JP6302853B2

JP6302853B2 - Ｏｃｔ装置

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Publication number: JP6302853B2
Application number: JP2015024245A
Authority: JP
Inventors: 斉藤　崇記; 崇記斉藤
Original assignee: Anritsu Corp
Current assignee: Anritsu Corp
Priority date: 2015-02-10
Filing date: 2015-02-10
Publication date: 2018-03-28
Anticipated expiration: 2035-02-10
Also published as: JP2016148539A

Description

本発明は、ＯＣＴ装置に関し、特に光周波数掃引型のＯＣＴ装置に関する。

従来から、光コヒーレンストモグラフィ（Optical Coherence Tomography：ＯＣＴ）を用いて、網膜や皮膚などの断層画像を撮影する装置が知られている。

図１０に、従来のＯＣＴ装置の基本構成を示す。掃引光源４１は、時間に対して光の周波数が直線的に変化するように出力光の波長を掃引する。掃引光源４１からの光の一部は、光カプラ４２で分岐されて測定用干渉計４４に入射する。光カプラ４３で分岐された光の一方は遅延ファイバ４５に入射し、他方はレンズ４６を介して測定対象物１００に入射し反射される。

測定対象物１００で反射された光は、再び測定用干渉計４４に入射する。光カプラ４７では、測定対象物１００に入射し反射された光と、遅延ファイバ４５を伝搬した遅延光との干渉光が生成される。

測定用干渉計４４からの干渉光は、受光器４８ａでヘテロダイン検波され、Ａ／Ｄ変換器４９ａでサンプリングされる。掃引光源４１において光周波数が直線的に掃引されている場合、ヘテロダイン検波で得られたビート信号の周波数は、測定対象物１００に入射し反射された光と、遅延ファイバ４５を伝搬した遅延光との光路差に比例する。

仮に、上記の光路差がゼロとなる位置にレンズ４６が配置されているとすれば、ビート信号の周波数はレンズ４６から測定対象物１００までの距離に比例する。したがって、ビート信号をフーリエ変換し、そのスペクトラムを計算すれば、測定対象物１００の内部の反射率分布を測定することができる。

しかしながら、実際の掃引光源４１から出力される光の周波数は、非直線的に掃引されたり、変調が重畳されていたりする。これにより、測定用干渉計４４から出力されるヘテロダイン信号のスペクトラムはぼやけたり、側帯波を持ったりすることになり、高精度な測定の妨げとなる。

そこで、掃引光源４１からの光を光カプラ４２で分岐して、測定用干渉計４４だけでなくリファレンス用干渉計５１にも入力する構成が提案されている（例えば、特許文献１参照）。リファレンス用干渉計５１からの干渉光は、受光器４８ｂでヘテロダイン検波され、Ａ／Ｄ変換器４９ｂでサンプリングされる。掃引光源４１による掃引の非線形性の影響は、測定用干渉計４４だけでなく、リファレンス用干渉計５１においても同様に現れる。このため、Ａ／Ｄ変換器４９ａ，４９ｂの後段の制御器５０において、リファレンス用干渉計５１からの信号強度が０となるタイミングで測定用干渉計４４からのビート信号をリサンプリングすれば、掃引の変動が除去された信号を得ることができる。これをリニアライズと呼ぶ。

特開２０１２−１５４７９０号公報

しかしながら、従来のリファレンス用干渉計を用いてリニアライズを行う方法では、測定用干渉計用の受光器及びＡ／Ｄ変換器に加えて、リファレンス用干渉計用の受光器及びＡ／Ｄ変換器を追加する必要があるため、装置が高価になるという問題があった。

本発明は、このような従来の課題を解決するためになされたものであって、リファレンス用干渉計を用いることなく、掃引光源の光周波数掃引速度の非線形性の影響を除去した測定を行うことが可能なＯＣＴ装置を提供することを目的とする。

上記課題を解決するために、本発明の請求項１のＯＣＴ装置は、所定の光周波数掃引速度で波長掃引された光を出力する光源と、前記光源からの出力光を測定光と参照光とに２分岐する光分岐部と、前記測定光を測定対象物及び基準反射面に入射させるとともに、前記測定対象物によって反射された前記測定光と、前記基準反射面によって反射された前記測定光とを合波する第１光合波部と、前記第１光合波部で合波された前記測定光と前記参照光とを合波することで干渉光を出力する第２光合波部と、前記干渉光を受光してビート信号を生成する受光部と、前記ビート信号をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換部と、前記ディジタル信号に基づいて、前記測定対象物における前記測定光の伝搬方向の反射率分布を算出する反射率分布算出部と、を備え、前記反射率分布算出部は、前記ディジタル信号をフーリエ変換して、前記干渉光のスペクトラムを算出する第１フーリエ変換部と、前記スペクトラムから、前記基準反射面によって反射された前記測定光に対応する信号を基準信号として抽出する信号抽出部と、前記基準信号を逆フーリエ変換して時間波形信号を算出する逆フーリエ変換部と、前記基準信号の前記時間波形信号を基準として、前記ディジタル信号をリサンプリングするリサンプリング部と、前記リサンプリング部によってリサンプリングされた前記ディジタル信号をフーリエ変換して、前記反射率分布を算出する第２フーリエ変換部と、を有し、前記信号抽出部はさらに前記基準信号の側帯波も抽出することを特徴とする。

また、本発明の請求項２のＯＣＴ装置においては、前記光分岐部から出力されて前記第２光合波部に至る前記参照光の光路長と、前記光分岐部から出力されて前記測定対象物で反射されて前記第２光合波部に至る前記測定光の光路長との光路差が、前記光分岐部から出力されて前記第２光合波部に至る前記参照光の光路長と、前記光分岐部から出力されて前記基準反射面で反射されて前記第２光合波部に至る前記測定光の光路長との光路差よりも短くなる位置に前記基準反射面が配置されることを特徴とする。

また、本発明の請求項３のＯＣＴ装置においては、前記光分岐部から出力されて前記第２光合波部に至る前記参照光の光路長と、前記光分岐部から出力されて前記測定対象物で反射されて前記第２光合波部に至る前記測定光の光路長との光路差が、前記光分岐部から出力されて前記第２光合波部に至る前記参照光の光路長と、前記光分岐部から出力されて前記基準反射面で反射されて前記第２光合波部に至る前記測定光の光路長との光路差よりも長くなる位置に前記基準反射面が配置されることを特徴とする。
また、本発明の請求項４のＯＣＴ装置においては、前記基準反射面は、前記測定対象物に入射され前記測定対象物により反射される前記測定光の光路上に設けられることを特徴とする。
また、本発明の請求項５のＯＣＴ装置においては、前記測定対象物は、前記基準反射面に入射され前記測定対象物により反射される前記測定光の光路上に設けられることを特徴とする。
また、本発明の請求項６のＯＣＴ装置は、前記測定対象物に入射され前記測定対象物により反射される前記測定光の光路上に設けられて、前記第１光合波部により出力された前記測定光を前記測定対象物に集光するとともに、前記測定対象物によって反射された前記測定光を前記第１光合波部に入力するレンズをさらに備え、前記基準反射面は、前記レンズの表面あるいは前記レンズの表面に形成された反射膜により構成されることを特徴とする。

本発明は、リファレンス用干渉計を用いることなく、掃引光源の光周波数掃引速度の非線形性の影響を除去した測定を行うことが可能なＯＣＴ装置を提供する。

本発明の第１の実施形態としてのＯＣＴ装置の構成を示す図である。本発明の第１の実施形態としてのＯＣＴ装置における反射率分布算出部の構成を示す図である。本発明の第１の実施形態としてのＯＣＴ装置における反射率分布算出部の処理を説明する図（その１）である。本発明の第１の実施形態としてのＯＣＴ装置における反射率分布算出部の処理を説明する図（その２）である。本発明の第１の実施形態としてのＯＣＴ装置における信号抽出部が測定対象物で反射された測定光に対応する信号を抽出する処理を説明する図である。本発明の第１の実施形態としてのＯＣＴ装置における反射率分布算出部の処理を説明するフローチャートである。本発明の第１の実施形態としてのＯＣＴ装置における反射率分布算出部の他の構成を示す図である。本発明の第１の実施形態としてのＯＣＴ装置における反射率分布算出部の他の処理を説明するフローチャートである。本発明の第２の実施形態としてのＯＣＴ装置の構成を示す図である。従来のＯＣＴ装置の構成を示す図である。

以下、本発明に係るＯＣＴ装置の実施形態について、図面を用いて説明する。

（第１の実施形態）
図１に示すように、本発明の第１の実施形態としてのＯＣＴ装置１は、光周波数掃引型ＯＣＴ（Swept-Source OCT：ＳＳ−ＯＣＴ）であって、掃引光源１１、光分岐部としての光カプラ１２、第１光合波部としての光サーキュレータ１３、測定光学系１４、第２光合波部としての光カプラ１６、受光部としてのバランスドレシーバ１７、Ａ／Ｄ変換器１８、及び反射率分布算出部１９を備える。

掃引光源１１は、規定された掃引波長範囲及び光周波数掃引速度（あるいは波長掃引速度）で波長掃引されたレーザ光を出力するようになっている。発振波長の掃引は、例えば、回折格子を用いた外部共振器レーザにおいて、回折格子やミラー等の角度を変えて共振波長を変えることにより実行される。

光カプラ１２は、掃引光源１１の出力光を２つに分岐する。光カプラ１２で分岐された光の一方は参照光として遅延ファイバ２０に入力される。光カプラ１２で分岐された光の他方は、測定光として光サーキュレータ１３の第１端子１３ａに入力されて、第２端子１３ｂを介して測定用ファイバ２１に入力される。

測定光学系１４は、少なくとも１つのレンズ１４ａからなっている。測定光学系１４は、光サーキュレータ１３の第２端子１３ｂから出力されて測定用ファイバ２１の先端から出射した測定光を測定対象物１００に集光するとともに、測定対象物１００によって反射された測定光を測定用ファイバ２１を介して光サーキュレータ１３の第２端子１３ｂに入力するようになっている。

レンズ１４ａの表面には、少なくとも掃引光源１１の出力光の波長を含む波長帯域の光を反射する基準反射面としての反射膜１５が形成されている。反射膜１５によって反射された測定光は、光サーキュレータ１３の第２端子１３ｂに入力される。

光サーキュレータ１３は、第２端子１３ｂから測定光を測定対象物１００及び反射膜１５に入射させるとともに、測定対象物１００によって反射された測定光と、反射膜１５によって反射された測定光とを合波して第３端子１３ｃから出力するようになっている。

なお以降では、光カプラ１２から出力されて光カプラ１６に至る参照光の光路長を「参照光光路長」ともいう。また、光カプラ１２から出力されて測定対象物１００で反射されて光カプラ１６に至る測定光の光路長を「測定光光路長」ともいう。また、光カプラ１２から出力されて反射膜１５で反射されて光カプラ１６に至る測定光の光路長を「基準光光路長」ともいう。

反射膜１５は、参照光光路長と測定光光路長との光路差が、参照光光路長と基準光光路長との光路差よりも短くなる位置に配置される。図１は、参照光光路長との光路差がゼロとなる位置が、測定光の伝搬方向に沿って測定対象物１００の表面よりも奥側に設定された例を示している。

あるいは、反射膜１５は、参照光光路長と測定光光路長との光路差が、参照光光路長と基準光光路長との光路差よりも長くなる位置に配置されてもよい。

光カプラ１６は、遅延ファイバ２０からの参照光と、光サーキュレータ１３の第３端子１３ｃから出力された測定光の合波光（測定対象物１００及び反射膜１５からの反射光）とを合波するようになっている。これにより、光カプラ１６からは、参照光光路長との光路差がゼロとなる位置から反射膜１５までの距離、及び、参照光光路長との光路差がゼロとなる位置から測定対象物１００までの距離に応じた周波数成分を有する干渉光が出力される。

遅延ファイバ２０及び測定用ファイバ２１は、例えば単一モードファイバからなる。光カプラ１６に入力される遅延ファイバ２０からの参照光と測定用ファイバ２１からの測定光の偏波が直交して干渉信号が得られなくなる事態を避けるため、遅延ファイバ２０側又は測定用ファイバ２１側の少なくとも一方に偏波コントローラを挿入して偏波を調整してもよい。若しくは、測定用ファイバ２１からの反射光の互いに直交する２つの偏波成分をそれぞれ検出する偏波ダイバーシティ受信を用いてもよい。あるいは、全て若しくは一部のファイバを偏波保持ファイバとしてもよい。

また、遅延ファイバ２０で発生するレイリー散乱光が光カプラ１２を介して掃引光源１１に戻ることによる悪影響を防ぐため、必要に応じて掃引光源１１と光カプラ１２の間に光アイソレータを挿入してもよい。

光カプラ１６の２つの出力ポートからそれぞれ出力される干渉光の位相は、互いに逆位相となる。これら２つの合波光はバランスドレシーバ１７に入力される。バランスドレシーバ１７は、例えば２つのフォトダイオード（ＰＤ）及び減算器を有している。ＰＤは、入力光の強度に比例した電気信号を出力する。

バランスドレシーバ１７は、光カプラ１６からの２つの干渉光を２つのＰＤでそれぞれ受けて電気信号に変換し、それらの電気信号を減算器で減算して、測定用ファイバ２１からの測定光と遅延ファイバ２０からの参照光の干渉によるビート信号を生成するようになっている。

このようなバランス受信によって、干渉によるビート信号は振幅が２倍になり、２つの合波光に含まれる同相の雑音はキャンセルされ、ランダムな雑音は振幅が√２倍になるので、信号対雑音比を改善することができる。

Ａ／Ｄ変換器１８は、バランスドレシーバ１７から出力されたアナログの電気信号（ビート信号）をディジタル信号に変換するようになっている。

反射率分布算出部１９は、例えばＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭなどを含むマイクロコンピュータで構成され、ビート信号のディジタル信号に基づいて、測定対象物１００における測定光の伝搬方向の反射率分布を算出するようになっている。反射率分布算出部１９は、所定のプログラムを実行することにより、図２に示すように、第１フーリエ変換部３１、信号抽出部３２、逆フーリエ変換部３３、リサンプリング部３４、及び第２フーリエ変換部３５をソフトウェア的に構成する。

第１フーリエ変換部３１は、ビート信号のディジタル信号を離散フーリエ変換して、干渉光のスペクトラムを算出するようになっている。

信号抽出部３２は、ローパスフィルタ、ハイパスフィルタ、又はバンドパスフィルタとして機能するディジタルフィルタであり、第１フーリエ変換部３１によって算出されたスペクトラムから、反射膜１５によって反射された測定光に対応する信号を基準信号として抽出するようになっている。

逆フーリエ変換部３３は、信号抽出部３２によって抽出された基準信号を逆離散フーリエ変換して時間波形信号を算出するようになっている。この時間波形信号は、従来のＯＣＴにおけるリファレンス用干渉計の信号と同等である。

リサンプリング部３４は、基準信号の時間波形信号を基準として、ビート信号のディジタル信号をリサンプリングするようになっている。このリサンプリングは、例えば基準信号の時間波形信号の信号強度がゼロとなる時点をトリガとして行われる。なお、リサンプリングのタイミングはこれに限らず、例えば基準信号の時間波形信号の信号強度がピーク値を取る時点をトリガとしてもよい。また、信号強度がゼロとなる時点Ｔ_ｋと次に信号強度がゼロとなる時点Ｔ_ｋ＋１の間を等分割した時点をトリガとすれば測定帯域を拡大することができる。図４（ｃ）に４等分した例を示した。リサンプリング部３４によるリサンプリングのタイミング、及び、リサンプリングされる値は、公知の補間法などにより決定される。

第２フーリエ変換部３５は、リサンプリング部３４によってリサンプリングされたビート信号のディジタル信号を離散フーリエ変換して、測定対象物１００における測定光の伝搬方向の反射率分布を算出するようになっている。

以下、図３〜５と図６のフローチャートを参照しながら、本実施形態のＯＣＴ装置１における反射率分布算出部１９の動作を説明する。

まず、第１フーリエ変換部３１は、Ａ／Ｄ変換器１８から出力されたビート信号のディジタル信号を離散フーリエ変換して、図３（ａ）に示すように、測定対象物１００からの反射光と反射膜１５からの反射光のスペクトラムを算出する（ステップＳ１）。

ＯＣＴにおいては、時間に対して光周波数が直線的に変化する掃引が理想である。しかしながら、実際に掃引光源１１から出力されるレーザ光の周波数は、非直線的に掃引されたり、変調が重畳されていたりする。これに起因して、反射膜１５からの反射光のスペクトラムは、線スペクトラムではなくブロードな形状となり、側帯波を有する。

次に、信号抽出部３２は、図３（ａ）の干渉光のスペクトラムから、反射膜１５で反射された測定光に対応する基準信号を抽出する。このとき、図３（ｂ）に示すように側帯波も抽出する（ステップＳ２）。

次に、逆フーリエ変換部３３は、抽出された基準信号を逆離散フーリエ変換して、図３（ｃ）に示すような基準信号の時間波形信号を算出する（ステップＳ３）。

次に、リサンプリング部３４は、基準信号の時間波形信号を基準とし、Ａ／Ｄ変換器１８から出力されたビート信号を図４（ａ）に示すようにリサンプリングする（ステップＳ４）。図４（ａ）は、基準信号の信号強度がゼロとなる時点をトリガとして、基準信号の２倍の周波数でビート信号をリサンプリングしている例を示している。

そして、第２フーリエ変換部３５は、リサンプリングされたビート信号を離散フーリエ変換して、図４（ｂ）に示すように、掃引光源１１の光周波数掃引速度の非線形性の影響を除去したスペクトラムを算出する（ステップＳ５）。このスペクトラムから、測定対象物１００と反射膜１５における測定光の伝搬方向の反射率分布が得られる。

図６のフローチャートに示した処理では、ステップＳ４においてＡ／Ｄ変換器１８から出力されたビート信号がリサンプリングされた。本発明はこれに限らず、図３（ａ）のスペクトラムから、基準信号だけでなく測定対象物１００によって反射された測定光に対応する信号を図５に示す測定対象信号として抽出し、この測定対象信号をリサンプリングするものであってもよい。その場合の反射率分布算出部１９の構成とフローチャートを図７，８に示す。

図８のフローチャートにおけるステップＳ１１，Ｓ１２，Ｓ１４の処理は、図６のフローチャートにおけるステップＳ１，Ｓ２，Ｓ３とそれぞれ同様であるので説明を省略する。

信号抽出部３２は、図３（ａ）の干渉光のスペクトラムから、測定対象物１００で反射された測定光に対応する測定対象信号を図５に示すように抽出する（ステップＳ１３）。

逆フーリエ変換部３３は、抽出された測定対象信号を逆離散フーリエ変換して、測定対象信号の時間波形信号を算出する（ステップＳ１５）。

次に、リサンプリング部３４は、基準信号の時間波形信号を基準とし、逆フーリエ変換部３３から出力された測定対象信号の時間波形信号をリサンプリングする（ステップＳ１６）。

そして、第２フーリエ変換部３５は、リサンプリングされた測定対象信号を離散フーリエ変換して、測定対象物１００からの反射光のみのスペクトラムを算出する（ステップＳ１７）。

これにより、Ａ／Ｄ変換器１８から出力されたビート信号をリサンプリングする場合と比較して、掃引光源１１の光周波数掃引速度の非線形性の影響を更に除去することが可能となる。

以上説明したように、本実施形態のＯＣＴ装置１は、掃引光源１１を利用したＯＣＴ（ＳＳ−ＯＣＴ）において、１つの受光器で、リニアライズ用の反射膜１５からの反射光（基準信号）と、測定対象物１００からの反射光（測定対象信号）を受光する。基準信号と測定対象信号の周波数はディジタルフィルタで分離される。ＯＣＴ装置１は、基準信号を基にして、ビート信号又は測定対象信号をリサンプリングしてリニアライズする。さらに、ＯＣＴ装置１は、リニアライズされたビート信号又は測定対象信号を離散フーリエ変換して、掃引光源１１の光周波数掃引速度の非線形性の影響を除去した測定対象物１００の反射率分布を得る。

これにより、従来のＯＣＴにおけるリファレンス用干渉計を用いることなく、１つの受光器と１つのＡ／Ｄ変換器でＯＣＴ装置を構成できるため、ＯＣＴ装置の簡素化、低価格化を実現できる。

また、本実施形態のＯＣＴ装置１においては、参照光光路長と測定光光路長との光路差が、参照光光路長と基準光光路長との光路差よりも短く（又は長く）なる位置に反射膜１５が配置される。これにより、反射膜１５での反射光のスペクトラムと、測定対象物１００での反射光のスペクトラムとを周波数軸上で分離し、基準信号と測定対象信号とを別個に抽出することができる。

（第２の実施形態）
続いて、本発明の第２の実施形態としてのＯＣＴ装置２について図面を参照しながら説明する。なお、第１の実施形態と同様の構成及び動作については適宜説明を省略する。

図９に示すように、本実施形態のＯＣＴ装置２は、光サーキュレータ１３の第２端子１３ｂから測定用ファイバ２１ａを介して出力される測定光を２つに分岐して、測定用ファイバ２１ｂ及び測定用ファイバ２１ｃに入力する光カプラ２２を備える。測定用ファイバ２１ｂ，２１ｃは、光カプラ２２から取り外し可能となっている。

また、光カプラ２２は、測定用ファイバ２１ｂの先端から出射して測定対象物１００で反射された測定光と、測定用ファイバ２１ｃの先端に形成された反射膜１５で反射された測定光とが入力され、これらの光を光サーキュレータ１３の第２端子１３ｂに出力するようになっている。

上記のように構成された本実施形態のＯＣＴ装置２は、測定用ファイバ２１ｂ，２１ｃを適切な長さのものに適宜交換可能である。このため、参照光光路長と測定光光路長との光路差を容易に調整することができる。同様に、参照光光路長と基準光光路長との光路差を容易に調整することができる。これにより、反射膜１５での反射光のスペクトラムと、測定対象物１００での反射光のスペクトラムとを周波数軸上の任意の位置に分離することができる。

１，２ＯＣＴ装置
１１掃引光源
１２光カプラ（光分岐部）
１３光サーキュレータ（第１光合波部）
１４測定光学系
１４ａレンズ
１５反射膜（基準反射面）
１６光カプラ（第２光合波部）
１７バランスドレシーバ（受光部）
１８Ａ／Ｄ変換器（Ａ／Ｄ変換部）
１９反射率分布算出部
２０遅延ファイバ
２１，２１ａ〜２１ｃ測定用ファイバ
２２光カプラ
３１第１フーリエ変換部
３２信号抽出部
３３逆フーリエ変換部
３４リサンプリング部
３５第２フーリエ変換部
１００測定対象物

Claims

所定の光周波数掃引速度で波長掃引された光を出力する光源（１１）と、
前記光源からの出力光を測定光と参照光とに２分岐する光分岐部（１２）と、
前記測定光を測定対象物（１００）及び基準反射面（１５）に入射させるとともに、前記測定対象物によって反射された前記測定光と、前記基準反射面によって反射された前記測定光とを合波する第１光合波部（１３）と、
前記第１光合波部で合波された前記測定光と前記参照光とを合波することで干渉光を出力する第２光合波部（１６）と、
前記干渉光を受光してビート信号を生成する受光部（１７）と、
前記ビート信号をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換部（１８）と、
前記ディジタル信号に基づいて、前記測定対象物における前記測定光の伝搬方向の反射率分布を算出する反射率分布算出部（１９）と、を備え、
前記反射率分布算出部は、
前記ディジタル信号をフーリエ変換して、前記干渉光のスペクトラムを算出する第１フーリエ変換部（３１）と、
前記スペクトラムから、前記基準反射面によって反射された前記測定光に対応する信号を基準信号として抽出する信号抽出部（３２）と、
前記基準信号を逆フーリエ変換して時間波形信号を算出する逆フーリエ変換部（３３）と、
前記基準信号の前記時間波形信号を基準として、前記ディジタル信号をリサンプリングするリサンプリング部（３４）と、
前記リサンプリング部によってリサンプリングされた前記ディジタル信号をフーリエ変換して、前記反射率分布を算出する第２フーリエ変換部（３５）と、を有し、
前記信号抽出部はさらに前記基準信号の側帯波も抽出することを特徴とするＯＣＴ装置。
前記光分岐部から出力されて前記第２光合波部に至る前記参照光の光路長と、前記光分岐部から出力されて前記測定対象物で反射されて前記第２光合波部に至る前記測定光の光路長との光路差が、前記光分岐部から出力されて前記第２光合波部に至る前記参照光の光路長と、前記光分岐部から出力されて前記基準反射面で反射されて前記第２光合波部に至る前記測定光の光路長との光路差よりも短くなる位置に前記基準反射面が配置されることを特徴とする請求項１に記載のＯＣＴ装置。
前記光分岐部から出力されて前記第２光合波部に至る前記参照光の光路長と、前記光分岐部から出力されて前記測定対象物で反射されて前記第２光合波部に至る前記測定光の光路長との光路差が、前記光分岐部から出力されて前記第２光合波部に至る前記参照光の光路長と、前記光分岐部から出力されて前記基準反射面で反射されて前記第２光合波部に至る前記測定光の光路長との光路差よりも長くなる位置に前記基準反射面が配置されることを特徴とする請求項１に記載のＯＣＴ装置。
前記基準反射面は、前記測定対象物に入射され前記測定対象物により反射される前記測定光の光路上に設けられることを特徴とする請求項１から請求項３のいずれかに記載のＯＣＴ装置。
前記測定対象物は、前記基準反射面に入射され前記測定対象物により反射される前記測定光の光路上に設けられることを特徴とする請求項１から請求項３のいずれかに記載のＯＣＴ装置。
前記測定対象物に入射され前記測定対象物により反射される前記測定光の光路上に設けられて、前記第１光合波部により出力された前記測定光を前記測定対象物に集光するとともに、前記測定対象物によって反射された前記測定光を前記第１光合波部に入力するレンズ（１４ａ）をさらに備え、
前記基準反射面は、前記レンズの表面あるいは前記レンズの表面に形成された反射膜により構成されることを特徴とする請求項１から請求項５のいずれかに記載のＯＣＴ装置。