JP6521227B2 - 部品検査装置 - Google Patents
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Description
例えば、ワークとして貫通孔が形成された機械部品を検査する場合、貫通孔を通過する光によって、切り粉による詰まり、バリの発生、折れた刃物の残存などの欠陥を検出することができる。
このようにワークの下側から光を照射して、ワークの上側から撮影する技術として、特許文献1の「積層構造を有するワークの内部検査装置」がある。
この技術は、ウエハの下から光を照射してウエハの上から撮影し、ウエハ内部の異物や汚染の要否を判定するものである。
このように照射部に異物が落下・付着すると、照射される光量が低下するため、撮影される画像の画質が低下して誤検知が発生する可能性があり、部品の良好な撮影状態を維持することは困難であった。
また、一般に、照射部のライトを保護するためにカバーガラスが設けられるが、ワークが自重をかけながらカバーガラス上を移動するため、カバーガラスが傷つきやすい。カバーガラスが傷つくと、照射される光の光量が低下し、やはり、部品の良好な撮影状態を維持することは困難であった。
そこで、本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであり、部品の良好な撮影状態を維持する部品検査装置を提供することを目的とする。
(2)請求項2に記載の発明では、前記支持部は、前記撮影部が撮影する際に、前記部品を前記くり抜き窓が形成された前記所定の検査位置に停止させ、前記撮影部は、前記所定の検査位置に停止された前記部品を撮影する、ことを特徴とする請求項1に記載の部品検査装置を提供する。
(3)請求項3に記載の発明では、前記判断部は、前記光が前記貫通孔を通過する部分の面積が、所定の基準面積以上である場合に欠陥が無いと判断し、前記所定の基準面積未満の場合に欠陥が有ると判断する、ことを特徴とする請求項1、又は請求項2に記載の部品検査装置を提供する。
(4)請求項4に記載の発明では、前記貫通孔の他方の側から前記部品を照明する照明部を具備する、ことを特徴とする請求項1、請求項2、又は請求項3に記載の部品検査装置を提供する。
(5)請求項5に記載の発明では、前記部品には、複数の貫通孔が形成されており、前記判断部は、前記複数の貫通孔ごとに欠陥の有無を判断する、ことを特徴とする請求項1から請求項4までのうちの何れか1の請求項に記載の部品検査装置を提供する。
検査装置1(図1)は、貫通孔の貫通方向が重力の方向に対して横方向(直角方向)となるように部品10を向けて保持する。そして、部品10の横方向の一方に照明5による光源を設けて貫通孔に光を照射し、対向する側に設置したカメラ6で部品10の貫通孔を通過する光を撮影する。
検査装置1は、撮影した画像データから貫通孔の形成された領域で光が通過する部分の面積を解析し、当該面積が所定の基準面積以上である場合には欠陥が無く、基準面積未満である場合には欠陥が有ると判断する。
図1の各図は、検査装置の構成を説明するための図である。
図1(a)に示したように、検査装置1は、搬送レール2、照明5、カメラ6、コンピュータ7などから構成されている。
検査対象である部品10(ワーク)は、一例として、円板状の機械部品であって、金属や樹脂などで形成されている。そして、部品10には、マシニングセンタなどで複数の貫通孔(貫通穴)が厚さ方向に形成されている。
また、部品10の姿勢は、搬送経路によって規定されており、部品10は、貫通孔の貫通方向が水平となる姿勢を維持したまま(即ち、部品10の外径方向を立てた状態で)、搬送レール2内の搬送経路を高い側から低い側に自重により降下する。
位置決めピン3がピン駆動装置4により挿入されると、搬送レール2を降下する部品10が位置決めピン3に当接して、位置決めピン3により規定される所定の検査位置に停止し、位置決めピン3がピン駆動装置4により抜かれると、部品10は、搬送レール2を更に降下する。
部品10の貫通孔の貫通方向と、照明5の光の照射方向、及びカメラ6の撮影方向は、何れも同じ直線上にあるため、照明5から照射された光は貫通孔を通過し、カメラ6によって撮影される。
コンピュータ7は、部品10が搬送レール2を降下してくる際に、ピン駆動装置4を駆動して位置決めピン3を搬送経路に挿入し、これに部品10を当接させて、部品10を検査位置に保持する。
本実施の形態では、コンピュータ7は、一例として、貫通孔を通過する光の面積を基準面積と比較し、当該面積が基準面積以上の場合は、欠陥が無いと判断し、基準面積未満の場合には、例えば、貫通孔に切り粉が詰まるなどして塞がっているため、欠陥が有ると判断する。
基準面積は、貫通孔の設計上の断面積に基づいて規定され、例えば、貫通孔の設計上の断面積の所定割合(例えば80%)に設定されている。
このようにコンピュータ7は、撮影した画像に基づいて貫通孔に生じた欠陥の有無を判断する判断部を備えている。
図示しないが、搬送レール2の下端側には、合格品を搬送する合格品搬送路と不合格品を搬送する不合格品搬送路が形成されており、コンピュータ7は、経路切替装置を駆動して、合格品は、合格品搬送路に搬出し、不合格品は不合格品搬送路に搬出する。
このように、コンピュータ7は、判断結果を経路切替装置に出力する出力部を備えており、部品10の貫通孔を検査して、合格品と不合格品を仕分けする。
このように、搬送経路25は、これら4つの部材に囲まれることにより形成されている。
これは、部品10が搬送経路25を降下する際に、部品10の端面が両側面によって押圧され、摩擦によって降下が妨げられるのを防ぐためである。
搬送経路25の高さ、即ち、上端部材23の下端面と下端部材22の上端面の距離も同様に部品10の外径よりも若干大きく設定してある。
このように、搬送経路25の底面の形状とワーク外径底部の形状を合わせると、搬送が安定する。
なお、本実施の形態では、搬送経路25の両サイド側をカメラ側カバー部材21と照明側カバー部材24で覆ったが、何れか一方だけを設けたり、又は、部品10が降下する溝部だけで搬送経路25を構成してもよい。
基準貫通孔11a、11bは、検査対象の貫通孔であると共に、詳しくは後述する画像データにおける貫通孔の位置を補正するための基準としての機能を兼ねており、画像認識しやすいように大きめの穴によって形成されている。
基準貫通孔11a、11bは、離れた位置に2個あるため、これらにより、カメラ6で撮影した画像データにおける部品10の搬送経路方向のずれ、及び、回転方向のずれを補正(以下、単に「ズレ量補正」とする)することができる。この「ズレ量補正」の詳細については、後述する。
カメラ側カバー部材21の検査位置には、部品10がカバーガラスに接触しないようにカバーガラスをくり抜いたくり抜き窓26bが形成されている。
また、くり抜き窓26bの縁の角部は、部品10が引っかからないように面取り加工してある。
なお、このくり抜き窓26bの上端側と下端側の距離は部品10の形状、貫通孔の位置に応じて任意に設定することができ、例えば、部品10に形成された貫通孔のうち、部品10のもっとも外縁部側に形成された貫通孔の上部に重畳しないような距離に設定するようにしてもよい。
位置決めピン3の突出量が最大外径に到達する量よりも小さいと、部品10が位置決めピン3の先端部分に乗り上げて回転し、後端部が浮くことがあり、搬送効率の低下や画像認識率の低下などの原因となる。
これに対し、上記のように可動量を設定することより、このような不具合を防ぐことができる。
また、位置決めピン3の可動量を、部品10が位置決めピン3の先端部分に乗り上げない最小量(例えば、部品10における最大半径等)に設定することもできる。このように設定することによって、検査毎のピンの可動量が最小で済むため、装置の故障率の低下や消費電力の削減を図ることができる。
位置決めピン3が円柱形状である場合、部品10の厚さが所定量より薄いと、部品10が位置決めピン3の外径上(円柱面上)に乗り上げて、部品10の位置決めにばらつきが生じたり、部品10が位置決めピン3と搬送経路25の側面の間に挟まったりすることがあるが、位置決めピン3をDカットとすることにより、平面部分31が部品10の外周に当接して、乗り上げる方向の力が生ぜず、このような不具合を防ぐことができる。
コンピュータ7は、CPU(Central Processing Unit)71、ROM(Read Only Memory)72、RAM(Random Access Memory)73、インターフェース74、入力装置75、出力装置76、記憶装置77などがバスラインで接続して構成されている。
本実施の形態では、ピン駆動装置4の制御、カメラ6からの画像データの取り込み、画像データの位置補正、貫通孔の合否判定、及び合格品と不合格品の仕分け制御などを行う。
RAM73は、読み書きが可能なメモリであって、CPU71が動作する際のワーキングメモリを提供する。
より詳細には、CPU71は、カメラ6で撮影した画像データや貫通孔の判定に用いる各貫通孔の面積の基準値、即ち、基準面積をRAM73上に展開し、画像上の光が通過した部分の面積と基準面積を比較して欠陥の有無を判断する。
基準面積データは、部品10の種類ごとに用意されており、完成品としての部品10(仕様に応じた加工が施された部品10)が示された画像ファイル(例えば、ビットマップ画像やベクタ画像等)、基準貫通孔11a、11bの座標値、基準面積の他、これら貫通孔の位置、直径、基準面積の公差(基準値と許容される範囲の最大値および最小値との差)等が規定されている。
また、基準貫通孔11a、11bの座標値とは、原点と座標軸が定義された座標系により、一点に定まるように規定された値であり、例えば、絶対原点を基準に設けられた座標軸(例えば、X軸、Y軸、Z軸)により、定点を示す座標値として規定されている。
即ち、基準貫通孔11a、11bの位置は、絶対原点からの座標値(X1、Y1、Z1)により、一点に定まるように規定されている。
CPU71は、検査プログラムを実行することにより、検査動作を行い、基準面積データを用いて欠陥の有無を判断する。
コンピュータ7は、インターフェース74を介して通信することにより、カメラ6から画像データを受信したり、ピン駆動装置4や経路切替装置などを制御する。
出力装置76は、例えば、検査画面を表示するモニタ画面、警告音などを出力するスピーカ、検査結果を印刷するプリンタなど各種の情報を作業者に提供するための出力装置である。
画像には、基準貫通孔11a、11b、及び貫通孔12a、12bを通過した照明5からの光、即ち、照明5によるバックライトで照明した貫通孔の陰影が撮影されている。
そして、撮影された画像データには、原点と座標軸が定義された座標系が定義されており、撮影対象の各部の位置が、座標値として一点に定まるように規定されている。
すなわち、撮影対象の各部としての基準貫通孔11a、11b等の位置が、座標値として取得できるようになっている。
なお、貫通孔をバックライト方式で撮影したのは、コントラストを向上させるためであり、自然光で貫通孔が撮影できる場合、照明5は必要ない。
かかる判断を行うため、コンピュータ7は、まず、「ズレ量補正」を行う。
この「ズレ量補正」とは、カメラ6で撮影した画像データにおける部品10の搬送経路方向のずれ量、及び、回転方向のずれ量に応じて、基準面積データの座標系を補正することをいう。
「ズレ量補正」の概要について説明すると、まず、コンピュータ7は、画像上の基準貫通孔11a、11bが位置する付近の領域111a、111bにおいて基準貫通孔11a、11bを探索する。
領域111a、111bを、領域112a、112bよりも大きく設定することによって、基準貫通孔11a、11bを他の貫通穴よりも優先的に探索するようになっている。
そして、コンピュータ7は、基準面積データを参照して、撮影された画像データから、例えば、公知のパターンマッチング処理等により、基準貫通孔11a、11bを特定する。
このパターンマッチング処理は公知の技術であるため詳しい説明は省略するが、基準貫通孔11a、11bの形状、配置等の特徴に基づいて、基準面積データと撮影された画像データに示された対象から、基準貫通孔11a、11bを特定する処理をいう。
次に、コンピュータ7は、特定した基準貫通孔11a、11bの画像データに規定された座標値と、基準面積データに基づいて取得した基準貫通孔11a、11bの座標値とを比較して、撮影された部品10の傾きを検出する。
具体的には、コンピュータ7は、画像データに示される基準貫通孔11a、11bの座標値から算出される直線と、基準面積データに基づいて取得した基準貫通孔11a、11bの座標値から算出される直線とを比較して、画像データに示される部品10が、画像基準面積データに示される部品10に対してどの程度傾いているか、傾きを算出する。
そして、コンピュータ7は、算出された傾きに応じて、基準面積データを回転させることにより、ズレ量補正を行う。
そして、コンピュータ7は、ズレ量補正後の基準面積データを参照して、貫通孔12a、12bの面積を解析する。
換言すれば、コンピュータ7は、これによって探索された基準貫通孔11a、11bの位置を基準にして、貫通孔12a、12bの位置する領域112a、112bを補正して特定するのである。
このようにして、検査位置にある部品10が傾いていたとしても、ずれ量補正を行うことによって、基準面積データを参照して、貫通孔12a、12bの位置や面積等を算出することができる。
より詳細には、画像上では、部品10の表面は黒く、光の通過する領域は白く写り、コンピュータ7は、領域内の白い部分の面積を解析する。
このようにして、コンピュータ7は、部品10に形成された複数の貫通孔について欠陥の有無を判断することができる。
まず、CPU71は、搬送経路25が空の状態でピン駆動装置4を駆動し、位置決めピン3を搬送経路25に挿入する(ステップ5)。
この投入処理は、例えば、搬送経路25の上流側で部品10を他のピンで停止させておき、当該ピンを引き抜くことにより行うことができる。
部品10が検査位置に供給されたことは、センサで検知してもよいし、あるいは、部品10を投入してから供給位置で停止するまでの時間はほぼ一定であるため、投入後一定時間経過したことにより判断してもよい。
部品10の撮影は、CPU71がカメラ6を制御して静止画を撮影させてもよいし、カメラ6が動画により検査位置を連続的に撮影している一連の画像から部品10が写っているものを抽出してもよい。
そして、CPU71は、特定した基準貫通孔11a、11bの位置に基づいて、上述した画像データのズレ位置補正を行う(ステップ25)。
次に、CPU71は、貫通孔の番号を特定するパラメータiをRAM73に設定し、その初期値を1とする(ステップ30)。
次に、CPU71は、計算した面積と基準面積データに記録されているi番目の基準面積を比較し、計算した面積が基準面積以上か否かを判断する(ステップ40)。
次に、CPU71は、iが部品10に形成された貫通孔の総数より大きいか否かを判断する(ステップ50)。
iが貫通孔の総数より大きい場合(ステップ50;Y)、全ての貫通孔について検査して、かつ、欠陥が無かったため、CPU71は、当該部品10を合格品と判断する(ステップ55)。
更に、CPU71は、経路切替装置を駆動して降下してくる部品10を合格品の搬送路に誘導することにより合格品に対する処理を行う(ステップ65)。
更に、CPU71は、経路切替装置を駆動して降下してくる部品10を不合格品の搬送路に誘導することにより不合格品に対する処理を行い(ステップ85)、ステップ70に移行する。
以上に説明した検査方法では、部品10を検査位置に停止させて検査したが、位置決めピン3を設けずに、部品10を一定間隔で連続的に降下させ、カメラ6で動画を撮影しながらリアルタイムで処理するように構成することも可能である。
また、単体の部品10を斜面で降下させるのではなく、複数の部品10が形成されたフープ材を用い、ロケート(位置決め)穴にピンを入れて、映画のフィルムを送るように送ってもよい。この場合は、搬送経路25は、傾斜させる必要は無く、部品10を立てたまま水平に送るように構成することもできる。
また、撮像装置1は、撮影した画像データから貫通孔の形成された領域で光が通過する部分の面積を解析し、当該面積が所定の基準面積以上である場合には欠陥が無く、基準面積未満である場合には欠陥が有ると判断するようになっているが、撮影した画像データから貫通孔の形成された領域で光が通過する部分の位置を解析し、貫通孔が所定の位置に形成されている場合には欠陥が無く、貫通孔が所定の位置に形成されていない場合には欠陥が有ると判断するようにしてもよい。
さらに、撮像装置1は、撮影した画像データから貫通孔の形成された領域で光が通過する部分の位置又は面積を解析し、貫通孔が所定の位置に形成されており、当該面積が所定の基準面積以上である場合には欠陥が無く、貫通孔が所定の位置に形成されておらず、基準面積未満である場合には欠陥が有ると判断するようにしてもよい。
(1)照明5やカメラ6などの撮影系は、重力方向に対して横方向に設置されているため、部品10から落下した異物によって照明5やカメラ6が汚染されることがない。
(2)撮影系の汚染が抑制されるため、部品10の撮影状態を良好に維持することができ、誤検知を抑制することができる。
(3)搬送レール2の検査位置にくり抜き窓26a、26bを設けたため、明瞭な画像を撮影することができる。
(4)位置決めピン3の挿入量が十分であり、また、平面部分31が形成されているため、降下してくる部品10を安定的な停止・保持することができる。
(5)部品10は、自重により搬送経路25を搬送されるため、複雑な機構や動力を必要としない。
2 搬送レール
3 位置決めピン
4 ピン駆動装置
5 照明
6 カメラ
7 コンピュータ
10 部品
11a、11b 基準貫通孔
12a、12b 貫通孔
13 平坦部
21 カメラ側カバー部材
22 下端部材
23 上端部材
24 照明側カバー部材
25 搬送経路
26a、26b くり抜き窓
31 平面部分
71 CPU
72 ROM
73 RAM
74 インターフェース
75 入力装置
76 出力装置
77 記憶装置
111a、111b、112a、112b 領域
Claims (5)
- 部品に加工された貫通孔の貫通方向が、重力の方向と異なる方向となるように当該部品を支持する支持部と、
前記貫通孔の一方の側から前記貫通孔を通過する光を撮影する撮影部と、
前記撮影した画像に基づいて前記貫通孔に生じた欠陥の有無を判断する判断部と、
前記判断部による判断結果を出力する出力部と、を具備し、
前記支持部は、前記部品の搬送経路を構成する、下端部材と、前記下端部材の前記撮影部側に配設され所定の検査位置にくり抜き窓が設けられた第1カバー部材と、前記下端部材の前記第1カバー部材の反対側に前記第1カバー部材と対向して配設され前記所定の検査位置にくり抜き窓が設けられた第2カバー部材とを有し、
前記支持部の前記搬送経路は、前記下端部材、前記第1カバー部材及び前記第2カバー部材により、前記貫通孔の貫通方向が水平となるように前記部品の姿勢を維持したまま自重により降下させ、
位置決めピンを前記搬送経路内に挿入し、前記搬送経路を降下する前記部品と前記位置決めピンとを当接させることにより、前記部品を前記所定の検査位置に所定の方向に向けて保持し、
前記撮影部は、前記検査位置に設けられた前記くり抜き窓と前記部品の前記貫通孔を通過する光を撮影する、
ことを特徴とする部品検査装置。 - 前記支持部は、前記撮影部が撮影する際に、前記部品を前記くり抜き窓が形成された前記所定の検査位置に停止させ、
前記撮影部は、前記所定の検査位置に停止された前記部品を撮影する、
ことを特徴とする請求項1に記載の部品検査装置。 - 前記判断部は、前記光が前記貫通孔を通過する部分の面積が、所定の基準面積以上である場合に欠陥が無いと判断し、前記所定の基準面積未満の場合に欠陥が有ると判断する、ことを特徴とする請求項1、又は請求項2に記載の部品検査装置。
- 前記貫通孔の他方の側から前記部品を照明する照明部を具備する、
ことを特徴とする請求項1、請求項2、又は請求項3に記載の部品検査装置。 - 前記部品には、複数の貫通孔が形成されており、
前記判断部は、前記複数の貫通孔ごとに欠陥の有無を判断する、
ことを特徴とする請求項1から請求項4までのうちの何れか1の請求項に記載の部品検査装置。
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Family Cites Families (5)
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JPH09178420A (ja) * | 1995-12-28 | 1997-07-11 | Hitachi Ltd | 穴明け検査方式 |
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