JP6502572B1 - Load lock chamber and vacuum processing apparatus - Google Patents

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Abstract

【課題】ステージ上に設置されるトレイの在荷確認、ステージに対するトレイの位置ずれの監視や、ステージの動作異常の監視を統括的に行うことができるロードロック装置を提供する。【解決手段】ロードロック装置LMは、透孔11aを有する隔壁11と隔壁上面で透孔の外周縁部に当接する、筒状の蓋体12と、隔壁の下方に配置されて、平坦な上面3aにトレイ2の設置が可能で上下動自在なステージ3とを備え、ステージを上動させると、フランジ31が隔壁下面で当接して、ステージ上部が透孔を通って突出して気密な内部空間20が画成され、蓋体上面に所定波長の光を透過する窓部13a〜13cが設けられ、窓部の上方に、所定波長の光を照射する光源を持つ少なくとも2個の反射式の変位センサ14a〜14cが設けられ、第1変位センサ14aがトレイ上面2aで反射した光を受光し、第2変位センサ14bがステージ上面で反射した光を受光する。【選択図】図2The present invention provides a load lock device capable of integrally checking the presence of a tray installed on a stage, monitoring the positional deviation of the tray with respect to the stage, and monitoring abnormal operation of the stage. A load lock device (LM) includes: a partition (11) having a through hole (11a); a cylindrical lid (12) contacting the outer peripheral edge of the through hole on the partition upper surface; The tray 3 is provided with a stage 3 capable of installing the tray 2 and capable of moving up and down. When the stage is moved upward, the flange 31 abuts on the lower surface of the partition wall and the upper part of the stage protrudes through the through hole to form an airtight internal space 20 is defined, windows 13a to 13c for transmitting light of a predetermined wavelength are provided on the upper surface of the lid, and at least two reflection-type displacements having light sources for emitting light of a predetermined wavelength above the windows Sensors 14a to 14c are provided, the first displacement sensor 14a receives the light reflected by the tray upper surface 2a, and the second displacement sensor 14b receives the light reflected by the stage upper surface. [Selected figure] Figure 2

Description

本発明は、ロードロック装置及び真空処理装置に関し、より詳しくは、ステージ上に設置されるトレイの在荷確認、ステージに対するトレイの位置ずれの監視や、ステージの動作異常の監視を統括的に行うことができるようにしたものに関する。   The present invention relates to a load lock apparatus and a vacuum processing apparatus, and more specifically, comprehensively checks the presence of a tray installed on a stage, monitors the misalignment of the tray with respect to the stage, and monitors abnormal operation of the stage. For what you can do.

太陽電池やフラットパネルディスプレイの製造工程においては、基板に対して成膜処理、エッチング処理や熱処理といった各種の真空処理が行われる。このような真空処理を行うインライン式の真空処理装置は例えば特許文献1で知られている。この真空処理装置には、複数枚の基板がセットされたトレイを大気雰囲気中から真空雰囲気中の真空チャンバ内に搬入し、または、このトレイを真空雰囲気中の真空チャンバから大気雰囲気中に搬出するためのロードロック装置が一体に組み付けられている。即ち、真空チャンバの上壁に透孔が開設され、この透孔を覆うように真空チャンバの上壁には、筒状の蓋体が開閉自在に設けられている。透孔の下方に位置させて真空チャンバ内には、トレイを設置可能な平坦な上面を有するステージが上下動自在に設けられている。   In the process of manufacturing a solar cell or flat panel display, various vacuum processes such as film forming process, etching process and heat treatment are performed on a substrate. An in-line vacuum processing apparatus that performs such vacuum processing is known, for example, in Patent Document 1. In this vacuum processing apparatus, a tray on which a plurality of substrates are set is carried from the atmosphere to the vacuum chamber in the vacuum atmosphere, or the tray is carried out from the vacuum chamber in the vacuum atmosphere to the atmosphere. The load lock device is integrally assembled. That is, a through hole is opened in the upper wall of the vacuum chamber, and a cylindrical lid is provided openably and closably on the upper wall of the vacuum chamber so as to cover the through hole. A stage having a flat upper surface on which the tray can be placed is provided vertically movable in the vacuum chamber located below the through hole.

例えば、複数枚の基板がセットされたトレイを大気雰囲気中から真空雰囲気中の真空チャンバ内に搬入するのに際しては、蓋体の下面を透孔の外周縁部に気密保持した状態で真空チャンバ上壁の上面に当接させ、ステージを上動させ、ステージに形成したフランジを真空チャンバ上壁の下面に当接させる。これにより、ステージの上部が透孔を通って蓋体の内部空間に突出し、この蓋体内に、気密な内部空間(言い換えると、真空チャンバ内の真空雰囲気と隔絶された内部空間)が画成され、内部空間が大気雰囲気のときに蓋体を開放すれば、ステージに対するトレイの設置が可能になる。   For example, when the tray on which a plurality of substrates are set is carried from the atmosphere to the vacuum chamber in the vacuum atmosphere, the upper surface of the lid is kept airtight on the outer peripheral portion of the through hole. The top surface of the wall is brought into contact, the stage is raised, and the flange formed on the stage is brought into contact with the bottom surface of the vacuum chamber top wall. Thereby, the upper part of the stage protrudes through the through hole into the inner space of the lid, and an airtight inner space (in other words, an inner space isolated from the vacuum atmosphere in the vacuum chamber) is defined in the lid. If the lid is opened when the internal space is in the atmosphere, the tray can be installed on the stage.

ステージに対するトレイの設置が終了すると、蓋体の下面を透孔の外周縁部に気密保持した状態で真空チャンバ上壁の上面に当接するように蓋体を閉じ、内部空間内を真空ポンプによって真空排気する。内部空間内が所定圧力まで減圧されると、ステージを下動させ、これにより、トレイが大気雰囲気中から真空雰囲気中の真空チャンバ内に搬入される。そして、真空チャンバ内に設けられる移載手段によりステージからトレイ搬送手段にトレイを移載し、トレイ搬送手段によりトレイを水平方向に搬送しながら、その搬送経路に設けられた処理ユニットによって各基板に所定の真空処理が施される。一方、処理済みの基板がセットされたトレイを真空雰囲気中の真空チャンバから大気雰囲気中に搬出する場合には、上記と逆の手順に従って操作され、ステージの上部が透孔を通って蓋体の内部空間に突出した状態で気密な内部空間にベントガスを導入して大気圧に戻される。   When installation of the tray on the stage is completed, the lid is closed so as to abut the upper surface of the vacuum chamber upper wall while keeping the lower surface of the lid airtight on the outer peripheral edge of the through hole, Exhaust. When the pressure in the internal space is reduced to a predetermined pressure, the stage is lowered, whereby the tray is carried from the atmosphere to the vacuum chamber in the vacuum atmosphere. Then, the tray is transferred from the stage to the tray transfer means by the transfer means provided in the vacuum chamber, and while the tray is horizontally transferred by the tray transfer means, each substrate is transferred by the processing unit provided in the transfer path. A predetermined vacuum process is performed. On the other hand, when the tray on which the processed substrate is set is carried out from the vacuum chamber in a vacuum atmosphere to the air atmosphere, the operation is performed according to the reverse procedure to the above, A vent gas is introduced into the airtight inner space in a state of being protruded to the inner space and returned to the atmospheric pressure.

ここで、真空チャンバ内で実施される真空処理によっては、トレイ自体が然程汚染されない場合がある。このような場合、複数枚の基板がセットされたトレイごと交換するのでは、トレイに付着した水などの汚染ガスが真空チャンバ内に持ち込まれる虞がある。このことから、蓋体を開放した状態で多関節式ロボット等によりトレイ上の基板のみを交換する場合があるが、トレイ搬送手段からステージにトレイを移載したときにステージに対してトレイが位置ずれしていると、多関節ロボット等がトレイにセットされた基板の交換ができないという問題がある。また、トレイ搬送手段からステージ上面にトレイを移載する際に、ステージ上面に別のトレイが存在したのでは、トレイ同士が接触してトレイや基板を破損してしまうという問題がある。更に、ステージを上動させてステージに形成したフランジを真空チャンバ上壁の下面に当接させるときに、ステージを上下動させる機構に不具合が発生し、または、フランジのシール面に異物があることで、ステージの動作異常に起因してステージ自体が水平面に対して傾き、正しい姿勢でフランジが真空チャンバ上壁の下面に当接しない場合があり、これでは、上記操作を行うと、例えば真空チャンバ内に真空リークを発生させるといった問題が生じる。   Here, depending on the vacuum process performed in the vacuum chamber, the tray itself may not be contaminated to a great extent. In such a case, if the tray in which a plurality of substrates are set is replaced, there is a risk that a contamination gas such as water adhering to the tray may be brought into the vacuum chamber. From this, there are cases where only the substrate on the tray is replaced by the articulated robot or the like with the lid opened, but when the tray is transferred from the tray transport means to the stage, the tray is positioned with respect to the stage If it is misaligned, there is a problem that the articulated robot or the like can not exchange the substrate set in the tray. In addition, when another tray is present on the upper surface of the stage when transferring the tray from the tray conveyance means to the upper surface of the stage, there is a problem that the trays come in contact with each other to damage the tray or the substrate. Furthermore, when moving the stage up and bringing the flange formed on the stage into contact with the lower surface of the upper wall of the vacuum chamber, problems occur with the mechanism that moves the stage up and down, or foreign matter on the sealing surface of the flange In some cases, the stage itself tilts with respect to the horizontal plane due to abnormal operation of the stage, and the flange does not abut the lower surface of the upper wall of the vacuum chamber in a correct posture. There is a problem of causing a vacuum leak inside.

国際公開第2017/104826International Publication No. 2017/104826

本発明は、以上の点に鑑み、ステージ上に設置されるトレイの在荷確認、ステージに対するトレイの位置ずれの監視や、ステージの動作異常の監視を統括的に行うことができるようにしたロードロック装置及び真空処理装置を提供することをその課題とするものである。   In view of the above-described points, the present invention is capable of comprehensively checking the presence of a tray placed on a stage, monitoring the positional deviation of the tray with respect to the stage, and monitoring abnormal operation of the stage. It is an object of the present invention to provide a lock device and a vacuum processing device.

上記課題を解決するために、複数枚の基板がセットされたトレイを大気雰囲気中から真空雰囲気中に搬入し、または、このトレイを真空雰囲気中から大気雰囲気中に搬出するための本発明のロードロック装置は、上下方向に貫通する透孔を有して水平な姿勢で設置される隔壁と隔壁上面で透孔の外周縁部に気密保持した状態で当接する、下面が開放された筒状の蓋体と、隔壁の下方に配置されて、その平坦な上面にトレイの設置が可能であると共にこの隔壁に対して上下動自在なステージと、を備え、ステージを上動させると、ステージの外周面からその水平方向に延出されたフランジが隔壁下面で透孔の外周縁部に気密保持した状態で当接して、ステージの上部が透孔を通って蓋体の内部空間に突出して気密な内部空間が画成されるようにし、蓋体上面に所定波長の光を透過する窓部が設けられ、窓部の上方に、所定波長の光を照射する光源を持つ少なくとも2個の反射式の変位センサが設けられ、その中の第1変位センサがトレイの上面で反射した光を受光し、その中の第2変位センサがステージの上面で反射した光を受光するように構成されていることを特徴とする。   In order to solve the above problems, a load according to the present invention for carrying a tray in which a plurality of substrates are set into a vacuum atmosphere from the atmosphere, or carrying out the tray from the vacuum atmosphere into the atmosphere The lock device has a vertically penetrating through-hole and is in contact with the partition installed in a horizontal posture and the outer peripheral edge portion of the through-hole airtightly at the partition and the partition upper surface, which is cylindrical, An outer periphery of the stage is provided with a lid and a stage which is disposed below the partition wall and on which the tray can be installed on the flat upper surface and which is vertically movable with respect to the partition wall. A horizontally extending flange from the surface abuts against the outer peripheral edge of the through hole at the lower surface of the partition in an airtight manner, and the upper part of the stage protrudes through the through hole into the inner space of the lid As the inner space is defined A window portion for transmitting light of a predetermined wavelength is provided on the upper surface of the lid, and at least two reflection type displacement sensors having a light source for emitting light of a predetermined wavelength are provided above the window portion; The first displacement sensor is configured to receive light reflected by the upper surface of the tray, and the second displacement sensor therein is configured to receive light reflected by the upper surface of the stage.

本発明によれば、窓部の上方に設けた第1変位センサを、トレイ上面で反射した光を所定の受光位置で受光するように予め調整すると共に、第2変位センサを、ステージ上面で反射した光を所定の受光位置で受光するように予め調整しておく。このように調整しておけば、ステージ上にトレイが存在する場合には第1変位センサの受光位置は変化しないが、ステージ上にトレイが存在しないと、第1変位センサがステージ上面で反射した光を受光し、トレイの厚みに起因して第1変位センサの受光位置が変化する。また、ステージに対するトレイの位置ずれが発生していない場合には第2変位センサの受光位置が変化しないが、トレイの位置ずれが発生すると、第2変位センサがトレイ上面で反射した光を受光し、トレイの厚みに起因して第2変位センサの受光位置が変化する。また、ステージの動作異常によりステージが傾くと、第1及び第2の変位センサの受光位置が大きく変化する。従って、第1及び第2の変位センサの受光位置の変化量に基づいて、トレイの在荷確認、ステージに対するトレイの位置ずれの監視や、ステージの動作異常の監視を統括的に行うことができる。   According to the present invention, the first displacement sensor provided above the window is adjusted in advance to receive the light reflected on the tray upper surface at a predetermined light receiving position, and the second displacement sensor is reflected on the stage upper surface The received light is adjusted in advance to be received at a predetermined light receiving position. If adjusted in this way, the light reception position of the first displacement sensor does not change when the tray exists on the stage, but if the tray does not exist on the stage, the first displacement sensor reflected on the upper surface of the stage The light is received, and the light receiving position of the first displacement sensor changes due to the thickness of the tray. In addition, the light receiving position of the second displacement sensor does not change when the positional deviation of the tray with respect to the stage does not occur, but when the positional deviation of the tray occurs, the second displacement sensor receives the light reflected on the tray upper surface The light receiving position of the second displacement sensor changes due to the thickness of the tray. In addition, when the stage is tilted due to the abnormal operation of the stage, the light receiving positions of the first and second displacement sensors change significantly. Therefore, based on the amount of change in the light receiving position of the first and second displacement sensors, it is possible to comprehensively check the presence of the tray, monitor the positional deviation of the tray with respect to the stage, and monitor abnormal operation of the stage. .

本発明においては、前記窓部の上方に、所定波長の光を照射する光源を持つ1個の反射式の第3変位センサが更に設けられ、第3変位センサがトレイまたはステージの上面で反射した光を受光するように構成されていることが好ましい。これによれば、第3変位センサを例えばステージ上面で反射した光を所定の受光位置で受光するように予め調整しておけば、トレイの位置ずれが発生すると、第3変位センサがトレイ上面で反射した光を受光し、第3変位センサの受光位置が変化する。従って、第2及び第3の変位センサのいずれか一方の受光位置が変化したときに、トレイの位置ずれを検知できる。さらに、第1〜第3の3つの変位センサの受光位置の変化量からステージの傾きを求めることができるため、求めた傾きからステージの動作異常をより精度良く検知することもできる。   In the present invention, one reflective third displacement sensor having a light source for emitting light of a predetermined wavelength is further provided above the window, and the third displacement sensor reflects off the upper surface of the tray or the stage. Preferably, it is configured to receive light. According to this, if the third displacement sensor is adjusted in advance to receive, for example, light reflected on the upper surface of the stage at a predetermined light receiving position, the third displacement sensor may be on the upper surface of the tray when misalignment of the tray occurs. The reflected light is received, and the light receiving position of the third displacement sensor is changed. Therefore, when the light receiving position of any one of the second and third displacement sensors changes, the positional deviation of the tray can be detected. Furthermore, since the tilt of the stage can be obtained from the amount of change in the light receiving position of the first to third displacement sensors, it is possible to more accurately detect the operation abnormality of the stage from the obtained tilt.

上記少なくとも2個の反射式の変位センサを有するロードロック装置を備える本発明の真空処理装置は、前記隔壁が真空チャンバの上壁であると共に、この真空チャンバ内に前記ステージが設けられ、水平方向で互いに直交する方向をX軸方向及びY軸方向、ステージの下動位置を起点とし、この起点に向けてX軸方向一方にトレイを搬送できるトレイ搬送手段と、トレイ搬送手段で搬送されるトレイをステージ上に移載する移載手段と、トレイ搬送手段による搬送中にトレイにセットされた基板に対して真空処理を施す処理ユニットとを備え、Y軸方向に位置するトレイの側面にその外方に突出する突片が設けられ、前記第1変位センサが突片で反射した光を受光するように構成されていることを特徴とする。   In the vacuum processing apparatus of the present invention comprising the load lock apparatus having the at least two reflective displacement sensors, the partition is the upper wall of the vacuum chamber, and the stage is provided in the vacuum chamber, and the horizontal direction Starting from the lower movement position of the stage with the X axis direction and the Y axis direction orthogonal to each other, the tray conveying means capable of conveying the tray in one X axis direction toward the origin, and the tray conveyed by the tray conveying means And a processing unit for performing vacuum processing on the substrate set in the tray during transfer by the tray transfer means, and the outside of the tray is located on the side of the tray located in the Y-axis direction. A projecting piece projecting in a direction is provided, and the first displacement sensor is configured to receive light reflected by the projecting piece.

ここで、移載手段としては、トレイの突片に係合する係合部を持つものが含まれる。この場合、第1変位センサが突片で反射した光を所定の受光位置で受光するように予め調整すれば、トレイがY軸方向に位置ずれを起こしても、第1変位センサの受光位置が変化しないが、トレイが存在しない場合や、トレイがX軸方向又は回転方向に位置ずれを起こした場合には、第1変位センサがステージ上面で反射した光を受光するため、突片からステージ上面までの距離に起因して第1変位センサの受光位置が変化する。また、ステージの動作異常によりステージが傾くと、各変位センサの受光位置の変化量が大きくなる。このため、第1及び第2の両変位センサの受光位置の変化量から、トレイの在荷確認、トレイのX軸方向又は回転方向の位置ずれの監視や、ステージの動作異常の監視を統括的に行うことができる。さらに、前記ステージ上面にストッパ部を設け、移載手段によってトレイをX軸方向一方に更に移動させて搬送手段からステージ上に移載するとき、トレイのX軸方向一方の側面がストッパ部に当接してトレイがX軸方向に位置決めされるように構成すれば、トレイのX軸方向の位置ずれは発生しない。このため、第1及び第2の2つの変位センサの受光位置の変化量から、トレイの回転方向の位置ずれを検知できる。   Here, as the transfer means, one having an engagement portion which engages with the protrusion of the tray is included. In this case, if the first displacement sensor is adjusted in advance to receive the light reflected by the projecting piece at a predetermined light receiving position, the light receiving position of the first displacement sensor is set even if the tray is displaced in the Y axis direction. Although it does not change, when the tray does not exist or when the tray is displaced in the X-axis direction or the rotational direction, the first displacement sensor receives the light reflected on the upper surface of the stage, so the projecting piece to the upper surface of the stage The light receiving position of the first displacement sensor changes due to the distance to the end. In addition, when the stage is tilted due to abnormal operation of the stage, the amount of change of the light receiving position of each displacement sensor becomes large. Therefore, from the amount of change in the light receiving position of both the first and second displacement sensors, it is possible to comprehensively check the presence of the tray, monitor positional deviation of the tray in the X axis direction or rotational direction, and monitor abnormal operation of the stage Can be done. Furthermore, when the stopper portion is provided on the upper surface of the stage and the tray is further moved in the X axis direction by the transfer means and transferred from the transport means onto the stage, one side surface of the tray in the X axis direction If the tray is in contact and positioned in the X-axis direction, positional deviation of the tray in the X-axis direction does not occur. Therefore, the positional deviation in the rotational direction of the tray can be detected from the amount of change in the light receiving positions of the first and second displacement sensors.

本発明の実施形態のロードロック装置が組み付けられた真空処理装置を示す模式的断面図。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS Typical sectional drawing which shows the vacuum processing apparatus with which the load lock apparatus of embodiment of this invention was assembled | attached. ロードロック装置に設けられる変位センサを示す模式図。The schematic diagram which shows the displacement sensor provided in a load lock apparatus. ステージとその上面に設置されるトレイを示す模式的平面図。FIG. 2 is a schematic plan view showing a stage and a tray installed on the upper surface thereof. 本発明の変形例を示す模式的平面図。The typical top view which shows the modification of this invention.

以下、図面を参照して、ロードロック装置が組み付けられたインライン式の真空処理装置を例に、本発明の真空処理装置の実施形態について説明する。以下においては、水平方向で互いに直交する方向をX軸方向及びY軸方向として説明する。   Hereinafter, embodiments of the vacuum processing apparatus of the present invention will be described by taking an in-line vacuum processing apparatus in which a load lock apparatus is assembled as an example with reference to the drawings. In the following, directions orthogonal to each other in the horizontal direction will be described as the X-axis direction and the Y-axis direction.

図1及び図2を参照して、VMは、真空処理装置であり、真空処理装置VMは、真空チャンバ1を備える。真空処理装置VMには、複数枚の基板Swがセットされたトレイ2を大気雰囲気中から真空雰囲気中の真空チャンバ1内に搬入し、または、このトレイ2を真空雰囲気中の真空チャンバ1から大気雰囲気中に搬出するためのロードロック装置LMが一体に組み付けられている。真空チャンバ1の上壁11には、上下方向に貫通する透孔11aが開設され、この透孔11aを覆うように、真空チャンバ1の上壁11には、下面が開放された筒状の蓋体12が開閉自在(上下動自在)に設けられている。蓋体12の下面にはOリング12aが設けられており、当該下面を透孔11aの外周縁部に気密保持できるようになっている。透孔11aの下方に位置させて真空チャンバ1内には、トレイ2を設置可能な平坦な上面3aを持つステージ3が上下動自在に設けられている。ステージ3には、ステージ3を上下動させる公知の昇降機構Evが連結されている。ステージ3の外周面には、水平方向に延出するフランジ31が設けられており、このフランジ31の上面には真空シール用のOリング32が設けられている。そして、ステージ3を上動させると、ステージ3のフランジ31がOリング32を介して真空チャンバ1の下面で透孔11aの外周縁部に当接して蓋体12の気密な内部空間20が画成され、この内部空間20にステージ3の上部が透孔11aを通って突出する。   Referring to FIGS. 1 and 2, VM is a vacuum processing apparatus, and vacuum processing apparatus VM includes a vacuum chamber 1. In the vacuum processing apparatus VM, the tray 2 in which a plurality of substrates Sw are set is carried from the atmosphere to the vacuum chamber 1 in the vacuum atmosphere, or the tray 2 is exposed to the atmosphere from the vacuum chamber 1 in the vacuum atmosphere. A load lock device LM for carrying out into the atmosphere is integrally assembled. The upper wall 11 of the vacuum chamber 1 is provided with a through hole 11a penetrating in the vertical direction, and the upper wall 11 of the vacuum chamber 1 is a cylindrical lid whose lower surface is opened so as to cover the through hole 11a. The body 12 is provided so as to be openable and closable (up and down movable). An O-ring 12a is provided on the lower surface of the lid 12, and the lower surface can be airtightly held at the outer peripheral edge portion of the through hole 11a. A stage 3 having a flat upper surface 3a on which the tray 2 can be installed is provided vertically movably in the vacuum chamber 1 positioned below the through hole 11a. A known lifting mechanism Ev for moving the stage 3 up and down is connected to the stage 3. A horizontally extending flange 31 is provided on the outer peripheral surface of the stage 3, and an O ring 32 for vacuum sealing is provided on the upper surface of the flange 31. Then, when the stage 3 is moved upward, the flange 31 of the stage 3 abuts on the outer peripheral edge of the through hole 11 a on the lower surface of the vacuum chamber 1 via the O ring 32, and the airtight internal space 20 of the lid 12 is drawn. The upper portion of the stage 3 projects into the internal space 20 through the through hole 11a.

蓋体12の天板12bには、所定波長の光を透過する窓部13a,13b,13cが設けられ、窓部13a,13b,13cの上方に、少なくとも2個(本実施形態では3個)の変位センサ14a,14b,14cが設けられている。変位センサ14a,14b,14cとしては、所定波長の光を照射する光源(図示省略)を持つ反射式変位センサが用いられる。このような変位センサの構造及びその受光位置の調整方法(キャリブレーション)は公知であるため、ここでは詳細な説明を省略する。   The top plate 12b of the lid 12 is provided with windows 13a, 13b and 13c for transmitting light of a predetermined wavelength, and at least two (three in this embodiment) above the windows 13a, 13b and 13c. Displacement sensors 14a, 14b and 14c are provided. As the displacement sensors 14a, 14b and 14c, reflective displacement sensors having a light source (not shown) for emitting light of a predetermined wavelength are used. Since the structure of such a displacement sensor and the adjustment method (calibration) of the light reception position thereof are known, detailed description will be omitted here.

真空処理装置VMは、真空チャンバ1内でX軸方向他方にトレイ2を搬送する第1ローラコンベヤ41と、第1ローラコンベヤ41の下方でX軸方向一方にトレイ2を搬送する第2ローラコンベヤ42とを備え、各ローラコンベヤ41,42は、X軸方向に並設される複数の回転ローラ41a,42aを有する。そして、第2両ローラコンベヤ42がトレイ搬送手段を構成する。第1ローラコンベヤ41と第2ローラコンベヤ42との間には隔絶板15が設けられ、隔絶板15により上下2つの処理空間が相互に隔絶される。これら第1及び第2のローラコンベヤ41,42のX軸方向他方側(図中左側)には、他のステージ30が上下動自在に設けられている。   The vacuum processing apparatus VM includes a first roller conveyor 41 that conveys the tray 2 in the other in the X axis direction in the vacuum chamber 1 and a second roller conveyor that conveys the tray 2 in the X axis direction below the first roller conveyor 41. , And each roller conveyor 41, 42 has a plurality of rotating rollers 41a, 42a arranged in parallel in the X-axis direction. And, the second both roller conveyor 42 constitutes a tray conveying means. A separating plate 15 is provided between the first roller conveyor 41 and the second roller conveyor 42, and the upper and lower processing spaces are mutually isolated by the separating plate 15. Another stage 30 is provided vertically movable on the other side (left side in the drawing) of the first and second roller conveyors 41 and 42 in the X-axis direction.

真空チャンバ1内には、ステージ3から第1ローラコンベヤ41にトレイ2を移載する移載手段51aと、第2ローラコンベヤ42からステージ3にトレイ2を移載する移載手段51bと、第1ローラコンベヤ41から他のステージ30にトレイ2を移載する移載手段52aと、他のステージ30から第2ローラコンベヤ42にトレイ2を移載する移載手段52bとが設けられている。これらの移載手段51a,51b,52a,52bとしては、図1に拡大して示す如く、トレイ2のY軸方向に位置する側面から外方に突出する突片21に係合する係合部50を持ち、係合部50を突片21に係合させた状態でX軸方向に移動自在なスライダーを有するものを用いることができる。   In the vacuum chamber 1, transfer means 51a for transferring the tray 2 from the stage 3 to the first roller conveyor 41, transfer means 51b for transferring the tray 2 from the second roller conveyor 42 to the stage 3, and A transfer means 52 a for transferring the tray 2 from the one roller conveyor 41 to the other stage 30 and a transfer means 52 b for transferring the tray 2 from the other stage 30 to the second roller conveyor 42 are provided. As these transfer means 51a, 51b, 52a, 52b, as shown in an enlarged view in FIG. 1, engaging portions engaged with the projecting pieces 21 projecting outward from the side surface of the tray 2 located in the Y axis direction It is possible to use a slider having a slider 50 which is movable in the X-axis direction with the engaging portion 50 engaged with the protrusion 21.

第1ローラコンベヤ41及び第2ローラコンベヤ42によるトレイ2の搬送経路には処理ユニット61,62が夫々設けられ、トレイ2にセットされた各基板Swに所定の真空処理が施されるようになっている。尚、上記真空処理装置VMは、マイクロコンピュータ、記憶素子やシーケンサ等を備えた公知の構造の制御手段Cuを備え、この制御手段Cuが、蓋体12の作動、ベントガス導入手段の作動、真空ポンプの作動、ステージ3,30の昇降機構Evの作動、処理ユニット61,62の作動等を統括制御するほか、後述の如く、変位センサ14a,14b,14cの受光位置の変化量から、トレイ2の在荷確認、トレイ2の位置ずれや、ステージ3の動作異常を検知する。以下、上記真空処理装置VMの動作について説明する。   Processing units 61 and 62 are respectively provided on the transport path of the tray 2 by the first roller conveyor 41 and the second roller conveyor 42 so that each substrate Sw set on the tray 2 is subjected to predetermined vacuum processing. ing. The vacuum processing apparatus VM includes control means Cu of a known structure provided with a microcomputer, a memory element, a sequencer, etc., and the control means Cu controls the operation of the lid 12, the operation of the vent gas introduction means, and the vacuum pump. Control of the operation of the elevating mechanism Ev of the stages 3 and 30, operation of the processing units 61 and 62, etc., and the amount of change in the light receiving position of the displacement sensors 14a, 14b and 14c as described later. The presence check, the positional deviation of the tray 2 and the operation abnormality of the stage 3 are detected. Hereinafter, the operation of the vacuum processing apparatus VM will be described.

複数枚の基板Swがセットされたトレイ2を大気雰囲気中から真空雰囲気中の真空チャンバ1内に搬入するのに際しては、蓋体12の下面を真空チャンバ1の上壁11の上面に当接させた状態で、ステージ3をロードロック位置(図1中に実線で示す最上位置)に上動させる。これにより、ステージ3のフランジ31がOリング32を介して真空チャンバ1の上壁11の下面に当接し、ステージ3の上部が透孔11aを通って蓋体12内に突出し、この蓋体12内に気密な内部空間(言い換えると、真空チャンバ1内の真空雰囲気と隔絶された内部空間)20が画成される。この内部空間20にベントガスを導入して大気雰囲気にし、この状態で蓋体12を開放した後、例えば多関節式の基板搬送ロボット(図示省略)を用いてステージ3上のトレイ2に対して複数枚の基板Swをセットする。基板Swのセットが完了すると、つまり、ステージ3に対するトレイ2の設置が終了すると、蓋体12を閉じて内部空間20を再び画成し、内部空間20内を真空ポンプによって真空排気する。内部空間20内が所定圧力まで減圧されると、ステージ3を下動させ、これにより、トレイ2が真空雰囲気中の真空チャンバ1内に搬入される。   The lower surface of the lid 12 is brought into contact with the upper surface of the upper wall 11 of the vacuum chamber 1 when the tray 2 in which a plurality of substrates Sw are set is carried from the atmosphere to the vacuum chamber 1 in the vacuum atmosphere. Then, the stage 3 is moved up to the load lock position (the top position shown by the solid line in FIG. 1). As a result, the flange 31 of the stage 3 abuts against the lower surface of the upper wall 11 of the vacuum chamber 1 through the O-ring 32, and the upper portion of the stage 3 projects into the lid 12 through the through hole 11a. An airtight internal space (in other words, an internal space isolated from the vacuum atmosphere in the vacuum chamber 1) 20 is defined inside. A vent gas is introduced into the internal space 20 to make the atmosphere, and the lid 12 is opened in this state, and then a plurality of trays 2 on the stage 3 are provided using, for example, an articulated substrate transfer robot (not shown). The sheet Sw is set. When setting of the substrate Sw is completed, that is, when installation of the tray 2 on the stage 3 is completed, the lid 12 is closed to again define the inner space 20, and the inside of the inner space 20 is evacuated by a vacuum pump. When the pressure in the internal space 20 is reduced to a predetermined pressure, the stage 3 is moved downward, whereby the tray 2 is carried into the vacuum chamber 1 in a vacuum atmosphere.

そして、ステージ3が上記ロードロック位置よりも下方の上動位置(図1中に仮想線で示す中間位置)に達すると、移載手段51aによりステージ3から第1ローラコンベヤ41にトレイ2を移載し、第1ローラコンベヤ41によりトレイ2をX軸方向他方(図1中の左側)に搬送しながら、その搬送経路に設けられた処理ユニット61によって各基板Swに所定の真空処理が施される。その後、移載手段52aにより第1ローラコンベヤ41から他のステージ30にトレイ2を移載し、ステージ30を下動し、移載手段52bによりステージ30から第2ローラコンベヤ42にトレイ2を移載する。第2ローラコンベヤ42によりトレイ2をX軸方向一方(図1中の右側)に搬送しながら、その搬送経路に設けられた処理ユニット62によって各基板Swに所定の真空処理が施される。処理ユニット61,62としては、基板Swに対してスパッタリング法により成膜処理を施すためのロータリーカソードを備えるものを用いることができる。尚、処理ユニット61,62により施される真空処理としては、成膜処理に限らず、エッチング処理や熱処理等を例示できる。処理ユニット61,62は各処理に必要な公知の構成を持つため、ここでは詳細な説明を省略する。また、処理ユニット61,62により同一の真空処理を施してもよいし、異なる真空処理を施してもよい。   Then, when the stage 3 reaches the upper moving position below the load lock position (the intermediate position shown by the phantom line in FIG. 1), the tray 2 is transferred from the stage 3 to the first roller conveyor 41 by the transfer means 51a. While carrying the tray 2 on the other side (left side in FIG. 1) in the X-axis direction by the first roller conveyor 41, each substrate Sw is subjected to predetermined vacuum processing by the processing unit 61 provided in the conveyance path Ru. Thereafter, the tray 2 is transferred from the first roller conveyor 41 to the other stage 30 by the transfer means 52a, the stage 30 is moved downward, and the tray 2 is transferred from the stage 30 to the second roller conveyor 42 by the transfer means 52b. Put on. While the tray 2 is transported to one side (right side in FIG. 1) in the X-axis direction by the second roller conveyor 42, predetermined vacuum processing is performed on each substrate Sw by the processing unit 62 provided in the transport path. As the processing units 61 and 62, those provided with a rotary cathode for performing a film forming process on the substrate Sw by a sputtering method can be used. The vacuum process performed by the process units 61 and 62 is not limited to the film forming process, and may include an etching process, a heat treatment, and the like. The processing units 61 and 62 have known configurations required for each processing, and thus detailed description will be omitted here. Also, the same vacuum processing may be performed by the processing units 61 and 62, or different vacuum processing may be performed.

また、ステージ3を上記上動位置よりも下方の下動位置(図1中に仮想線で示す最下位置)に下動し、移載手段51bにより第2ローラコンベヤ42からステージ3にトレイ2を移載する。このトレイ2を真空雰囲気中の真空チャンバ1から大気中に搬出するため、ステージ3を上記ロードロック位置まで上動して内部空間20を画成し、この内部空間20内にベントガスを導入して大気雰囲気とする。   In addition, the stage 3 is moved downward to the lower movement position (lowermost position shown by an imaginary line in FIG. 1) below the upper movement position, and the second roller conveyor 42 transfers the tray 2 to the stage 3 by the transfer means 51b. Transfer the In order to carry out the tray 2 from the vacuum chamber 1 in a vacuum atmosphere to the atmosphere, the stage 3 is moved up to the load lock position to define the inner space 20, and a vent gas is introduced into the inner space 20. Atmospheric atmosphere.

ところで、第2ローラコンベヤ42からステージ3にトレイ2を移載したときに、ステージ3に対してトレイ2が位置ずれしていると、ステージ3のロードロック位置にてトレイ2に対する基板Swの交換ができない。また、第2ローラコンベヤ42からステージ3にトレイ2を移載する際に、ステージ3に別のトレイ2が存在すると、トレイ2同士が接触してトレイ2や基板Swの破損を招く。更に、ステージ3の動作異常に起因してステージ3が傾くことがある。   By the way, when the tray 2 is transferred to the stage 3 from the second roller conveyor 42 and the tray 2 is misaligned with respect to the stage 3, the substrate Sw is replaced with the tray 2 at the load lock position of the stage 3. I can not In addition, when another tray 2 is present on the stage 3 when transferring the tray 2 from the second roller conveyor 42 to the stage 3, the trays 2 come in contact with each other to cause damage to the tray 2 or the substrate Sw. Furthermore, the stage 3 may tilt due to the operation abnormality of the stage 3.

そこで、本実施形態では、窓部13aの上方に設けた第1変位センサ14aを、例えばステージ3の下動位置にて、トレイ2の上面2aで反射した光を所定の受光位置で受光するように予め調整すると共に、窓部13bの上方に設けた第2変位センサ14bを、ステージ3の上面3aで反射した光を所定の受光位置で受光するように予め調整しておく。図3を参照して、Paは、第1変位センサ14aにより受光する光の反射位置を、Pbは、第2変位センサ14bにより受光する光の反射位置を示す。このように調整しておけば、ステージ3上にトレイ2が存在する場合には第1変位センサ14aの受光位置(第1変位センサ14aからトレイ2までの距離)は変化しないが(たとえ変化したとしてもその変化量が極めて小さい)、ステージ3上にトレイ2が存在しないと、第1変位センサ14aがステージ3の上面3aで反射した光を受光するため、トレイ2の厚みに起因して第1変位センサ14aの受光位置(距離)が変化する(つまり、第1変位センサ14aにより受光する光の反射位置は、トレイ2の有無により受光距離が(略トレイ2の厚み分)変化する位置とする必要がある)。また、ステージ3に対するトレイ2の位置ずれが発生していない場合には第2変位センサ14bの受光位置(第2変位センサ14bからステージ3までの距離)が変化しないが、トレイ2の位置ずれが発生し、その位置ずれが第2変位センサ14bの光の反射位置まで到達すると、第2変位センサ14bがトレイ2の上面2aで反射した光を受光し、トレイ2の厚みに起因して第2変位センサ14bの受光位置(距離)が変化する。また、ステージ3の動作異常によりステージ3が傾くと、第1及び第2の変位センサ14a,14bの少なくとも一方の受光位置(距離)が、例えばステージ3の下動位置にて、予め調整した際に制御手段Cu内に記憶した、各上面にて反射した光に基づく当初位置(距離)よりも大きく変化する。従って、第1及び第2の変位センサ14a,14bの受光位置の変化量に基づいて、トレイ2の在荷確認、ステージ3に対するトレイ2の位置ずれの監視や、ステージ3の動作異常の監視を統括的に行うことができる。尚、蓋体12の内部空間20が真空雰囲気か大気雰囲気かによって、蓋体12ひいては蓋体12に設けられた(レンズとして機能する)窓部13a,13b,13cの位置が変わるため、各変位センサの受光位置の調整及び当初位置(距離)の制御手段Cu内への記憶は、蓋体12の内部空間20を真空引きした後に行うことが好ましい。尚、制御手段Cu内への当初位置(距離)の記憶は、下動位置および上動位置の双方共に記憶されることが検出精度向上、特に傾き検知(ステージ3の動作異常の監視)の面から望ましい。   Therefore, in the present embodiment, the first displacement sensor 14a provided above the window portion 13a receives light reflected by the upper surface 2a of the tray 2 at a predetermined light receiving position, for example, at the lower moving position of the stage 3. The second displacement sensor 14b provided above the window 13b is previously adjusted so that the light reflected by the upper surface 3a of the stage 3 is received at a predetermined light receiving position. Referring to FIG. 3, Pa indicates a reflection position of light received by the first displacement sensor 14a, and Pb indicates a reflection position of light received by the second displacement sensor 14b. If adjusted in this manner, the light receiving position of the first displacement sensor 14a (the distance from the first displacement sensor 14a to the tray 2) does not change when the tray 2 exists on the stage 3 (even if it changes Even if the tray 2 is not present on the stage 3, the first displacement sensor 14a receives the light reflected by the upper surface 3a of the stage 3, so the thickness of the tray 2 causes the first displacement sensor 14a to (1) The light receiving position (distance) of the displacement sensor 14a changes (that is, the reflection position of light received by the first displacement sensor 14a is a position where the light receiving distance changes (approximately by the thickness of the tray 2) depending on the presence or absence of the tray 2 There is a need to). When the positional displacement of the tray 2 with respect to the stage 3 does not occur, the light receiving position of the second displacement sensor 14b (the distance from the second displacement sensor 14b to the stage 3) does not change. When the displacement is reached to the light reflection position of the second displacement sensor 14b, the second displacement sensor 14b receives the light reflected by the upper surface 2a of the tray 2, and the second displacement sensor 14b is caused by the thickness of the tray 2. The light receiving position (distance) of the displacement sensor 14b changes. In addition, when the stage 3 is tilted due to the abnormal operation of the stage 3, the light receiving position (distance) of at least one of the first and second displacement sensors 14a and 14b is adjusted in advance, for example, at the downward movement position of the stage 3. In the control means Cu, it changes more than the initial position (distance) based on the light reflected on each upper surface. Therefore, based on the amount of change in the light receiving position of the first and second displacement sensors 14a and 14b, it is possible to check the presence of the tray 2, monitor the positional deviation of the tray 2 with respect to the stage 3, and monitor the abnormal operation of the stage 3. It can be done centrally. The positions of the windows 12a, 13b and 13c provided in the cover 12 and thus in the cover 12 (functioning as lenses) change depending on whether the internal space 20 of the cover 12 is a vacuum atmosphere or an air atmosphere, so each displacement The adjustment of the light receiving position of the sensor and the storage of the initial position (distance) in the control means Cu are preferably performed after the internal space 20 of the lid 12 is evacuated. Incidentally, the memory of the initial position (distance) in the control means Cu is stored in both the lower position and the upper position, in order to improve the detection accuracy, particularly in terms of inclination detection (monitoring of operation abnormality of the stage 3). Desirable from

また、窓部14c上方の第3変位センサ14cをステージ3の上面3aで反射した光を所定の受光位置で受光するように予め調整しておけば、トレイ2の位置ずれが発生し、第3変位センサ14cがトレイ2の上面2aで反射した光を受光する位置となった場合、第3変位センサ14cの受光位置(ステージ3の上面3から第3変位センサ14cまでの距離)が変化する。尚、図3に示すPcは、第3変位センサ14cにより受光する光の反射位置を示す。従って、第2及び第3の変位センサ14b,14cのいずれか一方の受光位置が変化したときに、トレイ2の位置ずれを検知でき、トレイ2の位置ずれについて回転方向(Z軸回転方向)の検出精度を向上させる結果を得ることができる。さらに、第1〜第3の3つの変位センサ14a〜14cの受光位置の変化量からステージ3の傾きを求めることができるため、求めた傾きからステージ3の動作異常をより精度良く検知することもできる。つまり、検出点を3点とし、かつ、3点のうち2点についてはトレイ2のX軸方向及びZ軸回転方向の位置ずれを検出を兼ねる構成とし、また、各センサから反射面までの距離をも測定し、この測定値と当初記憶値とを比較することで、トレイ2の有無、トレイ2のX軸方向及びZ軸回転方向の姿勢の検出、およびステージ3の平面度(当初記憶値からの逸脱度)の検出を同時に行うことを可能とした。   In addition, if the third displacement sensor 14c above the window 14c is adjusted in advance to receive the light reflected by the upper surface 3a of the stage 3 at a predetermined light receiving position, positional deviation of the tray 2 occurs, and the third displacement sensor When the displacement sensor 14c is at a position for receiving the light reflected by the top surface 2a of the tray 2, the light receiving position of the third displacement sensor 14c (the distance from the top surface 3 of the stage 3 to the third displacement sensor 14c) changes. Pc shown in FIG. 3 indicates the reflection position of the light received by the third displacement sensor 14c. Therefore, when the light receiving position of one of the second and third displacement sensors 14 b and 14 c changes, the positional deviation of the tray 2 can be detected, and the positional deviation of the tray 2 is in the rotational direction (Z-axis rotational direction). It is possible to obtain the result of improving the detection accuracy. Furthermore, since the tilt of the stage 3 can be obtained from the amount of change in the light receiving position of the first to third three displacement sensors 14a to 14c, it is possible to more accurately detect the operation abnormality of the stage 3 from the obtained tilt. it can. That is, three detection points are used, and at two of the three points, positional deviation in the X-axis direction and Z-axis rotational direction of the tray 2 is also detected, and the distance from each sensor to the reflection surface The measured value is also compared with the initial memory value to detect the presence or absence of the tray 2, the posture of the tray 2 in the X-axis direction and the Z-axis rotational direction, and the flatness of the stage 3 (initial memory value). It is possible to simultaneously detect the deviance from

以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態のものに限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない限り、種々の変形が可能である。例えば、上記実施形態では、第1変位センサ14aが、トレイ2の上面2aで反射した光を所定の受光位置で受光するように予め調整しているが、図4に示す如く第1変位センサ14aがトレイ2の突片21で反射した光を所定の受光位置で受光するように、窓部13a及び第1変位センサ14aの位置を含めて予め調整してもよい。これによれば、トレイ2がY軸方向で位置ずれを起こしたとしても、第1変位センサ14aの受光位置は変化しないが、トレイ2が存在しない場合や、トレイ2がX軸方向又は回転方向に位置ずれを起こした場合には、第1変位センサ14aがステージ3の上面3aで反射した光を受光するため、突片21からステージ3の上面3aまでの距離に起因して第1変位センサ14aの受光位置が変化する。このため、第1及び第2の両変位センサ14a,14bの受光位置の変化量から、トレイ2の在荷確認、トレイ2のX軸方向又は回転方向の位置ずれの監視、ステージ3の動作異常の監視を統括的に行うことができる。   As mentioned above, although embodiment of this invention was described, this invention is not limited to the thing of the said embodiment, A various deformation | transformation is possible unless it deviates from the meaning of this invention. For example, in the above embodiment, the first displacement sensor 14a is adjusted in advance to receive the light reflected by the upper surface 2a of the tray 2 at a predetermined light receiving position, but as shown in FIG. The position of the window 13a and the first displacement sensor 14a may be adjusted in advance so that the light reflected by the projection 21 of the tray 2 is received at a predetermined light receiving position. According to this, even if the tray 2 is displaced in the Y-axis direction, the light receiving position of the first displacement sensor 14a does not change, but the tray 2 does not exist, or the tray 2 is rotated in the X-axis direction or rotation direction When the positional displacement occurs, the first displacement sensor 14a receives the light reflected by the upper surface 3a of the stage 3, so the first displacement sensor is caused due to the distance from the projection 21 to the upper surface 3a of the stage 3 The light receiving position of 14a changes. Therefore, based on the amount of change in the light receiving position of the first and second displacement sensors 14a and 14b, the presence confirmation of the tray 2, the monitoring of the positional deviation of the tray 2 in the X axis direction or the rotational direction, the operation abnormality of the stage 3 Can monitor the oversight of

さらに、図4に示すように、ステージ上面3aにストッパ部33を設け、トレイ2をX軸方向一方に移動させて第2ローラコンベア42からステージ3上に移載するとき、トレイ2のX軸方向一方の側面2bがストッパ部33に当接してトレイ2がX軸方向に位置決めされるように構成すれば、トレイ2のX軸方向の位置ずれは発生しない。このため、第1及び第2の2つの変位センサ14a,14bの受光位置の変化量から、トレイ2の回転方向の位置ずれを検知できる。   Furthermore, as shown in FIG. 4, when the stopper portion 33 is provided on the stage upper surface 3 a and the tray 2 is moved in the X axis direction and transferred from the second roller conveyor 42 onto the stage 3, the X axis of the tray 2 If the side surface 2b in the direction abuts against the stopper portion 33 and the tray 2 is positioned in the X-axis direction, positional deviation of the tray 2 in the X-axis direction does not occur. Therefore, the positional deviation in the rotational direction of the tray 2 can be detected from the amounts of change in the light receiving positions of the first and second displacement sensors 14a and 14b.

また、上記実施形態では、2つのローラコンベヤ41,42を備える場合を例に説明したが、1つのローラコンベヤを備えるものにも適用できる。この場合、ローラコンベヤによりトレイをX軸方向に往復動させながら、真空ユニットにより基板に対して真空処理が施される。尚、トレイ搬送手段としては、ローラコンベヤに限らず、例えば2つの駆動ローラにチェーンを巻き掛けたものを用いることができる。   Moreover, although the case where the two roller conveyors 41 and 42 were provided was demonstrated to the example in the said embodiment, it is applicable also to what is provided with one roller conveyor. In this case, the vacuum processing is performed on the substrate by the vacuum unit while reciprocating the tray in the X axis direction by the roller conveyor. In addition, as a tray conveyance means, not only a roller conveyor but, for example, one in which a chain is wound around two driving rollers can be used.

また、上記実施形態では、第3変位センサ14cを、ステージ3の上面3aで反射した光を所定位置で受光するように調整する場合を例に説明したが、トレイ2の上面2aで反射した光を所定位置で受光するように調整してもよい。この場合も、上記実施形態と同様に、3つの変位センサ14a〜14cの受光位置からステージ3の傾きを求めることができ、ステージ3の動作異常を検知できる。   In the above embodiment, the third displacement sensor 14c is adjusted to receive the light reflected by the upper surface 3a of the stage 3 at a predetermined position, but the light reflected by the upper surface 2a of the tray 2 is May be adjusted to receive light at a predetermined position. Also in this case, the inclination of the stage 3 can be obtained from the light receiving positions of the three displacement sensors 14a to 14c as in the above-described embodiment, and the operation abnormality of the stage 3 can be detected.

LM…ロードロック装置、VM…真空処理装置、Sw…基板、1…真空チャンバ、11…隔壁,真空チャンバ上壁、11a…透孔、12…蓋体、13a〜13c…窓部、14a…第1変位センサ、14b…第2変位センサ、14c…第3変位センサ、2…トレイ、2a…トレイ2の上面、21…突片、3…ステージ、3a…ステージの上面、31…フランジ、33…ストッパ部、42…第2ローラコンベヤ(トレイ搬送手段)、61,62…処理ユニット。   LM: Load lock device, VM: Vacuum processing device, Sw: Substrate, 1: Vacuum chamber, 11: Partition wall, Vacuum chamber upper wall, 11a: Through hole, 12: Lid, 13a to 13c: Window, 14a: 14th 1 displacement sensor, 14b: second displacement sensor, 14c: third displacement sensor, 2: tray, 2a: upper surface of tray 2, 21: projecting piece, 3: stage, 3a: upper surface of stage, 31: flange, 33: Stopper portion, 42: second roller conveyor (tray conveying means), 61, 62: processing unit.

Claims (4)

複数枚の基板がセットされたトレイを大気雰囲気中から真空雰囲気中に搬入し、または、このトレイを真空雰囲気中から大気雰囲気中に搬出するためのロードロック装置であって、
上下方向に貫通する透孔を有して水平な姿勢で設置される隔壁と、隔壁上面で透孔の外周縁部に気密保持した状態で当接する、下面が開放された筒状の蓋体と、隔壁の下方に配置されて、その平坦な上面にトレイの設置が可能であると共にこの隔壁に対して上下動自在なステージと、を備え、ステージを上動させると、ステージの外周面からその水平方向に延出されたフランジが隔壁下面で透孔の外周縁部に気密保持した状態で当接してステージの上部が透孔を通って蓋体の内部空間に突出し、この蓋体内に気密な内部空間が画成されるようにしたものにおいて、
蓋体上面に所定波長の光を透過する窓部が設けられ、窓部の上方に、所定波長の光を照射する光源を持つ少なくとも2個の反射式の変位センサが設けられ、その中の第1変位センサがトレイの上面で反射した光を受光し、その中の第2変位センサがステージの上面で反射した光を受光するように構成されていることを特徴とするロードロック装置。
A load lock device for loading a tray having a plurality of substrates set therein into a vacuum atmosphere from the atmosphere, or unloading the tray from the vacuum atmosphere into the atmosphere,
A partition having a vertically penetrating through hole and installed in a horizontal posture, and a cylindrical lid whose lower surface is open and is in contact with the upper surface of the partition airtightly held on the outer peripheral edge of the through hole; A stage which is disposed below the partition wall and on which the tray can be installed on the flat upper surface and which is movable vertically with respect to the partition wall, and the stage is moved upwards from the outer peripheral surface of the stage A horizontally extended flange is in contact with the lower surface of the partition in a state of being airtightly held on the outer peripheral edge of the through hole, and the upper part of the stage protrudes through the through hole into the internal space of the lid and is airtight inside this lid body In the one where the inner space is defined,
A window for transmitting light of a predetermined wavelength is provided on the upper surface of the lid, and at least two reflection-type displacement sensors having a light source for emitting light of a predetermined wavelength are provided above the window, and (1) A load lock device characterized in that the displacement sensor receives light reflected on the upper surface of the tray, and the second displacement sensor in it receives light reflected on the upper surface of the stage.
前記窓部の上方に、所定波長の光を照射する光源を持つ1個の反射式の第3変位センサが更に設けられ、第3変位センサがトレイまたはステージの上面で反射した光を受光するように構成されていることを特徴とする請求項1記載のロードロック装置。   A reflective third displacement sensor having a light source for emitting light of a predetermined wavelength is further provided above the window, and the third displacement sensor receives the light reflected on the upper surface of the tray or the stage. The load lock device according to claim 1, wherein the load lock device is configured as follows. 請求項1記載のロードロック装置を備える真空処理装置であって、前記隔壁が真空チャンバの上壁であると共に、この真空チャンバ内に前記ステージが設けられているものにおいて、
水平方向で互いに直交する方向をX軸方向及びY軸方向、ステージの下動位置を起点とし、この起点に向けてX軸方向一方にトレイを搬送できるトレイ搬送手段と、トレイ搬送手段で搬送されるトレイをステージ上に移載する移載手段と、トレイ搬送手段による搬送中にトレイにセットされた基板に対して真空処理を施す処理ユニットとを備え、
Y軸方向に位置するトレイの側面にその外方に突出する突片が設けられ、前記第1変位センサが突片で反射した光を受光するように構成されていることを特徴とする真空処理装置。
A vacuum processing apparatus comprising the load lock apparatus according to claim 1, wherein the partition is an upper wall of a vacuum chamber and the stage is provided in the vacuum chamber.
Starting from the X-axis direction and the Y-axis direction in the horizontal direction and directions orthogonal to each other as the starting point, the tray conveying means capable of conveying the tray in one X-axis direction toward this origin A transfer unit for transferring the tray on the stage, and a processing unit for performing vacuum processing on the substrate set in the tray during transfer by the tray transfer unit;
A projecting piece protruding outward is provided on a side surface of the tray positioned in the Y-axis direction, and the first displacement sensor is configured to receive light reflected by the projecting piece, and the vacuum processing is characterized. apparatus.
前記ステージ上面にストッパ部が設けられ、移載手段によってトレイをX軸方向一方に更に移動させて搬送手段からステージ上に移載するとき、トレイのX軸方向一方の側面がストッパ部に当接してトレイがX軸方向に位置決めされることを特徴とする請求項3記載の真空処理装置。
A stopper is provided on the upper surface of the stage, and when the tray is further moved in the X axis direction by the transfer means and transferred from the transport means onto the stage, one side of the tray in the X axis direction abuts the stopper 4. The vacuum processing apparatus according to claim 3, wherein the tray is positioned in the X-axis direction.
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