JP6391225B2 - フリップチップボンダ及びフリップチップボンディング方法 - Google Patents

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Description

本発明は、ダイボンダに関し、特にフリップチップボンディングに要する時間を短縮するためにボンディングヘッドのオーバーシュートの低減に有効なフリップチップボンダの技術に関する。
半導体チップ(ダイ)を1個ずつ、リードフレームやパッケージの所定の場所に位置決めして装着する装置としてダイボンダがある。このダイボンダは、ダイシングした半導体ウェハ(以下、単にウェハと称する)から、鉛直方向に動作可能なボンディングヘッドに取り付けられたボンディング工具によって1つのダイをピックアップし、ピックアップしたダイをステージ上に配置されたリードフレームやプリント配線板など(以下、基板と称する)に装着するものである。
更に、ダイボンダの中には、ピックアップしたダイを裏返し(フリップ)して基板に装着するフリップチップボンダがある。
ここで、基板の所定の位置にダイを装着する際に、ボンディング工具を取り付けたボンディングヘッドを鉛直方向に動作させるが、このボンディングヘッドは、高速動作と低速動作の2種類の動作が行われる。
高速動作は、ダイと基板との距離が離れている場合に行われる動作であって、ピックアップしたダイをステージに配置された基板上部の所定位置まで持ってくる動作である。また、低速動作は、上記した基板上部の所定位置からダイを基板に接触させて装着するために行われる動作である。
上記した従来のフリップチップボンダにおいては、ダイを基板に装着する際、まず始めにボンディングヘッドを高速動作させてから一旦停止し、それから低速動作に切り替えて動作させていた。また、ダイシングしたウェハから、ボンディングヘッドに取り付けられたボンディング工具によって1つのダイをピックアップする際にも同様の動作をさせていた。
しかし、ボンディングヘッドを高速動作させてから一旦停止し、それから低速動作に切り替えて動作させると、ダイを基板にボンディングする時間やダイをピックアップする時間が長くかかるという問題点がある。
また、ダイボンダにおいては、ダイを基板にボンディングする時間を短縮するため、互いに独立に動作することができる第1のボンディングヘッドと第2のボンディングヘッドの2つのボンディングヘッドを設けたものがある。即ち、ボンディング工具を取り付けた第1のボンディングヘッドとこの第1のボンディングヘッドを取り付けた第2のボンディングヘッドを設けたダイボンダがある。
しかし、このダイボンダにおいては、第1のボンディングヘッドの高速動作終了時刻と第2のボンディングヘッドの動作終了時刻が異なり、第1のボンディングヘッドの高速動作終了時刻が第2のボンディングヘッドの動作終了時刻より早くなっていた。従って、第2のボンディングヘッドが動作終了したときに発生する衝撃により、先に高速動作を終了していた第1のボンディングヘッドが所定の基準位置を超えて動き(オーバーシュート)、ダイをピックアップしたボンディング工具が基板上面を叩きつけていたという問題点がある。同様にダイをピックアップする際も、第2のボンディングヘッドが動作終了したときに発生する衝撃により、第1のボンディングヘッドがオーバーシュートして、ボンディング工具がダイシングしたウェハの上面を叩きつけていたという問題点がある。
特許文献1は、上記の問題点を解決するために、ボンディング工具を取り付けた第1のボンディングヘッドと第1のボンディングヘッドを取り付けた第2のボンディングヘッドを、同時に動作を開始させる。そして、第2のボンディングヘッドが動作を終了する時刻t3よりも遅い時刻t4に、メインコントローラから作動コントローラへ、第1のボンディングヘッドが高速動作を終了する第1終了位置に移動させるための第1制御情報を出力する。その後、第1終了位置において第1のボンディングヘッドが所定の速度になっている時に、高速動作から低速動作に切り替えて、第1のボンディングヘッドを動作させるものである。
特許第3971273号公報
上述した特許文献1は、Z1軸とZ2軸の2つのZ軸で動作させた場合に、Z2軸の動作終了を遅くし、Z1軸の動作による振動が収束するまでZ2軸がサーボモータの制御をすることでオーバーシュートを低減する方法であった。しかしながら、フリップチップボンダのように、ダイを裏返しにしてボンディングするダイボンダの場合には、Z2軸の他に回転動作を伴っている。このため、特許文献1では対処できず、また、フリップ機構がダイを裏返す動作による振動が収束するまで一定時間待機する必要があった。
本発明の目的は、フリップチップボンダのように、ダイを裏返しにしてボンディングするダイボンダの場合においても、フリップ機構の回転動作中にZテーブルが高速動作することで振動を低減・抑制することによりオーバーシュートの発生を低減し、かつ、Z軸の動作やフリップ機構の動作により生じる振動が収束するまでの待機時間が不要となるので、ダイを基板にボンディングする時間やダイをピックアップする時間を低減することができるフリップチップボンダを提供することにある。
上記の目的を達成するために、本発明のフリップチップボンダは、基板を搬送するワーク供給・搬送部と、ウェハを供給するウェハ供給部と、前記基板に前記ウェハからダイをピックアップしてボンディングするボンディング部と、装置内の各機器を制御する制御部とを備え、前記ボンディング部は、前記ウェハ供給部からピックアップしたダイを裏返しするフリップヘッド部と、前記フリップヘッド部から裏返しされたダイを吸着し前記基板にボンディングするボンディング部とを有し、前記フリップヘッド部は、前記ウェハから前記ダイをピックアップし、ピックアップしたダイをボンドヘッドに受け渡しするボンディング工具、前記ボンディング工具を取り付け180°回転可能なフリップ機構、前記フリップ機構を取付け、鉛直方向に移動可能なZテーブル、前記Zテーブルを水平面内に自在に移動させるX−Yテーブル、前記フリップ機構及び前記Zテーブルの鉛直方向の座標位置と前記フリップ機構の回転角度を検出する位置検出センサ、前記位置センサの検出結果を出力し、入力された制御情報に基づいて前記X−Yテーブル、前記Zテーブル、及び前記フリップ機構を駆動するサーボモータを制御する作動コントローラ、並びに、前記検出結果に基づいて前記X−Yテーブル、前記Zテーブル、及び前記フリップ機構を次にどのように動作させるかを示す前記制御情報を出力するメインコントローラを具備し、前記作動コントローラは、前記制御情報に基づいて、前記フリップ機構を回転高さで上向きから下向きに180°回転させるため、前記フリップ機構の回転を開始し、前記フリップヘッドの回転中に前記Zテーブルを前記回転高さからピックアップ高さまで下降させ、前記ボンディング工具によってウェハからダイをピックアップすることを第1の特徴とする。
上記本発明の第1の特徴のフリップチップボンダにおいて、前記作動コントローラは、前記制御情報に基づいて、前記ボンディング工具を上向きから下向きに180°回転させるため、前記フリップ機構の回転を開始し、前記フリップ機構の回転中に前記Zテーブルを前記回転高さから前記ピックアップ高さまで下降させた場合に、前記Zテーブルの下降の途中で、前記フリップ機構を0°になるように制御することを本発明の第2の特徴とする。
上記本発明の第1の特徴または第2の特徴のフリップチップボンダにおいて、前記作動コントローラは、前記Zテーブルを前記ピックアップ高さまで下降させる場合に、第1の速度で前記回転高さと前記ピックアップ高さの間の所定の中間高さまで下降させ、第2の速度で前記中間高さから前記ピックアップ高さまで下降させることを本発明の第3の特徴とする。
上記本発明の第3の特徴のフリップチップボンダにおいて、前記第1の速度は、前記第2の速度より高速であることを本発明の第4の特徴とする。
上記本発明の第1の特徴乃至第4の特徴のいずれかのフリップチップボンダにおいて、前記回転高さは、前記ボンディング工具にピックアップされたダイを、前記基板にボンディングするためのボンドヘッドが吸着して受け渡す高さであることを本発明の第5の特徴とする。
上記の目的を達成するために、本発明のフリップチップボンディング方法は、鉛直方向に動くZテーブルを第1の高さから第2の高さまで第1の速度で下降させる工程と、前記Zテーブルを前記第2の高さから第3の高さまで前記第1の速度より遅い第2の速度で下降させる工程と、前記Zテーブルに取り付けられたフリップ機構を第1の角度から第2の角度に回転させる工程と、前記Zテーブルに取り付けられたボンディング工具により、前記第3の高さでウェハからダイをピックアップする工程と、前記ダイをピックアップしたボンディング工具を前記第1の高さまで上昇させる工程と、前記第1の高さで前記ダイをピックアップした前記ボンディング工具を取付けた前記フリップ機構を前記第1の角度に回転させる工程と、前記第1の角度に回転させた前記フリップ機構に取付けられた前記ボンディング工具から前記ダイを吸着して基板にボンディングするボンディング工程と、を有するフリップチップボンディング方法であって、前記フリップ機構を前記第1の高さで前記第1の角度から前記第2の角度に回転させるために、前記フリップ機構の回転を開始し、前記フリップ機構の回転中に前記Zテーブルを前記第1の速度で前記第1の高さから第3の高さまで下降させ、前記第3の高さから前記第2の高さまで前記第2の速度で下降させることを本発明の第6の特徴とする。
上記本発明の第6の特徴のフリップチップボンディング方法において、前記Zテーブルが前記第3の高さまで下降する前に前記フリップ機構が前記第2の角度まで回転することを本発明の第7の特徴とする。
本発明によれば、フリップチップボンダのように、ダイを裏返しにしてボンディングするダイボンダの場合においても、オーバーシュートを低減し、ダイを基板にボンディングする時間やダイをピックアップする時間を低減することができるダイボンダを実現することができる。
本発明の一実施形態におけるフリップチップボンダの一部の概略構成を示した図である。 図1のZテーブル2とフリップ機構3を動かした場合における動作を示した図である。 従来のフリップ機構を動かした場合における速度と時刻の関係を示したグラフである。 本発明のフリップ機構を動かした場合における速度と時刻の関係を示したグラフである。 本発明のフリップチップボンダの一実施例を上から見た概念図である。
以下に本発明の一実施形態について、図面等を用いて説明する。
なお、以下の説明は、本発明の一実施形態を説明するためのものであり、本願発明の範囲を制限するものではない。従って、当業者であればこれらの各要素若しくは全要素をこれと均等なものに置換した実施形態を採用することが可能であり、これらの実施形態も本願発明の範囲に含まれる。
また、本書では、以降の各図の説明において、共通な機能を有する構成要素には同一の参照番号を付し、説明を省略する。
まず図5によって本発明のフリップチップボンダの一実施例を説明する。フリップチップボンダ100において、ワーク供給・搬送部102のフレームローダから搬送した基板は、プリフォーム部131で接着剤(フラックス)塗布が行われる。なお、ボンディングするフリップチップの形態や基板の電極によっては、この工程が不要な場合もある。
次に基板は、さらにボンディングヘッド部132でウェハ供給部101からピックアップされたダイをボンディングする。
これら接着剤塗布時、ピックアップ時、及びボンディング時には、各々工程に合わせ、基板若しくはウェハをカメラにて撮像する。撮像されたそれらの画像より画像処理を用い、位置決め若しくは検査を行う。
ウェハは、ピックアップ装置112のウェハリングに取付けてあるダイシングテープ上に設置されている。ウェハ供給部101では、ウェハ供給部のカメラがウェハ内の個々のダイの位置を撮像し、画像処理によって撮像された画像を画像処理することによって位置決めを行う。
ウェハ供給部101は、ウェハカセットリフタ111と、ピックアップ装置112とを有する。ウェハカセットリフタ111はウェハリングが収納されたウェハカセットを有し,順次ウェハリングをピックアップ装置112に供給し、新しいウェハリングに交換する。ピックアップ装置112は、所望のダイをウェハリングからピックアップできるように、ピックアップポイントに、ウェハリングを移動する。ウェハリングは、ウェハが固定され、ピックアップ装置に取り付け可能な治具である。
ワーク供給・搬送部102は、スタックローダ121と、フレームフィーダ122と、アンローダ123とを有し、基板を矢印方向に搬送する。スタックローダ121は、ダイを接着するための基板をフレームフィーダ122に供給する。フレームフィーダ122は、ダイを接着した基板をフレームフィーダ122上の2箇所の処理位置を介してアンローダ123に搬送する。アンローダ123は、搬送された基板を保管する。
ボンディング部103は、プリフォーム部131とボンディングヘッド部132とを有する。プリフォーム部131は、フレームフィーダ122により搬送されてきた基板にプリフォームヘッド部が接着剤を塗布する。ボンディングヘッド部132は、ピックアップ装置112のピックアップポイントからダイをピックアップして上昇し、ダイを回転ポイントまで移動させる。
ダイ回転ポイントでは、ダイが裏返し(フリップ)される。
回転して裏返しされたダイは、ボンドヘッドが吸着し、フレームフィーダ122上のボンディング(アタッチメント)ポイントまで移動させる。
そして、ボンディングヘッド部132では、ボンドヘッドがボンディングポイントまで下降し、基板上にダイをボンディングする。
図1は、本発明の一実施形態におけるフリップチップボンダの一部の概略構成を示した図である。図2は、図1のZテーブル2とフリップ機構3を動かした場合における動作を示した図である。また、図3は、従来のフリップ機構を動かした場合における速度と時刻の関係を示したグラフである。図4は、本発明のフリップヘッドを動かした場合における速度と時刻の関係を示したグラフである。
図1において、フリップチップボンダは、X−Yテーブル1、Zテーブル2、フリップ機構3、ボンディング工具4、ウェハホルダ6、作動コントローラ7、メインコントローラ8、位置検出センサ9、タッチパネル10、ブザー11、及びディスプレイ12より構成されている。
X―Yテーブル1は、取り付けた構造物が水平面内において自在に移動できるように構成されている。従って、Zテーブル2は、水平方向に自在に移動できる。
また、Zテーブル2は、鉛直方向に自在に移動することができ、これによってフリップ機構3を鉛直方向に移動させる。またZテーブル2は、フリップ機構3を180°回転させることができる。
フリップ機構3は、Zテーブル2に駆動されて、鉛直方向への移動と、180°回転することができるように構成され、フリップ機構3の下部には、ボンディング工具4が取り付けられている。
更に、Zテーブル2とフリップ機構3は互いに独立して動作することができる。
ボンディング工具4は、ウェハ5のダイシングされたダイをピックアップすると共に、ピックアップしたダイをボンドヘッド51に受け渡しできるように構成されている。
ウェハホルダ6は、ダイシングされたウェハ5を固定し、ボンディング工具4がピックアップできるように構成されている。
位置検出センサ9は、Zテーブル2及びフリップ機構3の鉛直方向の座標位置と、フリップ機構3の回転角度を検出できるように構成されており、作動コントローラ7に接続されている。
作動コントローラ7は、位置検出センサ9で検出したZテーブル2やフリップ機構3の現在の座標位置及び回転角を示す検出結果をメインコントローラ8に出力するように構成されていると共に、メインコントローラ8から出力される制御情報に基づいて、X−Yテーブル1、Zテーブル2及びフリップ機構3を駆動するサーボモータ(図示せず)を制御するように構成されている。
メインコントローラ8は、作動コントローラ7より入力した現在の座標位置データや回転角データに基づいて、X−Yテーブル1、Zテーブル2及びフリップ機構3を、次にどのように動作させるかを示す制御情報を作動コントローラ7へ出力するように構成されている。
また、メインコントローラ8には、例えばボンディング工具4の動作する高さデータなどを入力するためのタッチパネル10が接続されており、また例えばメインコントローラ8において決定された位置にZテーブル2またはフリップ機構3が正しく到達しない場合に外部操作者に知らせるためのブザー11及び表示を行うディスプレイ12が接続されている。
さて、図2における動作は、動作(I)〜動作(VIII)の順番で進行する。動作(VIII)の後は、動作(I)に戻りボンディングを継続する。
まず、ウェハホルダ6上にダイシングされたウェハ5が配置される。また、ウェハホルダ6のダイ50の直上の所定の高さ(回転高さh1)に移動しており、ボンディング工具4が上向きの状態、即ち、フリップ機構3の回転角度が180°の状態で静止している状態である。
動作(I)では、フリップ機構3は、回転角度を0°の状態になるように回転を開始する。
動作(II)(図2(1)参照)では、フリップ機構3は、回転中に、Zテーブル2が下降を開始する。
動作(III)では、フリップ機構3は、回転角度を0°の状態になり回転を停止する。
動作(IV)(Z2(2)参照)では、Zテーブル2は下降を停止し、所定の高さ(ピックアップ高さh3)に達し、ボンディング工具4は、ドーム52によって突き上げられたダイ50を吸着し、Zテーブル2は上昇を開始する。
動作(V)(図2(3)参照)では、ダイ50を吸着したボンディング工具4及びフリップ機構3は、回転高さh1まで上昇する。
動作(VI)(図2(4)参照)では、フリップ機構3が180°回転する。
動作(VII)(図2(5)参照)では、フリップ機構3の回転が終わり、ダイ50を吸着したボンディング工具4は上方向に向いている。即ち、吸着されたダイ50がフリップされ、ダイ50の裏面が上を向いている。ほぼ同時に、ボンドヘッド51が下降し始める。
動作(VIII)(図2(6)参照)では、ボンドヘッド51はダイ50の裏面まで下降し、ボンディング工具4はダイ50の吸着を停止し、ボンドヘッド51がダイ50を吸着する。
次に、動作(IX)では、ダイ50を吸着したボンディングヘッド51は、ボンディングステージに移動し、ダイ50をボンディングステージ上の基板にボンディングする(図示しない)。
なお、図2において、(4)〜(6)では、ウェハ5及びドーム52に動きが無いように見える。しかし、実際には、ダイ50がピックアップされた後は、ウェハ5の別のダイを吸着できるように動作し、次のダイボンディングが迅速に行われようにしている。
本実施形態におけるフリップチップボンダは、上記のように構成され、上記のように動作している。以下に、更に、図2で説明した動作及び作用について、図1の構成によって追加して説明する。
まず、ウェハホルダ6上にダイシングされたウェハ5が配置される。次に、ウェハ5から、ボンディング工具4によって1つのダイ(半導体チップ)50がピックアップされる。
次に、メインコントローラ9から作動コントローラ8にX−Yテーブル1を制御するためのX−Yテーブル制御情報が出力される。そして、X−Yテーブル制御情報を受けと取った作動コントローラ8は、X−Yテーブル制御情報に基づいて、X−Yテーブル1を動かすサーボモータを制御する。すると、X−Yテーブル1に取り付けたZテーブル2が水平面内を動き、Zテーブル2に取り付けたフリップ機構3及びボンディング工具4がウェハ5のピックアップしたいダイ50の上方に配置される。
次に、Zテーブル2及びフリップ機構3に設けられた位置検出センサ9により、鉛直方向における現在の座標位置がそれぞれ検出され、現在の座標位置データが作動コントローラ7に出力される。現在の座標位置データを入力した作動コントローラ7は、現在の座標位置データをメインコントローラ8に出力する。
現在の座標位置データを受け取ったメインコントローラ8は、現在の座標位置データに基づき、次の目標位置に動かすための制御情報を作動コントローラ7に出力する。そして、作動コントローラ7は、受け取った制御情報に基づいてZテーブル2を動かすサーボモータ及びフリップ機構3を動かすサーボモータを制御する。すると、Zテーブル2及びフリップ機構3が鉛直方向に動く。
ここで、従来のZテーブル2及びフリップ機構3の動作時における、各ヘッドの位置と時刻について、図3によって説明する。実線は、メインコントローラ8から出力される制御情報によって示される目標位置を示し、破線は、実際に各ヘッドが到達した位置を示している。即ち、図3をみてわかるようにメインコントローラ8から出力された制御情報によって目標位置が示されてから所定時間経過後に実際に各ヘッドが目標位置に到達していることがわかる。
なお、図3と図4(後述)のグラフにおいて、フリップ機構3のグラフの一番上側の線の状態は、ボンディング工具4が上向きの状態(角度180°)である。また、一番下側の線では、ボンディング工具4が下向きの状態(角度0°)であり、その間は、回転中(角度180°未満角度0°超)である。また、Zテーブル2のグラフの一番上側の線の状態は、フリップ機構3が回転する高さであり、一番下側の線の状態は、Zテーブル2が下降して、ボンディング工具4がダイ50をピックアップできる高さである。
上述のように、図3において、フリップ機構3は時刻t0まではボンディング工具4が上向きの状態(角度f1=180°)であり、時刻t1ではボンディング工具4が下向きの状態(角度f2=0°)に制御される。しかし、実際の状態では、破線のように遅延時間がある。
またZテーブル2は、時刻t2まではフリップ機構3が回転する回転高さh1である。そして、時刻t2から時刻t3までは高速(速度vh)で下降し所定の高さ(中間高さh2)になる。さらに、時刻t3から時刻t4までは低速(速度vl)で下降し、ボンディング工具4がダイ50をピックアップできるピックアップ高さh3まで下降する。ここで、vh>vlである。
図3に示すように、時刻t0までは、フリップ機構3は上方向にボンディング工具4を向けている。時刻t0でメインコントローラ8からの制御情報によって、フリップ機構3は回転を始め、時刻t1で回転終了となる。しかし、実際には破線のように、動作に若干の遅延が起きる。
そして、時刻t1でフリップ機構3が回転動作を停止した時に、破線部30のように、Z軸ヘッド2の先端がオーバーシュートするため、ボンディング工具4が下方向に下降する。この結果、フリップチップボンダに不要な振動が発生し、その振動を抑制するために、Zテーブル2の動作速度を遅くして吸収することになる。即ち、Zテーブル2がピックアップ高さh3に到達するまでの時間が長くする必要がある。
図4は、図3の従来の問題を解決するために、フリップ機構3の回転中にZテーブル2の下降を開始している。
即ち、図4に示すように、時刻t0までは、フリップ機構3は上方向にボンディング工具4を向けている。時刻t0でメインコントローラ8からの制御情報によって、フリップ機構3は回転を始め、時刻t1で回転終了となる。しかし、実際には破線のように、動作に若干の遅延が起きる。
また、時刻t0〜時刻t1でフリップ機構3が回転動作中の時刻t12に、Zテーブル2の下降を開始する。そして、時刻t12から時刻t13までは高速(速度vh)で下降し中間高さh2になる。さらに、時刻t13から時刻t14までは低速(速度vl)で下降し、ボンディング工具4がダイ50をピックアップできるピックアップ高さh3まで下降する。
この結果、図4の実施例によれば、時刻t1でフリップ機構3が回転を停止した時点でのオーバーシュートは、Zテーブル2がまだ下降の途中であるためほとんど影響がなくなる。しかも、Zテーブル2の下降の開始時刻を早くしたため、フリップヘッド3の回転時間が変わらないが、Zテーブル2の下降の終了が早くなる、このため、ボンディング動作時間を短縮できる。
1:X−Yテーブル、 2:Zテーブル、 3:フリップ機構、 4:ボンディング工具、 5:ウェハ、 6:ウェハホルダ、 7:作動コントローラ、 8:メインコントローラ、 9:位置検出センサ、 10:タッチパネル、 11:ブザー、 12:ディスプレイ、 30:破線部、 50:ダイ、 51:ボンドヘッド、 52:ドーム、 100:フリップチップボンダ、 101:ウェハ供給部、 102:ワーク供給・搬送部、 103:ボンディング部、 111:ウェハカセットリフタ、 112:ピックアップ装置、 121:スタックローダ、 122:フレームフィーダ、 123:アンローダ、 131:プリフォーム部、 132:ボンディングヘッド部、 136:ペースト塗布ヘッド部、 141:制御部。

Claims (2)

  1. 基板を搬送するワーク供給・搬送部と、ウェハを供給するウェハ供給部と、前記基板に前記ウェハからダイをピックアップしてボンディングするボンディング部と、装置内の各機器を制御する制御部とを備え、
    前記ボンディング部は、前記ウェハ供給部からピックアップしたダイを裏返しするフリップヘッド部と、前記フリップヘッド部から裏返しされたダイを吸着し前記基板にボンディングするボンディングヘッド部とを有し、
    前記フリップヘッド部は、前記ウェハから前記ダイをピックアップし、ピックアップしたダイをボンドヘッドに受け渡しするボンディング工具、前記ボンディング工具を取り付け180°回転可能なフリップ機構、前記フリップ機構を取付け、鉛直方向に移動可能なZテーブル、前記Zテーブルを水平面内に自在に移動させるX−Yテーブル、前記フリップ機構及び前記Zテーブルの鉛直方向の座標位置と前記フリップ機構の回転角度を検出する位置検出センサ、前記位置検出センサの検出結果を出力し、入力された制御情報に基づいて前記X−Yテーブル、前記Zテーブル、及び前記フリップ機構を駆動するサーボモータを制御する作動コントローラ、並びに、前記検出結果に基づいて前記X−Yテーブル、前記Zテーブル、及び前記フリップ機構を次にどのように動作させるかを示す前記制御情報を出力するメインコントローラを具備し、
    前記作動コントローラは、前記制御情報に基づいて、前記フリップ機構を上向きから下向きに180°回転させるため、前記フリップ機構の回転を回転高さで開始し、前記フリップ機構の回転中に前記Zテーブルを前記回転高さからピックアップ高さまで下降させ、第1の速度で前記回転高さと前記ピックアップ高さの間の所定の中間高さまで下降させ、第2の速度で前記中間高さから前記ピックアップ高さまで下降させ、前記第1の速度は、前記第2の速度より高速であり、前記フリップ機構の回転中に前記Zテーブルを前記回転高さから前記ピックアップ高さまで下降させた場合に、前記Zテーブルが前記中間高さまで下降する前に、前記フリップ機構を0°になるように制御することを特徴とするフリップチップボンダ。
  2. 鉛直方向に動くZテーブルを第1の高さから第2の高さまで第1の速度で下降させる工程と、
    前記Zテーブルを前記第2の高さから第3の高さまで前記第1の速度より遅い第2の速度で下降させる工程と、
    前記Zテーブルに取り付けられたフリップ機構を第1の角度から第2の角度に回転させる工程と、
    前記Zテーブルに取り付けられたボンディング工具により、前記第3の高さでウェハからダイをピックアップする工程と、
    前記ダイをピックアップしたボンディング工具を前記第1の高さまで上昇させる工程と、
    前記第1の高さで前記ダイをピックアップした前記ボンディング工具を取付けた前記フリップ機構を前記第1の角度に回転させる工程と、
    前記第1の角度に回転させた前記フリップ機構に取付けられた前記ボンディング工具から前記ダイを吸着して基板にボンディングするボンディング工程と、を有するフリップチップボンディング方法であって、
    前記フリップ機構を前記第1の角度から前記第2の角度に回転させるために、前記フリップ機構の回転を前記第1の高さで開始し、前記フリップ機構の回転中に前記Zテーブルを前記第1の速度で前記第1の高さから前記第2の高さまで下降させ、前記第2の高さから前記第3の高さまで前記第2の速度で下降させ、前記Zテーブルが前記第の高さまで下降する前に前記フリップ機構が前記第2の角度まで回転し、
    前記第1の角度は前記ボンディング工具が上向きの状態である角度180°であり、前記第2の角度は前記ボンディング工具が下向きの状態である角度0°であることを特徴とするフリップチップボンディング方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP3255065B2 (ja) * 1997-01-22 2002-02-12 松下電器産業株式会社 チップの搭載装置
JP2001060795A (ja) * 1999-08-20 2001-03-06 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電子部品実装装置
JP2001230594A (ja) * 2000-02-21 2001-08-24 Murata Mfg Co Ltd 実装機の真空吸着装置
JP2002240802A (ja) * 2001-02-16 2002-08-28 Sanyo Electric Co Ltd テーピング装置
JP3970135B2 (ja) * 2002-09-05 2007-09-05 キヤノンマシナリー株式会社 ダイボンダ
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