JP6442271B2 - 化合物、熱硬化性樹脂組成物、及び熱硬化性シート - Google Patents

化合物、熱硬化性樹脂組成物、及び熱硬化性シート Download PDF

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本発明は、熱硬化性樹脂組成物、及び熱硬化性シート、並びにそれらに使用可能な新規化合物に関する。
近年、電子部品あるいは電子基板材料のコストダウン化が顕著であり、そのためにより安価な樹脂を材料とした部材設計が進められている。必然的に部材の耐熱性は劣るようになり、より低温で硬化する部品接合剤の要求が高まっている。また、プロセスタクトタイムの短縮要求も強く、より短時間での硬化も同時に求められている。
エポキシ樹脂系の熱硬化を低温で行う技術として、カチオン重合を用いることは広く知られている。
カチオン硬化剤として、スルホニウム塩は、その使い勝手の良さから多くの化合物が報告されている(例えば、特許文献1から4参照)。また、各社から様々なスルホニウム塩の製品が硬化剤として市販されている。
しかしながら、熱硬化性樹脂組成物にこれらスルホニウム塩を含有させても、低温硬化性と、保存安定性との両方を十分満足できるものは得られていなかった。
したがって、低温かつ短時間で硬化が可能で、かつ保存安定性に優れた熱硬化性樹脂組成物、及び熱硬化性シートの提供が求められているのが現状である。
特開2014−131997号公報 特開2012−153642号公報 特開2007−8919号公報 特開2007−45986号公報
本発明は、従来における前記諸問題を解決し、以下の目的を達成することを課題とする。即ち、本発明は、低温かつ短時間で硬化でき、かつ保存安定性に優れた熱硬化性樹脂組成物、及び熱硬化性シート、並びにそれらに使用可能でカチオン系硬化剤として有用な新規化合物を提供することを目的とする。
前記課題を解決するための手段としては、以下の通りである。即ち、
<1> カチオン硬化成分と、下記一般式(1)で表されるスルホニウム塩とを含有することを特徴とする熱硬化性樹脂組成物である。
ただし、前記一般式(1)中、Rは、炭素数1〜4のアルキル基を表す。Rは、芳香族環の水素原子が炭素数1〜4のアルキル基で置換されてもよい、ベンジル基、α−ナフチルメチル基、及びシンナミル基のいずれかを表す。Rは、水素原子、及び炭素数1〜4のアルキル基のいずれかを表す。Rは、有機基を表す。Yは、B(C 、SbF 、AsF 、PF 、BF 、BF 、PF(C 、CNO 、(CSO、及びC(CFSO のいずれかを表す。
<2> 前記Yが、B(C である前記<1>に記載の熱硬化性樹脂組成物である。
<3> 前記一般式(1)で表されるスルホニウム塩が、下記一般式(2)で表されるピナコリル基を有するスルホニウム塩である前記<1>から<2>のいずれかに記載の熱硬化性樹脂組成物である。
ただし、前記一般式(2)中、Rは、炭素数1〜4のアルキル基を表す。Rは、芳香族環の水素原子が炭素数1〜4のアルキル基で置換されてもよい、ベンジル基、α−ナフチルメチル基、及びシンナミル基のいずれかを表す。Rは、水素原子、及び炭素数1〜4のアルキル基のいずれかを表す。Yは、B(C 、SbF 、AsF 、PF 、BF 、BF 、PF(C 、CNO 、(CSO、及びC(CFSO のいずれかを表す。
<4> 前記Rが、ベンジル基、o−メチルベンジル基、α−ナフチルメチル基、及びシンナミル基のいずれかである前記<1>から<3>のいずれかに記載の熱硬化性樹脂組成物である。
<5> 前記<1>から<4>のいずれかに記載の熱硬化性樹脂組成物を含有することを特徴とする熱硬化性シートである。
<6> 下記一般式(1)で表されることを特徴とする化合物である。
ただし、前記一般式(1)中、Rは、炭素数1〜4のアルキル基を表す。Rは、芳香族環の水素原子が炭素数1〜4のアルキル基で置換されてもよい、ベンジル基、α−ナフチルメチル基、及びシンナミル基のいずれかを表す。Rは、水素原子、及び炭素数1〜4のアルキル基のいずれかを表す。Rは、有機基を表す。Yは、B(C 、SbF 、AsF 、PF 、BF 、BF 、PF(C 、CNO 、(CSO、及びC(CFSO のいずれかを表す。
<7> 前記Yが、B(C である前記<6>に記載の化合物である。
<8> 前記一般式(1)で表されるスルホニウム塩が、下記一般式(2)で表されるピナコリル基を有するスルホニウム塩である前記<6>から<7>のいずれかに記載の化合物である。
ただし、前記一般式(2)中、Rは、炭素数1〜4のアルキル基を表す。Rは、芳香族環の水素原子が炭素数1〜4のアルキル基で置換されてもよい、ベンジル基、α−ナフチルメチル基、及びシンナミル基のいずれかを表す。Rは、水素原子、及び炭素数1〜4のアルキル基のいずれかを表す。Yは、B(C 、SbF 、AsF 、PF 、BF 、BF 、PF(C 、CNO 、(CSO、及びC(CFSO のいずれかを表す。
<9> 前記Rが、ベンジル基、o−メチルベンジル基、α−ナフチルメチル基、及びシンナミル基のいずれかである前記<6>から<8>のいずれかに記載の化合物である。
<10> 前記<6>から<9>のいずれかに記載の化合物からなることを特徴とするカチオン系硬化剤である。
本発明によれば、従来における前記諸問題を解決し、前記目的を達成することができ、低温かつ短時間で硬化でき、かつ保存安定性に優れた熱硬化性樹脂組成物、及び熱硬化性シート、並びにそれらに使用可能でカチオン系硬化剤として有用な新規化合物を提供することができる。
(熱硬化性樹脂組成物)
本発明の熱硬化性樹脂組成物は、カチオン硬化成分と、特定の構造のスルホニウム塩とを少なくとも含有し、好ましくは膜形成樹脂を含有し、更に必要に応じて、その他の成分を含有する。
上記要件を満たす、本発明の熱硬化性樹脂組成物は、低温短時間硬化性及び保存安定性の両方に優れたものとなる。
スルホニウム塩を硬化剤として含有させた熱硬化性樹脂組成物において、低温短時間硬化性、及び保存安定性のいずれにも良好な結果を示すものが望まれていた。
そこで、本発明者らは、研究を重ねた結果、下記一般式(1)で表されるスルホニウム塩を硬化剤として用いたところ、該硬化剤を含有した熱硬化樹脂組成物は、低温短時間硬化性、及び保存安定性のいずれにも優れたものとなることを見出した。
<カチオン硬化成分>
前記カチオン硬化成分としては、カチオン系硬化剤としての特定のスルホニウム塩の作用により硬化する成分であれば、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、エポキシ化合物、ビニルエーテル化合物、オキセタン化合物、及び環状エーテル化合物などが挙げられる。これらは、1種単独で使用してもよいし、2種以上を併用してもよい。
前記エポキシ化合物としては、例えば、ビスフェノール型エポキシ樹脂、ポリグリシジルエーテル、ポリグリシジルエステル、芳香族エポキシ化合物、脂環式エポキシ化合物、ノボラック型エポキシ化合物、グリシジルアミン系エポキシ化合物、グリシジルエステル系エポキシ化合物、ビフェニルジグリシジルエーテル、トリグリシジルイソシアヌレート、ポリグリシジルメタクリレート、グリシジルメタクリレートと前記グリシジルメタクリレートと共重合可能なビニル単量体との共重合体などが挙げられる。
前記脂環式エポキシ化合物としては、例えば、シクロヘキセンオキシド含有化合物、シクロペンテンオキシド含有化合物などが挙げられる。
前記ビニルエーテル化合物としては、例えば、アルキルビニルエーテル化合物、アルケニルビニルエーテル化合物、アルキニルビニルエーテル化合物、アリールビニルエーテル化合物などが挙げられる。
前記オキセタン化合物としては、オキセタンアルコール、脂肪族オキセタン化合物、芳香族オキセタン化合物などが挙げられる。
前記熱硬化性樹脂組成物における前記カチオン硬化成分の含有量としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、前記熱硬化性樹脂組成物の不揮発分に対して、10質量%〜98質量%が好ましく、20質量%〜90質量%がより好ましい。
<一般式(1)で表されるスルホニウム塩>
本発明では、カチオン系硬化剤として、下記一般式(1)で表されるスルホニウム塩を含有する。
ただし、前記一般式(1)中、Rは、炭素数1〜4のアルキル基を表す。Rは、芳香族環の水素原子が炭素数1〜4のアルキル基で置換されてもよい、ベンジル基、α−ナフチルメチル基、及びシンナミル基のいずれかを表す。Rは、水素原子、及び炭素数1〜4のアルキル基のいずれかを表す。Rは、有機基を表す。Yは、B(C 、SbF 、AsF 、PF 、BF 、BF 、PF(C 、CNO 、(CSO、及びC(CFSO のいずれかを表す。
前記R、R及びRにおける炭素数1〜4のアルキル基としては、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、イソブチル基等が挙げられる。
前記Rとしては、ベンジル基、o−メチルベンジル基、α−ナフチルメチル基、及びシンナミル基のいずれかであると好ましい。
前記Rとしては、環状構造を有していても、非環状構造であってもよく、具体的には、例えば、アルキル基、フェニル基、ベンジル基等が挙げられる。
特に本発明では、前記一般式(1)で表されるスルホニウム塩において、前記Rが、tert−ブチル基であり、下記一般式(2)で表されるピナコリル基を有するスルホニウム塩であるとより好ましい。
ただし、前記一般式(2)中、Rは、炭素数1〜4のアルキル基を表す。Rは、芳香族環の水素原子が炭素数1〜4のアルキル基で置換されてもよい、ベンジル基、α−ナフチルメチル基、及びシンナミル基のいずれかを表す。Rは、水素原子、及び炭素数1〜4のアルキル基のいずれかを表す。Yは、B(C 、SbF 、AsF 、PF 、BF 、BF 、PF(C 、CNO 、(CSO、及びC(CFSO のいずれかを表す。
前記一般式(1)で表されるスルホニウム塩のカチオン部の具体的な構造としては、例えば、以下の構造が挙げられる。
前記一般式(1)におけるYは、アニオンであり、具体的には、B(C 、SbF 、AsF 、PF 、BF 、BF 、PF(C 、CNO 、(CSO、及びC(CFSO のいずれかが挙げられる。
この中で、より低温硬化性が得られ、フッ素イオンなどの不純物イオンの発生を抑制できる点で、B(C が好ましい。
前記熱硬化性樹脂組成物における前記一般式(1)で表されるスルホニウム塩の含有量としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、前記熱硬化性樹脂組成物の不揮発分に対して、0.5質量%〜20質量%が好ましく、2質量%〜15質量%がより好ましい。
<膜形成樹脂>
前記膜形成樹脂としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、ポリアクリル樹脂、フェノキシ樹脂、ポリエステル樹脂、ポリウレタン樹脂、ポリエステルウレタン樹脂、ポリビニルブチラール樹脂、ポリビニルホルマール樹脂、ポリアミド樹脂、ポリイミド樹脂などが挙げられる。これらは、1種単独で使用してもよいし、2種以上を併用してもよい。これらの中でも、製膜性、加工性の点からフェノキシ樹脂が特に好ましい。
前記フェノキシ樹脂としては、例えば、2官能フェノール類とエピクロルヒドリンとを反応させ高分子量化したもの、あるいは2官能エポキシ樹脂と2官能フェノール類とを重付加することにより得られる樹脂などが挙げられる。
使用される2官能エポキシ樹脂としては、例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールAD型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、ビフェニルジグリシジルエーテル、メチル置換ビフェニルジグリシジルエーテルなどが挙げられる。
また、2官能フェノール類としては、例えば、ハイドロキノン類、ビスフェノールA、ビスフェノールF、ビスフェノールAD、ビスフェノールS、ビスフェノールフルオレン、メチル置換ビスフェノールフルオレン、ジヒドロキシビフェニル、メチル置換ジヒドロキシビフェニル等のビスフェノール類などが挙げられる。
前記熱硬化性樹脂組成物における前記膜形成樹脂の含有量としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、前記熱硬化性樹脂組成物の不揮発分に対して、10質量%〜90質量%が好ましく、20質量%〜80質量%がより好ましく、30質量%〜60質量%が特に好ましい。
<その他の成分>
前記その他の成分としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、チキソトロピー剤、充填剤、レベリング剤、酸化防止剤、着色剤、導電性付与剤、接着付与剤などが挙げられる。
(熱硬化性シート)
本発明の前記熱硬化性シートは、本発明の前記熱硬化性樹脂組成物を含有し、更に必要に応じて、その他の成分を含有する。
前記熱硬化性シートは、例えば、基材フィルム(剥離基材)上に前記熱硬化性樹脂組成物からなる熱硬化性接着層が形成されてなるものである。前記基材フィルムとしては、例えば、ポリエチレンテレフタレートフィルム、ポリイミドフィルムなどが挙げられる。
前記熱硬化性シートは、保管性、使用時のハンドリング性などの観点から、ポリエチレンテレフタレートフィルム、ポリイミドフィルム等に必要に応じてシリコーン等で剥離処理した基材フィルムに、前記熱硬化性樹脂組成物からなる熱硬化性接着層が5μm〜50μmの平均厚みで形成されていることが好ましい。
前記熱硬化性樹脂組成物、及び前記熱硬化性シートは、電子部品分野に好ましく適用できる。特に、前記熱硬化性シートは、フレキシブルプリント配線板の端子部等と、その裏打ちするためのポリエチレンテレフタレート、ポリイミド、ガラスエポキシ、ステンレス、アルミニウム等の厚み50μm〜2mmの補強用シートとを接着固定するために好ましく適用でき、その適用により、フレキシブルプリント配線板の端子部と補強用シートとが、本発明の熱硬化性シートの基材フィルムを除いた熱硬化性接着層の熱硬化物で接着固定されてなる補強フレキシブルプリント配線板が得られる。
熱硬化性シートを接着シートとして使用する場合、組成中には熱可塑性樹脂が含有されていることが好ましい。使用される熱可塑性樹脂としては、前記<膜形成樹脂>の欄でも記載のポリアクリル樹脂、フェノキシ樹脂、ポリエステル樹脂、ポリウレタン樹脂、ポリエステルウレタン樹脂、ポリビニルブチラール樹脂、ポリビニルホルマール樹脂、ポリアミド樹脂、ポリイミド樹脂、及びエポキシ樹脂等が挙げられる。この中でも、上述したように成膜性、相溶性、耐熱性の観点でフェノキシ樹脂が含有されていることが好ましい。
金属を接着する接着シートとして使用される場合、組成中にシランカップリング剤を含有することが好ましい。シランカップリング剤の種類としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えばエポキシ系シランカップリング剤、アクリル系シランカップリング剤、チオール系シランカップリング剤、アミン系シランカップリング剤などが挙げられる。
導電性を付与する接着シートとして使用される場合、組成中に導電性粒子を含有することが好ましい。導電粒子の種類は、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば金、銀、銅、スズ、ニッケル等の金属粒子、金属酸化物あるいはシリカ等の無機粒子に金属メッキあるいは蒸着等により金属を被覆した粒子、樹脂粒子に金属メッキあるいは蒸着等により金属を被覆した粒子などが挙げられる。粒子の形状も特に制限はなく、球状、針状、不定形、細かい突起を有する形状等が挙げられる。
(化合物)
本発明の化合物は、下記一般式(1)で表される。前記化合物は、低温短時間でカチオン硬化する熱硬化性樹脂組成物の保存安定性を向上させるカチオン系硬化剤として有用である。
ただし、前記一般式(1)中、Rは、炭素数1〜4のアルキル基を表す。Rは、芳香族環の水素原子が炭素数1〜4のアルキル基で置換されてもよい、ベンジル基、α−ナフチルメチル基、及びシンナミル基のいずれかを表す。Rは、水素原子、及び炭素数1〜4のアルキル基のいずれかを表す。Rは、有機基を表す。Yは、B(C 、SbF 、AsF 、PF 、BF 、BF 、PF(C 、CNO 、(CSO、及びC(CFSO のいずれかを表す。
前記R、R及びRにおける炭素数1〜4のアルキル基としては、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、イソブチル基等が挙げられる。
前記Rとしては、ベンジル基、o−メチルベンジル基、α−ナフチルメチル基、及びシンナミル基のいずれかであると好ましい。
前記Rとしては、環状構造を有していても、非環状構造であってもよく、具体的には、例えば、アルキル基、フェニル基、ベンジル基等が挙げられる。
特に本発明では、前記一般式(1)で表されるスルホニウム塩において、前記Rが、tert−ブチル基であり、下記一般式(2)で表されるピナコリル基を有するスルホニウム塩であるとより好ましい。
ただし、前記一般式(2)中、Rは、炭素数1〜4のアルキル基を表す。Rは、芳香族環の水素原子が炭素数1〜4のアルキル基で置換されてもよい、ベンジル基、α−ナフチルメチル基、及びシンナミル基のいずれかを表す。Rは、水素原子、及び炭素数1〜4のアルキル基のいずれかを表す。Yは、B(C 、SbF 、AsF 、PF 、BF 、BF 、PF(C 、CNO 、(CSO、及びC(CFSO のいずれかを表す。
前記一般式(1)で表されるスルホニウム塩のカチオン部の具体的な構造としては、例えば、以下の構造が挙げられる。
前記一般式(1)におけるYは、アニオンであり、具体的には、B(C 、SbF 、AsF 、PF 、BF 、BF 、PF(C 、CNO 、(CSO、及びC(CFSO のいずれかが挙げられる。
この中で、より低温硬化性が得られ、フッ素イオンなどの不純物イオンの発生を抑制できる点で、B(C が好ましい。
以下、本発明の実施例を説明するが、本発明は、これらの実施例に何ら限定されるものではない。
(実施例1〜4の原料の合成)
<3,3−ジメチル−1−[4−(メチルスルファニル)フェノキシ]ブタン−2−オンの合成>
4−メチルチオフェノール6g(42.8mmol)とアセトニトリル20mL、炭酸カリウム7.09g(51.4mmol)を入れた100mL三口フラスコを70℃で30分間、攪拌し、そこへ1−クロロピナコリン6.91gを滴下した。70℃で6時間、攪拌し、塩を除去後、水洗、抽出を行い、溶媒を留去することで目的生成物を9.12g(収率89%)得た。
(実施例1)
<スルホニウム塩(1)の合成>
−スルホニウム−p−トルエンスルホン酸塩の合成−
上記で合成した3,3−ジメチル−1−[4−(メチルスルファニル)フェノキシ]ブタン−2−オン2.00g(8.39mmol)に対し、p−トルエンスルホン酸銀2.34g(8.39mmol)をアセトニトリル10gに溶解し、そこにベンジルブロミド1.72g(10.07mmol)を加え、室温で24時間攪拌した。
析出した銀塩をろ過で取り除き、溶剤留去することで固体が得られた。その固体をアセトンで洗浄することで、目的とするスルホニウム塩の前駆体である、下記構造式(p−1)で表されるp−トルエンスルホン酸塩を2.56g(収率61%)得た。
−スルホニウム塩(1)の合成−
上記で合成したp−トルエンスルホン酸塩1g(1.99mmol)に水20gを加え、室温でテトラキス(ペンタフルオロフェニル)ほう酸ナトリウム塩の3%水溶液47g(1.99mmol)を滴下し、2時間塩交換反応を行なった。反応後、析出した固体をろ過することで、下記構造式(1)で表されるスルホニウム塩を1.60g(収率80%)得た。
新規化合物である実施例1のスルホニウム塩(1)について、質量分析(MS)(測定機器:AQUITY UPLCシステム SQ Detector、waters社製)、H−NMR分析(測定機器:MERCURY300、VARIAN社製)、FT−IR分析(測定機器:フーリエ変換赤外分光光度計 FT−IR−460PLUS、日本分光株式会社製)を行った。以下に結果を示す。得られた結果から、目的化合物が得られていることが確認できた。
<<MS分析結果>>
=329(スルホニウム残基)
=679(ボレート残基)
<<H−NMR分析結果(CHOH、δ;ppm)>>
1.2(9H、(e))、3.2(3H、(d))、4.7〜4.9(2H、(c))、5.2(2H、(b))、7.1〜7.7(9H、(a))
−プロトン帰属−
<<FT−IR分析結果(cm−1)>>
659(C−S)、754、971、1079、1265(Ar−F)、1367、1454、1511、1589、1641、1716(C=O)、2912(C−H)、2956(C−H)
(実施例2)
<スルホニウム塩(2)の合成>
上記で合成した3,3−ジメチル−1−[4−(メチルスルファニル)フェノキシ]ブタン−2−オン2.00g(8.39mmol)に対し、p−トルエンスルホン酸銀2.34g(8.39mmol)をアセトニトリル10gに溶解し、そこにα−クロロキシレン1.18g(8.39mmol)とヨウ化ナトリウム1.18g(7.9mmol)をアセトン中で3時間、攪拌し、析出物をろ過で取り除いた液体を加え、室温で24時間、攪拌した。
析出した銀塩をろ過で取り除き、溶剤留去することで液体が得られた。その液体に酢酸エチル50mL、水100mLを加え、有機層を除去した。水層にテトラキス(ペンタフルオロフェニル)ほう酸ナトリウム塩の3%水溶液180g(7.9mmol)を滴下し、室温で2時間、塩交換反応を行った。
反応後酢酸エチル50mLを加え、有機層を分取し、無水硫酸ナトリウムで脱水した。得られた有機層から減圧下で溶媒を除き、乾燥することで、目的とする、下記構造式(2)で表されるスルホニウム塩を1.1g(収率14%)得た。
新規化合物である実施例2のスルホニウム塩(2)について、実施例1と同様にして、MS分析、H−NMR分析、FT−IR分析を行った。以下に結果を示す。得られた結果から、目的化合物が得られていることが確認できた。
<<MS分析結果>>
=343(スルホニウム残基)
=679(ボレート残基)
<<H−NMR分析結果(CHOH、δ;ppm)>>
1.2(9H、(f))、2.2(3H、(e))、3.3(3H、(d))、4.8(2H、(c))、5.2(2H、(b))、7.1〜7.8(8H、(a))
−プロトン帰属−
<<FT−IR分析結果(cm−1)>>
659(C−S)、755、970、1079、1265(Ar−F)、1369、1452、1511、1587、1643、1710(C=O)、2923(C−H)、2960(C−H)
(実施例3)
<スルホニウム塩(3)の合成>
上記で合成した3,3−ジメチル−1−[4−(メチルスルファニル)フェノキシ]ブタン−2−オン2.00g(8.39mmol)に対し、p−トルエンスルホン酸銀2.58g(9.2mmol)をアセトニトリル10gに溶解し、そこに1−(ブロモ−メチル)ナフタレン2.41g(10.9mmol)を加え、室温で24時間、攪拌した。
析出した銀塩をろ過で取り除き、溶剤留去することで液体が得られた。得られたp−トルエンスルホン酸塩に水500mLを加え、水層を分取し、そこへテトラキス(ペンタフルオロフェニル)ほう酸ナトリウム塩の3%水溶液300g(8.39mmol)を滴下し、析出物をろ過することで、目的とする、下記構造式(3)で表されるスルホニウム塩を2.31g(収率30%)得た。
新規化合物である実施例3のスルホニウム塩(3)について、実施例1と同様にして、MS分析、H−NMR分析、FT−IR分析を行った。以下に結果を示す。得られた結果から、目的化合物が得られていることが確認できた。
<<MS分析結果>>
=379(スルホニウム残基)
=679(ボレート残基)
<<H−NMR分析結果(CHOH、δ;ppm)>>
1.2(9H、(e))、3.3(3H、(d))、5.1(2H、(c))、5.1〜5.5(2H、(b))、7.0〜8.1(11H、(a))
−プロトン帰属−
<<FT−IR分析結果(cm−1)>>
659(C−S)、755、973、1079、1263(Ar−F)、1365、1457、1509、1575、1639、1710(C=O)、2908(C−H)、2954(C−H)
(実施例4)
<スルホニウム塩(4)の合成>
実施例1において、ベンジルブロミド1.72g(10.07mmol)に変えて、1−(3−ブロモ−1−プロペン−1−イル)−ベンゼン1.65g(8.39mmol)を用いた他は、実施例1と同様にして、目的とする、下記構造式(1)で表されるスルホニウム塩を1.82g(収率82%)得た。
新規化合物である実施例4のスルホニウム塩(4)について、実施例1と同様にして、MS分析、H−NMR分析、FT−IR分析を行った。以下に結果を示す。得られた結果から、目的化合物が得られていることが確認できた。
<<MS分析結果>>
=355(スルホニウム残基)
=679(ボレート残基)
<<H−NMR分析結果(CHOH、δ;ppm)>>
1.2(9H、(e))、3.27(3H、(d))、4.4(2H、(f))、5.2(2H、(c))、6.15(1H、(b))、6.6(1H、(b))、7.1〜7.8(9H、(a))
−プロトン帰属−
<<FT−IR分析結果(cm−1)>>
659(C−S)、754、973、1079、1267(Ar−F)、1367、1457、1511、1589、1641、1716(C=O)、2908(C−H)、2952(C−H)
(比較化合物1)
比較化合物1として下記構造式(5)で表されるスルホニウム塩を合成した。該スルホニウム塩のカチオン部は、特開2014−131997号公報を参考にして合成した。
(比較化合物2)
比較化合物2として下記構造式(6)で表されるスルホニウム塩を合成した。該スルホニウム塩のカチオン部は、特開2014−131997号公報を参考にして合成した。
(比較化合物3)
比較化合物3として下記構造式(7)で表されるスルホニウム塩を合成した。該スルホニウム塩のカチオン部は、実施例1の合成において、3、3-ジメチル-1-[4-(メチルスルファニル)フェノキシ]ブタン-2−オンに換えて4−メトキシチオアニソールに変更し、合成した。
(比較化合物4)
比較化合物4として下記構造式(8)で表されるスルホニウム塩を合成した。該スルホニウム塩のカチオン部は、特開2012−153642号公報を参考にして合成した。
(比較化合物5)
比較化合物5として下記構造式(9)で表されるスルホニウム塩を合成した。該スルホニウム塩のカチオン部は、特開2007−8919号公報を参考にして合成した。
(実施例5〜8、及び比較例1〜5)
下記表1に示す配合にしたがって熱硬化性樹脂組成物を作製した。
作製した熱硬化性樹脂組成物をフィルム上に塗布し、60℃に設定された熱風循環オーブン中で5分間乾燥することにより、平均厚み10μmの熱硬化性シートを作製した。

表1における数値は、溶剤分を除いた配合量であり、単位は、質量部である。
なお、表1における各材料は、以下のとおりである。
YP−70:新日鐵住金化学株式会社製、ビスフェノールA/ビスフェノールF共重合型フェノキシ樹脂
YL980:三菱化学株式会社製、ビスフェノールAタイプエポキシ樹脂
なお、配合する際、YP−70、及び各種スルホニウム塩は、メチルエチルケトン(MEK)の45質量%固形分溶液を用いた。
(実施例5〜8及び比較例1〜5の熱硬化性シートの低温短時間硬化性及び保存安定性評価)
作製した実施例5〜8及び比較例1〜5の熱硬化性シート(平均厚み10μm)の低温短時間硬化性及び保存安定性を、エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社製の示差走査熱量測定装置DSC6200を用いて評価した。
−測定条件−
昇温速度 10℃/min
ガス 100mL/min
サンプル重量 約10mg
−評価−
塗布後のDSCピーク温度を測定することにより、低温硬化性を評価した。また、塗布後と、室温で一週間保管後におけるDSC測定から発熱量を求め、かかる発熱量変化から減少率を算出することで、保存安定性を評価した。
示差走査熱量測定による発熱挙動はエポキシ樹脂の硬化反応挙動を反映していることが当業界ではよく知られている。よって、ヒーター板による加熱前後の発熱量の比率は熱硬化性シート中のエポキシ樹脂の反応率を反映していると言える。
実用的な観点から、低温硬化性の評価基準として、DSCのピーク温度が、90℃未満を◎、90℃以上120℃未満を○、120℃以上130℃未満を△、130℃以上を×とした。
また、保存安定性の評価基準として、発熱量の減少率が、7%未満を◎、7%以上13%未満を○、13%以上20%未満を△、20%以上を×とした。
評価結果を表2に示す。
表2の結果より、本発明の一般式(1)で表される特定の構造を有するスルホニウム塩を含有した実施例5〜8の熱硬化性樹脂組成物及び熱硬化性シートは、低温短時間硬化性、及び保存安定性に優れていることが確認できた。
本発明の一般式(1)で表される特定の構造を有するスルホニウム塩は、熱硬化性樹脂組成物及び熱硬化性シートの低温硬化性、及び保存安定性の両立を図るうえで、有効な硬化剤として使用し得る。
尚、実施例5から8において、低温硬化性の結果は、実施例8が最もよく、次に、実施例7、実施例6、実施例5の順番であった。スルホニウム基上の電子密度が高いと、低温硬化性が良好な結果を示すようである。一方、保存安定性の結果は、実施例5が最もよく、次に実施例6、実施例7、実施例8の順番であった。これらの結果から、実施例のスルホニウム塩の中でも、低温硬化性、及び保存安定性のバランスがとれている、実施例2及び3のスルホニウム塩がより好ましく、実施例3のスルホニウム塩が特に好ましい。
本発明の熱硬化性樹脂組成物は、低温短時間硬化が可能で、かつ保存安定性に優れているため、電子部品を接合する接着剤として、好適に用いることができる。

Claims (8)

  1. カチオン硬化成分と、下記一般式()で表されるスルホニウム塩とを含有することを特徴とする熱硬化性樹脂組成物。
    ただし、前記一般式()中、Rは、炭素数1〜4のアルキル基を表す。Rは、芳香族環の水素原子が炭素数1〜4のアルキル基で置換されてもよい、ベンジル基、α−ナフチルメチル基、及びシンナミル基のいずれかを表す。Rは、水素原子、及び炭素数1〜4のアルキル基のいずれかを表す。Y は、B(C 、SbF 、AsF 、PF 、BF 、BF 、PF(C 、CNO 、(CSO、及びC(CFSO のいずれかを表す。
  2. 前記Yが、B(C である請求項1に記載の熱硬化性樹脂組成物。
  3. 前記R が、ベンジル基、o−メチルベンジル基、α−ナフチルメチル基、及びシンナミル基のいずれかである請求項1から2のいずれかに記載の熱硬化性樹脂組成物。
  4. 請求項1から3のいずれかに記載の熱硬化性樹脂組成物を含有することを特徴とする熱硬化性シート。
  5. 下記一般式(2)で表されることを特徴とする化合物。
    ただし、前記一般式(2)中、R は、炭素数1〜4のアルキル基を表す。R は、芳香族環の水素原子が炭素数1〜4のアルキル基で置換されてもよい、ベンジル基、α−ナフチルメチル基、及びシンナミル基のいずれかを表す。R は、水素原子、及び炭素数1〜4のアルキル基のいずれかを表す。Y は、B(C 、SbF 、AsF 、PF 、BF 、BF 、PF (C 、C NO 、(C SO 、及びC(CF SO のいずれかを表す。
  6. 前記Y が、B(C である請求項5に記載の化合物。
  7. 前記R が、ベンジル基、o−メチルベンジル基、α−ナフチルメチル基、及びシンナミル基のいずれかである請求項5から6のいずれかに記載の化合物。
  8. 請求項5から7のいずれかに記載の化合物からなることを特徴とするカチオン系硬化剤。
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