JP6432262B2 - 光束測定装置及び光束測定方法 - Google Patents
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Description
(実施の形態1)
(治具60)
(本体部10)
(開口孔14)
(傾斜角度)
(受光手段30)
(検出手段40)
(出力手段50)
(拡散板70)
(変形例)
(実施の形態2)
(実施の形態3)
10…本体部
12…半球面
14、14a、14b、14c…開口孔
15…第二開口孔
16…第三開口孔
30、30’…受光手段
31…光ファイバ
40…検出手段
50…出力手段
60…治具
62…保持平面
64…保持窪み
66…円柱状軸体
68…被覆部材
70…拡散板
800…光放射パターン測定装置
830a〜830e…受光部
814…開口孔
840…検出器
WK…測定対象物
Claims (9)
- 球帯係数法に基づき、測定対象物からの光束を測定するための光束測定装置であって、
測定対象物を保持平面上に保持するための治具と、
前記治具と接合され、該治具との接合面に、半球状に窪ませた半球面を形成しており、該半球面が形成する球の中心に、前記治具の保持平面上に保持された測定対象物を配置させるための本体部と、
前記本体部の半球面上であって、該半球面が形成する球の中心を通りかつ前記保持平面と直交する第一切断面と交差する第一円弧上に、該球の中心と前記半球面の中心とを通る軸線と所定の傾斜角度θをなす位置に開口された複数の開口孔に各々近接して配置され、該開口孔で検出された測定対象物の発光を受光するための受光手段と、
を備え、
各開口孔の開口面積が、傾斜角度θにおける球帯係数と対応するサイズに予め設定されてなることを特徴とする光束測定装置。 - 請求項1に記載の光束測定装置であって、
前記受光手段が、光ファイバであることを特徴とする光束測定装置。 - 請求項2に記載の光束測定装置であって、さらに、
前記開口孔に、拡散板を配置してなることを特徴とする光束測定装置。 - 請求項3に記載の光束測定装置であって、
前記光ファイバの端面を、前記拡散板から、該拡散板の面積及び該光ファイバの受光許容角度に応じた距離だけ離間させてなることを特徴とする光束測定装置。 - 請求項1〜4のいずれか一に記載の光束測定装置であって、
前記治具が、保持平面を鉛直とする姿勢に保持されており、
さらに前記複数の開口孔は、ここに配置される前記受光手段の検出面が水平面から鉛直下方側を向く姿勢に固定されるよう、開口されてなることを特徴とする光束測定装置。 - 請求項1〜5のいずれか一に記載の光束測定装置であって、
前記開口孔が、半球面の中心の垂直方向との傾斜角度θを、0°、35°、70°で設けられてなることを特徴とする光束測定装置。 - 請求項1〜6のいずれか一に記載の光束測定装置であって、
前記半球面が、表面を光吸収性の膜で被覆されてなることを特徴とする光束測定装置。 - 請求項1〜7のいずれか一に記載の光束測定装置であって、
測定対象物が発光ダイオードであることを特徴とする光束測定装置。 - 球帯係数法に基づき、測定対象物からの光束を測定するための光束測定方法であって、
測定対象物を治具で保持平面上に保持する工程と、
前記治具と接合された本体部の、半球状に窪ませた半球面の内、該半球面が形成する球の中心に、前記治具の保持平面上に保持された測定対象物を配置させ、該測定対象物を発光させ、
前記本体部の半球面上であって、該半球面が形成する球の中心を通りかつ前記保持平面と直交する第一切断面と交差する第一円弧上に、球の中心と前記半球面の中心を通る軸線と所定の傾斜角度θをなす位置に開口された複数の開口孔に各々近接して配置された受光手段でもって、該開口孔で検出された測定対象物の発光を受光させ、複数の開口孔は該傾斜角度θにおける球帯係数と対応するサイズに開口面積を設計され、
各受光手段で得られた光度を加算して光束を出力する工程と
を含むことを特徴とする光束測定方法。
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