JP6663397B2 - 発光ダイオード駆動回路および光送信機 - Google Patents

発光ダイオード駆動回路および光送信機 Download PDF

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Description

従来技術
本発明は、特許請求項1のプリアンブルに記載されている種類の発光ダイオード駆動回路、および、特許請求項14のプリアンブルに記載の光送信機に関する。
現在光通信システムはホームネットワークおよび産業用途において広く用いられており、たとえば、高速マルチメディアネットワーク用として自動車産業で用いられているMOST(Media Oriented Systems Transport)技術は、プラスチック・ファイバ(plastic over fiber:POF)技術に基づいている。
たとえばUS2013/0330082A1に記載の上記光通信システムでは、光送信機である発光素子が光信号を出力し、この光信号は光ファイバリンク、たとえばプラスチックファイバに与えられ、光ファイバリンクはこの光信号を光受信機である受光素子に導く。
このような光通信システムには、特に、銅線による従来の非光通信システムと比較して、たとえば、減衰が少ない、電磁干渉照射に強い、送信データレートが高い等の、いくつかの利点がある。このため、近年では、光通信システムが車載データ通信でも使用されることが増えている。
しかしながら、現在の光通信システムには、特に、電源電圧や温度の望ましくない変動または変化が原因で、および/または、局所的なプロセスの変動(略してプロセス変動とも呼ばれる)が原因で、すなわち電子集積回路の製造時に必然的に発生するトランジスタ等の電子部品の属性の変動が原因で、光通信システムの性能、具体的には光送信機の性能が低下するという問題がある。
US2013/0330082A1
課題
したがって、本発明の目的は、光通信システムを改善するための手段を提供することである。たとえば、この目的は、光通信システムの性能と信頼性を改善することを含み得る。
解決策
本発明に従い、上記目的は、請求項1に記載の電子回路および請求項14に記載の光送信機によって達成される。好ましい実施形態およびさらなる発展形態が、従属請求項の主題である。
たとえば、光送信機において使用される、本発明に従う発光ダイオード駆動回路または発光ダイオードドライバは、
・発光ダイオードの線形変調のために入力電圧信号を出力信号たとえば出力電流信号に線形変換するように構成された高速トランスコンダクタンスアンプを含む高速信号経路と、
・入力信号の低周波成分に応じてトランスコンダクタンスを生成するように構成された低周波制御経路とを備える。
さらに、低周波制御経路は、この低周波制御経路が生成したトランスコンダクタンスに基づいて高速トランスコンダクタンスアンプのトランスコンダクタンスを制御するように構成されていてもよい。
したがって、発光ダイオードの線形変調のための入力信号から出力信号への変換として可能な変換は、いわゆるパルス振幅変調(PAM)技術に基づいた発光ダイオードの変調を含み得る。従来の2値オンオフキーイング変調と異なり、パルス振幅変調(PAM)技術は、複数のビットにマッピングされた複数の明確なパルス振幅レベルを用いて情報を伝達することができる。たとえば、1つの振幅レベルが2つ以上のビットを表わすことができるよう、各振幅レベルが複数のビット、たとえば一対のビットを表わすようにすることによって、帯域幅効率を高めることができる。
入力信号は、差動入力信号であってもよく、たとえば、2つの電圧入力の差によって、たとえば反転入力の電圧VINおよび非反転入力の電圧VIPによって定められる、以下の差動電圧入力信号(VDIFF,IN)であってもよい。
DIFF,IN=VIP−VIN
本明細書において、低周波という用語は、たとえば5kHzよりも低い周波数を意味し得る。一方、高速または高周波という用語は、たとえば100MHzよりも高い周波数を意味する。
高速トランスコンダクタンス(G)アンプは、たとえば、電圧入力信号たとえば差動電圧入力信号を、発光ダイオード(LED)を流れる電流に変換することができる。上記発光ダイオードはさらに、電源に、たとえばVDDピンを介して接続されてもよい。
本発明に従う発光ダイオード駆動回路により、光ファイバとリンクされたたとえばプラスチック光ファイバとリンクされた光通信システムにおいて線形変調に基づいた高速および高帯域幅の光通信を実現できる。
さらに、本発明に従う発光ダイオード駆動回路により、光通信システムにおけるプロセス/電圧/温度(PVT)の変動および入力信号振幅の変動を補償することができる。
高速信号経路は、任意でゲイン(GHS)を、ある/上記差動入力信号に与えることにより、
DIFF=GHS・(VIP−VIN)=GHS・VDIFFIN
を生成するための、高速差動入力信号コンディショナをさらに含み得る。
加えて、高速差動入力信号コンディショナは、入力信号のコモンモードに適合することもできる。
変調された電流(IMODULATED)、すなわち、たとえばLEDを流れる発光ダイオードの線形変調のための出力信号は、アンプのトランスコンダクタンス(G)に比例してもよく、VDIFF,INに比例してもよく、または、高速差動入力信号コンディショナを適用する場合は、VDIFFに比例してもよい。たとえば、線形変調された電流(IMODULATED)は次のように定義できる。
MODULATED=G・VDIFF
さらに、それに加えてバイアス電流(IBIAS)がLEDを流れてもよく、そうすると、LEDを流れる総電流(ILED)は次のように定義できる。
LED=IMODULATED+IBIAS
上記バイアス電流(IBIAS)はたとえば次のように定義できる。
さらに、消光比(ER)は次のように定義できる。
式中、PMAXは最大光強度レベル、PMINは最小光強度レベルである。
上記消光比(ER)はたとえばデシベル(dB)で測定することができ、次のように表わすこともできる。
消光比(ER)を用いて、IMAXおよびIMINを、たとえば次のようにIBIASおよびERの関数として定義できる。
そうすると、変調電流変調振幅(IAMP)は次のように定義できる。
言換えると、この例において、IAMPは2つの変数と、変調電流変調振幅IBIASと、消光比(ER)のみに応じて決まる関数である。
低周波制御経路は、入力信号の振幅に応じて信号を生成するように、特に、入力信号の振幅に応じて低周波直流電流成分を生成するように構成された低周波入力信号振幅推定器を含み得る。
入力信号振幅(VAMP,VIN)は、以下のように、差動電圧入力信号(VDIFF,IN)について、到達可能な最大値および最小値を定義できる。
DIFF,IN=VAMP,IN・x(−1<x<1)
低周波入力信号振幅推定器による、入力信号(VAMP,IN)の振幅に応じた信号(VAMP)の例示的な生成は、特に、以下を生成することを含み得る。
AMP=GDC・k・VAMP,IN
式中、kは低周波入力信号振幅推定器のゲインであり次のように定義される。
式中、VAMP,ESTIMATORは、推定されたまたは検出された入力信号振幅であり、GDCは、次のように定義される低周波制御経路の直流成分のゲインである。
推定されたまたは検出された入力信号振幅VAMP,ESTIMATORは、たとえば、エンベロープ検出器(k=1)、二乗平均平方根(RMS)値検出器(k=1/√3、ファイバープラスチックオプティクスで使用される均一分布信号の場合)、またはその他の手段たとえばコモンモード値電圧検出器によって、得られる。
言換えると、低周波入力信号振幅推定器は、エンベロープ検出器および/または二乗平均平方根値検出器および/またはコモンモード値電圧検出器を含み得る。
低周波制御経路はさらに、低周波入力信号振幅推定器によって生成された信号に応じてトランスコンダクタンスを生成するように構成された低周波性制御回路を含み得る。
たとえば、低周波制御回路は、上記のように、たとえばVAMP=GDC・k・VAMP,INによって入力信号振幅(VAMP,IN)から低周波入力信号振幅推定器により生成することができるVAMPに応じてトランスコンダクタンス(G)を生成するように構成し得る。
さらに、低周波制御回路は、低周波入力信号振幅推定器によって生成された信号に応じて低周波制御回路によって生成されたトランスコンダクタンスに基づいて高速トランスコンダクタンスアンプのトランスコンダクタンス(G)を制御するように構成し得る。
低周波制御回路は比例積分(PI)コントローラに基づき得る。たとえば、低周波制御回路は、低速トランスコンダクタンスアンプおよび比例積分コントローラを含み得る。
高速信号経路の高速トランスコンダクタンスアンプのトランスコンダクタンス(G)を制御するために、低周波制御回路を、たとえば以下の例示的な制御関係式に従い制御フィードバックループとして動作するように構成し得る。
4.結果として、IREFは、ER、IBIAS、kおよびGDC/DHSマッチングの関数であってもよい。さらに、GDCはGHSと等しい場合がある。
5.したがって、G・VAMP=IREFを調整することにより、消光比ERを制御して一定に保つことができる。なぜなら、他のすべての変数(IBIAS、kおよびGDC/DHS)も一定にできるからである。
また、たとえば、入力信号振幅(VAMP,IN)を減じる(増す)と、低周波制御回路は、トランスコンダクタンス(G)を増す(減じる)ことにより入力信号振幅(VAMP,IN)の変動を補償することができる。
加えて、低速または低周波制御経路ゲイン(G・GDC)のPVT変動もそのようにして補償できる。
さらに、IBIASはたとえば周知のバンドギャップおよび低周波制御回路の周知の電流コンベア回路によって一定に保つことができる。
BIASを制御する、たとえばIBIASを一定に保つことにより、LEDから発せられた光の分極を固定し制御することができる。
この例示的なアーキテクチャによって、PVTの変動を原因とするIBIASの望ましくない小さな変動さえ補償することができる。上記変動は消光比ERの値には影響しない。なぜならIMINおよびIMINはいずれもIBIASに比例し得るからである。これはなぜなら、低周波制御回路が消光比ERを一定に保つためにIBIASとともにIRefを移動させる/変更する/制御することができるからである。
たとえば、本明細書に記載の発光ダイオード駆動回路の例示的なアーキテクチャによって、物理的なパラメータ変動、たとえば、PVTの変動を原因とする、IBIAS、抵抗、容量、トランスコンダクタンスの値等の変動を、補償し得る。特に、たとえば、PVTによって生じた上記物理的パラメータの変動を、最大15%、20%またはそれ以上、補償できる。さらに、PVTの変動を原因とする電流コンベアのバンドギャップまたは電流コンベア等の回路構成要素の物理的パラメータの変動も、容易に補償できる。
言換えると、発光ダイオード駆動回路は、発光ダイオードの分極および消光比を一定に保つように構成し得る。
発光ダイオード駆動回路はさらにプリエンファシスブロックを含み得る。プリエンファシスブロックは、入力信号に対し高速ゲインを用いてプリエンファシスを与えることができ、低速レプリカブロックは低周波入力信号振幅推定器によって生成された信号に低周波ゲインを与えることができ、高速ゲインの値は低周波ゲインの値にマッチングまたは比例し得る。
このようなプリエンファシスを与えることによって、LEDの帯域幅を、結果としてドライバおよびLEDを含む光通信システムの帯域幅を改善できる。
たとえば、赤色AlGaInP(アルミニウムガリウムインジウムリン)LEDの帯域幅は、その通常の80MHzから150MHzを超える帯域幅まで増すことができる。
結果として、これらのゲインのマッチングにより、先に例示した、プリエンファシスがない場合と同様に、正確な消光比ERの制御を保証することができる。
ここでおよび以下における、ブロックのレプリカという用語は特に、ブロックのコピーと理解することができ、レプリカは、元の複製されたブロックと比較して、異なるスケールたとえば異なる空間寸法を有し得る。ブロックは、たとえば、抵抗器およびトランジスタ等の電子部品を含み得る。
たとえば、低周波制御経路駆動回路の部品、たとえば抵抗器およびトランジスタは、高速信号経路駆動回路の部品よりも、物理的寸法が大きい可能性がある。低周波制御経路駆動回路の部品のサイズが大きいことによって、特に、局所的なプロセス変動を減じることができ、結果として消光比誤差を減じることができる。
逆に、高速信号経路駆動回路の部品が小さいことによって、たとえば、特に、高い信号速度と高い線形性を適度の消費電力レベルで提供することができる。
たとえば、高周波/高速信号経路駆動回路との比較における、低周波制御経路駆動回路の部品のスケールの違いを説明する典型的なレプリカファクタまたはスケールファクタは、10、20以上までの範囲に含まれ得る。よって、たとえば、抵抗値2kΩを、10または20のレプリカファクタで複製して複製された抵抗値が20kΩまたは40kΩになるようにしてもよい。
信頼性のために光クリッピングを回避しかつLEDから出た最大電流を制限するために、プリエンファシス関数を、そのゼロ位置fZEROおよび極周波数位置fPOLEを正確に制御できるようにかつその高周波ゲインを制限できるように、構成することができる。
ここで、たとえば、ゼロはゲインを引き上げる単一周波数ポイント、極はゲインを引き下げる単一周波数ポイントと理解できる。
たとえば、1極−1ゼロ(one pole-one zero)ベースのプリエンファシス関数を用いることができ、これは、たとえば以下の形態を取ることができる。
式中、パラメータsは複素角周波数を表わすことができ、Aは定数とすることができる。
しかしながら、他のプリエンファシス関数を用いることもできる。
さらに、任意のプリエンファシスブロックを入力信号コンディショナと組合わせて1つのブロックにすることができ、高速差動入力信号コンディショナは高速プリエンファシスブロックと統合することができ、低周波入力信号振幅推定器は低速プリエンファシスレプリカブロックと統合することができる。
発光ダイオード駆動回路はさらに、高速信号経路において生じ得るオフセットを補正するための較正ブロックを含み得る。たとえば、較正ブロックは高速トランスコンダクタンスアンプにおいて実現することができる。
このような任意の追加の較正ブロックは特に、訂正されていない消光比誤差を訂正することができ、たとえば、高速信号経路における抵抗器およびトランジスタ等の電子部品の物理的なスケールの違いから発生する、たとえば、高速信号経路の部品で生じる局所的なプロセス変動から発生する、起こり得る消光比誤差を訂正することができる。
上記任意の追加の較正ブロックは、比例積分(PI)コントローラを含み得る。さらに、このような較正ブロックは、より効果的にするために、たとえば高速トランスコンダクタンスアンプ等の発光ダイオード駆動回路の後の段階で、実現することができる。
この較正ブロックは、特に、極較正周波数fPOLE,CALIBRATIONを、較正動作中に対象の送信信号周波数を削除するリスクを回避するために、たとえば最小信号周波数fMIN,SIGNALよりも小さい信号に加えることができる。
発光ダイオード駆動回路は、ユニティバッファと2つの抵抗器とを含む高速差動入力信号コンディショナを含み得る、および/または発光ダイオード駆動回路は、ユニティバッファと2つの抵抗器とを含む低速入力信号振幅推定器を含み得る。
たとえば、高速差動入力信号コンディショナのCMOS(相補型金属酸化膜半導体)ユニティバッファは、以下の電圧によって、かつ以下のゲインを与えることによって、入力終端インピーダンスを分離することができ、電圧レベル信号を高める(減じる)ことができる。上記電圧は下記の通りである。
式中、
GSはCMOSトランジスタのゲート−ソース電圧、
THはCMOSトランジスタのしきい値電圧、
POLAR,HSは高速入力信号コンディショナバッファのCMOSトランジスタを流れる分極電流、
μは電荷キャリアの移動度、
OXはCMOSトランジスタのゲート酸化膜容量、
WおよびLはそれぞれCMOSトランジスタの幅および長さである。
上記ゲインは下記の通りである。
式中、
は、CMOSトランジスタにおけるゲート−ソース電圧に関連する小信号トランスコンダクタンスであり、
mbは、CMOSトランジスタにおけるバルク−ソース電圧に関連する小信号トランスコンダクタンスである。
低周波制御経路の対応するレプリカユニディバッファと、2つの抵抗器とを用いることにより、以下のように、入力信号振幅との厳密な関係を保つ入力信号コモンモード電圧検出器(VCM)に基づいて推定入力信号振幅を生成することができる。
このようにして、正確で高速かつ低雑音の差動入力信号の調整を、特に、数mAたとえば2mAの範囲のIPOLAR,HSの適度な値に対して実行することができる。
さらに、高速入力信号コンディショナおよび低周波入力信号振幅推定器における電流密度を同一にして、ゲインGDCおよびGHSのゲインマッチングを容易にすることができる。
高速差動入力信号コンディショナは、たとえば、負のフィードバックを伴う少なくとも1つのオペアンプ(opamp)も含んでいてもよく、および/または発光ダイオード駆動回路は、負のフィードバックを伴う少なくとも1つのオペアンプを含む低周波入力信号振幅推定器を含んでいてもよい。
たとえば、信号経路および制御経路のゲインは次の通りでもよい。
式中、RおよびRは抵抗でありfREPLICAはスケールファクタである。
言換えると、低周波入力信号振幅推定器におけるフィードバック抵抗器は、複製された高速差動入力信号コンディショナにおけるフィードバック抵抗器のfREPLICA倍になるように設計することができる。低周波入力信号振幅推定器についてより大きな構成要素の使用を選択することにより、低周波入力信号振幅推定器の精度およびマッチングを改善し消費電力を低減することができる。
それでもなお、低周波入力信号振幅推定器および高速差動入力信号コンディショナにおける抵抗器は、たとえば、すべてのPVT条件についてマッチングを改善できるようにするために、同一のフォームファクタを有していてもよい。
同一のコモンモードフィードバック(CMFB)回路を、マッチングの改善のために、高速信号経路および低周波経路のオペアンプで用いてもよい。
さらに、Rとして、LEDドライバ入力終端抵抗RTERM,DRIVERよりも大きいものを選択することにより、ドライバ入力終端インピーダンスがRの影響を受けないようにすることができる。
また、より大きなRは特に、以下で示すようにコモンモード入力電圧の誤差を減じることができる。
たとえば、高速差動入力信号コンディショナのオペアンプの出力のコモンモード(CM)電圧(VDIFF,CM)および入力のコモンモード(CM)電圧(VCM=0.5・(VIN+VIP))の相違が原因で、誤差コモンモード電流(ICM,ERROR)がオペアンプの出力から入力終端インピーダンスに流れる可能性がある。
式中、RTERM,DACは、たとえば、発光ダイオード駆動回路が受ける入力信号を生成する役割を果たすことができる電流ステアリングデジタルアナログ変換器(DAC)の抵抗である。
例示した、負のフィードバックの使用により、発光ダイオード駆動回路における信号処理の高い線形性を保証することができる。フィードバックネットワーク抵抗器から発生する熱雑音、オペアンプが要する大きな消費電力、および、上記コモンモード電圧誤差(VCM,ERROR)は、例示した負のフィードバックを伴う1つのオペアンプ(opamp)の使用の短所である。
ある/上記任意のプリエンファシスブロックが負のフィードバックを伴う少なくとも1つのオペアンプを含み得ることも考えられる。
言換えると、この例において、ゼロ/極位置および高周波ゲインは、すべてが全体的に十分に制御されプロセス変動がほんのわずかである受動素子(C,CおよびR,R)のみに依存する。
低周波経路において、同一のゲインを得るためにプリエンファシスレプリカ経路を用いることができる。
たとえば上述した負のフィードバックのオペアンプの構成を、入力信号コンディショナおよびプリエンファシス回路双方で用いることにより、信号の調整およびプリエンファシスという2つの機能を1つのブロックまたは回路に統合して消費電力を低減することが可能である。
発光ダイオード駆動回路は、シングルエンド(1出力)の高速トランスコンダクタンスアンプ、または、全差動高速トランスコンダクタンスアンプを含み得る。
このように、可能な全差動高速トランスコンダクタンスアンプは、発光ダイオードを流れる電流と値は同一であるが方向が逆の電流がLEDの等価低周波インピーダンスを複製できるダミー抵抗も流れるように、構成することができる。
これにより、特に電源電圧変動除去比(PSRR)を改善することができる。
低周波制御回路は、シングルエンドのまたは全差動低速トランスコンダクタンスアンプおよび比例積分コントローラを含み得る。
たとえば上述のような高速信号経路において生じ得るオフセットを補正するための較正ブロック(オフセット較正ブロック)を、高速トランスコンダクタンスアンプの入力(複数の入力)において、または、高速トランスコンダクタンスアンプの内部の後の段において実現することも可能である。
高速差動信号におけるオフセットを除去するための較正ブロックは、その帯域幅をキャパシタCLARGEによって定義できる高直流(DC)ゲインAV,CALIBRATION,PI CONTROLアンプを用いて実現される比例積分(PI)コントローラを含み得る。
POLE,CALIBRATION<fMIN,SIGNALを満たすために、AV,CALIBRATION,PI CONTROLアンプの帯域幅を制限することができる。十分に低いfPOLE,CALIBRATIONは、たとえば、1つ以上の十分に大きなキャパシタCLARGEを用いることによって得ることができる。
光通信システムにおいて使用される本発明に従う例示的な光送信機は、
少なくとも1つの発光ダイオードと、
上記構成のうちのいずれかに従うおよび/または上記例示的な特徴のいずれかの可能な組合せに従う少なくとも1つの発光ダイオード駆動回路とを含み得る。
要約すると、例示した、光通信システムにおいて使用される発光ダイオード駆動回路のまたは光送信機のアーキテクチャは、特に、
・十分に制御された消光比、
・入力信号振幅およびPVT変動の補償、
・高速信号経路のオフセット較正、
・一定のLED分極(一定のIBIAS)、
・プリエンファシス極/ゼロ周波数位置およびプリエンファシス高周波ゲインの制御、
・十分に制御された光クリッピングおよび信頼性が高い最大LEDピーク電流、および
・線形変調に基づく高速光通信に対応するための高帯域幅および高線形性
を、提供できる。
図面が例示しているものは次の通りである。
光送信機において使用される発光ダイオード駆動回路の例示的な概略アーキテクチャを示す図である。 例示的なプリエンファシス関数を示す図である。 例示的なプリエンファシスとともに発光ダイオード駆動回路の例示的な概略アーキテクチャを示す図である。 例示的なプリエンファシスを伴う例示的な発光ダイオード駆動回路内の例示的な概略信号フローを示す図である。 例示的な較正関数を示す図である。 例示的なプリエンファシスおよび例示的なオフセット較正とともに発光ダイオード駆動回路の例示的な概略アーキテクチャを示す図である。 例示的なデジタルアナログ変換器(DAC)を示す図である。 入力信号コンディショナブロックの例示的な概略アーキテクチャを示す図である。 入力信号コンディショナブロックの他の例示的な例を示す図である。 負のフィードバックを伴う例示的なプリエンファシスブロックを示す図である。 例示的なトランスコンダクタンスアンプブロックを示す図である。 トランスコンダクタンスアンプブロックの他の例を示す図である。 例示的な較正オフセット回路を含む高速トランスコンダクタンスアンプの例を示す図である。 光通信システムの例を示す図である。
図1は、光送信機100において使用される、発光ダイオード110を駆動する発光ダイオード駆動回路101の可能なアーキテクチャを例示する図である。
駆動回路またはドライバ101はしたがって、たとえば、発光ダイオード110の線形変調のために入力信号106を出力信号109に線形変換するように構成された高速トランスコンダクタンスアンプ114を含む高速信号経路102を含み得る。
駆動回路101はさらに、入力信号106の低周波成分に依存して、たとえば入力信号の振幅に依存してトランスコンダクタンス115(G)を生成するように構成し得る低周波制御経路103を含み得る。
さらに、低周波制御経路103は、低周波制御経路103が生成したトランスコンダクタンスに基づいて高速トランスコンダクタンスアンプのトランスコンダクタンス116を制御するように構成し得る。
入力信号106は、差動入力信号(VDIFF,IN)、たとえば、2つの電圧入力の差、たとえば、反転入力108(VIN)の電圧と非反転入力107(VIP)の電圧との差によって定められる。
高速信号経路102はさらに、ゲイン、たとえばGHSを差動入力信号106に与えることにより、高速トランスコンダクタンスアンプ114の入力として機能し得る信号118(VDIFF)を生成するための高速差動入力信号コンディショナ111を含み得る。
低周波制御回路103はさらに、入力信号106の振幅に応じて信号117(VAMP)を生成するように構成できる低周波入力信号振幅推定器112を含み得る。例として、ゲイン、たとえばGDCを、推定されたまたは検出された入力信号振幅VAMP,ESTIMATORに与えることができる。
さらに、低周波制御経路103は、低周波入力信号振幅推定器112によって生成された信号117に応じてトランスコンダクタンス115を生成するように構成された低周波制御回路113を含み得る。また、低周波制御回路113はさらに、低周波入力信号振幅推定器112によって生成された信号117に応じて低周波制御回路113によって生成されたトランスコンダクタンス115に基づいて高速トランスコンダクタンスアンプ114のトランスコンダクタンス116を制御するように構成することができる。
低周波制御回路113によって生成されたトランスコンダクタンス115に基づく高速トランスコンダクタンスアンプ114のトランスコンダクタンス116の上記制御は、たとえば、上述の制御法則に基づいていてもよい。
したがって、低周波制御回路113は、たとえば、低速トランスコンダクタンスアンプ119と比例積分コントローラ120とを含み得る。
変調された電流(IMODULATED)、すなわち、たとえばLED110を流れる発光ダイオードの線形変調のための出力信号109は、アンプのトランスコンダクタンス116(G)に比例してもよく、差動電圧入力信号VDIFF,INに比例してもよく、または、本明細書に示すように高速差動入力信号コンディショナを適用する場合は、調整された信号118(VDIFF)に比例してもよい。たとえば、線形変調された電流(IMODULATED)は、先に示したように次のように表わすことができる。
MODULATED=G・VDIFF
さらに、それに加えてバイアス電流(IBIAS)123がLED110を流れてもよく、そうすると、LEDを流れる総電流121(ILED)は、これも先に示したように次のように表わすことができる。
LED=IMODULATED+IBIAS
言換えると、示されている例示的な発光ダイオード駆動回路101のアーキテクチャは、入力信号106を受け高速差動入力信号コンディショナ111と低周波入力信号振幅推定器112とを含み得る入力信号コンディショナブロック104を含むと説明することもできる。
さらに、示されている例示的な発光ダイオード駆動回路101のアーキテクチャは、高速トランスコンダクタンスアンプ114と低周波制御回路113とを含み得るトランスコンダクタンスアンプブロック105を含み得る。低周波制御回路113は、高速トランスコンダクタンスアンプ114のトランスコンダクタンス116を制御するように構成し得る。
図2は、プリエンファシス関数200の可能な一例を例示し、グラフに示されるそのゲイン202は周波数201に依存する。
特に、プリエンファシス関数202は、たとえば、ゼロ位置203(fZERO)および極位置204(fPOLE)を有する1極−1ゼロプリエンファシス関数202であってもよく、プリエンファシス関数200は、たとえば、値205(A)および206(A・GPEAKING)を取ることができる。
図3は、光送信機300で使用される発光ダイオード310を駆動するための発光ダイオード駆動回路301の可能なアーキテクチャの他の例を示す。
図1の例示的な発光ダイオード駆動回路101と同様、駆動回路またはドライバ301は、たとえば、発光ダイオード310の線形変調のために入力信号306を出力信号309に線形変換するように構成された高速トランスコンダクタンスアンプ314を含む高速信号経路302を含み得る。
駆動回路301はさらに、入力信号306の低周波成分に応じて、たとえば、入力信号振幅に応じて、トランスコンダクタンス315(G)を生成するように構成し得る低周波制御経路303を含み得る。
さらに、低周波信号経路303は、低周波制御経路303によって生成されたトランスコンダクタンス315に基づいて高速トランスコンダクタンスアンプのトランスコンダクタンス316を制御するように構成し得る。
また、入力信号306は、差動入力信号、たとえば、2つの電圧入力の差によって、たとえば、反転入力308の電圧(VIN)と非反転入力307の電圧(VIP)との差によって定められる、差動電圧入力信号(VDIFF,IN)であってもよい。
高速信号経路302はさらに、ゲイン、たとえばGHSを差動入力信号306に与えることにより信号318(VDIFF)を生成するための高速差動入力信号コンディショナ311を含み得る。
また、低速制御経路303はさらに、入力信号306の振幅に応じて信号317(VAMP)を生成するように構成し得る低周波入力信号振幅推定器312を含み得る。例として、ゲイン、たとえばGDCを推定または検出された入力信号振幅VAMP,ESTIMATORに与えることができる。
しかしながら、図1のドライバ101と比較して、さらに駆動回路301はプリエンファシスブロック323を含み得る。
例示的なプリエンファシスブロック323は、入力信号に対し高速ゲインを用いてプリエンファシスを与えるための高速ブロック324を含み得る。低速レプリカブロック325は低周波入力信号振幅推定器312によって生成された信号に低周波ゲインを与えることができ、高速ゲインの値は、低周波ゲインの値にマッチングまたは比例し得る。
さらに、低周波制御経路303は、低速レプリカブロック325によって生成された信号326(VAMP,PE)に応じてトランスコンダクタンス315を生成するように構成された低周波制御回路313を含み得る。
低周波制御回路313はさらに、低速レプリカブロック325からの信号326に応じて低周波制御回路313によって生成されたトランスコンダクタンス315に基づいて高速トランスコンダクタンスアンプ314のトランスコンダクタンス316を制御するように構成し得る。
また、低速制御回路313によって生成されたトランスコンダクタンス315に基づく高速トランスコンダクタンスアンプ314のトランスコンダクタンス316の制御は、たとえば、概ね先に述べた通りである制御法則に基づき得る。
低周波制御回路313はまた、たとえば、低速トランスコンダクタンスアンプ319と比例積分コントローラ320とを含み得る。
変調された電流(IMODULATED)、すなわち、たとえばLED310を流れる発光ダイオードの線形変調のための出力信号309は、アンプのトランスコンダクタンス316(G)に比例してもよく、差動電圧入力信号VDIFF,INに比例してもよく、または、本明細書に示すように高速差動入力信号コンディショナを適用する場合は、プリエンファシス関数は調整されプリエンファシスされた信号327(VDIFF,PE)に比例してもよい。
たとえば、線形変調された電流(IMODULATED)は次のように表わすことができる。
MODULATED=G・VDIFF
さらに、それに加えてバイアス電流(IBIAS)がLED310を流れてもよく、そうすると、LEDを流れる総電流121(ILED)は、これも先に示したように次のように表わすことができる。
LED=IMODULATED+IBIAS
示されている例示的な発光ダイオード駆動回路301のアーキテクチャは、入力信号306を受け高速差動入力信号コンディショナ311と低周波入力信号振幅推定器312とを含み得る入力信号コンディショナブロック304を含むと説明することもできる。
さらに、示されている例示的な発光ダイオード駆動回路301のアーキテクチャは、高速トランスコンダクタンスアンプ314と低周波制御回路313とを含み得るトランスコンダクタンスアンプブロック305を含み得る。低周波制御回路313は、高速トランスコンダクタンスアンプ314のトランスコンダクタンス316を制御するように構成し得る。
プリエンファシスブロック323は、たとえば示されているように、入力信号コンディショナブロック304とトランスコンダクタンスアンプブロック305との間に配置されていてもよい。
図4は、プリエンファシスを伴う例示的な発光ダイオード駆動回路における例示的な信号の流れ400、たとえば、図3の発光ダイオード駆動回路301と同様または同一のプリエンファシスを伴う例示的な発光ダイオード駆動回路で発生し得る信号の流れを示す。
たとえば、経時変化する差動電圧入力信号401は、発光ダイオード駆動回路(図示せず)の低周波制御経路408および高速信号経路407への入力として供給し得る。
低周波制御経路408の一部または全体の電圧信号および/またはトランスコンダクタンスは、たとえば、本質的に平坦で安定したものであってもよい。
言換えると、低周波入力信号振幅推定器における電圧信号402aおよび/または低速レプリカブロック(図示せず)における電圧信号403aおよび/または低速/低周波制御回路(図示せず)におけるトランスコンダクタンス信号404aは、時間が経過しても事実上一定であってもよい。
これに対し、高速信号経路407の電圧信号は、入力信号401に応じて比例的に変化し、すなわち、高速差動入力信号コンディショナ(図示せず)における電圧信号402bおよび/または高速プリエンファシスブロック(図示せず)における電圧信号403bは、入力信号401に応じて比例的に変化し、結果として、高速トランスコンダクタンスアンプ(図示せず)の例示的な線形変調された電流出力信号404bになってもよい。
完璧を期すために、例示的な、結果として生じるLED(図示せず)を流れる総電流の時系列405が、プリエンファシスを伴う例示的な発光ダイオード駆動回路によって駆動されたときのLEDの光強度出力の例示的な時系列406とともに、示されている。
図5は、高速信号経路において生じ得るオフセットを訂正するために光較正(図示せず)によって高速信号に適用し得る例示的な較正関数500を示し、たとえば、較正ブロックは、高速トランスコンダクタンスアンプ(図示せず)において実現することができる。
図6は、光送信機600で使用される発光ダイオード駆動回路601のさらなる例示的な概略アーキテクチャを示す。
示されているアーキテクチャは、ほとんどの部分が図3に示される例示的な発光ダイオード駆動回路301と同様または同一である、すなわち、参照番号600〜627で示される回路および光送信機の構成要素は、図3の参照番号300〜327によって示される回路および光送信機の構成要素と同様または同一であってもよい。
しかしながら、示されている発光ダイオード駆動回路601はさらに、高速信号経路602において発生し得るオフセットを訂正するための、たとえば、高速信号経路602の構成要素における局所的なプロセス変動から発生し得るオフセットを訂正するための、例示的なオフセット較正ブロック628を有する。
例示的なオフセット較正ブロック628は、たとえば、高速トランスコンダクタンスアンプ614に収容されていてもよい。
較正ブロック628はしたがって、先に述べたように比例積分(PI)コントローラ629を含み得る。
図7は、発光ダイオード駆動回路に対する差動電圧入力信号702を与えるために、発光ダイオード駆動回路の入力終端701に対して入力信号たとえば通信信号を与えるために使用し得る電流ステアリングデジタルアナログ変換器(DAC)700の一例を示す。
本明細書において、差動入力信号振幅VAMP,INおよびコモンモード入力信号VCMは以下の厳密な関係に従い得る。
そうすると、DACフルスケール電流IFCの変動および発光ダイオード駆動回路またはDAC終端抵抗器RTERM,DACの変動は、コモンモード信号および差動信号ゲイン双方に対して同じ影響を有し得る。
図8は、高速入力信号コンディショナ803と低周波入力信号振幅推定器804とを含み、図7に示される入力終端701と同様または同一であってもよい入力終端801から差動電圧入力信号802が与えられる、入力信号コンディショナブロック800の概略アーキテクチャの一例を示す。
たとえば、PMOS(pチャネル金属酸化膜半導体)電界効果トランジスタもしくはCMOS(相補型金属酸化膜半導体)電界効果トランジスタのソースフォロワ構成、または、DACステアリングがドレイン電流の場合はNMOSすなわちnチャネル金属酸化膜半導体電界効果トランジスタ)、または、より一般的には、高速差動入力信号コンディショナ803におけるユニティバッファは、以下の電圧によって、かつ以下のゲインを与えることによって、入力終端インピーダンスを分離することができ、電圧レベル信号を高める(減じる)ことができる。
上記電圧は以下の通りである。
式中、
GSはCMOSトランジスタのゲート−ソース電圧、
THはCMOSトランジスタのしきい値電圧、
POLAR,HSは高速入力信号コンディショナバッファのCMOSトランジスタを流れる分極電流、
μは電荷キャリアの移動度、
OXはCMOSトランジスタのゲート酸化膜容量、
WおよびLはそれぞれCMOSトランジスタの幅および長さである。
上記ゲインは以下の通りである。
式中、
は、CMOSトランジスタにおけるゲート−ソース電圧に関連する小信号トランスコンダクタンスであり、
mbは、CMOSトランジスタにおけるバルク−ソース電圧に関連する小信号トランスコンダクタンスである。
低周波制御経路の低周波入力信号振幅推定器804における対応するレプリカユニディバッファと、2つの抵抗器とを用いることにより、以下のように、入力信号振幅との厳密な関係を保つ入力信号コモンモード電圧検出器(VCM)に基づいて推定入力信号振幅を生成することができる。
図9は、高速入力信号コンディショナ903と低周波入力信号振幅推定器904とを含み、図7に示される入力終端701と同様または同一であってもよい入力終端901から差動電圧入力信号902が与えられる、入力信号コンディショナブロック900の概略アーキテクチャの他の例を示す。
高速信号経路の高速差動入力信号コンディショナ903は、たとえば、負のフィードバックを伴う少なくとも1つのオペアンプ(opamp)905を含み得る。
また、低周波入力信号振幅推定器904は、負のフィードバックを伴う少なくとも1つのオペアンプ906を含み得る。
よって、たとえば、高速信号経路のゲインGHSおよび低速/低周波制御経路のゲインGDCは以下の通りであってもよい。
式中、RおよびRは抵抗でありfREPLICAはスケールファクタである。
言換えると、低周波入力信号振幅推定器904におけるフィードバック抵抗器は、高速差動入力信号コンディショナ903におけるフィードバック抵抗器のfREPLICA倍になるように設計することができる。
低周波入力信号振幅推定器904についてより大きな構成要素の使用を選択することにより、低周波入力信号振幅推定器904の精度およびマッチングを改善し消費電力を低減することができる。
それでもなお、低周波入力信号振幅推定器904および高速差動入力信号コンディショナ903における抵抗器は、たとえば、すべてのPVT条件についてマッチングを改善できるようにするために、同一のフォームファクタを有していてもよい。
同一のコモンモードフィードバック(CMFB)回路907、908を、マッチングの改善のために、高速信号経路および低周波経路のオペアンプで用いてもよい。
さらに、Rとして、LEDドライバ入力終端抵抗RTERM,DRIVERよりも大きいものを選択することにより、ドライバ入力終端インピーダンスがRの影響を受けないようにすることができる。
また、より大きなRは特に、上記概要で述べたようにコモンモード入力電圧の誤差を減じることができる。
図10は、入力信号1003に対し高速ゲインを用いてプリエンファシスを与えるための高速プリエンファシスブロック1001と、制御信号経路の信号に低周波ゲインを与える低速レプリカブロック1002とを含むプリエンファシスブロック1000の例示的なアーキテクチャを示し、高速ゲインの値は低速ゲインの値にマッチングまたは比例する。
よって、制御信号経路の信号は、任意で、低周波入力信号振幅推定器(図示せず)によって生成されたものであってもよい。
入力信号1003は差動電圧入力信号であってもよく、入力信号1003は、たとえば高速差動入力信号コンディショナおよび/または低周波入力信号振幅推定器(図示せず)を介して先に入力信号調整を受けたものであってもよい。
例示的なプリエンファシスブロック1001は、たとえば、入力信号コンディショナブロック(図示せず)とは別に配置されてもよく、または、上記/あるプリエンファシスブロックを入力信号コンディショナブロックと組合わせて消費電力を低減してもよい。
プリエンファシスブロックは、高速プリエンファシスブロック1001および低速レプリカブロック1002双方における負のフィードバックを伴うオペアンプ(opamp)の使用、すなわち、高速プリエンファシスブロック1001における高速オペアンプ1004およびコモンモードフィードバック(CMFB)回路1006と、低速レプリカブロック1002における低速オペアンプ1005およびコモンモードフィードバック(CMFB)回路1007の使用に基づいていてもよく、コモンモードフィードバック(CMFB)回路1006、1007は同じ種類であってもよい。
この例において、ゼロ/極位置および高周波ゲインはしたがって、全体的に十分に制御されプロセス変動がほんのわずかである受動素子(C,CおよびR,R)のみに依存する。
低速プリエンファシスレプリカブロック1002において、同じゲインを以下のようにして得ることができる。
図11は、高速トランスコンダクタンスアンプ1101と低周波制御回路1102とを含む可能なトランスコンダクタンスアンプブロック1100の例示的なアーキテクチャを示す。
高速トランスコンダクタンスアンプ1101は、シングルエンドであってもよい、すなわち信号出力1108を有してもよい。
可能なトランスコンダクタンスアンプブロックの例示的なアーキテクチャはしたがって、電源VDD1104に接続されたLED1103から電流を引くのに特に適している。同じ原理を適用して電流を接地(GND)に接続されたLEDに与えることもできる。
トランスコンダクタンスの値Gは、信号G−制御(GM−control)1105によって、すなわち、高速トランスコンダクタンスアンプ1101のトランスコンダクタンスを制御するように構成された低周波消光比制御回路1102によって変化させることができる。
この制御信号1105は、たとえば、入力ペア電流分極を変化させる、または、縮退した入力ペアの縮退抵抗を変化させることができる。Gの他の制御方法も可能である。たとえば、コモンソース段のコモンモード入力電圧を変化させることにより、Gの制御方法を提供することも可能である。
低周波制御回路1102は、比例トランスコンダクタンスG/fREPLICA,ERを有する高速トランスコンダクタンスアンプ1101のレプリカであってもよく、G−ccontrol信号1105によりフィードバックループにおいて制御されてもよい。
低周波制御回路1102は、たとえば、その帯域幅をキャパシタCLARGE1107によって定義できる高直流(DC)ゲインAV,ER,PI CONTROLアンプ1106を用いる、比例積分(PI)コントローラを含み得る。
図12は、高速トランスコンダクタンスアンプ1201と低周波制御回路1202とを含む可能なトランスコンダクタンスアンプブロック1200の他の例示的なアーキテクチャを示す。
トランスコンダクタンスアンプブロック1200は、ほとんどの部分がトランスコンダクタンスアンプブロック1100と同様または同一であってもよい、すなわち、参照番号1201〜1207で示される構成要素は、図11のトランスコンダクタンスアンプブロック1100の参照番号1101〜1107で示されるものと同様または同一であってもよい。
しかしながら、示されている高速トランスコンダクタンスアンプ1201は、全差動バージョンで実現されてもよい、すなわちダブルエンドであってもよい、すなわち差動出力1208を有していてもよい。
このような可能な全差動高速トランスコンダクタンスアンプ1201はしたがって、発光ダイオード1203を流れる電流と値は同一であるが方向が逆の電流がLEDの等価低周波インピーダンスを複製できるダミー抵抗1209も流れるように、構成することができる。
これにより、特に電源電圧変動除去比(PSRR)を改善することができる。
図13は、低周波制御回路(図示せず)によって制御される可能なトランスコンダクタンスアンプ1300の他の例示的なアーキテクチャを示す。
上述の概要で述べたように、高速信号経路において生じ得るオフセットを補正するための較正ブロック(オフセット較正ブロック)1301を、図示のように高速トランスコンダクタンスアンプの入力1302において、または、高速トランスコンダクタンスアンプの内部の後の段において実現することも可能である。
高速差動信号におけるオフセットを除去するための較正ブロック1301は、その帯域幅をキャパシタCLARGE1303によって定義できる高直流(DC)ゲインAV,CALIBRATION,PI CONTROLアンプ1304を用いて実現される比例積分(PI)コントローラを含み得る。
POLE,CALIBRATION<fMIN,SIGNALを満たすために、AV,CALIBRATION,PI CONTROLアンプ1304の帯域幅を制限することができる。十分に低いfPOLE,CALIBRATIONは、たとえば、1つ以上の十分に大きなキャパシタCLARGEを用いることによって得ることができる。
例示した発光ダイオード駆動回路のための電子構成要素またはブロックまたは回路、たとえば、高速トランスコンダクタンスアンプ、低周波制御回路、高速(差動)入力信号コンディショナ、および低周波入力信号振幅推定器は、すべて相互に互換性があり、他の順序および/または他の組合わせで配置されていてもよい。
たとえば、光プリエンファシスブロックは、トランスコンダクタンスアンプブロックの前または入力信号コンディショナブロックの前に配置されてもよい。
図14は、光送信機1401と、光ファイバリンク1402たとえばプラスチックファイバと、光受信機1403とを含む光通信システム1400を例示する。
この例示的な光通信システム1400において、発光素子、たとえば光送信機の発光ダイオード(LED)1406は、受光素子すなわち光受信機1403に光信号を案内するたとえばプラスチックファイバである光ファイバリンク1402に与えられる光信号を出力し、この光をたとえばフォトダイオード1407が受ける。フォトダイオード1407が受けた光は光電流を生成し、この光電流は、たとえばトランスインピーダンスアンプ(TIA)1408によって電圧出力信号1409に変換される。
さらに、例示的な光通信システム1400において、例示的な入力電圧信号1405を受ける送信機1401は、上記発光ダイオード駆動回路の例示的なアーキテクチャに従い、発光ダイオード(LED)1406を駆動し制御する発光ダイオード駆動回路1404を含む。
完璧を期すために、上記発光ダイオード駆動回路の例示的なアーキテクチャ(複数のアーキテクチャ)は、MOS(金属酸化物半導体)アーキテクチャに基づいた実装に限定されないことに注意されたい。先に例示した発光ダイオード駆動回路のアーキテクチャの設計は、他の技術、たとえばバイポーラ(バイポーラ接合トランジスタ技術)、BiCMOS(バイポーラ接合トランジスタ技術と相補型金属酸化膜半導体技術とを組合わせたもの)、GaAs(ガリウムヒ素)に基づく技術等の他の技術にも対応し得る。
14の図面を含む14枚を添付する。
参照番号は以下の構成要素を特定する。
100 例示的な光送信機
101 例示的な発光ダイオード駆動回路
102 例示的な高速信号経路
103 例示的な低周波制御経路/例示的な低速制御経路
104 例示的な入力信号コンディショナ、例示的な入力信号コンディショナブロック
105 例示的なトランスコンダクタンスアンプ、例示的なトランスコンダクタンスアンプブロック
106 例示的な入力信号たとえば差動入力信号、差動電圧入力信号
107 例示的な第1の電圧入力
108 例示的な第2の電圧入力
109 例示的な出力信号たとえば発光ダイオードを駆動するための変調された電流
110 例示的な発光ダイオード(LED)
111 例示的な高速差動入力信号コンディショナ
112 例示的な低周波入力信号振幅推定器
113 例示的な低周波制御回路
114 例示的な高速トランスコンダクタンスアンプ
115 例示的なトランスコンダクタンス、例示的なトランスコンダクタンス制御信号
116 高速トランスコンダクタンスアンプの例示的なトランスコンダクタンス、例示的なトランスコンダクタンス制御信号
117 低周波入力信号振幅推定器によって生成された例示的な信号
118 高速差動入力信号コンディショナによって生成された例示的な信号
119 例示的な低速トランスコンダクタンスアンプ
120 低周波制御回路の例示的な比例積分コントローラ
121 LEDを流れる例示的な総電流
122 例示的な光強度出力
123 例示的なバイアス電流
200 例示的なプリエンファシス関数
201 例示的な周波数軸
202 例示的なゲイン軸
203 プリエンファシス関数の例示的なゼロ位置
204 プリエンファシス関数の例示的な極位置
205 ゼロ位置の前のプリエンファシス関数の例示的な値
206 極位置の後のプリエンファシス関数の例示的な値
300 例示的な光送信機
301 例示的な発光ダイオード駆動回路
302 例示的な高速信号経路
303 例示的な低周波制御経路/例示的な低速制御経路
304 例示的な入力信号コンディショナ、例示的な入力信号コンディショナブロック
305 例示的なトランスコンダクタンスアンプ、例示的なトランスコンダクタンスアンプブロック
306 例示的な入力信号、たとえば差動入力信号、差動電圧入力信号
307 例示的な第1の電圧入力
308 例示的な第2の電圧入力
309 例示的な出力信号、たとえば発光ダイオードを駆動するための変調された電流
310 例示的な発光ダイオード(LED)
311 例示的な高速差動入力信号コンディショナ
312 例示的な低周波入力信号振幅推定器
313 例示的な低周波制御回路
314 例示的な高速トランスコンダクタンスアンプ
315 例示的なトランスコンダクタンス、例示的なトランスコンダクタンス制御信号
316 高速トランスコンダクタンスアンプの例示的なトランスコンダクタンス、例示的なトランスコンダクタンス制御信号
317 低周波入力信号振幅推定器によって生成された例示的な信号
318 高速差動入力信号コンディショナによって生成された例示的な信号
319 例示的な低速トランスコンダクタンスアンプ
320 低周波制御回路の例示的な比例積分コントローラ
321 LEDを流れる例示的な総電流
322 例示的な光強度出力
323 例示的なプリエンファシスブロック
324 例示的な高速プリエンファシスブロック
325 例示的な低速プリエンファシスレプリカブロック
326 低速プリエンファシスレプリカブロックによって生成された例示的な信号
327 高速プリエンファシスブロックによって生成された例示的な信号
400 例示的な発光ダイオード駆動回路における例示的な信号の流れの挙動
401 例示的な時系列の例示的な差動入力信号
402a 低周波入力信号振幅推定器における例示的な時系列の電圧信号
402b 高速差動入力信号コンディショナにおける例示的な時系列の電圧信号
403a 低速プリエンファシスレプリカブロックにおける例示的な時系列の電圧信号
403b 高速プリエンファシスブロックにおける例示的な時系列の電圧信号
404a 低速/低周波制御回路における例示的な時系列のトランスコンダクタンス
404b 高速トランスコンダクタンスアンプの例示的な時系列の出力信号
405 LEDを流れる例示的な時系列の電流
406 LEDの例示的な時系列の光強度出力
407 例示的な高速信号経路
408 例示的な低周波制御経路
500 例示的な較正関数
600 例示的な光送信機
601 例示的な発光ダイオード駆動回路
602 例示的な高速信号経路
603 例示的な低周波制御経路/例示的な低速制御経路
604 例示的な入力信号コンディショナ、例示的な入力信号コンディショナブロック
605 例示的なトランスコンダクタンスアンプ、例示的なトランスコンダクタンスアンプブロック
606 例示的な入力信号、たとえば差動入力信号、差動電圧入力信号
607 例示的な第1の電圧入力
608 例示的な第2の電圧入力
609 例示的な出力信号、たとえば発光ダイオードを駆動するための変調された電流
610 例示的な発光ダイオード(LED)
611 例示的な高速差動入力信号コンディショナ
612 例示的な低周波入力信号振幅推定器
613 例示的な低周波制御回路
614 例示的な高速トランスコンダクタンスアンプ
615 例示的なトランスコンダクタンス、例示的なトランスコンダクタンス制御信号
616 高速トランスコンダクタンスアンプの例示的なトランスコンダクタンス、例示的なトランスコンダクタンス制御信号
617 例示的な信号によって生成された低周波入力信号振幅推定器
618 例示的な信号によって生成された高速差動入力信号コンディショナ
619 例示的な低速トランスコンダクタンスアンプ
620 低周波制御回路の例示的な比例積分コントローラ
621 LEDを流れる例示的な総電流
622 例示的な光強度出力
623 例示的なプリエンファシスブロック
624 例示的な高速プリエンファシスブロック
625 例示的な低速プリエンファシスレプリカブロック
626 例示的な信号によって生成された低速プリエンファシスレプリカブロック
627 例示的な信号によって生成された高速プリエンファシスブロック
628 例示的な較正ブロック/オフセット較正ブロック
629 例示的な比例積分(PI)コントローラ
700 例示的なデジタルアナログ変換器(DAC)
701 発光ダイオード駆動回路の例示的な入力終端/LEDドライバ入力終端インピーダンス
702 例示的な差動電圧入力信号(V_(AMP,IN))
800 例示的な入力信号コンディショナブロック
801 発光ダイオード駆動回路の例示的な入力終端/LEDドライバ入力終端インピーダンス
802 例示的な差動電圧入力信号(V_(AMP,IN))
803 例示的な高速入力信号コンディショナ/高速差動input
信号コンディショナ
804 例示的な低周波入力信号振幅推定器/DC入力信号振幅推定器
900 例示的な入力信号コンディショナブロック
901 発光ダイオード駆動回路の例示的な入力終端/LEDドライバ入力終端インピーダンス
902 例示的な差動電圧入力信号(V_(AMP,IN))
903 例示的な高速入力信号コンディショナ/高速差動入力信号コンディショナ
904 例示的な低周波入力信号振幅推定器/DC入力信号振幅推定器
905 例示的な高速オペアンプ
906 例示的な低速オペアンプ
907 高速入力信号コンディショナにおける例示的なコモンモードフィードバック(CMFB)回路
908 低周波入力信号振幅推定器における例示的なコモンモードフィードバック(CMFB)回路
1000 例示的なプリエンファシスブロック
1001 例示的な高速プリエンファシスブロック/高速プリエンファシス回路
1002 例示的な低速プリエンファシスレプリカブロック/DCプリエンファシスレプリカ回路/低速プリエンファシスレプリカブロック
1003 例示的な入力信号
1004 例示的な高速オペアンプ
1005 例示的な低速オペアンプ
1006 高速プリエンファシスブロックにおける例示的なコモンモードフィードバック(CMFB)回路
1007 低速プリエンファシスレプリカブロックにおける例示的なコモンモードフィードバック(CMFB)回路
1100 例示的なトランスコンダクタンスアンプブロック
1101 例示的な高速トランスコンダクタンスアンプ
1102 例示的な低周波制御回路/直流(DC)消光比回路
1103 例示的な発光ダイオード(LED)
1104 例示的な電源VDD
1105 例示的な制御信号/トランスコンダクタンス制御信号/トランスコンダクタンス
1106 例示的な高直流(DC)ゲインアンプ
1107 例示的なキャパシタ
1108 高速トランスコンダクタンスアンプの例示的なシングルエンド/シングル出力
1200 例示的なトランスコンダクタンスアンプブロック
1201 例示的な高速トランスコンダクタンスアンプ
1202 例示的な低周波制御回路/直流(DC)消光比回路
1203 例示的な発光ダイオード(LED)
1204 例示的な電源VDD
1205 例示的な制御信号/トランスコンダクタンス制御信号/トランスコンダクタンス
1206 例示的な高直流(DC)ゲインアンプ
1207 例示的なキャパシタ
1208 高速トランスコンダクタンスアンプの例示的な全差動出力
1209 例示的なダミー抵抗
1300 例示的な高速トランスコンダクタンスアンプ
1301 例示的な較正ブロック(オフセット較正ブロック)
1302 例示的な高速トランスコンダクタンスアンプ入力
1303 例示的なキャパシタ
1304 例示的な高直流(DC)ゲインアンプ
1400 例示的な光通信システム
1401 例示的な光送信機
1402 例示的な光ファイバリンク
1403 例示的な光受信機
1404 例示的な発光ダイオード駆動回路
1405 例示的な入力信号、たとえば電圧信号
1406 例示的な発光ダイオード
1407 例示的な受光素子、たとばフォトダイオード
1408 例示的なトランスインピーダンスアンプ(TIA)
1409 例示的な出力信号、たとえば光通信システムの電圧出力信号

Claims (14)

  1. 光送信機(100,300,600)において使用される発光ダイオード駆動回路(101,301,601)であって、
    発光ダイオード(110,310,610,1203)の線形変調のために入力信号(106,306,606)を出力電流信号(109,309,609)に線形変換するように構成された高速トランスコンダクタンスアンプ(114,314,614,1101,1201)を含む高速信号経路(102,302,602)と、
    入力信号(106,306,606)の低周波成分に応じて第1のトランスコンダクタンス(115,315,615)を生成するように構成された低周波制御経路(103,303,603)とを備え、
    前記低周波制御経路(103,303,603)は、前記第1のトランスコンダクタンス(115,315,615)に基づいて、前記高速トランスコンダクタンスアンプ(114,314,614,1101,1201)の第2のトランスコンダクタンス(116,316,616)を制御するように構成されている、発光ダイオード駆動回路(101,301,601)。
  2. 前記入力信号(106,306,606)は差動入力信号であり、
    前記高速信号経路(102,302,602)は、ゲインを前記差動入力信号に与えるおよび/または前記入力信号(106,306,606)のコモンモードに適合させた信号を、前記高速トランスコンダクタンスアンプ(114,314,614,1101,1201)に出力するための高速差動入力信号コンディショナ(111,311,611,803,903)をさらに含む、請求項1に記載の発光ダイオード駆動回路(101,301,601)。
  3. 前記低周波制御経路(103,303,603)は、
    前記入力信号(106,306,606)の振幅に応じて信号(117,317,617)を生成するように構成された低周波入力信号振幅推定器(112,312,612,804,904)と、
    前記低周波入力信号振幅推定器(112,312,612,804,904)によって生成された前記信号(117,317,617)に応じて第1のトランスコンダクタンス(115,315,615)を生成するように構成された低周波制御回路(113,313,613,1102,1202)とをさらに含み、
    前記低周波制御回路(113,313,613,1102,1202)は、前記低周波入力信号振幅推定器(112,312,612,804,904)によって生成された前記信号(117,317,617)に応じて前記低周波制御回路(113,313,613,1102,1202)によって生成された前記第1のトランスコンダクタンス(115,315,615)に基づいて、前記高速トランスコンダクタンスアンプ(114,314,614,1101,1201)の前記第2のトランスコンダクタンス(116,316,616)を制御するように構成されている、請求項2に記載の発光ダイオード駆動回路(101,301,601)。
  4. 前記低周波制御回路(113,313,613,1102,1202)は、前記信号(117,317,617)を入力する低速トランスコンダクタンスアンプ(119,319,619)と、前記低速トランスコンダクタンスアンプ(119,319,619)の出力を受けて前記第1のトランスコンダクタンス(115,315,615)を出力する比例積分コントローラ(120,320,620)とを含む、請求項3に記載の発光ダイオード駆動回路(101,301,601)。
  5. 前記発光ダイオード駆動回路(101,301,601)は、不変分極電流によって前記発光ダイオード(110,310,610,1103,1203)の消光比および分極を一定に保つように構成されている、請求項1〜4のいずれか一項に記載の発光ダイオード駆動回路(101,301,601)。
  6. プリエンファシスブロック(323,623,1000)をさらに備え、
    前記プリエンファシスブロック(323,623,1000)は、
    前記高速差動入力信号コンディショナ(111,311,611,803,903)と前記高速トランスコンダクタンスアンプ(114,314,614,1101,1201)との間に接続され、前記入力信号(106,306,606)に対し高速ゲインを用いてプリエンファシスを与えるための高速プリエンファシスブロック(324,624,1001)と、
    前記低周波入力信号振幅推定器(112,312,612,804,904)と前記低周波制御回路(113,313,613,1102,1202)との間に接続され、前記低周波入力信号振幅推定器(112,312,612,804,904)によって生成された信号に低周波ゲインを与える低速レプリカブロック(325,625,1002)とを含み、
    前記高速ゲインの値は、前記低周波ゲインの値にマッチングまたは比例する、請求項3または4に記載の発光ダイオード駆動回路(101,301,601)。
  7. 前記プリエンファシスブロック(323,623,1000)は、前記高速差動入力信号コンディショナ(111,311,611,803,903)および前記低周波入力信号振幅推定器(112,312,612,804,904)を含む入力信号コンディショナ(104,304,604)と、前記低周波制御回路(113,313,613,1102,1202)および前記高速トランスコンダクタンスアンプ(114,314,614,1101,1201)とを含むトランスコンダクタンスアンプ(105,305,605)とが組合わされて1つのブロックを形成し、
    前記高速差動入力信号コンディショナ(111,311,611,803,903)は前記高速プリエンファシスブロック(324,624,1001)と統合され、前記低周波入力信号振幅推定器(112,312,612,804,904)は前記低速レプリカブロック(325,625,1002)と統合されている、請求項6に記載の発光ダイオード駆動回路(101,301,601)。
  8. 前記高速信号経路(102,302,602)において生じ得るオフセットを補正するための較正ブロック(628)をさらに備え、前記較正ブロック(628)は、前記高速トランスコンダクタンスアンプ(114,314,614,1101,1201)内で実現されている、請求項1〜7のいずれか一項に記載の発光ダイオード駆動回路(101,301,601)。
  9. 前記高速差動入力信号コンディショナ(111,311,611,803,903)はユニティバッファと2つの抵抗器とを含み、および/または前記低周波入力信号振幅推定器(112,312,612,804,904)はユニティバッファと2つの抵抗器とを含む、請求項3、4、6および7のいずれか一項に記載の発光ダイオード駆動回路(101,301,601)。
  10. 前記高速差動入力信号コンディショナ(111,311,611,803,903)は負のフィードバックを伴う少なくとも1つのオペアンプ(905)を含み、および/または前記低周波入力信号振幅推定器(112,312,612,804,904)は負のフィードバックを伴う少なくとも1つのオペアンプ(906)を含む、請求項3、4、6および7のいずれか一項に記載の発光ダイオード駆動回路(101,301,601)。
  11. 前記プリエンファシスブロック(323,623,1000)は負のフィードバックを伴う少なくとも1つのオペアンプ(1004)を含む、請求項6または7に記載の発光ダイオード駆動回路(101,301,601)。
  12. 前記発光ダイオード(110,310,610,1203)を流れる電流と値は同じであるが方向が逆の電流がダミー抵抗(1209)にも流れるように構成された、シングルエンドの前記高速トランスコンダクタンスアンプ(114,314,614,1101,1201)または全差動の前記高速トランスコンダクタンスアンプ(114,314,614,1101,1201)と、
    シングルエンドの低速トランスコンダクタンスアンプおよび比例積分コントローラを含む前記低周波制御回路(113,313,613,1102,1202)とを備える、請求項3、4、6、7および9〜11のいずれか一項に記載の発光ダイオード駆動回路(101,301,601)。
  13. 前記低周波入力信号振幅推定器(112,312,612,804,904)は、エンベロープ検出器および/または二乗平均平方根値検出器および/またはコモンモード電圧検出器を含む、請求項3、6、7、9および10のいずれか一項に記載の発光ダイオード駆動回路(101,301,601)。
  14. 少なくとも1つの発光ダイオード(110,310,610,1103,1203)と、
    請求項1〜13のいずれか一項に記載の少なくとも1つの発光ダイオード駆動回路(101,301,601)とを備える、光通信システムにおいて使用される光送信機。
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