JP6508290B2

JP6508290B2 - projector

Info

Publication number: JP6508290B2
Application number: JP2017207915A
Authority: JP
Inventors: 美佳松本; 靖幸小林; 伸行大月; 白倉　清政; 清政白倉
Original assignee: Seiko Epson Corp
Current assignee: Seiko Epson Corp
Priority date: 2017-10-27
Filing date: 2017-10-27
Publication date: 2019-05-08
Anticipated expiration: 2031-06-06
Also published as: JP2018022191A

Description

本発明は、プロジェクターに関する。 The present invention relates to a projector.

光源から射出された光束を画像情報に応じて変調して投影するプロジェクターにおいて
、例えば下記特許文献に開示されているような、反射型結像光学系を用いたプロジェクタ
ーが知られている。 Among projectors that modulate and project a light flux emitted from a light source according to image information, there is known a projector using a reflective imaging optical system as disclosed in, for example, the following patent documents.

特開２０１１−００２６５０号公報JP 2011-002650 A

特許文献１記載のプロジェクターにおいては、非球面ミラーで反射した投射光は、プロ
ジェクターの外装ケースが有する開口部付近で集光する。その開口部が光を吸収しやすい
異物で覆われてしまうと、例えばプロジェクターの温度が上昇してしまう可能性がある。
その結果、プロジェクターの信頼性が低下する可能性がある。 In the projector described in Patent Document 1, the projection light reflected by the aspheric mirror is condensed near the opening of the exterior case of the projector. If the opening is covered with a foreign matter that easily absorbs light, for example, the temperature of the projector may increase.
As a result, the reliability of the projector may be reduced.

本発明の態様は、信頼性の低下を抑制できるプロジェクターを提供することを目的とす
る。 An aspect of the present invention is to provide a projector capable of suppressing a decrease in reliability.

本発明の一態様に従えば、光が通過可能な開口部を有する外装ケースと、前記外装ケー
スの内部空間に配置され、光源装置からの光束を反射して前記開口部へ導く反射面を有す
る反射部材を含み、前記開口部を介して前記外装ケースの外部に前記光束を射出する投射
光学系と、前記開口部の射出側における前記光束の光路上の異物を検出する検出装置と、
を備えるプロジェクターが提供される。 According to one aspect of the present invention, it has an exterior case having an opening through which light can pass, and a reflecting surface which is disposed in the inner space of the exterior case and reflects the light flux from the light source device to the opening. A projection optical system that includes a reflection member and emits the light flux to the outside of the outer case through the opening, and a detection device that detects foreign matter on the light path of the light flux on the emission side of the opening;
A projector is provided.

本発明の一態様によれば、投射光学系の反射部材で反射し、外装ケースの開口部を介し
て外装ケースの外部に光束が射出される構成のプロジェクターにおいて、その開口部の射
出側における光束の光路上の異物を検出する検出装置を設けたので、光路に異物が有るか
否かを把握することができる。そのため、検出装置の検出結果に基づいて、光路に異物が
有ると判断された場合、プロジェクターの温度上昇を抑制するための適切な措置を講ずる
ことができる。したがって、プロジェクターの信頼性の低下を抑制できる。 According to one aspect of the present invention, in the projector configured to reflect light by the reflection member of the projection optical system and to emit light to the outside of the outer case through the opening of the outer case, the light flux on the emission side of the opening Since the detecting device for detecting the foreign matter on the optical path of the above is provided, it can be grasped whether or not the foreign matter is present in the optical path. Therefore, when it is determined that there is a foreign matter in the light path based on the detection result of the detection device, it is possible to take appropriate measures to suppress the temperature rise of the projector. Therefore, the reduction in the reliability of the projector can be suppressed.

前記検出装置は、検出光を射出する発光部と、前記検出光を受光可能な受光部とを含む
構成でもよい。こうすることにより、非接触方式で、異物の有無を検出することができる
。また、光学的方式で異物を検出することにより、光路に異物が有る場合には、その異物
を瞬時に検出することができる。 The detection device may be configured to include a light emitting unit that emits detection light and a light receiving unit that can receive the detection light. In this way, the presence or absence of foreign matter can be detected in a non-contact manner. Further, by detecting the foreign matter by the optical method, when the foreign matter is present in the light path, the foreign matter can be detected instantaneously.

前記検出装置は、前記開口部の周囲の少なくとも一部に配置される構成でもよい。こう
することにより、開口部の射出側における異物を良好に検出することができる。 The detection device may be arranged at least at a part of the periphery of the opening. By so doing, foreign matter on the ejection side of the opening can be detected favorably.

前記検出装置は、前記開口部の中心に対して一方の側に配置される第１の検出装置と、
他方の側に配置される第２の検出装置とを含む構成でもよい。こうすることにより、少な
くとも２つの検出装置を用いて、検出エリアを拡大することができ、異物を良好に検出す
ることができる。 The detection device is a first detection device disposed on one side with respect to the center of the opening;
The configuration may include a second detection device disposed on the other side. By so doing, the detection area can be expanded using at least two detection devices, and foreign objects can be detected favorably.

前記検出装置は、前記開口部の短手方向に沿って配置される構成でもよい。こうするこ
とにより、異物を検出できない範囲となる各検出装置の間の距離を短くすることができ、
異物を良好に検出することができる。 The detection device may be arranged along the lateral direction of the opening. By doing this, it is possible to shorten the distance between the detection devices in the range where foreign matter can not be detected.
Foreign objects can be detected satisfactorily.

前記検出装置は、前記内部空間に配置される構成でもよい。こうすることにより、内部
空間に配置された投射部から照射される検出光が広がることによって、異物を検出可能な
検出エリアを大きくすることができる。また、検出装置がプロジェクターの内部に配置さ
れるので、ごみ、埃等の影響を受け難い。 The detection device may be arranged in the internal space. By doing this, the detection light emitted from the projection unit disposed in the internal space spreads, so that the detection area capable of detecting foreign matter can be enlarged. In addition, since the detection device is disposed inside the projector, it is not easily affected by dust and dirt.

プロジェクターの設置例を示す図である。It is a figure which shows the example of installation of a projector. 第１実施形態に係るプロジェクターの一例を示す斜視図である。FIG. 1 is a perspective view showing an example of a projector according to a first embodiment. 第１実施形態に係るプロジェクターの一部を示す図である。It is a figure showing a part of projector concerning a 1st embodiment. 第１実施形態に係る検出装置の一例を示す図である。It is a figure showing an example of the detecting device concerning a 1st embodiment. 第１実施形態に係るプロジェクターの動作の一例を示す図である。FIG. 7 is a diagram showing an example of the operation of the projector according to the first embodiment. 第２実施形態に係るプロジェクターの一部を示す図である。It is a figure which shows some projectors which concern on 2nd Embodiment. プロジェクターの設置例を示す図である。It is a figure which shows the example of installation of a projector.

＜第１実施形態＞
以下、本発明の第１実施形態について図面に基づいて説明する。図１及び図２は、本実
施形態に係るプロジェクター１の一例を示す図である。図１及び図２において、プロジェ
クター１は、そのプロジェクター１の外装を構成する外装ケース２を備える。外装ケース
２は、例えば合成樹脂製である。外装ケース２は、天面部２Ａと、底面部２Ｂと、側面部
２Ｃと、側面部２Ｄとを有する。プロジェクター１は、天面部２Ａを上下左右のいずれに
向けても投射可能である。本実施形態においては、プロジェクター１が天面部２Ａを上方
に向けて設置された状態を例に説明する。プロジェクター１は、スクリーンＳＣに投射光
ＰＬを照射して、そのスクリーンＳＣに画像を投影する。 First Embodiment
Hereinafter, a first embodiment of the present invention will be described based on the drawings. 1 and 2 are diagrams showing an example of a projector 1 according to the present embodiment. In FIG. 1 and FIG. 2, the projector 1 is provided with an exterior case 2 that constitutes an exterior of the projector 1. The exterior case 2 is made of, for example, a synthetic resin. The exterior case 2 has a top surface 2A, a bottom surface 2B, a side surface 2C, and a side surface 2D. The projector 1 can project even if the top surface 2A is directed to any of the top, bottom, left, and right. In the present embodiment, a state in which the projector 1 is installed with the top surface 2A facing upward is described as an example. The projector 1 irradiates the screen SC with the projection light PL to project an image on the screen SC.

天面部２Ａは、第１傾斜面２Ａ１及び第２傾斜面２Ａ２を有する。第１傾斜面２Ａ１に
、凹部３が形成されている。 The top surface 2A has a first inclined surface 2A1 and a second inclined surface 2A2. The recess 3 is formed in the first inclined surface 2A1.

外装ケース２は、天面部２Ａに光が通過可能な矩形の開口部４及び投射開口部３０を有
する。開口部４は、凹部３の上端に形成され、投射開口部３０は、凹部３の底部に形成さ
れる。本実施形態において、投射開口部３０には、光が通過可能な透過部材５が配置され
る。開口部４には、透過部材が配置されていないが、配置されてもよい。 The exterior case 2 has a rectangular opening 4 and a projection opening 30 through which light can pass through the top surface 2A. The opening 4 is formed at the upper end of the recess 3, and the projection opening 30 is formed at the bottom of the recess 3. In the present embodiment, the transmitting member 5 through which light can pass is disposed in the projection opening 30. Although the transmissive member is not disposed in the opening 4, it may be disposed.

側面部２Ｃは、スリット状の吸気開口部２Ｃ１を有する。吸気開口部２Ｃ１の内側には
エアフィルター及び吸気ファンが設けられる。吸気ファンは、吸気開口部２Ｃ１及びエア
フィルターを介して、外装ケース２の内部空間ＳＰに、装置本体を冷却するための冷却空
気を導入する。 The side portion 2C has a slit-like intake opening 2C1. An air filter and an intake fan are provided inside the intake opening 2C1. The intake fan introduces cooling air for cooling the apparatus main body to the internal space SP of the exterior case 2 through the intake opening 2C1 and the air filter.

プロジェクター１は、外装ケース２の内部空間ＳＰに配置される光学ユニット６を有す
る。光学ユニット６は、光源装置、光源装置から射出された光束ＰＬを変調する液晶パネ
ル等を含む光変調装置６１、及び光変調装置６１からの光束ＰＬを投射する投射光学系７
等を含む。なお、光学ユニット６の投射光学系７以外の構成は、種々の一般的なプロジェ
クターで利用されているので具体的な説明を省略し、以下では、投射光学系７について説
明する。 The projector 1 has an optical unit 6 disposed in the internal space SP of the exterior case 2. The optical unit 6 includes a light source device, a light modulation device 61 including a liquid crystal panel that modulates the light beam PL emitted from the light source device, and a projection optical system 7 that projects the light beam PL from the light modulation device 61.
Etc. In addition, since structures other than the projection optical system 7 of the optical unit 6 are utilized by various common projectors, specific description is abbreviate | omitted and the projection optical system 7 is demonstrated below.

図３は、投射光学系７の一部を模式的に示す断面図である。投射光学系７は、光変調装
置６１を介した光源装置からの光束ＰＬが入射される複数のレンズ８と、レンズ８からの
光束ＰＬを反射する反射面９Ａを有する反射部材９と、レンズ８及び反射部材９を収容す
る収容部材１０とを有する。 FIG. 3 is a cross-sectional view schematically showing a part of the projection optical system 7. The projection optical system 7 includes a plurality of lenses 8 to which the light beam PL from the light source device via the light modulation device 61 is incident, a reflecting member 9 having a reflecting surface 9 A for reflecting the light beam PL from the lens 8, and the lens 8. And a receiving member 10 for receiving the reflecting member 9.

本実施形態において、反射面９Ａは、凹面を含み、反射部材９は、非球面ミラーである
。以下の説明において、反射部材９を適宜、非球面ミラー９、と称する。 In the present embodiment, the reflecting surface 9A includes a concave surface, and the reflecting member 9 is an aspheric mirror. In the following description, the reflecting member 9 is appropriately referred to as an aspheric mirror 9.

反射面９Ａは、回転対称でない自由曲面形状の反射面である。本実施形態において、非
球面ミラー９は、投射光学系７における光路最下流において、反射面９Ａが斜め上方を向
くように配置される。非球面ミラー９は、複数のレンズ８により導かれた光束ＰＬを反射
して、斜め上方側に折り返すとともに広角化する。 The reflective surface 9A is a free-form reflective surface that is not rotationally symmetric. In the present embodiment, the aspheric mirror 9 is disposed so that the reflective surface 9A is directed obliquely upward at the most downstream side of the optical path in the projection optical system 7. The aspheric mirror 9 reflects the light beam PL guided by the plurality of lenses 8 and folds it back obliquely upward and widens the angle.

投射開口部３０及び開口部４は、非球面ミラー９で反射した光ＰＬを通過させることが
できる。投射開口部３０及び開口部４は、収容部材１０の上方側に配置される。投射光学
系７は、非球面ミラー９で反射した光ＰＬが、収容部材１０の上方側において投射開口部
３０及び開口部４を通過できるように、外装ケース２の内部空間ＳＰに設置される。非球
面ミラー９（反射面９Ａ）は、レンズ８からの光束ＰＬを反射して、投射開口部３０及び
開口部４へ導く。反射部材９からの光束ＰＬは、投射開口部３０を通過した後、開口部４
を通過する。反射部材９からの光束ＰＬは、投射開口部３０及び開口部４を介して、外装
ケース２の外部空間に射出される。 The projection opening 30 and the opening 4 can pass the light PL reflected by the aspheric mirror 9. The projection opening 30 and the opening 4 are disposed on the upper side of the housing member 10. The projection optical system 7 is installed in the internal space SP of the exterior case 2 so that the light PL reflected by the aspheric mirror 9 can pass through the projection opening 30 and the opening 4 on the upper side of the housing member 10. The aspheric mirror 9 (reflection surface 9 A) reflects the light beam PL from the lens 8 and guides it to the projection opening 30 and the opening 4. The light beam PL from the reflection member 9 passes through the projection opening 30 and then the opening 4
Pass through. The light beam PL from the reflection member 9 is emitted to the external space of the exterior case 2 through the projection opening 30 and the opening 4.

投射開口部３０は、非球面ミラー９の反射面９Ａで反射した光束ＰＬが集光する集光点
Ｐの近傍に形成されている。集光点Ｐの近傍に投射開口部３０を設けることで、投射開口
部３０の面積を小さくすることができる。 The projection opening 30 is formed in the vicinity of a focusing point P at which the light beam PL reflected by the reflection surface 9A of the aspheric mirror 9 is focused. By providing the projection opening 30 in the vicinity of the condensing point P, the area of the projection opening 30 can be reduced.

本実施形態において、プロジェクター１は、投射開口部３０（透過部材５）及び開口部
４を介して外装ケース２の外部空間に射出される光束（投射光）ＰＬの光路上の異物を検
出する検出装置４０を備えている。検出装置４０は、開口部４の射出側における光束ＰＬ
の光路上の異物を検出する。 In the present embodiment, the projector 1 detects foreign matter on the light path of the light flux (projected light) PL emitted to the external space of the exterior case 2 through the projection opening 30 (transmission member 5) and the opening 4. An apparatus 40 is provided. The detection device 40 has a luminous flux PL at the exit side of the opening 4.
Detect foreign objects on the light path of

本実施形態において、検出装置４０は、外装ケース２に配置される。検出装置４０は、
開口部４の短手方向に沿って、開口部４の中心に対して斜面２Ａ２側（一方の側）に配置
される第１の検出装置４０Ａと、斜面２Ａ１側（他方の側）に配置される第２の検出装置
４０Ｂとを含む。検出装置４０（４０Ａ、４０Ｂ）は、開口部４の射出側において、光束
ＰＬの光路の外側に配置される。本実施形態において、検出装置４０Ａと検出装置４０Ｂ
とは、同仕様の装置である。 In the present embodiment, the detection device 40 is disposed in the outer case 2. The detection device 40
The first detection device 40A is disposed on the side of the slope 2A2 (one side) with respect to the center of the opening 4 along the short side direction of the opening 4 and the side of the slope 2A1 (the other side) And a second detection device 40B. The detection devices 40 (40A, 40B) are disposed on the exit side of the opening 4 outside the optical path of the light beam PL. In the present embodiment, the detection device 40A and the detection device 40B
Is a device of the same specification.

本実施形態において、検出装置４０は、検出光ＳＬを射出する。検出装置４０は、検出
光ＳＬを用いて、異物を光学的に検出する。第１の検出装置４０Ａは、外部空間における
光束（投射光）ＰＬの光路に検出光ＳＬを照射して、その光束ＰＬの光路上の異物を検出
する。第２の検出装置４０Ｂは、斜面２Ａ１上の異物を検出する。なお、第２の検出装置
４０Ｂは、光束ＰＬの光路まで検出光ＳＬを照射してもよいし、照射しなくてもよい。 In the present embodiment, the detection device 40 emits the detection light SL. The detection device 40 optically detects foreign matter using the detection light SL. The first detection device 40A irradiates the detection light SL on the light path of the light flux (projected light) PL in the external space, and detects foreign matter on the light path of the light flux PL. The second detection device 40B detects foreign matter on the slope 2A1. Note that the second detection device 40B may or may not emit the detection light SL up to the light path of the light beam PL.

異物として、例えば紙、シート等が例示される。そのような異物は、開口部４に対して
長尺であることが想定される。そのような異物は、図３に示すように、斜面２Ａ１と斜面
２Ａ２の間に横たわって配置される場合が考えられる。検出装置４０Ｂを斜面２Ａ１上に
配置することにより、斜面２Ａ１と斜面２Ａ２の間に横たわって配置される異物の検出も
可能となる。 For example, paper, a sheet, etc. are illustrated as the foreign matter. It is assumed that such foreign matter is long relative to the opening 4. It is conceivable that such foreign matter is disposed between the slope 2A1 and the slope 2A2 as shown in FIG. By disposing the detection device 40B on the slope 2A1, it is also possible to detect a foreign substance placed lying between the slope 2A1 and the slope 2A2.

図４は、検出装置４０の一例を示す図である。検出装置４０は、検出光ＳＬを射出する
発光部４１と、検出光ＳＬを受光可能な受光部４２とを有する。発光部４１と受光部４２
とは並ぶように配置される。 FIG. 4 is a view showing an example of the detection device 40. As shown in FIG. The detection device 40 includes a light emitting unit 41 that emits the detection light SL, and a light receiving unit 42 that can receive the detection light SL. Light emitter 41 and light receiver 42
And arranged in line with.

本実施形態において、検出装置４０は、赤外線反射型の光学センサーである。検出装置
４０は、検出光ＳＬとして赤外光を射出する。 In the present embodiment, the detection device 40 is an infrared reflection type optical sensor. The detection device 40 emits infrared light as the detection light SL.

検出光ＳＬの光路に異物が有る場合、発光部４１から射出された検出光ＳＬは、異物に
照射される。異物に照射された検出光ＳＬの少なくとも一部は、その異物で反射する。異
物で反射した検出光ＳＬの少なくとも一部は、受光部４２に入射する。受光部４２は、そ
の異物からの検出光ＳＬを受光する。一方、検出光ＳＬの光路に異物が無い場合、発光部
４１から射出された検出光ＳＬは、受光部４２に受光されない。このように、検出装置４
０は、発光部４１から射出した検出光ＳＬが受光部４２に受光されるか否かによって、光
ＰＬの光路に異物が有るか否かを検出することができる。 When there is a foreign matter in the light path of the detection light SL, the foreign matter is irradiated with the detection light SL emitted from the light emitting unit 41. At least a part of the detection light SL irradiated to the foreign matter is reflected by the foreign matter. At least a portion of the detection light SL reflected by the foreign matter is incident on the light receiving unit 42. The light receiving unit 42 receives the detection light SL from the foreign matter. On the other hand, when there is no foreign matter in the light path of the detection light SL, the detection light SL emitted from the light emitting unit 41 is not received by the light receiving unit 42. Thus, the detection device 4
In 0, it is possible to detect whether or not there is a foreign matter in the light path of the light PL depending on whether or not the detection light SL emitted from the light emitting unit 41 is received by the light receiving unit 42.

なお、本実施形態において、検出装置４０は、異物の有無のみならず、受光部４２と異
物との距離を検出することもできる。検出装置４０は、受光部４２に対する検出光ＳＬの
入射位置に基づいて、受光部４２と異物との距離を検出する。 In the present embodiment, the detection device 40 can detect not only the presence or absence of a foreign substance but also the distance between the light receiving unit 42 and the foreign substance. The detection device 40 detects the distance between the light receiving unit 42 and the foreign matter based on the incident position of the detection light SL on the light receiving unit 42.

例えば、図４に示すように、受光部４２と異物との距離が第１距離Ｌ１である場合、発
光部４１から射出され、異物で反射した検出光ＳＬは、受光部４２の第１位置Ｐ１に入射
する。受光部４２と異物との距離が第１距離Ｌ１よりも長い第２距離Ｌ２である場合、発
光部４１から射出され、異物で反射した検出光ＳＬは、第１位置Ｐ１とは異なる受光部４
２の第２位置Ｐ２に入射する。 For example, as shown in FIG. 4, when the distance between the light receiving unit 42 and the foreign object is the first distance L1, the detection light SL emitted from the light emitting unit 41 and reflected by the foreign object is at the first position P1 of the light receiving unit 42. Incident to When the distance between the light receiving unit 42 and the foreign matter is the second distance L2 longer than the first distance L1, the detection light SL emitted from the light emitting unit 41 and reflected by the foreign matter is a light receiving unit 4 different from the first position P1.
It enters into the 2nd 2nd position P2.

なお、検出装置４０は、その受光部４２に照射される検出光ＳＬの照度分布に基づいて
、受光部４２と異物との距離を検出してもよい。 The detection device 40 may detect the distance between the light receiving unit 42 and the foreign matter based on the illuminance distribution of the detection light SL irradiated to the light receiving unit 42.

上述した通り、紙、シート等の異物は、開口部４を覆うように天面部２Ａに置かれてし
まう可能性が高い。そのような状態で、投射光ＰＬが開口部４から射出された場合、例え
ば異物と外装ケース２の外面（天面部２Ａ）との間の空間の温度が上昇してしまう可能性
がある。その結果、例えばプロジェクター１の温度が上昇し、プロジェクター１の信頼性
が低下してしまう可能性がある。 As described above, there is a high possibility that foreign substances such as paper and sheets will be placed on the top surface 2A so as to cover the opening 4. In such a state, when the projection light PL is emitted from the opening 4, for example, the temperature of the space between the foreign matter and the outer surface (top surface 2A) of the exterior case 2 may increase. As a result, for example, the temperature of the projector 1 may increase, and the reliability of the projector 1 may be reduced.

本実施形態によれば、開口部４から射出される投射光ＰＬの光路上の異物を検出する検
出装置４０を設けたので、その光路に異物が有るか否かを把握することができる。そのた
め、検出装置４０の検出結果に基づいて光路に異物が有ると判断された場合には、プロジ
ェクター１の温度上昇を抑制するための適切な措置を講ずることができる。例えば、プロ
ジェクター１で警告表示を行う等の措置を講ずることができる。したがって、プロジェク
ター１の信頼性の低下を抑制できる。 According to the present embodiment, since the detection device 40 for detecting the foreign matter on the optical path of the projection light PL emitted from the opening 4 is provided, it can be grasped whether or not the foreign matter is present in the optical path. Therefore, when it is determined that there is a foreign substance in the light path based on the detection result of the detection device 40, it is possible to take appropriate measures to suppress the temperature rise of the projector 1. For example, measures such as displaying a warning on the projector 1 can be taken. Therefore, the decrease in the reliability of the projector 1 can be suppressed.

本実施形態においては、検出装置４０は、光学的方式（非接触方式）で、異物の有無を
検出する。そのため、投射光ＰＬの光路に異物が有る場合、その異物を瞬時に検出するこ
とができる。したがって、例えば光路に異物が存在していても、プロジェクター１の温度
が上昇し過ぎる前に、その異物を素早く検出することができる。 In the present embodiment, the detection device 40 detects the presence or absence of foreign matter by an optical method (non-contact method). Therefore, when there is a foreign matter in the light path of the projection light PL, the foreign matter can be detected instantaneously. Therefore, even if foreign matter is present in the light path, for example, the foreign matter can be detected quickly before the temperature of the projector 1 rises excessively.

また、本実施形態においては、図３中、レンズ８からの光束（投射光）ＰＬは、ＸＺ平
面内を進行する。また、発光部４１からの検出光ＳＬも、ＸＺ平面内を進行する。これに
より、検出装置４０は、光ＰＬの光路上の異物の有無を精度良く検出できる。 Further, in the present embodiment, in FIG. 3, the light flux (projected light) PL from the lens 8 travels in the XZ plane. The detection light SL from the light emitting unit 41 also travels in the XZ plane. As a result, the detection device 40 can accurately detect the presence or absence of foreign matter on the light path of the light PL.

次に、検出装置４０で異物を検出した場合のプロジェクター１の動作の一例について説
明する。図５に示すように、プロジェクター１が高輝度モードで投射光ＰＬを射出してい
る場合において、検出装置４０によって異物を検出した場合（ステップＳ１）、光源装置
の輝度（光源装置の出力、光強度）を低下させて、高輝度モードから低輝度モードに変更
する（ステップＳ２）。 Next, an example of the operation of the projector 1 when foreign matter is detected by the detection device 40 will be described. As shown in FIG. 5, when the projector 1 emits the projection light PL in the high brightness mode, when the foreign object is detected by the detection device 40 (step S1), the brightness of the light source device (output of the light source device, light The intensity is reduced to change the high brightness mode to the low brightness mode (step S2).

次に、プロジェクター１は、表示を黒画面にする（ステップＳ３）。また、プロジェク
ター１は、表示を黒画面にする動作と同時に、警告を発する（ステップＳ４）。警告とし
て、例えば、黒画面になっているスクリーンに警告表示を行ってもよい。また、プロジェ
クター１が警報装置（ブザー等）を有する場合、その警報装置を作動してもよい。また、
プロジェクター１が発光装置（ＬＥＤ等）を有する場合、その発光装置を作動してもよい
。 Next, the projector 1 turns the display to a black screen (step S3). Further, the projector 1 issues a warning at the same time as the operation of making the display a black screen (step S4). As a warning, for example, a warning may be displayed on a screen that is a black screen. In addition, when the projector 1 has an alarm device (such as a buzzer), the alarm device may be activated. Also,
When the projector 1 has a light emitting device (such as an LED), the light emitting device may be operated.

警告が発せられることにより、プロジェクター１の使用者は、異物が存在することを知
ることができる。そのため、異物が取り除かれることによって、プロジェクター１が温度
上昇してしまうことを回避できる。 By issuing the warning, the user of the projector 1 can know that the foreign matter is present. Therefore, the temperature rise of the projector 1 can be avoided by removing the foreign matter.

警告を発してから所定時間が経過した後、プロジェクター１は、検出装置４０を用いて
、異物が除去されたから否かを検出する（ステップＳ５）。例えば上述の警告により異物
が取り除かれた場合、プロジェクター１は、警告を解除する（ステップＳ６）。また、異
物が取り除かれた場合、プロジェクター１は、黒画面表示を解除し、高輝度モードに戻す
。 After a predetermined time has elapsed since the warning was issued, the projector 1 uses the detection device 40 to detect whether or not foreign matter has been removed (step S5). For example, when the foreign matter is removed by the above-described warning, the projector 1 cancels the warning (step S6). In addition, when the foreign matter is removed, the projector 1 cancels the black screen display and returns to the high brightness mode.

一方、警告が発せられたにもかかわらず異物が取り除かれない場合、警告を発してから
所定時間が経過した後、プロジェクター１は、光源装置の作動を停止する（ステップＳ７
）。 On the other hand, if the foreign matter is not removed although the warning is issued, the projector 1 stops the operation of the light source device after a predetermined time has passed since the warning was issued (step S7).
).

なお、本実施形態においては、開口部４の周囲に２つの検出装置４０Ａ、４０Ｂが配置
されることとしたが、検出装置４０は１つでもよい。例えば、第１の検出装置４０Ａが配
置され、第２の検出装置４０Ｂが省略されてもよい。なお、検出装置４０が１つの場合、
開口部４の周囲の少なくとも一部に（任意の位置に）、その検出装置４０が配置されても
よい。 In the present embodiment, two detection devices 40A and 40B are disposed around the opening 4. However, one detection device 40 may be provided. For example, the first detection device 40A may be disposed, and the second detection device 40B may be omitted. If there is one detection device 40,
The detection device 40 may be disposed at least at a part (at an arbitrary position) around the opening 4.

また、開口部４の周囲に複数の検出装置４０が配置されてもよい。例えば、開口部４の
周囲に３以上の検出装置４０が配置されてもよい。検出装置４０が複数の場合、少なくと
も一つの検出装置４０が、光束ＰＬの光路まで検出光ＳＬを照射すればよく、他の検出装
置４０は、開口部４の周囲の異物を検出するようにしてもよい。 In addition, a plurality of detection devices 40 may be disposed around the opening 4. For example, three or more detection devices 40 may be disposed around the opening 4. When there are a plurality of detection devices 40, at least one detection device 40 may irradiate the detection light SL up to the light path of the light beam PL, and the other detection devices 40 may detect foreign matter around the opening 4 It is also good.

また、第１の検出装置４０Ａと第２の検出装置４０Ｂとは、投射開口部３０の短手方向
に沿って配置されていたが、長手方向に沿って配置されていてもよい。 Moreover, although 1st detection apparatus 40A and 2nd detection apparatus 40B were arrange | positioned along the transversal direction of the projection opening part 30, you may be arrange | positioned along a longitudinal direction.

＜第２実施形態＞
次に、第２実施形態について説明する。以下の説明において、上述の実施形態と同一又
は同等の構成部分については同一の符号を付し、その説明を簡略若しくは省略する。 Second Embodiment
Next, a second embodiment will be described. In the following description, the component parts identical or equivalent to those of the above-described embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description thereof will be simplified or omitted.

図６は、第２実施形態に係るプロジェクター１の一例を示す。本実施形態において、検
出装置４０は、内部空間ＳＰ内の投射光学系７に配置されている。検出装置４０は、内部
空間ＳＰにおいて、光束ＰＬの光路の外側に配置されている。本実施形態において、検出
装置４０は、レンズ８と非球面ミラー９との間の光束ＰＬの光路に面するように配置され
る。 FIG. 6 shows an example of the projector 1 according to the second embodiment. In the present embodiment, the detection device 40 is disposed in the projection optical system 7 in the internal space SP. The detection device 40 is disposed outside the light path of the light beam PL in the internal space SP. In the present embodiment, the detection device 40 is disposed to face the optical path of the light beam PL between the lens 8 and the aspheric mirror 9.

本実施形態において、検出装置４０は、投射開口部３０（透過部材５）を介して、開口
部４の射出側における光束（投射光）ＰＬの光路に検出光ＳＬを照射して、その光ＰＬの
光路上の異物を検出する。 In the present embodiment, the detection device 40 irradiates the detection light SL on the light path of the light flux (projected light) PL on the emission side of the opening 4 through the projection opening 30 (transmission member 5), and the light PL Detect foreign objects on the light path of

光束ＰＬの光路上に異物が有る場合、発光部４１から射出された検出光ＳＬは、投射開
口部３０（透過部材５）を介して異物に照射される。異物に照射された検出光ＳＬの少な
くとも一部は、その異物で反射する。異物で反射した検出光ＳＬの少なくとも一部は、投
射開口部３０（透過部材５）を介して受光部４２に入射する。受光部４２は、その異物か
らの検出光ＳＬを受光する。 When there is a foreign matter on the light path of the light beam PL, the detection light SL emitted from the light emitting unit 41 is irradiated to the foreign matter through the projection opening 30 (the transmitting member 5). At least a part of the detection light SL irradiated to the foreign matter is reflected by the foreign matter. At least a part of the detection light SL reflected by the foreign matter is incident on the light receiving unit 42 through the projection opening 30 (transmission member 5). The light receiving unit 42 receives the detection light SL from the foreign matter.

光束ＰＬの光路に異物が無い場合、発光部４１から射出された検出光ＳＬは、投射開口
部３０（透過部材５）を介して外部空間に射出される。その検出光ＳＬは、受光部４２に
受光されない。 When there is no foreign matter in the light path of the light beam PL, the detection light SL emitted from the light emitting unit 41 is emitted to the external space through the projection opening 30 (transmission member 5). The detection light SL is not received by the light receiving unit 42.

本実施形態において、検出装置４０は、開口部４から離れた、内部空間ＳＰ内の投射光
学系７に配置されている。開口部４と検出装置４０との距離を確保することができるので
、検出装置４０からの検出光ＳＬは開口部４に向けて広がって進み、一つの検出装置４０
で広い範囲の検出することができる。また、検出装置４０がプロジェクター１の内部に配
置されるので、ごみ、埃等の影響を受け難い。 In the present embodiment, the detection device 40 is disposed in the projection optical system 7 in the internal space SP, which is separated from the opening 4. Since the distance between the opening 4 and the detection device 40 can be secured, the detection light SL from the detection device 40 spreads toward the opening 4 and travels to one detection device 40.
Can be detected in a wide range. In addition, since the detection device 40 is disposed inside the projector 1, it is not easily affected by dust, dirt and the like.

本実施形態において、発光部４１からの検出光ＳＬの射出方向は、設置面に対してほぼ
垂直である。なお、発光部４１からの検出光ＳＬの射出方向は、設置面の法線に対して±
４５度以内の範囲で定められてもよい。 In the present embodiment, the emission direction of the detection light SL from the light emitting unit 41 is substantially perpendicular to the installation surface. Note that the emission direction of the detection light SL from the light emitting unit 41 is ± with respect to the normal to the installation surface.
It may be determined within a range of 45 degrees.

また、本実施形態においても、図６中、レンズ８からの光束（投射光）ＰＬは、ＸＺ平
面内を進行する。また、発光部４１からの検出光ＳＬも、ＸＺ平面内を進行する。これに
より、検出装置４０は、光ＰＬの光路上の異物の有無を精度良く検出できる。 Also in the present embodiment, in FIG. 6, the light beam (projected light) PL from the lens 8 travels in the XZ plane. The detection light SL from the light emitting unit 41 also travels in the XZ plane. As a result, the detection device 40 can accurately detect the presence or absence of foreign matter on the light path of the light PL.

なお、上述の第１、第２実施形態においては、プロジェクター１は、天面部２Ａ（投射
開口部３０）を上方に向けた状態で使用されることとしたが、図７に示すように、下方に
向けた状態で使用されてもよい。図７において、プロジェクター１は、支持機構５０によ
って、天面部２Ａ（開口部４）が下方に向くように支持される。 In the first and second embodiments described above, the projector 1 is used with the top surface 2A (the projection opening 30) facing upward, but as shown in FIG. It may be used in the state of facing. In FIG. 7, the projector 1 is supported by the support mechanism 50 so that the top surface portion 2A (opening 4) faces downward.

また、上述の第１、第２実施形態においては、検出装置４０は、射出した検出光ＳＬを
用いて、異物を光学的に検出していたが、超音波によって異物を検出する検出装置を用い
てもよいし、撮影した画像によって異物を検出する検出装置を用いてもよい。 In the first and second embodiments described above, the detection device 40 optically detects a foreign substance using the emitted detection light SL, but a detection device that detects the foreign substance by ultrasonic waves is used Alternatively, a detection device that detects a foreign object based on a captured image may be used.

１…プロジェクター、２…外装ケース、４…開口部、５…透過部材、７…投射光学系、
９…反射部材、４０…検出装置、４１…投射部、４２…受光部、ＳＰ…内部空間。 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Projector, 2 ... Exterior case, 4 ... Opening part, 5 ... Transmission member, 7 ... Projection optical system,
9: Reflecting member, 40: Detection device, 41: Projection part, 42: Light receiving part, SP: Internal space.

Claims

光源装置と、
第１の面に第１の斜面及び第２の斜面を有し、前記第１の斜面に光が通過可能な開口部を有する外装ケースと、
前記外装ケースの内部空間に配置され、前記光源装置からの光束を、前記開口部を介して前記外装ケースの外部に射出する投射光学系と、
前記開口部の中心に対して前記第２の斜面側に配置され、前記開口部の射出側における前記光束の光路上の異物を検出する第１の検出装置と、
前記開口部の中心に対して前記第１の検出装置とは反対側の前記第１の斜面上に配置され、前記第１の斜面上の異物を検出する第２の検出装置と、を備えることを特徴とするプロジェクター。 A light source device,
An exterior case having a first slope and a second slope on a first surface, and an opening through which light can pass on the first slope ;
A projection optical system which is disposed in the inner space of the outer case and emits the light flux from the light source device to the outside of the outer case through the opening;
Disposed on the second slope side with respect to the center of the opening, a first detection device that detect the foreign object on the optical path of the light beam at the exit side of the opening,
Wherein the first detection device with respect to the center of the opening portion is disposed on the opposite side of the first on a slope, and a second detection device that detect the foreign substance on the first slope A projector characterized by

前記第１の検出装置は、前記光束の光路に検出光を照射して異物を検出することを特徴とする請求項１に記載のプロジェクター。 The projector according to claim 1 , wherein the first detection device irradiates detection light to an optical path of the light flux to detect a foreign matter.

前記第２の検出装置は、前記光束の光路まで検出光を照射して異物を検出することを特徴とする請求項１または２に記載のプロジェクター。 The second detection device, a projector according to claim 1 or 2, characterized in that detecting the foreign substance by the detection light to the optical path of the light beam.

前記第１の検出装置または前記第２の検出装置によって異物が検出された場合、前記光源装置の輝度を低下させることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか一項に記載のプロジェクター。 The projector according to any one of claims 1 to 3 , wherein when the foreign matter is detected by the first detection device or the second detection device, the luminance of the light source device is reduced.

前記投射光学系は、前記光束を反射して前記開口部へ導く反射面を有する反射部材を含むことを特徴とする請求項１乃至４のいずれか一項に記載のプロジェクター。 The projection optical system, a projector according to any one of claims 1 to 4, characterized in that it comprises a reflecting member having a reflecting surface for reflecting the light beam guided to the opening.

前記反射部材は、凹面を含む反射面を有する非球面ミラーであることを特徴とする請求項５に記載のプロジェクター。 The projector according to claim 5 , wherein the reflection member is an aspheric mirror having a reflection surface including a concave surface.

前記開口部は、前記非球面ミラーの前記反射面で反射した前記光束が集光する集光点の近傍に形成されていることを特徴とする請求項６に記載のプロジェクター。 Projector according to claim 6 wherein the opening is characterized in that the said light beam reflected by the reflecting surface of the aspherical mirror is formed in the vicinity of the focal point for focusing.