that the main scanning direction is scanning in a constant velocity linear motion and the sub scanning direction is scanning in which acceleration / deceleration occurs.

（その他の実施例）
なお、上述した実施例では、本発明をＳＬＯ装置に用いた場合について述べているが、本発明の適用対象となる眼科装置はこれに限られない。上述したように、ＡＯ−ＳＬＯ装置や、ＯＣＴ（光干渉断層画像撮像）装置等、照明光（測定光）を被検眼で走査しデータを取得して画像生成を行う種々の眼科撮影装置においても用いることが可能である。 (Other Examples)
In the above-described embodiment, the case where the present invention is used for the SLO device is described, but the ophthalmic device to which the present invention is applied is not limited to this. As described above, also in various ophthalmologic imaging devices such as AO-SLO devices and OCT (optical coherence tomography) devices that scan illumination light (measurement light) with the eye to be inspected to acquire data and generate images. It can be used.

また、上述した実施例では、被検体が眼の場合について述べているが、眼以外の皮膚や臓器等の被検体に本発明を適用することも可能である。この場合、本発明は眼科撮影装置以外の、例えば内視鏡等の医療機器としての態様を有する。従って、本発明は眼科撮影装置に例示される検査装置として把握され、被検眼は被検体の一態様として把握されることが好ましい。 Further, in the above-described examples, the case where the subject is an eye is described, but it is also possible to apply the present invention to a subject such as skin or an organ other than the eye. In this case, the present invention has an aspect as a medical device other than an ophthalmologic imaging apparatus, for example, an endoscope. Therefore, it is preferable that the present invention is grasped as an inspection apparatus exemplified by an ophthalmologic imaging apparatus, and the eye to be inspected is grasped as one aspect of a subject.

また、本発明は、以下のように装置を構成することによっても達成できる。即ち、上述した実施例の機能を実現するソフトウェアのプログラムコード（コンピュータプログラム）を記録した記録媒体（又は記憶媒体）をシステム或いは装置に供給することとしてもよい。また、該記録媒体の態様だけでなく、コンピュータの読み取り可能な記録媒体としてもよい。そして、そのシステム或いは装置のコンピュータ（又はＣＰＵやＭＰＵ）が記録媒体に格納されたプログラムコードを読み出し実行する。この場合、該記録媒体から読み出されたプログラムコード自体が上述した実施例の機能を実現することになり、そのプログラムコードを記録した記録媒体は本発明を構成することになる。また、該実施例は、１以上の機能を実現する回路（例えば、ＡＳＩＣ）によっても実現可能である。 The present invention can also be achieved by configuring the device as follows. That is, a recording medium (or storage medium) on which the program code (computer program) of the software that realizes the functions of the above-described embodiment is recorded may be supplied to the system or the device. Further, not only the mode of the recording medium but also a computer-readable recording medium may be used. Then, the computer (or CPU or MPU) of the system or device reads and executes the program code stored in the recording medium. In this case, the program code itself read from the recording medium realizes the functions of the above-described embodiment, and the recording medium on which the program code is recorded constitutes the present invention. The embodiment can also be realized by a circuit (for example, an ASIC) that realizes one or more functions.

１００：データ取得部
１０１：システム部
１０２：表示部
Ｅｒ：眼底
２：ガルバノスキャナ
３：レゾナントスキャナ
７：フォトダイオード
８：ＳＬＯ光源
９：補正用フォトダイオード
１０：制御部
１１：画像生成部 100: Data acquisition unit 101: System unit 102: Display unit Er: Fundus 2: Galvano scanner 3: Resonant scanner 7: Photodiode 8: SLO light source 9: Correction photodiode 10: Control unit 11: Image generation unit

Claims

照明光を被検体における主走査方向で往復走査する第一の走査部材と、
前記被検体において前記主走査方向とは交差する副走査方向で前記照明光を等速で走査する第二の走査部材と、
前記第一の走査部材と前記第二の走査部材とにより、前記照明光を前記被検体のデータ取得範囲における第一フィールドで２次元走査させ、前記データ取得範囲における前記第一フィールドとは異なる第二フィールドで２次元走査させる走査制御手段と、
前記第一フィールドおよび前記第二フィールドにおける前記照明光の前記被検体からの戻り光に基づいて各々の前記被検体のデータを取得するデータ取得手段と、を備え、
前記走査制御手段は、前記第一フィールドの前記２次元走査の走査開始位置を前記副走査方向に所定量ずらして前記第二フィールドを設定し、
前記照明光の２次元走査において、前記データ取得範囲における前記主走査方向の走査中心に近づくにつれ前記第一フィールドと前記第二フィールドの前記副走査方向の間隔が等間隔に近づくように、前記所定量を定めることを特徴とする検査装置。 A first scanning member that reciprocates the illumination light in the main scanning direction of the subject,
A second scanning member that scans the illumination light at a constant velocity in a sub-scanning direction that intersects the main scanning direction in the subject.
The first scanning member and the second scanning member cause the illumination light to be two-dimensionally scanned in the first field in the data acquisition range of the subject, which is different from the first field in the data acquisition range. Scanning control means for two-dimensional scanning in two fields,
A data acquisition means for acquiring data of each subject based on the return light of the illumination light in the first field and the second field from the subject is provided.
The scanning control means sets the second field by shifting the scanning start position of the two-dimensional scanning of the first field by a predetermined amount in the sub-scanning direction.
In the two-dimensional scanning of the illumination light, the distance between the first field and the second field in the sub-scanning direction becomes closer to the same distance as the scanning center in the main scanning direction in the data acquisition range is approached. An inspection device characterized in determining a fixed quantity.

前記走査制御手段は、前記データ取得範囲における前記主走査方向の中心において前記副走査方向に並ぶ、少なくとも前記第一フィールドの二つのデータ取得位置と前記第二フィールドの二つのデータ取得位置との各々が等間隔で交互に配置されるように前記所定量を定めることを特徴とする請求項１に記載の検査装置。 Before Symbol scan control means, before SL in the main scanning direction of the center of definitive data acquisition range aligned in the sub-scanning direction, two data acquisition of at least the said second field and two data acquisition position of the first field The inspection device according to claim 1 , wherein the predetermined amount is determined so that the positions and the positions are alternately arranged at equal intervals.

前記第一の走査部材は、前記照明光を反射するミラーと、前記ミラーにより前記照明光を反射して前記データ取得範囲で走査する際に、走査速度に加減速を生じさせるように前記ミラーを駆動する部材とからなることを特徴とする請求項１又は２に記載の検査装置。 The first scanning member includes a mirror that reflects the illumination light, and the mirror so as to cause acceleration / deceleration in the scanning speed when the mirror reflects the illumination light and scans in the data acquisition range. The inspection device according to claim 1 or 2 , wherein the inspection device comprises a driving member.

前記第一の走査部材の振動の周期を検出する周期検出手段を更に備え、
前記走査制御手段は、前記第二の走査部材による前記照明光の走査速度と前記周期検出手段の出力に基づいて前記所定量を求めることを特徴とする請求項１乃至３の何れか一項に記載の検査装置。 Further provided with a cycle detecting means for detecting the vibration cycle of the first scanning member,
The invention according to any one of claims 1 to 3 , wherein the scanning control means obtains the predetermined amount based on the scanning speed of the illumination light by the second scanning member and the output of the period detecting means. The inspection device described.

前記第一の走査部材の振動の振幅を検出する振幅検出手段を更に備え、
前記周期検出手段の出力と前記振幅検出手段の出力に基づいて、前記データ取得手段は、前記データを取得する前記第一フィールドおよび前記第二フィールドにおけるデータ取得位置が前記副走査方向に延びる直線上に並ぶように前記データを取得するタイミングを定めることを特徴とする請求項４に記載の検査装置。 Further provided with an amplitude detecting means for detecting the amplitude of vibration of the first scanning member,
Based on the output of the period detection means and the output of the amplitude detection means, the data acquisition means is on a straight line in which the data acquisition positions in the first field and the second field for acquiring the data extend in the sub-scanning direction. The inspection device according to claim 4 , wherein the timing for acquiring the data is determined so as to line up with.

前記第一の走査部材はレゾナントスキャナであることを特徴とする請求項１乃至５の何れか一項に記載の検査装置。 The inspection device according to any one of claims 1 to 5 , wherein the first scanning member is a resonant scanner.

照明光を被検体における主走査方向で往復走査する第一の走査部材と、
前記被検体において前記主走査方向とは交差する副走査方向で前記照明光を等速で走査する第二の走査部材と、
前記第一の走査部材と前記第二の走査部材とにより、前記照明光を前記被検体のデータ取得範囲における第一フィールドで２次元走査させ、前記データ取得範囲における前記第一フィールドとは異なる第二フィールドで２次元走査させる走査制御手段と、を備えた検査装置の制御方法であって、
前記第一フィールドの前記２次元走査の走査開始位置を前記副走査方向に所定量ずらして前記第二フィールドを設定する工程と、
前記第一フィールドおよび前記第二フィールドにおける前記照明光の前記被検体からの戻り光に基づいて各々の前記被検体のデータを取得する工程と、を含み、
前記所定量は、前記照明光の２次元走査において、前記データ取得範囲における前記主走査方向の走査中心に近づくにつれ前記第一フィールドと前記第二フィールドの前記副走査方向の間隔が等間隔に近づくように、定められることを特徴とする検査装置の制御方法。 A first scanning member that reciprocates the illumination light in the main scanning direction of the subject,
A second scanning member that scans the illumination light at a constant velocity in a sub-scanning direction that intersects the main scanning direction in the subject.
The first scanning member and the second scanning member cause the illumination light to be two-dimensionally scanned in the first field in the data acquisition range of the subject, which is different from the first field in the data acquisition range. It is a control method of an inspection device provided with a scanning control means for two-dimensional scanning in two fields.
A step of setting the second field by shifting the scanning start position of the two-dimensional scanning of the first field by a predetermined amount in the sub-scanning direction.
Including a step of acquiring data of each subject based on the return light of the illumination light from the subject in the first field and the second field.
In the two-dimensional scanning of the illumination light, the predetermined amount approaches the scanning center in the main scanning direction in the data acquisition range, and the distance between the first field and the second field in the sub scanning direction approaches equal intervals. A method of controlling an inspection device, characterized in that it is defined.

請求項７に記載の検査装置の制御方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。 A program comprising causing a computer to execute each step of the control method of the inspection apparatus according to claim 7 .