JP6472363B2 - 計測装置、計測方法および物品の製造方法 - Google Patents
計測装置、計測方法および物品の製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6472363B2 JP6472363B2 JP2015204420A JP2015204420A JP6472363B2 JP 6472363 B2 JP6472363 B2 JP 6472363B2 JP 2015204420 A JP2015204420 A JP 2015204420A JP 2015204420 A JP2015204420 A JP 2015204420A JP 6472363 B2 JP6472363 B2 JP 6472363B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measurement
- orientation
- evaluation
- measuring
- contact point
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B25—HAND TOOLS; PORTABLE POWER-DRIVEN TOOLS; MANIPULATORS
- B25J—MANIPULATORS; CHAMBERS PROVIDED WITH MANIPULATION DEVICES
- B25J9/00—Programme-controlled manipulators
- B25J9/16—Programme controls
- B25J9/1612—Programme controls characterised by the hand, wrist, grip control
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B25—HAND TOOLS; PORTABLE POWER-DRIVEN TOOLS; MANIPULATORS
- B25J—MANIPULATORS; CHAMBERS PROVIDED WITH MANIPULATION DEVICES
- B25J9/00—Programme-controlled manipulators
- B25J9/16—Programme controls
- B25J9/1694—Programme controls characterised by use of sensors other than normal servo-feedback from position, speed or acceleration sensors, perception control, multi-sensor controlled systems, sensor fusion
- B25J9/1697—Vision controlled systems
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/60—Analysis of geometric attributes
- G06T7/62—Analysis of geometric attributes of area, perimeter, diameter or volume
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/70—Determining position or orientation of objects or cameras
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/70—Determining position or orientation of objects or cameras
- G06T7/73—Determining position or orientation of objects or cameras using feature-based methods
- G06T7/75—Determining position or orientation of objects or cameras using feature-based methods involving models
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
- G05B2219/39—Robotics, robotics to robotics hand
- G05B2219/39476—Orient hand relative to object
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
- G05B2219/40—Robotics, robotics mapping to robotics vision
- G05B2219/40053—Pick 3-D object from pile of objects
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Robotics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Orthopedic Medicine & Surgery (AREA)
- Geometry (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Description
また、マシンビジョンの分野において、物体の三次元計測技術が知られている。この技術は、物体の位置姿勢情報の取得に応用される。取得された位置姿勢情報は、例えば、物体を把持するロボットアームの制御に用いられる。
図1は、本実施形態における位置姿勢計測装置の一例である。位置姿勢計測装置1は、LEDなどの光源及びレンズなどの光学系により構成される画像照明手段2を含む。画像照明手段2は、情報処理装置100に設けられた画像照明手段制御部110から出された指令に基づき光を投影する。本装置の計測対象3は、複数の被検体(物体)4から成る。被検体4は、様々な姿勢で載置面である略平面5の上に複数配置されている。本発明で想定している位置姿勢計測装置1の用途において、被検体4は、コネクタやトランジスタ,コンデンサなどの多種多様な電子部品が想定され、略平面5は、それらが配置されるトレイあるいはコンベアなどの有する面が想定される。前述の光は、略平面5に配置された計測対象3に投影される。その様子は、情報処理装置100に設けられた画像センサ制御部120から出された指令に基づき、CCDやレンズなどの光学系によって構成された画像センサ6により撮像される。
実施形態1においては、計測対象3の例として略立方体形状あるいは略直方体形状を持った電子部品を挙げたが、実際の電子部品はそのような単純形状ではない場合が多い。例えば、コネクタのハウジングは略立方体形状あるいは略直方体形状の絶縁素材で構成されていることが多いが、そこに金属製のピンが露出していたり、あるいはハウジング自体に突起部が存在していたりする場合などがある。これらの他の形状や複雑な構造を持つ部品に対しても、実施形態1に述べた計測結果採用適否判定方法は適用しうるものであることを本実施形態に示す。
実施形態1及び実施形態2では、接点群投影最大面積を基に位置姿勢計測結果の採用適否判定を行った。しかし、電解コンデンサやネジのように、略平面5に設置した際に面接触ではなく線接触や点接触となる円筒形状の部品については、接点群投影最大面積ではなく、接点群が形成する最大線分の長さで採用適否判定を行うことが有用である。
以上に説明した実施形態に係る計測装置は、物品製造方法に使用しうる。当該物品製造方法は、当該計測装置を用いて物体の計測を行う工程と、当該工程で計測を行われた物体の処理を行う工程と、を含みうる。当該処理は、例えば、加工、切断、搬送、組立(組付)、検査、および選別のうちの少なくともいずれか一つを含みうる。本実施形態の物品製造方法は、従来の方法に比べて、物品の性能・品質・生産性・生産コストのうちの少なくとも1つにおいて有利である。
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明は、これらの実施形態に限定されず、その要旨の範囲内で種々の変形および変更が可能である。
3 計測対象
4 被検体
5 略平面
100 情報処理装置
130 位置姿勢算出部
131 計測対象モデル情報記憶部
140 計測結果採用適否判定部
Claims (16)
- 物体の位置姿勢を計測する計測部を有する計測装置であって、
前記計測部の計測結果に基づいて、第1物体と該第1物体とは異なる第2物体との接点を得、該接点に基づいて、前記計測結果の評価を行う評価部を有し、
前記評価部は、前記接点を所定の面に投影することにより、前記評価を行うことを特徴とする計測装置。 - 前記第2物体は、前記第1物体が置かれている面を有する物体であることを特徴とする請求項1に記載の計測装置。
- 前記第2物体は、前記面に置かれている物体であることを特徴とする請求項2に記載の計測装置。
- 前記接点を前記所定の面に投影して得られる図形の計量値に基づいて、前記評価を行うことを特徴とする請求項1ないし3のうちいずれか1項に記載の計測装置。
- 前記計量値は、面積、長さおよび距離のうちの少なくとも1つを含むことを特徴とする請求項4に記載の計測装置。
- 前記評価部は、前記計量値が許容条件を満たすかに基づいて、前記評価を行うことを特徴とする請求項4または請求項5に記載の計測装置。
- 前記計測部は、前記物体の撮像を介して得られた画像データと前記物体のモデルとに基づいて、前記位置姿勢を計測することを特徴とする請求項1ないし請求項6のうちいずれか1項に記載の計測装置。
- 前記計測部は、前記画像データと前記モデルとの誤差を評価するための評価関数に基づいて、前記位置姿勢を計測し、
前記評価部は、前記評価関数が所定条件を満たして前記位置姿勢を計測された物体に関して、前記評価を行うことを特徴とする請求項7に記載の計測装置。 - 物体の位置姿勢を計測する計測方法であって、
前記計測の結果に基づいて、第1物体と該第1物体とは異なる第2物体との接点を得、
前記接点に基づいて、前記結果の評価を行い、
前記評価は、前記接点を所定の面に投影することにより行われることを特徴とする計測方法。 - 物品の製造方法であって、
第1物体と該第1物体とは異なる第2物体とを計測した結果に基づいて、前記第1物体と前記第2物体との接点を得る取得工程と、
前記取得された接点に基づいて、前記計測結果の評価を行う評価工程と、
前記評価工程で行われた評価に基づいて、前記物体の位置姿勢を得る獲得工程と、
前記獲得工程で計測された結果に基づいて、前記物体の処理を行うことによって物品を製造する製造工程と、を備え、
前記評価は、前記接点を所定の面に投影することにより行われることを特徴とする物品の製造方法。 - 物体の位置姿勢を計測する計測部を有する計測装置であって、
前記計測部の計測結果に基づいて、第1物体と該第1物体とは異なる第2物体との接点を得、該接点に基づいて、前記計測結果の評価を行う評価部を有し、
前記第2物体は、前記第1物体が置かれている面を有する物体であることを特徴とする計測装置。 - 物体の位置姿勢を計測する計測方法であって、
前記計測の結果に基づいて、第1物体と該第1物体とは異なる第2物体との接点を得、
前記接点に基づいて、前記結果の評価を行い、
前記第2物体は、前記第1物体が置かれている面を有する物体であることを特徴とする計測方法。 - 物品の製造方法であって、
第1物体と該第1物体とは異なる第2物体とを計測した結果に基づいて、前記第1物体と前記第2物体との接点を得る取得工程と、
前記取得された接点に基づいて、前記計測結果の評価を行う評価工程と、
前記評価工程で行われた評価に基づいて、前記物体の位置姿勢を得る獲得工程と、
前記獲得工程で計測された結果に基づいて、前記物体の処理を行うことによって物品を製造する製造工程と、を備え、
前記第2物体は、前記第1物体が置かれている面を有する物体であることを特徴とする物品の製造方法。 - 物体の位置姿勢を計測する計測部を有する計測装置であって、
前記計測部の計測結果に基づいて、第1物体と該第1物体とは異なる第2物体との接点を得、該接点に基づいて、前記計測結果の評価を行う評価部を有し、
前記計測部は、前記物体の撮像を介して得られた画像データと前記物体のモデルとに基づいて、前記位置姿勢を計測することを特徴とする計測装置。 - 物体の位置姿勢を計測する計測方法であって、
前記計測の結果に基づいて、第1物体と該第1物体とは異なる第2物体との接点を得、
前記接点に基づいて、前記結果の評価を行い、
前記計測において、前記物体の撮像を介して得られた画像データと前記物体のモデルとに基づいて、前記位置姿勢が計測されることを特徴とする計測方法。 - 物品の製造方法であって、
第1物体と該第1物体とは異なる第2物体とを計測した結果に基づいて、前記第1物体と前記第2物体との接点を得る取得工程と、
前記取得された接点に基づいて、前記計測結果の評価を行う評価工程と、
前記評価工程で行われた評価に基づいて、前記物体の位置姿勢を得る獲得工程と、
前記獲得工程で計測された結果に基づいて、前記物体の処理を行うことによって物品を製造する製造工程と、を備え、
前記獲得工程では、前記物体の撮像を介して得られた画像データと前記物体のモデルとに基づいて、前記位置姿勢を計測することを特徴とする物品の製造方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015204420A JP6472363B2 (ja) | 2015-10-16 | 2015-10-16 | 計測装置、計測方法および物品の製造方法 |
US15/292,822 US10343278B2 (en) | 2015-10-16 | 2016-10-13 | Measuring apparatus, measuring method, and article manufacturing method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015204420A JP6472363B2 (ja) | 2015-10-16 | 2015-10-16 | 計測装置、計測方法および物品の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017075891A JP2017075891A (ja) | 2017-04-20 |
JP6472363B2 true JP6472363B2 (ja) | 2019-02-20 |
Family
ID=58524073
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015204420A Expired - Fee Related JP6472363B2 (ja) | 2015-10-16 | 2015-10-16 | 計測装置、計測方法および物品の製造方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10343278B2 (ja) |
JP (1) | JP6472363B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6705793B2 (ja) * | 2017-11-28 | 2020-06-03 | ファナック株式会社 | 加工システム |
JP6687591B2 (ja) | 2017-12-26 | 2020-04-22 | ファナック株式会社 | 物品搬送装置、ロボットシステムおよび物品搬送方法 |
DE102018208126A1 (de) * | 2018-05-23 | 2019-11-28 | Trumpf Werkzeugmaschinen Gmbh + Co. Kg | Verfahren zum Hantieren eines Werkstücks mit Hilfe eines Entnahmewerkzeugs und Maschine zur Durchführung des Verfahrens |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11295036A (ja) | 1998-04-10 | 1999-10-29 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電子部品の方向判定方法とその装置 |
JP3859371B2 (ja) * | 1998-09-25 | 2006-12-20 | 松下電工株式会社 | ピッキング装置 |
JP3842233B2 (ja) * | 2003-03-25 | 2006-11-08 | ファナック株式会社 | 画像処理装置及びロボットシステム |
JP4481663B2 (ja) * | 2004-01-15 | 2010-06-16 | キヤノン株式会社 | 動作認識装置、動作認識方法、機器制御装置及びコンピュータプログラム |
JP5203562B2 (ja) * | 2004-11-08 | 2013-06-05 | 三星電子株式会社 | Cmosイメージセンサー及びその駆動方法 |
JP5429614B2 (ja) * | 2009-04-16 | 2014-02-26 | 株式会社Ihi | 箱状ワーク認識装置および方法 |
JP5480667B2 (ja) * | 2010-02-26 | 2014-04-23 | キヤノン株式会社 | 位置姿勢計測装置、位置姿勢計測方法、プログラム |
JP5496008B2 (ja) * | 2010-08-06 | 2014-05-21 | キヤノン株式会社 | 位置姿勢計測装置、位置姿勢計測方法、およびプログラム |
JP5820366B2 (ja) * | 2010-10-08 | 2015-11-24 | パナソニック株式会社 | 姿勢推定装置及び姿勢推定方法 |
JP2012225888A (ja) * | 2011-04-22 | 2012-11-15 | Canon Inc | 位置姿勢計測装置、位置姿勢計測方法 |
JP2013101045A (ja) * | 2011-11-08 | 2013-05-23 | Fanuc Ltd | 物品の3次元位置姿勢の認識装置及び認識方法 |
WO2015120913A1 (en) * | 2014-02-17 | 2015-08-20 | Metaio Gmbh | Method and device for detecting a touch between a first object and a second object |
JP6369534B2 (ja) * | 2014-03-05 | 2018-08-08 | コニカミノルタ株式会社 | 画像処理装置、画像処理方法、および、画像処理プログラム |
JP6140204B2 (ja) * | 2015-02-06 | 2017-05-31 | ファナック株式会社 | 3次元センサを備えた搬送ロボットシステム |
KR101807513B1 (ko) * | 2015-05-13 | 2017-12-12 | 한국전자통신연구원 | 3차원 공간에서 영상정보를 이용한 사용자 의도 분석장치 및 분석방법 |
-
2015
- 2015-10-16 JP JP2015204420A patent/JP6472363B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2016
- 2016-10-13 US US15/292,822 patent/US10343278B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US10343278B2 (en) | 2019-07-09 |
US20170109876A1 (en) | 2017-04-20 |
JP2017075891A (ja) | 2017-04-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9529945B2 (en) | Robot simulation system which simulates takeout process of workpieces | |
CN106560297B (zh) | 具备拍摄目标标记的照相机的机器人*** | |
US9026234B2 (en) | Information processing apparatus and information processing method | |
US9470515B2 (en) | Arrangement evaluation apparatus for evaluating arrangement position of range sensor | |
US9415511B2 (en) | Apparatus and method for picking up article randomly piled using robot | |
JP6703812B2 (ja) | 3次元物体検査装置 | |
US20100161125A1 (en) | Work apparatus and calibration method for the same | |
WO2020217878A1 (ja) | 対象物の位置姿勢を検出する装置、方法およびプログラム | |
JP7180783B2 (ja) | コンピュータビジョンシステムのキャリブレーション方法及びこれに用いる基準立体物 | |
JP6472363B2 (ja) | 計測装置、計測方法および物品の製造方法 | |
JP2018533181A (ja) | 電気コネクタのピンの取り付け状態を判定するシステム | |
CN107907055B (zh) | 图案投射模组、三维信息获取***、处理装置及测量方法 | |
JP7462769B2 (ja) | 物体の姿勢の検出および測定システムを特徴付けるためのシステムおよび方法 | |
US10591289B2 (en) | Method for measuring an artefact | |
CN111256591A (zh) | 一种结构光传感器的外参标定装置及方法 | |
JP6424560B2 (ja) | 異常原因推定装置、ピッキング装置及びピッキング装置における異常原因推定方法 | |
JP7439410B2 (ja) | 画像処理装置、画像処理方法およびプログラム | |
WO2021029064A1 (ja) | 情報処理装置及び情報処理方法 | |
US11662194B2 (en) | Measurement point determination for coordinate measuring machine measurement paths | |
US20200273203A1 (en) | Calculation method, article manufacturing method, recording medium, information processing apparatus, and system | |
JP2018189459A (ja) | 計測装置、計測方法、システム、および物品製造方法 | |
JP2017181228A (ja) | 計測装置、計測方法及び物品の製造方法 | |
US10068350B2 (en) | Measurement apparatus, system, measurement method, determination method, and non-transitory computer-readable storage medium | |
WO2024105847A1 (ja) | 制御装置、3次元位置計測システム、及びプログラム | |
JP2018044863A (ja) | 計測装置、計測方法、システム及び物品の製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20180726 |
|
A871 | Explanation of circumstances concerning accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871 Effective date: 20180726 |
|
A975 | Report on accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005 Effective date: 20180920 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20181002 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20181203 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20181225 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20190122 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 6472363 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |