JP6299177B2 - Semiconductor device - Google Patents

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Description

本発明は、主電流のオンオフ切替えを行うための半導体スイッチング素子を備える半導体装置に関するものである。   The present invention relates to a semiconductor device including a semiconductor switching element for switching on and off a main current.

従来より、半導体スイッチング素子(以下、単に「スイッチング素子」と称す。)を内部に備え、このスイッチング素子のオンオフを切替えることにより電力の変換を行うインバータやコンバータ等の半導体装置が知られている。   2. Description of the Related Art Conventionally, semiconductor devices such as inverters and converters that include a semiconductor switching element (hereinafter simply referred to as “switching element”) and convert power by switching on and off the switching element are known.

こうしたスイッチング素子として、近年では所謂電流センス付きのスイッチング素子が使用されるようになってきており、これを用いる場合にはセンス端子より主電流に対応するセンス電流を得ることが可能となる。そのため、センス電流を検出することで過大な主電流が流れていることを把握することができ、こうした機能を利用して、スイッチング素子の過電流保護を行うものも提案されている。   In recent years, a so-called switching element with current sensing has come to be used as such a switching element. When this switching element is used, a sense current corresponding to the main current can be obtained from the sense terminal. For this reason, it is possible to grasp that an excessive main current flows by detecting a sense current, and there has been proposed a device that uses such a function to perform overcurrent protection of a switching element.

例えば、特許文献1に記載された半導体装置は、センス端子より出力されるセンス電流を基に、主電流が過大となった過電流状態にある場合には主電流に制限をかける過電流制限回路と、過電流を検出した場合にはスイッチング素子に与える駆動電圧を停止させる過電流保護回路とを備えるように構成されている。   For example, the semiconductor device described in Patent Document 1 is based on a sense current output from a sense terminal, and an overcurrent limiting circuit that limits the main current when the main current is in an overcurrent state that is excessive. And an overcurrent protection circuit that stops the drive voltage applied to the switching element when an overcurrent is detected.

特開平8−316808号公報JP-A-8-316808

しかしながら、上述した特許文献1記載の半導体装置で用いられる過電流保護のための回路構造は、単一の半導体素子をオンオフ制御する場合に用いられるものに過ぎず、大容量の電力制御を行うために複数のスイッチング素子を並列接続した回路構成にこれを適用することはできない。   However, the circuit structure for overcurrent protection used in the semiconductor device described in Patent Document 1 described above is merely used for on / off control of a single semiconductor element, and performs large-capacity power control. This cannot be applied to a circuit configuration in which a plurality of switching elements are connected in parallel.

具体的には、上述した特許文献1に記載されたように、各スイッチング素子を中心として過電流制限回路や過電流保護回路を設けた回路構成を単純に並列接続した場合には、全体の回路構成が複雑となってコスト上昇を招くとともに、動作信頼性が低下することに繋がりかねない。また、過電流保護のために各スイッチング素子を独立してオンオフ制御を行うことで、制御上与えられる駆動電圧の到達タイミングにずれが生ずることで、スイッチング素子のオンオフ動作がアンバランスになって、何れかのスイッチング素子に負担が生じ故障を招くおそれがある。   Specifically, as described in Patent Document 1 described above, when a circuit configuration including an overcurrent limiting circuit and an overcurrent protection circuit is simply connected in parallel with each switching element as a center, the entire circuit The configuration becomes complicated, leading to an increase in cost, and operation reliability may be reduced. Also, by performing on / off control independently for each switching element for overcurrent protection, a deviation occurs in the arrival timing of the drive voltage given in the control, and the on / off operation of the switching element becomes unbalanced, Any one of the switching elements may be burdened and may cause a failure.

本発明は、このような課題を有効に解決することを目的としており、具体的には、複数のスイッチング素子を並列接続する構造として大容量化を図ることを前提として、簡単な回路構成としながら、各スイッチング素子の過電流保護を行うとともに、各スイッチング素子間のオンオフ動作のバランスを保ち、安定して制御を行うことのできる半導体装置を提供することを目的とする。   An object of the present invention is to effectively solve such a problem. Specifically, the present invention has a simple circuit configuration on the premise of increasing the capacity as a structure in which a plurality of switching elements are connected in parallel. An object of the present invention is to provide a semiconductor device that can perform overcurrent protection for each switching element, maintain a balance of on / off operations between the switching elements, and perform stable control.

本発明は、かかる目的を達成するために、次のような手段を講じたものである。   In order to achieve this object, the present invention takes the following measures.

すなわち、本発明の半導体装置は、並列に複数個が接続されており、主電流に応じたセンス電流を出力可能な電流センス付きのスイッチング素子と、これらのスイッチング素子にオンオフ制御を行うための共通のゲート信号を出力するゲートドライバ回路と、各スイッチング素子に対応して設けられており、スイッチング素子より得られたセンス電流をセンス電圧にそれぞれ変換して出力する電流検出回路と、各電流検出回路に対応して設けられており、電流検出回路より得られたセンス電圧が予め定められた閾値よりも大きい場合に過電流検出信号を出力する過電流検出回路と、これらの過電流検出回路に接続されており、過電流検出回路の少なくとも何れかより過電流検出信号が出力される場合にオフ信号を出力するオフ信号出力回路とを備えており、前記ゲートドライバ回路が、前記オフ信号出力回路より得られるオフ信号に基づき、前記ゲート信号を通じて前記スイッチング素子のオンオフ制御を停止するように構成した。   That is, a plurality of semiconductor devices of the present invention are connected in parallel, and a switching element with a current sense capable of outputting a sense current according to a main current, and a common for performing on / off control for these switching elements. A gate driver circuit that outputs a gate signal of the current, a current detection circuit that is provided corresponding to each switching element, converts the sense current obtained from the switching element into a sense voltage, and outputs the sense voltage, and each current detection circuit And an overcurrent detection circuit that outputs an overcurrent detection signal when the sense voltage obtained from the current detection circuit is greater than a predetermined threshold, and is connected to these overcurrent detection circuits An off signal output circuit for outputting an off signal when an overcurrent detection signal is output from at least one of the overcurrent detection circuits; With which, the gate driver circuit, based on the OFF signal obtained from the off-signal output circuit, and configured to stop the on-off control of the switching element through the gate signal.

このように構成すると、複数のスイッチング素子のオンオフ制御をひとつのゲートドライバ回路からの共通のゲート信号によって行うとともに、各スイッチング素子から得られるセンス電流を変換したセンス電圧が閾値よりも大きい場合に、過電流検出回路によって過電流検出信号を出力し、少なくとも何れかの過電流検出回路より過電流検出信号が出力される場合にオフ信号を出力し、このオフ信号に基づいてスイッチング素子のオンオフ制御が行われることから、簡単な構成でもって各スイッチング素子の過電流からの保護を図ることが可能となる上に、各スイッチング素子をほぼ同時に制御してスイッチング素子間のバランスを保ち、安定して動作を行わせることが可能となる。   With this configuration, when the on / off control of a plurality of switching elements is performed by a common gate signal from one gate driver circuit, and the sense voltage obtained by converting the sense current obtained from each switching element is larger than a threshold value, An overcurrent detection signal is output by the overcurrent detection circuit, and when an overcurrent detection signal is output from at least one of the overcurrent detection circuits, an off signal is output, and on / off control of the switching element is performed based on the off signal. In addition to being able to protect each switching element from overcurrent with a simple configuration, the switching elements are controlled almost simultaneously to maintain a balance between the switching elements and operate stably. Can be performed.

より簡単な回路構成としながら、複数の過電流検出回路の少なくとも何れかにおいて過電流を検出した場合や、回路間が接続されていない断線状態にある場合に、スイッチング素子のオンオフ制御を確実に停止させることを可能とするために本発明は、前記過電流検出回路が異常検出回路に接続されており、当該異常検出回路は何れかの過電流検出回路より過電流検出信号を得た場合、あるいは、何れかの電流検出回路との接続がなされていない場合に異常検出信号を出力し、当該異常検出信号に基づいて前記オフ信号出力回路がオフ信号を出力するように構成することを特徴とするWith a simpler circuit configuration, when overcurrent is detected in at least one of the multiple overcurrent detection circuits or when the circuit is disconnected, the on / off control of the switching element is reliably stopped In the present invention , the overcurrent detection circuit is connected to an abnormality detection circuit, and the abnormality detection circuit obtains an overcurrent detection signal from any of the overcurrent detection circuits, or outputs one of the abnormality detection signal when the connection is not made between the current detection circuit, the off-signal output circuit based on the abnormality detection signal is equal to or configured to output an oFF signal .

また、回路全体の小型化を図るためには、前記異常検出回路がトランジスタアレイによって構成されており、このトランジスタアレイを構成するトランジスタの入力側に過電流検出回路がそれぞれ接続されるとともに、各トランジスタの出力側が共通して前記オフ信号出力回路に接続されるように構成することが好適である。   Further, in order to reduce the size of the entire circuit, the abnormality detection circuit is constituted by a transistor array, an overcurrent detection circuit is connected to the input side of the transistors constituting the transistor array, and each transistor It is preferable that the output sides of the two are commonly connected to the off signal output circuit.

さらに、簡単な回路構成としながらも、過電流と断線との双方を適切に検出することを可能とするためには、前記トランジスタへの入力側電圧が前記過電流検出回路に引き込まれるように接続されており、これらトランジスタと過電流検出回路との接続が解除された場合、又は、前記過電流検出回路より過電流検出信号が発せられた場合において、前記トランジスタがターンオンするように構成することが好適である。   Furthermore, in order to enable appropriate detection of both overcurrent and disconnection while having a simple circuit configuration, the input side voltage to the transistor is connected so as to be drawn into the overcurrent detection circuit. When the connection between these transistors and the overcurrent detection circuit is released or when an overcurrent detection signal is issued from the overcurrent detection circuit, the transistor may be turned on. Is preferred.

また、上述した形態に代えて、より簡単な構成としながら、複数の電流検出回路の少なくとも何れかにおいて過電流を検出した場合にオフ信号を出力できるようにするためには、複数の過電流検出回路がワイヤードオア接続されており、何れかの過電流検出回路より過電流検出信号が出力された場合に、前記ワイヤードオア接続の接続点において前記過電流検出信号が表れるように構成することが好適である。   In addition, in order to be able to output an off signal when an overcurrent is detected in at least one of the plurality of current detection circuits, instead of the above-described form, a plurality of overcurrent detections are performed. It is preferable that the circuit is connected to the wired OR, and when the overcurrent detection signal is output from any of the overcurrent detection circuits, the overcurrent detection signal appears at the connection point of the wired OR connection. It is.

そして、上記の過電流検出回路による過電流の検出に基づくオンオフ制御に加え、センス電圧を基にした主電流の制限をより素早く実行することで、スイッチング素子の保護をより確実に行うことを可能とするためには、前記電流検出回路と前記過電流検出回路との間に、電流検出回路により得られるセンス電圧に基づいてゲート電圧を低減することで主電流を抑制可能とする電流制限回路をそれぞれ備えるように構成することが好適である。 And, in addition to the on / off control based on the overcurrent detection by the overcurrent detection circuit described above, it is possible to more reliably protect the switching element by executing the restriction of the main current based on the sense voltage more quickly. In order to achieve this, a current limiting circuit that can suppress the main current between the current detection circuit and the overcurrent detection circuit by reducing the gate voltage based on the sense voltage obtained by the current detection circuit. It is suitable to comprise so that each may be provided.

さらに、上記の発明をより好適に利用して、大容量で高速性能に優れたものとするためには、前記スイッチング素子が、SiC半導体素子であるように構成することが好適である。   Furthermore, in order to more suitably utilize the above invention and to achieve a large capacity and excellent high-speed performance, it is preferable that the switching element is a SiC semiconductor element.

以上説明した本発明によれば、複数のスイッチング素子を並列接続する構造として大容量化を図ることを前提として、各スイッチング素子の過電流保護を行うとともに、各スイッチング素子間のオンオフ動作のバランスを保ち、安定して制御を行うことができる半導体装置を提供することが可能となる。   According to the present invention described above, on the premise of increasing the capacity as a structure in which a plurality of switching elements are connected in parallel, overcurrent protection of each switching element is performed, and the on / off operation balance between the switching elements is balanced. It is possible to provide a semiconductor device that can be maintained and stably controlled.

本発明の一実施形態に係る半導体装置の構成図。1 is a configuration diagram of a semiconductor device according to an embodiment of the present invention. 同半導体装置のフィルタ回路の特性を示す説明図。Explanatory drawing which shows the characteristic of the filter circuit of the semiconductor device. 同半導体装置のスイッチング素子より得られるセンス電流に含まれるノイズを説明するための説明図。Explanatory drawing for demonstrating the noise contained in the sense current obtained from the switching element of the semiconductor device. 一般的なローパスフィルタの特性を比較例として示す説明図。Explanatory drawing which shows the characteristic of a general low-pass filter as a comparative example.

以下、本発明の実施形態を、図面を参照して説明する。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

図1に示すように、この半導体装置1は、主電流の制御を行うための半導体素子2と、この半導体素子2をオンオフ制御するためのゲート信号Sgを出力するゲートドライバ回路9と、ゲート信号Sgの出力経路の途中に設けられたゲート抵抗7と、半導体素子2より得られる主電流に対応したセンス電流をセンス電圧Vsに変換する電流検出回路3と、電流検出回路3からの得られるセンス電圧Vsの出力先に順次接続されたフィルタ回路4と、過電流制限回路5と、過電流検出回路6と、異常検出回路8と、比較回路94と、オフ信号出力回路93と、遅延回路92とから構成されており、遅延回路92を通じて出力されるオフ信号Szがゲートドライバ回路9に入力されるようになっている。   As shown in FIG. 1, a semiconductor device 1 includes a semiconductor element 2 for controlling a main current, a gate driver circuit 9 for outputting a gate signal Sg for controlling on / off of the semiconductor element 2, and a gate signal. A gate resistor 7 provided in the middle of the output path of Sg, a current detection circuit 3 that converts a sense current corresponding to the main current obtained from the semiconductor element 2 into a sense voltage Vs, and a sense obtained from the current detection circuit 3 Filter circuit 4 sequentially connected to the output destination of voltage Vs, overcurrent limiting circuit 5, overcurrent detection circuit 6, abnormality detection circuit 8, comparison circuit 94, off signal output circuit 93, and delay circuit 92 The off signal Sz output through the delay circuit 92 is input to the gate driver circuit 9.

半導体素子2は、2つのスイッチ回路素子21,22が並列に接続されて構成されており、各スイッチ回路素子21(22)は、SiC製トランジスタからなるスイッチング素子21A(21B)と、そのエミッタコレクタ間に接続されたダイオード21B(22B)とより構成されている。また、各スイッチング素子21A,21Bは、主電流の約1/10000程度のセンス電流を出力するセンス端子21A1,22A1を備えている。また、スイッチング素子21A,22Aは並列に接続されることで、単体で用いる場合よりも大容量の電流出力を行うことが可能となっている。さらに、それぞれのベース端子21A2,22A2には、共通のゲート信号Sgが入力されるようになっており、ターンオンやターンオフを行う際の動作タイミングにズレが生じないようにしている。   The semiconductor element 2 is configured by connecting two switch circuit elements 21 and 22 in parallel. Each switch circuit element 21 (22) includes a switching element 21A (21B) made of a SiC transistor and an emitter collector thereof. It consists of a diode 21B (22B) connected between them. Each of the switching elements 21A and 21B includes sense terminals 21A1 and 22A1 that output a sense current that is about 1/10000 of the main current. Further, the switching elements 21A and 22A are connected in parallel, so that it is possible to output a larger capacity than when used alone. Further, a common gate signal Sg is input to each of the base terminals 21A2 and 22A2, so that the operation timing at the time of turn-on and turn-off is not shifted.

電流検出回路3,3は、各スイッチング素子21A,21Bに対応してそれぞれ設けられ、センス端子21A1,22A1に接続されている。また、各電流検出回路3,3は、互いに同一の回路構成となっている。電流検出回路3は、抵抗31とコンデンサ32とを並列に接続した構成からなり、センス端子21A1(22A1)より入力されるセンス電流を電圧に変換して、センス電圧Vsとして出力することが可能となっている。センス電圧Vsは、主電流の大きさにほぼ比例するものであるため、このセンス電圧Vsの大きさを把握することによって、主電流が過大になった過電流状態であるか否かを把握することが可能である。   The current detection circuits 3 and 3 are provided corresponding to the switching elements 21A and 21B, respectively, and are connected to the sense terminals 21A1 and 22A1. The current detection circuits 3 and 3 have the same circuit configuration. The current detection circuit 3 has a configuration in which a resistor 31 and a capacitor 32 are connected in parallel, and can convert a sense current input from the sense terminal 21A1 (22A1) into a voltage and output it as a sense voltage Vs. It has become. Since the sense voltage Vs is substantially proportional to the magnitude of the main current, by grasping the magnitude of the sense voltage Vs, it is grasped whether or not it is an overcurrent state in which the main current is excessive. It is possible.

フィルタ回路4,4は、各電流検出回路3,3に対応してそれぞれ設けられ、互いに同一の構成とされている。このフィルタ回路4は、2つのコイル41,42と、コンデンサ43とをT字形に配置した構成となっており、所謂LCLフィルタ回路を構成している。そして、このフィルタ回路4は、後述するようにバンドストップフィルタ(帯域除去フィルタ)として機能することで、センス電圧Vs0(Vs)より特定周波数近傍の信号成分を減衰させてノイズを除去し、フィルタ通過センス電圧Vs1(Vs)として出力することができるようになっている。   The filter circuits 4 and 4 are provided corresponding to the current detection circuits 3 and 3, respectively, and have the same configuration. This filter circuit 4 has a configuration in which two coils 41 and 42 and a capacitor 43 are arranged in a T shape, and constitutes a so-called LCL filter circuit. The filter circuit 4 functions as a band stop filter (band elimination filter) as will be described later, thereby attenuating a signal component near a specific frequency from the sense voltage Vs0 (Vs) to remove noise and passing through the filter. It can output as sense voltage Vs1 (Vs).

過電流制限回路5,5は、各フィルタ回路4,4に対応してそれぞれ設けられ、互いに同一の構成とされている。この過電流制限回路5はフィルタ通過センス電圧Vs1が入力される抵抗51と、この抵抗51を通じてベースに入力がなされるトランジスタ54と、このトランジスタ54のエミッタとベース間に設けられたコンデンサ53と、コレクタとベース間に設けられたコンデンサ52と、トランジスタ54のコレクタに、ゲートドライバ9よりスイッチング素子21A,22Aへのゲート信号Sgの出力経路に接続する抵抗56と、ダイオード55とから構成されている。この過電流制限回路5は、センス電圧Vsが回路上定められる所定電圧である閾値よりも高い場合、すなわち過電流が生じたと判断される場合に、ゲート信号Sgの出力経路より電流を引き込み、ゲート電圧を低減することでスイッチング素子21A(21B)を流れる主電流の抑制を行うことが可能となっている。ここで、上記の閾値とは、スイッチング素子21A,22Aに流すことの許容される電流最大値を基に、所定の安全率を加味して、若干これよりも低い値になるように設定している。 The overcurrent limiting circuits 5 and 5 are respectively provided corresponding to the filter circuits 4 and 4 and have the same configuration. The overcurrent limiting circuit 5 includes a resistor 51 to which a filter-passing sense voltage Vs1 is input, a transistor 54 that is input to the base through the resistor 51, a capacitor 53 provided between the emitter and base of the transistor 54, A capacitor 52 provided between the collector and the base, a collector of the transistor 54, a resistor 56 connected to the output path of the gate signal Sg from the gate driver 9 to the switching elements 21A and 22A, and a diode 55 are included. . The overcurrent limiting circuit 5, if the sense voltage Vs is higher than the threshold which is a predetermined voltage which is determined on the circuit, that is, when the overcurrent is determined to have occurred, draw a current from the output path of the gate signal Sg, the gate It is possible to suppress the main current flowing through the switching element 21A (21B) by reducing the voltage . Here, the threshold value is set to a value slightly lower than this, taking into account a predetermined safety factor, based on the maximum current allowed to flow through the switching elements 21A and 22A. Yes.

過電流検出回路6,6は、各フィルタ回路4,4に対応してそれぞれ設けられ、互いに同一の構成とされている。この過電流検出回路6は、コンパレータとして機能するオペアンプ61と、オペアンプ61の−(マイナス)側に接続される直流電源62と、オペアンプ61の出力側に接続されるツェナーダイオード63とから構成されており、オペアンプ61の+(プラス)側に上述したフィルタ通過センス電圧Vs1が入力されるようにしている。このように構成することで、直流電源62により得られる電圧と比較して、フィルタ通過センス電圧Vs1が大きい場合に、すなわち、過電流状態と判断される場合には、過電流検出信号So1が出力されるようになっている。すなわち、この直流電源62により得られる電圧も、上述した過電流制限回路5と同様に閾値として機能するものであり、スイッチング素子21A,22Aに流すことの許容される電流最大値を基に、所定の安全率を加味して、若干これよりも低い値になるように設定している。過電流検出信号So1はハイレベルの電圧信号So1として出力されており、通常状態にはこれに代わりローレベルの電圧信号So0が出力されるようになっている。   The overcurrent detection circuits 6 and 6 are provided corresponding to the filter circuits 4 and 4, respectively, and have the same configuration. The overcurrent detection circuit 6 includes an operational amplifier 61 functioning as a comparator, a DC power source 62 connected to the − (minus) side of the operational amplifier 61, and a Zener diode 63 connected to the output side of the operational amplifier 61. Therefore, the above-described filter passing sense voltage Vs1 is input to the + (plus) side of the operational amplifier 61. With this configuration, the overcurrent detection signal So1 is output when the filter-passed sense voltage Vs1 is larger than the voltage obtained by the DC power supply 62, that is, when it is determined that the overcurrent state is present. It has come to be. That is, the voltage obtained by the DC power source 62 also functions as a threshold value as in the overcurrent limiting circuit 5 described above, and is determined based on the maximum current value allowed to flow through the switching elements 21A and 22A. In consideration of the safety factor, it is set to be slightly lower than this. The overcurrent detection signal So1 is output as a high level voltage signal So1, and in the normal state, a low level voltage signal So0 is output instead.

異常検出回路8は、各過電流検出回路6,6に接続されており、両者からの出力に応じて1つの異常検出信号Sxを出力するように構成されている。但し、この内部には、各過電流検出回路6,6に対応して設けられた2つの断線検出回路81,81を備えており、これらの断線検出回路81,81は接続点P1によって接続され、この接続点P1を通じて、上記異常検出信号Sxを出力できるようになっている。   The abnormality detection circuit 8 is connected to each of the overcurrent detection circuits 6 and 6, and is configured to output one abnormality detection signal Sx according to the output from both. However, inside this, there are provided two disconnection detection circuits 81, 81 provided corresponding to the respective overcurrent detection circuits 6, 6, and these disconnection detection circuits 81, 81 are connected by a connection point P1. The abnormality detection signal Sx can be output through the connection point P1.

断線検出回路81,81は互いに同一の構成となっており、まず、過電流検出回路6からの過電流検出信号So1の出力経路が、抵抗83を介してトランジスタ85のベースに接続されるとともに、抵抗82を介して正電源電圧Vccに接続されるようになっている。また、正電源電圧Vccとトランジスタ85のコレクタは抵抗84を介して接続されている。そして、トランジスタ85のエミッタが接続点P1に接続されている。異常検出回路8は、このようなトランジスタ85,85が整列したトランジスタアレイとして構成されており、高い動作安定性を備えるとともに、回路全体の小型化に寄与することが可能となっている。   The disconnection detection circuits 81 and 81 have the same configuration. First, the output path of the overcurrent detection signal So1 from the overcurrent detection circuit 6 is connected to the base of the transistor 85 via the resistor 83, and The resistor 82 is connected to the positive power supply voltage Vcc. The positive power supply voltage Vcc and the collector of the transistor 85 are connected via a resistor 84. The emitter of the transistor 85 is connected to the connection point P1. The abnormality detection circuit 8 is configured as a transistor array in which such transistors 85 and 85 are aligned, and has high operational stability and can contribute to downsizing of the entire circuit.

上述した過電流検出回路6はオープンコレクタ回路であるため、通常状態において断線検出回路81側の正電源電圧Vccからの電流が、過電流検出回路6側に引き込まれることでトランジスタ85におけるベース電圧は上がらず、エミッタ側への出力はなされなくなる。これに対して、過電流検出回路6より過電流検出信号So1が入力された場合には、ベース電圧が上昇することでターンオンしてエミッタ側への出力がなされる。さらには、断線検出回路81と過電流検出回路6との間の接続が解除されている状態、すなわち、断線状態となっている場合にもターンオンして、エミッタ側への出力がなされるようになっている。   Since the overcurrent detection circuit 6 described above is an open collector circuit, the current from the positive power supply voltage Vcc on the disconnection detection circuit 81 side is drawn into the overcurrent detection circuit 6 side in the normal state, so that the base voltage in the transistor 85 is It does not rise, and output to the emitter side is not made. On the other hand, when the overcurrent detection signal So1 is input from the overcurrent detection circuit 6, the base voltage rises to turn on and output to the emitter side. Further, it is turned on even when the connection between the disconnection detection circuit 81 and the overcurrent detection circuit 6 is released, that is, in the disconnection state, so that output to the emitter side is performed. It has become.

各断線検出回路81が上記のように構成され、これらを構成するトランジスタ85,85のエミッタが接続点P1に接続されることで、何れかの断線検出回路81,81に過電流検出信号So1が入力された場合、あるいは、過電流検出回路6,6との間で断線が生じた場合に接続点P1からは、ハイレベルの異常検出信号Sxが出力されるようになっている。   Each disconnection detection circuit 81 is configured as described above, and the emitters of the transistors 85 and 85 constituting the disconnection detection circuits 81 are connected to the connection point P1, so that the overcurrent detection signal So1 is transmitted to any one of the disconnection detection circuits 81 and 81. A high level abnormality detection signal Sx is output from the connection point P1 when it is input or when a disconnection occurs between the overcurrent detection circuits 6 and 6.

比較回路94は、この異常検出信号Sxが入力された場合に、信号Syを出力する。さらに、オフ信号出力回路93は、比較回路94より信号Syが入力された場合に、オフ信号Szを出力する。   The comparison circuit 94 outputs a signal Sy when the abnormality detection signal Sx is input. Further, the off signal output circuit 93 outputs an off signal Sz when the signal Sy is input from the comparison circuit 94.

オフ信号Szは、遅延回路92を通過してゲートドライバ回路91に届くようにしてあり、こうすることで、オフ信号Szは所定時間(マスク時間)Tmの間マスクされて、ゲートドライバ回路9には届かない。これは、後述するように、スイッチング素子21A,22Aのターンオン・ターンオフに伴う誤作動を防止するためであり、オフ信号Szが出力されてからマスク時間が経過した後であっても、継続的にオフ信号Szが出力されている場合にのみこのオフ信号Szがゲートドライバ回路9に到達するようになっている。   The off signal Sz passes through the delay circuit 92 and reaches the gate driver circuit 91. By doing so, the off signal Sz is masked for a predetermined time (mask time) Tm, and is sent to the gate driver circuit 9. Will not reach. As will be described later, this is to prevent malfunctions associated with turn-on and turn-off of the switching elements 21A and 22A, and even after the mask time has elapsed after the off signal Sz is output, The off signal Sz reaches the gate driver circuit 9 only when the off signal Sz is output.

ゲートドライバ回路9は、通常、スイッチング素子21A,22Aのオンオフ制御を行うために、これらに向けて共通のゲート信号Sgを出力しており、これらの信号はゲート抵抗7を構成する各抵抗素子71,72を通じて各スイッチング素子21A,22Aのベースに与えられるようになっている。また、上述した遅延回路92を通じてオフ信号Szの入力がなされることにより、これを基にしたオンオフ制御を行うようにしている。具体的には、オフ信号Szの入力がなされた場合に、内蔵されたゲート電流制限回路91を用いることで、ソフトシャットダウンしてサージ電圧を抑制しながら、各スイッチング素子21A,22Aをオフ状態にする。   The gate driver circuit 9 normally outputs a common gate signal Sg for the on / off control of the switching elements 21 </ b> A and 22 </ b> A, and these signals are the resistance elements 71 constituting the gate resistance 7. , 72 is provided to the base of each switching element 21A, 22A. Further, when the OFF signal Sz is input through the delay circuit 92 described above, ON / OFF control based on this is performed. Specifically, when the off signal Sz is input, the built-in gate current limiting circuit 91 is used, and the switching elements 21A and 22A are turned off while performing a soft shutdown and suppressing a surge voltage. To do.

ここで、上述したフィルタ回路4及び遅延回路92の作用について具体的に説明を行う。   Here, the operation of the filter circuit 4 and the delay circuit 92 described above will be specifically described.

図3(a)は、スイッチング素子21A,22A(図1参照)にゲート信号Sgとして与えるゲート電圧と、センス端子21A1,22A1(図1参照)より得られるセンス電流との関係を模式的に示したものである。なお、この図では、主電圧を印加していない場合を示しており、ゲート電圧の変化に伴う主電流の変化は生じない。本来、センス電流は主電流に比例するものであることから、主電流の出力が無い限りセンス電流の出力もないはずであるが、ゲート電圧を図中で示すような矩形状の電圧信号として与えた場合、この立ち上がり時には、電流値が急激に増加して急激に減少する単一の三角波状の変化を示す。同様に、ゲート電圧の立ち下がり時には急激に負側に流れ、急激に元に戻る逆三角波状の変化を生ずる。そのため、センス電流を基に過電流を検出しようとした場合、この三角波状(逆三角波状)のノイズ成分の影響を受けて、過電流保護に誤動作が生ずる可能性がある。こうした三角波状のノイズ発生時間t1は、回路の構成や素子の種類、又は、ゲート電圧の立ち上がりや立ち下がり速度(勾配)によっても変化するが、例えば、0.2〜0.3μsec程度のものとなる。   FIG. 3A schematically shows the relationship between the gate voltage applied as the gate signal Sg to the switching elements 21A and 22A (see FIG. 1) and the sense current obtained from the sense terminals 21A1 and 22A1 (see FIG. 1). It is a thing. This figure shows the case where the main voltage is not applied, and the main current does not change with the change of the gate voltage. Since the sense current is inherently proportional to the main current, there should be no sense current output unless the main current is output, but the gate voltage is given as a rectangular voltage signal as shown in the figure. In this case, at the time of this rise, a single triangular wave-like change in which the current value increases rapidly and decreases rapidly is shown. Similarly, when the gate voltage falls, an inverse triangular wave-like change occurs that suddenly flows to the negative side and suddenly returns. Therefore, when an overcurrent is to be detected based on the sense current, malfunction may occur in overcurrent protection due to the influence of the triangular wave (inverse triangular wave) noise component. Such a triangular wave noise generation time t1 varies depending on the circuit configuration, the type of element, or the rising or falling speed (gradient) of the gate voltage. For example, it is about 0.2 to 0.3 μsec. Become.

図3(b)は、主電圧を印加した状態における、ゲート電圧の変化に伴う主電流の変化と、センス電流の変化を模式的に示したものである。この図において、上述したような、ゲート電圧の立ち上がりと立ち下がりに伴ってセンス電流に表れる三角波状のノイズは考慮していない。ゲート電圧の立ち上がりにおいて、本来であれば、主電流は急激に増加して、ゲート電圧がオフになるまでの間、一定の電流値になるはずであるが、主電流が増加した直後において回路内の共振周波数による波状のノイズが現れ、徐々に減衰していく。さらに、ゲート電圧の立ち下がりとともに、主電流はゼロになるがその直後において回路内の共振周波数による波状のノイズが現れ、徐々に減衰していく。こうした回路内の共振周波数とは、スイッチング素子21A,22A(図1参照)そのものが持つものも含め、これらのスイッチング素子が接続された回路全体が含む電気的な共振周波数であって、所謂寄生容量や出力インピーダンスによる特定周波数となっている。この特定周波数は、回路の構成や、素子の種類、配線の長さ等によっても異なるが、例えば、10〜30MHz程度になる。また、ノイズの大きさは、ゲート電圧の立ち上がりや立ち下がり時間にも影響を受ける。さらに、主電流に生ずるノイズと同様、センス電流においてもこの特定周波数でのノイズが生じ、これと同じようにセンス電圧も変化する。そのため、本来、こうした共振周波数成分の電流変化を過電流として捉えることは不要であるにも関わらず、センス電圧(センス電流)を基に過電流を検出しようとした場合、この共振周波数でのノイズ成分の影響を受けて、過電流保護に誤動作が生ずる可能性がある。   FIG. 3B schematically shows changes in the main current accompanying changes in the gate voltage and changes in the sense current when the main voltage is applied. In this figure, the triangular wave noise that appears in the sense current as the gate voltage rises and falls as described above is not considered. At the rise of the gate voltage, the main current should increase suddenly and should have a constant current value until the gate voltage is turned off. Wave-like noise due to the resonance frequency appears and gradually attenuates. Further, as the gate voltage falls, the main current becomes zero, but immediately after that, wave-like noise due to the resonance frequency in the circuit appears and gradually attenuates. The resonance frequency in such a circuit is an electrical resonance frequency included in the entire circuit to which the switching elements 21A and 22A (see FIG. 1) itself and the switching elements are connected. And a specific frequency due to output impedance. The specific frequency varies depending on the circuit configuration, element type, wiring length, and the like, but is about 10 to 30 MHz, for example. The magnitude of the noise is also affected by the rise time and fall time of the gate voltage. Further, like the noise generated in the main current, noise at this specific frequency is generated in the sense current, and the sense voltage changes in the same manner. For this reason, when it is not necessary to detect the current change of the resonance frequency component as an overcurrent, when an overcurrent is detected based on the sense voltage (sense current), noise at this resonance frequency is detected. Under the influence of the components, malfunction may occur in overcurrent protection.

上記のような、スイッチングに伴う三角波状のノイズ、及び、特定周波数でのノイズは、ゲート電圧の立ち上がり速度を緩やかにすることで減少する可能性がある。これは、図1に示したゲート抵抗7を構成する各抵抗素子71,72の抵抗値を大きくすることによって実現することができる。しかしながら、このような手段を採ることはスイッチング素子21A,22Aの動作速度を一定以上に上げることができなくなるために好ましくない。   The triangular wave noise and the noise at a specific frequency as described above may be reduced by slowing the rise rate of the gate voltage. This can be realized by increasing the resistance values of the resistance elements 71 and 72 constituting the gate resistance 7 shown in FIG. However, it is not preferable to adopt such means because the operating speed of the switching elements 21A and 22A cannot be increased beyond a certain level.

そこで、本実施形態における半導体装置1では、フィルタ回路4及び遅延回路92を用いることで、上記のノイズがセンス電圧に生じた場合でも、過電流保護に係る制御に誤動作が生じないようにしている。   Therefore, in the semiconductor device 1 according to the present embodiment, by using the filter circuit 4 and the delay circuit 92, even when the above-described noise occurs in the sense voltage, no malfunction occurs in the control related to overcurrent protection. .

まず、フィルタ回路4は、特定周波数でのセンス電圧(センス電流)のノイズ成分による影響を回避するためのものである。一般に、このようなノイズによる影響を避けるために、RC回路により構成されるローパスフィルタ(RCフィルタ)を使用することが多い。図4は、このようなRCフィルタの出力特性を模式的に示したものであり、入力される信号の周波数を横軸とし、その入力信号に対する出力信号の割合をゲインとして縦軸に表している。RCフィルタでは、抵抗とコンデンサ容量によって決定されるカットオフ周波数fc以下の周波数成分の信号が入力された場合には、ほぼそのまま通過して出力されるが、カットオフ周波数fc以上の信号は減衰させ、カットオフ周波数fcよりも十分に大きな周波数成分であればほぼ遮断されて出力されない。このようなRCフィルタを使用して上記特定周波数でのノイズを回避しようとした場合、この特定周波数よりも十分に小さい値にカットオフ周波数fcを設定する必要がある。その場合、ノイズとは異なる、本来のスイッチングの動作によるセンス電圧の立ち上がりや立ち下がりによる反応も小さくなってしまい、過電流保護としての性能が低下してしまうことになる。   First, the filter circuit 4 is for avoiding the influence of the noise component of the sense voltage (sense current) at a specific frequency. In general, in order to avoid the influence of such noise, a low-pass filter (RC filter) constituted by an RC circuit is often used. FIG. 4 schematically shows the output characteristics of such an RC filter. The horizontal axis represents the frequency of the input signal, and the vertical axis represents the ratio of the output signal to the input signal as the gain. . In the RC filter, when a signal having a frequency component equal to or lower than the cut-off frequency fc determined by the resistance and the capacitor capacity is input, the signal is passed through as it is, but the signal higher than the cut-off frequency fc is attenuated. If the frequency component is sufficiently larger than the cut-off frequency fc, it is almost cut off and is not output. When such an RC filter is used to avoid noise at the specific frequency, it is necessary to set the cutoff frequency fc to a value sufficiently smaller than the specific frequency. In this case, the response due to the rise or fall of the sense voltage due to the original switching operation, which is different from noise, is reduced, and the performance as overcurrent protection is reduced.

そこで、本実施形態においては、図1に示すように、フィルタ回路4を、上述したように、2つのコイル41,42と、コンデンサ43とをT字形に配置したLCLフィルタ回路として、バンドストップフィルタ(帯域除去フィルタ)として機能するようにしている。図2は、このフィルタ回路4の特性を模式的に示すものであり、図4と同様、入力される信号の周波数を横軸とし、その入力信号に対する出力信号の割合をゲインとして縦軸に表している。フィルタ回路4は、帯域除去周波数fsにおいてもっとも出力ゲインが低くなり、これより小さくなるに従って、あるいは、大きくなるに従って出力ゲインが徐々に大きくなるようにしており、帯域除去周波数fs近傍の周波数成分の信号を小さくすることが可能となっている。本実施形態における半導体装置1では、上述したように回路内の共振周波数が10〜30MHz程度に表れるものとなっていることから、中間値である20MHzが帯域除去周波数fsになるように、図1で示すコイル41,42のインダクタンス値と、コンデンサ43の容量値を設定している。   Therefore, in the present embodiment, as shown in FIG. 1, the filter circuit 4 is a band stop filter as an LCL filter circuit in which the two coils 41 and 42 and the capacitor 43 are arranged in a T shape as described above. It functions as a (band elimination filter). FIG. 2 schematically shows the characteristics of the filter circuit 4. As in FIG. 4, the horizontal axis represents the frequency of the input signal, and the vertical axis represents the ratio of the output signal to the input signal as the gain. ing. The filter circuit 4 has the lowest output gain at the band removal frequency fs, and gradually increases as the output gain becomes smaller or larger. The signal of the frequency component in the vicinity of the band removal frequency fs. Can be reduced. In the semiconductor device 1 according to the present embodiment, since the resonance frequency in the circuit appears at about 10 to 30 MHz as described above, the intermediate value of 20 MHz becomes the band elimination frequency fs. The inductance values of the coils 41 and 42 and the capacitance value of the capacitor 43 are set.

こうすることで、入力されるセンス電圧Vs0より適切に特定周波数におけるノイズを除去し、フィルタ通過センス電圧Vs1として出力することが可能となっている。また、この際、帯域除去周波数fsの近傍の周波数の信号のみを減衰し、これよりも十分に高い周波数の信号は減衰することがないことから、本来のスイッチングの動作によるセンス電圧の立ち上がりや立ち下がりによる反応を小さくすることがなく、過電流保護としての性能を低下させることがない。   By doing so, it is possible to appropriately remove noise at a specific frequency from the input sense voltage Vs0 and output it as the filter-passed sense voltage Vs1. At this time, only a signal having a frequency in the vicinity of the band elimination frequency fs is attenuated, and a signal having a frequency sufficiently higher than this is not attenuated. It does not reduce the response due to the drop and does not deteriorate the performance as overcurrent protection.

また、遅延回路92は、上述したスイッチングに伴ってセンス電圧(センス電流)に生ずる三角波状のノイズ成分による影響を回避するためのものである。遅延回路92は、オフ信号出力回路93より入力されるオフ信号Szが入力されてから、所定のマスク時間Tmの間マスクを行ってオフ信号Szを出力せず、マスク時間Tmの経過後にもオフ信号Szが入力されている場合にオフ信号Szを出力するようにしたものである。マスク時間Tmは、三角波状のノイズ成分が表れるノイズ発生時間t1の3倍程度とすることが好適であり、本実施形態では0.8μsecに設定してある。このように遅延回路92を設けることにより、過電流保護の誤動作を生じさせること無く、安定してオンオフ制御を行わせることが可能となっている。また、遅延回路によるマスク時間Tmも、三角波状のノイズ発生時間に対応するものに過ぎないため、ほとんど高速性能を犠牲にすることもない。   The delay circuit 92 is for avoiding the influence of the triangular wave noise component generated in the sense voltage (sense current) due to the switching described above. The delay circuit 92 performs masking for a predetermined mask time Tm after the OFF signal Sz input from the OFF signal output circuit 93 is input, does not output the OFF signal Sz, and is OFF even after the mask time Tm has elapsed. The off signal Sz is output when the signal Sz is input. The mask time Tm is preferably about three times the noise generation time t1 during which a triangular wave noise component appears, and is set to 0.8 μsec in this embodiment. By providing the delay circuit 92 in this way, it is possible to stably perform on / off control without causing malfunction of overcurrent protection. Further, the mask time Tm by the delay circuit is also only corresponding to the triangular wave noise generation time, so that the high speed performance is hardly sacrificed.

以下、このような半導体装置1を用いた場合の作用について説明を行う。   Hereinafter, an operation when such a semiconductor device 1 is used will be described.

まず、ゲートドライバ回路9からは、半導体素子2を構成する各スイッチング素子21A,22Aをオンオフ制御するためのゲート信号Sgが出力される。各スイッチング素子21A,22Aには、ゲート抵抗7を構成する各抵抗素子71,72を経て共通のゲート信号Sgが入力される。そのため、各スイッチング素子21A,22Aは同一の信号に基づいて、ターンオン動作とターンオフ動作を行い、ほとんど動作にずれが生ずることはない。従って、複数のスイッチング素子21A,22Aが並列接続され、協働して大電流の制御を行うものでありながら、両者はバランスを保ち、何れかのみに過大な負担が掛かることがない。   First, the gate driver circuit 9 outputs a gate signal Sg for on / off control of the switching elements 21A and 22A constituting the semiconductor element 2. A common gate signal Sg is input to the switching elements 21A and 22A via the resistance elements 71 and 72 constituting the gate resistance 7, respectively. Therefore, each of the switching elements 21A and 22A performs a turn-on operation and a turn-off operation based on the same signal, and the operation hardly occurs. Accordingly, while the plurality of switching elements 21A and 22A are connected in parallel and control large currents in cooperation, both maintain a balance and do not overload only one of them.

スイッチング素子21A,22Aはともに、主電流に比例したセンス電流をセンス端子21A1,22A1より出力し、これらのセンス電流は、電流検出回路3によって、センス電圧Vs(Vs0)に変換される。さらに、センス電圧Vs0は、フィルタ回路4を通過することで、共振周波数である特定周波数近傍の成分を減衰されたフィルタ通過センス電圧Vs1として出力される。そのため、このような回路の共振に基づくノイズに起因する誤作動を生じさせることがない。   Both the switching elements 21A and 22A output sense currents proportional to the main current from the sense terminals 21A1 and 22A1, and these sense currents are converted into a sense voltage Vs (Vs0) by the current detection circuit 3. Further, the sense voltage Vs0 passes through the filter circuit 4 and is output as a filter-passed sense voltage Vs1 in which a component in the vicinity of a specific frequency that is a resonance frequency is attenuated. For this reason, malfunction due to noise based on resonance of such a circuit does not occur.

過電流制限回路5は、このフィルタ通過センス電圧Vs1によって、過電流状態にある場合には、ゲート信号Sgとして各スイッチング素子21A,22Aに与えられるゲート電圧低減して、過電流状態を是正することができるようになっている。 The overcurrent limiting circuit 5 corrects the overcurrent state by reducing the gate voltage applied to each of the switching elements 21A and 22A as the gate signal Sg in the overcurrent state by the filter passing sense voltage Vs1. Be able to.

これとともに、過電流検出回路6でも、過電流状態にある場合には過電流検出信号So1を出力する。そして、少なくとも何れかの過電流検出回路6,6から過電流検出信号So1が入力された場合には、異常検出回路8から異常検出信号Sxが出力される。比較回路94は異常検出信号Sxに応じて信号Syを出力し、これに基づいてオフ信号出力回路93よりオフ信号Szが出力される。そして、オフ信号Szは所定のマスク時間Tmの間マスクされて、これが経過した後まで継続してオフ信号Szが出力されている場合にのみ、ゲートドライバ回路9に到達する。そのため、ゲート電圧の立ち上がりや立ち下がりに起因してセンス電流に生ずる三角波状のノイズの影響を回避して、誤動作の発生を抑制することが可能となる。また、複数のスイッチング素子21A,22Aの少なくとも何れかにおいて過電流が発生していることを、1つの異常検出回路によって把握することができるため、回路を複雑化することなく、回路全体の信頼性を向上するとともにコストの低減を図ることが可能となっている。   At the same time, the overcurrent detection circuit 6 also outputs an overcurrent detection signal So1 when it is in an overcurrent state. When the overcurrent detection signal So1 is input from at least one of the overcurrent detection circuits 6 and 6, the abnormality detection signal Sx is output from the abnormality detection circuit 8. The comparison circuit 94 outputs a signal Sy in response to the abnormality detection signal Sx, and the off signal Sz is output from the off signal output circuit 93 based on the signal Sy. The off signal Sz is masked for a predetermined mask time Tm, and reaches the gate driver circuit 9 only when the off signal Sz is continuously output until this time elapses. Therefore, it is possible to avoid the influence of the triangular wave noise generated in the sense current due to the rise and fall of the gate voltage and to suppress the malfunction. Further, since it is possible to grasp that an overcurrent has occurred in at least one of the plurality of switching elements 21A and 22A by one abnormality detection circuit, the reliability of the entire circuit can be achieved without complicating the circuit. It is possible to improve the cost and reduce the cost.

ゲートドライバ回路9は、オフ信号Szの入力により、ゲート信号Sgを通じてスイッチング素子21A,22Aのオンオフ制御を停止させる。すなわち、過電流状態にあると判断され得る場合には、過電流制限回路5による主電流の抑制についで、スイッチング素子21A,22Aのオンオフ制御の停止がなされることによって、主電流の通電が停止されることで、より高い安全性能を備えるものとなっている。スイッチング素子21A,22Aのオンオフ制御に際しては、共通のゲート信号Sgによって、並列接続されたスイッチング素子21A,22Aをほぼ同時に動作させることができるため、より高い安全性でもって回路全体を効果的に制御することが可能となっている。さらに、ゲート電流制限回路91によりゲート電流を徐々に下げるソフトシャットダウンを行うことができるため、サージ電圧の発生も抑制することができる。   The gate driver circuit 9 stops the on / off control of the switching elements 21A and 22A through the gate signal Sg in response to the input of the off signal Sz. That is, when it can be determined that the current is in an overcurrent state, the main current is stopped by the on / off control of the switching elements 21A and 22A following the suppression of the main current by the overcurrent limiting circuit 5. As a result, higher safety performance is provided. In the on / off control of the switching elements 21A and 22A, the switching elements 21A and 22A connected in parallel can be operated almost simultaneously by the common gate signal Sg, so that the entire circuit is effectively controlled with higher safety. It is possible to do. Furthermore, since a soft shutdown can be performed to gradually reduce the gate current by the gate current limiting circuit 91, the occurrence of a surge voltage can also be suppressed.

また、本実施形態における異常検出回路8は、断線検出回路81,81により構成されており、過電流検出回路6,6との間で断線が生じていた場合には、過電流が生じている場合と同様に異常検出信号Sxを発するようにしていることから、こうした回路の接続における不具合が生じている場合にはスイッチング素子21A,22Aのオンオフ制御を停止させることができ、より安全性を高めることが可能となっている。なお、電流検出回路3、フィルタ回路4、過電流制限回路5、過電流検出回路6、及び、ゲート抵抗7は、半導体素子2の直近に実装される別基板に内蔵されるようにすることが好適であり、その場合には、この基板と過電流検出回路6,6との間で電気的接続が行われているかどうかを確認するために、上記の異常検出回路8を効果的に用いることが可能である。   Further, the abnormality detection circuit 8 in the present embodiment is configured by the disconnection detection circuits 81 and 81, and when a disconnection occurs between the overcurrent detection circuits 6 and 6, an overcurrent is generated. Since the abnormality detection signal Sx is generated as in the case, the on / off control of the switching elements 21A and 22A can be stopped when there is a malfunction in the connection of such a circuit, and the safety is further improved. It is possible. Note that the current detection circuit 3, the filter circuit 4, the overcurrent limiting circuit 5, the overcurrent detection circuit 6, and the gate resistor 7 may be incorporated in a separate substrate mounted in the immediate vicinity of the semiconductor element 2. In that case, in order to confirm whether or not electrical connection is made between the substrate and the overcurrent detection circuits 6 and 6, the above-described abnormality detection circuit 8 is effectively used. Is possible.

以上のように、本実施形態における半導体装置1は、並列に複数個が接続されており、主電流に応じたセンス電流を出力可能な電流センス付きのスイッチング素子21A,22Aと、これらのスイッチング素子21A,22Aにオンオフ制御を行うための共通のゲート信号Sgを出力するゲートドライバ回路9と、各スイッチング素子21A,22Aに対応して設けられており、スイッチング素子21A,22Aより得られたセンス電流をセンス電圧Vsにそれぞれ変換して出力する電流検出回路3,3と、各電流検出回路3,3に対応して設けられており、電流検出回路3,3より得られたセンス電圧Vsが予め定められた閾値よりも大きい場合に過電流検出信号So1を出力する過電流検出回路6,6と、これらの過電流検出回路6,6に接続されており、過電流検出回路6,6の少なくとも何れかより過電流検出信号So1が出力される場合にオフ信号Szを出力するオフ信号出力回路93とを備えており、ゲートドライバ回路9が、オフ信号出力回路93より得られるオフ信号Szに基づき、間接的にゲート信号Sgを通じてスイッチング素子21A,22Aのオンオフ制御を停止するように構成したものである。   As described above, a plurality of semiconductor devices 1 according to the present embodiment are connected in parallel, and switching elements 21A and 22A with current sensing that can output a sense current corresponding to the main current, and these switching elements. A gate driver circuit 9 that outputs a common gate signal Sg for performing on / off control to 21A and 22A, and a sense current obtained from the switching elements 21A and 22A are provided corresponding to the switching elements 21A and 22A. Current detection circuits 3 and 3 that respectively convert and output to the sense voltage Vs, and corresponding to each of the current detection circuits 3 and 3, and the sense voltage Vs obtained from the current detection circuits 3 and 3 is preliminarily provided. Overcurrent detection circuits 6 and 6 that output an overcurrent detection signal So1 when larger than a predetermined threshold, and these overcurrent detection circuits 6 and 6 And an off signal output circuit 93 that outputs an off signal Sz when the overcurrent detection signal So1 is output from at least one of the overcurrent detection circuits 6 and 6, and the gate driver circuit 9 includes The on / off control of the switching elements 21A and 22A is indirectly stopped through the gate signal Sg based on the off signal Sz obtained from the off signal output circuit 93.

このように構成しているため、複数のスイッチング素子21A,22Aのオンオフ制御をひとつのゲートドライバ回路9からの共通のゲート信号Sgによって行うとともに、各スイッチング素子21A,22Aから得られるセンス電流を変換したセンス電圧Vsが閾値よりも大きい場合に過電流検出回路6,6によって過電流検出信号So1を出力し、少なくとも何れかの過電流検出回路6より過電流検出信号So1が出力される場合にオフ信号Szが出力され、このオフ信号Szに基づいてスイッチング素子21A,22Aのオンオフ制御を行うことから、簡単な構成でもって各スイッチング素子21A,22Aの過電流からの保護を図ることが可能となる上に、各スイッチング素子21A,22Aをほぼ同時に制御してスイッチング素子21A,22A間のバランスを保ち、安定して動作を行わせることが可能となっている。   With this configuration, on / off control of the plurality of switching elements 21A and 22A is performed by a common gate signal Sg from one gate driver circuit 9, and the sense current obtained from each switching element 21A and 22A is converted. The overcurrent detection circuit So6 outputs an overcurrent detection signal So1 when the sensed voltage Vs is larger than the threshold value, and is turned off when at least one of the overcurrent detection circuits 6 outputs the overcurrent detection signal So1. Since the signal Sz is output and the on / off control of the switching elements 21A and 22A is performed based on the off signal Sz, it is possible to protect the switching elements 21A and 22A from overcurrent with a simple configuration. Further, the switching elements 21A and 22A are controlled almost simultaneously so that the switching elements 1A, maintaining the balance between 22A, it is possible to perform stable operation.

また、過電流検出回路6,6が異常検出回路8に接続されており、この異常検出回路8は何れかの過電流検出回路6より過電流検出信号を得た場合、あるいは、何れかの電流検出回路6との接続がなされていない場合に異常検出信号Sxを出力し、異常検出信号Sxに基づいて間接的にオフ信号出力回路93がオフ信号Szを出力するように構成しているため、過電流と断線とを含む異常状態にある場合にスイッチング素子21A,22Aのオンオフ制御を確実に停止させることが可能となっている。   Further, the overcurrent detection circuits 6 and 6 are connected to the abnormality detection circuit 8, and this abnormality detection circuit 8 obtains an overcurrent detection signal from any of the overcurrent detection circuits 6, or any current. Since the abnormality detection signal Sx is output when the detection circuit 6 is not connected, and the OFF signal output circuit 93 indirectly outputs the OFF signal Sz based on the abnormality detection signal Sx, It is possible to reliably stop the on / off control of the switching elements 21A and 22A in an abnormal state including overcurrent and disconnection.

さらに、異常検出回路8がトランジスタアレイによって構成されており、このトランジスタアレイを構成するトランジスタ85,85の入力側に過電流検出回路6,6がそれぞれ接続されるとともに、各トランジスタ85,85の出力側が共通して接続点P1を介し、比較回路94を経て間接的にオフ信号出力回路93に接続されるように構成されていることから、回路の小型化と動作安定性を図ることが可能となっている。   Further, the abnormality detection circuit 8 is constituted by a transistor array. Overcurrent detection circuits 6 and 6 are connected to the input sides of the transistors 85 and 85 constituting the transistor array, respectively, and the outputs of the transistors 85 and 85 are also connected. Since both sides are connected to the OFF signal output circuit 93 indirectly via the connection point P1 through the comparison circuit 94, it is possible to reduce the size of the circuit and improve the operation stability. It has become.

また、トランジスタ85への入力側電圧が過電流検出回路6に引き込まれるように接続されており、これらトランジスタ85と過電流検出回路6の接続が解除された場合、又は、過電流検出回路6,6より過電流検出信号So1が発せられた場合において、トランジスタ85がターンオンするように構成していることから、簡単な回路構成でありながら、過電流と断線との双方を適切に検出することが可能となっている。   Further, the input voltage to the transistor 85 is connected so as to be drawn into the overcurrent detection circuit 6, and when the connection between the transistor 85 and the overcurrent detection circuit 6 is released, or the overcurrent detection circuit 6, 6, when the overcurrent detection signal So1 is generated, the transistor 85 is configured to be turned on. Therefore, it is possible to appropriately detect both overcurrent and disconnection while having a simple circuit configuration. It is possible.

さらに、電流検出回路3,3と過電流検出回路6との間に、電流検出回路3により得られるセンス電圧Vsに基づいてゲート電圧を低減することで主電流を抑制可能とする電流制限回路5,5をそれぞれ備えるように構成しているため、過電流検出回路6,6による過電流の検出に基づくオンオフ制御に加え、センス電圧Vsを基にした主電流の制限をより素早く実行して、スイッチング素子21A,22Aの保護をより確実に行うことが可能となっている。 Further, a current limiting circuit 5 which can suppress the main current between the current detection circuits 3 and 3 and the overcurrent detection circuit 6 by reducing the gate voltage based on the sense voltage Vs obtained by the current detection circuit 3. , 5 in addition to the on / off control based on the detection of overcurrent by the overcurrent detection circuits 6, 6, the main current limitation based on the sense voltage Vs is executed more quickly, It is possible to more reliably protect the switching elements 21A and 22A.

加えて、スイッチング素子21A,22Aが、SiC半導体素子であるように構成していることから、SiC半導体素子の特徴である高効率、大容量、高速性能を生かして、より上記の効果を高めて利用することが可能となっている。そのため、高い変換効率や、高速性能や、大容量を備えるとともに、小型化を実現することも可能となっている。   In addition, since the switching elements 21A and 22A are configured to be SiC semiconductor elements, the above-described effects can be further enhanced by taking advantage of the high efficiency, large capacity, and high-speed performance that are the characteristics of the SiC semiconductor elements. It can be used. Therefore, it is possible to realize high conversion efficiency, high speed performance, large capacity, and miniaturization.

なお、各部の具体的な構成は、上述した実施形態のみに限定されるものではない。   The specific configuration of each unit is not limited to the above-described embodiment.

例えば、上述の実施形態では、2つのスイッチング素子21A,22Aを並列接続したものとしていたが、同様の構造としながら3つ以上の多数のスイッチング素子を並列に接続した構成として、さらに大容量のものにすることもできる。この場合においても、複数のスイッチング素子の何れかにおいて過電流が発生した場合において、過電流制限回路5による電流制限を行うとともに、共通の異常検出回路81によって異常検出信号Sxを出力させて、同時にゲートドライバ回路9によってゲート信号Sgを通じてオンオフ制御を停止させることができる。このような構成であっても、上記と同様の効果を得ることができる。   For example, in the above-described embodiment, the two switching elements 21A and 22A are connected in parallel. However, a configuration having a larger capacity is possible as a configuration in which three or more switching elements are connected in parallel while having the same structure. It can also be. Also in this case, when an overcurrent occurs in any of the plurality of switching elements, the current limit is performed by the overcurrent limiting circuit 5 and the abnormality detection signal Sx is output by the common abnormality detection circuit 81. The gate driver circuit 9 can stop the on / off control through the gate signal Sg. Even if it is such a structure, the effect similar to the above can be acquired.

また、周知のインバータと同様、上述したような複数のスイッチング素子21A,22Aが並列接続した組をさらに複数備え、適宜スイッチングするタイミングを異ならせることで、多相の交流電源を生成する目的で利用することもできる。例えば、3相の交流電源を生成する場合には、複数のスイッチング素子を並列接続した組を3×2の6組用い、適宜スイッチングの位相を異ならせることになる。こうした場合、従来に比し、スイッチング動作の高速化と容量の増大を実現できるとともに、安全性を向上させることも可能である。   In addition, as with known inverters, a plurality of sets in which a plurality of switching elements 21A and 22A are connected in parallel as described above are further provided, and used for the purpose of generating a multi-phase AC power supply by appropriately switching timing. You can also For example, in the case of generating a three-phase AC power source, six sets of 3 × 2 are used in which a plurality of switching elements are connected in parallel, and the switching phases are appropriately changed. In such a case, the switching operation can be performed at a higher speed and the capacity can be increased and the safety can be improved as compared with the conventional case.

さらには、上述の実施形態では、過電流検出回路6,6を異常検出回路8に接続し、過電流状態又は断線状態の何れかが生じた場合に異常検出回路8より異常検出信号Sxが出力され、これに基づいてオフ信号が出力されるようにしていたが、過電流検出回路6,6の論理を逆転させて、ワイヤードオア接続する構成とすることもできる。このようにした場合でも、過電流検出回路6,6に何れかにおいて過電流を検出すると、いずれかの過電流検出回路により出力される過電流検出信号So1に対応して、接続点より過電流検出信号So1を出力させることが可能となり、これを比較回路94に入力させるようにすれば、断線状態の検出は不能となるものの、より簡単な回路構成で過電流保護を行うことが可能となる。   Further, in the above-described embodiment, the overcurrent detection circuits 6 and 6 are connected to the abnormality detection circuit 8, and the abnormality detection signal Sx is output from the abnormality detection circuit 8 when either an overcurrent state or a disconnection state occurs. In this case, the off signal is output based on this, but the logic of the overcurrent detection circuits 6 and 6 can be reversed to make a wired OR connection. Even in this case, when an overcurrent is detected in any of the overcurrent detection circuits 6 and 6, an overcurrent is detected from the connection point corresponding to the overcurrent detection signal So1 output by any of the overcurrent detection circuits. If the detection signal So1 can be output and input to the comparison circuit 94, the disconnection state cannot be detected, but overcurrent protection can be performed with a simpler circuit configuration. .

また、上述した実施形態では、過電流検出信号So1をハイレベルの電圧信号として、通常状態ではローレベルの電圧So0が得られるようにしていたが、両者の区別を行うことができる限り、ハイとローのレベルを反対にしたり、正負の電圧を反転させたりしても良く、これらの信号の大きさを適宜変更して構成することが可能である。   In the above-described embodiment, the overcurrent detection signal So1 is used as a high-level voltage signal so that the low-level voltage So0 is obtained in the normal state. The low level may be reversed or the positive and negative voltages may be reversed, and the magnitude of these signals can be changed as appropriate.

さらに、上述の実施形態では、スイッチング素子21A,22AとしてSiC半導体素子を用いていたが、電流センス付き半導体素子であれば、SiやGaN等のSiC以外の材料系からなるものであっても、上記に準じた効果を得ることができる。   Furthermore, in the above-described embodiment, the SiC semiconductor elements are used as the switching elements 21A and 22A. However, if the semiconductor element has a current sense, it may be made of a material system other than SiC such as Si or GaN. The effect according to the above can be obtained.

その他の構成も、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々変形が可能である。   Other configurations can be variously modified without departing from the spirit of the present invention.

1…半導体装置
2…半導体素子
3…電流検出回路
5…電流制限回路
6…過電流検出回路
8…異常検出回路(トランジスタアレイ)
9…ゲートドライバ回路
21A,22A…スイッチング素子
85…トランジスタ
93…オフ信号出力回路
Sg…ゲート信号
So1…過電流検出信号
Sz…オフ信号
Vs…センス電圧
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Semiconductor device 2 ... Semiconductor element 3 ... Current detection circuit 5 ... Current limiting circuit 6 ... Overcurrent detection circuit 8 ... Abnormality detection circuit (transistor array)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 9 ... Gate driver circuit 21A, 22A ... Switching element 85 ... Transistor 93 ... Off signal output circuit Sg ... Gate signal So1 ... Overcurrent detection signal Sz ... Off signal Vs ... Sense voltage

Claims (6)

並列に複数個が接続されており、主電流に応じたセンス電流を出力可能な電流センス付きのスイッチング素子と、
これらのスイッチング素子にオンオフ制御を行うための共通のゲート信号を出力するゲートドライバ回路と、
各スイッチング素子に対応して設けられており、スイッチング素子より得られたセンス電流をセンス電圧にそれぞれ変換して出力する電流検出回路と、
各電流検出回路に対応して設けられており、電流検出回路より得られたセンス電圧が予め定められた閾値よりも大きい場合に過電流検出信号を出力する過電流検出回路と、
これらの過電流検出回路に接続されており、過電流検出回路の少なくとも何れかより過電流検出信号が出力される場合にオフ信号を出力するオフ信号出力回路とを備えており、
前記ゲートドライバ回路が、前記オフ信号出力回路より得られるオフ信号に基づき、前記ゲート信号を通じて前記スイッチング素子のオンオフ制御を停止するように構成したものであって、
前記過電流検出回路が異常検出回路に接続されており、当該異常検出回路は何れかの過電流検出回路より過電流検出信号を得た場合、あるいは、何れかの電流検出回路との接続がなされていない場合に異常検出信号を出力し、当該異常検出信号に基づいて前記オフ信号出力回路がオフ信号を出力するように構成されていることを特徴とする半導体装置。
A plurality of switching elements connected in parallel and capable of outputting a sense current corresponding to the main current;
A gate driver circuit that outputs a common gate signal for on / off control to these switching elements;
A current detection circuit that is provided corresponding to each switching element, converts the sense current obtained from the switching element into a sense voltage, and outputs the sense voltage;
An overcurrent detection circuit that is provided corresponding to each current detection circuit, and that outputs an overcurrent detection signal when a sense voltage obtained from the current detection circuit is greater than a predetermined threshold;
An over-signal output circuit that is connected to these over-current detection circuits and outputs an off-signal when an over-current detection signal is output from at least one of the over-current detection circuits;
The gate driver circuit is configured to stop on / off control of the switching element through the gate signal based on an off signal obtained from the off signal output circuit ,
The overcurrent detection circuit is connected to an abnormality detection circuit, and the abnormality detection circuit is connected to any current detection circuit when an overcurrent detection signal is obtained from any overcurrent detection circuit. A semiconductor device configured to output an abnormality detection signal when not present, and the off signal output circuit outputs an off signal based on the abnormality detection signal .
前記異常検出回路がトランジスタアレイによって構成されており、このトランジスタアレイを構成するトランジスタの入力側に過電流検出回路がそれぞれ接続されるとともに、
各トランジスタの出力側が共通して前記オフ信号出力回路に接続されるように構成されていることを特徴とする請求項1記載の半導体装置。
The abnormality detection circuit is constituted by a transistor array, and an overcurrent detection circuit is connected to each input side of the transistors constituting the transistor array, and
2. The semiconductor device according to claim 1, wherein an output side of each transistor is commonly connected to the off signal output circuit .
前記トランジスタへの入力側電圧が前記過電流検出回路に引き込まれるように接続されており、これらトランジスタと過電流検出回路との接続が解除された場合、又は、前記過電流検出回路より過電流検出信号が発せられた場合において、前記トランジスタがターンオンするように構成されていることを特徴とする請求項2記載の半導体装置。 The input side voltage to the transistor is connected to be drawn into the overcurrent detection circuit, and when the connection between the transistor and the overcurrent detection circuit is released, or the overcurrent detection circuit detects overcurrent. 3. The semiconductor device according to claim 2, wherein the transistor is turned on when a signal is generated . 複数の過電流検出回路がワイヤードオア接続されており、何れかの過電流検出回路より過電流検出信号が出力された場合に、前記ワイヤードオア接続の接続点において前記過電流検出信号が表れるように構成されていることを特徴とする請求項1〜3の何れかに記載の半導体装置。 A plurality of overcurrent detection circuits are connected in wired OR, and when an overcurrent detection signal is output from any of the overcurrent detection circuits, the overcurrent detection signal appears at the connection point of the wired OR connection. The semiconductor device according to claim 1, wherein the semiconductor device is configured. 前記電流検出回路と前記過電流検出回路との間に、電流検出回路により得られるセンス電圧に基づいてゲート電圧を低減することで主電流を抑制可能とする電流制限回路をそれぞれ備えていることを特徴とする請求項1〜4の何れかに記載の半導体装置。 Between the current detection circuit and the overcurrent detection circuit, a current limiting circuit that can suppress a main current by reducing a gate voltage based on a sense voltage obtained by the current detection circuit is provided. The semiconductor device according to claim 1, wherein: 前記スイッチング素子が、SiC半導体素子であることを特徴とする請求項1〜5の何れかに記載の半導体装置。 The semiconductor device according to claim 1, wherein the switching element is a SiC semiconductor element .
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