JP6616204B2 - 光ファイバの後方レイリー散乱光波形解析方法及び光ファイバの後方レイリー散乱光波形解析装置 - Google Patents
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Description
光周波数領域反射測定法を用いて光ファイバからの後方レイリー散乱光とローカル光のビート信号をN(Nは複数)回測定するビート信号測定手順と、
前記ビート信号測定手順で測定したN個のビート信号のそれぞれをフーリエ変換して前記光ファイバの距離に対するN個の複素振幅分布波形を取得するフーリエ変換手順と、
前記フーリエ変換手順で取得したN個の複素振幅分布波形のそれぞれから前記光ファイバの任意区間の区間波形を抽出する任意区間波形抽出手順と、
前記任意区間波形抽出手順で抽出したN個の区間波形のそれぞれを逆フーリエ変換し、逆フーリエ変換後のN個の波形それぞれの絶対値を2乗して前記光ファイバの任意区間における散乱強度スペクトルを算出する逆フーリエ変換手順と、
前記逆フーリエ変換手順で算出したN個の散乱強度スペクトルを加算平均する加算平均手順と、
を行う。
光源から光周波数を一様に変化させた試験光を光ファイバへ入力し、前記光ファイバからの後方レイリー散乱光と、光周波数を前記試験光と同様に変化させたローカル光とのビート信号をN(Nは複数)回測定する光周波数領域反射測定手段と、
前記光周波数領域反射測定手段が測定したN個のビート信号のそれぞれをフーリエ変換して前記光ファイバの距離に対するN個の複素振幅分布波形を取得し、前記N個の複素振幅分布波形のそれぞれから前記光ファイバの任意区間の区間波形を抽出し、前記N個の区間波形のそれぞれを逆フーリエ変換し、逆フーリエ変換後のN個の波形それぞれの絶対値を2乗して前記光ファイバの任意区間における散乱強度スペクトルを算出する散乱強度スペクトル解析手段と、
前記散乱強度スペクトル解析手段が算出した前記N個の散乱強度スペクトルを加算平均する加算平均演算処理手段と、
を備える。
前記逆フーリエ変換手順で算出したN個の散乱強度スペクトルをN/y個(yはN未満の整数)個ずつ加算平均して、y個の加算平均散乱強度スペクトルを取得する第1加算平均ステップと、
前記第1加算平均ステップで取得したy個の加算平均散乱強度スペクトルのうちの1つに対する他の加算平均散乱強度スペクトルの相互相関を計算し、前記他の加算平均散乱強度スペクトルそれぞれの波形シフト量を解析するスペクトルシフト解析ステップと、
前記他の加算平均散乱強度スペクトルのそれぞれに対し、前記スペクトルシフト解析ステップで解析された波形シフト量の逆符号の波形シフトを与えた後、y個の加算平均散乱強度スペクトルを加算平均する第2加算平均ステップと、
を行うことを特徴とする。
前記データ保管手段が保管する前記N個の散乱強度スペクトルをN/y個(yはN未満の整数)個ずつ加算平均して、y個の加算平均散乱強度スペクトルを取得する第1加算平均ステップと、
前記第1加算平均ステップで取得したy個の加算平均散乱強度スペクトルのうちの1つに対する他の加算平均散乱強度スペクトルの相互相関を計算し、前記他の加算平均散乱強度スペクトルそれぞれの波形シフト量を解析するスペクトルシフト解析ステップと、
前記他の加算平均散乱強度スペクトルのそれぞれに対し、前記スペクトルシフト解析ステップで解析された波形シフト量の逆符号の波形シフトを与えた後、y個の加算平均散乱強度スペクトルを加算平均する第2加算平均ステップと、
を行い、前記N個の散乱強度スペクトルを加算平均することを特徴とする。
図1は、本実施形態の光ファイバの後方レイリー散乱光波形解析方法を説明する図である。本実施形態の光ファイバの後方レイリー散乱光波形解析方法は、
光周波数領域反射測定法を用いて光ファイバからの後方レイリー散乱光とローカル光のビート信号をN(Nは複数)回測定するビート信号測定手順S11と、
ビート信号測定手順S11で測定したN個のビート信号のそれぞれをフーリエ変換して前記光ファイバの距離に対するN個の複素振幅分布波形を取得するフーリエ変換手順S31と、
フーリエ変換手順S31で取得したN個の複素振幅分布波形のそれぞれから前記光ファイバの任意区間の区間波形を抽出する任意区間波形抽出手順S32と、
任意区間波形抽出手順S32で抽出したN個の区間波形のそれぞれを逆フーリエ変換し、逆フーリエ変換後のN個の波形それぞれの絶対値を2乗して前記光ファイバの任意区間における散乱強度スペクトルを算出する逆フーリエ変換手順S33と、
逆フーリエ変換手順S33で算出したN個の散乱強度スペクトルを加算平均する加算平均手順S13と、
を行う。
ここで、図1の散乱強度スペクトル解析手順S12は、フーリエ変換手順S31、任意区間波形抽出手順S32、及び逆フーリエ変換手順S33からなる(図3参照)。
光源から光周波数を一様に変化させた試験光を光ファイバへ入力し、前記光ファイバからの後方レイリー散乱光と、光周波数を前記試験光と同様に変化させたローカル光とのビート信号をN(Nは複数)回測定する光周波数領域反射測定手段と、
前記光周波数領域反射測定手段が測定したN個のビート信号のそれぞれをフーリエ変換して前記光ファイバの距離に対するN個の複素振幅分布波形を取得し、前記N個の複素振幅分布波形のそれぞれから前記光ファイバの任意区間の区間波形を抽出し、前記N個の区間波形のそれぞれを逆フーリエ変換し、逆フーリエ変換後のN個の波形それぞれの絶対値を2乗して前記光ファイバの任意区間における散乱強度スペクトルを算出する散乱強度スペクトル解析手段と、
前記散乱強度スペクトル解析手段が算出した前記N個の散乱強度スペクトルを加算平均する加算平均演算処理手段と、
を備える。
式(10)と式(15)の比較から明らかなように、ビート信号の加算平均では長距離地点ほど信号が失われるのに対し、散乱強度スペクトルの加算平均では、加算による信号低下の度合いは距離ではなく区間長に依存する。区間長を光源のコヒーレンス長に比べて十分短く設定することで、長距離地点であっても加算平均による散乱光の信号強度の低下を抑えつつ、受信器由来の雑音を低減できる。
本実施形態は、N回のビート信号の測定の間に被測定ファイバの温度状態の変化や試験光の中心周波数のドリフトが懸念される場合に実施される。ファイバの温度状態や試験光の中心周波数が変化すると、散乱強度スペクトルは横軸方向にシフトすることが知られているため、本実施形態は、N回測定を行う間の散乱強度スペクトルのシフトを補償する処理を行うことを特徴とする。
逆フーリエ変換手順S33で算出したN個の散乱強度スペクトルをN/y個(yはN未満の整数)個ずつ加算平均して、y個の加算平均散乱強度スペクトルを取得する第1加算平均ステップS51と、
第1加算平均ステップS51で取得したy個の加算平均散乱強度スペクトルのうちの1つに対する他の加算平均散乱強度スペクトルの相互相関を計算し、前記他の加算平均散乱強度スペクトルそれぞれの波形シフト量を解析するスペクトルシフト解析ステップS52と、
前記他の加算平均散乱強度スペクトルのそれぞれに対し、前記スペクトルシフト解析ステップで解析された波形シフト量の逆符号の波形シフトを与えた後、y個の加算平均散乱強度スペクトルを加算平均する第2加算平均ステップS53と、
を行う。
図5は、本実施形態の加算平均手順S13の動作概念図である。図5(A)は加算平均手順S13のフローを説明し、図5(B)はそれぞれのステップでの計算イメージを説明する。
本発明によれば、レイリー散乱光波形を用いた光ファイバの温度・歪分布測定等の解析を、光源のコヒーレンス長及びOFDRのダイナミックレンジの制限を超える長距離で実現できる。
11:分岐素子
12:サーキュレータ
13:合分波素子
14:受光器
15:A/D変換器
16:データ保管手段
17:演算処理装置
50:被測定ファイバ
Claims (6)
- 光周波数領域反射測定法を用いて光ファイバからの後方レイリー散乱光とローカル光のビート信号をN(Nは複数)回測定するビート信号測定手順と、
前記ビート信号測定手順で測定したN個のビート信号のそれぞれをフーリエ変換して前記光ファイバの距離に対するN個の複素振幅分布波形を取得するフーリエ変換手順と、
前記フーリエ変換手順で取得したN個の複素振幅分布波形のそれぞれから前記光ファイバの任意区間の区間波形を抽出する任意区間波形抽出手順と、
前記任意区間波形抽出手順で抽出したN個の区間波形のそれぞれを逆フーリエ変換し、逆フーリエ変換後のN個の波形それぞれの絶対値を2乗して前記光ファイバの任意区間における散乱強度スペクトルを算出する逆フーリエ変換手順と、
前記逆フーリエ変換手順で算出したN個の散乱強度スペクトルを加算平均することで前記光周波数領域反射測定法に用いられる光源の位相雑音を低減する加算平均手順と、
を行う光ファイバの後方レイリー散乱光波形解析方法。 - 光周波数領域反射測定法を用いて光ファイバからの後方レイリー散乱光とローカル光のビート信号をN(Nは複数)回測定するビート信号測定手順と、
前記ビート信号測定手順で測定したN個のビート信号のそれぞれをフーリエ変換して前記光ファイバの距離に対するN個の複素振幅分布波形を取得するフーリエ変換手順と、
前記フーリエ変換手順で取得したN個の複素振幅分布波形のそれぞれから前記光ファイバの任意区間の区間波形を抽出する任意区間波形抽出手順と、
前記任意区間波形抽出手順で抽出したN個の区間波形のそれぞれを逆フーリエ変換し、逆フーリエ変換後のN個の波形それぞれの絶対値を2乗して前記光ファイバの任意区間における散乱強度スペクトルを算出する逆フーリエ変換手順と、
前記逆フーリエ変換手順で算出したN個の散乱強度スペクトルを加算平均する加算平均手順と、
を行い、
前記加算平均手順で、
前記逆フーリエ変換手順で算出したN個の散乱強度スペクトルをN/y個(yはN未満の整数)個ずつ加算平均して、y個の加算平均散乱強度スペクトルを取得する第1加算平均ステップと、
前記第1加算平均ステップで取得したy個の加算平均散乱強度スペクトルのうちの1つに対する他の加算平均散乱強度スペクトルの相互相関を計算し、前記他の加算平均散乱強度スペクトルそれぞれの波形シフト量を解析するスペクトルシフト解析ステップと、
前記他の加算平均散乱強度スペクトルのそれぞれに対し、前記スペクトルシフト解析ステップで解析された波形シフト量の逆符号の波形シフトを与えた後、y個の加算平均散乱強度スペクトルを加算平均する第2加算平均ステップと、
を行うことを特徴とする光ファイバの後方レイリー散乱光波形解析方法。 - 前記ビート信号測定手順で、
前記ビート信号をN/y回測定する時間を、前記光ファイバの温度状態、光源からの光の中心周波数が一定とみなせる時間に設定することを特徴とする請求項2に記載の光ファイバの後方レイリー散乱光波形解析方法。 - 前記任意区間波形抽出手順での前記光ファイバの任意区間の長さは、前記光周波数領域反射測定法に用いられる光源のコヒーレンス長よりも短いことを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載の光ファイバの後方レイリー散乱光波形解析方法。
- 光源から光周波数を一様に変化させた試験光を光ファイバへ入力し、前記光ファイバからの後方レイリー散乱光と、光周波数を前記試験光と同様に変化させたローカル光とのビート信号をN(Nは複数)回測定する光周波数領域反射測定手段と、
前記光周波数領域反射測定手段が測定したN個のビート信号のそれぞれをフーリエ変換して前記光ファイバの距離に対するN個の複素振幅分布波形を取得し、前記N個の複素振幅分布波形のそれぞれから前記光ファイバの任意区間の区間波形を抽出し、前記N個の区間波形のそれぞれを逆フーリエ変換し、逆フーリエ変換後のN個の波形それぞれの絶対値を2乗して前記光ファイバの任意区間における散乱強度スペクトルを算出する散乱強度スペクトル解析手段と、
前記散乱強度スペクトル解析手段が算出した前記N個の散乱強度スペクトルを加算平均することで前記光源の位相雑音を低減する加算平均演算処理手段と、
を備える光ファイバの後方レイリー散乱光波形解析装置。 - 光源から光周波数を一様に変化させた試験光を光ファイバへ入力し、前記光ファイバからの後方レイリー散乱光と、光周波数を前記試験光と同様に変化させたローカル光とのビート信号をN(Nは複数)回測定する光周波数領域反射測定手段と、
前記光周波数領域反射測定手段が測定したN個のビート信号のそれぞれをフーリエ変換して前記光ファイバの距離に対するN個の複素振幅分布波形を取得し、前記N個の複素振幅分布波形のそれぞれから前記光ファイバの任意区間の区間波形を抽出し、前記N個の区間波形のそれぞれを逆フーリエ変換し、逆フーリエ変換後のN個の波形それぞれの絶対値を2乗して前記光ファイバの任意区間における散乱強度スペクトルを算出する散乱強度スペクトル解析手段と、
前記散乱強度スペクトル解析手段が算出した前記N個の散乱強度スペクトルを加算平均する加算平均演算処理手段と、
を備え、
前記加算平均演算処理手段は、
前記散乱強度スペクトル解析手段が算出した前記N個の散乱強度スペクトルをN/y個(yはN未満の整数)個ずつ加算平均して、y個の加算平均散乱強度スペクトルを取得する第1加算平均ステップと、
前記第1加算平均ステップで取得したy個の加算平均散乱強度スペクトルのうちの1つに対する他の加算平均散乱強度スペクトルの相互相関を計算し、前記他の加算平均散乱強度スペクトルそれぞれの波形シフト量を解析するスペクトルシフト解析ステップと、
前記他の加算平均散乱強度スペクトルのそれぞれに対し、前記スペクトルシフト解析ステップで解析された波形シフト量の逆符号の波形シフトを与えた後、y個の加算平均散乱強度スペクトルを加算平均する第2加算平均ステップと、
を行い、前記N個の散乱強度スペクトルを加算平均することを特徴とする光ファイバの後方レイリー散乱光波形解析装置。
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