JP6306922B2 - 光周波数領域反射測定方法、光周波数領域反射測定装置およびそれを用いた位置または形状を測定する装置 - Google Patents
光周波数領域反射測定方法、光周波数領域反射測定装置およびそれを用いた位置または形状を測定する装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6306922B2 JP6306922B2 JP2014069547A JP2014069547A JP6306922B2 JP 6306922 B2 JP6306922 B2 JP 6306922B2 JP 2014069547 A JP2014069547 A JP 2014069547A JP 2014069547 A JP2014069547 A JP 2014069547A JP 6306922 B2 JP6306922 B2 JP 6306922B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- polarization
- optical fiber
- measured
- polarization state
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 127
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims description 100
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 title claims description 10
- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims description 425
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 162
- 239000000835 fiber Substances 0.000 claims description 73
- 230000035559 beat frequency Effects 0.000 claims description 43
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 42
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 34
- 238000002168 optical frequency-domain reflectometry Methods 0.000 claims description 32
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 30
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 25
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 25
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 25
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 19
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 claims description 4
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 claims description 4
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 3
- 238000002558 medical inspection Methods 0.000 claims description 3
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 3
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 49
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 22
- 230000006870 function Effects 0.000 description 11
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 10
- 230000008859 change Effects 0.000 description 9
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 8
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 6
- LELOWRISYMNNSU-UHFFFAOYSA-N hydrogen cyanide Chemical compound N#C LELOWRISYMNNSU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 4
- 238000010408 sweeping Methods 0.000 description 4
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 3
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 2
- 102100035730 B-cell receptor-associated protein 31 Human genes 0.000 description 1
- 101710113110 B-cell receptor-associated protein 31 Proteins 0.000 description 1
- 101150054061 BAP1 gene Proteins 0.000 description 1
- 101100190268 Caenorhabditis elegans pah-1 gene Proteins 0.000 description 1
- 101150080421 MAGI1 gene Proteins 0.000 description 1
- 101100218521 Neurospora crassa (strain ATCC 24698 / 74-OR23-1A / CBS 708.71 / DSM 1257 / FGSC 987) bbp-1 gene Proteins 0.000 description 1
- 108010076504 Protein Sorting Signals Proteins 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Optical Fibers, Optical Fiber Cores, And Optical Fiber Bundles (AREA)
- Endoscopes (AREA)
- Optical Transform (AREA)
- Optical Couplings Of Light Guides (AREA)
Description
fa=|νa−νr|=S・ta=(2nS/c)La ……(1)
となる。同様にb点およびc点からの反射光と基準光の干渉によるビート周波数は、
fb=|νb−νr|=S・tb=(2nS/c)Lb ……(2)
fc=|νc−νr|=S・tc=(2nS/c)Lc ……(3)
となる。
波長が所定範囲連続的に掃引される波長掃引光を複数に分岐して測定光と基準光を生成し、前記測定光を、格子間隔がチャープしたファイバブラッグ回折格子を有する被測定光ファイバ(37)に出力する段階と、
前記測定光に対する前記被測定光ファイバからの反射光を受け入れ、該反射光と、前記基準光とを合波して受光器に入力し、前記反射光と前記基準光の干渉によって生じるビートを電気信号として出力させる段階と、
前記電気信号をディジタル信号に変換してフーリエ変換処理を行なう段階とを含む光周波数領域反射測定方法において、
前記測定光として、前記波長掃引光と同じ波長掃引特性を有し、互いに偏波が直交する第1の偏波状態の光と第2の偏波状態の光が、前記ファイバブラッグ回折格子を光が往復する時間より短い所定の時間差をもって合波された偏波多重光を用いるとともに、
前記波長掃引光が1回波長掃引されたときに得られる前記ディジタル信号に対するフーリエ変換処理を、前記第1の偏波状態の光に対する前記被測定光ファイバからの反射光と前記基準光との干渉によって生じるビート周波数と、前記第2の偏波状態の光に対する前記被測定光ファイバからの反射光と前記基準光との干渉によって生じるビート周波数とが重ならない複数の期間に分割して行ない、該複数の期間について得られたフーリエ変換結果を距離軸上で合成することで、前記第1の偏波状態の光と前記第2の偏波状態の光に対する前記被測定光ファイバの反射光のそれぞれの測定結果を得ることを特徴とする。
前記ビートを電気信号として出力させる段階は、前記反射光と前記基準光を互いに直交するs偏波成分とp偏波成分に分離し、前記反射光と前記基準光の該s偏波成分を受光器に入力して電気信号Asを出力させる段階と、前記反射光と前記基準光の該p偏波成分を受光器に入力して電気信号Apを出力させる段階とを含み、
前記電気信号をディジタル信号に変換してフーリエ変換処理を行なう段階は、前記電気信号Asをディジタル信号Dsに変換し、前記第1の偏波状態の光に対する前記被測定光ファイバからの反射光のs偏波成分と前記基準光のs偏波成分との干渉によって生じるビート周波数と、前記第2の偏波状態の光に対する前記被測定光ファイバからの反射光のs偏波成分と前記基準光のs偏波成分との干渉によって生じるビート周波数とが重ならない複数の期間に分割してフーリエ変換処理を行なう段階と、前記電気信号Apをディジタル信号Dpに変換し、前記第1の偏波状態の光に対する前記被測定光ファイバからの反射光のp偏波成分と前記基準光のp偏波成分との干渉によって生じるビート周波数と、前記第2の偏波状態の光に対する前記被測定光ファイバからの反射光のp偏波成分と前記基準光のp偏波成分との干渉によって生じるビート周波数とが重ならない複数の期間に分割してフーリエ変換処理を行なう段階とを含み、
前記第1の偏波状態の光と前記第2の偏波状態の光のそれぞれに対する前記被測定光ファイバの反射光の前記s偏波成分と前記p偏波成分のそれぞれの測定結果を得ることを特徴とする。
波長が所定範囲連続的に掃引される波長掃引光を出力する波長掃引光源(1)と、
前記波長掃引光を、第1光路を介して受けて複数に分岐する分岐手段(3)と、
前記分岐手段から第2光路を介して出力される第1の分岐光を受け、格子間隔がチャープしたファイバブラッグ回折格子を有する被測定光ファイバ(37)に測定光として出力すると共に、該測定光に対する前記被測定光ファイバからの反射光を受け入れる方向性結合手段(31)と、
前記分岐手段から第3光路を介して出力される第2の分岐光を基準光として受け、前記方向性結合手段から出力される前記被測定光ファイバからの反射光と合波する合波手段(41)と、
前記合波手段の出力光を受けて前記反射光と前記基準光の干渉によって生じるビートを電気信号として出力する受光器(55、56、57、58)と、
前記電気信号をディジタル信号に変換するA/D変換器(65、66)と、
前記ディジタル信号に対するフーリエ変換処理を行なう信号処理部(101〜104)とを有する光周波数領域反射測定装置において、
前記第1光路、または前記第2光路、または該第2光路と前記第3光路の両方の光路のいずれかに挿入され、入力される波長掃引光またはその分岐光を、互いに偏波が直交する第1の偏波状態の光と第2の偏波状態の光に分け、前記ファイバブラッグ回折格子を光が往復する時間より短い所定の時間差を付与して合波し、該合波した光を偏波多重光として出力する偏波多重部(10、10A、10B)を有し、該偏波多重光を少なくとも前記被測定光ファイバに対する前記測定光として用い、
前記信号処理部は、前記波長掃引光源が1回の波長掃引を行なったことで得られる前記ディジタル信号に対するフーリエ変換処理を、前記第1の偏波状態の光に対する前記被測定光ファイバからの反射光と前記基準光との干渉によって生じるビート周波数と、前記第2の偏波状態の光に対する前記被測定光ファイバからの反射光と前記基準光との干渉によって生じるビート周波数とが重ならない複数の期間に分割して行ない、該複数の期間について得られたフーリエ変換結果を距離軸上で合成することで、前記第1の偏波状態の光と前記第2の偏波状態の光に対する前記被測定光ファイバの反射光のそれぞれの測定結果を得ることを特徴とする。
前記反射光と前記基準光を互いに直交するs偏波成分とp偏波成分に分離する偏波分離手段(45、46)と、
前記反射光と前記基準光の該s偏波成分を受けて干渉によって生じるビートを電気信号Asとして出力する受光器(55、57)と、
前記反射光と前記基準光の該p偏波成分を受けて干渉によって生じるビートを電気信号Apとして出力する受光器(56、58)と、
前記電気信号Asをディジタル信号Dsに変換するA/D変換器(65)と、前記電気信号Apをディジタル信号Dpに変換するA/D変換器(66)とを有し、
前記信号処理部は、
前記波長掃引光源が1回の波長掃引を行なったことで得られる前記ディジタル信号Dsに対するフーリエ変換処理を、前記第1の偏波状態の光に対する前記被測定光ファイバからの反射光のs偏波成分と前記基準光のs偏波成分との干渉によって生じるビート周波数と、前記第2の偏波状態の光に対する前記被測定光ファイバからの反射光のs偏波成分と前記基準光のs偏波成分との干渉によって生じるビート周波数とが重ならない複数の期間に分割して行ない、該複数の期間について得られた前記ディジタル信号Dsに対するフーリエ変換結果を距離軸上で合成し、前記波長掃引光源が1回の波長掃引を行なったことで得られる前記ディジタル信号Dpに対するフーリエ変換処理を、前記第1の偏波状態の光に対する前記被測定光ファイバからの反射光のp偏波成分と前記基準光のp偏波成分との干渉によって生じるビート周波数と、前記第2の偏波状態の光に対する前記被測定光ファイバからの反射光のp偏波成分と前記基準光のp偏波成分との干渉によって生じるビート周波数とが重ならない複数の期間に分割して行ない、該複数の期間について得られた前記ディジタル信号Dpに対するフーリエ変換結果を距離軸上で合成することで、前記第1の偏波状態の光と前記第2の偏波状態の光のそれぞれに対する前記被測定光ファイバの反射光の前記s偏波成分と前記p偏波成分のそれぞれの測定結果を得ることを特徴とする。
前記偏波多重部が前記第2光路にのみ挿入されていることを特徴とする。
前記偏波多重部が前記第1光路に挿入され、該偏波多重部から出力される偏波多重光が、分岐されて前記測定光と前記基準光として出力されることを特徴とする。
前記偏波多重部は、前記第2光路に挿入された第1の偏波多重部(10A)と前記第3光路に挿入された第2の偏波多重部(10B)からなり、
前記第1の偏波多重部において偏波多重光に付与される第1の所定の時間差と、前記第2の偏波多重部において偏波多重光に付与される第2の所定の時間差とが、異なる値に設定されていることを特徴とする。
前記被測定光ファイバが、長手方向に複数の領域に分割され、該複数の領域はそれぞれの格子間隔がチャープしたファイバブラッグ回折格子を有しており、
前記信号処理部は、前記波長掃引光源が1回の波長掃引を行なったときに得られる前記ディジタル信号に対するフーリエ変換処理を、前記第1の偏波状態の光に対する前記被測定光ファイバの前記複数の領域からの反射光と前記基準光との干渉によって生じるビート周波数と、前記第2の偏波状態の光に対する前記被測定光ファイバの前記複数の領域からの反射光と前記基準光との干渉によって生じるビート周波数とが重ならない複数の期間に分割して行ない、該複数の期間について得られたフーリエ変換結果を距離軸上で合成することで、前記第1の偏波状態の光と前記第2の偏波状態の光に対する前記被測定光ファイバの前記複数の領域からの反射光のそれぞれの測定結果を得ることを特徴とする。
前記偏波多重部の所定の時間差が、前記被測定光ファイバの前記領域のいずれかを光が往復する時間より短く設定されていることを特徴とする。
前記被測定光ファイバの複数の領域の反射波長範囲の一部が重複するように形成されており、
前記波長掃引光源の波長掃引範囲が、前記被測定光ファイバの前記波長掃引範囲の重複する部分に達していることを特徴とする。
前記被測定光ファイバが、複数M以上のコアを有するマルチコアファイバ(36)であって、
前記マルチコアファイバのコアのうちの複数Mのコアに前記測定光を与え、該複数Mのコアからの反射光と前記基準光との干渉で得られるビート信号を得るために、前記方向性結合手段、前記合波手段、前記受光器および前記A/D変換器の組を複数M組設けたことを特徴する。
前記被測定光ファイバが、複数M以上のコアを有するマルチコアファイバ(36)であって、
前記測定光を前記マルチコアファイバのコアのうちの複数Mのコアに与え、該測定光に対する前記複数のコアからの反射光をそれぞれ受け入れるために前記方向性結合手段が前記複数M組設けられ、
前記複数Mのコアからの反射光を、前記方向性結合手段を介して合波する反射光合波手段(48)と、
前記反射光合波手段において前記複数Mのコアからの反射光が前記コア毎に異なる遅延時間をもって合波されるように遅延時間差を付与する手段(51A〜51D)とを有し、
前記反射光合波手段の出力に対する処理を、1組の前記合波手段、前記受光器および前記A/D変換器で行なうことを特徴する。
前記複数Mが4であることを特徴とする。
前記請求項3〜13のいずれかに記載の光周波数領域反射測定装置を用いて、前記被測定光ファイバが固定された被測定物の位置または形状を測定することを特徴する。
前記被測定物が、医療用カテーテル、医療用検査プローブ、医療用センサ、建築物検査センサ、海底センサ、または地質センサであることを特徴する。
図1は本発明を適用した光周波数領域反射測定装置(以下、単に測定装置と記す)100の構成例を示している。なお、以下の構成例において、前記した従来装置の構成要素と同等の要素には同一符号を付して説明する。
次に、上記構成の測定装置100により、互いに直交した偏波の光を被測定光ファイバ37に入射した時の応答を分離して検出できる原理を説明する。
Claims (15)
- 波長が所定範囲連続的に掃引される波長掃引光を複数に分岐して測定光と基準光を生成し、前記測定光を、格子間隔がチャープしたファイバブラッグ回折格子を有する被測定光ファイバ(37)に出力する段階と、
前記測定光に対する前記被測定光ファイバからの反射光を受け入れ、該反射光と、前記基準光とを合波して受光器に入力し、前記反射光と前記基準光の干渉によって生じるビートを電気信号として出力させる段階と、
前記電気信号をディジタル信号に変換してフーリエ変換処理を行なう段階とを含む光周波数領域反射測定方法において、
前記測定光として、前記波長掃引光と同じ波長掃引特性を有し、互いに偏波が直交する第1の偏波状態の光と第2の偏波状態の光が、前記ファイバブラッグ回折格子を光が往復する時間より短い所定の時間差をもって合波された偏波多重光を用いるとともに、
前記波長掃引光が1回波長掃引されたときに得られる前記ディジタル信号に対するフーリエ変換処理を、前記第1の偏波状態の光に対する前記被測定光ファイバからの反射光と前記基準光との干渉によって生じるビート周波数と、前記第2の偏波状態の光に対する前記被測定光ファイバからの反射光と前記基準光との干渉によって生じるビート周波数とが重ならない複数の期間に分割して行ない、該複数の期間について得られたフーリエ変換結果を距離軸上で合成することで、前記第1の偏波状態の光と前記第2の偏波状態の光に対する前記被測定光ファイバの反射光のそれぞれの測定結果を得ることを特徴とする光周波数領域反射測定方法。 - 前記ビートを電気信号として出力させる段階は、前記反射光と前記基準光を互いに直交するs偏波成分とp偏波成分に分離し、前記反射光と前記基準光の該s偏波成分を受光器に入力して電気信号Asを出力させる段階と、前記反射光と前記基準光の該p偏波成分を受光器に入力して電気信号Apを出力させる段階とを含み、
前記電気信号をディジタル信号に変換してフーリエ変換処理を行なう段階は、前記電気信号Asをディジタル信号Dsに変換し、前記第1の偏波状態の光に対する前記被測定光ファイバからの反射光のs偏波成分と前記基準光のs偏波成分との干渉によって生じるビート周波数と、前記第2の偏波状態の光に対する前記被測定光ファイバからの反射光のs偏波成分と前記基準光のs偏波成分との干渉によって生じるビート周波数とが重ならない複数の期間に分割してフーリエ変換処理を行なう段階と、前記電気信号Apをディジタル信号Dpに変換し、前記第1の偏波状態の光に対する前記被測定光ファイバからの反射光のp偏波成分と前記基準光のp偏波成分との干渉によって生じるビート周波数と、前記第2の偏波状態の光に対する前記被測定光ファイバからの反射光のp偏波成分と前記基準光のp偏波成分との干渉によって生じるビート周波数とが重ならない複数の期間に分割してフーリエ変換処理を行なう段階とを含み、
前記第1の偏波状態の光と前記第2の偏波状態の光のそれぞれに対する前記被測定光ファイバの反射光の前記s偏波成分と前記p偏波成分のそれぞれの測定結果を得ることを特徴とする請求項1記載の光周波数領域反射測定方法。 - 波長が所定範囲連続的に掃引される波長掃引光を出力する波長掃引光源(1)と、
前記波長掃引光を、第1光路を介して受けて複数に分岐する分岐手段(3)と、
前記分岐手段から第2光路を介して出力される第1の分岐光を受け、格子間隔がチャープしたファイバブラッグ回折格子を有する被測定光ファイバ(37)に測定光として出力すると共に、該測定光に対する前記被測定光ファイバからの反射光を受け入れる方向性結合手段(31)と、
前記分岐手段から第3光路を介して出力される第2の分岐光を基準光として受け、前記方向性結合手段から出力される前記被測定光ファイバからの反射光と合波する合波手段(41)と、
前記合波手段の出力光を受けて前記反射光と前記基準光の干渉によって生じるビートを電気信号として出力する受光器(55、56、57、58)と、
前記電気信号をディジタル信号に変換するA/D変換器(65、66)と、
前記ディジタル信号に対するフーリエ変換処理を行なう信号処理部(101〜104)とを有する光周波数領域反射測定装置において、
前記第1光路、または前記第2光路、または該第2光路と前記第3光路の両方の光路のいずれかに挿入され、入力される波長掃引光またはその分岐光を、互いに偏波が直交する第1の偏波状態の光と第2の偏波状態の光に分け、前記ファイバブラッグ回折格子を光が往復する時間より短い所定の時間差を付与して合波し、該合波した光を偏波多重光として出力する偏波多重部(10、10A、10B)を有し、該偏波多重光を少なくとも前記被測定光ファイバに対する前記測定光として用い、
前記信号処理部は、前記波長掃引光源が1回の波長掃引を行なったことで得られる前記ディジタル信号に対するフーリエ変換処理を、前記第1の偏波状態の光に対する前記被測定光ファイバからの反射光と前記基準光との干渉によって生じるビート周波数と、前記第2の偏波状態の光に対する前記被測定光ファイバからの反射光と前記基準光との干渉によって生じるビート周波数とが重ならない複数の期間に分割して行ない、該複数の期間について得られたフーリエ変換結果を距離軸上で合成することで、前記第1の偏波状態の光と前記第2の偏波状態の光に対する前記被測定光ファイバの反射光のそれぞれの測定結果を得ることを特徴とする光周波数領域反射測定装置。 - 前記反射光と前記基準光を互いに直交するs偏波成分とp偏波成分に分離する偏波分離手段(45、46)と、
前記反射光と前記基準光の該s偏波成分を受けて干渉によって生じるビートを電気信号Asとして出力する受光器(55、57)と、
前記反射光と前記基準光の該p偏波成分を受けて干渉によって生じるビートを電気信号Apとして出力する受光器(56、58)と、
前記電気信号Asをディジタル信号Dsに変換するA/D変換器(65)と、前記電気信号Apをディジタル信号Dpに変換するA/D変換器(66)とを有し、
前記信号処理部は、
前記波長掃引光源が1回の波長掃引を行なったことで得られる前記ディジタル信号Dsに対するフーリエ変換処理を、前記第1の偏波状態の光に対する前記被測定光ファイバからの反射光のs偏波成分と前記基準光のs偏波成分との干渉によって生じるビート周波数と、前記第2の偏波状態の光に対する前記被測定光ファイバからの反射光のs偏波成分と前記基準光のs偏波成分との干渉によって生じるビート周波数とが重ならない複数の期間に分割して行ない、該複数の期間について得られた前記ディジタル信号Dsに対するフーリエ変換結果を距離軸上で合成し、前記波長掃引光源が1回の波長掃引を行なったことで得られる前記ディジタル信号Dpに対するフーリエ変換処理を、前記第1の偏波状態の光に対する前記被測定光ファイバからの反射光のp偏波成分と前記基準光のp偏波成分との干渉によって生じるビート周波数と、前記第2の偏波状態の光に対する前記被測定光ファイバからの反射光のp偏波成分と前記基準光のp偏波成分との干渉によって生じるビート周波数とが重ならない複数の期間に分割して行ない、該複数の期間について得られた前記ディジタル信号Dpに対するフーリエ変換結果を距離軸上で合成することで、前記第1の偏波状態の光と前記第2の偏波状態の光のそれぞれに対する前記被測定光ファイバの反射光の前記s偏波成分と前記p偏波成分のそれぞれの測定結果を得ることを特徴とする請求項3記載の光周波数領域反射測定装置。 - 前記偏波多重部が前記第2光路にのみ挿入されていることを特徴とする請求項3または請求項4記載の光周波数領域反射測定装置。
- 前記偏波多重部が前記第1光路に挿入され、該偏波多重部から出力される偏波多重光が、分岐されて前記測定光と前記基準光として出力されることを特徴とする請求項3または請求項4記載の光周波数領域反射測定装置。
- 前記偏波多重部は、前記第2光路に挿入された第1の偏波多重部(10A)と前記第3光路に挿入された第2の偏波多重部(10B)からなり、
前記第1の偏波多重部において偏波多重光に付与される第1の所定の時間差と、前記第2の偏波多重部において偏波多重光に付与される第2の所定の時間差とが、異なる値に設定されていることを特徴とする請求項3記載の光周波数領域反射測定装置。 - 前記被測定光ファイバが、長手方向に複数の領域に分割され、該複数の領域はそれぞれの格子間隔がチャープしたファイバブラッグ回折格子を有しており、
前記信号処理部は、前記波長掃引光源が1回の波長掃引を行なったときに得られる前記ディジタル信号に対するフーリエ変換処理を、前記第1の偏波状態の光に対する前記被測定光ファイバの前記複数の領域からの反射光と前記基準光との干渉によって生じるビート周波数と、前記第2の偏波状態の光に対する前記被測定光ファイバの前記複数の領域からの反射光と前記基準光との干渉によって生じるビート周波数とが重ならない複数の期間に分割して行ない、該複数の期間について得られたフーリエ変換結果を距離軸上で合成することで、前記第1の偏波状態の光と前記第2の偏波状態の光に対する前記被測定光ファイバの前記複数の領域からの反射光のそれぞれの測定結果を得ることを特徴とする請求項3〜7のいずれかに記載の光周波数領域反射測定装置。 - 前記偏波多重部の所定の時間差が、前記被測定光ファイバの前記領域のいずれかを光が往復する時間より短く設定されていることを特徴とする請求項8記載の光周波数領域反射測定装置。
- 前記被測定光ファイバの複数の領域の反射波長範囲の一部が重複するように形成されており、
前記波長掃引光源の波長掃引範囲が、前記被測定光ファイバの前記波長掃引範囲の重複する部分に達していることを特徴とする請求項8または請求項9記載の光周波数領域反射測定装置。 - 前記被測定光ファイバが、複数M以上のコアを有するマルチコアファイバ(36)であって、
前記マルチコアファイバのコアのうちの複数Mのコアに前記測定光を与え、該複数Mのコアからの反射光と前記基準光との干渉で得られるビート信号を得るために、前記方向性結合手段、前記合波手段、前記受光器および前記A/D変換器の組を複数M組設けたことを特徴する請求項3〜10のいずれかに記載の光周波数領域反射測定装置。 - 前記被測定光ファイバが、複数M以上のコアを有するマルチコアファイバ(36)であって、
前記測定光を前記マルチコアファイバのコアのうちの複数Mのコアに与え、該測定光に対する前記複数のコアからの反射光をそれぞれ受け入れるために前記方向性結合手段が前記複数M組設けられ、
前記複数Mのコアからの反射光を、前記方向性結合手段を介して合波する反射光合波手段(48)と、
前記反射光合波手段において前記複数Mのコアからの反射光が前記コア毎に異なる遅延時間をもって合波されるように遅延時間差を付与する手段(51A〜51D)とを有し、
前記反射光合波手段の出力に対する処理を、1組の前記合波手段、前記受光器および前記A/D変換器で行なうことを特徴する請求項3〜10のいずれかに記載の光周波数領域反射測定装置。 - 前記複数Mが4であることを特徴とする請求項11または請求項12記載の光周波数領域反射測定装置。
- 前記請求項3〜13のいずれかに記載の光周波数領域反射測定装置を用いて、前記被測定光ファイバが固定された被測定物の位置または形状を測定することを特徴する位置または形状を測定する装置。
- 前記被測定物が、医療用カテーテル、医療用検査プローブ、医療用センサ、建築物検査センサ、海底センサ、または地質センサであることを特徴する請求項14記載の位置または形状を測定する装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014069547A JP6306922B2 (ja) | 2014-03-28 | 2014-03-28 | 光周波数領域反射測定方法、光周波数領域反射測定装置およびそれを用いた位置または形状を測定する装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014069547A JP6306922B2 (ja) | 2014-03-28 | 2014-03-28 | 光周波数領域反射測定方法、光周波数領域反射測定装置およびそれを用いた位置または形状を測定する装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015190910A JP2015190910A (ja) | 2015-11-02 |
JP6306922B2 true JP6306922B2 (ja) | 2018-04-04 |
Family
ID=54425498
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014069547A Active JP6306922B2 (ja) | 2014-03-28 | 2014-03-28 | 光周波数領域反射測定方法、光周波数領域反射測定装置およびそれを用いた位置または形状を測定する装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6306922B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP4118394A4 (en) * | 2020-03-13 | 2024-04-17 | Ofs Fitel Llc | SYSTEM FOR MEASURING ARBITRARY MICROCURVATES AND MICRODEFORMATIONS ALONG A THREE-DIMENSIONAL SPACE |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6828227B2 (ja) * | 2017-04-27 | 2021-02-10 | アンリツ株式会社 | 光周波数領域反射測定装置及び光周波数領域反射測定方法 |
CN107576341B (zh) * | 2017-08-09 | 2021-06-04 | 武汉昊衡科技有限公司 | Ofdr中消除偏振衰落的装置和方法 |
DE102018124435A1 (de) * | 2018-10-03 | 2020-04-09 | Nkt Photonics Gmbh | Verteilte Messvorrichtung |
CN114088356B (zh) * | 2021-11-22 | 2022-06-17 | 武汉普赛斯电子技术有限公司 | 一种与偏振无关的ofdr测量装置及方法 |
CN114577243B (zh) * | 2022-02-28 | 2024-06-21 | 宁夏回族自治区水利工程建设中心 | 提高安全状态的相敏光时域反射仪脉冲发生频率调节方法 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5256225B2 (ja) * | 2010-01-29 | 2013-08-07 | 日本電信電話株式会社 | 光線路測定装置及び光線路測定方法 |
-
2014
- 2014-03-28 JP JP2014069547A patent/JP6306922B2/ja active Active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP4118394A4 (en) * | 2020-03-13 | 2024-04-17 | Ofs Fitel Llc | SYSTEM FOR MEASURING ARBITRARY MICROCURVATES AND MICRODEFORMATIONS ALONG A THREE-DIMENSIONAL SPACE |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2015190910A (ja) | 2015-11-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6291313B2 (ja) | 光周波数領域反射測定方法、光周波数領域反射測定装置およびそれを用いた位置または形状を測定する装置 | |
US9726573B2 (en) | Optical frequency domain reflectometry, optical frequency domain reflectometer, and device for measuring position or shape using the same | |
JP6306922B2 (ja) | 光周波数領域反射測定方法、光周波数領域反射測定装置およびそれを用いた位置または形状を測定する装置 | |
US8345238B2 (en) | Measuring optical spectral property of light based on polarization analysis | |
JP7158283B2 (ja) | 光コヒ-レンストモグラフィを用いた高速・長深度レンジの撮像装置及び方法 | |
US8909040B1 (en) | Method and apparatus of multiplexing and acquiring data from multiple optical fibers using a single data channel of an optical frequency-domain reflectometry (OFDR) system | |
US9009003B1 (en) | Apparatus and method for elimination of polarization-induced fading in fiber-optic sensor system | |
US9584098B2 (en) | Sample clock generator for optical tomographic imaging apparatus, and optical tomographic imaging apparatus | |
US20170276470A1 (en) | Optical frequency domain reflectometer and optical frequency domain reflectometry | |
CN108332785B (zh) | 一种大规模光纤光栅传感器的测量装置和方法 | |
JP2006266797A (ja) | 光ヘテロダイン干渉装置 | |
GB2508578A (en) | Multiple Paths Measuring and Imaging Apparatus and Method | |
JPH05273082A (ja) | 光装置の偏光モード分散判定装置および方法 | |
EP2907249A1 (en) | An optical frequency domain reflectometry (ofdr) system | |
CN109282839A (zh) | 基于多脉冲多波长的分布式光纤传感***及方法 | |
US20160266005A1 (en) | Methods and apparatus for simultaneous optical parameter measurements | |
JP7120400B2 (ja) | 光干渉断層撮像器 | |
EP3237846B1 (en) | Detection of local property changes in an optical sensing fiber | |
JP2000193557A (ja) | 波長分散測定装置及び偏波分散測定装置 | |
JP7064425B2 (ja) | 光学式エンコーダ | |
WO2014072845A1 (en) | Optical frequency domain reflectometry system with multiple fibers per detection chain | |
JP2007057251A (ja) | 光干渉計型位相検出装置 | |
JP2012181098A (ja) | 光強度スペクトル測定方法および装置 | |
JP2016148539A (ja) | Oct装置 | |
RU2673507C1 (ru) | Волоконно-оптический термометр |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20170206 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20171129 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20171212 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20180125 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20180306 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20180309 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6306922 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |