JP6629158B2 - X線ct装置 - Google Patents
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Description
nは繰返し計算回数を示し、nをインクリメントしながら式(1)の計算を予め設定された回数(例えば、100回程度)繰返すことにより、μjが決定される。
sはサブセット数であり、データの分割数とも言う。s=1としてもよい。
diは、測定対象物を置かない場合におけるi番目の検出画素の投射データ(ブランクデータ)である。
yiは、j番目のボクセルに測定対象物を置いた場合におけるi番目の検出画素の投射データである。
lijは、i番目の検出画素に対するj番目のボクセルの透過長(システムマトリクス、検出確率データとも言う)である。
k=1〜Bが、領域R1内のボクセルの全部に対応する。
i=1〜Dが、X線検出器9上でX線管5からのX線を検出する検出画素9aの全部に対応する。
Claims (2)
- 被照射体にX線を照射するX線源と、
前記被照射体を載置する載置部と、
前記載置部を挟んで前記X線源と反対側に配置され、前記被照射体を通過した前記X線を検出するX線検出器と、
前記X線源及び前記X線検出器を前記載置部の周りで回転可能に支持する支持部と、
前記X線源及び前記X線検出器を前記載置部の周りで所定の角度回転させながら前記X線検出器で検出した前記X線に基づいて、前記被照射体の断層の画像を生成する画像生成部と、を備え、
前記X線源と前記X線検出器の各々の検出画素とを結ぶすべての線分を含む領域である被検出領域を、前記X線源及び前記X線検出器の回転経路に対応させて回転させたときに、すべての回転させた前記被検出領域が互いに重複する領域を第1領域とし、前記第1領域の外側に規定される領域を第2領域としたときに、
前記画像生成部は、
前記断層に含まれる各ボクセルの線減弱係数を算出するときに、前記第2領域に位置する前記ボクセルの線減弱係数に平滑化処理を施して平滑化データを得る平滑化処理部と、
前記平滑化データに基づいて、前記第1領域に位置する前記ボクセルの線減弱係数を算出する線減弱係数算出部を有する、X線CT装置。 - 前記平滑化処理は、
前記第2領域の所定の対象ボクセルの周囲のボクセルの線減弱係数を平均化して、前記対象ボクセルの線減弱係数を算出する演算を含む、請求項1に記載のX線CT装置。
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