JP6725988B2 - 厚み測定装置および厚み測定方法 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 35
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 47
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 25
- 239000000835 fiber Substances 0.000 claims description 16
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims description 14
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 12
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims description 2
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 196
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 57
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 30
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 30
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 17
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 8
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 8
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 7
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 6
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 6
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 6
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 4
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 4
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 3
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 238000011326 mechanical measurement Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000012925 reference material Substances 0.000 description 1
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 1
Images
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
- G01S17/02—Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
- G01S17/06—Systems determining position data of a target
- G01S17/08—Systems determining position data of a target for measuring distance only
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B13/00—Measuring arrangements characterised by the use of fluids
- G01B13/02—Measuring arrangements characterised by the use of fluids for measuring length, width or thickness
- G01B13/06—Measuring arrangements characterised by the use of fluids for measuring length, width or thickness for measuring thickness
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
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- G01S7/00—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
- G01S7/48—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
- G01S7/481—Constructional features, e.g. arrangements of optical elements
- G01S7/4814—Constructional features, e.g. arrangements of optical elements of transmitters alone
- G01S7/4815—Constructional features, e.g. arrangements of optical elements of transmitters alone using multiple transmitters
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- G01S7/00—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
- G01S7/48—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
- G01S7/481—Constructional features, e.g. arrangements of optical elements
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Description
図6は、本発明の実施の形態に係る厚み測定装置を用いた測定方法の手順の一例を定めたフローチャートである。
3 分光部
4 光源
5 光学系
6 演算部
31,32,33,34 光ファイバ
35 ファイバジャンクション
36 結合部
41 分光器
42 データ生成部
51,52 レンズ系
55,56,57,58 レンズ
61,62 透過基板
65,66,67,68 表面
70 参照軸
71,72 投光光線束
73,74,75,76 反射光線束
77,78 端面
81,82 表面
91 プローブ
92 ステージ
93 試料
94 表面
101 厚み測定装置
151 試料
Claims (7)
- 第1の参照面を有する第1の透過部材と、
前記第1の透過部材と対向して設けられ、第2の参照面を有する第2の透過部材と、
光源からの光を前記第1の参照面を介して前記第1の透過部材および前記第2の透過部材の間に位置する試料へ照射するための第1の投光部と、
前記第1の参照面からの反射光を受光し、かつ前記試料からの反射光を前記第1の参照面を介して受光するための第1の受光部と、
光源からの光を前記第2の参照面を介して前記試料へ照射するための第2の投光部と、
前記第2の参照面からの反射光を受光し、かつ前記試料からの反射光を前記第2の参照面を介して受光するための第2の受光部と、
前記第1の受光部によって受光された反射光、および前記第2の受光部によって受光された反射光を分光するための分光部とを備え、
前記第1の投光部は、光源からの光を、前記試料の表面であって前記第1の参照面に対向する表面付近に集光するためのレンズを含み、
前記第2の投光部は、光源からの光を、前記試料の表面であって前記第2の参照面に対向する表面付近に集光するためのレンズを含み、
前記分光部による分光結果に基づいて、前記第1の参照面と前記試料との間の距離である第1距離、および前記第2の参照面と前記試料との間の距離である第2距離が算出され、
前記第1の参照面と前記第2の参照面との間の距離から前記第1距離および前記第2距離を差し引くことにより前記試料の厚みが算出される、厚み測定装置。 - 前記分光部は、1つの分光器を含み、
前記厚み測定装置は、さらに、
前記第1の受光部によって受光された光、および前記第2の受光部によって受光された光を前記分光器へ導くための光学系を備える、請求項1に記載の厚み測定装置。 - 厚み測定装置であって、
第1の参照面を有する第1の透過部材と、
前記第1の透過部材と対向して設けられ、第2の参照面を有する第2の透過部材と、
光源からの光を前記第1の参照面を介して前記第1の透過部材および前記第2の透過部材の間に位置する試料へ照射するための第1の投光部と、
前記第1の参照面からの反射光を受光し、かつ前記試料からの反射光を前記第1の参照面を介して受光するための第1の受光部と、
光源からの光を前記第2の参照面を介して前記試料へ照射するための第2の投光部と、
前記第2の参照面からの反射光を受光し、かつ前記試料からの反射光を前記第2の参照面を介して受光するための第2の受光部と、
前記第1の受光部によって受光された反射光、および前記第2の受光部によって受光された反射光を分光するための分光部とを備え、
前記分光部は、1つの分光器を含み、
前記厚み測定装置は、さらに、
前記第1の受光部によって受光された光、および前記第2の受光部によって受光された光を混合して1本の光ファイバを介して前記分光器へ導くための光学系を備え、
前記分光部による分光結果に基づいて、前記第1の参照面と前記試料との間の距離である第1距離、および前記第2の参照面と前記試料との間の距離である第2距離が算出され、
前記第1の参照面と前記第2の参照面との間の距離から前記第1距離および前記第2距離を差し引くことにより前記試料の厚みが算出される、厚み測定装置。 - 前記第1の投光部から前記第1の参照面を介して前記試料へ照射される光の光線束の軸と、前記第2の投光部から前記第2の参照面を介して前記試料へ照射される光の光線束の軸と、前記第1の受光部が受光する前記第1の参照面からの反射光の光線束の軸および前記試料からの反射光の光線束の軸と、前記第2の受光部が受光する前記第2の参照面からの反射光の光線束の軸および前記試料からの反射光の光線束の軸とが互いに沿っている、請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の厚み測定装置。
- 第1の参照面を有する第1の透過部材と、
前記第1の透過部材と対向して設けられ、第2の参照面を有する第2の透過部材と、
光源からの光を前記第1の参照面を介して前記第1の透過部材および前記第2の透過部材の間に位置する試料へ照射するための第1の投光部と、
前記第1の参照面からの反射光を受光し、かつ前記試料からの反射光を前記第1の参照面を介して受光するための第1の受光部と、
光源からの光を前記第2の参照面を介して前記試料へ照射するための第2の投光部と、
前記第2の参照面からの反射光を受光し、かつ前記試料からの反射光を前記第2の参照面を介して受光するための第2の受光部と、
前記第1の受光部によって受光された反射光、および前記第2の受光部によって受光された反射光を分光する分光部とを備える厚み測定装置を用いる厚み測定方法であって、
前記分光部による分光結果に基づいて、前記第1の参照面と前記試料との間の距離である第1距離、および前記第2の参照面と前記試料との間の距離である第2距離を算出するステップと、
前記第1の参照面と前記第2の参照面との間の距離である面間距離から前記第1距離および前記第2距離を差し引くことにより前記試料の厚みを算出するステップとを含み、
前記第1距離および前記第2距離を算出するステップにおいては、前記第1の受光部によって受光された、前記第1の投光部におけるレンズによって前記試料の表面であって前記第1の参照面に対向する表面付近に集光された光の前記試料からの反射光、および前記第2の受光部によって受光された、前記第2の投光部におけるレンズによって前記試料の表面であって前記第2の参照面に対向する表面付近に集光された光の前記試料からの反射光を含む光を分光した結果に基づいて、前記第1距離および前記第2距離を算出する、厚み測定方法。 - 第1の参照面を有する第1の透過部材と、
前記第1の透過部材と対向して設けられ、第2の参照面を有する第2の透過部材と、
光源からの光を前記第1の参照面を介して前記第1の透過部材および前記第2の透過部材の間に位置する試料へ照射するための第1の投光部と、
前記第1の参照面からの反射光を受光し、かつ前記試料からの反射光を前記第1の参照面を介して受光するための第1の受光部と、
光源からの光を前記第2の参照面を介して前記試料へ照射するための第2の投光部と、
前記第2の参照面からの反射光を受光し、かつ前記試料からの反射光を前記第2の参照面を介して受光するための第2の受光部と、
前記第1の受光部によって受光された反射光、および前記第2の受光部によって受光された反射光を分光する分光部とを備える厚み測定装置を用いる厚み測定方法であって、
前記分光部による分光結果に基づいて、前記第1の参照面と前記試料との間の距離である第1距離、および前記第2の参照面と前記試料との間の距離である第2距離を算出するステップと、
前記第1の参照面と前記第2の参照面との間の距離である面間距離から前記第1距離および前記第2距離を差し引くことにより前記試料の厚みを算出するステップとを含み、
前記第1距離および前記第2距離を算出するステップにおいては、前記第1の受光部によって受光された反射光、および前記第2の受光部によって受光された反射光を混合して1本の光ファイバを介して前記分光部における1つの分光器へ伝送された各前記反射光の分光結果に基づいて、前記第1距離および前記第2距離を算出する、厚み測定方法。 - 前記試料が設けられていない状態において、光源からの光が前記第1の投光部から前記第1の参照面を介して前記第2の参照面へ照射され、前記第1の参照面からの反射光が前記第1の受光部によって受光され、かつ前記第2の参照面からの反射光が前記第1の参照面を介して前記第1の受光部によって受光され、
前記厚み測定方法は、さらに、
前記試料が設けられていない状態において前記第1の受光部によって受光された反射光の前記分光部による分光結果に基づいて前記面間距離を算出するステップを含む、請求項5または請求項6に記載の厚み測定方法。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016012152A JP6725988B2 (ja) | 2016-01-26 | 2016-01-26 | 厚み測定装置および厚み測定方法 |
TW105141545A TWI733722B (zh) | 2016-01-26 | 2016-12-15 | 厚度測定裝置及厚度測定方法 |
KR1020160173777A KR102229048B1 (ko) | 2016-01-26 | 2016-12-19 | 두께 측정 장치 및 두께 측정 방법 |
CN201710058139.5A CN107037437B (zh) | 2016-01-26 | 2017-01-23 | 厚度测量装置及厚度测量方法 |
CN202210019117.9A CN114325734A (zh) | 2016-01-26 | 2017-01-23 | 厚度测量装置及厚度测量方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016012152A JP6725988B2 (ja) | 2016-01-26 | 2016-01-26 | 厚み測定装置および厚み測定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017133869A JP2017133869A (ja) | 2017-08-03 |
JP6725988B2 true JP6725988B2 (ja) | 2020-07-22 |
Family
ID=59504965
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016012152A Active JP6725988B2 (ja) | 2016-01-26 | 2016-01-26 | 厚み測定装置および厚み測定方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6725988B2 (ja) |
KR (1) | KR102229048B1 (ja) |
CN (2) | CN107037437B (ja) |
TW (1) | TWI733722B (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6402272B1 (ja) | 2018-05-18 | 2018-10-10 | 大塚電子株式会社 | 厚み測定装置及び厚み測定方法 |
JP6402273B1 (ja) * | 2018-05-18 | 2018-10-10 | 大塚電子株式会社 | 光学測定装置及び光学測定方法 |
CN108955549A (zh) * | 2018-09-11 | 2018-12-07 | 深圳立仪科技有限公司 | 一种透光材料双面测厚装置 |
CN113251897B (zh) * | 2021-05-17 | 2022-11-11 | 东北大学秦皇岛分校 | 一种基于白光干涉的量块测量装置及方法 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6847458B2 (en) * | 2003-03-20 | 2005-01-25 | Phase Shift Technology, Inc. | Method and apparatus for measuring the shape and thickness variation of polished opaque plates |
JP5060678B2 (ja) * | 2008-05-08 | 2012-10-31 | 株式会社キーエンス | 光学式変位計 |
JP5124424B2 (ja) | 2008-11-17 | 2013-01-23 | 株式会社キーエンス | 光学式変位計 |
JP5198418B2 (ja) * | 2009-01-28 | 2013-05-15 | 株式会社神戸製鋼所 | 形状測定装置,形状測定方法 |
JP2011095685A (ja) * | 2009-11-02 | 2011-05-12 | Sony Corp | 顕微鏡システム及び顕微鏡システムの制御方法 |
KR20130106178A (ko) * | 2012-03-19 | 2013-09-27 | (주)파이버프로 | 광학적 방법을 이용한 두께 및 형상 측정 장치 및 측정 방법 |
JP6044315B2 (ja) | 2012-12-12 | 2016-12-14 | オムロン株式会社 | 変位計測方法および変位計測装置 |
JP6130723B2 (ja) * | 2013-05-01 | 2017-05-17 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置、情報処理装置の制御方法、及びプログラム |
JP6247752B2 (ja) * | 2013-06-17 | 2017-12-13 | プレシテック オプトロニック ゲーエムベーハーPrecitec Optronik GmbH | 距離差を取得するための光学測定装置および光学測定方法 |
-
2016
- 2016-01-26 JP JP2016012152A patent/JP6725988B2/ja active Active
- 2016-12-15 TW TW105141545A patent/TWI733722B/zh active
- 2016-12-19 KR KR1020160173777A patent/KR102229048B1/ko active IP Right Grant
-
2017
- 2017-01-23 CN CN201710058139.5A patent/CN107037437B/zh active Active
- 2017-01-23 CN CN202210019117.9A patent/CN114325734A/zh active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20170089403A (ko) | 2017-08-03 |
KR102229048B1 (ko) | 2021-03-16 |
TWI733722B (zh) | 2021-07-21 |
CN107037437B (zh) | 2022-01-18 |
TW201727188A (zh) | 2017-08-01 |
JP2017133869A (ja) | 2017-08-03 |
CN107037437A (zh) | 2017-08-11 |
CN114325734A (zh) | 2022-04-12 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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