JP6305543B2 - 標的化した質量分析 - Google Patents
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Description
a)衝突セル30の前、質量フィルタ20のすぐ下流の位置。この位置は、前駆イオンの総イオン電流(TIC)の直接測定を可能にする。しかしながら、このTICは、フラグメント(フラグメントを用いる場合)の総イオン電流とは著しく異なる可能性がある。また、イオンを直線軌跡から補助検出器60につながる側部経路へと急速に切り替えるためには、精緻なイオン光学システムが必要とされ得る。
b)衝突セル30と高分解能分析器40との間の位置。この位置は、フラグメント(フラグメントを用いる場合)のTICの直接測定を可能にし、これは、データ取得システム50の出力とより良好に適合し得る。しかしながら、上記の選択肢a)のように、これも、補助イオン検出器60に向けた偏向を可能にするために、精緻なイオン光学システムを必要とし得る。
c)衝突セル30及び高分解能分析器40の下流の位置。この位置は、補助イオン検出器60へとイオンを偏向させるために精巧なイオン光学システムを必要とすることなく、フラグメントに対するTICの直接測定を可能にする。代わりに、イオンは単純に、分析器40へと偏向されないとき、システム全体を通過することが可能であり得る。
Claims (77)
- 質量分析計であって、
初期範囲の質量対電荷比を有するイオンを生成するように配置されたイオン源と、
前記イオン源の下流に位置し、前記イオン源によって生成された前記イオンに由来し、初期の質量対電荷比の範囲に比べ狭い減少された質量対電荷比の範囲を有する複数の第1のイオン試料を受け取り、複数のイオン電流測定値であって前記複数の第1のイオン試料の各々に対応するイオン電流測定値を決定するように配置される、補助イオン検出器と、
前記イオン源の下流に位置し、前記イオン源によって生成された前記イオンに由来する第2のイオン試料を受け取り、かつ前記第2のイオン試料の質量分析によって質量スペクトルデータを生成するように配置される質量分析器であって、前記質量スペクトルデータの質量分解能は、前記補助イオン検出器の質量分解能より高い、質量分析器と、
前記質量分析器によって生成された前記質量スペクトルデータと、前記補助イオン検出器によって決定された前記複数のイオン電流測定値との組み合わせに基づいて、前記イオン源によって生成された前記イオンの少なくとも一部と関連付けられる存在量測定値を確立するように構成される出力段であって、前記質量スペクトルデータは、減少された質量対電荷比の範囲に入る前記複数のイオン電流測定値の分解に用いられる、出力段と、
を備える、前記質量分析計。 - 前記補助イオン検出器が、ある期間にわたって前記複数のイオン電流測定値を提供するように構成され、前記質量分析器が、前記ある期間にわたって単一セットの質量スペクトルデータを生成するように配置される、請求項1に記載の前記質量分析計。
- 前記補助イオン検出器が、前記質量分析器の質量分析の平均頻度より高い、イオン電流測定の前記平均頻度を有するように構成される、請求項1または請求項2に記載の前記質量分析計。
- 前記補助イオン検出器が、前記複数のイオン電流測定を、それらの間に時間間隔をおいて決定するように構成され、前記質量分析器が、前記複数のイオン電流測定間の前記時間間隔より長い継続時間にわたって、前記第2のイオン試料の質量分析を実行するように構成される、請求項3に記載の前記質量分析計。
- 前記補助イオン検出器の上流に配置され、前記イオン源によって生成されたイオンを受け取り、かつ前記減少した範囲の質量対電荷比を有するイオンを透過させるように構成された質量フィルタを更に備え、
前記第1及び第2のイオン試料が、前記質量フィルタによって透過させられた前記イオンに由来する、請求項1〜4のいずれか一項に記載の前記質量分析計。 - 前記イオン源の下流に位置する衝突セルを更に備える、請求項1〜5のいずれか一項に記載の前記質量分析計。
- 前記衝突セルが、前記イオン源によって生成された前記イオンの少なくとも一部からフラグメントイオンを生成するように配置される、請求項6に記載の前記質量分析計。
- 前記イオン源の下流に位置し、受け取ったイオンの経路を、前記受け取ったイオンが第1のモードにおいて前記補助イオン検出器に向けて方向付けられるように、選択的に制御するように構成された、イオン光学系を更に備える、請求項1〜7のいずれか一項に記載の前記質量分析計。
- 前記イオン光学系が、前記受け取ったイオンが第1の方向で前記イオン光学系に進入し、かつ前記第1のモードにおいて、第2の方向で前記補助イオン検出器へと方向付けられるように構成され、前記第2の方向が前記第1の方向と異なる、請求項8に記載の前記質量分析計。
- 前記第2の方向が前記第1の方向と直交する、請求項9に記載の前記質量分析計。
- 前記補助イオン検出器が、変換ダイノード及び二次電子増倍管を備え、前記変換ダイノードが、前記第2の方向に沿って前記イオン光学系の第1の側部上に位置し、前記二次電子増倍管が、前記第1の側部と反対側の前記イオン光学系の第2の側部上に位置して、前記変換ダイノードから二次電子を受け取るように構成される、請求項10に記載の前記質量分析計。
- 前記イオン光学系が四重極イオンガイドを備える、請求項8〜11のいずれか一項に記載の前記質量分析計。
- 前記四重極イオンガイドが4本の棒電極を備え、前記4本の棒電極の各々の外径が、前記4本の棒電極間の間隙のいずれよりも小さい、請求項12に記載の前記質量分析計。
- 前記イオン光学系の下流に位置する衝突セルを更に備え、
前記イオン光学系が、前記受け取ったイオンの前記経路を、前記受け取ったイオンが第2のモードにおいて前記衝突セルに向けて方向付けられるように、選択的に制御するように更に構成される、請求項8〜13のいずれか一項に記載の前記質量分析計。 - 前記イオン光学系が、前記受け取ったイオンの経路を、前記受け取ったイオンが第2のモードにおいて前記質量分析器に向けて方向付けられるように、選択的に制御するように更に構成される、請求項8〜13のいずれか一項に記載の前記質量分析計。
- 前記イオン光学系が、前記受け取ったイオンが第1の方向で前記イオン光学系に進入し、かつ前記第2のモードにおいて、前記第1の方向に方向付けられるように構成される、請求項14または請求項15に記載の前記質量分析計。
- 前記イオン光学系にて受け取った前記イオンが、前記イオン源によって生成された前記イオンである、請求項8〜16のいずれか一項に記載の前記質量分析計。
- 前記イオン源の下流及び前記イオン光学系の上流に位置し、前記イオン源によって生成された前記イオンの少なくとも一部からフラグメントイオンを生成するように配置される、衝突セルを更に備え、
前記イオン光学系にて受け取った前記イオンが、前記衝突セルにおいて生成された前記フラグメントイオンである、請求項8〜16のいずれか一項に記載の前記質量分析計。 - 前記補助イオン検出器が、前記質量分析器の下流に位置する、請求項1〜14のいずれか一項に記載の前記質量分析計。
- 前記質量分析器が、受け取ったイオンの質量分析のために構成される第1のモードにおいて、または受け取ったイオンを前記補助イオン検出器へと方向付けるように構成される第2のモードにおいて、選択的に動作するように構成される、請求項19に記載の前記質量分析計。
- 前記質量分析器が飛行時間型である、請求項19または請求項20に記載の前記質量分析計。
- 前記質量分析器の上流に位置し、前記質量分析器による分析のためにイオンを受け取り、前記受け取ったイオンを貯蔵し、かつ前記貯蔵したイオンの少なくとも一部を前記質量分析器へと放出するように構成される、イオン貯蔵装置を更に含む、請求項1〜21のいずれか一項に記載の前記質量分析計。
- 前記イオン貯蔵装置が、入力方向でイオンを受け取るように、かつ前記入力方向とは異なる出力方向でイオンを放出するように配置される、請求項22に記載の前記質量分析計。
- 前記出力方向が前記入力方向と直交する、請求項21に記載の前記質量分析計。
- 前記イオン貯蔵装置が湾曲トラップである、請求項24に記載の前記質量分析計。
- 前記質量分析器が高分解能質量分析器である、請求項1〜25のいずれか一項に記載の前記質量分析計。
- 前記質量分析器が、飛行時間型、オービタルトラップ型、静電トラップ、及びFourier Transform Ion Cyclotron Resonance(FT−ICR)型のうちの1つを含む、請求項1〜26のいずれか一項に記載の前記質量分析計。
- 前記出力段が、前記補助イオン検出器によって決定された前記複数のイオン電流測定値に基づいて前記質量分析器によって生成された前記質量スペクトルデータを調整することによって、前記イオン源によって生成された前記イオンの少なくとも一部と関連付けられる前記存在量測定値を提供するように構成される、請求項1〜27のいずれか一項に記載の前記質量分析計。
- 前記第1及び第2のイオン試料が、イオンの同一セットの試料であり、前記補助イオン検出器が、前記イオンのセットに対する複数の総イオン電流測定値を決定するように構成され、それにより、前記出力段が、前記複数の総イオン電流測定値の各々に対して、前記イオンのセットに対する複数の存在量測定値を確立するように構成され、各存在量測定値が前記質量スペクトルデータの一部分と関連付けられる、請求項1〜28のいずれか一項に記載の前記質量分析計。
- 各存在量測定値が、前記総イオン電流測定値のうちの少なくとも1つに基づいて前記質量スペクトルデータの前記対応する部分を調整することによって確立される、請求項29に記載の前記質量分析計。
- 前記質量分析器が、ある測定期間にわたって質量スペクトルデータの複数のセットを生成するように配置され、前記補助イオン検出器が、生成される質量スペクトルデータの各セットに対して複数のイオン電流測定値を決定するように構成され、それにより前記出力段が複数の存在量測定値を確立し、各存在量測定値が質量スペクトルデータの対応するセットに関連する、請求項1〜30のいずれか一項に記載の前記質量分析計。
- 前記複数のイオン電流測定値及び前記質量スペクトルデータが、同一期間にわたって生成されたイオンに関連し、前記出力段が、前記複数のイオン電流測定値を使用して、前記期間にわたる前記質量スペクトルデータをデコンボリューションするように構成される、請求項1〜31のいずれか一項に記載の前記質量分析計。
- 前記複数の第1のイオン試料のうちの少なくとも1つが、前記第2のイオン試料と同一の範囲の質量対電荷比を有する、請求項1〜32のいずれか一項に記載の前記質量分析計。
- 前記イオン源が、経時的に複数の試料を受け取り、かつ受け取った各試料に対して、対応するイオンを生成するように構成され、前記出力段が、前記複数の試料の各々に対して、少なくとも1つの存在量測定値を確立するように構成される、請求項1〜33のいずれか一項に記載の前記質量分析計。
- 前記出力段が、前記複数の試料の各々に複数の存在量測定値を提供するように構成され、各存在量測定値が、前記対応する試料に対する前記質量スペクトルデータの一部分と関連付けられる、請求項32に記載の前記質量分析計。
- 前記複数の試料が、クロマトグラフ機器を使用して生成される、請求項34または請求項35に記載の前記質量分析計。
- 前記出力段が、前記複数のイオン電流測定値を使用して、質量クロマトグラフピークをデコンボリューションするように構成される、請求項36に記載の前記質量分析計。
- 前記質量分析器が、前記第1のイオン試料に対して決定された前記イオン電流に基づいて、前記第2のイオン試料における前記イオンの存在量を調整するように更に構成される、請求項1〜37のいずれか一項に記載の前記質量分析計。
- 質量フィルタと、
イオン貯蔵装置と、
制御器であって、第1の範囲の質量対電荷比のイオンを選択するように前記質量フィルタを制御し、前記第1の範囲の質量対電荷比の前記イオンに対するイオン電流を決定するように前記補助イオン検出器を制御し、前記イオン貯蔵装置中に前記第1の範囲の質量対電荷比のイオンを蓄積するように前記イオン貯蔵装置を制御し、かつ閾値量の前記第1の範囲の質量対電荷比のイオンが前記イオン貯蔵装置中に貯蔵されるまで、選択、決定、及び蓄積を繰り返すように構成され、前記イオン貯蔵装置中に貯蔵された前記イオンを質量分析するように前記質量分析器を制御するように更に構成される、制御器と、を備える、請求項1〜38のいずれか一項に記載の前記質量分析計。 - 前記制御器が、第2の範囲の質量対電荷比のイオンを選択するように前記質量フィルタを制御し、前記第2の範囲の質量対電荷比の前記イオンに対するイオン電流を決定するように前記補助イオン検出器を制御し、前記イオン貯蔵装置中に前記第2の範囲の質量対電荷比のイオンを蓄積するように前記イオン貯蔵装置を制御し、かつ閾値量の前記第2の範囲の質量対電荷比のイオンが前記イオン貯蔵装置中に貯蔵されるまで、選択、決定、及び蓄積を繰り返すように更に構成され、前記制御器が、前記イオン貯蔵装置が前記閾値量の前記第1の範囲の質量対電荷比のイオンと前記閾値量の前記第2の範囲の質量対電荷比のイオンとを貯蔵するときに、前記イオン貯蔵装置中に貯蔵された前記イオンを質量分析するように前記質量分析器を制御するように構成される、請求項39に記載の前記質量分析計。
- 前記イオン源の下流にある衝突セルと、
制御器であって、前記イオン源によって生成された前記イオンの第1の部分に対するイオン電流を決定するように前記補助イオン検出器を制御し、前記イオン源によって生成された前記イオンの前記第1の部分を質量分析するように前記質量分析器を制御し、かつ前記イオン源によって生成された前記イオンの第2の部分をフラグメント化するように前記衝突セルを制御し、それによりフラグメントイオンを生成し、かつ前記フラグメントイオンを質量分析するように前記質量分析器を制御するように構成される、制御器と、
を更に備える、請求項1〜40のいずれか一項に記載の前記質量分析計。 - 前記補助イオン検出器が、前記質量分析器よりも高い絶対感度を有する、請求項1〜41のいずれか一項に記載の前記質量分析計。
- 前記イオン源が元素イオンを生成する、請求項1〜42のいずれか一項に記載の前記質量分析計。
- 前記イオン源が誘導結合プラズマトーチを備える、請求項43に記載の前記質量分析計。
- 前記複数のイオン電流測定値が、干渉からの寄与を除去するために前記質量スペクトルデータを使用して分解される、請求項1〜44のいずれか一項に記載の前記質量分析計。
- 前記複数のイオン電流測定値が、前記質量スペクトルデータから決定された目的とする元素に起因する前記電流の分担に従って調整される、請求項1〜45のいずれか一項に記載の前記質量分析計。
- 前記分析計が誘導結合プラズマ質量分析計である、請求項1〜46のいずれか一項のいずれ一項に記載の前記質量分析計。
- 前記質量スペクトルデータを使用して、前記イオン電流測定値から分子干渉を除去するように、前記補助イオン検出器の上流にある反応セルへの反応ガスの添加を制御する、請求項1〜47のいずれか一項に記載の前記質量分析計。
- 質量分析計であって、
初期範囲の質量対電荷比を有するイオンを生成するように配置されたイオン源と、
前記イオン源の下流に位置し、前記イオン源によって生成された前記イオンに由来し、初期の質量対電荷比の範囲に比べ狭い減少された質量対電荷比の範囲を有する複数の第1のイオン試料を受け取り、複数のイオン電流測定値であって、前記複数の第1のイオン試料の各々に対応するイオン電流測定値を決定するように配置される、補助イオン検出器と、
前記イオン源の下流に位置し、前記イオン源によって生成された前記イオンに由来する第2のイオン試料を受け取り、かつ前記第2のイオン試料の質量分析によって質量スペクトルデータを生成するように配置され、前記質量スペクトルデータの質量分解能は、前記補助イオン検出器の質量分解能より高く、前記質量スペクトルデータを分子干渉が存在するかを確立するために使用して、これによって前記イオン電流測定値から前記分子干渉を除去するように、前記補助イオン検出器の上流にある反応セルへの反応ガスの添加を制御する、質量分析器と、
前記補助イオン検出器によって決定された前記複数のイオン電流測定値に基づいて前記イオン源によって生成された前記イオンの少なくとも一部と関連付けられる存在量測定値を確立するように構成される、出力段と、
を備える、前記質量分析計。 - 前記補助イオン検出器の上流に配置され、前記イオン源によって生成されたイオンを受け取り、かつ減少した範囲の質量対電荷比を有するイオンを透過させるように構成され、前記減少した範囲が、前記初期範囲よりも狭く、前記第1及び第2のイオン試料が、質量フィルタによって透過させられた前記イオンに由来する、前記質量フィルタを更に備える、請求項49に記載の前記質量分析計。
- 質量分析の方法であって、
イオン源にて初期範囲の質量対電荷比を有するイオンを生成することと、
複数の第1のイオン試料の各々に対して、前記イオン源の下流に位置する補助イオン検出器にて、複数のイオン電流測定値であり対応するイオン電流測定値を、決定することであって、前記第1のイオン試料が、前記イオン源によって生成された前記イオンに由来し、初期の質量対電荷比の範囲に比べ狭い減少された質量対電荷比の範囲を有する、決定することと、
前記イオン源の下流に位置する質量分析器にて、第2のイオン試料に質量分析を実行し、それにより質量スペクトルデータを生成することであって、前記第2のイオン試料が、前記イオン源によって生成された前記イオンに由来し、前記質量スペクトルデータの質量分解能は、前記補助イオン検出器の質量分解能より高い、実行することと、
前記質量分析器によって生成された前記質量スペクトルデータと、前記補助イオン検出器によって決定された前記複数のイオン電流測定値との組み合わせに基づいて前記イオン源によって生成された前記イオンの少なくとも一部と関連付けられる存在量測定値を確立することであって前記質量スペクトルデータは、減少された質量対電荷比の範囲に入るイオン電流測定の分解に用いられる、確立することと、
を含む、前記方法。 - 複数のイオン電流を決定するステップが、ある期間にわたって実行され、前記質量分析を実行するステップが、前記ある期間にわたって単一セットの質量スペクトルデータを生成することを含む、請求項51に記載の前記方法。
- 前記イオン電流測定の平均頻度が、前記質量分析の平均頻度よりも高い、請求項51または52に記載の前記方法。
- 前記複数のイオン電流測定が、それらの間に時間間隔をおいて決定され、前記質量分析を実行する前記ステップが、前記複数のイオン電流測定間の前記時間間隔より長い継続時間にわたって行われる、請求項53に記載の前記方法。
- 質量フィルタにて、前記イオン源によって生成されたイオンをフィルタリングし、それにより、前記減少した範囲の質量対電荷比を有するイオンを透過させる、フィルタリングすることを更に含みく、
前記第1及び第2のイオン試料が、前記質量フィルタによって透過させられた前記イオンに由来する、請求項51〜54のいずれか一項に記載の前記方法。 - 前記イオン源によって生成された前記イオンの少なくとも一部をフラグメント化することを更に含む、請求項51〜55のいずれか一項に記載の前記方法。
- 前記複数のイオン電流測定値を決定するステップが、前記イオン源によって生成された前記イオンの複数の第1の部分の各々に対して、対応するイオン電流測定値を決定することを含み、
前記質量分析を実行するステップが、前記イオン源によって生成された前記イオンの第1の部分を質量分析することを含み、
前記フラグメント化するステップが、フラグメントイオンを生成するように、前記イオン源によって生成された前記イオンの第2の部分をフラグメント化することを含み、かつ
前記方法が、前記フラグメントイオンに質量分析を実行することを更に含む、請求項56に記載の前記方法。 - 前記イオン源の下流にある前記イオンの経路を、前記イオンが第1のモードにおいて前記補助イオン検出器に向けて方向付けられるように、選択的に制御することを更に含む、請求項51〜57のいずれか一項に記載の前記方法。
- 前記イオンを前記補助イオン検出器に向けて方向付けるステップが、前記イオンの前記方向を変化させることを含む、請求項58に記載の前記方法。
- 前記イオンの前記方向を変化させることが、直交の方向変化を引き起こすことを含む、請求項59に記載の前記方法。
- 前記イオン源の下流にある前記イオンの経路を、前記イオンが第2のモードにおいて衝突セルまたは質量分析器に向けて方向付けられるように、選択的に制御することを更に含む、請求項58〜60のいずれか一項に記載の前記方法。
- 前記第2のモードにおいて前記イオンを衝突セルまたは質量分析器に向けて方向付けるステップが、前記イオンの前記経路を、それらの方向を変化させずに制御することを含む、請求項61に記載の前記方法。
- 前記質量分析器の上流に位置するイオン貯蔵装置中に、前記質量分析器による分析のためのイオンを貯蔵することと、
前記貯蔵されたイオンの少なくとも一部を前記質量分析器へと放出することと、を更に含む、請求項51〜62のいずれか一項に記載の前記方法。 - 前記イオンをフィルタリングするステップが、前記質量フィルタにて、第1の範囲の質量対電荷比のイオンを選択することを含み、
前記イオン電流を決定するステップが、前記第1の範囲の質量対電荷比の前記イオンに対するイオン電流を決定することを含み、
前記イオンを貯蔵するステップが、前記第1の範囲の質量対電荷比のイオンを前記イオン貯蔵装置中に蓄積することを含み、
前記方法が、閾値量の前記第1の範囲の質量対電荷比のイオンが前記イオン貯蔵装置中に貯蔵されるまで、前記選択、決定、及び蓄積ステップを繰り返すことを更に含み、
前記質量分析を実行するステップが、前記イオン貯蔵装置中に貯蔵された前記イオンを質量分析することを含む、請求項55に記載の前記方法。 - 前記質量フィルタにて、第2の範囲の質量対電荷比のイオンを選択することと、
前記補助イオン検出器にて、前記第2の範囲の質量対電荷比の前記イオンに対するイオン電流を決定することと、
前記イオン貯蔵装置中に前記第2の範囲の質量対電荷比のイオンを蓄積することと、
閾値量の前記第2の範囲の質量対電荷比のイオンが前記イオン貯蔵装置中に貯蔵されるまで、前記第2の範囲の質量対電荷比の前記イオンについて、前記選択、決定、及び蓄積ステップを繰り返すことと、を更に含み、
前記質量分析を実行するステップが、前記イオン貯蔵装置が前記閾値量の前記第1の範囲の質量対電荷比のイオンと前記閾値量の前記第2の範囲の質量対電荷比のイオンとを貯蔵するときに、前記イオン貯蔵装置中に貯蔵された前記イオンを質量分析することを含む、請求項64に記載の前記方法。 - 前記存在量測定値を確立する前記ステップが、前記補助イオン検出器によって決定された前記イオン電流に基づいて、前記質量分析器によって生成された前記質量スペクトルデータを調整することを含む、請求項51〜65のいずれか一項に記載の前記方法。
- 前記第1及び第2のイオン試料が両方とも、イオンの同一セットの試料であり、前記複数のイオン電流測定値を決定するステップが、前記イオンのセットに対する総イオン電流を決定することを含み、それにより、前記存在量測定値を確立する前記ステップが、前記複数の総イオン電流測定値の各々に対して、前記イオンのセットに対する複数の存在量測定値を確立することを含み、各存在量測定値が前記質量スペクトルデータの一部分と関連付けられる、請求項51〜66のいずれか一項に記載の前記方法。
- 各存在量測定値が、前記総イオン電流測定値のうちの少なくとも1つに基づいて前記質量スペクトルデータの前記対応する部分を調整することによって確立される、請求項67に記載の前記方法。
- 前記質量分析を実行するステップが、ある測定期間にわたって質量スペクトルデータの複数のセットを生成することを含み、前記複数のイオン電流測定値を決定するステップが、生成される質量スペクトルデータの各セットに対する複数のイオン電流測定値を決定することを含み、前記存在量測定値を確立するステップが、複数の存在量測定値を確立することを含み、各存在量測定値が質量スペクトルデータの対応するセットに関連する、請求項51〜68のいずれか一項に記載の前記方法。
- 前記複数のイオン電流測定値及び前記質量スペクトルデータが、同一期間にわたって生成されたイオンに関連し、前記存在量測定値を確立するステップが、前記複数のイオン電流測定値を使用して、前記期間にわたる前記質量スペクトルデータをデコンボリューションすることを含む、請求項51〜69のいずれか一項に記載の前記方法。
- 前記イオン源にてイオンを生成する前記ステップが、
経時的に複数の試料を受け取ることと、
受け取った各試料に対して、対応するイオンを生成することと、を含み、
前記存在量測定値を確立するステップが、前記複数の試料の各々に対して少なくとも1つの存在量測定値を確立することを含む、請求項51〜69のいずれか一項に記載の前記方法。 - 前記少なくとも1つの存在量測定値を確立するステップが、前記複数の試料の各々に対して複数の存在量測定値を確立することを含み、各存在量測定値が、前記対応する試料に対する前記質量スペクトルデータの一部分と関連付けられる、請求項71に記載の前記方法。
- クロマトグラフィーを使用して前記複数の試料を生成することを更に含む、請求項71または請求項72に記載の前記方法。
- 前記第1のイオン試料に対して決定された前記イオン電流に基づいて、前記第2のイオン試料における前記イオンの存在量を調整することを更に含む、請求項51〜73のいずれか一項に記載の前記方法。
- 前記イオン源が元素イオンを生成する、請求項51〜74のいずれか一項に記載の前記方法。
- 前記質量スペクトルデータを使用して、前記複数のイオン電流測定値を分解することを更に含む、請求項75に記載の前記方法。
- 前記複数のイオン電流測定値が、前記質量スペクトルデータから決定された目的とする元素に起因する前記電流の分担に従って調整される、請求項76に記載の前記方法。
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