JP6465262B1 - measuring device - Google Patents

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Abstract

電圧電流測定装置１００は、電流測定時に被測定回路の一端と接続するための電流入力端子Ｉ＋と、電流測定時に被測定回路の他端と接続するための共通端子ＣＯＭと、電流入力端子Ｉ＋と共通端子ＣＯＭとの間を流れる電流の大きさをアナログ値からデジタル値に変換する電流測定用ＡＤ変換部１ｂと、共通端子ＣＯＭと電流測定用ＡＤ変換部１ｂとの間に設けられたスイッチ回路５と、電流測定用ＡＤ変換部１ｂの出力値を元に、電流入力端子Ｉ＋と共通端子ＣＯＭとの間に規定の大きさ以上の電流である過電流が流れたことを検出すると、共通端子ＣＯＭと電流測定用ＡＤ変換部１ｂとの接続を切断する制御部１ｃと、を備える。The voltage / current measuring apparatus 100 includes a current input terminal I + for connection to one end of the circuit under measurement during current measurement, a common terminal COM for connection with the other end of the circuit under measurement during current measurement, and a current input terminal I + A current measuring AD converter 1b for converting the magnitude of the current flowing between the common terminal COM from an analog value to a digital value, and a switch circuit provided between the common terminal COM and the current measuring AD converter 1b 5 and the output value of the current measuring AD converter 1b, it is detected that an overcurrent having a current of a specified magnitude or more flows between the current input terminal I + and the common terminal COM. And a control unit 1c for disconnecting the connection between the COM and the current measuring AD conversion unit 1b.

Description

本発明は、例えば流量センサ、圧力センサ、変位センサ等、種々の被測定回路から入力されるアナログ信号を測定する測定装置に関する。   The present invention relates to a measuring apparatus that measures analog signals input from various circuits to be measured, such as a flow sensor, a pressure sensor, and a displacement sensor.

従来、例えば特許文献１及び特許文献２に記載の装置のように、種々の被測定回路から入力されるアナログ信号を単一のＡＤ変換部により測定する測定装置が知られている。   2. Description of the Related Art Conventionally, measurement apparatuses that measure analog signals input from various circuits under measurement using a single AD conversion unit, such as the apparatuses described in Patent Document 1 and Patent Document 2, are known.

特許文献１に記載の装置の構成を図４に示す。図４に示すように、特許文献１に記載の装置では、図示しないセンサ等の被測定回路から入力される電圧を測定する場合、ＡＤ変換部の定格入力電圧に対応して、接続先及び接続回路を変更することで、種々のアナログ入力信号に対応したＡＤ変換を実施している。   The configuration of the apparatus described in Patent Document 1 is shown in FIG. As shown in FIG. 4, in the apparatus described in Patent Document 1, when measuring a voltage input from a circuit to be measured such as a sensor (not shown), the connection destination and the connection corresponding to the rated input voltage of the AD conversion unit By changing the circuit, AD conversion corresponding to various analog input signals is performed.

具体的には、ＡＤ変換部の定格入力電圧の範囲内の入力電圧を測定する場合は、電圧入力端子ＴＢ１及び共用端子ＴＢ３に入力電圧を加え、スイッチＳＷ４１を切り替えて、入力される入力電圧が直接ＡＤ変換部によって測定される。また、ＡＤ変換部の定格入力電圧以上の入力電圧を測定する場合は、電圧入力端子ＴＢ１及び共用端子ＴＢ３に入力電圧を加え、スイッチＳＷ４１を切り替えて電圧測定用抵抗器Ｒ４１に接続するとともに、スイッチＳＷ４２を開放することで、電圧入力端子ＴＢ１及び共用端子ＴＢ３間の入力電圧がＡＤ変換部によって測定される。   Specifically, when measuring the input voltage within the range of the rated input voltage of the AD converter, the input voltage is applied to the voltage input terminal TB1 and the common terminal TB3, the switch SW41 is switched, and the input voltage input is changed. Measured directly by the AD converter. Further, when measuring an input voltage equal to or higher than the rated input voltage of the AD converter, an input voltage is applied to the voltage input terminal TB1 and the common terminal TB3, and the switch SW41 is switched to connect to the voltage measuring resistor R41. By opening SW42, the input voltage between the voltage input terminal TB1 and the common terminal TB3 is measured by the AD converter.

一方、入力電流を測定する場合、電流入力端子ＴＢ２及び共用端子ＴＢ３に入力電圧を加え、スイッチＳＷ４１を開放するとともに、スイッチＳＷ４２を切り替えて電流測定用抵抗器Ｒ４３に接続する。これにより、電流入力端子ＴＢ２及び共用端子ＴＢ３間の電圧が電流測定用抵抗器Ｒ４３に印加され、電流測定用抵抗器Ｒ４３の電圧降下を測定することにより電流入力端子ＴＢ２及び共用端子ＴＢ３間の入力電流がＡＤ変換部によって測定される。   On the other hand, when measuring the input current, an input voltage is applied to the current input terminal TB2 and the common terminal TB3, the switch SW41 is opened, and the switch SW42 is switched to connect to the current measurement resistor R43. As a result, the voltage between the current input terminal TB2 and the common terminal TB3 is applied to the current measurement resistor R43, and the voltage drop across the current measurement resistor R43 is measured to thereby input the current input terminal TB2 and the common terminal TB3. The current is measured by the AD converter.

このようにして、単一のＡＤ変換部により被測定回路の電圧あるいは電流を測定している。しかしながら、この特許文献１に記載の装置では、電流測定用抵抗器Ｒ４３に規定以上の過電流が流れた場合、当該電流測定用抵抗器Ｒ４３の過熱を引き起こすことがあった。   In this way, the voltage or current of the circuit under measurement is measured by a single AD converter. However, in the apparatus described in Patent Document 1, when an overcurrent exceeding a specified value flows in the current measuring resistor R43, the current measuring resistor R43 may be overheated.

これに対し、特許文献２に記載の装置では、図５に示すように、単一のＡＤ変換部に加え、異常判別用回路Ｂ５３を備える。   On the other hand, as shown in FIG. 5, the apparatus described in Patent Document 2 includes an abnormality determination circuit B53 in addition to a single AD conversion unit.

図示しないセンサ等の被測定回路から得られる入力電圧を測定する場合、入力端子ＴＢ５１及び等電位端子ＴＢ５２に入力電圧を加え、第１スイッチ回路ＳＷ５１を切り替えて電圧測定用回路Ｂ５２に接続するとともに、第２スイッチ回路ＳＷ５２を切り替えて接続点Ｎ１１とチャンネルＣＨ２とを接続する。これにより、入力端子ＴＢ５１及び等電位端子ＴＢ５２間の入力電圧（実際には抵抗器Ｒ５２及び抵抗器Ｒ５３の分圧）がＡＤ変換部によって測定される。   When measuring an input voltage obtained from a circuit to be measured such as a sensor (not shown), the input voltage is applied to the input terminal TB51 and the equipotential terminal TB52, and the first switch circuit SW51 is switched to connect to the voltage measurement circuit B52. The second switch circuit SW52 is switched to connect the connection point N11 and the channel CH2. Thereby, the input voltage between the input terminal TB51 and the equipotential terminal TB52 (actually, the divided voltage of the resistor R52 and the resistor R53) is measured by the AD converter.

一方、入力電流を測定する場合、入力端子ＴＢ５１及び等電位端子ＴＢ５２に入力電圧を加え、第１スイッチ回路ＳＷ５１を切り替えて電流測定用回路Ｂ５１（抵抗器Ｒ５１）に接続するとともに、第２スイッチ回路ＳＷ５２を切り替えて異常判別用回路Ｂ５３（接続点Ｎ１２）に接続する。これにより、入力端子ＴＢ５１及び等電位端子ＴＢ５２間の電圧が電流測定用回路Ｂ５１に印加され、抵抗器Ｒ５１の電圧降下を測定することにより入力端子ＴＢ５１及び等電位端子ＴＢ５２間の入力電流がＡＤ変換部によって測定される。さらに、接続点Ｎ２１の電圧を監視しており、既定以上の電圧が測定される場合には、第１スイッチ回路ＳＷ５１を切り替えて電圧測定用回路Ｂ５２に接続する。このようにして、電流測定用回路Ｂ５１（抵抗器Ｒ５１）の過熱を低減する。   On the other hand, when measuring the input current, an input voltage is applied to the input terminal TB51 and the equipotential terminal TB52, the first switch circuit SW51 is switched to connect to the current measurement circuit B51 (resistor R51), and the second switch circuit. The switch 52 is switched to connect to the abnormality determination circuit B53 (connection point N12). As a result, the voltage between the input terminal TB51 and the equipotential terminal TB52 is applied to the current measurement circuit B51, and the input current between the input terminal TB51 and the equipotential terminal TB52 is AD converted by measuring the voltage drop across the resistor R51. Measured by part. Further, the voltage at the connection point N21 is monitored, and when a voltage higher than a predetermined value is measured, the first switch circuit SW51 is switched and connected to the voltage measurement circuit B52. In this way, overheating of the current measuring circuit B51 (resistor R51) is reduced.

実開昭６１−１８９６２７号公報Japanese Utility Model Publication No. 61-189627 特開２０１１−１２０３７７号公報JP 2011-120377 A

しかしながら、上記特許文献２に記載の装置では、電流検出用回路に規定以上の電流が流れるか否かを監視する目的で、電圧測定用回路及び電流測定用回路とは別に異常判別用回路及びスイッチ回路を別途設けているため、１つの被測定回路の電圧あるいは電流を測定するには、２つの双投型のスイッチ回路が必要な構成となっている。双投型のスイッチ回路は、内部構成において２つの切替先を互いに絶縁するためにある程度の距離を保たなければならず、集積化すること、ひいては小型化することが難しい。   However, in the apparatus described in Patent Document 2, an abnormality determination circuit and a switch are separated from the voltage measurement circuit and the current measurement circuit for the purpose of monitoring whether or not a current exceeding a specified value flows in the current detection circuit. Since a circuit is provided separately, two double-throw switch circuits are required to measure the voltage or current of one circuit under test. The double throw type switch circuit must maintain a certain distance in order to insulate the two switching destinations from each other in the internal configuration, and is difficult to be integrated and thus downsized.

本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、回路全体の小型化を図ることのできる測定装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above, and an object of the present invention is to provide a measuring apparatus that can reduce the size of the entire circuit.

上述した課題を解決し、目的を達成するために、請求項１に記載の装置では、電流測定時に被測定回路の一端と接続するための電流入力端子と、電流測定時に前記被測定回路の他端と接続するための共通端子と、電流入力端子と共通端子との間を流れる電流の大きさをアナログ値からデジタル値に変換する電流測定用ＡＤ変換部と、共通端子と電流測定用ＡＤ変換部との間に設けられたスイッチ回路と、電流測定用ＡＤ変換部の出力値を元に、電流入力端子と共通端子との間に規定の大きさ以上の電流である過電流が流れたことを検出すると、共通端子と電流測定用ＡＤ変換部との接続を切断する制御部と、を備えることとした。   In order to solve the above-described problems and achieve the object, the apparatus according to claim 1 includes a current input terminal for connecting to one end of the circuit under test at the time of current measurement, and other than the circuit under test at the time of current measurement. A common terminal for connection to the end, an AD converter for current measurement for converting the magnitude of the current flowing between the current input terminal and the common terminal from an analog value to a digital value, and the common terminal and the AD conversion for current measurement Based on the output value of the switch circuit provided between the current input and the AD converter for current measurement, an overcurrent that is a current of a specified magnitude or greater has flowed between the current input terminal and the common terminal. A control unit that disconnects the connection between the common terminal and the current measurement AD conversion unit.

本発明に係る測定装置によれば、使用するスイッチ回路の数を低減し、ひいては、回路全体の小型化を図ることができる。   According to the measuring apparatus according to the present invention, the number of switch circuits to be used can be reduced, and as a result, the entire circuit can be reduced in size.

本発明に係る実施の形態１の電圧電流測定装置の構成図である。It is a block diagram of the voltage / current measuring apparatus of Embodiment 1 which concerns on this invention. 実施の形態１を構成するスイッチ回路の一構成例を示す模式図である。FIG. 3 is a schematic diagram illustrating a configuration example of a switch circuit configuring the first embodiment. 本発明に係る実施の形態２の電圧電流測定装置の構成図である。It is a block diagram of the voltage-current measuring apparatus of Embodiment 2 which concerns on this invention. 従来の電圧電流測定装置の構成図である。It is a block diagram of the conventional voltage current measuring apparatus. 従来の他の電圧電流測定装置の構成図である。It is a block diagram of the other conventional voltage / current measuring apparatus.

以下に、本発明に係る測定装置の実施の形態について、図面に基づいて詳細に説明する。なお、例示した実施の形態によりこの発明が限定されるものではない。   Embodiments of a measuring apparatus according to the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. Note that the present invention is not limited to the illustrated embodiments.

実施の形態１．
図１は、本発明に係る測定装置の実施の形態１の構成例を示す図である。本実施の形態では、測定装置として電圧電流測定装置として構成しており、電圧電流測定装置１００は、当該装置の入力端子台２を介して、例えば流量センサ、圧力センサ、変位センサ等の図示しない種々の被測定回路に接続され、この被測定回路から入力端子台２を介して入力されるアナログ信号の電圧を測定し、当該アナログ信号の電圧あるいは電流の測定結果を図示しない出力端子台からデジタル信号にて出力するものである。Embodiment 1 FIG.
FIG. 1 is a diagram showing a configuration example of Embodiment 1 of a measuring apparatus according to the present invention. In the present embodiment, the measuring device is configured as a voltage / current measuring device, and the voltage / current measuring device 100 is not shown, for example, such as a flow sensor, a pressure sensor, or a displacement sensor via the input terminal block 2 of the device. Connected to various circuits under test, measures the voltage of the analog signal input from the circuit under test via the input terminal block 2, and digitally measures the voltage or current measurement result of the analog signal from the output terminal block not shown. The signal is output.

図１に示されるように、電圧電流測定装置１００は、基本的に、アナログデジタル変換回路１（以下、ＡＤ変換回路と記載する）、入力端子台２（以下、単に端子台と記載する）、電圧測定用回路３、電流測定用回路４、スイッチ回路５、ＦＥＴ６、保護ダイオード７、及び保護ダイオード８を備える。なお、本実施の形態では、各回路は同一の半導体基板に作製されているが、複数の半導体基板に作製され互いに電気的に接続して構成してもよい。   As shown in FIG. 1, the voltage / current measuring apparatus 100 basically includes an analog-digital conversion circuit 1 (hereinafter referred to as an AD conversion circuit), an input terminal block 2 (hereinafter simply referred to as a terminal block), A voltage measurement circuit 3, a current measurement circuit 4, a switch circuit 5, an FET 6, a protection diode 7, and a protection diode 8 are provided. Note that in this embodiment mode, each circuit is manufactured over the same semiconductor substrate, but may be formed over a plurality of semiconductor substrates and electrically connected to each other.

ＡＤ変換回路１は、電圧測定用ＡＤ変換部１ａと、電流測定用ＡＤ変換部１ｂと、制御部１ｃとを有する。電圧測定用ＡＤ変換部１ａは、例えば演算増幅器（オペアンプ）によって構成されており、正のアナログ入力端子Ａｉｎ１（＋）と、負のアナログ入力端子Ａｉｎ１（−）と、デジタル出力端子Ｄｏｕｔ１とを有する。電圧測定用ＡＤ変換部１ａは、正のアナログ入力端子Ａｉｎ１（＋）と負のアナログ入力端子Ａｉｎ１（−）にかかる電圧のアナログ値の電位差をデジタル値に変換し、デジタル出力端子Ｄｏｕｔ１から出力する。デジタル出力端子Ｄｏｕｔ１から出力される値は、図示しない被測定回路の電圧の測定結果である。   The AD conversion circuit 1 includes a voltage measurement AD conversion unit 1a, a current measurement AD conversion unit 1b, and a control unit 1c. The voltage measurement AD conversion unit 1a is configured by, for example, an operational amplifier (op-amp), and has a positive analog input terminal Ain1 (+), a negative analog input terminal Ain1 (−), and a digital output terminal Dout1. . The AD converter 1a for voltage measurement converts a potential difference between analog values of voltages applied to the positive analog input terminal Ain1 (+) and the negative analog input terminal Ain1 (−) into a digital value and outputs the digital value from the digital output terminal Dout1. . The value output from the digital output terminal Dout1 is the measurement result of the voltage of the circuit under measurement (not shown).

同様に、電流測定用ＡＤ変換部１ｂは、例えば演算増幅器（オペアンプ）によって構成されており、正のアナログ入力端子Ａｉｎ２（＋）と、負のアナログ入力端子Ａｉｎ２（−）と、デジタル出力端子Ｄｏｕｔ２とを有する。電流測定用ＡＤ変換部１ｂは、正のアナログ入力端子Ａｉｎ２（＋）と負のアナログ入力端子Ａｉｎ２（−）にかかる電圧のアナログ値の電位差をデジタル値に変換し、デジタル出力端子Ｄｏｕｔ２から出力する。デジタル出力端子Ｄｏｕｔ２から出力される値は、図示しない被測定回路の電流の測定結果である。   Similarly, the AD converter 1b for current measurement is configured by, for example, an operational amplifier (operational amplifier), and includes a positive analog input terminal Ain2 (+), a negative analog input terminal Ain2 (−), and a digital output terminal Dout2. And have. The AD converter 1b for current measurement converts a potential difference between analog values of voltages applied to the positive analog input terminal Ain2 (+) and the negative analog input terminal Ain2 (−) into a digital value, and outputs the digital value from the digital output terminal Dout2. . The value output from the digital output terminal Dout2 is the measurement result of the current of the circuit under measurement (not shown).

制御部１ｃは、例えばマイクロコンピュータにより構成されており、デジタル入力端子Ｄｉｎ１と、デジタル入力端子Ｄｉｎ２と、デジタル出力端子Ｄｏｕｔとを有する。デジタル入力端子Ｄｉｎ１は、電圧測定用ＡＤ変換部１ａのデジタル出力端子Ｄｏｕｔ１と接続されており、被測定回路の電圧の測定結果が入力される。デジタル入力端子Ｄｉｎ２は、電流測定用ＡＤ変換部１ｂのデジタル出力端子Ｄｏｕｔ２と接続されており、被測定回路の電流の測定結果が入力される。デジタル出力端子Ｄｏｕｔは、スイッチ回路５及びＦＥＴ６と接続されており、スイッチ回路５及びＦＥＴ６のオンオフを制御する後述の制御信号が出力される。   The control unit 1c is configured by, for example, a microcomputer, and has a digital input terminal Din1, a digital input terminal Din2, and a digital output terminal Dout. The digital input terminal Din1 is connected to the digital output terminal Dout1 of the voltage measurement AD converter 1a, and receives the voltage measurement result of the circuit under test. The digital input terminal Din2 is connected to the digital output terminal Dout2 of the current measurement AD converter 1b, and receives the current measurement result of the circuit under test. The digital output terminal Dout is connected to the switch circuit 5 and the FET 6, and a later-described control signal for controlling on / off of the switch circuit 5 and the FET 6 is output.

詳しくは、制御部１ｃは、内部に記憶されたプログラムを実行することにより、被測定回路の電圧を測定する場合には、スイッチ回路５及びＦＥＴ６をオフにする論理Ｌレベル（例えば「０Ｖ」）の制御信号を生成し、デジタル出力端子Ｄｏｕｔから出力する。また、制御部１ｃは、内部に記憶されたプログラムを実行することにより、被測定回路の電流を測定する場合には、スイッチ回路５及びＦＥＴ６をオンにする論理Ｈレベル（例えば「５Ｖ」）の制御信号を生成し、デジタル出力端子Ｄｏｕｔから出力する。   Specifically, the control unit 1c executes a program stored therein to measure the voltage of the circuit under measurement, and when the voltage is measured, the control unit 1c turns off the switch circuit 5 and the FET 6 and is a logic L level (for example, “0 V”). Are output from the digital output terminal Dout. In addition, the control unit 1c executes a program stored therein to measure the current of the circuit under measurement, so that the control circuit 1c turns on the switch circuit 5 and the FET 6 at a logic H level (for example, “5V”). A control signal is generated and output from the digital output terminal Dout.

さらに、制御部１ｃは、被測定回路の電流を測定している間、当該測定している電流値と当該制御部１ｃの内部に記憶された既定値（例えば３０ｍＡ）との大きさを比較する。そして、制御部１ｃは、測定している電流値が既定の大きさ以上の電流である場合、すなわち過電流が流れている場合、スイッチ回路５及びＦＥＴ６をオフにする論理Ｌレベルの制御信号を生成し、デジタル出力端子Ｄｏｕｔから出力する。一方、制御部１ｃは、測定している電流値が既定値以下である場合、すなわち正常電流が流れている場合、スイッチ回路５及びＦＥＴ６をオンにする論理Ｌレベルの制御信号を生成し、デジタル出力端子Ｄｏｕｔから出力することで、電流の測定を継続する。   Furthermore, while measuring the current of the circuit under test, the control unit 1c compares the measured current value with a predetermined value (for example, 30 mA) stored in the control unit 1c. . Then, the control unit 1c outputs a logic L level control signal for turning off the switch circuit 5 and the FET 6 when the current value being measured is a current larger than a predetermined magnitude, that is, when an overcurrent flows. And output from the digital output terminal Dout. On the other hand, the control unit 1c generates a logic L level control signal for turning on the switch circuit 5 and the FET 6 when the measured current value is equal to or less than the predetermined value, that is, when a normal current is flowing, The current measurement is continued by outputting from the output terminal Dout.

なお、上記各端子については、単に、入力端子Ａｉｎ１（＋）、入力端子Ａｉｎ１（−）、入力端子Ａｉｎ２（＋）、入力端子Ａｉｎ２（−）、出力端子Ｄｏｕｔ１、出力端子Ｄｏｕｔ２、入力端子Ｄｉｎ１、入力端子Ｄｉｎ２、及び出力端子Ｄｏｕｔと記載する。   For each of the above terminals, the input terminal Ain1 (+), the input terminal Ain1 (−), the input terminal Ain2 (+), the input terminal Ain2 (−), the output terminal Dout1, the output terminal Dout2, the input terminal Din1, It is described as an input terminal Din2 and an output terminal Dout.

端子台２は、図示しない被測定回路の電圧測定時に当該被測定回路の一端と接続するための電圧入力端子Ｖ＋と、被測定回路の電流測定時に当該被測定回路の一端と接続するための電流入力端子Ｉ＋と、被測定回路の電圧測定時あるいは電流測定時に当該被測定回路の他端と接続するための共通端子ＣＯＭとを有する。電圧入力端子Ｖ＋は、電圧測定用回路３を介して、入力端子Ａｉｎ１（＋）に接続されている。電流入力端子Ｉ＋は、電流測定用回路４を介して、入力端子Ａｉｎ２（＋）に接続されている。共通端子ＣＯＭは、電圧測定用回路３を介して入力端子Ａｉｎ１（−）に接続されているとともに、電流測定回路４及びスイッチ回路５を介して入力端子Ａｉｎ２（−）に接続されている。   The terminal block 2 includes a voltage input terminal V + for connecting to one end of the circuit under measurement when measuring the voltage of the circuit under measurement (not shown), and a current for connecting to one end of the circuit under measurement when measuring the current of the circuit under measurement. It has an input terminal I + and a common terminal COM for connecting to the other end of the circuit under test when measuring the voltage or current of the circuit under test. The voltage input terminal V + is connected to the input terminal Ain1 (+) through the voltage measurement circuit 3. The current input terminal I + is connected to the input terminal Ain2 (+) via the current measurement circuit 4. The common terminal COM is connected to the input terminal Ain1 (−) through the voltage measurement circuit 3 and is connected to the input terminal Ain2 (−) through the current measurement circuit 4 and the switch circuit 5.

電圧測定用回路３は、抵抗器Ｒ１と、抵抗器Ｒ２と、抵抗器Ｒ３と、抵抗器Ｒ４とを有し、端子台２と電圧測定用ＡＤ変換部１ａとの間に配置されている。詳しくは、電圧入力端子Ｖ＋と入力端子Ａｉｎ１（＋）との間に抵抗器Ｒ１が配置され、端子台２の共通端子ＣＯＭと入力端子Ａｉｎ１（−）との間に抵抗器Ｒ４が配置され、これら抵抗器Ｒ１及び抵抗器Ｒ４の間に抵抗器Ｒ２及びＲ３が直列にて配置されている。被測定回路の電圧は、端子台２の電圧入力端子Ｖ＋と共通入力端子ＣＯＭとの間に入力され、抵抗器Ｒ１〜Ｒ４にて分圧されることにより、入力端子Ａｉｎ１（＋）及び入力端子Ａｉｎ１（−）に入力可能な電圧となる。   The voltage measurement circuit 3 includes a resistor R1, a resistor R2, a resistor R3, and a resistor R4, and is disposed between the terminal block 2 and the voltage measurement AD converter 1a. Specifically, the resistor R1 is disposed between the voltage input terminal V + and the input terminal Ain1 (+), and the resistor R4 is disposed between the common terminal COM of the terminal block 2 and the input terminal Ain1 (−). Resistors R2 and R3 are arranged in series between the resistors R1 and R4. The voltage of the circuit under test is input between the voltage input terminal V + of the terminal block 2 and the common input terminal COM, and is divided by resistors R1 to R4, whereby the input terminal Ain1 (+) and the input terminal A voltage that can be input to Ain1 (−).

なお、抵抗器Ｒ１及び抵抗器Ｒ４は例えば「数十ｋΩ」の抵抗値を有し、抵抗器Ｒ２及び抵抗器Ｒ３は例えば「数百ｋΩ」の抵抗値を有する。これら抵抗器Ｒ１〜Ｒ４の抵抗値は、端子台２の電圧入力端子Ｖ＋と共通端子ＣＯＭとの間に定格内で最大の電圧が印加された場合でも、電圧測定用ＡＤ変換部１ａの電圧入力端子Ａｉｎ（＋）と電圧入力端子Ａｉｎ（−）との間に入力される電圧が定格（例えば「５Ｖ」）内に収まるように選択される。   The resistors R1 and R4 have a resistance value of “several tens kΩ”, for example, and the resistors R2 and R3 have a resistance value of “several hundred kΩ”, for example. The resistance values of these resistors R1 to R4 are the voltage inputs of the voltage measuring AD converter 1a even when the maximum voltage within the rating is applied between the voltage input terminal V + of the terminal block 2 and the common terminal COM. The voltage input between the terminal Ain (+) and the voltage input terminal Ain (−) is selected so as to be within a rating (for example, “5V”).

電流測定用回路４は、抵抗器Ｒｓ及び抵抗器Ｒ５を有し、端子台２と電流測定用ＡＤ変換部１ｂとの間に配置されている。詳しくは、電流入力端子Ｉ＋と入力端子Ａｉｎ２（＋）との間に抵抗器Ｒ５が配置され、抵抗器Ｒ５と入力端子Ａｉｎ２（−）との間に抵抗器Ｒｓが配置されている。被測定回路の電圧は、端子台２の電流入力端子Ｉ＋と共通端子ＣＯＭとの間に入力され、抵抗器Ｒ５及び抵抗器Ｒｓにて分圧されることにより、入力端子Ａｉｎ２（＋）及び入力端子Ａｉｎ２（−）に入力可能な電圧となる。電流測定用回路４を分圧抵抗にて構成することにより、ダイナミックレンジの調整が容易となり電流検出の精度を向上することができる。   The current measurement circuit 4 includes a resistor Rs and a resistor R5, and is disposed between the terminal block 2 and the current measurement AD converter 1b. Specifically, the resistor R5 is disposed between the current input terminal I + and the input terminal Ain2 (+), and the resistor Rs is disposed between the resistor R5 and the input terminal Ain2 (−). The voltage of the circuit under test is input between the current input terminal I + of the terminal block 2 and the common terminal COM, and is divided by the resistor R5 and the resistor Rs, whereby the input terminal Ain2 (+) and the input are input. The voltage can be input to the terminal Ain2 (−). By configuring the current measuring circuit 4 with a voltage dividing resistor, the dynamic range can be easily adjusted and the accuracy of current detection can be improved.

なお、抵抗器Ｒｓは例えば「数十Ω」の抵抗値を有し、抵抗器Ｒ５は例えば「数百Ω」の抵抗値を有する。これら抵抗器Ｒ１〜Ｒ４の抵抗値は、端子台２の電流入力端子Ｉ＋と共通端子ＣＯＭとの間に定格内で最大の電圧が印加された場合でも、電流測定用ＡＤ変換部１ｂの電流入力端子Ａｉｎ（＋）及び電流入力端子Ａｉｎ（−）間に入力される電圧が定格（例えば「５Ｖ」）内に収まるように選択される。   The resistor Rs has a resistance value of “several tens of ohms”, for example, and the resistor R5 has a resistance value of “several hundreds Ω”, for example. The resistance values of these resistors R1 to R4 are the current inputs of the current measuring AD converter 1b even when the maximum voltage within the rating is applied between the current input terminal I + of the terminal block 2 and the common terminal COM. The voltage input between the terminal Ain (+) and the current input terminal Ain (−) is selected so as to be within a rating (for example, “5V”).

図２は、図１に示すスイッチ回路５の一構成を示す模式図である。図２を併せ参照して、スイッチ回路５及びＦＥＴ６について説明する。   FIG. 2 is a schematic diagram showing one configuration of the switch circuit 5 shown in FIG. The switch circuit 5 and the FET 6 will be described with reference to FIG.

スイッチ回路５は、マルチプレクサ５ａ、制御入力端子５ｂ、電源端子５ｃ、保護ダイオード５ｄ、保護ダイオード５ｅを有する。   The switch circuit 5 includes a multiplexer 5a, a control input terminal 5b, a power supply terminal 5c, a protection diode 5d, and a protection diode 5e.

このうち、マルチプレクサ５ａは、例えば単投型マルチプレクサであり、アナログスイッチとスイッチドライバを有して構成され、端子台２の電流入力端子Ｉ＋と共通端子ＣＯＭとの間に配置されている。なお、図２では、簡略化のため、マルチプレクサ５ａ（詳しくはアナログスイッチ）は、電流入力端子Ｉ＋及び共通端子ＣＯＭに直接接続されているが、実際には図１に示すように、マルチプレクサ５ａと電流入力端子Ｉ＋との間には電流測定用回路４が介在している。   Among these, the multiplexer 5a is, for example, a single throw multiplexer, is configured to include an analog switch and a switch driver, and is disposed between the current input terminal I + of the terminal block 2 and the common terminal COM. In FIG. 2, for the sake of simplicity, the multiplexer 5a (specifically, an analog switch) is directly connected to the current input terminal I + and the common terminal COM. However, as shown in FIG. A current measurement circuit 4 is interposed between the current input terminal I +.

また、制御入力端子５ｂは、出力端子Ｄｏｕｔに接続されており、上記制御信号が入力される。電源端子５ｃは、半導体スイッチであるＦＥＴ６を介して電源Ｅに接続されており、電源Ｅから電源が供給される。保護ダイオード５ｄは、接続点Ｎ１とグランドとの間に配置されており、保護ダイオード５ｅは、電源端子５ｃと接続点Ｎ１との間に配置されている。ＦＥＴ６は、スイッチ回路５と電源Ｅとの間に配置され、ゲート端子Ｇは、出力端子Ｄｏｕｔに接続されており、上記制御信号が入力される。   The control input terminal 5b is connected to the output terminal Dout and receives the control signal. The power supply terminal 5c is connected to the power supply E through the FET 6 which is a semiconductor switch, and the power supply is supplied from the power supply E. The protection diode 5d is disposed between the connection point N1 and the ground, and the protection diode 5e is disposed between the power supply terminal 5c and the connection point N1. The FET 6 is disposed between the switch circuit 5 and the power source E, the gate terminal G is connected to the output terminal Dout, and the control signal is input thereto.

端子台２に接続された被測定回路の電圧を測定する場合、制御部１ｃの出力端子ＤｏｕｔからＦＥＴ６のゲートＧ及びスイッチ回路５の制御入力端子５ｂのそれぞれに対して論理Ｌレベルの制御信号が入力される。このとき、ＦＥＴ６は駆動されないため、スイッチ回路５に電源Ｅから電源は供給されない。また、このとき、マルチプレクサ５ａはオフであるため、端子台２の電流入力端子Ｉ＋と共通端子ＣＯＭとは接続されず、切断される。したがって、共通端子ＣＯＭは、電圧測定用ＡＤ変換部１ａにのみ接続されている。   When measuring the voltage of the circuit under test connected to the terminal block 2, a logic L level control signal is output from the output terminal Dout of the control unit 1c to each of the gate G of the FET 6 and the control input terminal 5b of the switch circuit 5. Entered. At this time, since the FET 6 is not driven, no power is supplied from the power source E to the switch circuit 5. At this time, since the multiplexer 5a is off, the current input terminal I + of the terminal block 2 and the common terminal COM are not connected and disconnected. Therefore, the common terminal COM is connected only to the voltage measurement AD converter 1a.

一方、端子台２に接続された被測定回路の電流を測定する場合、制御部１ｃの出力端子ＤｏｕｔからＦＥＴ６のゲートＧ及びスイッチ回路５の制御入力端子５ｂのそれぞれに対して論理Ｈレベルの制御信号が入力される。このとき、ＦＥＴ６は駆動されるため、スイッチ回路５に電源Ｅから電源が供給される。スイッチ回路５に電源が供給された状態で、マルチプレクサ５ａがオンにされるため、端子台２の電流入力端子Ｉ＋と共通端子ＣＯＭとが接続される。したがって、共通端子ＣＯＭは、電圧測定用ＡＤ変換部１ａに接続されているだけでなく、電流測定用ＡＤ変換部１ｂにも接続されることになる。   On the other hand, when the current of the circuit under test connected to the terminal block 2 is measured, the logic H level control is performed for each of the gate G of the FET 6 and the control input terminal 5b of the switch circuit 5 from the output terminal Dout of the control unit 1c. A signal is input. At this time, since the FET 6 is driven, power is supplied to the switch circuit 5 from the power supply E. Since the multiplexer 5a is turned on while the power is supplied to the switch circuit 5, the current input terminal I + of the terminal block 2 and the common terminal COM are connected. Therefore, the common terminal COM is connected not only to the voltage measurement AD converter 1a but also to the current measurement AD converter 1b.

このように、スイッチ回路５は、共通端子ＣＯＭの接続先を、電圧測定用ＡＤ変換部１ａのみと、電圧測定用ＡＤ変換部１ａ及び電流測定用ＡＤ変換部１ｂの双方との間で切り換え可能に構成されている。また、ＦＥＴ６は、スイッチ回路５への電源Ｅからの電源供給を遮断可能に構成されている。   In this way, the switch circuit 5 can switch the connection destination of the common terminal COM between only the voltage measurement AD converter 1a and both the voltage measurement AD converter 1a and the current measurement AD converter 1b. It is configured. The FET 6 is configured to be able to cut off the power supply from the power source E to the switch circuit 5.

ところで、上述の通り、本実施の形態では、ＦＥＴ６は、マルチプレクサ５ａによって構成されているスイッチ回路５と電源Ｅとの間に配置されているが、ＦＥＴ６を割愛する場合には、次のような事態が生じ得る。すなわち、スイッチ回路５の待機時（オフとされている間）に、端子台２の電圧入力端子Ｖ＋と共通端子ＣＯＭとの間、あるいは、電流入力端子Ｉ＋と共通端子ＣＯＭとの間に電圧が入力されると、スイッチ回路５の保護ダイオード５ｄ及び５ｅを介して、漏電電流が流れることがある。漏電電流が流れると、電圧入力端子Ｖ＋から共通端子ＣＯＭへ、あるいは、電流入力端子Ｉ＋から共通端子ＣＯＭへ、電流が流れ続けてしまう。この点、本実施の形態では、ＦＥＴ６がスイッチ回路５と電源Ｅとの間に配置されていることから、スイッチ回路５の待機時に電圧入力端子Ｖ＋と共通端子ＣＯＭとの間、あるいは、電流入力端子Ｉ＋と共通端子ＣＯＭとの間に電圧が入力されても、スイッチ回路５の漏洩電流を遮断することができる。そして、ひいては、電圧入力端子Ｖ＋から共通端子ＣＯＭへ、あるいは、電流入力端子Ｉ＋から共通端子ＣＯＭへ、電流が流れ続ける事態の発生を防止することができる。ただし、ＦＥＴ６を必ずしも設ける必要はなく、割愛してもよい。   By the way, as described above, in the present embodiment, the FET 6 is arranged between the switch circuit 5 constituted by the multiplexer 5a and the power source E. However, when the FET 6 is omitted, the following is performed. Things can happen. That is, when the switch circuit 5 is on standby (while it is turned off), a voltage is applied between the voltage input terminal V + of the terminal block 2 and the common terminal COM, or between the current input terminal I + and the common terminal COM. When input, a leakage current may flow through the protection diodes 5d and 5e of the switch circuit 5. When the leakage current flows, current continues to flow from the voltage input terminal V + to the common terminal COM or from the current input terminal I + to the common terminal COM. In this respect, in the present embodiment, since the FET 6 is disposed between the switch circuit 5 and the power source E, when the switch circuit 5 is on standby, the voltage input terminal V + and the common terminal COM, or the current input Even if a voltage is input between the terminal I + and the common terminal COM, the leakage current of the switch circuit 5 can be cut off. As a result, it is possible to prevent a situation in which a current continues to flow from the voltage input terminal V + to the common terminal COM or from the current input terminal I + to the common terminal COM. However, the FET 6 is not necessarily provided and may be omitted.

保護ダイオード７は、電圧入力端子Ｖ＋と抵抗器Ｒ１との間に接続されており、保護ダイオード８は、共通端子ＣＯＭと抵抗器Ｒ４との間にされている。これにより、電圧入力端子Ｖ＋と共通端子ＣＯＭとの間に異常な電圧が入力された場合でも、保護ダイオード７及び８を介して電流をグランドに逃がすことにより、測定用回路３を保護している。   The protection diode 7 is connected between the voltage input terminal V + and the resistor R1, and the protection diode 8 is connected between the common terminal COM and the resistor R4. As a result, even when an abnormal voltage is input between the voltage input terminal V + and the common terminal COM, the measurement circuit 3 is protected by allowing the current to escape to the ground via the protection diodes 7 and 8. .

以上のように構成された電圧電流測定装置１００にて被測定回路の電圧あるいは電流を測定するにあたって、まず、当該電圧電流測定装置１００に図示しないエンジツールが接続され、制御部１ｃの設定が行われる。詳しくは、制御部１ｃは、被測定回路の電圧を測定する場合、出力端子Ｄｏｕｔから論理Ｌレベルの制御信号を出力するよう設定され、被測定回路の電流を測定する場合、出力端子Ｄｏｕｔから論理Ｈレベルの制御信号を出力するよう設定される。   When measuring the voltage or current of the circuit under test using the voltage / current measuring apparatus 100 configured as described above, first, an engine tool (not shown) is connected to the voltage / current measuring apparatus 100, and the controller 1c is set. Is called. Specifically, the control unit 1c is set to output a logic L level control signal from the output terminal Dout when measuring the voltage of the circuit under measurement, and when measuring the current of the circuit under measurement, the control unit 1c performs a logic operation from the output terminal Dout. It is set to output an H level control signal.

そして、被測定回路から得られる入力電圧を測定する場合には、被測定回路の一端及び他端を端子台２の電圧入力端子Ｖ＋及び共通端子ＣＯＭにそれぞれ接続する。上記の通り、制御部１ｃの出力端子ＤｏｕｔからはＦＥＴ６のゲートＧ及びスイッチ回路５の制御入力端子５ｂに対して論理Ｌレベルの制御信号が出力されていることから、スイッチ回路５及びＦＥＴ６がオフにされ、電源入力端子Ｖ＋及び共通端子ＣＯＭ間の入力電圧が電圧測定用ＡＤ変換部１ａによって測定される。   When measuring the input voltage obtained from the circuit under test, one end and the other end of the circuit under test are connected to the voltage input terminal V + and the common terminal COM of the terminal block 2, respectively. As described above, since the control signal of logic L level is output from the output terminal Dout of the control unit 1c to the gate G of the FET 6 and the control input terminal 5b of the switch circuit 5, the switch circuit 5 and the FET 6 are turned off. The input voltage between the power supply input terminal V + and the common terminal COM is measured by the voltage measurement AD converter 1a.

一方、被測定回路から得られる入力電流を測定する場合には、被測定回路の一端及び他端を端子台２の電流入力端子Ｉ＋及び共通端子ＣＯＭに接続する。上述の通り、制御部１ｃの出力端子ＤｏｕｔからはＦＥＴ６のゲートＧ及びスイッチ回路５の制御入力端子５ｂに対して論理Ｈレベルの制御信号が出力されていることから、スイッチ回路５及びＦＥＴ６がオンにされ、電流入力端子Ｉ＋及び共通端子ＣＯＭ間の入力電圧が電流測定用ＡＤ変換部１ｂによって測定される。   On the other hand, when measuring the input current obtained from the circuit under test, one end and the other end of the circuit under test are connected to the current input terminal I + of the terminal block 2 and the common terminal COM. As described above, since the control signal of logic H level is output from the output terminal Dout of the control unit 1c to the gate G of the FET 6 and the control input terminal 5b of the switch circuit 5, the switch circuit 5 and the FET 6 are turned on. The input voltage between the current input terminal I + and the common terminal COM is measured by the current measuring AD conversion unit 1b.

さらに、制御部１ｃは、上述の通り、電流測定用ＡＤ変換部１ｂの出力値を元に、過電電流が流れたか否かを検出し、過電流を検出すると、ＦＥＴ６のゲートＧ及びスイッチ回路５の制御入力端子５ｂに対して論理Ｌレベルの制御信号を出力してオフにすることで、共通端子ＣＯＭと電流測定用ＡＤ変換部１ｂの入力端子Ａｉｎ２（−）との接続を切断し、電流測定用回路４を保護する。   Further, as described above, the control unit 1c detects whether or not an overcurrent flows based on the output value of the current measurement AD conversion unit 1b. When the overcurrent is detected, the gate G of the FET 6 and the switch circuit are detected. 5 to output a logic L level control signal to the control input terminal 5b and turn it off, thereby disconnecting the connection between the common terminal COM and the input terminal Ain2 (−) of the current measuring AD converter 1b. The current measuring circuit 4 is protected.

以上説明したように、本実施の形態１の電圧電流測定装置によれば、１つの被測定回路につき、演算増幅器は２つ必要とはなるものの、スイッチ回路は１つ必要となるに過ぎない。演算増幅器はスイッチ回路よりも集積化すること、ひいては小型化することが可能であることから、回路全体を小型化することができるようになる。   As described above, according to the voltage / current measurement apparatus of the first embodiment, although only two operational amplifiers are required for each circuit under measurement, only one switch circuit is required. Since the operational amplifier can be integrated more than the switch circuit, and thus can be downsized, the entire circuit can be downsized.

また、本実施の形態１では、スイッチ回路５への電源供給を切断可能なＦＥＴ６を備え、制御部１ｃは、ＦＥＴ６によって、スイッチ回路５への電源供給を切断する。これにより、スイッチ回路５の待機時に漏電電流が生じることを防止することができるようになる。   In the first embodiment, the FET 6 capable of cutting off the power supply to the switch circuit 5 is provided, and the control unit 1c cuts off the power supply to the switch circuit 5 by the FET 6. As a result, it is possible to prevent a leakage current from occurring when the switch circuit 5 is on standby.

実施の形態２．
本発明に係る測定装置は、実施の形態１の構成に限定されるものではない。本発明に係る測定装置の実施の形態２の構成を図３に示すように、電圧電流測定装置１００ａは、図１に示した電圧電流測定装置１００と類似の構成を有している。以下、第１の実施の形態の構成との差異について主に説明し、同一の構成については、同一の符号を付している。Embodiment 2. FIG.
The measuring apparatus according to the present invention is not limited to the configuration of the first embodiment. As shown in FIG. 3 of the configuration of the second embodiment of the measuring apparatus according to the present invention, the voltage / current measuring apparatus 100a has a configuration similar to that of the voltage / current measuring apparatus 100 shown in FIG. Hereinafter, differences from the configuration of the first embodiment will be mainly described, and the same reference numerals are given to the same configurations.

具体的には、端子台２ａは、図示しない被測定回路に接続される電圧入力端子Ｖ−と、被測定回路に接続される電流入力端子Ｉ−と、電圧入力端子Ｖ＋及び電流入力端子Ｉ＋に接続される共通端子ＣＯＭとを有する。電圧入力端子Ｖ−は、電圧測定用回路３を介して、入力端子Ａｉｎ１（−）に接続されている。電流入力端子Ｉ−は、電流測定用回路４を介して、入力端子Ａｉｎ２（−）に接続されている。共通端子ＣＯＭは、電圧測定用回路３を介して入力端子Ａｉｎ１（＋）に接続されているとともに、電流測定回路４及びスイッチ回路５を介して入力端子Ａｉｎ２（＋）に接続されている。すなわち、端子台２の電圧入力端子Ｖ＋が端子台２ａの電圧入力端子Ｖ−に、端子台２の電流入力端子Ｉ＋が端子台２ａの電流入力端子Ｉ−に、それぞれ極性が反転されている。また、保護ダイオード７ａは、電圧入力端子Ｖ−と抵抗器Ｒ４との間に接続されており、保護ダイオード８ａは、共通端子ＣＯＭと抵抗器Ｒ１との間にされている。このような構成によっても、電圧電流測定装置１００と同様の効果を得ることができる。   Specifically, the terminal block 2a is connected to a voltage input terminal V− connected to a circuit to be measured (not shown), a current input terminal I− connected to the circuit to be measured, a voltage input terminal V + and a current input terminal I +. And a common terminal COM to be connected. The voltage input terminal V− is connected to the input terminal Ain1 (−) via the voltage measurement circuit 3. The current input terminal I− is connected to the input terminal Ain2 (−) via the current measurement circuit 4. The common terminal COM is connected to the input terminal Ain1 (+) through the voltage measurement circuit 3, and is connected to the input terminal Ain2 (+) through the current measurement circuit 4 and the switch circuit 5. That is, the polarity of the voltage input terminal V + of the terminal block 2 is inverted to the voltage input terminal V− of the terminal block 2a, and the polarity of the current input terminal I + of the terminal block 2 is inverted to the current input terminal I− of the terminal block 2a. The protection diode 7a is connected between the voltage input terminal V− and the resistor R4, and the protection diode 8a is connected between the common terminal COM and the resistor R1. Even with such a configuration, the same effect as that of the voltage / current measuring apparatus 100 can be obtained.

他の実施の形態
上記実施の形態１の電圧電流測定装置１００及び実施の形態２の電圧電流測定装置１００ａにおいても、スイッチ回路５は単投型のマルチプレクサにて構成されていたが、これに限られず、単投型のアナログスイッチにて構成されていてもよい。要は、単投型のスイッチ回路であれば、同様の効果を奏することができる。Other Embodiments In the voltage / current measurement apparatus 100 of the first embodiment and the voltage / current measurement apparatus 100a of the second embodiment, the switch circuit 5 is configured by a single throw type multiplexer, but the present invention is not limited thereto. Instead, it may be composed of a single throw type analog switch. In short, a single-throw switch circuit can produce the same effect.

また、上記実施の形態（変形例を含む）では、本発明に係る測定装置として、被測定回路の電圧あるいは電流を測定する電圧電流測定装置として実現していたが、これに限らず、被測定回路の電圧を測定する構成を備えなくてもよい。すなわち、電圧測定時に被測定回路の一端と接続するための電圧入力端子、及び当該電圧入力端子と共通端子との間に印加される電圧の大きさをアナログ値からデジタル値に変換する電圧測定用ＡＤ変換器について割愛し、被測定回路の電流のみを測定する測定装置として構成してもよい。単投型のスイッチ回路は、双投型のスイッチ回路と比較して小型化することができるため、回路全体の小型化を図るという所期の目的を達成することはできる。   In the above-described embodiments (including modifications), the measuring device according to the present invention is realized as a voltage / current measuring device that measures the voltage or current of the circuit under measurement. A configuration for measuring the voltage of the circuit may not be provided. That is, a voltage input terminal for connecting to one end of the circuit under test at the time of voltage measurement, and for voltage measurement that converts the magnitude of the voltage applied between the voltage input terminal and the common terminal from an analog value to a digital value The AD converter may be omitted, and the measuring apparatus may be configured to measure only the current of the circuit under measurement. Since the single throw type switch circuit can be reduced in size compared with the double throw type switch circuit, the intended purpose of downsizing the entire circuit can be achieved.

以上説明した実施の形態の構成は、本発明の内容の一例を示すものであり、別の公知の技術と組み合わせることも可能であるし、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、構成の一部を省略、変更することも可能である。   The configuration of the embodiment described above shows an example of the content of the present invention, and can be combined with another known technique, or a part of the configuration without departing from the gist of the present invention. Can be omitted or changed.

１，１ａ アナログデジタル変換回路、２，２ａ 入力端子台、３ 電圧測定用回路、４ 電流測定用回路、５ スイッチ回路、６ ＦＥＴ、Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３，Ｒ４，Ｒ５，Ｒｓ 抵抗器、１００，１００ａ 電圧電流測定回路。   1, 1a analog-digital conversion circuit, 2, 2a input terminal block, 3 voltage measurement circuit, 4 current measurement circuit, 5 switch circuit, 6 FET, R1, R2, R3, R4, R5, Rs resistor, 100, 100a Voltage current measurement circuit.

Claims (5)

電流測定時に被測定回路の一端と接続するための電流入力端子と、
前記電流測定時に前記被測定回路の他端と接続するための共通端子と、
前記電流入力端子と前記共通端子との間を流れる電流の大きさをアナログ値からデジタル値に変換する電流測定用ＡＤ変換部と、
前記共通端子と前記電流測定用ＡＤ変換部との間に設けられたスイッチ回路と、
前記電流測定用ＡＤ変換部の出力値を元に、前記電流入力端子と前記共通端子との間に規定の大きさ以上の電流である過電流が流れたことを検出すると、前記共通端子と前記電流測定用ＡＤ変換部との接続を切断する制御部と、
を備える測定装置。A current input terminal for connection to one end of the circuit under test during current measurement;
A common terminal for connecting to the other end of the circuit under test during the current measurement;
An AD converter for current measurement for converting the magnitude of the current flowing between the current input terminal and the common terminal from an analog value to a digital value;
A switch circuit provided between the common terminal and the current measuring AD converter;
Based on the output value of the A / D converter for current measurement, upon detecting that an overcurrent that is a current of a specified magnitude or more flows between the current input terminal and the common terminal, the common terminal and the common terminal A control unit for cutting off the connection with the AD converter for current measurement;
A measuring apparatus comprising: 電圧測定時に前記被測定回路の一端と接続するための電圧入力端子と、
前記電圧測定時に前記被測定回路の他端と接続するための前記共通端子と、
前記電圧入力端子と前記共通端子との間に印加される電圧の大きさをアナログ値からデジタル値に変換する電圧測定用ＡＤ変換部と、を備え、
前記制御部は、前記電流測定用ＡＤ変換部の出力値を元に、前記電流入力端子と前記共通端子との間に規定の大きさ以上の電流である過電流が流れたことを検出すると、前記共通端子の接続先を、前記電圧測定用ＡＤ変換部及び前記電流測定用ＡＤ変換部の双方から前記電圧測定用ＡＤ変換部のみへ前記スイッチ回路を切り替えることにより、前記共通端子と前記電流測定用ＡＤ変換部との接続を切断する
請求項１に記載の測定装置。A voltage input terminal for connecting to one end of the circuit under test during voltage measurement;
The common terminal for connecting to the other end of the circuit under test during the voltage measurement;
A voltage measurement AD converter that converts the magnitude of the voltage applied between the voltage input terminal and the common terminal from an analog value to a digital value;
The control unit detects, based on the output value of the current measurement AD conversion unit, that an overcurrent that is a current of a specified magnitude or more flows between the current input terminal and the common terminal. The common terminal and the current measurement are switched by switching the switch circuit from only both the voltage measurement AD converter and the current measurement AD converter to the voltage measurement AD converter. The measurement apparatus according to claim 1, wherein the connection with the AD conversion unit is disconnected. 前記スイッチ回路への電源供給を遮断可能な半導体スイッチを備え、
前記制御部は、前記半導体スイッチによって、前記スイッチ回路への電源供給を遮断する
請求項１又は２に記載の測定装置。Comprising a semiconductor switch capable of shutting off the power supply to the switch circuit;
The measuring apparatus according to claim 1, wherein the control unit cuts off power supply to the switch circuit by the semiconductor switch. 前記スイッチ回路は、アナログスイッチにて構成される
請求項１〜３のいずれか一項に記載の測定装置。The measurement apparatus according to claim 1, wherein the switch circuit is configured by an analog switch. 前記スイッチ回路は、マルチプレクサにて構成される
請求項１〜３のいずれか一項に記載の測定装置。The measurement apparatus according to claim 1, wherein the switch circuit is configured by a multiplexer.
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