JP6461746B2 - 光線路特性解析装置及び光線路特性解析方法 - Google Patents
光線路特性解析装置及び光線路特性解析方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6461746B2 JP6461746B2 JP2015162786A JP2015162786A JP6461746B2 JP 6461746 B2 JP6461746 B2 JP 6461746B2 JP 2015162786 A JP2015162786 A JP 2015162786A JP 2015162786 A JP2015162786 A JP 2015162786A JP 6461746 B2 JP6461746 B2 JP 6461746B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical
- light pulse
- frequency
- measured
- optical line
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Landscapes
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Description
そこで、本発明は、ブリルアン散乱を利用した光線路の損失分布測定において、補償すべきブリルアン周波数シフト範囲に依存せず、高感度な光線路特性解析装置及び光線路特性解析方法を提供することを目的とする。
前記プローブ光パルスと前記ポンプ光パルスとの光周波数差である設定ブリルアン周波数シフトfBを線形に変動する光周波数差掃引手段と、
前記プローブ光パルスを発生し、前記プローブ光パルスを前記被測定光線路に入射するプローブ光パルス入射手段と、
前記ポンプ光パルスを発生し、前記プローブ光パルスが前記被測定光線路に入射された所定時間後に前記ポンプ光パルスを前記被測定光線路に入射するポンプ光パルス入射手段と、
前記被測定光線路からの戻り光パルスを受光し、電気信号に変換する戻り光受光手段と、
前記戻り光受光手段で変換した前記電気信号から前記所定時間におけるブリルアン利得を取得するブリルアン利得取得手段と、
前記所定時間を変化させて取得したブリルアン利得から前記被測定光線路の距離に対する損失分布を取得する特性解析手段と、
を備えることを特徴とする。
前記プローブ光パルスと前記ポンプ光パルスとの光周波数差である設定ブリルアン周波数シフトfBを線形に変動する光周波数差掃引ステップと、
前記プローブ光パルスを発生し、前記プローブ光パルスを前記被測定光線路に入射するプローブ光パルス入射ステップと、
前記プローブ光パルス入射ステップ後に、前記ポンプ光パルスを発生し、前記プローブ光パルスが入射された所定時間後に前記ポンプ光パルスを前記被測定光線路に入射するポンプ光パルス入射ステップと、
前記ポンプ光パルス入射ステップの後、前記被測定光線路からの戻り光パルスを受光し、電気信号に変換する戻り光受光ステップと、
前記戻り光受光ステップで変換した前記電気信号から前記所定時間におけるブリルアン利得を取得するブリルアン利得取得ステップと、
前記所定時間を変化させて取得したブリルアン利得から前記被測定光線路の距離に対する損失分布を取得する特性解析ステップと、
を行うことを特徴とする。
前記光周波数差掃引ステップでは、
設定ブリルアン周波数シフトfBを線形に変動させる線形変動範囲が、前記被測定光線路において測定対象とするブリルアン周波数シフト分布幅に相当する測定対象周波数範囲以上であり、
前記線形変動範囲の光周波数掃引の開始周波数と前記光測定対象周波数範囲の中央値との周波数差より、前記線形変動範囲の光周波数掃引の終了周波数と前記光測定対象周波数範囲の中央値との周波数差の方が小さくなるように、前記測定対象周波数範囲を前記線形変動範囲に配置することを特徴とする。
前記プローブ光パルス入射手段は、前記プローブ光パルスのパルス幅を2nΔLmin/cより狭く設定することを特徴とする。
前記プローブ光パルス入射ステップの前に、前記分岐光線路の長さの差のうち最小の差ΔLminを検出する光路長差検出ステップを行い、
前記プローブ光パルス入射ステップで、前記プローブ光パルスのパルス幅を2nΔLmin/cより狭く設定すること
を特徴とする。
図1は、本実施形態の光線路特性解析装置301の構成を示すブロック図である。光線路特性解析装置301は、被測定光線路でブリルアン(Brillouin)散乱を発生させるポンプ光パルスと、前記被測定光線路の前記光スプリッタと反対側の遠端で反射させて前記ポンプ光パルスと相互作用させるプローブ光パルスと、を伝搬させ、前記被測定光線路の特性を解析する光線路特性解析装置であって、
前記プローブ光パルスと前記ポンプ光パルスとの光周波数差である設定ブリルアン周波数シフトfBを線形に変動する光周波数差掃引手段と、
前記プローブ光パルスを発生し、前記プローブ光パルスを前記被測定光線路に入射するプローブ光パルス入射手段と、
前記ポンプ光パルスを発生し、前記プローブ光パルスが前記被測定光線路に入射された所定時間後に前記ポンプ光パルスを前記被測定光線路に入射するポンプ光パルス入射手段と、
前記被測定光線路からの戻り光パルスを前記光スプリッタを介して受光し、電気信号に変換する戻り光受光手段と、
前記戻り光受光手段で変換した前記電気信号から前記所定時間におけるブリルアン利得を取得するブリルアン利得取得手段と、
前記所定時間を変化させて取得したブリルアン利得から前記被測定光線路の距離に対する損失分布を取得する特性解析手段と、
を備える。
次に、上述したように構成される本実施形態の光線路特性解析装置の動作について説明する。
(条件1)ポンプ光の変調周波数帯域幅は、被測定光ファイバに想定されるBFS変化量の距離方向の周波数変化量と同等、またはそれ以上であること。
(条件2)光パルス化手段13から出力されるプローブ光パルスのパルス幅τは、分岐光ファイバの終端の反射型光フィルタからの戻り光の時間差2nΔL/cより狭いこと。
(条件3)光受信手段16の帯域及びA/D変換器27の帯域は、パルス幅τを受光可能な帯域であること。
続いて、上記の条件を満足する分岐光線路特性解析301が行う分岐光線路特性解析方法を説明する。本分岐光線路特性解析方法は、被測定光線路でブリルアン(Brillouin)散乱を発生させるポンプ光パルスと、前記被測定光線路の前記光スプリッタと反対側の遠端で反射させて前記ポンプ光パルスと相互作用させるプローブ光パルスと、を伝搬させ、前記被測定光線路の特性を解析する光線路特性解析方法であって、
前記プローブ光パルスと前記ポンプ光パルスとの光周波数差である設定ブリルアン周波数シフトfBを線形に変動する光周波数差掃引ステップと、
前記プローブ光パルスを発生し、前記プローブ光パルスを前記被測定光線路に入射するプローブ光パルス入射ステップと、
前記プローブ光パルス入射ステップ後に、前記ポンプ光パルスを発生し、前記プローブ光パルスが入射された所定時間後に前記ポンプ光パルスを前記被測定光線路に入射するポンプ光パルス入射ステップと、
前記ポンプ光パルス入射ステップの後、前記被測定光線路からの戻り光パルスを前記光スプリッタを介して受光し、電気信号に変換する戻り光受光ステップと、
前記戻り光受光ステップで変換した前記電気信号から前記所定時間におけるブリルアン利得を取得するブリルアン利得取得ステップと、
前記所定時間を変化させて取得したブリルアン利得から前記被測定光線路の距離に対する損失分布を取得する特性解析ステップと、
を行う。
設定ブリルアン周波数シフトfBを線形に変動させる線形変動範囲が、前記被測定光線路において測定対象とするブリルアン周波数シフト分布幅に相当する測定対象周波数範囲以上であり、
前記線形変動範囲の最小光周波数と前記測定対象周波数範囲の最小光周波数との周波数差より前記線形変動範囲の最大光周波数と前記測定対象周波数範囲の最大光周波数との周波数差の方が小さくなるように、前記測定対象周波数範囲を前記線形変動範囲に配置すること
を特徴とする。
前記プローブ光パルス入射ステップの前に、前記分岐光線路の長さの差のうち最小の差ΔLminを検出する光路長差検出ステップを行い、
前記プローブ光パルス入射ステップで、前記プローブ光パルスのパルス幅を2nΔLmin/cより狭く設定することを特徴とする。
プローブ光とポンプ光との周波数差がブリルアン周波数シフトfBと一致する場合、プローブ光パルスとポンプ光パルスとがインタラクションすると、プローブ光パルスはブリルアン増幅される。線形掃引したポンプ光を用い、周波数帯域幅が想定されるBFS範囲より広い場合、プローブ光とポンプ光の周波数差がfBとなる距離zが必ず存在する。
(b−1)感度
線形掃引ポンプ光において、掃引速度γが小さい場合、ブリルアン利得のピーク近傍を長い時間測定することになり、得られるブリルアン利得は大きくなる。掃引速度γが大きい場合には、ブリルアン利得帯域幅を短い時間しか測定されないため、得られるブリルアン利得は小さくなる。つまり、掃引速度γは小さいほど損失分布測定の感度は良くなる。
線形掃引ポンプを用いた場合、プローブ光とポンプ光の周波数差がfB近傍でのみブリルアン利得を得るため、空間分解能は非特許文献1−4と異なり、ポンプ光のパルス幅ではなく、ポンプ光の周波数変調の掃引速度γで決まる。そのため、ポンプ光パルス幅は空間分解能に相当する時間幅と同等かそれ以上でよい。空間分解能として、(1)BFSが異なるファイバが接続された点での空間分解能と(2)損失発生地点における空間分解能を評価する必要がある。
BFSが異なるファイバが接続された点において、ブリルアン利得を得る位置が異なる。このときの空間分解能Δzは、
ポンプパルス幅が広い場合には、損失を受けた後のブリルアン利得(所望のブリルアン利得)と接続損失を受ける前のブリルアン利得(クロストーク)の和が測定される。クロストークの概念図を図5に示す。
前記光周波数差掃引手段は、前記線形変動範囲の光周波数掃引の開始周波数と前記光測定対象周波数範囲の中央値との周波数差より、前記線形変動範囲の光周波数掃引の終了周波数と前記光測定対象周波数範囲の中央値との周波数差の方が小さくなるように、前記測定対象周波数範囲を前記線形変動範囲に配置することを特徴とする。
プローブ光とポンプ光との周波数差がfBである場合、プローブ光パルスとポンプ光パルスとがインタラクションすると、プローブ光パルスは式(2)で表される増幅を受ける。
被測定光ファイバの入射端から分岐光ファイバ(#a)(1≦a≦Nの整数、ここではN=8)の終端までの長さをLaとする。プローブ光パルスは、分岐光ファイバ(#a)の終端に設置された反射型光フィルタ(#a)により反射される。ここで、分岐光ファイバの終端からの距離をl、被測定光ファイバの屈折率をn、真空中の光速をcとすると、反射されたプローブ光パルスはt1/2秒後にl=c/n×t1/2だけ進むので、被測定光ファイバの入射端からの距離をlx1とすると、その距離lx1は、
プローブ光パルスが光受信手段26に到達する時間をtdaとする。プローブ光パルスは、分岐光ファイバの終端の反射型光フィルタ(#a)により反射され、光受信手段26へ戻ってくる。そのため、到達時間は、式(11)で表される。
次に、プローブ光パルスとポンプ光パルスとの入射時間差t1を設定する(ステップS2)。
手順1:ポンプ光パルスの周波数掃引速度γとパルス幅τを設定。
手順2:プローブ光パルスとポンプ光パルスとの入射時間差t1を設定。
手順3:プローブ光パルスの戻り時間によりどの分岐光ファイバで反射したプローブ光パルスであるかを特定。
手順4:プローブ光パルスの光強度により、誘導ブリルアン利得を出力。
手順5:プローブ光パルスとポンプ光パルスとの入射時間差t1を変化させて上記手順2から手順4を繰り返し、t=2nL/cで終了。
以下は、本発明に係る光線路特性解析装置を説明したものである。
(1):
遠端に反射を有する被測定光線路の特性を解析する光線路特性解析装置であって、
波長の異なるプローブ光パルス及び第2の光源と、
プローブ光パルス及び第2の光源からの光をパルス化し、プローブ光パルスを生成するプローブ光パルス及び第2のパルス化器と、
前記プローブ光パルス及び第2のパルス化器に対し、前記プローブ光パルス及び前記ポンプ光パルスを発生させるタイミングを制御することで、前記プローブ光パルス及び前記ポンプ光パルスが発生される時間差を制御する入射時間制御器と、
前記プローブ光パルス及びポンプ光パルスを合波し、前記合波したプローブ光パルス及びポンプ光パルスを前記被測定光線路の光線路に入射する合波素子と、
前記光線路の入射端から出射される戻り光を受光して電気信号へ変換する光受信器と、
前記電気信号をデジタル信号へ変換する変換器と、
被測定線路のブリルアン周波数シフト分布幅Bに対して、反射したプローブ光とポンプ光が交差する時に経験する周波数差の範囲Fが同等またはそれ以上となるように設定し、
前記プローブ光パルスと前記ポンプ光パルスとを前記被測定光線路へ入射させる時間差を設定し、
前記プローブ光パルスが前記光線路で反射されて戻ってきた光強度を利用し、ブリルアン利得を算出し、
前記時間差を変化させ、変化させた時間差毎にブリルアン利得を算出し、
前記時間差を変化させながら算出した前記ブリルアン利得を利用し、前記光線路の損失分布を取得する演算処理装置と、
を具備する光線路特性解析装置。
反射プローブ光とポンプ光が交差する時に周波数差の範囲Fを与えるために、ポンプ光のみを線形に周波数掃引速度γで変調する光周波数変調手段をもつことを特徴とする上記(1)記載の光線路特性解析装置。
被測定ファイバが基幹光線路の一方端を光分岐器によって複数に分岐し、前記光分岐器の分岐端部それぞれに分岐光線路の一方端を光結合してなる分岐光線路であり、
プローブ光のパルス幅が前記複数の分岐光線路間の長さの差の最小値を利用した条件を満たすようにパルス化し、
前記プローブ光パルスが前記分岐光線路で反射されて戻ってくる時間から、前記プローブ光パルスが、前記複数の分岐光線路のうちどの分岐光線路で反射されたかを特定し、
前記戻ってきたプローブ光パルスの光強度を利用し、ブリルアン利得を算出し、
前記時間差を変化させ、変化させた時間差毎にブリルアン利得を算出し、
前記時間差を変化させながら算出した前記ブリルアン利得を利用し、前記複数の分岐光線路それぞれの損失分布を取得することを特徴とする上記(1)及び(2)記載の光線路特性解析装置。
被測定ファイバに補償するブリルアン周波数シフト範囲に相当するポンプ光の第一試験光に対する光周波数差が、ポンプ光パルスの時間的に後ろ側に配置することで、損失発生地点におけるクロストークを最小化することを特徴とする上記(1)及び(2)記載の光線路特性解析装置。
半導体レーザの注入電流を強度変調することで、第二試験光を発生することを特徴とする上記(2)記載の光線路特性解析装置。
以上のように、本発明は、波長の異なる二種の試験光を用意し、パルス化した後に二種のパルス試験光に入射時間差を与えて被測定光線路に入射することで、先に入射したパルス試験光(プローブ光)の反射光と、後に入射したパルス試験光(ポンプ光)が対向伝搬することにより発生した誘導ブリルアン後方散乱光を光受信器で受信し、ポンプ光の光周波数を線形に変調し、変調帯域幅を補償すべきBFS範囲と同等またはそれ以上に設定することで、補償すべきBFS範囲によらず、常にブリルアン利得ピークを取得できるため、高感度な測定が可能となる。
したがって、本発明によれば、BFSの異なる光線路の損失分布を高感度に測定することのできる光線路特性測定装置及びその測定方法を提供することができる。
10−1:第1試験光出力手段
10−2:第2試験光出力手段
12:光周波数変更手段
13、14:光パルス化手段
15、16:入射時間制御手段
20:合波素子
21:サーキュレータ
22:光スプリッタ
23:分岐光線路
24:光反射フィルタ
25:基幹光ファイバ
26:光受信手段
27:A/D変換器
28:演算処理装置
Claims (7)
- 被測定光線路でブリルアン(Brillouin)散乱を発生させるポンプ光パルスと、前記被測定光線路の遠端で反射させて前記ポンプ光パルスと相互作用させるプローブ光パルスと、を伝搬させ、前記被測定光線路の特性を解析する光線路特性解析装置であって、
前記プローブ光パルスと前記ポンプ光パルスとの光周波数差である設定ブリルアン周波数シフトfBを線形に変動する光周波数差掃引手段と、
前記プローブ光パルスを発生し、前記プローブ光パルスを前記被測定光線路に入射するプローブ光パルス入射手段と、
前記ポンプ光パルスを発生し、前記プローブ光パルスが前記被測定光線路に入射された所定時間後に前記ポンプ光パルスを前記被測定光線路に入射するポンプ光パルス入射手段と、
前記被測定光線路からの戻り光パルスを受光し、電気信号に変換する戻り光受光手段と、
前記戻り光受光手段で変換した前記電気信号から前記所定時間におけるブリルアン利得を取得するブリルアン利得取得手段と、
前記所定時間を変化させて取得したブリルアン利得から前記被測定光線路の距離に対する損失分布を取得する特性解析手段と、
を備え、
前記光周波数差掃引手段は、設定ブリルアン周波数シフトf B を線形に変動させる線形変動範囲が、前記被測定光線路において測定対象とするブリルアン周波数シフト分布幅に相当する光測定対象周波数範囲以上であることを特徴とする光線路特性解析装置。 - 前記光周波数差掃引手段は、前記線形変動範囲の光周波数掃引の開始周波数と前記光測定対象周波数範囲の中央値との周波数差より、前記線形変動範囲の光周波数掃引の終了周波数と前記光測定対象周波数範囲の中央値との周波数差の方が小さくなるように、前記光測定対象周波数範囲を前記線形変動範囲に配置することを特徴とする請求項1に記載の光線路特性解析装置。
- 前記被測定光線路が、1つの基幹光線路と複数の分岐光線路とを光スプリッタで接続する構造の場合に、前記分岐光線路の長さの差のうち最小の差ΔLminを検出する光路長差検出手段をさらに備えており、
前記プローブ光パルス入射手段は、前記プローブ光パルスのパルス幅を2nΔLmin/cより狭く設定することを特徴とする請求項1又は2に記載の光線路特性解析装置。 - 前記光周波数差掃引手段は、半導体レーザの注入電流を強度変調することで前記ポンプ光パルスの光周波数を変動することを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載の光線路特性解析装置。
- 被測定光線路でブリルアン(Brillouin)散乱を発生させるポンプ光パルスと、前記被測定光線路の遠端で反射させて前記ポンプ光パルスと相互作用させるプローブ光パルスと、を伝搬させ、前記被測定光線路の特性を解析する光線路特性解析方法であって、
前記プローブ光パルスと前記ポンプ光パルスとの光周波数差である設定ブリルアン周波数シフトfBを線形に変動する光周波数差掃引ステップと、
前記プローブ光パルスを発生し、前記プローブ光パルスを前記被測定光線路に入射するプローブ光パルス入射ステップと、
前記プローブ光パルス入射ステップ後に、前記ポンプ光パルスを発生し、前記プローブ光パルスが入射された所定時間後に前記ポンプ光パルスを前記被測定光線路に入射するポンプ光パルス入射ステップと、
前記ポンプ光パルス入射ステップの後、前記被測定光線路からの戻り光パルスを受光し、電気信号に変換する戻り光受光ステップと、
前記戻り光受光ステップで変換した前記電気信号から前記所定時間におけるブリルアン利得を取得するブリルアン利得取得ステップと、
前記所定時間を変化させて取得したブリルアン利得から前記被測定光線路の距離に対する損失分布を取得する特性解析ステップと、
を行い、
前記光周波数差掃引ステップでの設定ブリルアン周波数シフトf B を線形に変動させる線形変動範囲が、前記被測定光線路において測定対象とするブリルアン周波数シフト分布幅に相当する光測定対象周波数範囲以上であることを特徴とする光線路特性解析方法。 - 前記光周波数差掃引ステップでは、
前記線形変動範囲の光周波数掃引の開始周波数と前記光測定対象周波数範囲の中央値との周波数差より、前記線形変動範囲の光周波数掃引の終了周波数と前記光測定対象周波数範囲の中央値との周波数差の方が小さくなるように、前記光測定対象周波数範囲を前記線形変動範囲に配置することを特徴とする請求項5に記載の光線路特性解析方法。 - 前記被測定光線路が、1つの基幹光線路と複数の分岐光線路とを光スプリッタで接続する構造である場合に、
前記プローブ光パルス入射ステップの前に、前記分岐光線路の長さの差のうち最小の差ΔLminを検出する光路長差検出ステップを行い、
前記プローブ光パルス入射ステップで、前記プローブ光パルスのパルス幅を2nΔLmin/cより狭く設定することを特徴とする請求項5又は6に記載の光線路特性解析方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015162786A JP6461746B2 (ja) | 2015-08-20 | 2015-08-20 | 光線路特性解析装置及び光線路特性解析方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015162786A JP6461746B2 (ja) | 2015-08-20 | 2015-08-20 | 光線路特性解析装置及び光線路特性解析方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017040576A JP2017040576A (ja) | 2017-02-23 |
JP6461746B2 true JP6461746B2 (ja) | 2019-01-30 |
Family
ID=58206150
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015162786A Active JP6461746B2 (ja) | 2015-08-20 | 2015-08-20 | 光線路特性解析装置及び光線路特性解析方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6461746B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102040598B1 (ko) * | 2018-05-16 | 2019-11-27 | 한국표준과학연구원 | 시간차를 갖는 펌프광과 탐색광의 위상 코드 변조를 사용하는 광섬유 bocda 센서 |
JP7059864B2 (ja) * | 2018-08-09 | 2022-04-26 | 日本電信電話株式会社 | 光ファイバの損失測定装置および光ファイバの損失測定方法 |
JP7497780B2 (ja) | 2021-06-04 | 2024-06-11 | 日本電信電話株式会社 | 光ファイバ試験方法及び光ファイバ試験装置 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8525981B2 (en) * | 2010-03-29 | 2013-09-03 | Verizon Patent And Licensing Inc. | Return loss measurement system |
JP6055716B2 (ja) * | 2013-05-17 | 2016-12-27 | 日本電信電話株式会社 | 分岐光線路特性解析装置及びその解析方法 |
-
2015
- 2015-08-20 JP JP2015162786A patent/JP6461746B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2017040576A (ja) | 2017-02-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8928868B2 (en) | Optical fiber line characteristic analysis apparatus and analysis method thereof | |
US10935457B2 (en) | Optical line testing device using optical signals having continuous waveform to identify fault location in optical line | |
WO2010067729A1 (ja) | 光線路監視システムおよびそのシステムに含まれる監視装置 | |
JP6338153B2 (ja) | モード結合比率分布測定方法及びモード結合比率分布測定装置 | |
JP6325490B2 (ja) | 光線路特性解析装置及び光線路特性解析方法 | |
WO2019194020A1 (ja) | 環境特性測定装置および環境特性測定方法 | |
JP7188593B2 (ja) | 光強度分布測定方法及び光強度分布測定装置 | |
JP6055716B2 (ja) | 分岐光線路特性解析装置及びその解析方法 | |
JPWO2017090516A1 (ja) | ガス検知システム | |
JP6461746B2 (ja) | 光線路特性解析装置及び光線路特性解析方法 | |
WO2020071128A1 (ja) | 後方散乱光増幅装置、光パルス試験装置、後方散乱光増幅方法、及び光パルス試験方法 | |
US6614512B1 (en) | System for measuring wavelength dispersion of optical fiber | |
JP5993818B2 (ja) | 光線路特性解析装置及び光線路特性解析方法 | |
US7208722B2 (en) | Measuring method and measuring apparatus for coherent crosstalk light | |
JP6277093B2 (ja) | 分岐光線路特性解析装置及びその解析方法 | |
JP2018136126A (ja) | モード結合比率分布測定装置及びモード結合比率分布測定方法 | |
JP6085573B2 (ja) | 分岐光線路の特性解析装置および分岐光線路の特性解析方法 | |
JP6602689B2 (ja) | 光線路特性解析装置及び信号処理方法 | |
JP5907907B2 (ja) | 光線路特性解析装置及びその解析方法 | |
JP2018124187A (ja) | 光ファイバ電界分布非破壊測定装置及び光ファイバ電界分布非破壊測定方法 | |
JP6353429B2 (ja) | 光線路損失解析方法及び光線路損失解析装置 | |
JP6218142B2 (ja) | 分岐光線路の特性解析装置及び特性解析方法 | |
JP6764247B2 (ja) | 光線路特性解析装置及び信号処理方法 | |
JP6224036B2 (ja) | 分岐光線路設計方法 | |
JP6202732B2 (ja) | 分岐光ファイバ特性解析装置及びその解析方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20170830 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20180516 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20180612 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20180727 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20181218 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20181226 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6461746 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |