JP6621580B2 - レーザー計測システムおよび方法 - Google Patents
レーザー計測システムおよび方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6621580B2 JP6621580B2 JP2015005034A JP2015005034A JP6621580B2 JP 6621580 B2 JP6621580 B2 JP 6621580B2 JP 2015005034 A JP2015005034 A JP 2015005034A JP 2015005034 A JP2015005034 A JP 2015005034A JP 6621580 B2 JP6621580 B2 JP 6621580B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measurement
- laser
- target structure
- detection
- photodetectors
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims description 124
- 238000000034 method Methods 0.000 title description 31
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 68
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 31
- 239000000872 buffer Substances 0.000 claims description 17
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 claims description 15
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 11
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 10
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 8
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 17
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 10
- 230000008569 process Effects 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 6
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 4
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 238000001429 visible spectrum Methods 0.000 description 2
- 238000002377 Fourier profilometry Methods 0.000 description 1
- 239000006117 anti-reflective coating Substances 0.000 description 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 238000013475 authorization Methods 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000013507 mapping Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000005055 memory storage Effects 0.000 description 1
- 238000003908 quality control method Methods 0.000 description 1
- 238000009419 refurbishment Methods 0.000 description 1
- 238000007634 remodeling Methods 0.000 description 1
- 238000012827 research and development Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
- G01S17/66—Tracking systems using electromagnetic waves other than radio waves
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/2441—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures using interferometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/02015—Interferometers characterised by the beam path configuration
- G01B9/02027—Two or more interferometric channels or interferometers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C11/00—Photogrammetry or videogrammetry, e.g. stereogrammetry; Photographic surveying
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B2290/00—Aspects of interferometers not specifically covered by any group under G01B9/02
- G01B2290/45—Multiple detectors for detecting interferometer signals
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
図3を参照すると、検出器エレクトロニクス84は、光検出器76からの電気信号をサンプリングすることができ、データをレンジプロセッサ86に提供することができる。検出器エレクトロニクス84は、少なくとも1つのアナログ−デジタル(「A/D」)変換器82、少なくとも1つのバッファー86、および少なくとも1つの高速フーリエ変換プロセッサ(「FFTP」)90を含むことができる。検出器エレクトロニクス84は、電気的に接続された電源(図示されず)を含むことができる。
22 ガイドビーム
26 測定ビーム
28 光チャネル
34 測定エリア
36 表面
38 対象構造
42 ビーム分割器/結合器
44 局部発振器ビーム
46 透過ビーム
52 反射ビーム
68 検出ビーム
74 マイクロレンズアレイ
78 光検出器アレイ
84 検出器エレクトロニクス8
112 外部の計測システム
200 レーザー計測のための方法
300 航空機の製造および保守方法
302 航空機
Claims (8)
- 変調された測定ビーム(26)と、
前記測定ビームを局部発振器ビーム(44)および透過ビーム(46)に分割するためのビーム分割器(42)と、
前記透過ビーム(46)を対象構造(38)の表面(36)の測定エリア(34)を覆うように拡大し、かつ投射するための透過ビーム光学系(58)、および、前記測定エリア(34)からの複数の反射ビーム(52)を受け取り、かつフォーカスするための、前記透過ビーム光学系(58)とは異なる反射ビーム光学系(60)を有する光アセンブリ(50)であって、前記複数の反射ビーム(52)は、前記測定エリア(34)内の前記対象構造(38)の前記表面(36)の複数の測定点(92)からの前記透過ビームの単一の投射の戻りである光アセンブリ(50)と、
前記複数の反射ビーム(52)および前記局部発振器ビーム(44)を検出ビーム(68)に結合するためのビーム結合器(24)と、
前記検出ビーム(68)を処理するための検出器(48)と、を備えるレーザー計測システムであって、前記検出器(48)は、
マイクロレンズアレイ(74)を形成する複数のマイクロレンズ(72)と、光検出器アレイ(78)を形成する複数の光検出器(76)と、前記光検出器アレイ(78)の前記複数の光検出器(76)と通信する検出器エレクトロニクス(84)と、を備え、
前記マイクロレンズアレイ(74)の前記複数のマイクロレンズの各々は、前記測定エリア(34)内の前記複数の測定点(92)のそれぞれを表す検出ビーム(68)の一部分(80)を、前記光検出器アレイ(78)の前記複数の光検出器(76)のうち関連付けられた1つの光検出器に同時に投射し、前記光検出器アレイ(78)の前記複数の光検出器(76)の各々は、前記検出ビーム(68)の前記一部分(80)の各々のコヒーレント検出を実行し、
前記検出器エレクトロニクス(84)は、前記複数の測定点(92)について前記検出ビーム(68)の一部分(80)から情報データを生成し、
前記レーザー計測システム(10)はさらに、前記検出器エレクトロニクス(84)と通信するレンジプロセッサ(86)を備え、前記レンジプロセッサ(86)は、
前記透過ビーム(46)の前記単一の投射と、前記対象構造(38)の前記表面における前記測定エリア(34)からの前記複数の反射ビーム(52)の反射とに基づいて、前記測定エリア(34)内の前記複数の測定点(92)についての寸法データを前記情報データから計算し、前記複数の測定点(92)の各々について範囲値(102)を計算し、かつ表示用のコントローラー(40)へ前記複数の測定点(92)の各々に対する範囲値(102)を報告し、
前記複数の測定点(92)に対する複数の範囲値(102)は前記対象構造(38)の2次元表示として示される、レーザー計測システム(10)。 - 信号ビーム(18)を透過するためのレーザー(16、20)を備える信号ビーム投射器(12)、
ガイドビーム(22)を透過するためのレーザー(16、20)を備えるガイドビーム投射器(14)、ならびに
前記信号ビーム(18)および前記ガイドビーム(22)を前記測定ビーム(26)に結合するためのビーム結合器(24)
をさらに備える、請求項1に記載のシステム。 - 前記信号ビーム投射器(12)は、前記信号ビーム(18)を変調するためのレーザー変調器(30)を備える、請求項2に記載のシステム。
- 前記検出器エレクトロニクス(84)は、
前記複数の光検出器(76)からの電気信号をデジタル信号に変換するための複数のアナログ−デジタル変換器(82)、
前記デジタル信号を一時的に記憶するための複数のバッファー(86、88)、および
前記デジタル信号から前記情報データのスペクトルを計算するための複数の高速フーリエ変換プロセッサ(90)
を備える、請求項1に記載のシステム。 - 少なくとも1つの前記アナログーデジタル変換器(82)、少なくとも1つの前記バッファ―(86、88)及び少なくとも1つの前記高速フーリエ変換プロセッサ(90)は、前記光検出器アレイ(78)の前記複数の光検出器(76)の各々と関連付けられる、
請求項4に記載のシステム。 - 前記対象構造(38)の画像(66)を提供するための撮像システム(62)をさらに備え、前記コントローラー(40)は、特定の時間に前記レンジプロセッサ(86)によって前記検出器エレクトロニクス(84)から供給されるデジタル信号を処理し、前記範囲値(102)を同一時点で前記対象構造(38)の前記画像(66)と関連付ける、請求項1に記載のシステム。
- ディスプレイ(64)をさらに備え、前記対象構造(38)の2次元表示として示される前記範囲値(102)および前記画像(66)は、前記コントローラー(40)によって統合され、前記ディスプレイ(64)に表示される、請求項6に記載のシステム。
- 変調された信号ビーム(18)を透過するためのレーザー(16、20)を備える信号ビーム投射器(12)と、
ガイドビーム(22)を透過するためのレーザー(16、20)を備えるガイドビーム投射器(14)と、
前記信号ビーム(18)および前記ガイドビーム(22)を変調された測定ビーム(26)に結合するためのビーム結合器(42)と、
前記測定ビーム(26)を局部発振器ビーム(44)および透過ビーム(46)に分割するためのビーム分割器(42)と、
前記透過ビーム(46)を対象構造(38)の表面(36)の測定エリア(34)を覆うように拡大するための透過ビーム光学系(58)と、
複数の反射ビーム(52)を収集するための、前記透過ビーム光学系(58)とは異なる反射ビーム光学系(60)であって、前記複数の反射ビーム(52)は、前記測定エリア(34)内の前記対象構造(38)の前記表面(36)の複数の測定点(92)からの前記透過ビームの単一の投射の戻りである、反射ビーム光学系(60)と、
前記局部発振器ビーム(44)の光の量を制御するための局部発振器ビーム(44)光学系と、
前記複数の反射ビーム(52)および前記局部発振器ビーム(44)を検出ビーム(68)に結合するためのビーム結合器(42)と、
前記検出ビーム(68)を処理するための検出器(48)と、を備えるレーザー計測システム(10)であって、前記検出器(48)は、
マイクロレンズアレイ(74)を形成する複数のマイクロレンズ(72)と、光検出器アレイ(78)を形成する複数の光検出器(76)と、前記光検出器アレイ(78)の前記複数の光検出器(76)と通信する検出器エレクトロニクス(84)と、を備え、
前記マイクロレンズアレイ(74)の前記複数のマイクロレンズの各々は、前記測定エリア(34)内の前記複数の測定点(92)のそれぞれを表す検出ビーム(68)の一部分(80)を、前記光検出器アレイ(78)の前記複数の光検出器(76)のうち関連付けられた光検出器に同時に投射し、前記光検出器アレイ(78)の前記複数の光検出器(76)の各々は、前記検出ビーム(68)の前記一部分(80)の各々のコヒーレント検出を実行し、
前記検出器エレクトロニクス(84)は、前記検出ビーム(68)の一部分から情報データを生成し、
前記レーザー計測システム(10)はさらに、前記検出器エレクトロニクス(84)と通信するレンジプロセッサ(86)を備え、前記レンジプロセッサ(86)は、
前記透過ビーム(46)の前記単一の投射と、前記対象構造(38)の前記表面における前記測定エリア(34)からの前記複数の反射ビーム(52)の反射とに基づいて、前記測定エリア内の前記複数の測定点についての寸法データを前記情報データから計算し、前記複数の測定点(92)の各々の範囲値(102)を計算し、かつ表示用のコントローラー(40)へ前記複数の測定点(92)の各々に対する範囲値(102)を報告し、
前記複数の測定点(92)に対する複数の範囲値(102)は前記対象構造(38)の2次元表示として示され、
前記レーザー計測システム(10)はさらに、前記対象構造(38)の前記表面(36)の画像(66)を提供するための撮像システム(62)
を備える、レーザー計測システム(10)。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US14/156,789 US9606235B2 (en) | 2014-01-16 | 2014-01-16 | Laser metrology system and method |
US14/156,789 | 2014-01-16 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015135327A JP2015135327A (ja) | 2015-07-27 |
JP2015135327A5 JP2015135327A5 (ja) | 2018-02-22 |
JP6621580B2 true JP6621580B2 (ja) | 2019-12-18 |
Family
ID=52358639
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015005034A Active JP6621580B2 (ja) | 2014-01-16 | 2015-01-14 | レーザー計測システムおよび方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9606235B2 (ja) |
EP (1) | EP2913630B1 (ja) |
JP (1) | JP6621580B2 (ja) |
CN (1) | CN104792259B (ja) |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5909537B1 (ja) * | 2014-10-14 | 2016-04-26 | 株式会社アマダホールディングス | ダイレクトダイオードレーザ発振器、ダイレクトダイオードレーザ加工装置及び反射光検出方法 |
US10281923B2 (en) * | 2016-03-03 | 2019-05-07 | Uber Technologies, Inc. | Planar-beam, light detection and ranging system |
US10239178B2 (en) | 2016-10-17 | 2019-03-26 | Virtek Vision International, ULC | Laser projector with dynamically adaptable focus |
CN107015211B (zh) * | 2017-05-08 | 2023-05-26 | 上海诺亚木木机器人科技有限公司 | 检测器测试*** |
US10718915B2 (en) * | 2017-06-14 | 2020-07-21 | California Institute Of Technology | Compact and low cost beam launcher using planar lightwave circuit |
US11231500B1 (en) | 2018-01-30 | 2022-01-25 | Aeva, Inc. | Simultaneous measurement of range and velocity using a nondegenerate LiDAR system |
CA3099720A1 (en) * | 2018-05-10 | 2019-11-14 | Ours Technology, Inc. | Lidar system based on multi-channel laser module for simultaneous beam scanning of target environment |
US11024669B2 (en) * | 2018-10-24 | 2021-06-01 | Aeva, Inc. | LIDAR system with fiber tip reimaging |
US11709231B2 (en) | 2018-12-21 | 2023-07-25 | Infineon Technologies Ag | Real time gating and signal routing in laser and detector arrays for LIDAR application |
US11650316B1 (en) * | 2019-02-22 | 2023-05-16 | Aeva, Inc. | Fast frequency modulation lidar system through sub-sweep sampling |
US11662435B2 (en) * | 2019-04-04 | 2023-05-30 | Liturex (Guangzhou) Co. Ltd | Chip scale integrated scanning LiDAR sensor |
US11156846B2 (en) | 2019-04-19 | 2021-10-26 | Kla Corporation | High-brightness illumination source for optical metrology |
CN110058248A (zh) * | 2019-05-29 | 2019-07-26 | 南京芯视界微电子科技有限公司 | 激光雷达装置 |
JP7360298B2 (ja) * | 2019-10-23 | 2023-10-12 | 株式会社トプコン | 測量装置 |
US11327158B1 (en) * | 2020-10-19 | 2022-05-10 | Aeva, Inc. | Techniques to compensate for mirror Doppler spreading in coherent LiDAR systems using matched filtering |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH055610A (ja) * | 1990-07-18 | 1993-01-14 | Canon Inc | 計測装置 |
JP3594875B2 (ja) * | 2000-05-25 | 2004-12-02 | 独立行政法人 科学技術振興機構 | 2次元光ヘテロダイン検出法を用いた光画像計測装置 |
US6909509B2 (en) | 2001-02-20 | 2005-06-21 | Zygo Corporation | Optical surface profiling systems |
US6570646B2 (en) | 2001-03-06 | 2003-05-27 | The Regents Of The University Of California | Optical distance measurement device and method thereof |
WO2003012405A2 (en) * | 2001-08-03 | 2003-02-13 | Rollins Andrew M | Aspects of basic oct engine technologies for high speed optical coherence tomography and light source and other improvements in oct |
US7701592B2 (en) | 2004-12-17 | 2010-04-20 | The Boeing Company | Method and apparatus for combining a targetless optical measurement function and optical projection of information |
US7532311B2 (en) * | 2005-04-06 | 2009-05-12 | Lockheed Martin Coherent Technologies, Inc. | Efficient lidar with flexible target interrogation pattern |
WO2008121919A1 (en) * | 2007-03-30 | 2008-10-09 | Faro Technologies, Inc. | Absolute distance meter |
EP2389606B1 (en) | 2009-01-24 | 2019-08-28 | Ecole Polytechnique Federale De Lausanne (EPFL) EPFL-TTO | High-resolution microscopy and photolithography devices using focusing micromirrors |
US8659749B2 (en) * | 2009-08-07 | 2014-02-25 | Faro Technologies, Inc. | Absolute distance meter with optical switch |
US8717562B2 (en) * | 2010-08-23 | 2014-05-06 | Scattering Solutions, Inc. | Dynamic and depolarized dynamic light scattering colloid analyzer |
US8902408B2 (en) * | 2011-02-14 | 2014-12-02 | Faro Technologies Inc. | Laser tracker used with six degree-of-freedom probe having separable spherical retroreflector |
JP2014516409A (ja) * | 2011-04-15 | 2014-07-10 | ファロ テクノロジーズ インコーポレーテッド | レーザトラッカの改良位置検出器 |
JP5882674B2 (ja) * | 2011-10-24 | 2016-03-09 | キヤノン株式会社 | 多波長干渉計、計測装置および計測方法 |
US8692344B2 (en) * | 2012-03-16 | 2014-04-08 | Optiz, Inc | Back side illuminated image sensor architecture, and method of making same |
-
2014
- 2014-01-16 US US14/156,789 patent/US9606235B2/en active Active
- 2014-12-09 CN CN201410748982.2A patent/CN104792259B/zh active Active
-
2015
- 2015-01-14 JP JP2015005034A patent/JP6621580B2/ja active Active
- 2015-01-15 EP EP15151250.6A patent/EP2913630B1/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2913630B1 (en) | 2020-05-06 |
US20150198433A1 (en) | 2015-07-16 |
CN104792259A (zh) | 2015-07-22 |
EP2913630A1 (en) | 2015-09-02 |
US9606235B2 (en) | 2017-03-28 |
JP2015135327A (ja) | 2015-07-27 |
CN104792259B (zh) | 2019-04-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6621580B2 (ja) | レーザー計測システムおよび方法 | |
JP7402868B2 (ja) | 走査lidarにおけるデスキャン補正 | |
US11073617B2 (en) | Integrated illumination and detection for LIDAR based 3-D imaging | |
US11463675B2 (en) | Light-source characterizer and associated methods | |
CN114730008A (zh) | 具有固态光谱扫描的光检测和测距*** | |
US11754681B2 (en) | LIDAR system with a multi-mode waveguide photodetector | |
JP7419394B2 (ja) | モードフィールド拡大器を備えたlidarシステム | |
KR20180083983A (ko) | 편광 변조 포켈스 셀과 마이크로 편광자 카메라를 사용하는 고 해상도 및 거리정밀도를 갖는 3차원 플래시 라이다 시스템 | |
KR20170009882A (ko) | 3d 이미징의 심도감지용의 강력하고 확대된 광조사 파형을 위한 방법 및 시스템 | |
JP2015135327A5 (ja) | ||
WO2021118705A1 (en) | Determining characteristics of a target using polarization | |
WO2021118704A1 (en) | Performing speckle reduction using polarization | |
CN102253393A (zh) | 一种多光谱条纹管激光雷达偏振成像装置 | |
US12041789B2 (en) | Techniques for fiber tip re-imaging in LIDAR systems | |
CN110865354A (zh) | 闪光雷达和探测方法 | |
JP2023547877A (ja) | コヒーレントlidarシステムにおける複数ターゲットのピーク関連付け技術 | |
US10247660B2 (en) | Laser displacement meter and laser ultrasonic inspection apparatus using the same | |
US20230161018A1 (en) | Optoelectronic sensor and method for the alignment of an optoelectronic sensor | |
Folden et al. | Confocal Bistatic LIDAR in scattering media | |
Abbass | Laser Beam Analysis Using Image Processing |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20180112 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20180112 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20181112 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20181120 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20190220 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20190422 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190517 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20190604 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20191003 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20191010 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20191105 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20191120 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6621580 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |