JP6633549B2 - 材料の評価のためのデバイス及び方法 - Google Patents
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- 239000000463 material Substances 0.000 title claims description 165
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 title claims description 54
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 37
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims description 40
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 20
- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 claims description 15
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 claims description 14
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 claims description 11
- 230000035515 penetration Effects 0.000 claims description 8
- 230000002829 reductive effect Effects 0.000 claims description 6
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 4
- 238000003672 processing method Methods 0.000 claims 3
- 238000010304 firing Methods 0.000 claims 2
- 239000011358 absorbing material Substances 0.000 claims 1
- 239000012768 molten material Substances 0.000 description 35
- 239000011819 refractory material Substances 0.000 description 26
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 14
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 12
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 12
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 11
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 10
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 9
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 7
- 239000006060 molten glass Substances 0.000 description 6
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 5
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 5
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 5
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 238000013461 design Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 4
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 4
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 4
- 230000004044 response Effects 0.000 description 4
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 4
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 3
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 3
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 3
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 3
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 3
- 230000000670 limiting effect Effects 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 3
- 238000012800 visualization Methods 0.000 description 3
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 239000011449 brick Substances 0.000 description 2
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 2
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- 230000036541 health Effects 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 2
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000003044 adaptive effect Effects 0.000 description 1
- 230000000712 assembly Effects 0.000 description 1
- 238000000429 assembly Methods 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 238000013481 data capture Methods 0.000 description 1
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 description 1
- 230000003628 erosive effect Effects 0.000 description 1
- 230000007717 exclusion Effects 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 230000004927 fusion Effects 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000007726 management method Methods 0.000 description 1
- 238000013507 mapping Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 230000008439 repair process Effects 0.000 description 1
- 230000009528 severe injury Effects 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000010183 spectrum analysis Methods 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 230000007847 structural defect Effects 0.000 description 1
- 239000013077 target material Substances 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
- 230000001131 transforming effect Effects 0.000 description 1
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M3/00—Investigating fluid-tightness of structures
- G01M3/02—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum
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- G01M3/16—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point using electric detection means
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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Description
本願は、2014年6月11日米国特許商標庁に出願の、本願と同発明者による同時係属米国仮特許出願第62/010,654号、発明の名称「材料の評価のための画像システム及び方法」に基づくものであり、更に、2014年10月31日米国特許商標庁に出願の、本願と同発明者による同時係属米国仮特許出願第62/073,193号、発明の名称「材料の評価のためのスキャンシステム及び方法」に基づくものであり、それらの記載内容は参照の上、本明細書に組み込まれる。
ポスト45と機械的に付帯する。更に、伸縮式アーム41の全長及び剛性は、移動の間のユニット44の揺れ動きを減少させる構造的安定性をユニット44に提供する十分な大きさであるように、選択されるのが好ましい。
Claims (27)
- 第2の材料により取り囲まれる第1の材料の状態を評価するデバイスにおいて、
a.第1の支持構造体に機械的に付属するハウジングと、
b.供給端と発射端とを有する電磁波ランチャであって、
前記供給端は、前記電磁波ランチャを介して伝搬可能である電磁波を励起するように構成された供給機構を含み、
前記発射端は、前記電磁波ランチャの外部の領域に前記電磁波を伝送するように構成され、前記第2の材料の内部での前記第1の材料の存在から反射する対象の電磁波を十分に検出できる程度に複数の反射を減少させるように、且つ、前記発射端を介して伝搬する前記電磁波の共鳴を減少させるように、物理的に構成され、
前記電磁波ランチャは、前記反射した対象の電磁波と前記第2の材料の不連続から反射したスプリアスの電磁波との間を十分に区別する期間だけ、第2の材料の内部での前記第1の材料の存在から反射する前記電磁波の受信を遅延するように調整された、電磁波ランチャと、並びに、
c.供給推移セクションであって、
前記供給端は、無線周波数信号を、前記電磁波から及び前記電磁波へ、適合させ、
前記発射端は、前記電磁波ランチャ内に別途存在するクラッタのレベルを十分に減少させる程度まで、前記供給端における前記励起された電磁波の複数の反射を減少させるように構成された、供給推移セクションと
を含み、
前記ハウジングは、前記電磁波ランチャ及び前記供給推移セクションを搭載する、
デバイス。 - 前記電磁波ランチャ、前記供給推移セクション、及び前記ハウジングが、ポータブルユニットとして構成されている、請求項1に記載のデバイス。
- 前記第1の支持構造体は、エリアをスキャンするハンドヘルド構成が前記第1の材料の前記状態を評価することを可能にするハンドヘルドエレメントを含む、請求項1に記載のデバイス。
- 前記第1の支持構造体は、第1のアームを含み、該第1のアームはその長手沿いの第1の次元で前記デバイスの移動をガイドし、第2の支持構造体に付属する、請求項1に記載のデバイス。
- 第2のアームの長手沿いの第2の次元で前記デバイスの移動をガイドする第2のアームを有する第3の支持構造体を、更に含み、
前記第3の支持構造体は、前記第1の支持構造体に付属し、前記第1の支持構造体の前記第1のアームは、前記第3の支持構造体の前記第2のアームと直交する、請求項4に記載のデバイス。 - 第3のアームの長手沿いの第3の次元で前記デバイスの移動をガイドする第3のアームを有する第4の支持構造体を、更に含み、
前記第4の支持構造体は、前記第1の支持構造体に付属し、前記第1の支持構造体の前記第1のアーム、前記第3の支持構造体の前記第2のアーム、及び、前記第4の支持構造体の前記第3のアームは、相互に直交する、請求項5に記載のデバイス。 - 前記第1の支持構造体は伸縮式アームを含む、請求項1に記載のデバイス。
- 対象の前記電磁波を検出して計測する無線周波数サブシステムを更に含み、前記無線周波数サブシステムは、前記ハウジングにインストールされ、0.25GHzと30GHzの間の周波数範囲の電磁波を生成して検出することができる、請求項1に記載のデバイス。
- 対象の前記電磁波を検出して計測する無線周波数サブシステムを更に含み、前記無線周波数サブシステムは、前記ハウジングにインストールされ、0.1ナノ秒と10ナノ秒の間の範囲の期間の時間領域パルスと関連する複数の電磁波を生成して検出することができる、請求項1に記載のデバイス。
- 前記電磁波ランチャは電磁気エネルギを吸収できる無線周波数吸収体材料を含み、前記無線周波数吸収体材料は、前記複数の反射を減少させるように、且つ、前記電磁波ランチャを介して伝搬する前記電磁波の前記共鳴を減少させるように、配置される、請求項1に記載のデバイス。
- 前記無線周波数吸収体材料は、前記電磁波ランチャの前記発射端に近接して配置される吸収材料の少なくとも一つの層を含む、請求項10に記載のデバイス。
- 前記電磁波ランチャの前記発射端は、少なくとも一つの円滑なエッジを有する、請求項1に記載のデバイス。
- 前記デバイスの移動を提供するモータを更に含む、請求項1に記載のデバイス。
- 複数の電磁波ランチャを更に含み、
前記複数の電磁波ランチャの少なくとも一つは、前記電磁波を伝送する、請求項1に記載のデバイス。 - 前記複数の電磁波ランチャは、前記第1の材料の前記状態を評価するためにエリアを電子的にスキャンするように構成されている、請求項14に記載のデバイス。
- 前記デバイスは、前記第1の材料の前記状態と前記第2の材料の状態から成るグループから選択される要素の評価の結果を生成するように構成され、前記結果は画像により表される、請求項1に記載のデバイス。
- 前記供給推移セクションは、キャビティが後ろにある供給ピンを含む、請求項1に記載のデバイス。
- 前記電磁波ランチャは更に、可変の導電性を有する材料を含む、請求項1に記載のデバイス。
- 第2の材料により取り囲まれる第1の材料の状態を評価する方法において、
a.第1の支持構造体に機械的に付属するハウジングと;
供給端と発射端とを有する電磁波ランチャであって、
前記供給端は、前記電磁波ランチャを介して伝搬可能である電磁波を励起するように構成された供給機構を含み、前記発射端は、前記電磁波ランチャの外部の領域に前記電磁波を伝送するように構成され、前記第2の材料の内部での前記第1の材料の存在から反射する対象の電磁波を十分に検出できる程度に複数の反射を減少させるように、且つ、前記発射端を介して伝搬する前記電磁波の共鳴を減少させるように、物理的に構成され、
前記電磁波ランチャは、前記反射した対象の電磁波と前記第2の材料の不連続から反射したスプリアスの電磁波との間を十分に区別する期間だけ、第2の材料の内部での前記第1の材料の存在から反射する前記電磁波の受信を遅延するように調整された、電磁波ランチャと;並びに、
供給推移セクションであって、
前記供給端は、無線周波数信号を、前記電磁波から及び前記電磁波へ、適合させ、
前記発射端は、前記電磁波ランチャ内に別途存在するクラッタのレベルを十分に減少させる程度まで、前記供給端における前記励起された電磁波の複数の反射を減少させるように構成された、供給推移セクションとを
提供するステップと、
b.前記第1の材料の領域の前記状態を評価するのに用いられる低共鳴電磁波ランチャのタイプを判別するステップと、
c.前記第1の材料の前記領域に近接して前記低共鳴電磁波ランチャの前記発射端を配置するステップと、
d.所定の周波数範囲内で伝搬する複数のEM波を、前記第1の材料の前記領域内に発射するステップと、
e.前記低共鳴電磁波ランチャにより発射される前記複数のEM波の伝搬の結果として、前記低共鳴電磁波ランチャ内に入ってくるEM波に関連する、データのセットを計測するステップと、
f.前記第2の材料の内部の前記第1の材料の前記存在の識別に基づいて、前記第1の材料の前記状態を判別するステップと
を含む、方法。 - 前記低共鳴電磁波ランチャの前記タイプは、固定式デバイス、ポータブルデバイス、及びハンドヘルドデバイスから成るグループから選択されるデバイスの一部である、請求項19に記載の方法。
- 前記低共鳴電磁波ランチャの前記発射端を配置する前記ステップは更に、物理構造の外表面の2インチの範囲内に、前記第1の材料の前記領域の近傍にてできるだけ近接して、前記低共鳴電磁波ランチャの前記発射端を配置するステップを含む、請求項19に記載の方法。
- 前記状態は、前記第2の材料の内部での、前記第1の材料の貫通の配置及び程度を含む、請求項19に記載の方法。
- 前記第1の材料の前記状態を判別するステップは更に、
a.前記データのセットを、更なるデータ処理に適する領域に変換するステップと、
b.少なくとも一つのデータ処理方法により前記データのセットを処理するステップと、
c.前記データのセットを較正するステップと、及び、
d.前記第2の材料の内部での、前記第1の材料の貫通の配置及び程度を判別するステップと
を含む、請求項19に記載の方法。 - 前記第1の材料の前記状態を判別するステップは更に、
a.前記データのセットを格納する手段を提供するステップと、
b.前記第1の材料の前記状態を評価するための、前記データのセットを処理するコンピュータベースのプロセッサを提供するステップと、
c.前記データのセットを格納する前記手段から、前記コンピュータベースのプロセッサへ、前記データのセットを転送するステップと、
d.少なくとも一つのデータ処理方法により前記データのセットを処理するステップと
を含む、請求項19に記載の方法。 - 評価される前記第1の材料の特性に従って選択されるデータ処理方法を利用して、前記データのセットを処理するステップを、更に含む、請求項19に記載の方法。
- 前記第1の材料の前記状態を判別するステップは、前記第2の材料の厚さを判別するステップを含む、請求項19に記載の方法。
- 前記第1の材料の前記状態についての情報を視覚的に表示するステップを、更に含む、請求項19に記載の方法。
Applications Claiming Priority (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201462010654P | 2014-06-11 | 2014-06-11 | |
US62/010,654 | 2014-06-11 | ||
US201462073193P | 2014-10-31 | 2014-10-31 | |
US62/073,193 | 2014-10-31 | ||
US14/732,831 | 2015-06-08 | ||
PCT/US2015/034620 WO2015191415A1 (en) | 2014-06-11 | 2015-06-08 | Device and method for evaluation of a material |
US14/732,831 US10151709B2 (en) | 2014-06-11 | 2015-06-08 | Device and method for evaluation of a material |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017520765A JP2017520765A (ja) | 2017-07-27 |
JP2017520765A5 JP2017520765A5 (ja) | 2018-07-12 |
JP6633549B2 true JP6633549B2 (ja) | 2020-01-22 |
Family
ID=54834133
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016572441A Active JP6633549B2 (ja) | 2014-06-11 | 2015-06-08 | 材料の評価のためのデバイス及び方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10151709B2 (ja) |
JP (1) | JP6633549B2 (ja) |
CA (1) | CA2950181A1 (ja) |
WO (1) | WO2015191415A1 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9880110B2 (en) | 2014-03-26 | 2018-01-30 | Paneratech, Inc. | Material erosion monitoring system and method |
US9488601B2 (en) * | 2014-03-26 | 2016-11-08 | Paneratech, Inc. | Material erosion monitoring system and method |
US9970748B2 (en) * | 2014-04-03 | 2018-05-15 | Tire Profiles Llc | Palm-size tire tread laser measurement device |
EP3368910A4 (en) | 2015-10-29 | 2019-06-05 | Paneratech, Inc. | SYSTEM FOR MONITORING AND OPTIMIZING THE LIFETIME OF AN ELEMENT |
EP4133261A4 (en) * | 2020-04-06 | 2024-04-17 | Paneratech, Inc. | METHOD AND APPARATUS FOR EVALUATING THE CONDITION OF A MATERIAL IN METALLURGICAL VATS |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3262606B2 (ja) * | 1992-03-27 | 2002-03-04 | 旭硝子株式会社 | 溶融鋳造耐火物の内部品質評価方法 |
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-
2015
- 2015-06-08 JP JP2016572441A patent/JP6633549B2/ja active Active
- 2015-06-08 WO PCT/US2015/034620 patent/WO2015191415A1/en active Application Filing
- 2015-06-08 US US14/732,831 patent/US10151709B2/en active Active
- 2015-06-08 CA CA2950181A patent/CA2950181A1/en active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2015191415A1 (en) | 2015-12-17 |
WO2015191415A9 (en) | 2016-02-04 |
JP2017520765A (ja) | 2017-07-27 |
CA2950181A1 (en) | 2015-12-17 |
US10151709B2 (en) | 2018-12-11 |
US20150362439A1 (en) | 2015-12-17 |
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Legal Events
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