JP6674828B2 - Bending machine - Google Patents
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Description
本発明は、位置決めされたワークを折り曲げる曲げ加工機に関する。 The present invention relates to a bending machine bending the position-decided fit the workpiece.
曲げ加工機に併設され、作業者が、把持した板状のワークを曲げ加工の位置決めのために突き当てるワーク突き当て装置が知られている。
ワーク突き当て装置には、ワークが突き当てられたことを検出するセンサ(以下、突き当てセンサとも称する)を備えたものがある。
そして、突き当てセンサとしてポテンショメータを備えたワーク突き当て装置が、特許文献1に記載されている。
曲げ加工機は、突き当てセンサによってワークが突き当てられたことを検出してから、曲げ加工を実行するようになっている。
2. Description of the Related Art There is known a work abutting device that is attached to a bending machine and allows an operator to abut a gripped plate-shaped workpiece for positioning in bending.
Some workpiece abutting devices include a sensor (hereinafter, also referred to as an abutting sensor) for detecting that a workpiece has been abutted.
Patent Document 1 discloses a work butting device having a potentiometer as a butting sensor.
The bending machine is configured to execute the bending process after detecting that the workpiece is hit by the butting sensor.
従来のワーク突き当て装置に備えられる突き当てセンサには、特許文献1に記載されたポテンショメータの他にもリミットスイッチなどを利用したものがある。
いずれのセンサも、ワークが突き当てられたことによって動く可動部を有する。
As a hit sensor provided in a conventional work hitting device, there is a sensor using a limit switch or the like in addition to the potentiometer described in Patent Document 1.
Each of the sensors has a movable part that moves when the workpiece is hit.
可動部を有して突き当てセンサとして用いられるセンサは、精密に組み立てられているため、使用期間が長期化するほど可動部の動作不良を起こす可能性が高くなる。また、ワークの加工に伴いわずかではあるが生じる金属粉等の塵埃が可動部が摺動する部分に蓄積付着し、かじりなどによる動作不良を招く虞もある。 Since the sensor having the movable portion and used as the butting sensor is precisely assembled, the longer the use period is, the higher the possibility that the movable portion malfunctions is increased. In addition, a small amount of dust, such as metal powder, generated during processing of the work may accumulate and adhere to a portion where the movable portion slides, which may cause a malfunction due to galling or the like.
突き当てセンサの可動部に動作不良が生じると、ワークが所定の位置に位置決めされたか否かが判定できず曲げ加工を行えなくなる、という不具合が生じる。 If a malfunction occurs in the movable portion of the abutting sensor, it is impossible to determine whether or not the work has been positioned at a predetermined position, and a bending process cannot be performed.
そこで、本発明が解決しようとする課題は、ワークの突き当て検出動作不良が生じにくく曲げ加工を良好に実行できる曲げ加工機を提供することにある。 Therefore, an object of the present invention is to provide is to provide a bending machine that can satisfactorily perform the abutting detection malfunction bending hardly occurs machining of the workpiece.
上記の課題を解決するために、本発明は次の構成を有する。
1) 位置決めされたワークを折り曲げる曲げ加工機であって、
前記ワークが前記曲げ加工機の前後方向の位置決めのために突き当てられる突き当て面を有し導電性を有する材料で形成された検出部,金属により形成されたベース部,及び前記検出部と前記ベース部との間に介在し前記検出部を前記ベース部に対して電気的に絶縁する絶縁スペーサを有する突き当て部と、一端側が前記検出部に電気的に接続された接続線と、からなる複数の組と、前記複数の組それぞれの前記接続線の他端部が接続され、前記複数の組それぞれの、前記検出部及び前記接続線の静電容量を検出する静電容量検出部と、を有するワーク突き当て装置と、
前記静電容量検出部で検出した前記複数の組それぞれの前記静電容量に応じた電圧を設定する電圧設定部と、
前記曲げ加工機の動作を制御する制御部と、
を備え、
前記制御部は、前記電圧設定部で設定した前記複数の組それぞれの前記電圧に基づいて、前記複数の組それぞれの前記突き当て部に前記ワークが突き当てられたか否かを判定し、前記ワークが突き当てられたと判定した前記突き当て部が複数あった場合に、警告を出力することを特徴とする曲げ加工機である。
2) 前記複数の組における複数の前記突き当て部は、前記曲げ加工機の前後方向に離隔して階段状に位置していることを特徴とする1)に記載の曲げ加工機である。
In order to solve the above problems, the present invention has the following configuration.
1) A bending machine for bending a positioned work,
The detecting portion formed of a conductive material having abutted against abutment surface for the longitudinal positioning of the processing machine the workpiece the bend, the base portion made of a metal, and said detecting section from the abutment portion having an electrically insulating insulating spacer, and connecting lines is one end side is electrically connected to the detecting portion to the base portion of the front Symbol detection unit interposed between the base portion A plurality of sets, and the other end of the connection line of each of the plurality of sets is connected, and each of the plurality of sets, a capacitance detection unit that detects capacitance of the detection unit and the connection line. A work abutment device having:
A voltage setting unit that sets a voltage according to the capacitance of each of the plurality of sets detected by the capacitance detection unit,
A control unit for controlling the operation of the bending machine,
With
The control unit is configured to determine, based on the voltage of each of the plurality of sets set by the voltage setting unit, whether or not the work is abutted against the abutting unit of each of the plurality of sets, and A warning is output when a plurality of the abutting portions are determined to have been abutted .
2) The bending machine according to 1), wherein the plurality of abutting portions in the plurality of sets are positioned in a stepwise manner apart from each other in the front-rear direction of the bending machine .
本発明によれば、動作不良が生じにくく長期間使用できる、という効果が得られる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the effect that operation | movement failure hardly arises and it can be used for a long period of time is obtained.
本発明の実施の形態に係るワーク突き当て装置を、実施例である突き当て装置5により説明する。
図1は、突き当て装置5と、突き当て装置5を併設した曲げ加工機51と、を説明するための側面図である。各図において、上下前後の方向は、便宜的に図1に矢印で規定する。従って、左右方向は図1の紙面直交方向であり、左方が紙面表方、右方が紙面裏方である。
A work abutment device according to an embodiment of the present invention will be described using an
FIG. 1 is a side view for explaining the
曲げ加工機51は、下降式のプレスブレーキである。 曲げ加工機51は、下部テーブル1と、下部テーブル1の左右端にそれぞれ連結された左側板(不図示)及び右側板2と、左側板及び右側板2の上部に設けられ、油圧等を駆動源とした駆動部KDにより下部テーブル1に対して離接するよう昇降する上部テーブル3と、を備えている。
The
下部テーブル1は、上面にダイホルダ1aを有する。
ダイホルダ1aには、ワークWに対しパンチP(後述)と協働で曲げ加工を行うダイDが着脱自在に取り付けられている。
The lower table 1 has a
A die D that performs bending work on the work W in cooperation with a punch P (described later) is detachably attached to the die
上部テーブル3は、下面にパンチホルダ3aを有する。
パンチホルダ3aには、ワークWに対しダイDと協働で曲げ加工を行うパンチPが着脱自在に取り付けられている。
The upper table 3 has a
A punch P for bending a work W in cooperation with a die D is detachably attached to the
曲げ加工機51は、下部テーブル1のダイDの後方側に配置され、左右方向に離隔して配置された例えば二つの突き当て装置5,5を備えている。
作業者Sは、板状のワークWに対して曲げ加工を行う場合に、ワークWの前縁部分を把持し、後部側を下部テーブル1と上部テーブル3との間に進入させる。そして、曲げ加工の位置決めとしてワークWの後端部を突き当て装置5に突き当てる。
The
When performing a bending process on the plate-shaped work W, the worker S grasps the front edge portion of the work W and enters the rear side between the lower table 1 and the upper table 3. Then, the rear end of the work W is abutted against the
突き当て装置5には、ワークが突き当てられたことを検出する突き当てセンサ装置6における検出部6aが備えられている。
突き当てセンサ装置6は、検出部6aと検出本体部6bとを有する。検出本体部6bは、この例では、別の場所(NC装置7)に備えられている。
突き当て装置5と検出本体部6bとを含み、突き当てシステムSYが構成される。突き当てセンサ装置6の詳細は後述する。
The
The
A butting system SY is configured including the
曲げ加工機51の動作は、制御部SG及び記憶部MRなどを有するNC装置7により制御される。制御部SGは、中央処理装置(CPU)(図示せず)及び突き当て判定部SGaを有する。
NC装置7には、既述のように、突き当てセンサ装置6の検出本体部6bが配置されている。
検出本体部6bと検出部6aとの間は、接続線6cによって電気的に接続されている。
The operation of the
As described above, the detection
The detection
NC装置7には、外部から加工プログラムPGを含む加工情報JHが供給される。制御部SGは、加工情報JH及び検出本体部6bの出力信号(例えば電圧)に基づいて、駆動部KDの動作を制御する。
例えば、検出本体部6bは、突き当てセンサ装置6の検出部6aにワークWが突き当てられると、突き当てられていないときの出力信号(例えば電圧)の値と異なる値を出力する。制御部SGの突き当て判定部SGaは、この値の違いに基づいてワークWの突き当て有無を判定する。
Processing information JH including a processing program PG is externally supplied to the
For example, when the work W is hit against the
制御部SGは、検出本体部6bからの出力信号に基づき、ワークWが検出部6aに突き当てられ曲げ加工可能な位置に配置されたと判断したら、駆動部KDの動作により上部テーブル3を下降させて、パンチPとダイDとの協働によりワークWに曲げ加工を行う。
The control unit SG lowers the upper table 3 by the operation of the drive unit KD when it determines that the workpiece W is placed at a position where it can be bent and hit by the
次に、突き当てセンサ装置6の詳細について、図2〜図4を参照して説明する。
図2は、突き当て装置5の一部分であるワークWが突き当てられる部分の斜視図である。上下前後左右の各方向は、図1と対応づけられている。すなわち、図1に示されるように、ワークWは、作業者Sにより前方側から後方に向け検出部6aに対し押しつけられる(突き当てられる)。
Next, details of the
FIG. 2 is a perspective view of a portion where the workpiece W, which is a part of the
図2に示されるように、突き当て装置5は、ワークWが突き当てられる突き当て部TBとして、前後方向に離隔した位置にある四つの突き当て部TB1〜TB4を備えている。
具体的には、前方先端側から順に、先端段差突き当て部TB1、標準突き当て部TB2、受け台突き当て部TB3、ストッパ突き当て部TB4である。
以下、便宜的に、これらを単に突き当て部TB1〜TB4とも称する。
As shown in FIG. 2, the
Specifically, in order from the front distal end side, there are a step abutment portion TB1, a standard abutment portion TB2, a pedestal abutment portion TB3, and a stopper abutment portion TB4.
Hereinafter, these are also simply referred to as abutting portions TB1 to TB4.
突き当て部TB1,TB2は、金属で形成されたベース部5a1を共有している。
突き当て部TB3,TB4は、それぞれ金属で形成されたベース部5a3,5a4を有している。
突き当て部TB1〜TB4は、それぞれ突き当てセンサ装置6の検出部6a1〜6a4と絶縁スペーサ6d1〜6d4とを有している。
The butting portions TB1 and TB2 share a base portion 5a1 formed of metal.
The butting portions TB3 and TB4 have base portions 5a3 and 5a4 formed of metal, respectively.
The butting portions TB1 to TB4 have the detecting portions 6a1 to 6a4 of the butting
突き当て部TB2において、検出部6a2は、絶縁スペーサ6d2を介してベース部5a1に取り付けられている。
突き当て部TB1において、検出部6a1は、絶縁スペーサ6d1及び絶縁スペーサ6d2を介してベース部5a1に取り付けられている。
突き当て部TB3において、検出部6a3は、絶縁スペーサ6d3を介してベース部5a3に取り付けられている。
突き当て部TB4において、検出部6a4は、絶縁スペーサ6d4を介してベース部5a4に取り付けられている。
すなわち、検出部6a1〜6a4は、それぞれ絶縁スペーサ6d1〜6d4を介してベース部5a1,5a3,5a4のいずれかに対し取り付けられている。
In the abutment portion TB2, the detection portion 6a2 is attached to the base portion 5a1 via an insulating spacer 6d2.
In the abutment portion TB1, the detection portion 6a1 is attached to the base portion 5a1 via the insulating spacer 6d1 and the insulating spacer 6d2.
In the abutment portion TB3, the detection portion 6a3 is attached to the base portion 5a3 via an insulating spacer 6d3.
In the abutment portion TB4, the detection portion 6a4 is attached to the base portion 5a4 via an insulating spacer 6d4.
That is, the detectors 6a1 to 6a4 are attached to any of the bases 5a1, 5a3, and 5a4 via the insulating spacers 6d1 to 6d4, respectively.
突き当て部TB1〜TB4は、上下方向において、突き当て部TB1が最下に位置し、突き当て部TB4に向けこの順番で後方かつ上方に階段状に位置する。
従って、作業者は、ワークWを水平姿勢で突き当て装置5に突き当てたとき、突き当て部TB1〜TB4の検出部6a1〜6a4のいずれかに、他の突き当て部に干渉することなく当接させることができる。
曲げ加工の作業において、突き当て部TB1〜TB4は、ワークWにおける突き当てるべき縁部の形状や、曲げ位置などに応じて、適宜選択される。
In the abutting portions TB1 to TB4, in the up-down direction, the abutting portion TB1 is located at the lowermost position, and is located rearward and upward in this order in a stepwise manner toward the abutting portion TB4.
Therefore, when the worker strikes the work W in the horizontal posture against the
In the bending operation, the abutting portions TB1 to TB4 are appropriately selected according to the shape of the edge to be abutted on the work W, the bending position, and the like.
検出部6a1〜6a4は、導電性を有する材料で、平面状の突き当て面6a1a〜6a4aを有して短冊状又は角棒状に形成されている。材料例は、金属であり、詳細例はステンレスである。
検出部6a1〜6a4は、それぞれの突き当て面6a1a〜6a4aが、常態で、上下左右方向(鉛直方向)に延在して前方を向く姿勢となるようベース部5a1,5a3,5a4のいずれかに取り付けられている。
絶縁スペーサ6d1〜6d4は、電気絶縁性を有する材料で短冊状又は角棒状に形成されている。材料例は、セラミックスであり、詳細例は酸化アルミニウムである。
The detectors 6a1 to 6a4 are made of a conductive material and have a flat abutment surface 6a1a to 6a4a and are formed in a strip shape or a rectangular bar shape. An example of a material is metal, and a detailed example is stainless steel.
The detectors 6a1 to 6a4 may be arranged in any one of the bases 5a1, 5a3, and 5a4 such that the respective abutting surfaces 6a1a to 6a4a extend in the vertical and horizontal directions (vertical direction) and face forward in a normal state. Installed.
The insulating spacers 6d1 to 6d4 are formed in a strip shape or a rectangular bar shape from a material having electrical insulation. An example of the material is ceramics, and a detailed example is aluminum oxide.
次に、突き当て部TB1〜TB4の詳細について、図3も参照して説明する。
図3は、図2における突き当て部TB1〜TB4を、NC装置7の一部も含めて模式的に示した図である。また、絶縁スペーサ6d1〜6d4は、電気絶縁性を有する部材であることを視覚的にも把握できるように、網掛けを付してある。
Next, details of the butting portions TB1 to TB4 will be described with reference to FIG.
FIG. 3 is a diagram schematically illustrating the abutting portions TB1 to TB4 in FIG. 2 including a part of the
図2及び図3において、絶縁スペーサ6d2は、ベース部5a1に対し接着により取り付けられる。
検出部6a2及び絶縁スペーサ6d1は、絶縁スペーサ6d2に対し接着により取り付けられる。
検出部6a1は、絶縁スペーサ6d1に対し接着により取り付けられる。
接着に用いる接着剤は、検出部6a1,6a2のベース部5a1に対する絶縁性をより確実にするため、非導電性であることが望ましい。
2 and 3, the insulating spacer 6d2 is attached to the base 5a1 by adhesion.
The detection unit 6a2 and the insulating spacer 6d1 are attached to the insulating spacer 6d2 by adhesion.
The detector 6a1 is attached to the insulating spacer 6d1 by adhesion.
The adhesive used for bonding is preferably non-conductive in order to more reliably insulate the detectors 6a1 and 6a2 from the base 5a1.
一方、ベース部5a3には、一対の雌ねじ部mj3が形成されている。
絶縁スペーサ6d3には、雌ねじ部mj3に対応した位置に貫通孔6d3aが形成されている。
検出部6a3には、貫通孔6d3aに対応した位置に、雄ねじJ3の軸部を通過し頭部を通過不能な段付き孔6a3bが形成されている。
On the other hand, a pair of female screw portions mj3 is formed in the base portion 5a3.
In the insulating spacer 6d3, a through hole 6d3a is formed at a position corresponding to the female screw portion mj3.
The detecting portion 6a3 has a stepped hole 6a3b at a position corresponding to the through hole 6d3a, which passes through the shaft of the male screw J3 and cannot pass through the head.
これにより、検出部6a3及び絶縁スペーサ6d3は、雄ねじJ3の軸部を段付き孔6a3b及び貫通孔6d3aを通し雌ねじ部mj3に螺合して締め付けることで、ベース部5a3に対して取り付けられる。 Thereby, the detecting portion 6a3 and the insulating spacer 6d3 are attached to the base portion 5a3 by screwing the shaft portion of the male screw J3 through the stepped hole 6a3b and the through hole 6d3a and screwing it into the female screw portion mj3.
同様に、ベース部5a4には、一対の雌ねじ部mj4が形成されている。
絶縁スペーサ6d4には、雌ねじ部mj4に対応した位置に貫通孔6d4aが形成されている。
検出部6a4には、貫通孔6d4aに対応した位置に、雄ねじJ4の軸部を通過し頭部を通過不能な段付き孔6a4bが形成されている。
Similarly, a pair of female screw portions mj4 are formed in the base portion 5a4.
In the insulating spacer 6d4, a through hole 6d4a is formed at a position corresponding to the female screw portion mj4.
The detecting portion 6a4 has a stepped hole 6a4b at a position corresponding to the through hole 6d4a, which passes through the shaft of the male screw J4 and cannot pass through the head.
これにより、検出部6a3及び絶縁スペーサ6d3は、雄ねじJ3の軸部を段付き孔6a3b及び貫通孔6d3aを通し雌ねじ部mj3に螺合して締め付けることで、ベース部5a3に対して取り付けられる。 Thereby, the detecting portion 6a3 and the insulating spacer 6d3 are attached to the base portion 5a3 by screwing the shaft portion of the male screw J3 through the stepped hole 6a3b and the through hole 6d3a and screwing it into the female screw portion mj3.
段付き孔6a3b,6a4bの段深さは、それぞれ雄ねじJ3,J4の頭部が、突き当て面6a3a,6a4aから突出しないように設定されている。 The step depth of the stepped holes 6a3b and 6a4b is set such that the heads of the male screws J3 and J4 do not protrude from the abutting surfaces 6a3a and 6a4a, respectively.
ねじ締結に用いられる雄ねじJ3,J4は、電気絶縁性を有する。例えば、樹脂ねじとされる。
これにより、検出部6a1〜6a4は、ベース部5a1,5a3,5a4に対し、電気的に完全に絶縁された状態となっている。
The external threads J3 and J4 used for screw fastening have electrical insulation properties. For example, a resin screw is used.
Thus, the detection units 6a1 to 6a4 are in a state of being completely electrically insulated from the base units 5a1, 5a3, and 5a4.
検出部6a1〜6a4は、接続線6cであるリード線6c1〜6c4によって、それぞれ独立に検出本体部6bと電気的に接続されている。
詳しくは、検出本体部6bは、入力端子6b1〜6b4を有し、それぞれに、一方端に検出部6a1〜6a4が接続されたリード線6c1〜6c4の他方端が接続されている。リード線6c1〜6c4と検出部6a1〜6a4との接続方法及び接続態様は限定されるものではなく、周知の方法を利用できる。
リード線6c1〜6c4は、導線とその導線を被覆する絶縁性の被覆部とを有する。
The detection units 6a1 to 6a4 are electrically connected to the detection
More specifically, the detection
Each of the lead wires 6c1 to 6c4 has a conducting wire and an insulating covering portion covering the conducting wire.
リード線6c1と検出部6a1とでセンサ部SB1が構成される。
同様に、リード線6c2〜6c4それぞれと検出部6a2〜6a4とで、それぞれセンサ部SB2〜SB4が構成される。
The sensor unit SB1 is composed of the lead wire 6c1 and the detection unit 6a1.
Similarly, sensor sections SB2 to SB4 are respectively constituted by lead wires 6c2 to 6c4 and detection sections 6a2 to 6a4.
次に、検出本体部6bの動作などの詳細を、ブロック図である図4も参照して説明する。
Next, details such as the operation of the detection
検出本体部6bは、出力端子6Sとして出力端子6S1〜6S4を有する。図3及び図4に示された出力端子6Sは、四つの独立した信号が出力される。
The detection
検出本体部6bは、電源PWから電力が供給されて動作する。
検出本体部6bは、変換処理部60を有する。
変換処理部60は、静電容量検出部60aと、電圧設定部60bと、電圧出力部60cと、を有する。
The detection
The detection
The
静電容量検出部60aは、入力端子6b1〜6b4を介して接続されたセンサ部SB1〜SB4の静電容量C1〜C4をそれぞれ検出する。
静電容量検出部60aは、静電容量C1〜C4の検出を、連続的又は断続的に行う。
The
The
電圧設定部60bは、静電容量検出部60aが検出した静電容量C1〜C4のそれぞれの値に応じた電圧Vt1〜Vt4を設定する。以下、電圧Vt1〜Vt4を評価電圧Vt1〜Vt4と称する。
The
具体的には、まず、検出本体部6bの起動時に静電容量検出部60aが検出した静電容量を基準静電容量C1k〜C4kとし、この基準静電容量C1k〜C4kに対応した基準電圧Vt1k〜Vt4kを、0(ゼロ)Vとして設定する。
基準電圧Vt1k〜Vt4kは、記憶部MRに記憶させる。
Specifically, first, the capacitance detected by the
The reference voltages Vt1k to Vt4k are stored in the storage unit MR.
電圧設定部60bは、静電容量検出部60aが検出した静電容量C1〜C4の変化を監視し、変化が生じた場合の変化量ΔC1〜ΔC4に応じ、評価電圧Vt1〜Vt4を線形変化させる。
例えば、基準静電容量C1kに対し、静電容量C1の変化量ΔC1が+20%となったら、評価電圧Vt1を基準電圧Vt1kに対して120%の値とする。
この変化量ΔC1〜ΔC4の評価電圧Vt1〜Vt4への変換方法は、線形に限定されるものではなく、増減方向が対応していれば任意である。
The
For example, when the change amount ΔC1 of the capacitance C1 becomes + 20% with respect to the reference capacitance C1k, the evaluation voltage Vt1 is set to a value of 120% with respect to the reference voltage Vt1k.
The method of converting the amounts of change ΔC1 to ΔC4 into the evaluation voltages Vt1 to Vt4 is not limited to a linear method, and is arbitrary as long as the increase and decrease directions correspond.
電圧出力部60cは、電圧設定部60bが設定した評価電圧Vt1〜Vt4を、それぞれ出力端子6S1〜6S4に出力する。
The voltage output unit 60c outputs the evaluation voltages Vt1 to Vt4 set by the
センサ部SB1〜SB4は、それぞれリード線6c1〜6c4と検出部6a1〜6a4とを含んで構成されている。
例えば、センサ部SB1は、リード線6c1及び検出部6a1を含む。
The sensor sections SB1 to SB4 include lead wires 6c1 to 6c4 and detection sections 6a1 to 6a4, respectively.
For example, the sensor unit SB1 includes a lead wire 6c1 and a detection unit 6a1.
センサ部SB1に対し、物体が接近又は当接することで、センサ部SB1の静電容量C1は増加方向に変化する。
リード線6c1は被覆されているので、金属表面が露出している検出部6a1が、物体の接近又は当接に対して最も感度が高く、静電容量C1が大きく増加する。この静電容量C1の増加は、静電容量検出部60aで検出される。
When an object approaches or comes into contact with the sensor unit SB1, the capacitance C1 of the sensor unit SB1 changes in the increasing direction.
Since the lead wire 6c1 is covered, the detection unit 6a1 with the exposed metal surface has the highest sensitivity to the approach or contact of an object, and the capacitance C1 increases greatly. This increase in the capacitance C1 is detected by the
電圧設定部60bは、既述のように、静電容量検出部60aが検出した静電容量C1の増加に応じて評価電圧Vt1を増加させる。
センサ部SB1の静電容量C1の変化量は、物体が検出部6a1に接近した場合と比べて当接した場合の方がはるかに大きい。
従って、電圧設定部60bで設定され電圧出力部60cから出力される評価電圧Vt1は、検出部6a1に物体が接近した場合よりも、当接した場合の方がはるかに大きくなる。
As described above, the
The amount of change in the capacitance C1 of the sensor unit SB1 is much larger when the object comes into contact with the object than when the object approaches the detection unit 6a1.
Therefore, the evaluation voltage Vt1 set by the
この状況下で、制御部SGは、突き当て判定部SGaにおいて、次の手順で突き当て有無を判定する。
ここでは、センサ部SB1についての判定手順を図5を参照して説明する。
Under this circumstance, the control unit SG determines the presence / absence of the abutment in the abutment determination unit SGa in the following procedure.
Here, the determination procedure for the sensor unit SB1 will be described with reference to FIG.
突き当て判定部SGaは、記憶部MRに記憶された基準電圧Vt1kを参照し、参照した基準電圧Vt1kと評価電圧Vt1とを比較し(Step1)、差分S1を求める(Step2)。 The butting determination unit SGa refers to the reference voltage Vt1k stored in the storage unit MR, compares the referenced reference voltage Vt1k with the evaluation voltage Vt1 (Step 1), and obtains a difference S1 (Step 2).
次に、差分S1が、予め測定して記憶部MRに記憶されたセンサ部SB1についての所定の差分St1を越えているか否かを判定する(Step3)。 Next, it is determined whether or not the difference S1 exceeds a predetermined difference St1 for the sensor unit SB1 measured in advance and stored in the storage unit MR (Step 3).
越えていると判定した場合(Yes)、突き当て判定部SGaは、検出部6a1に物体(ワークW)が当接した(突き当てられた)と判定する(Step4)。以下、この判定を突き当て判定と称する。 If it is determined that it has exceeded (Yes), the butting determination unit SGa determines that the object (work W) has contacted (butted) the detection unit 6a1 (Step 4). Hereinafter, this determination is referred to as abutment determination.
差分S1が所定の差分St1を越えていない場合(以下の場合)(No)、突き当て判定部SGaは、突き当てられていないと判定する(Step5)。 When the difference S1 does not exceed the predetermined difference St1 (in the following case) (No), the butting determination unit SGa determines that no butting has been performed (Step 5).
同様にして、突き当て判定部SGaは、センサ部SB2〜SB4のそれぞれについて、基準電圧Vt2k〜Vt4kと評価電圧Vt2〜Vt4とを比較して差分S2〜S4を求める。
比較の結果、差分S2〜S4が、記憶部MRに記憶された各センサ部SB2〜SB4それぞれについての所定の差分St2〜St4を越えていれば、検出部6a2〜6a4に、物体(ワークW)が当接した(突き当てられた)と判定する(突き当て判定)。
差分S2〜S4がそれぞれ所定の差分St1〜St4以下であれば、突き当てられていないと判定する。
Similarly, the butting determination unit SGa determines the differences S2 to S4 by comparing the reference voltages Vt2k to Vt4k and the evaluation voltages Vt2 to Vt4 for each of the sensor units SB2 to SB4.
As a result of the comparison, if the difference S2 to S4 exceeds the predetermined difference St2 to St4 for each of the sensor units SB2 to SB4 stored in the storage unit MR, the detection unit 6a2 to 6a4 sends the object (work W) to the detection unit 6a2 to 6a4. Are determined to have contacted (hit) (hit determination).
If the differences S2 to S4 are equal to or smaller than the predetermined differences St1 to St4, respectively, it is determined that no collision has occurred.
曲げ加工において、ワークWは、一つの付き当て装置5については検出部6a1〜6a4のいずれか一つにのみ突き当てられる。複数の検出部6aで突き当て検出がなされたら、誤った突き当てがされている可能性が高いので、制御部SGは、警告を出力する。この判定手順例は図6に示される。
In the bending process, the work W is hit against only one of the detection units 6a1 to 6a4 with respect to one
すなわち、制御部SGは、突き当て判定部SGaが、検出部6a1〜6a4の内のいずれかについて最初の(1回目の)突き当て判定をしたら(StepA1)、その後、突き当て判定の有無を監視する(StepA2)。 That is, if the butting determination unit SGa makes the first (first) butting determination for any of the detection units 6a1 to 6a4 (Step A1), then the control unit SG monitors the presence or absence of the butting determination. (Step A2).
(StepA2)で突き当て判定有となった場合、異常と判定し(StepA3)、警告を出力する(StepA4)。 If the collision determination is made in (Step A2), it is determined that there is an abnormality (Step A3), and a warning is output (Step A4).
(StepA2)で突き当て判定無しの場合、所定時間T1が経過したか否かを判定する(StepA5)。 If there is no hit determination in (Step A2), it is determined whether or not a predetermined time T1 has elapsed (Step A5).
未経過(No)の場合、(StepA2)へ戻る。
経過した(Yes)場合、ワークWが正常に突き当てられたと判定し、曲げ加工を許可する(StepA6)。
所定の時間T1は、作業者側で任意に設定する。例えば、2秒とする。
If not (No), the process returns to (Step A2).
If the time has elapsed (Yes), it is determined that the workpiece W has been normally abutted, and bending work is permitted (Step A6).
The predetermined time T1 is set arbitrarily on the worker side. For example, 2 seconds.
以上詳述した突き当て装置5において、検出部6a1は、突き当て面6a1aのどの位置にワークWが当接しても、静電容量C1の増分は同じである。
これは、他の検出部6a2〜6a4についても同じである。
これにより、突き当て判定部SGaによる検出部6a1〜6a4へのワークWの当接(突き当て)有無の判定に影響はなく、安定して突き当て有無の判定が可能である。
In the
This is the same for the other detection units 6a2 to 6a4.
This does not affect the determination of the presence / absence of the contact (abutment) of the work W to the detection units 6a1 to 6a4 by the abutting determination unit SGa, and the determination of the abutting presence / absence can be performed stably.
また、突き当て装置5は、突き当てを検出するセンサ部SB1〜SB4に可動部がないので、長期間の使用でも、動作不良による検出不良は生じない。
また、ワークの加工に伴い生じた金属粉が仮に検出部6a1〜6a4に付着しても、拭き取り等の簡単なクリーニングで除去が可能であり、また、起動時の静電容量を基準値として変化増分を検出するので、検出の判定に影響はない。
Further, in the
Further, even if the metal powder generated during the processing of the work adheres to the detection units 6a1 to 6a4, it can be removed by simple cleaning such as wiping, and the capacitance at the time of startup changes with the reference value as a reference value. Since the increment is detected, the determination of the detection is not affected.
このように、曲げ加工において突き当て装置5を用いれば、ワークの突き当て検出動作不良が生じることなく曲げ加工を良好に実行できる。
As described above, if the
本発明の実施例は、上述した構成及び手順に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において変形してよい。 The embodiment of the present invention is not limited to the above-described configuration and procedure, and may be modified without departing from the gist of the present invention.
検出本体部6bをNC装置7に備えるものを説明したが、検出本体部6bの設置場所は限定されない。突き当て装置5に備えてもよい。
接続線6cは、短い方が、ノイズ静電容量Cに対するノイズの影響を減らせるので突き当て装置5に配置することは好ましい。
Although an example in which the detection
It is preferable to arrange the
検出本体部6bに中央処理装置(CPU)を配置し、図5及び図6を用いて説明した制御部SGの突き当て判定部SGaによる判定動作を、検出本体部6bで実行させてもよい。
すなわち、突き当て判定部SGaは、検出本体部6bに備えられていてもよい。
検出本体部6bは、静電容量C1〜C4に対応した電圧値を出力するものに限定されない。静電容量C1〜C4それぞれに対応した電流値を出力するものであってもよい。
A central processing unit (CPU) may be arranged in the detection
That is, the butting determination unit SGa may be provided in the detection
The detection
突き当て判定を行う突き当て判定部SGaも含めて突き当てシステムSYとしてもよい。 The collision system SY may include the collision determination unit SGa that performs the collision determination.
突き当て面6a1a〜6a4aの形状は、実施例のような矩形に限定されない。
すなわち、検出部6a1〜6a4の形状は自由であり、それぞれが有する突き当て面6a1a,6a4aの形状も、平面であれば自由に設定してよい。
突き当て部TB1〜TB4の数、及び配置も、実施例に限定されるものではなく、自由に設定してよい。
The shapes of the abutting surfaces 6a1a to 6a4a are not limited to rectangles as in the embodiment.
That is, the shapes of the detection units 6a1 to 6a4 are free, and the shapes of the abutting surfaces 6a1a and 6a4a of the detection units 6a1 to 6a4 may be freely set as long as they are flat.
The number and arrangement of the abutting portions TB1 to TB4 are not limited to the embodiment, and may be set freely.
1 下部テーブル、 1a ダイホルダ
2 右側板
3 上部テーブル
5 突き当て装置、 5a1,5a3,5a4 ベース部
6 突き当てセンサ装置
6a,6a1〜6a4 検出部、 6a1a〜6a4a 突き当て面
6b 検出本体部、 6b1〜6b4 入力端子、 6c 接続線
6c1〜6c4 リード線、 6d1〜6d4 絶縁スペーサ
6d3a,6d4a 貫通孔、 6a3b,6d4b 段付き孔
6S,6S1〜6S4 出力端子
7 NC装置
51 曲げ加工機(プレスブレーキ)
60 変換処理部
60a 静電容量検出部、 60b 電圧設定部、 60c 電圧出力部
C1〜C4 静電容量
D ダイ、 JH 加工情報、 J3,J4 雄ねじ、 KD 駆動部
mj3,mj4 雌ねじ部、 MR 記憶部、 P パンチ
PG 加工プログラム、 PW 電源、 S 作業者
S1〜S4 差分、 St1〜St4 (所定の)差分
SB1〜SB4 センサ部
SG 制御部
SY 突き当てシステム
TB1〜TB4 突き当て部
T1 所定時間
Vt1〜Vt4 評価電圧(電圧)、 Vt1k〜Vt4k 基準電圧
W ワーク
ΔC1〜ΔC4 変化量
Reference Signs List 1 lower table, 1a die
60
Claims (2)
前記ワークが前記曲げ加工機の前後方向の位置決めのために突き当てられる突き当て面を有し導電性を有する材料で形成された検出部,金属により形成されたベース部,及び前記検出部と前記ベース部との間に介在し前記検出部を前記ベース部に対して電気的に絶縁する絶縁スペーサを有する突き当て部と、一端側が前記検出部に電気的に接続された接続線と、からなる複数の組と、前記複数の組それぞれの前記接続線の他端部が接続され、前記複数の組それぞれの、前記検出部及び前記接続線の静電容量を検出する静電容量検出部と、を有するワーク突き当て装置と、
前記静電容量検出部で検出した前記複数の組それぞれの前記静電容量に応じた電圧を設定する電圧設定部と、
前記曲げ加工機の動作を制御する制御部と、
を備え、
前記制御部は、前記電圧設定部で設定した前記複数の組それぞれの前記電圧に基づいて、前記複数の組それぞれの前記突き当て部に前記ワークが突き当てられたか否かを判定し、前記ワークが突き当てられたと判定した前記突き当て部が複数あった場合に、警告を出力することを特徴とする曲げ加工機。 A bending machine that bends a positioned work,
The detecting portion formed of a conductive material having abutted against abutment surface for the longitudinal positioning of the processing machine the workpiece the bend, the base portion made of a metal, and said detecting section from the abutment portion having an electrically insulating insulating spacer, and connecting lines is one end side is electrically connected to the detecting portion to the base portion of the front Symbol detection unit interposed between the base portion A plurality of sets, and the other end of the connection line of each of the plurality of sets is connected, and each of the plurality of sets, a capacitance detection unit that detects capacitance of the detection unit and the connection line. A work abutment device having:
A voltage setting unit that sets a voltage according to the capacitance of each of the plurality of sets detected by the capacitance detection unit,
A control unit for controlling the operation of the bending machine,
With
The control unit is configured to determine, based on the voltage of each of the plurality of sets set by the voltage setting unit, whether or not the work is abutted against the abutting unit of each of the plurality of sets, and A warning is output when there is a plurality of the abutting portions that have been determined to have been abutted .
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