JP6415271B2

JP6415271B2 - 液晶表示装置

Info

Publication number: JP6415271B2
Application number: JP2014238412A
Authority: JP
Inventors: 和範奥本
Original assignee: Mitsubishi Electric Corp
Current assignee: Mitsubishi Electric Corp
Priority date: 2014-11-26
Filing date: 2014-11-26
Publication date: 2018-10-31
Anticipated expiration: 2034-11-26
Also published as: US9875675B2; US20160148549A1; JP2016099580A

Description

本発明は液晶表示装置に関し、特に一括駆動点灯検査が可能な液晶表示装置に関する。

液晶表示装置が備える表示パネルの画素の点灯／非点灯によって、表示パネルの表示領域に設けられた半導体スイッチング素子のゲート信号線及びソース信号線の断線や画素の欠陥等を検査する手法が知られている。この検査手法の一つとして、検査用端子に検査針を接触させてから、複数のゲート信号線及びソース信号線への検査信号の入力を、それらと接続された複数の検査用半導体スイッチング素子によって一括制御することにより、複数のゲート信号線及びソース信号線を一括して検査する手法が知られている。

このような一括検査の手法によれば、複数のゲート信号線及びソース信号線の端子を個別にプローブする検査手法と異なり、表示パネルの解像度及び半導体チップの設計（例えばバンプ数など）の影響を検査装置が受けずに済むので、汎用的かつ安価な検査を実現することができる。

なお、上記検査手法では、従来、半導体チップが搭載される半導体チップ搭載領域に、上記複数の検査用半導体スイッチング素子などを含む点灯検査回路が設けられていた。しかしながら、半導体チップの小型化及び表示パネルの狭額縁化に伴い、半導体チップ搭載領域のサイズを小さくすることが必要になったことから、点灯検査回路を複数に分割して、それらを半導体チップ搭載領域以外の領域に設けられることが多い。

特開２０００−１８７４５１号公報

近年の表示パネルの大型化、高解像度化に伴って、表示面内における配線抵抗の分布が大きくなったため、前記一括制御による検査時において表示ムラが発生するという課題があった。表示パネルの大型化、高解像度化に伴う表示面内における配線抵抗の分布による表示ムラという課題に対して、配線長が異なる引き出し領域の配線の長さを均一化するように調整することで、配線抵抗を個別に調整するという手法が特許文献１で提案されている。表示部と半導体チップ部を電気的に接続する複数の配線に前記手法を適用することによって製品時の駆動（通常駆動）方法では効果が得られ、配線抵抗の分布による表示ムラを防止することができる。

しかし、一括駆動の検査回路の配線が、上記手法を適用した前記複数の配線とは異なる場合、通常駆動時における表示ムラが防止された表示パネルであっても、一括駆動時には配線抵抗の分布による表示ムラが発生するということが起こりえる。ここで両配線群の違いとして、前記複数の配線は互いに完全に独立した構成であり、かつ各配線間で抵抗差をもつのに対し、一括駆動の検査回路の配線は１本の共用配線から複数の配線が枝分かれをした構成であり、かつ前記枝分かれをした複数の配線は同程度の抵抗である点が挙げられる。すなわち、一括駆動の検査回路における配線抵抗の分布は前記共用配線部に起因するものであるため、特許文献１で提案されているような配線毎における個別調整による改善はできないという問題点があった。

本発明は、以上のような課題を解決するためになされたものであり、一括駆動制御による点灯検査時において表示ムラが発生することを抑制した液晶表示装置の提供を目的とする。

画像を表示する表示領域と、表示領域の周囲を囲む額縁領域と、を備える液晶表示装置であって、表示領域において並列して形成された複数のゲート配線と、複数のゲート配線と交差して表示領域において並列して形成された複数のソース配線と、額縁領域に設けられた一括駆動点灯検査端子と、額縁領域に設けられ、一括駆動点灯検査端子と複数のゲート配線およびソース配線とを電気的に接続する一括駆動点灯検査信号入力配線と、を備え、一括駆動点灯検査信号入力配線は、ゲート配線に対応する第１の配線と、ソース配線に対応する第２の配線と、を備え、第１の配線および第２の配線のそれぞれは、複数のゲート配線のそれぞれもしくは複数のソース配線のそれぞれに接続する分岐を有する接続用配線と、当該接続用配線から一括駆動点灯検査端子へと引き出される引き出し配線と、を備え、第１の配線に備わる引き出し配線は、当該引き出し配線に接続された接続用配線よりも単位経路長あたりの配線抵抗が高い高抵抗領域を備え、通常駆動時におけるゲート配線への駆動信号を発生するゲート配線駆動回路と、複数のゲート配線の第１の配線が接続される側とは反対側の端部とを電気的に接続する複数のゲート配線引き出し配線をさらに備え、高抵抗領域を加味した第１の配線の配線抵抗は、複数のゲート配線引き出し配線の配線抵抗の最小値よりも大きい。

一括駆動点灯検査信号入力配線において、分岐を有さない引き出し配線の単位経路長あたりの配線抵抗を、分岐を有する接続用配線の単位経路長あたりの配線抵抗よりも大きくする。この構成により、一括駆動点灯検査信号入力配線における配線抵抗の分布を小さくすることが可能である。よって、一括駆動点灯検査時において、画素の表示ムラを低減することが可能である。

実施の形態１に係る液晶表示装置の平面図である。実施の形態１に係る液晶表示装置の一括駆動点灯検査回路の部分拡大図である。実施の形態２に係る液晶表示装置の一括駆動点灯検査回路の部分拡大図である。実施の形態３に係る液晶表示装置の一括駆動点灯検査回路の部分拡大図である。実施の形態３の変形例に係る液晶表示装置の一括駆動点灯検査回路の部分拡大図である。実施の形態４に係る液晶表示装置の一括駆動点灯検査回路の部分拡大図である。実施の形態５に係る液晶表示装置の一括駆動点灯検査回路の部分拡大図である。

＜実施の形態１＞
図１は、本実施の形態１における液晶表示装置の構成を示す平面図である。また、図２は、本実施の形態１における液晶表示装置の一括駆動点灯検査回路１２の部分拡大図である。なお、図１に示される本実施の形態１における液晶表示装置の各構成要素の符号は、他の実施の形態に係る表示装置において同一または類似する構成要素についても付すものとする。

図１に示すように、点線で示された表示領域５０には画像の表示単位となる複数の画素が設けられる。各画素には、画素電極に表示電圧を供給するスイッチング素子である薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）が配置される。ＴＦＴを搭載した基板から構成される部材を、ＴＦＴアレイ基板７０と呼ぶ。ＴＦＴアレイ基板７０には、ＴＦＴが画素ごとにアレイ状に配列されている。

ＴＦＴアレイ基板７０の表示領域５０には、複数のゲート配線２（即ち走査信号線）が並列して形成されている。また、表示領域５０には、前記複数のゲート配線２と交差して複数のソース配線５（即ち表示信号線）が形成されている。隣接する一対のゲート配線２と、隣接する一対のソース配線５とで囲まれた領域のそれぞれが単位画素に対応する。従って、表示領域５０においては、画素がマトリクス状に配列されることとなる。

ＴＦＴアレイ基板７０と対向基板８０とは、間に液晶を封入してシールで貼り合わされる。また、それぞれのＴＦＴアレイ基板７０と対向基板８０の表示領域５０の周囲には、表示領域５０を囲んで額縁領域５５が配置される。そして、ＴＦＴアレイ基板７０の対向基板８０がない露出領域となる額縁領域５５には、ゲート配線駆動回路７１、ソース配線駆動回路７２およびフレキシブル基板７４が実装される。さらに、このＴＦＴアレイ基板７０の露出領域となる額縁領域５５には、複数の一括駆動点灯検査端子２０が配置されている。

ゲート配線駆動回路７１、ソース配線駆動回路７２はそれぞれゲートＩＣ入力用配線１８、ソースＩＣ入力用配線１９によりフレキシブル基板７４と電気的に接続される。ゲート配線駆動回路７１は、ゲート配線引き出し配線１４により表示領域５０のゲート配線２に電気的に接続される。ソース配線駆動回路７２は、ソース配線引き出し配線１５により表示領域５０のソース配線５に電気的に接続される。

図１に示すように、一括駆動点灯検査回路１２は、額縁領域５５において、ゲート配線駆動回路７１と反対側の領域に配置される。一括駆動点灯検査回路１２は、複数の一括駆動点灯検査端子２０、複数の一括駆動点灯検査信号入力配線２３，２４、複数の一括駆動点灯検査用薄膜トランジスタ２５（以下、一括駆動点灯検査用ＴＦＴ２５とも記載）を備える。一括駆動点灯検査信号入力配線２３は、一括駆動点灯検査端子２０と、複数のゲート配線２とを電気的に接続する。複数のゲート配線２と一括駆動点灯検査信号入力配線２３とは、一括駆動点灯検査用ＴＦＴ２５を介して接続される。また、一括駆動点灯検査信号入力配線２４は、一括駆動点灯検査端子２０と、複数のソース配線５とを電気的に接続する。複数のソース配線５と一括駆動点灯検査信号入力配線２４とは、一括駆動点灯検査用ＴＦＴ２５を介して接続される。

図１に示すように、ゲート配線２に対応する一括駆動点灯検査信号入力配線２３の配線長は、ソース配線５に対応する一括駆動点灯検査信号入力配線２４の配線長よりも短い。以下では、比較的短い一括駆動点灯検査信号入力配線２３を第１の配線とも呼ぶ。また、比較的長い一括駆動点灯検査信号入力配線２４を第２の配線とも呼ぶ。

ここで、表示パネルの大型化、高解像度化に伴う表示面内における配線抵抗の分布による表示ムラという課題がある。この課題に対して、配線長が異なる引き出し領域の配線の長さを均一化するように調整することで、配線抵抗を個別に調整するという手法が知られている。

表示ムラは表示領域５０のゲート配線駆動回路７１側に発生し、ソース配線方向についてはゲート配線駆動回路７１と表示領域５０のゲート配線２とを接続するゲート配線引き出し配線１４の抵抗分布に対応して、低抵抗なゲート配線引き出し配線１４の位置で視認されることが多い。すなわち、上記表示ムラは、ゲート信号の遅延のパネル内分布が発生要因であるため、ゲート配線引き出し配線１４の抵抗差を小さくすることが対策となる。

従って、ゲート配線引き出し配線１４に前記手法を適用し、上記表示ムラが発生しない抵抗値となるようにゲート配線引き出し配線１４をレイアウトすれば、通常駆動時において上記表示ムラの発生を抑制することができる。このときのゲート配線引き出し配線１４の配線抵抗の最小値と最大値をそれぞれＲ１、Ｒ２とする。

しかし、一括駆動点灯検査回路１２の配線は、前記手法を適用した前記複数の配線とは異なるため、通常駆動時における表示ムラが抑制された表示パネルであっても、一括駆動点灯検査時には配線抵抗の分布による表示ムラが発生するということが起こりえる。

ここで、一括駆動時の表示ムラの発生位置は前述の通常駆動時に発生しうる発生位置とは異なり、一括駆動点灯検査端子２０に近い側の表示領域５０のコーナー部に出ることが多い。

従って、この場合もゲート配線引き出し配線１４と同様に、一括駆動点灯検査端子２０と表示領域５０のゲート配線２とを接続する配線（即ち、一括駆動点灯検査信号入力配線２３）のパネル面内での抵抗差を小さくすることが対策となると考えられる。

ここで、一括駆動点灯検査端子２０から表示領域５０にゲート信号を入力する一括駆動点灯検査信号入力配線２３（即ち第１の配線）は、接続用配線２３２と、引き出し配線２３１を備える。接続用配線２３２は、複数のゲート配線２のそれぞれに接続する分岐を有する。引き出し配線２３１は、接続用配線２３２から一括駆動点灯検査端子２０へと引き出される。ここで、第１の配線は、各ゲート配線２に対して、接続用配線２３２の各分岐と各ゲート配線２との間に設けられる枝分かれ配線により接続される。また、枝分かれ配線はその一部に一括駆動点灯検査用ＴＦＴ２５を含む。

同様に、一括駆動点灯検査端子２０から表示領域５０にソース信号を入力する一括駆動点灯検査信号入力配線２４（即ち第２の配線）は、接続用配線２４２と、引き出し配線２４１を備える。接続用配線２４２は、複数のソース配線５のそれぞれに接続する分岐を有する。引き出し配線２４１は、接続用配線２４２から一括駆動点灯検査端子２０へと引き出される。ここで、第２の配線は、各ソース配線５に対して、接続用配線２４２の各分岐と各ソース配線５との間に設けられる枝分かれ配線により接続される。また、枝分かれ配線はその一部に一括駆動点灯検査用ＴＦＴ２５を含む。

各枝分かれ配線間での抵抗差は小さいため、複数の枝分かれ配線は、パネル面内で抵抗の分布を持たない。すなわち、一括駆動点灯検査回路１２における配線抵抗がもつ分布は共用配線となっている一括駆動点灯検査信号入力配線２３に起因するものである。そのため、前述したゲート引き出し配線１４の抵抗値を変化させることによりゲート引き出し配線１４間の抵抗分布を軽減させる手法を枝分かれ配線に適用しても効果が無い。

そこで、本実施の形態では、一括駆動点灯検査信号入力配線２３（即ち第１の配線）を一括駆動点灯検査端子２０から最も近い枝分かれ配線までの領域（引き出し配線２３１）と、ソース配線５方向に表示領域５０の近傍に配設される領域（接続用配線２３２）で分けて配線抵抗の設計をすることで、一括駆動点灯検査回路１２における配線抵抗の分布を小さくする手法を提案する。

本実施の形態１では、一括駆動点灯検査信号入力配線２３（即ち第１の配線）において、引き出し配線２３１に備わる高抵抗領域２３１ａの抵抗率を、接続用配線２３２の抵抗率よりも大きくする。具体的には、図２に示すように、一括駆動点灯検査信号入力配線２３（即ち第１の配線）において、引き出し配線２３１に備わる高抵抗領域２３１ａの配線幅を、接続用配線２３２の配線幅よりも狭く設計する。また、本実施の形態１では、引き出し配線２３１の配線幅を引き出し配線２４１の配線幅よりも狭く設計する。第１の配線の配線抵抗がＲ１以上となるように引き出し配線２３１の配線幅を決定する。また、第１の配線の配線抵抗がＲ２以下となるように接続用配線２３２の配線幅を決定する。ここで、例えば第１の配線の配線抵抗とは、接続用配線２３２と引き出し配線２３１の配線経路の一端から他端までの経路における抵抗値を意味する。

図２に示すように、本実施の形態１では、高抵抗領域２３１ａにおいて、引き出し配線２３１の配線幅を狭くするために、引き出し配線２３１の一部にスリットを設ける。また、本実施の形態１において、引き出し配線２３１の配線幅は、引き出し配線２４１の配線幅よりも狭くなっていることを特徴とする。

引き出し配線２３１の配線幅を狭くすることによって、一括駆動点灯検査端子２０から表示領域５０にゲート信号を入力する一括駆動検査回路の配線抵抗の最小値をＲ１以上となるように調整することが出来る。

一方で、一括駆動点灯検査端子２０から表示領域５０にゲート信号を入力する一括駆動検査回路の配線抵抗の最大値も大きくなってしまうので、一括駆動点灯検査端子２０から表示領域５０にゲート信号を入力する一括駆動検査回路の配線抵抗の最大値をＲ２以下となるように調整するために、接続用配線２３２の配線幅を、引き出し配線２３１よりも広くする。

すなわち、引き出し配線２３１の配線幅を接続用配線２３２の配線幅よりも狭くすることによって、一括駆動点灯検査端子２０から表示領域５０にゲート信号を入力する一括駆動検査回路の配線（即ち第１の配線）の抵抗分布を所望の値以下に抑えることができる。これにより、一括駆動点灯検査時において画面の表示ムラを抑制することが可能となる。

また、引き出し配線２３１の細線化に伴って断線による歩留り低下が懸念されるが、本実施の形態１では、高抵抗領域２３１ａにおいてスリット構造の配線を採用する。これにより、高抵抗化の効果とともに、配線数の冗長化による歩留り低下の抑制の効果を得ることができる。

ソース配線５に対応する一括駆動点灯検査信号入力配線２４（即ち第２の配線）においては、複数の分岐を有する接続用配線２４２は、一括駆動点灯検査端子２０と表示領域５０を挟んで反対側に配置されている。よって、第２の配線の引き出し配線２４１の配線長は、第１の配線の引き出し配線２３１の配線長と比較して非常に長くなっている。このため、第２の配線の引き出し配線２４１の配線幅を、第１の配線の引き出し配線２３１の配線幅よりも広く設計することによって、第２の配線の引き出し配線２４１の配線抵抗を小さくすることができる。

＜効果＞
本実施の形態１における液晶表示装置は、画像を表示する表示領域５０と、表示領域５０の周囲を囲む額縁領域５５と、を備える液晶表示装置であって、表示領域５０において並列して形成された複数のゲート配線２と、複数のゲート配線２と交差して表示領域５０において並列して形成された複数のソース配線５と、額縁領域５５に設けられた一括駆動点灯検査端子２０と、額縁領域５５に設けられ、一括駆動点灯検査端子２０と複数のゲート配線２およびソース配線５とを電気的に接続する一括駆動点灯検査信号入力配線２３，２４と、を備え、一括駆動点灯検査信号入力配線２３，２４は、ゲート配線２に対応する第１の配線と、ソース配線５に対応する第２の配線と、を備え、第１の配線および第２の配線のそれぞれは、複数のゲート配線２のそれぞれもしくは複数のソース配線５のそれぞれに接続する分岐を有する接続用配線２３２，２４２と、接続用配線２３２，２４２から一括駆動点灯検査端子２０へと引き出される引き出し配線２３１，２４１と、を備え、第１の配線に備わる引き出し配線２３１または第２の配線に備わる引き出し配線２４１は、引き出し配線２３１，２４１に接続された接続用配線２３２，２４２の抵抗率よりも大きい抵抗率を有する高抵抗領域２３１ａを備える。

従って、ゲート配線２に対応する第１の配線（即ち、一括駆動点灯検査信号入力配線２３）において、分岐を有さない引き出し配線２３１に備わる高抵抗領域２３１ａの抵抗率を、分岐を有する接続用配線２３２の抵抗率よりも大きくする。この構成により、配線抵抗の分布が比較的大きいゲート側の一括駆動点灯検査回路１２における配線抵抗の分布を小さくすることが可能である。よって、一括駆動点灯検査時において、画素の表示ムラを低減することが可能である。

また、本実施の形態１における液晶表示装置において、引き出し配線２３１に備わる前記高抵抗領域２３１ａは、引き出し配線２３１に接続された接続用配線２３２よりも配線幅が狭い領域である。

また、本実施の形態１における液晶表示装置は、通常駆動時におけるゲート配線２への駆動信号を発生するゲート配線駆動回路７１と、複数のゲート配線２の第１の配線が接続される側とは反対側の端部とを電気的に接続する複数のゲート配線引き出し配線１４をさらに備え、第１の配線に備わる引き出し配線２３１は高抵抗領域２３１ａを備え、高抵抗領域２３１ａを加味した第１の配線の配線抵抗は、複数のゲート配線引き出し配線１４の配線抵抗の最小値Ｒ１よりも大きい。

従って、高抵抗領域２３１ａの抵抗値を調整することにより、第１の配線の配線抵抗を、ゲート引き出し配線１４の配線抵抗の最小値Ｒ１よりも大きくすることが可能である。また、配線抵抗の分布による表示ムラについては、スイッチングパルス信号を伝達するゲート側の配線抵抗の分布がムラとして視認され易い。更に、配線抵抗の局所的な分布が大きいとムラとして視認され易い。特に、抵抗の下限側では配線抵抗の絶対値に対する配線抵抗の分布による変化量が相対的に大きくなり局所的な分布も大きくなる。従って、配線抵抗の局所的な分布を少なくするためには、特に下限側での抵抗の絶対値、つまり、配線抵抗の下限値を大きく設定することが効果的である。また、本実施の形態１における液晶表示装置においては、通常駆動時における画像表示の際に表示ムラを生じることが無いように、同じくスイッチングパルス信号を伝達するゲート引き出し配線１４における配線抵抗の最小値Ｒ１は、表示ムラを生じることの無い下限値以上に適正に設計されている。従って、一括駆動点灯検査回路１２においても、当該表示ムラを生じないためのゲート側の配線抵抗の下限の目安として、この配線抵抗の最小値Ｒ１を用いることができる。以上のことから、本実施の形態１における液晶表示装置においては、ゲート配線２に対応する第１の配線の配線抵抗を、ゲート引き出し配線１４の配線抵抗の最小値Ｒ１よりも大きくしたことにより、最も視認され易いゲート側の抵抗値の局所的な分布を起因とする表示ムラが生ずることを確実に防止し、より効果的にムラを生じ難くすることができる。

また、本実施の形態１における液晶表示装置において、高抵抗領域２３１ａを加味した第１の配線の配線抵抗は、複数のゲート配線引き出し配線１４の配線抵抗の最大値Ｒ２よりも小さい。

従って、第１の配線に備わる接続用配線２３２の配線幅を広くすることにより、第１の配線の配線抵抗を、ゲート配線引き出し配線１４の配線抵抗の最大値Ｒ２よりも小さくすることが可能である。また、本実施の形態１における液晶表示装置においては、通常駆動時における画像表示の際に表示ムラを生じることが無いように、同じくスイッチングパルス信号を伝達するゲート引き出し配線１４における配線抵抗の最小値Ｒ１および最大値Ｒ２は表示ムラを生じることの無い抵抗分布の範囲内となるように適正に設計されている。従って、一括駆動点灯検査回路１２においても、当該表示ムラを生じないためのゲート側の配線抵抗の分布の上限と下限の目安として、この配線抵抗の最小値Ｒ１および最大値Ｒ２を用いることができる。従って、本実施の形態１における液晶表示装置においては、ゲート配線２に対応する第１の配線の配線抵抗を、ゲート引き出し配線１４の配線抵抗の最小値Ｒ１よりも大きく、更に、最大値Ｒ２よりも小さくしたことにより、視認され易いゲート側の抵抗値の分布を起因とする表示ムラが生ずることを確実に防止し、より効果的にムラを生じ難くすることができる。また、既に設計手法が確立され適正に範囲設定されている表示用のゲート引き出し配線１４の抵抗を表示ムラが生ずることを確実に防止するための目安として用いることで上記効果の得られる一括駆動点灯検査回路１２の設計を容易に行うことができる。

従って、例えば引き出し配線２３１と接続用配線２３２の配線の材質が同じであれば、引き出し配線２３１の配線幅を狭めることによって、引き出し配線２３１の配線抵抗を高め、引き出し配線２３１の配線抵抗を接続用配線２３２の配線抵抗よりも大きくすることが可能である。

また、本実施の形態１における液晶表示装置において、第１の配線に備わる引き出し配線２３１は高抵抗領域２３１ａを備え、第１の配線に備わる引き出し配線２３１の高抵抗領域２３１ａは、第２の配線に備わる引き出し配線２４１よりも配線幅が狭い領域である。

従って、比較的短い引き出し配線２３１の配線幅を、比較的長い引き出し配線２４１の配線幅よりも狭くすることによって、２つの引き出し配線２３１，２４１の配線抵抗の差異を小さくすることが可能である。よって、第１の配線と第２の配線との配線抵抗の差を小さくすることが可能である。

また、本実施の形態１における液晶表示装置において、引き出し配線２３１に備わる高抵抗領域２３１ａは、引き出し配線２３１にスリットが設けられた領域である。

従って、引き出し配線２３１にスリットを設けることにより、配線の細線化とともに配線数を増やして断線に対して信頼性を向上させることが可能である。

なお、図１に示すようにゲート配線２の近くに一括駆動点灯検査端子２０を設けると、第１の配線が第２の配線よりも短くなるため、第１の配線において、引き出し配線２３１の配線抵抗を接続用配線２３２の配線抵抗よりも大きくすることにより、特に効果的に第１の配線における配線抵抗の分布を小さくすることが可能である。

＜実施の形態２＞
図３は、本実施の形態２における液晶表示装置の一括駆動点灯検査回路１２の部分拡大図である。本実施の形態２は、図３に示す通り、実施の形態１（図２）に対して、一括駆動点灯検査信号入力配線２３（即ち第１の配線）の引き出し配線２３１において、配線がジグザグ形状の高抵抗領域２３１ｂをさらに設ける。

引き出し配線２３１の一部をジグザグ形状とすることによって、引き出し配線２３１の配線抵抗を高めて、配線抵抗の最小値がＲ１以上となるように調整することができる。

また、実施の形態１で述べた配線幅による抵抗値の調整においては、製造可能な配線幅に制限があるため高抵抗化の限界があった。一方、ジグザグ形状を利用した配線長の抵抗調整の場合、製造上の制限はなく、設置領域の許す限り高抵抗化に対応できる。よって、ジグザグ配線による抵抗値の調整は、配線幅による抵抗値の調整よりも調整範囲が広いことが特徴である。

本実施の形態２では、ジグザグ形状の配線は、ゲート配線２に対応した引き出し配線２３１のみに採用する。さらに、ソース配線５に対応した引き出し配線２４１の配線長が短くなるような位置に一括駆動点灯検査端子２０を配置することによって、一括駆動点灯検査端子２０から表示領域５０にゲート信号を入力する一括駆動検査回路の配線（即ち、第１の配線）の抵抗調整と、一括駆動点灯検査信号入力配線２４の引き出し配線２４１の低抵抗化を同時に実現することができる。

＜効果＞
本実施の形態２における液晶表示装置において、引き出し配線２３１に備わる高抵抗領域２３１ｂは、ジグザグ状の配線を含む。

従って、ジグザグ状の配線の長さを調整することにより、引き出し配線２３の配線抵抗を調整することが可能である。

＜実施の形態３＞
図４は、本実施の形態３における液晶表示装置の一括駆動点灯検査回路１２の部分拡大図である。本実施の形態３は、図４に示す通り、実施の形態１（図２）に対して、ゲート配線２に対応した第１の配線に備わる接続用配線２３２と引き出し配線２３１とを接続する高抵抗領域（即ち接続変換部２３１ｃ）をさらに設ける。接続変換部２３１ｃにおいて、接続用配線２３２と引き出し配線２３１とは、高抵抗の導電層（例えば、透明導電膜）で接続されている。

接続変換部２３１ｃにおいて、導電層の配線長を長くするために変換部間距離Ａを広げることによって、接続変換部２３１ｃの抵抗をより高めることが可能である。また、導電層の配線幅Ｂを狭めることによっても接続変換部２３１ｃの抵抗をより高めることが可能である。

本実施の形態３では、引き出し配線２３１の配線抵抗として、接続変換部２３１ｃのコンタクト抵抗および透明導電膜の抵抗が加わる。よって、一括駆動点灯検査端子２０から表示領域５０にゲート信号を入力する一括駆動検査回路の配線抵抗の最小値をＲ１以上となるように調整することが可能である。

本実施の形態３では、接続変換部２３１ｃは、ゲート配線２に対応した引き出し配線２３１側のみに採用する。さらに、ソース配線５に対応した引き出し配線２４１の配線長が短くなるような位置に一括駆動点灯検査端子２０を配置することによって、一括駆動点灯検査端子２０から表示領域５０にゲート信号を入力する一括駆動検査回路の配線（即ち、第１の配線）の抵抗調整と、一括駆動点灯検査信号入力配線２４の引き出し配線２４１の低抵抗化を同時に実現することができる。

＜効果＞
本実施の形態３における液晶表示装置において、引き出し配線２３１に備わる高抵抗領域は、引き出し配線２３１と、第１の配線または第２の配線に備わる接続用配線２３２，２４２とを接続する接続変換部２３１ｃである。

従って、接続変換部２３１ｃのコンタクト抵抗および接続変換部２３１ｃの導電膜の長さ、幅を調整することにより、接続変換部２３１ｃを備える引き出し配線２３１の配線抵抗を調整することが可能である。また、本実施の形態３において用いた接続変換部２３１ｃの特にコンタクト抵抗による抵抗調整手段は、低抵抗の配線そのものによる抵抗調整手段と比べ、比較的狭い設置領域内で広範囲に抵抗値を調整することができる。よって、狭い領域内に配置する必要があるという制約のある一括駆動点灯検査回路の抵抗調整手段として用いるのに適した方法となる。

＜実施の形態３の変形例＞
図５は、実施の形態３の変形例における液晶表示装置の一括駆動点灯検査回路１２の部分拡大図である。図５を用いて、実施の形態３の変形例について説明する。本変形例では、第１の配線において、引き出し配線２３１に備わる高抵抗領域２３１ａは、引き出し配線２３１に接続された接続用配線２３２よりも抵抗率の大きい材料で形成されている。また、引き出し配線２３１全体を、接続用配線２３２よりも抵抗率の大きい材料で形成してもよい。この場合、配線材料の異なる引き出し配線２３１と接続用配線２３２とは、接続変換部２３１ｃにおいて電気的に接続される。

従って、ゲート配線２に対応する第１の配線において、引き出し配線２３２を接続用配線２３２よりも抵抗率の大きい材料で形成することによって、一括駆動点灯検査端子２０から表示領域５０にゲート信号を入力する一括駆動検査回路の配線抵抗（即ち第１の配線）の最小値を調整することが可能である。また、本変形例において用いた配線材料の抵抗率を異ならせることによる抵抗調整手段は、比較的狭い設置領域内で抵抗値を調整することができることから、狭い領域内に配置する必要があるという制約のある一括駆動点灯検査回路の抵抗調整手段として用いるのに適した方法となる。

＜実施の形態４＞
図６は、本実施の形態４における液晶表示装置の一括駆動点灯検査回路１２の部分拡大図である。図６に示す通り、接続用配線２３２の各分岐と、各ゲート配線２とを接続する枝分かれ配線には一括駆動点灯検査用ＴＦＴ２５が設けられている。本実施の形態４では、ゲート配線２に対応した複数の一括駆動点灯検査用ＴＦＴ２５において、そのチャネル幅を異ならせる。ここで、図５に示すように、一括駆動点灯検査端子２０により近い一括駆動点灯検査用ＴＦＴ２５ａのチャネル幅をＷ１、一括駆動点灯検査端子２０から遠い一括駆動点灯検査用ＴＦＴ２５ｂのチャネル幅をＷ２とする。このとき、Ｗ１がＷ２よりも小さいか等しくなるように（Ｗ１≦Ｗ２）、Ｗ１、Ｗ２を決定する。これは、一括駆動点灯検査用ＴＦＴ２５ａのオン時の抵抗値が、一括駆動点灯検査用ＴＦＴ２５ｂのオン時の抵抗値以上となるようにするためである。

本構成により、一括駆動点灯検査端子２０に近い側の一括駆動点灯検査用ＴＦＴ２５ａのオン時の抵抗値は相対的に大きく、遠い側の一括駆動点灯検査用ＴＦＴ２５ｂのオン時の抵抗値は相対的に小さくなる。本構成によって、接続用配線２３２がもつ抵抗分布を補正することができるため、一括駆動点灯検査端子２０から表示領域５０にゲート信号を入力する一括駆動検査回路の配線のパネル内の抵抗分布を低減することが可能となる。なお、図６に示すように、隣接して配置される一括駆動点灯検査用ＴＦＴ２５ａ同士、隣接して配置される一括駆動点灯検査用ＴＦＴ２５ｂ同士は、特にチャネル幅を異ならせていない。つまり、全ての一括駆動点灯検査用ＴＦＴ２５におけるチャネル幅、即ち、オン時の抵抗値を異ならせる必要は無く、例えば、グループ単位で異ならせても良い。また、逆に、一括駆動点灯検査端子２０からの距離に応じて、全ての一括駆動点灯検査用ＴＦＴ２５におけるチャネル幅、即ち、オン時の抵抗値を徐々に異ならせても構わない。

なお、図５において、引き出し配線２３１は図示されていないが、実施の形態１（図２）、実施の形態２（図３）、実施の形態３（図４）、実施の形態３の変形例（図４）のいずれかで述べた構成であるとする。

＜効果＞
本実施の形態４における液晶表示装置は、第１の配線および第２の配線のそれぞれに備わる接続用配線２３２，２４２と、接続用配線２３２，２４２と接続される複数のゲート配線２または複数のソース配線５との間のそれぞれに設けられた複数の一括駆動点灯検査用薄膜トランジスタ２５をさらに備え、複数の一括駆動点灯検査用薄膜トランジスタ２５における一部の一括駆動点灯検査用薄膜トランジスタ２５のオン時の抵抗値は、他の一括駆動点灯検査用薄膜トランジスタ２５のオン時の抵抗値と大きさが異なり、複数の一括駆動点灯検査用薄膜トランジスタ２５において、第１の配線に備わる引き出し配線２３１までの配線経路がより短い一括駆動点灯検査用薄膜トランジスタ２５のオン時の抵抗値は、引き出し配線２３１までの配線経路がより長い一括駆動点灯検査用薄膜トランジスタ２５のオン時の抵抗値以上であり、複数の一括駆動点灯検査用薄膜トランジスタ２５において、第２の配線に備わる引き出し配線２４１までの配線経路がより短い一括駆動点灯検査用薄膜トランジスタ２５のオン時の抵抗値は、引き出し配線２４１までの配線経路がより長い一括駆動点灯検査用薄膜トランジスタ２５のオン時の抵抗値以上である。

従って、ゲート配線２に対応した一括駆動検査回路において、一括駆動点灯検査端子２０に近い側（即ち引き出し配線２３１に近い側）の一括駆動点灯検査用ＴＦＴ２５ａのオン時の抵抗値は相対的に大きく、遠い側の一括駆動点灯検査用ＴＦＴ２５ｂのオン時の抵抗値は相対的に小さく設計する。これにより、接続用配線２３２がもつ抵抗分布を補正することができるため、一括駆動点灯検査端子２０から表示領域５０にゲート信号を入力する一括駆動検査回路の配線のパネル内の抵抗分布を低減することが可能となる。また、同様に、ソース配線５に対応した一括駆動検査回路において、一括駆動点灯検査端子２０に近い側（即ち引き出し配線２４１に近い側）の一括駆動点灯検査用ＴＦＴ２５のオン時の抵抗値は相対的に大きく、遠い側の一括駆動点灯検査用ＴＦＴ２５のオン時の抵抗値は相対的に小さく設計する。これにより、接続用配線２４２がもつ抵抗分布を補正することができるため、一括駆動点灯検査端子２０から表示領域５０にソース信号を入力する一括駆動検査回路の配線のパネル内の抵抗分布を低減することが可能となる。

また、本実施の形態４における液晶表示装置は、複数の一括駆動点灯検査用薄膜トランジスタ２５（２５ａ，２５ｂ）のチャネル幅を異ならせることにより、オン時の抵抗値の大きさを異ならせる。

従って、複数の一括駆動点灯検査用ＴＦＴ２５において、引き出し配線２３１に近づくにつれて、チャネル幅を少しずつ小さくすることによって、一括駆動点灯検査端子２０に近い側の一括駆動点灯検査用ＴＦＴ２５ａのオン時の抵抗値は相対的に大きく、遠い側の一括駆動点灯検査用ＴＦＴ２５ｂのオン時の抵抗値は相対的に小さくすることが可能となる。また、本実施の形態４において用いた一括駆動点灯検査用ＴＦＴ２５による抵抗調整手段は、低抵抗の配線そのものによる抵抗調整手段と比べ、比較的狭い設置領域内で広範囲に抵抗値を調整することができることから。よって、狭い領域内に配置する必要があるという制約のある一括駆動点灯検査回路の抵抗調整手段として用いるのに適した方法となる。さらに、特に材料などの変更も不要であることから新たな製造工程の追加によって製造コストを増加することも無い。

＜実施の形態５＞
図７は、本実施の形態５における液晶表示装置の一括駆動点灯検査回路１２の部分拡大図である。図７に示す通り、接続用配線２３２の各分岐と、各ゲート配線２とを接続する枝分かれ配線には一括駆動点灯検査用ＴＦＴ２５が設けられている。本実施の形態５では、ゲート配線２に対応した複数の一括駆動点灯検査用ＴＦＴ２５において、そのチャネル長を異ならせる。ここで、図６に示すように、一括駆動点灯検査端子２０により近い一括駆動点灯検査用ＴＦＴ２５ａの長をＬ１、一括駆動点灯検査端子２０から遠い一括駆動点灯検査用ＴＦＴ２５ｂのチャネル長をＬ２とする。このとき、Ｌ１がＬ２よりも大きいか等しくなるように（Ｌ１≧Ｌ２）、Ｌ１、Ｌ２を決定する。これは、一括駆動点灯検査用ＴＦＴ２５ａのオン時の抵抗値が、一括駆動点灯検査用ＴＦＴ２５ｂのオン時の抵抗値以上となるようにするためである。

本構成により、一括駆動点灯検査端子２０に近い側の一括駆動点灯検査用ＴＦＴ２５ａのオン時の抵抗値は相対的に大きく、遠い側の一括駆動点灯検査用ＴＦＴ２５ｂのオン時の抵抗値は相対的に小さくなる。本構成によって、接続用配線２３２がもつ抵抗分布を補正することができるため、一括駆動点灯検査端子２０から表示領域５０にゲート信号を入力する一括駆動検査回路の配線のパネル内の抵抗分布を低減することが可能となる。なお実施の形態４と同じように、隣接して配置される一括駆動点灯検査用ＴＦＴ２５ａ同士、隣接して配置される一括駆動点灯検査用ＴＦＴ２５ｂ同士は、特にチャネル長を異ならせる必要は無い。つまり、全ての一括駆動点灯検査用ＴＦＴ２５におけるチャネル長、即ち、オン時の抵抗値を異ならせる必要は無く、例えば、グループ単位で異ならせても良い。また、逆に、一括駆動点灯検査端子２０からの距離に応じて、全ての一括駆動点灯検査用ＴＦＴ２５におけるチャネル長、即ち、オン時の抵抗値を徐々に異ならせても構わない。

なお、図６において、引き出し配線２３１は図示されていないが、実施の形態１（図２）、実施の形態２（図３）、実施の形態３（図４）、実施の形態３の変形例（図４）のいずれかで述べた構成であるとする。

＜効果＞
本実施の形態５における液晶表示装置は、複数の一括駆動点灯検査用薄膜トランジスタ２５のチャネル長を異ならせることにより、オン時の抵抗値の大きさを異ならせる。

従って、複数の一括駆動点灯検査用ＴＦＴ２５において、引き出し配線２３１に近づくにつれて、チャネル長を少しずつ大きくすることによって、一括駆動点灯検査端子２０に近い側の一括駆動点灯検査用ＴＦＴ２５ａのオン時の抵抗値は相対的に大きく、遠い側の一括駆動点灯検査用ＴＦＴ２５ｂのオン時の抵抗値は相対的に小さくすることが可能となる。これにより、接続用配線２３２がもつ抵抗分布を補正することができるため、一括駆動点灯検査端子２０から表示領域５０にゲート信号を入力する一括駆動検査回路の配線のパネル内の抵抗分布を低減することが可能となる。また、本実施の形態５において用いた一括駆動点灯検査用ＴＦＴ２５による抵抗調整手段は、低抵抗の配線そのものによる抵抗調整手段と比べ、比較的狭い設置領域内で広範囲に抵抗値を調整することができる。よって、狭い領域内に配置する必要があるという制約のある一括駆動点灯検査回路の抵抗調整手段として用いるのに適した方法となる。さらに、特に材料などの変更も不要であることから新たな製造工程の追加によって製造コストを増加することも無い。

なお、本発明は、その発明の範囲内において、各実施の形態を自由に組み合わせたり、各実施の形態を適宜、変形、省略することが可能である。

１絶縁性基板、２ゲート配線、５ソース配線、１１共通配線、１２一括駆動点灯検査回路、１４ゲート配線引き出し配線、１５ソース配線引き出し配線、１６共通配線引き出し配線、１８ゲートＩＣ入力用配線、１９ソースＩＣ入力用配線、２０一括駆動点灯検査端子、２２一括駆動点灯検査用ＴＦＴ駆動ゲート信号配線、２３，２４一括駆動点灯検査信号入力配線、２５，２５ａ，２５ｂ一括駆動点灯検査用薄膜トランジスタ、５０表示領域、５５額縁領域、７０ＴＦＴアレイ基板、７１ゲート配線駆動回路、７２ソース配線駆動回路、７４フレキシブル基板、８０対向基板、２３１，２４１引き出し配線、２３１ａ，２３１ｂ高抵抗領域、２３１ｃ接続変換部、２３２，２４２接続用配線。

Claims

画像を表示する表示領域と、前記表示領域の周囲を囲む額縁領域と、を備える液晶表示装置であって、
前記表示領域において並列して形成された複数のゲート配線と、
前記複数のゲート配線と交差して前記表示領域において並列して形成された複数のソース配線と、
前記額縁領域に設けられた一括駆動点灯検査端子と、
前記額縁領域に設けられ、前記一括駆動点灯検査端子と複数の前記ゲート配線および前記ソース配線とを電気的に接続する一括駆動点灯検査信号入力配線と、
を備え、
前記一括駆動点灯検査信号入力配線は、前記ゲート配線に対応する第１の配線と、前記ソース配線に対応する第２の配線と、を備え、
前記第１の配線および前記第２の配線のそれぞれは、複数の前記ゲート配線のそれぞれもしくは複数の前記ソース配線のそれぞれに接続する分岐を有する接続用配線と、当該接続用配線から前記一括駆動点灯検査端子へと引き出される引き出し配線と、を備え、
前記第１の配線に備わる前記引き出し配線は、当該引き出し配線に接続された前記接続用配線よりも単位経路長あたりの配線抵抗が高い高抵抗領域を備え、
通常駆動時におけるゲート配線への駆動信号を発生するゲート配線駆動回路と、前記複数のゲート配線の前記第１の配線が接続される側とは反対側の端部とを電気的に接続する複数のゲート配線引き出し配線をさらに備え、
前記高抵抗領域を加味した前記第１の配線の配線抵抗は、前記複数のゲート配線引き出し配線の配線抵抗の最小値よりも大きい、
液晶表示装置。
前記高抵抗領域を加味した前記第１の配線の配線抵抗は、前記複数のゲート配線引き出し配線の配線抵抗の最大値よりも小さい、
請求項１に記載の液晶表示装置。
前記引き出し配線に備わる前記高抵抗領域は、当該引き出し配線に接続された前記接続用配線よりも配線幅が狭い領域である、
請求項１または請求項２に記載の液晶表示装置。
前記第１の配線に備わる前記引き出し配線の前記高抵抗領域は、前記第２の配線に備わる前記引き出し配線よりも配線幅が狭い領域である、
請求項３に記載の液晶表示装置。
前記引き出し配線に備わる前記高抵抗領域は、当該引き出し配線にスリットが設けられた領域である、
請求項１または請求項２に記載の液晶表示装置。
前記引き出し配線に備わる前記高抵抗領域は、ジグザグ状の配線を含む、
請求項１または請求項２に記載の液晶表示装置。
前記引き出し配線に備わる前記高抵抗領域は、当該引き出し配線と、前記第１の配線に備わる前記接続用配線とを接続する接続変換部である、
請求項１または請求項２に記載の液晶表示装置。
前記引き出し配線に備わる前記高抵抗領域は、当該引き出し配線に接続された前記接続用配線よりも抵抗率の大きい材料で形成されている、
請求項１または請求項２に記載の液晶表示装置。
前記第１の配線および前記第２の配線のそれぞれに備わる前記接続用配線と、当該接続用配線と接続される複数の前記ゲート配線または複数の前記ソース配線との間のそれぞれに設けられた複数の一括駆動点灯検査用薄膜トランジスタをさらに備え、
前記複数の一括駆動点灯検査用薄膜トランジスタにおける一部の一括駆動点灯検査用薄膜トランジスタのオン時の抵抗値は、他の一括駆動点灯検査用薄膜トランジスタのオン時の抵抗値と大きさが異なり、
前記複数の一括駆動点灯検査用薄膜トランジスタにおいて、前記第１の配線に備わる前記引き出し配線までの配線経路がより短い一括駆動点灯検査用薄膜トランジスタのオン時の抵抗値は、当該引き出し配線までの配線経路がより長い一括駆動点灯検査用薄膜トランジスタのオン時の抵抗値以上であり、
前記複数の一括駆動点灯検査用薄膜トランジスタにおいて、前記第２の配線に備わる前記引き出し配線までの配線経路がより短い一括駆動点灯検査用薄膜トランジスタのオン時の抵抗値は、当該引き出し配線までの配線経路がより長い一括駆動点灯検査用薄膜トランジスタのオン時の抵抗値以上である、
請求項１から請求項８のいずれか一項に記載の液晶表示装置。
前記複数の一括駆動点灯検査用薄膜トランジスタのチャネル幅を異ならせることにより、オン時の抵抗値の大きさを異ならせる、
請求項９に記載の液晶表示装置。
前記複数の一括駆動点灯検査用薄膜トランジスタのチャネル長を異ならせることにより、オン時の抵抗値の大きさを異ならせる、
請求項９に記載の液晶表示装置。