JP6327163B2 - Inspection apparatus and inspection method - Google Patents
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Description
本発明は、被検査物の擦れ傷を検査するための検査装置および検査方法に関する。 The present invention relates to an inspection apparatus and an inspection method for inspecting an inspection object for scratches.
従来、被検査物の表面を撮像し、それによって得られた画像データに基づき、被検査物の表面状態を検査する検査装置が知られている。 2. Description of the Related Art Conventionally, inspection apparatuses that image the surface of an inspection object and inspect the surface state of the inspection object based on image data obtained thereby are known.
たとえば、特許文献１には、切手印刷用紙の所定領域が糊面であるか否かを検査するための検査装置が開示されている。特許文献１では、切手印刷用紙の所定領域の検査を行うとき、切手印刷用紙の所定領域を照明して撮像することによって、切手印刷用紙の所定領域の画像データ（以下、所定画像データと称する場合がある）を生成する。その後、所定画像データを或る閾値で白レベルと黒レベルに２値化し、白レベルの面積を算出する。そして、白レベルの面積を示す算出値が基準値以上であれば、所定領域が糊面であると判定する。 For example, Patent Document 1 discloses an inspection apparatus for inspecting whether or not a predetermined area of a stamp printing sheet is a glue surface. In Patent Document 1, when a predetermined area of a stamp printing paper is inspected, the predetermined area of the stamp printing paper is illuminated and imaged to obtain image data of the predetermined area of the stamp printing paper (hereinafter referred to as predetermined image data). Is generated). Thereafter, the predetermined image data is binarized into a white level and a black level with a certain threshold value, and the area of the white level is calculated. If the calculated value indicating the area of the white level is equal to or greater than the reference value, it is determined that the predetermined area is the glue surface.
ここで、被検査物の表面領域のうち、擦れ傷が有る傷有り部分および擦れ傷が無い傷無し部分を含む所定領域を撮像することによって所定領域の画像データを生成すると、傷有り部分の画素の画素値と傷無し部分の画素の画素値との間に差が生じる。したがって、所定領域の画像データに基づき、所定領域にどの程度の擦れ傷が有るかを検査することができる。すなわち、特許文献１の技術は、擦れ傷の検査にも利用することができる。 Here, when image data of a predetermined region is generated by imaging a predetermined region including a scratched portion having a scratch and a scratch-free portion having no scratch in the surface region of the inspection object, a pixel of the scratched portion is generated. A difference occurs between the pixel value of the pixel and the pixel value of the pixel in the non-scratched part. Therefore, it is possible to inspect how much scratches are present in the predetermined area based on the image data of the predetermined area. That is, the technique of Patent Document 1 can also be used for inspection of scratches.
しかし、特許文献１の技術を用いて擦れ傷の検査を行う場合、被検査物の撮像時に照度ムラが生じていると、傷有り部分の画素の画素値が傷無しを示す値になったり、傷無し部分の画素の画素値が傷有りを示す値になったりすることがある。その結果、擦れ傷の検査の精度が低くなるという不都合が発生する。 However, when inspecting scratches using the technique of Patent Document 1, if uneven illuminance occurs during imaging of the inspection object, the pixel value of the pixel with the scratch becomes a value indicating no scratch, In some cases, the pixel value of the pixel in the non-scratched portion becomes a value indicating the presence of a scratch. As a result, there arises a disadvantage that the accuracy of the scratch inspection is lowered.
本発明は、上記課題を解決するためになされたものであり、被検査物の擦れ傷の検査精度を向上させることが可能な検査装置および検査方法を提供することを目的とする。 The present invention has been made to solve the above-described problems, and an object of the present invention is to provide an inspection apparatus and an inspection method capable of improving the inspection accuracy of a scratch on an inspection object.
上記課題を解決するため、本発明の第１の局面による検査装置は、被検査物の擦れ傷を検査するための検査装置であって、被検査物を照明する照明装置と、被検査物のうち検査する領域としてユーザーにより定められた検査領域を撮像することにより、検査領域のモノクロの画像データである検査画像データを生成する撮像装置と、被検査物のうち擦れ傷が無い領域としてユーザーにより定められた基準領域のモノクロの画像データである基準画像データから、基準画像データの各画素の輝度を反転させた反転画像データを生成し、検査画像データの各画素の画素値のそれぞれに、反転画像データの対応する位置に在る画素の画素値を加算して１／２を乗じることによって得られる値を検査対象値として求め、その検査対象値が予め定められた閾値よりも明るくなる検査画像データの画素の数を、検査領域にどの程度の擦れ傷が有るかを示す傷情報として求める画像解析部と、を備える。 In order to solve the above problems, an inspection apparatus according to a first aspect of the present invention is an inspection apparatus for inspecting an inspection object for scratches, an illumination device for illuminating the inspection object, and an inspection object An imaging device that generates inspection image data, which is monochrome image data of the inspection area, by imaging an inspection area determined by the user as an area to be inspected, and an area that is free of scratches on the inspection object by the user From the reference image data, which is monochrome image data in the defined reference area, generate inverted image data in which the luminance of each pixel of the reference image data is inverted, and invert the pixel value of each pixel of the inspection image data. A value obtained by adding the pixel values of the pixels at corresponding positions in the image data and multiplying by 1/2 is obtained as the inspection target value, and the inspection target value is determined in advance. The number of pixels brighter inspection image data than the threshold value, and an image analysis unit for obtaining a wound information indicating whether scratches how much the inspection region is present.
本発明の第２の局面による検査方法は、被検査物の擦れ傷を検査するための検査方法であって、被検査物のうち擦れ傷が無い領域としてユーザーにより定められた基準領域のモノクロの画像データである基準画像データから、基準画像データの各画素の輝度を反転させた反転画像データを生成するステップと、被検査物のうち検査する領域としてユーザーにより定められた検査領域を撮像することにより、検査領域のモノクロの画像データである検査画像データを生成するステップと、検査画像データの各画素の画素値のそれぞれに、反転画像データの対応する位置に在る画素の画素値を加算して１／２を乗じることによって得られる値を検査対象値として求めるステップと、検査対象値が予め定められた閾値よりも明るくなる検査画像データの画素の数を、検査領域にどの程度の擦れ傷が有るかを示す傷情報として求めるステップと、を備える。 An inspection method according to a second aspect of the present invention is an inspection method for inspecting a scratch on an object to be inspected, and is a monochrome image of a reference region defined by a user as an area free from scratch on the object to be inspected. A step of generating inverted image data obtained by inverting the luminance of each pixel of the reference image data from the reference image data which is image data, and imaging an inspection region defined by the user as an inspection region of the inspection object The step of generating inspection image data which is monochrome image data of the inspection region and the pixel value of the pixel at the corresponding position of the inverted image data are added to the pixel value of each pixel of the inspection image data. Obtaining a value obtained by multiplying by 1/2 as an inspection target value, and inspection image data in which the inspection target value becomes brighter than a predetermined threshold value The number of pixels, and a step of obtaining a flaw information indicating which degree of scratches is in the examination region.
本発明の構成では、検査画像データの各画素の画素値のそれぞれに、反転画像データの対応する位置に在る画素の画素値を加算して１／２を乗じることで得られる値を検査対象値として求める。このようにして求めた全検査対象値のうち、傷無し部分（検査領域のうち擦れ傷が無い部分）に対応する各検査対象値は、撮像時に照度ムラが生じていたとしても、全て略同じ所定値となる。これにより、たとえば、所定値を閾値として予め定め、検査対象値が閾値よりも大きくなる検査画像データの画素の数を傷情報（検査領域にどの程度の擦れ傷が有るかを示す情報）として求めれば、擦れ傷の検査精度を向上させることができる。 In the configuration of the present invention, the value obtained by adding the pixel value of the pixel at the corresponding position of the inverted image data and multiplying the pixel value of each pixel of the inspection image data by ½, Calculate as a value. Of all the inspection target values obtained in this way, all the inspection target values corresponding to the non-scratched part (the part having no scratches in the inspection area) are substantially the same even if illuminance unevenness occurs during imaging. It becomes a predetermined value. Accordingly, for example, a predetermined value is set as a threshold value, and the number of pixels of the inspection image data whose inspection target value is larger than the threshold value is obtained as scratch information (information indicating how much scratches are present in the inspection area). As a result, the inspection accuracy of the scratch can be improved.
以上のように、本発明によれば、被検査物の擦れ傷の検査精度を向上させることができる。 As described above, according to the present invention, it is possible to improve the inspection accuracy of the scratch on the inspection object.
＜検査装置の概要＞
図１に示すように、本実施形態の検査装置１００は、照明装置１、撮像装置２および画像解析装置３を備える。この検査装置１００は、梱包材である段ボールを被検査物３００とし、その被検査物３００の表面における擦れ傷の有無を検査するために使用される。
<Outline of inspection device>
As illustrated in FIG. 1, the inspection apparatus 100 according to the present embodiment includes an illumination device 1, an imaging device 2, and an image analysis device 3. This inspection apparatus 100 is used to inspect the presence or absence of scratches on the surface of the inspection object 300 using a corrugated cardboard as a packaging material as the inspection object 300.
被検査物３００の検査時には、検査担当者（ユーザー）によって、被検査物３００のうち検査する領域である検査領域ＩＡ（図２参照）が定められる。そして、検査担当者は、検査領域ＩＡを照明装置１で照明するとともに、検査領域ＩＡを撮像装置２で撮像する。 When the inspection object 300 is inspected, an inspection person (user) defines an inspection area IA (see FIG. 2) that is an area to be inspected in the inspection object 300. The inspection person illuminates the inspection area IA with the illumination device 1 and images the inspection area IA with the imaging device 2.
撮像装置２は、検査領域ＩＡを撮像すると、検査領域ＩＡの画像データを生成し、その画像データを画像解析装置３に出力する。画像解析装置３は、撮像装置２から出力された検査領域ＩＡの画像データを解析し、検査領域ＩＡにどの程度の擦れ傷が有るかを検査する。なお、検査装置１００にて行われる擦れ傷の検査処理については、後で詳細に説明する。 When imaging the inspection area IA, the imaging apparatus 2 generates image data of the inspection area IA and outputs the image data to the image analysis apparatus 3. The image analysis device 3 analyzes the image data of the inspection area IA output from the imaging device 2 and inspects how much scratches are present in the inspection area IA. Note that the scratch inspection process performed by the inspection apparatus 100 will be described in detail later.
照明装置１は、ＬＥＤ（図示せず）を光源として備える。照明装置１から発せられる照明光（ＬＥＤにより生成される光）の色は、特に限定されないが、被検査物３００の表面色と補色の関係にある色であることが好ましい。ここで、被検査物３００である段ボールの表面色は、薄茶色（クラフト色と称される場合もある）である。この場合、被検査物３００の表面色と補色の関係にある色は青色となる。このため、照明装置１の照明光の色は青色とされる。たとえば、照明装置１の光源として青色ＬＥＤが使用される。 The lighting device 1 includes an LED (not shown) as a light source. Although the color of the illumination light (light produced | generated by LED) emitted from the illuminating device 1 is not specifically limited, It is preferable that it is a color which has a relationship with the surface color of the to-be-inspected object 300, and a complementary color. Here, the surface color of the corrugated cardboard which is the object to be inspected 300 is light brown (sometimes referred to as craft color). In this case, the color complementary to the surface color of the inspection object 300 is blue. For this reason, the color of the illumination light of the illumination device 1 is blue. For example, a blue LED is used as the light source of the lighting device 1.
この照明装置１による被検査物３００の表面への照明光の照射は、被検査物３００の表面に対して斜め方向から行われる。なお、図１では、照明装置１からの照明光の一部を矢印Ｌ１で示す。また、照明装置１の設置数は２つとされる。２つの照明装置１は、撮像装置１の光軸ＯＡに対して略線対称となるよう配置される。 The illumination device 1 irradiates the surface of the inspection object 300 with illumination light from an oblique direction with respect to the surface of the inspection object 300. In FIG. 1, a part of the illumination light from the illumination device 1 is indicated by an arrow L1. Moreover, the number of installation of the illuminating device 1 shall be two. The two illumination devices 1 are disposed so as to be substantially line symmetric with respect to the optical axis OA of the imaging device 1.
なお、照明装置１は、経時的な劣化（照度低下）に対応するため、撮像に必要な照度よりも大きい照度を確保できるスペックを有する。この場合、照明装置１の照度劣化がほとんど無いときには、絞りが若干絞られた状態（全開ではない状態）で撮像装置２による撮像が行われる。そして、照明装置１の照度が低下したとき（ただし、必要照度を下回っていないとき）には、当初よりも絞りが開かれた状態で撮像装置２による撮像が行われる。 Note that the illumination device 1 has specifications that can ensure an illuminance greater than the illuminance necessary for imaging in order to cope with deterioration over time (decrease in illuminance). In this case, when there is almost no deterioration in illuminance of the lighting device 1, the image pickup device 2 performs image pickup in a state where the stop is slightly stopped (not fully opened). And when the illumination intensity of the illuminating device 1 falls (however, when it is not less than required illumination intensity), the imaging by the imaging device 2 is performed in the state by which the aperture | diaphragm was opened from the beginning.
撮像装置２は、レンズ部２１および撮像部２２を備え、被検査物３００を撮像し、モノクロの画像データを生成する。レンズ部２１は、結像レンズを含み、被検査物３００で反射された反射光を撮像部２２に導く。なお、図１では、被検査物３００で反射された反射光の一部を矢印Ｌ２で示す。撮像部２２は、図３に示すように、モノクロＣＣＤ２３、増幅器２４、Ａ／Ｄ変換器２５および画像メモリー２６を含む。 The imaging device 2 includes a lens unit 21 and an imaging unit 22, and images the inspection object 300 to generate monochrome image data. The lens unit 21 includes an imaging lens, and guides the reflected light reflected by the inspection object 300 to the imaging unit 22. In FIG. 1, a part of the reflected light reflected by the inspection object 300 is indicated by an arrow L2. As shown in FIG. 3, the imaging unit 22 includes a monochrome CCD 23, an amplifier 24, an A / D converter 25, and an image memory 26.
モノクロＣＣＤ２３は、格子状に配列された画素（ピクセル）を有し、レンズ部２１を介して光（被検査物３００の表面で反射された反射光）を受光する。モノクロＣＣＤ２３は、被検査物３００の表面で反射された反射光を受光すると、画素毎に光電変換して電荷を蓄積し、蓄積電荷に応じたアナログ信号を出力する。すなわち、モノクロＣＣＤ２３から出力されるアナログ信号は、受光光の光量に応じて変動する。 The monochrome CCD 23 has pixels (pixels) arranged in a grid pattern, and receives light (reflected light reflected from the surface of the inspection object 300) through the lens unit 21. When the monochrome CCD 23 receives the reflected light reflected from the surface of the inspection object 300, the monochrome CCD 23 performs photoelectric conversion for each pixel, accumulates charges, and outputs an analog signal corresponding to the accumulated charges. That is, the analog signal output from the monochrome CCD 23 varies according to the amount of received light.
増幅器２４は、モノクロＣＣＤ２３から出力されるアナログ信号を増幅する。Ａ／Ｄ変換器２５は、増幅器２４により増幅されたアナログ信号をデジタルの画像データに変換する。なお、Ａ／Ｄ変換器２５に入力されたアナログ信号は、８ビットの濃度階調（２５６階調）を持つデジタルの画像データに変換される。たとえば、真っ黒の画素の画素値は最小値（画素値の最小値は「０」）となり、真っ白の画素の画素値は最大値（画素値の最大値は「２５５」）となる。画像メモリー２６は、Ａ／Ｄ変換器２５からのデジタルの画像データを一旦保持し、その画像データを画像解析装置３に転送する。 The amplifier 24 amplifies the analog signal output from the monochrome CCD 23. The A / D converter 25 converts the analog signal amplified by the amplifier 24 into digital image data. The analog signal input to the A / D converter 25 is converted into digital image data having 8-bit density gradation (256 gradations). For example, the pixel value of the black pixel is the minimum value (the minimum value of the pixel value is “0”), and the pixel value of the pure white pixel is the maximum value (the maximum value of the pixel value is “255”). The image memory 26 temporarily holds digital image data from the A / D converter 25 and transfers the image data to the image analysis device 3.
画像解析装置３は、「画像解析部」に相当するものであり、制御部３１、記憶部３２、表示部３３および操作部３４を備える。制御部３１は、撮像装置２からの画像データの画像解析を行う（詳細は後述する）。記憶部３２は、画像解析ソフト３５を記憶する。そして、制御部３１は、画像解析ソフト３５に基づき動作する（画像解析を行う）。なお、記憶部３２には、画像データを記憶する領域も設けられる。 The image analysis device 3 corresponds to an “image analysis unit” and includes a control unit 31, a storage unit 32, a display unit 33, and an operation unit 34. The control unit 31 performs image analysis of the image data from the imaging device 2 (details will be described later). The storage unit 32 stores image analysis software 35. The control unit 31 operates based on the image analysis software 35 (performs image analysis). The storage unit 32 is also provided with an area for storing image data.
表示部３３は、たとえば、ＬＣＤなどのディスプレイであり、各種情報を表示する。操作部３４は、たとえば、ハードウェアキーボードであり、各種入力を受け付ける。 The display unit 33 is a display such as an LCD, for example, and displays various types of information. The operation unit 34 is, for example, a hardware keyboard and accepts various inputs.
＜照明装置および撮像装置の位置調整＞
図４に示すように、照明装置１は、照明装置１を所望位置で保持するための照明装置取付板１１１の一方面側に取り付けられる。この照明装置取付板１１１には、所定の締結部材４が挿入される締結穴１１１ａ（「照明装置用締結穴」に相当）が形成されている。たとえば、締結部材４は雄ネジが形成された部材（つまみ付きボルトなど）であり、照明装置１（その筐体）には締結部材４と螺合可能な雌ネジが形成されている。そして、照明装置１は、照明装置取付板１１１の一方面側とは反対の他方面側から締結穴１１１ａに挿入された締結部材４によって照明装置取付板１１１に締結固定される。
<Position adjustment of illumination device and imaging device>
As shown in FIG. 4, the illuminating device 1 is attached to the one surface side of the illuminating device attaching plate 111 for holding the illuminating device 1 in a desired position. The lighting device mounting plate 111 is formed with a fastening hole 111a (corresponding to a “lighting device fastening hole”) into which a predetermined fastening member 4 is inserted. For example, the fastening member 4 is a member in which a male screw is formed (such as a bolt with a knob), and the lighting device 1 (its housing) is formed with a female screw that can be screwed with the fastening member 4. The lighting device 1 is fastened and fixed to the lighting device mounting plate 111 by the fastening member 4 inserted into the fastening hole 111a from the other surface side opposite to the one surface side of the lighting device mounting plate 111.
照明装置取付板１１１は、支持板１１２によって回動可能に支持される。具体的には、支持板１１２は、照明装置取付板１１１が回動軸１１３を支点としてＡ方向の一方側（一方向）に回動すると照明装置１が被検査物３００に接近し、照明装置取付板１１１が回動軸１１３を支点としてＡ方向の他方側（一方向とは反対の他方向）に回動すると照明装置１が被検査物３００から離間するように、照明装置取付板１１１を回動可能に支持する。これにより、照明装置取付板１１１を回動させることによって、被検査物３００に対する照明装置１の位置を調整することができる。 The illumination device mounting plate 111 is rotatably supported by the support plate 112. Specifically, when the lighting device mounting plate 111 rotates to one side (one direction) in the A direction with the rotation shaft 113 as a fulcrum, the lighting device 1 approaches the object to be inspected 300, and the support plate 112 When the mounting plate 111 rotates about the rotation shaft 113 to the other side in the A direction (another direction opposite to one direction), the lighting device mounting plate 111 is moved away from the object to be inspected 300. It is supported so that it can rotate. Thereby, the position of the illuminating device 1 with respect to the to-be-inspected object 300 can be adjusted by rotating the illuminating device attaching plate 111.
さらに、照明装置取付板１１１の締結穴１１１ａは、照明装置取付板１１１の回動軸１１３側からその反対側に向かって延びる長穴状に形成される。これにより、照明装置取付板１１１への照明装置１の取付位置も調整することができる。すなわち、被検査物３００に対する照明装置１の位置を調整することができる。 Furthermore, the fastening hole 111a of the lighting device mounting plate 111 is formed in a long hole shape that extends from the rotating shaft 113 side of the lighting device mounting plate 111 toward the opposite side. Thereby, the attachment position of the illuminating device 1 to the illuminating device attaching plate 111 can also be adjusted. That is, the position of the illumination device 1 with respect to the inspection object 300 can be adjusted.
また、撮像装置２は、撮像装置２を所望位置で保持するための撮像装置取付板２１１の一方面側に取り付けられる。この撮像装置取付板２１１には、締結部材４が挿入される締結穴２１１ａ（「撮像装置用締結穴」に相当）が形成されている。なお、図４には、撮像装置取付板２１１の締結穴２１１ａに挿入される締結部材４を図示していないが、実際には、撮像装置取付板２１１の締結穴２１１ａに締結部材４が挿入されている。たとえば、撮像装置２（その筐体）には締結部材４と螺合可能な雌ネジが形成されている。そして、撮像装置２は、撮像装置取付板２１１の一方面側とは反対の他方面側から締結穴２１１ａに挿入された締結部材４によって撮像装置取付板２１１に締結固定される。 Moreover, the imaging device 2 is attached to one surface side of the imaging device mounting plate 211 for holding the imaging device 2 at a desired position. The imaging device mounting plate 211 is formed with a fastening hole 211a (corresponding to “imaging device fastening hole”) into which the fastening member 4 is inserted. 4 does not show the fastening member 4 inserted into the fastening hole 211a of the imaging device mounting plate 211, but actually, the fastening member 4 is inserted into the fastening hole 211a of the imaging device mounting plate 211. ing. For example, the imaging device 2 (its housing) is formed with a female screw that can be screwed into the fastening member 4. The imaging device 2 is fastened and fixed to the imaging device mounting plate 211 by the fastening member 4 inserted into the fastening hole 211a from the other surface side opposite to the one surface side of the imaging device mounting plate 211.
この撮像装置取付板２１１の締結穴２１１ａは、撮像装置１の光軸ＯＡの軸方向（Ｂ方向）に沿って延びる長穴状に形成される。これにより、撮像装置取付板２１１への撮像装置２の取付位置を調整することができる。すなわち、被検査物３００に対する撮像装置２の位置を調整することができる。 The fastening hole 211 a of the imaging device mounting plate 211 is formed in a long hole shape extending along the axial direction (B direction) of the optical axis OA of the imaging device 1. Thereby, the attachment position of the imaging device 2 to the imaging device attachment plate 211 can be adjusted. That is, the position of the imaging device 2 with respect to the inspection object 300 can be adjusted.
ところで、照明装置１および撮像装置２は同一の装置設置台（図示せず）に設置されており、それによって、照明装置１および撮像装置２を一体的に持ち運ぶことが可能となっている。なお、装置設置台にキャスターを取り付けてもよい。このようにすれば、照明装置１および撮像装置２の持ち運びがより容易になる。たとえば、被検査物３００のサイズが大きい場合、あるいは、被検査物３００の重量（被検査物３００により梱包された装置の重量）が重い場合には、被検査物３００の移動に手間がかかるので、照明装置１および撮像装置２を被検査物３００の方に持って行かなければならない。この場合、キャスター付きの装置設置台に照明装置１および撮像装置２が設置されていると、検査担当者の利便性が向上する。 By the way, the illuminating device 1 and the imaging device 2 are installed on the same apparatus installation stand (not shown), and thereby, the illuminating device 1 and the imaging device 2 can be carried together. In addition, you may attach a caster to an apparatus installation stand. In this way, the illumination device 1 and the imaging device 2 can be easily carried. For example, when the size of the inspection object 300 is large or when the weight of the inspection object 300 (the weight of the device packed by the inspection object 300) is heavy, it takes time to move the inspection object 300. The illumination device 1 and the imaging device 2 must be brought toward the object 300 to be inspected. In this case, if the illumination device 1 and the imaging device 2 are installed on a device installation table with casters, the convenience of the person in charge of inspection is improved.
＜擦れ傷の検査＞
段ボールの表面に擦れ傷が付くと、その擦れ傷が付いた部分は他の部分よりも白っぽくなる。したがって、擦れ傷が有る部分（以下、傷有り部分と称する）に照明装置１の照明光が入射すると、撮像装置２に向かって反射する光が増えるが、擦れ傷が無い部分（以下、傷無し部分と称する）に照明装置１の照明光が入射すると、撮像装置２に向かって反射する光が少なくなる。すなわち、傷有り部分の画素の画素値が傷無し部分の画素の画素値よりも大きくなる。
<Inspection of scratches>
When the surface of the cardboard is scratched, the scratched portion becomes whitish than the other portions. Therefore, when the illumination light of the illumination device 1 is incident on a scratched portion (hereinafter referred to as a scratched portion), the light reflected toward the imaging device 2 increases, but there is no scratched portion (hereinafter, no scratch). When the illumination light of the illumination device 1 is incident on a portion), the light reflected toward the imaging device 2 is reduced. That is, the pixel value of the pixel with a scratch is larger than the pixel value of the pixel with no scratch.
また、段ボールの表面に擦れ傷が有るということは、細かい凹凸が生じているということである。したがって、照明装置１の照明光が傷有り部分に入射すると、その光は凹凸によって拡散され易い。一方で、照明装置１の照明光が傷無し部分に入射すると、正反射する光が増える（光の拡散が少なくなる）。 Further, the fact that the surface of the corrugated cardboard is scratched means that fine irregularities are generated. Therefore, when the illumination light of the lighting device 1 enters the scratched portion, the light is easily diffused by the unevenness. On the other hand, when the illumination light of the illuminating device 1 enters the non-scratched part, the light that is regularly reflected increases (the diffusion of light decreases).
ここで、図１に示したように、照明装置１による照明光の照射は被検査物３００の表面に対して斜めから行われる。このため、照明装置１の照明光が傷有り部分に入射すると、光が拡散することによって撮像装置２に向かって進行する光が増えるが、照明装置１の照明光が傷無し部分に入射すると、正反射する光が増えることによって撮像装置２に向かって進行する光が少なくなる。すなわち、傷有り部分の画素の画素値が傷無し部分の画素の画素値よりも大きくなる。なお、照明装置１の照明光は、波長が短く拡散し易い青色光とされている。したがって、照明装置１の照明光が傷有り部分に入射した場合における光の拡散がより促進される。 Here, as shown in FIG. 1, the illumination device 1 irradiates the illumination light obliquely with respect to the surface of the inspection object 300. For this reason, when the illumination light of the illumination device 1 is incident on the scratched portion, the light travels toward the imaging device 2 due to the diffusion of light, but when the illumination light of the illumination device 1 is incident on the scratchless portion, The amount of light that travels toward the image pickup device 2 decreases as the amount of specularly reflected light increases. That is, the pixel value of the pixel with a scratch is larger than the pixel value of the pixel with no scratch. In addition, the illumination light of the illuminating device 1 is blue light with a short wavelength and easy to diffuse. Therefore, the diffusion of light when the illumination light of the illumination device 1 enters the damaged portion is further promoted.
これにより、段ボールの表面を撮像し、それによって得られた画像データを解析することにより、当該段ボールの表面にどの程度の擦れ傷が生じているかが分かる。以下に、具体的に説明する。 Thereby, by imaging the surface of the cardboard and analyzing the image data obtained thereby, it is possible to know how much scratches are generated on the surface of the cardboard. This will be specifically described below.
まず、図５に示すフローチャートを参照して、被検査物３００の検査領域ＩＡの検査処理に先立って行われる準備処理の流れについて説明する。 First, the flow of the preparation process performed prior to the inspection process of the inspection area IA of the inspection object 300 will be described with reference to the flowchart shown in FIG.
図５のフローチャートのスタート時点では、被検査物３００の表面領域のうちから、検査領域ＩＡ（図２参照）が検査担当者によって定められているとする。また、同一の被検査物３００の表面領域のうちから、検査領域ＩＡの擦れ傷の検査において基準となる基準領域ＲＡ（図２参照）が検査担当者によって定められているとする。なお、基準領域ＲＡというのは、検査領域ＩＡとは異なる領域であり、被検査物３００のうち擦れ傷が無い領域（擦れ傷の量が許容範囲内に収まっている領域）として検査担当者によって定められた領域である。 At the start of the flowchart of FIG. 5, it is assumed that the inspection area IA (see FIG. 2) is determined by the inspector from the surface area of the inspection object 300. In addition, it is assumed that a reference area RA (see FIG. 2) serving as a reference in the inspection of the scratch in the inspection area IA is defined by the inspection person among the surface areas of the same inspection object 300. Note that the reference area RA is an area different from the inspection area IA, and is an area in the inspection object 300 that is free from scratches (an area in which the amount of scratches is within an allowable range). This is a defined area.
そして、図５のフローチャートは、検査担当者が撮像装置２を用いて被検査物３００の基準領域ＲＡを撮像したときにスタートする。 The flowchart in FIG. 5 starts when the person inspecting the image captures the reference region RA of the inspection object 300 using the imaging device 2.
ステップＳ１において、画像解析装置３は、基準領域ＲＡのモノクロの画像データが撮像装置２によって生成されると、その画像データを基準画像データとして撮像装置２から取得する。ここで、基準領域ＲＡは、擦れ傷が無い領域として検査担当者によって定められた領域である。したがって、基準画像データの各画素の画素値は、互いに略同じ値（擦れ傷が無いことを示す値）となる。基準画像データの一例を図６（上図）に示す。 In step S <b> 1, when monochrome image data of the reference area RA is generated by the imaging device 2, the image analysis device 3 acquires the image data from the imaging device 2 as reference image data. Here, the reference area RA is an area defined by an inspector as an area free from scratches. Therefore, the pixel values of the respective pixels of the reference image data are substantially the same value (a value indicating no scratches). An example of the reference image data is shown in FIG. 6 (upper figure).
その後、ステップＳ２において、画像解析装置３は、基準画像データの各画素の輝度を反転させた画像データである反転画像データを生成する。このとき、画像解析装置３は、基準画像データの各画素について、画素値の最大値（最大値は「２５５」）から実際の画素値を減算し、それによって得られる各値を反転画像データの各画素の画素値とする。反転画像データの一例を図６（下図）に示す。そして、ステップＳ３において、画像解析装置３は、反転画像データを記憶部３２に記憶させる。ここで得られた反転画像データは、後述する検査処理時に用いられる。 Thereafter, in step S2, the image analysis device 3 generates inverted image data that is image data obtained by inverting the luminance of each pixel of the reference image data. At this time, the image analysis apparatus 3 subtracts the actual pixel value from the maximum pixel value (the maximum value is “255”) for each pixel of the reference image data, and uses each value obtained thereby for the inverted image data. The pixel value of each pixel is used. An example of the reverse image data is shown in FIG. In step S <b> 3, the image analysis device 3 stores the inverted image data in the storage unit 32. The reverse image data obtained here is used during an inspection process to be described later.
なお、被検査物３００としての段ボールと同じ種類の所定段ボール（たとえば、擦れ傷が無い新品の段ボール）を別途準備するとともに、所定段ボールの一領域を基準領域ＲＡとして定め、所定段ボールの基準領域ＲＡを撮像することによって得られる画像データを基準画像データとして用いることもできる。ただし、被検査物３００としての段ボールには、古紙などを配合して製造されたものがある。すなわち、同じ種類の段ボール（たとえば、仕様や製造ラインが同じ段ボール）であっても、個体差が生じる。したがって、検査対象の段ボールの一領域（検査領域ＩＡ以外の領域）を基準領域ＲＡとし、その基準領域ＲＡを撮像することによって得られる画像データを基準画像データとして用いるのが好ましい。 A predetermined corrugated cardboard of the same type as the corrugated cardboard as the object to be inspected 300 (for example, a new corrugated cardboard without scratches) is separately prepared, and one area of the predetermined corrugated cardboard is defined as a reference area RA, and the reference area RA of the predetermined corrugated cardboard is defined. The image data obtained by imaging can also be used as reference image data. However, some corrugated cardboard as the object to be inspected 300 is manufactured by mixing waste paper or the like. That is, individual differences occur even with the same type of cardboard (for example, cardboard with the same specifications and production line). Therefore, it is preferable to use one area of the cardboard to be inspected (an area other than the inspection area IA) as the reference area RA and use image data obtained by imaging the reference area RA as the reference image data.
次に、図７に示すフローチャートを参照して、被検査物３００の検査領域ＩＡを検査するときに行われる検査処理の流れについて説明する。 Next, the flow of inspection processing performed when inspecting the inspection area IA of the inspection object 300 will be described with reference to the flowchart shown in FIG.
図７のフローチャートのスタートは、検査担当者が撮像装置２を用いて被検査物３００の検査領域ＩＡを撮像したときにスタートする。 The start of the flowchart of FIG. 7 starts when the person inspecting the image captures the inspection area IA of the inspection object 300 using the imaging device 2.
ステップＳ１１において、画像解析装置３は、検査領域ＩＡのモノクロの画像データが撮像装置２によって生成されると、その画像データを検査画像データとして撮像装置２から取得する。検査画像データの一例を図８（上図）に示す。なお、図８では、検査画像データのうち傷有り部分に対応する箇所を楕円形で示す。 In step S11, when monochrome image data of the inspection area IA is generated by the imaging device 2, the image analysis device 3 acquires the image data from the imaging device 2 as inspection image data. An example of inspection image data is shown in FIG. 8 (upper figure). In FIG. 8, the portion corresponding to the scratched portion of the inspection image data is indicated by an ellipse.
そして、ステップＳ１２において、画像解析装置３は、検査対象値を求める。具体的には、画像解析装置３は、検査画像データの各画素の画素値のそれぞれに、反転画像データの対応する位置に在る画素の画素値を加算して１／２を乗じる演算を行い、その演算によって得られる各値を検査対象値として求める。すなわち、検査画像データの或る画素の画素値をＶ１とし、検査画像データの当該画素に対応する反転画像データの画素の画素値をＶ２とすると、以下の式（１）によって検査対象値Ｖ３が求められる。
Ｖ３＝（Ｖ１＋Ｖ２）×０．５・・・（１）
演算後の検査画像データの一例を図８（下図）に示す。
In step S12, the image analysis device 3 obtains an inspection target value. Specifically, the image analysis device 3 performs an operation of adding the pixel value of the pixel at the corresponding position of the inverted image data to each pixel value of each pixel of the inspection image data and multiplying by 1/2. Each value obtained by the calculation is obtained as an inspection target value. That is, assuming that the pixel value of a certain pixel of the inspection image data is V1, and the pixel value of the pixel of the inverted image data corresponding to the pixel of the inspection image data is V2, the inspection target value V3 is expressed by the following equation (1). Desired.
V3 = (V1 + V2) × 0.5 (1)
An example of the inspection image data after the calculation is shown in FIG.
また、ステップＳ１３において、画像解析装置３は、傷有り部分の画素（以下、所定画素と称する）の数を傷情報（検査領域ＩＡにどの程度の擦れ傷が有るかを示す情報）として求める。ここで、反転画像データの生成の基となった基準画像データは、擦れ傷が無い領域である基準領域ＲＡを撮像することによって得られた画像データである。このため、撮像時に照度ムラが生じていたとしても、上記式（１）に基づき求められた傷無し部分に対応する各検査対象値は、全て略同じ所定値となる。そこで、画像解析装置３は、所定値を閾値とする。そして、画像解析装置３は、検査画像データの全画素のうち、検査対象値が閾値よりも明るく（大きく）なる画素、すなわち、検査対象値が「１２８」以上となる画素が所定画素であると判断する。なお、閾値は変更可能である。 In step S <b> 13, the image analysis device 3 obtains the number of pixels (hereinafter referred to as “predetermined pixels”) in the damaged portion as scratch information (information indicating how much scratches are present in the inspection area IA). Here, the reference image data that is the basis for generating the inverted image data is image data obtained by imaging the reference area RA, which is an area free from scratches. For this reason, even if illuminance unevenness occurs at the time of imaging, all the inspection target values corresponding to the scratch-free portion obtained based on the above formula (1) are substantially the same predetermined value. Therefore, the image analysis apparatus 3 sets a predetermined value as a threshold value. Then, the image analysis apparatus 3 determines that among all the pixels of the inspection image data, a pixel whose inspection target value is brighter (larger) than the threshold, that is, a pixel whose inspection target value is “128” or more is a predetermined pixel. to decide. The threshold value can be changed.
続いて、ステップＳ１４において、画像解析装置３は、傷情報を検査担当者に対して報知する。たとえば、画像解析装置３は、検査画像データの全画素数に対する所定画素数の割合を求める。そして、画像解析装置３は、図９に示すような報知画面ＤＳを表示部３３に表示することにより、検査領域ＩＡのうち何％の領域に擦れ傷が有るかを検査担当者に対して報知する。これにより、擦れ傷の有無を定量的に評価できる。 Subsequently, in step S <b> 14, the image analysis device 3 notifies the person inspecting the wound information. For example, the image analysis device 3 obtains the ratio of the predetermined number of pixels to the total number of pixels of the inspection image data. Then, the image analysis apparatus 3 displays a notification screen DS as shown in FIG. 9 on the display unit 33 so as to notify the inspection staff of what percentage of the inspection area IA has a scratch. To do. Thereby, the presence or absence of an abrasion can be evaluated quantitatively.
本実施形態の検査装置１００は、上記のように、被検査物３００を照明する照明装置１と、被検査物３００のうち検査する領域としてユーザーにより定められた検査領域ＩＡを撮像することにより、検査領域ＩＡのモノクロの画像データである検査画像データを生成する撮像装置２と、被検査物３００のうち擦れ傷が無い領域としてユーザーにより定められた基準領域ＲＡのモノクロの画像データである基準画像データから、基準画像データの各画素の輝度を反転させた反転画像データを生成し、検査画像データの各画素の画素値のそれぞれに、反転画像データの対応する位置に在る画素の画素値を加算して１／２を乗じることによって得られる値を検査対象値として求め、その検査対象値が予め定められた閾値よりも明るく（大きく）なる検査画像データの画素の数を検査領域ＩＡにどの程度の擦れ傷が有るかを示す傷情報として求める画像解析装置３（画像解析部）と、を備える。 As described above, the inspection apparatus 100 according to the present embodiment images the illumination device 1 that illuminates the inspection object 300 and the inspection area IA that is determined by the user as the inspection area of the inspection object 300. The imaging device 2 that generates inspection image data that is monochrome image data of the inspection area IA, and a reference image that is monochrome image data of the reference area RA that is determined by the user as an area free of scratches in the inspection object 300 Inverted image data obtained by inverting the luminance of each pixel of the reference image data is generated from the data, and the pixel value of the pixel at the corresponding position of the inverted image data is set for each pixel value of each pixel of the inspection image data. A value obtained by adding and multiplying by 1/2 is obtained as an inspection target value, and the inspection target value becomes brighter (larger) than a predetermined threshold value. Includes an image analysis apparatus 3 for determining a flaw information indicating which degree of scratches there the number of pixels of 査 image data in the inspection area IA (image analyzing unit), a.
本実施形態の構成では、検査画像データの各画素の画素値のそれぞれに、反転画像データの対応する位置に在る画素の画素値を加算して１／２を乗じることで得られる値を検査対象値として求める。このようにして求めた全検査対象値のうち、傷無し部分（検査領域ＩＡのうち擦れ傷が無い部分）に対応する各検査対象値は、撮像時に照度ムラが生じていたとしても、全て略同じ所定値となる。これにより、所定値を閾値として予め定め、検査対象値が閾値よりも大きくなる検査画像データの画素の数を傷情報（検査領域ＩＡにどの程度の擦れ傷が有るかを示す情報）として求めれば、擦れ傷の検査精度を向上させることができる。 In the configuration of the present embodiment, the pixel value of each pixel of the inspection image data is added to the pixel value of the pixel at the corresponding position of the inverted image data and multiplied by ½. Calculate as target value. Of all the inspection target values obtained in this way, all the inspection target values corresponding to the non-scratched part (the part having no scratch in the inspection area IA) are all omitted even if illuminance unevenness occurs during imaging. The same predetermined value is obtained. Accordingly, if a predetermined value is set in advance as a threshold and the number of pixels of the inspection image data whose inspection target value is larger than the threshold is obtained as scratch information (information indicating how much scratches are present in the inspection area IA). It is possible to improve the inspection accuracy of scratches.
また、本実施形態では、上記のように、照明装置１の照明光の色は、被検査物３００の表面色と補色の関係にある色である。このように構成すれば、コントラストの違いがはっきりする。すなわち、傷有り部分の画素の画素値と傷無し部分の画素の画素値との間の差が明確になる。これにより、擦れ傷の検査精度をより向上させることができる。 In the present embodiment, as described above, the color of the illumination light of the illumination device 1 is a color that is in a complementary color relationship with the surface color of the inspection object 300. With this configuration, the difference in contrast becomes clear. That is, the difference between the pixel value of the pixel with the flawed portion and the pixel value of the pixel with the flawless portion becomes clear. Thereby, the inspection accuracy of the scratches can be further improved.
また、本実施形態では、上記のように、照明装置１は、被検査物３００の表面に対して斜めから照明光を照射する。ここで、段ボールの傷有り部分には細かい凹凸が生じしているので、傷有り部分に入射した照明装置１の照明光は拡散し易い（正反射し難い）。したがって、照明装置１による照明光の照射を被検査物３００の表面に対して斜めから行うのが好ましい。さらに、波長が短く拡散し易い青色光を照明装置１の照明光とするのがより好ましい。 In the present embodiment, as described above, the illuminating device 1 irradiates illumination light obliquely onto the surface of the inspection object 300. Here, since the fine unevenness | corrugation has arisen in the part with a flaw of corrugated cardboard, the illumination light of the illuminating device 1 which injected into the part with a flaw is easy to be spread | diffused (it is hard to carry out regular reflection). Therefore, it is preferable that the illumination device 1 irradiates the illumination light obliquely with respect to the surface of the inspection object 300. Furthermore, it is more preferable to use blue light having a short wavelength and easily diffusing as illumination light of the illumination device 1.
また、本実施形態では、上記のように、照明装置１が取り付けられる照明装置取付板１１１と、照明装置取付板１１１がＡ方向の一方側（一方向）に回動すると照明装置１が被検査物３００に近づき、照明装置取付板１１１がＡ方向の他方側（一方向とは反対の他方向）に回動すると照明装置１が被検査物３００から離れるように、照明装置取付板１１１を回動可能に支持する支持板１１２と、を備える。さらに、照明装置取付板１１１は、照明装置１を照明装置取付板１１１に締結固定するための締結部材４が挿入される照明装置用締結穴１１１ａを有し、その照明装置用締結穴１１１ａは、照明装置取付板１１１の回動軸１１３側から回動軸１１３側とは反対側に向かって延びる長穴状に形成されている。このように構成すれば、被検査物３００に対する照明装置１の位置を容易に調整することができる。 In the present embodiment, as described above, the lighting device mounting plate 111 to which the lighting device 1 is mounted and the lighting device 1 is inspected when the lighting device mounting plate 111 rotates to one side (one direction) in the A direction. The lighting device mounting plate 111 is rotated so that the lighting device 1 moves away from the object to be inspected when the lighting device mounting plate 111 is rotated to the other side in the A direction (another direction opposite to one direction). And a support plate 112 that is movably supported. Further, the lighting device mounting plate 111 has a lighting device fastening hole 111a into which a fastening member 4 for fastening and fixing the lighting device 1 to the lighting device mounting plate 111 is inserted. The lighting device mounting plate 111 is formed in a long hole shape extending from the rotating shaft 113 side toward the opposite side of the rotating shaft 113 side. If comprised in this way, the position of the illuminating device 1 with respect to the to-be-inspected object 300 can be adjusted easily.
また、本実施形態では、上記のように、撮像装置２が取り付けられる撮像装置取付板２１１を備える。撮像装置取付板２１１は、撮像装置２を撮像装置取付板２１１に締結固定するための締結部材４が挿入される撮像装置用締結穴２１１ａを有し、その撮像装置用締結穴２１１ａは、撮像装置２の光軸ＯＡの軸方向（Ｂ方向）に沿って延びる長穴状に形成されている。このように構成すれば、被検査物３００に対する撮像装置２の位置を容易に調整することができる。 In the present embodiment, as described above, the imaging device mounting plate 211 to which the imaging device 2 is mounted is provided. The imaging device mounting plate 211 has an imaging device fastening hole 211a into which a fastening member 4 for fastening and fixing the imaging device 2 to the imaging device mounting plate 211 is inserted, and the imaging device fastening hole 211a is the imaging device. It is formed in a long hole shape extending along the axial direction (B direction) of the two optical axes OA. If comprised in this way, the position of the imaging device 2 with respect to the to-be-inspected object 300 can be adjusted easily.
今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって、制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記実施形態の説明ではなく特許請求の範囲によって示され、さらに、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれる。 It should be thought that embodiment disclosed this time is an illustration and restrictive at no points. The scope of the present invention is shown not by the description of the above-described embodiment but by the scope of claims for patent, and further includes meanings equivalent to the scope of claims for patent and all modifications within the scope.
１ 照明装置
２ 撮像装置
３ 画像解析装置（画像解析部）
１００ 検査装置
１１１ 照明装置取付板
１１１ａ 締結穴（照明装置用締結穴）
１１２ 支持板
２１１ 撮像装置取付板
２１１ａ 締結穴（撮像装置用締結穴）
３００ 被検査物
ＩＡ 検査領域
ＲＡ 基準領域
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Illuminating device 2 Imaging device 3 Image analysis apparatus (image analysis part)
100 Inspection Device 111 Lighting Device Mounting Plate 111a Fastening Hole (Lighting Device Fastening Hole)
112 support plate 211 imaging device mounting plate 211a fastening hole (fastening hole for imaging device)
300 Inspected object IA Inspection area RA reference area
Claims (8)
前記被検査物の表面色と補色の関係にある色の照明光で前記被検査物を照明する照明装置と、
前記被検査物のうち検査する領域としてユーザーにより定められた検査領域を撮像することにより、前記検査領域のモノクロの画像データである検査画像データを生成する撮像装置と、
前記被検査物のうち擦れ傷が無い領域としてユーザーにより定められた基準領域のモノクロの画像データである基準画像データから、前記基準画像データの各画素の輝度を反転させた反転画像データを生成し、前記検査画像データの各画素の画素値のそれぞれに、前記反転画像データの対応する位置に在る画素の画素値を加算して１／２を乗じることによって得られる値を検査対象値として求め、前記検査対象値が予め定められた閾値よりも明るくなる前記検査画像データの画素の数を、前記検査領域にどの程度の擦れ傷が有るかを示す傷情報として求める画像解析部と、を備えることを特徴とする検査装置。 An inspection device for inspecting an inspection object for scratches,
An illumination device that illuminates the inspection object with illumination light of a color complementary to the surface color of the inspection object;
An imaging device that generates inspection image data that is monochrome image data of the inspection area by imaging an inspection area defined by a user as an area to be inspected in the inspection object;
From the reference image data which is monochrome image data of a reference area defined by the user as an area free from scratches in the inspection object, inverted image data in which the luminance of each pixel of the reference image data is inverted is generated. The value obtained by adding the pixel value of the pixel at the corresponding position of the inverted image data and multiplying the pixel value of each pixel of the inspection image data by 1/2 is obtained as the inspection target value. An image analysis unit that determines the number of pixels of the inspection image data in which the inspection target value is brighter than a predetermined threshold value as scratch information indicating how much scratches are present in the inspection region. Inspection apparatus characterized by that.
前記照明装置取付板が一方向に回動すると前記照明装置が前記被検査物に近づき、前記照明装置取付板が前記一方向とは反対の他方向に回動すると前記照明装置が前記被検査物から離れるように、前記照明装置取付板を回動可能に支持する支持板と、を備えることを特徴とする請求項１〜３のいずれか１項に記載の検査装置。 A lighting device mounting plate to which the lighting device is mounted;
When the lighting device mounting plate rotates in one direction, the lighting device approaches the object to be inspected, and when the lighting device mounting plate rotates in another direction opposite to the one direction, the lighting device is in the test object. away from the inspection apparatus according to any one of claims 1 to 3, characterized in that it comprises a support plate for supporting the illumination device mounting plate pivotally.
前記被検査物を照明する照明装置と、 An illumination device for illuminating the object to be inspected;
前記照明装置が取り付けられる照明装置取付板と、 A lighting device mounting plate to which the lighting device is mounted;
前記照明装置取付板が一方向に回動すると前記照明装置が前記被検査物に近づき、前記照明装置取付板が前記一方向とは反対の他方向に回動すると前記照明装置が前記被検査物から離れるように、前記照明装置取付板を回動可能に支持する支持板と、 When the lighting device mounting plate rotates in one direction, the lighting device approaches the object to be inspected, and when the lighting device mounting plate rotates in another direction opposite to the one direction, the lighting device is in the test object. A support plate for rotatably supporting the lighting device mounting plate,
前記被検査物のうち検査する領域としてユーザーにより定められた検査領域を撮像することにより、前記検査領域のモノクロの画像データである検査画像データを生成する撮像装置と、 An imaging device that generates inspection image data that is monochrome image data of the inspection area by imaging an inspection area defined by a user as an area to be inspected in the inspection object;
前記被検査物のうち擦れ傷が無い領域としてユーザーにより定められた基準領域のモノクロの画像データである基準画像データから、前記基準画像データの各画素の輝度を反転させた反転画像データを生成し、前記検査画像データの各画素の画素値のそれぞれに、前記反転画像データの対応する位置に在る画素の画素値を加算して１／２を乗じることによって得られる値を検査対象値として求め、前記検査対象値が予め定められた閾値よりも明るくなる前記検査画像データの画素の数を、前記検査領域にどの程度の擦れ傷が有るかを示す傷情報として求める画像解析部と、を備えることを特徴とする検査装置。 From the reference image data which is monochrome image data of a reference area defined by the user as an area free from scratches in the inspection object, inverted image data in which the luminance of each pixel of the reference image data is inverted is generated. The value obtained by adding the pixel value of the pixel at the corresponding position of the inverted image data and multiplying the pixel value of each pixel of the inspection image data by 1/2 is obtained as the inspection target value. An image analysis unit that determines the number of pixels of the inspection image data in which the inspection target value is brighter than a predetermined threshold value as scratch information indicating how much scratches are present in the inspection region. Inspection apparatus characterized by that.
前記照明装置用締結穴は、長穴状に形成されていることを特徴とする請求項５に記載の検査装置。 The lighting device mounting plate has a lighting device fastening hole into which a fastening member for fastening and fixing the lighting device to the lighting device mounting plate is inserted.
The inspection device according to claim 5, wherein the lighting device fastening hole is formed in a long hole shape.
前記撮像装置取付板は、前記撮像装置を前記撮像装置取付板に締結固定するための締結部材が挿入される撮像装置用締結穴を有し、
前記撮像装置用締結穴は、長穴状に形成されていることを特徴とする請求項１〜６のいずれか１項に記載の検査装置。 An imaging device mounting plate to which the imaging device is mounted;
The imaging device mounting plate has an imaging device fastening hole into which a fastening member for fastening and fixing the imaging device to the imaging device mounting plate is inserted.
The inspection device according to claim 1, wherein the fastening hole for the imaging device is formed in a long hole shape.
前記被検査物のうち擦れ傷が無い領域としてユーザーにより定められた基準領域のモノクロの画像データである基準画像データから、前記基準画像データの各画素の輝度を反転させた反転画像データを生成するステップと、
前記被検査物のうち検査する領域としてユーザーにより定められた検査領域を、前記被検査物の表面色と補色の関係にある色の照明光で前記被検査物を照明して撮像することにより、前記検査領域のモノクロの画像データである検査画像データを生成するステップと、
前記検査画像データの各画素の画素値のそれぞれに、前記反転画像データの対応する位置に在る画素の画素値を加算して１／２を乗じることによって得られる値を検査対象値として求めるステップと、
前記検査対象値が予め定められた閾値よりも明るくなる前記検査画像データの画素の数を、前記検査領域にどの程度の擦れ傷が有るかを示す傷情報として求めるステップと、を備えることを特徴とする検査方法。 An inspection method for inspecting an inspection object for scratches,
Generate inverted image data in which the luminance of each pixel of the reference image data is inverted from reference image data which is monochrome image data of a reference area defined by a user as an area free from scratches in the inspection object. Steps,
By inspecting the inspection area defined by the user as an area to be inspected among the inspection objects by illuminating the inspection object with illumination light having a color complementary to the surface color of the inspection object , Generating inspection image data which is monochrome image data of the inspection region;
A step of obtaining a value obtained by adding the pixel value of a pixel at a corresponding position of the inverted image data and multiplying the pixel value of each pixel of the inspection image data by 1/2 as an inspection target value When,
Obtaining the number of pixels of the inspection image data in which the inspection target value becomes brighter than a predetermined threshold as scratch information indicating how much scratches are present in the inspection region. Inspection method.
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