JP6357344B2 - 眼寸法測定装置 - Google Patents
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Landscapes
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Description
12・・光源
14・・干渉光学系
20・・干渉計
22・・参照ミラー
24・・ビームスプリッタ
26・・受光素子
28,34・・ミラー
30・・0点調整機構
32・・コーナキューブ
40・・焦点調整機構
42・・凹レンズ
44・・凸レンズ
46・・ミラー
46a・・ガルバノミラー
48・・ホットミラー
50・・観察光学系
54・・第1駆動装置
56・・第2駆動装置
58・・第3駆動装置
60・・第4駆動装置
62・・モニタ
64・・演算装置
Claims (9)
- 光干渉により取得した干渉信号から被検眼の深さ方向の寸法を測定する眼寸法測定装置において、
被検眼に対する干渉系の0点位置(測定光路長と参照光路長が一致する位置)を移動させるディレイラインを備え、
0点位置とディレイラインのディレイ値の関係を求める算出手段と、
算出手段で得られた0点位置とディレイ値の関係に基づいて、被検眼に対して所定の位置に0点位置を移動するようにディレイラインを制御するディレイ制御手段を有することを特徴とする眼寸法測定装置。 - 取得した干渉信号から固定パターンノイズを含む不要なピークを特定する特定手段を有することを特徴とする請求項1に記載の眼寸法測定装置。
- 特定された固定パターンノイズを含む不要なピークの位置に基づいて、移動する0点の所定位置を算出する算出手段を有することを特徴とする請求項2に記載の眼寸法測定装置。
- 特定手段は、被検眼のない状態で干渉信号を取得する第1の取得手段を備え、取得した干渉信号から固定パターンノイズを含む不要なピークを特定することを特徴とする請求項2又は3に記載の眼寸法測定装置。
- 特定手段は、異なる0点位置で複数の干渉信号を取得する第2の取得手段を備え、取得した複数の干渉信号を加算平均して固定パターンノイズを含む不要なピークを特定することを特徴とする請求項2又は3に記載の眼寸法測定装置。
- 特定手段は、光源からの光が被検眼に対し複数の異なる位置に入射する入射手段と、
複数の異なる位置に入射して複数の干渉信号を取得する第3の取得手段を備え、
複数の干渉信号を加算平均して固定パターンノイズを含む不要なピークを特定する特定手段を有することを特徴とする請求項2又は3に記載の眼寸法測定装置。 - 特定した固定パターンノイズを含む不要なピークを排除して被検眼の眼寸法を算出する算出手段を有することを特徴とする請求項2〜6のいずれか1つに記載の眼寸法測定装置。
- 被検眼のない状態の1次元画像(Aスキャン像)及び/又は2次元画像(Bスキャン像)を画面に表示する表示手段を有することを特徴とする請求項4及び6の少なくとも1つに記載の眼寸法測定装置。
- 被検眼の1次元画像(Aスキャン像)及び/又は2次元画像(Bスキャン像)を画面に表示する表示手段を有すると共に、表示画面上で(固定パターンノイズを含む不要なピークを基準に)被検眼部のA及び又はBスキャン像を移動させる、或いは、(被検眼部のA及び又はBスキャン像を基準に)固定パターンノイズを含む不要なピークを移動させるための0点位置移動ボタンをさらに備え、前記表示手段に表示された前記0点位置移動ボタンを操作することにより前記ディレイ制御手段を制御することを特徴とする請求項2〜8のいずれか1つに記載の眼寸法測定装置。
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