JP6263776B2 - インパクタスプレーイオン化源を介した、キャピラリー電気泳動から質量分析計のへのインターフェース化 - Google Patents
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Description
溶離液を経時的に放出するように配置構成および適合された分離装置であって、分離装置は、(i)aキャピラリー電気泳動(「CE」)分離装置、(ii)aキャピラリー電子クロマトグラフィー(「CEC」)分離装置、(iii)a実質的に剛性のセラミックベースの多層マイクロ流体基板(「セラミックタイル」)分離装置、または(iv)超臨界流体クロマトグラフィー分離装置のいずれかを含む、分離装置と、
噴霧器と、
標的と、
を含む。
(i)X1は、以下からなる群から選択される:(i)0〜1mm;(ii)1〜2mm;(iii)2〜3mm;(iv)3〜4mm;(v)4〜5mm;(vi)5〜6mm;(vii)6〜7mm;(viii)7〜8mm;(ix)8〜9mm;(x)9〜10mm;および(xi)>10mm;および/または
(ii)Z1は、以下からなる群から選択される:(i)0〜1mm;(ii)1〜2mm;(iii)2〜3mm;(iv)3〜4mm;(v)4〜5mm;(vi)5〜6mm;(vii)6〜7mm;(viii)7〜8mm;(ix)8〜9mm;(x)9〜10mm;および(xi)>10mm。
分析物液滴の流れは、ピンのロッドまたは先細コーンを(i)ロッドまたはピンの中心線上に直接衝突させるかまたは(ii)ロッドまたは先細コーンのうち質量分析計のイオン入口オリフィスを向くかまたは離隔方向を向く側部上に衝突させるように、配置構成される。
溶離液を経時的に放出するように配置構成および適合された分離装置を提供することであって、分離装置は、(i)キャピラリー電気泳動(「CE」)分離装置、(ii)キャピラリー電子クロマトグラフィー(“CEC”)分離装置、(iii)実質的に剛性のセラミックベースの多層マイクロ流体基板(「セラミックタイル」)分離装置または(iv)超臨界流体クロマトグラフィー分離装置のうちいずれかを含む、ことと、
標的を提供することと、
分離装置から放出された溶離液を噴霧することであって、分析物液滴の流れを方向付けて標的と衝突させて、分析物をイオン化して複数の分析物イオンを形成する、こと。
(a)以下からなる群から選択されたさらなるイオン源:(i)電子スプレーイオン化(「ESI」)イオン源;(ii)大気圧光イオン化(「APPI」)イオン源;(iii)大気圧化学イオン化(「APCI」)イオン源;(iv)マトリックス支援レーザー脱離イオン化(「MALDI」)イオン源;(v)レーザー脱離イオン化(「LDI」)イオン源;(vi)大気圧イオン化(「API」)イオン源;(vii)シリコン上脱離イオン化(「DIOS」)イオン源;(viii)電子衝突(「EI」)イオン源;(ix)化学イオン化(「CI」)イオン源;(x)フィールドイオン化(「FI」)イオン源;(xi)フィールド脱離(「FD」)イオン源;(xii)誘導結合プラズマ(「ICP」)イオン源;(xiii)高速原子衝撃(「FAB」)イオン源;(xiv)液体二次イオン質量分析(「LSIMS」)イオン源;(xv)脱離電子スプレーイオン化(「DESI」)イオン源;(xvi)ニッケル−63放射性イオン源;(xvii)大気圧マトリックス支援レーザー脱離イオン化源;(xviii)サーモスプレーイオン源;(xix)大気サンプリンググロー放電イオン化(「ASGDI」)イオン源;(xx)グロー放電(「GD」)イオン源;および(xxi)インパクタイオン源;および/または、
(b)1つ以上の連続またはパルスイオン源s;および/または、
(c)1つ以上のイオンガイド、および/または、
(d)1つ以上のイオン移動度分離装置および/または1つ以上の非対称場イオン移動度分光計装置および/または、
(e)1つ以上のイオントラップまたは1つ以上のイオントラッピング領域、および/または、
(f)以下からなる群から選択された1つ以上の衝突、フラグメンテーションまたは反応セル:(i)衝突誘起解離(「CID」)フラグメンテーション装置、(ii)表面誘起解離(「SID」)フラグメンテーション装置、(iii)電子移動乖離(「ETD」)フラグメンテーション装置、(iv)電子捕獲解離(“ECD”)フラグメンテーション装置、(v)電子衝突または衝突解離フラグメンテーション装置、(vi)光誘起解離(「PID」)フラグメンテーション装置、(vii)レーザ誘起解離フラグメンテーション装置、(viii)赤外線放射誘起解離装置、(ix)紫外線放射誘起解離装置、(x)ノズルスキマーインターフェースフラグメンテーション装置、(xi)インソースフラグメンテーション装置、(xii)インソース衝突誘起解離フラグメンテーション装置、(xiii)熱または温度源フラグメンテーション装置、(xiv)電場誘起フラグメンテーション装置、(xv)磁場誘起フラグメンテーション装置、(xvi)酵素消化または酵素分解フラグメンテーション装置、(xvii)イオン・イオン反応フラグメンテーション装置、(xviii)イオン分子反応フラグメンテーション装置、(xix)イオン原子反応フラグメンテーション装置、(xx)イオン準安定イオン反応フラグメンテーション装置、(xxi)イオン準安定分子反応フラグメンテーション装置、(xxii)イオン準安定原子反応フラグメンテーション装置、(xxiii)イオンに到達して付加イオンまたは生成イオンを生成するためのイオン・イオン反応装置、(xxiv)イオンに到達して付加イオンまたは生成イオンを生成するためのイオン分子反応装置、(xxv)イオンに到達して付加イオンまたは生成イオンを生成するためのイオン原子反応装置、(xxvi)イオンに到達して付加イオンまたは生成イオンを生成するためのイオン準安定イオン反応装置、(xxvii)イオンに到達して付加イオンまたは生成イオンを生成するためのイオン準安定分子反応装置、(xxviii)イオンに到達して付加イオンまたは生成イオンを生成するためのイオン準安定原子反応装置、および(xxix)電子イオン化解離(“EID”)フラグメンテーション装置、および/または
(g)以下からなる群から選択された質量分析器:(i)四重極質量分析器、(ii)2Dまたは線形四重極質量分析器、(iii)ポールまたは3D四重極質量分析器、(iv)ペニングトラップ質量分析器、(v)イオントラップ質量分析器、(vi)磁場型質量分析器、(vii)イオンサイクロトロン共鳴(「ICR」)質量分析器、(viii)フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴(「FTICR」)質量分析器、(ix)静電またはオービトラップ質量分析器、(x)フーリエ変換静電またはオービトラップ質量分析器、(xi)フーリエ変換質量分析器、(xii)飛行時間質量分析器、(xiii)直交加速飛行時間質量分析器、および(xiv)線形加速飛行時間質量分析器、および/または
(h)1つ以上の分析器または静電分析器、および/または
(i)1つ以上のイオン検出器および/または
(j)以下からなる群から選択された1つ以上の質量フィルタ:(i)四重極質量フィルタ、(ii)2Dまたは線形四重極イオントラップ、(iii)ポールまたは3D四重極イオントラップ、(iv)ペニングイオントラップ、(v)イオントラップ、(vi)磁場型質量フィルタ、(vii)飛行時間質量フィルタ、および(viii)ウィーンフィルタ、および/または、
(k)イオンをパルスするための装置またはイオンゲート、および/または
(l)実質的に連続するイオンビームをパルスイオンビームへ変換する装置。
(i)外側の樽状電極および同軸の内側スピンドル状電極を含むCトラップおよびオービトラップ(RTM)質量分析器であって、第1の動作モードにおいて、イオンはCトラップへ送られた後にオービトラップ(RTM)質量分析器中へ注入され、第2の動作モードにおいて、イオンはCトラップへ送られた後に衝突セルまたは電子移動乖離装置へ送られ、少なくとも一部のイオンは断片化されて断片イオンとなり、断片イオンはその後Cトラップへ送られてオービトラップ(RTM)質量分析器中へ注入される、Cトラップおよびオービトラップ(RTM)質量分析器、および/または、
(ii)複数の電極を含むスタック型リングイオンガイドであって、複数の電極はそれぞれ、使用時においてイオンを送るための通路となるアパチャを有し、電極のスペーシングは、イオン経路の長さに沿って増加し、イオンガイドの上流部内の電極内のアパチャは第1の直径を有し、イオンガイドの下流部内の電極内のアパチャは、第1の直径よりも小さな第2の直径を有し、ACまたはRF電圧の逆位相が使用時において連続する電極へ付加される、スタック型リングイオンガイド。
[発明の項目]
[項目1]
質量分析計であって、
溶離液を経時的に放出するように配置構成および適合された分離装置であって、前記分離装置は、(i)キャピラリー電気泳動(「CE」)分離装置、(ii)キャピラリー電子クロマトグラフィー(「CEC」)分離装置、(iii)実質的に剛性のセラミックベースの多層マイクロ流体基板(「セラミックタイル」)分離装置、または(iv)超臨界流体クロマトグラフィー分離装置のいずれかを含む、分離装置と、
噴霧器と、
標的と、
を含み、
前記分離装置から放出された前記溶離液を使用時において前記噴霧器によって噴霧し、分析物液滴の流れを方向付けて前記標的と衝突させて、前記分析物をイオン化して複数の分析物イオンを形成する。
質量分析計。
[項目2]
前記分離装置はキャピラリー電気泳動(「CE」)分離装置を含み、前記キャピラリー電気泳動分離装置の入口端部が第1の電位に維持され、前記キャピラリー電気泳動分離装置の出口端部が第2の電位に維持される、項目1に記載の質量分析計。
[項目3]
前記分離装置は、第1の管を含むかまたは接続される、項目1または2に記載の質量分析計。
[項目4]
前記第1の管は、キャピラリー管を含む、項目3に記載の質量分析計。
[項目5]
前記第1の管の出口は、使用時において、以下の範囲内の電位に維持される:(i)−5〜−4kV;(ii)−4〜−3kV;(iii)−3〜−2kV;(iv)−2〜−1kV;(v)−1000〜−900V;(vi)−900〜−800V;(vii)−800〜−700V;(viii)−700〜−600V;(ix)−600〜−500V;(x)−500〜−400V;(xi)−400〜−300V;(xii)−300〜−200V;(xiii)−200〜−100V;(xiv)−100〜−90V;(xv)−90〜−80V;(xvi)−80〜−70V;(xvii)−70〜−60V;(xviii)−60〜−50V;(xix)−50〜−40V;(xx)−40〜−30V;(xxi)−30〜−20V;(xxii)−20〜−10V;(xxiii)−10〜0V;(xxiv)0〜10V;(xxv)10〜20V;(xxvi)20〜30V;(xxvii)30〜40V;(xxviii)40〜50V;(xxix)50〜60V;(xxx)60〜70V;(xxxi)70〜80V;(xxxii)80〜90V;(xxxiii)90〜100V;(xxxiv)100〜200V;(xxxv)200〜300V;(xxxvi)300〜400V;(xxxvii)400〜500V;(xxxviii)500〜600V;(xxxix)600〜700V;(xl)700〜800V;(xli)800〜900V;(xlii)900〜1000V;(xliii)1〜2kV;(xliv)2〜3kV;(xlv)3〜4kV;および(xlvi)4〜5kV、項目3または4に記載の質量分析計。
[項目6]
前記第1の管は第2の管によって包囲され、前記第2の管は、前記第1の管の前記出口から放出された前記溶離液と混合される液体流れを提供するように、配置構成および適合される、項目3、4または5に記載の質量分析計。
[項目7]
前記第2の管はキャピラリー管を含む、項目6に記載の質量分析計。
[項目8]
前記第1の管および第2の管の端部は、(i)相互に同一平面上にあるかまたは平行であるか、あるいは、(ii)相互に突出するか、凹状であるかまたは非平行である、項目7に記載の質量分析計。
[項目9]
第3の管をさらに含み、前記第3の管は、前記第1の管の出口および/または前記第2の管へガス流れを提供するように配置構成および適合される、項目3〜8のいずれか1項に記載の質量分析計。
[項目10]
前記第3の管はキャピラリー管を含む、項目9に記載の質量分析計。
[項目11]
前記第3の管は、前記第2の管を包囲しかつ/または前記第1の管および第2の管と同心である、項目9または10に記載の質量分析計。
[項目12]
前記第1の管、第2の管および第3の管の端部は、(i)相互に同一平面上にあるかまたは平行であるか、あるいは、(ii)相互に突出するか、凹状であるかまたは非平行である、項目11に記載の質量分析計。
[項目13]
前記第3の管は、前記第1の管および前記第2の管は同心ではない、項目9または10に記載の質量分析計。
[項目14]
ヒーターをさらに含み、前記ヒーターは、前記第1の管および/または前記第2の管から放出された液滴を加熱するために、加熱されたガス流れを供給するように配置構成および適合される、項目3〜13のいずれか1項に記載の質量分析計。
[項目15]
前記標的は、前記噴霧器の前記出口から<10mm、<9mm、<8mm、<7mm、<6mm、<5mm、<4mm、<3mmまたは<2mmにおいて配置構成される、項目1〜14のいずれか1項に記載の質量分析計。
[項目16]
前記標的は、使用時において以下の電位に維持される:(i)−5〜−4kV;(ii)−4〜−3kV;(iii)−3〜−2kV;(iv)−2〜−1kV;(v)−1000〜−900V;(vi)−900〜−800V;(vii)−800〜−700V;(viii)−700〜−600V;(ix)−600〜−500V;(x)−500〜−400V;(xi)−400〜−300V;(xii)−300〜−200V;(xiii)−200〜−100V;(xiv)−100〜−90V;(xv)−90〜−80V;(xvi)−80〜−70V;(xvii)−70〜−60V;(xviii)−60〜−50V;(xix)−50〜−40V;(xx)−40〜−30V;(xxi)−30〜−20V;(xxii)−20〜−10V;(xxiii)−10〜0V;(xxiv)0〜10V;(xxv)10〜20V;(xxvi)20〜30V;(xxvii)30〜40V;(xxviii)40〜50V;(xxix)50〜60V;(xxx)60〜70V;(xxxi)70〜80V;(xxxii)80〜90V;(xxxiii)90〜100V;(xxxiv)100〜200V;(xxxv)200〜300V;(xxxvi)300〜400V;(xxxvii)400〜500V;(xxxviii)500〜600V;(xxxix)600〜700V;(xl)700〜800V;(xli)800〜900V;(xlii)900〜1000V;(xliii)1〜2kV;(xliv)2〜3kV;(xlv)3〜4kV;および(xlvi)4〜5kV、項目1〜15のいずれか1項に記載の質量分析計。
[項目17]
前記質量分析計は制御システムをさらに含み、前記制御システムは、(i)単回の実験実行時において前記標的の極性を切り換えることまたは(ii)単回の実験実行時において前記標的の極性を繰り返し切り換えることを行うように配置構成および適合される、項目1〜16のいずれか1項に記載の質量分析計。
[項目18]
前記制御システムは、
(i)前記標的の極性を繰り返し切り換えることを0〜10ms、10〜20ms、20〜30ms、30〜40ms、40〜50ms、50〜60ms、60〜70ms、70〜80ms、80〜90ms、90〜100ms、100〜200ms、200〜300ms、300〜400ms、400〜500ms、500〜600ms、600〜700ms、700〜800ms、800〜900ms、900〜1000ms、1〜2s、2〜3s、3〜4sまたは4〜5sの間隔で行うこと、および/または、
(ii)保持時間切り換えを用いることであって、前記標的の極性は、0〜1分、1〜2分、2〜3分、3〜4分、4〜5分、5〜6分、6〜7分、7〜8分、8〜9分、9〜10分または>10分の間隔で繰り返し切り換えられる、こと、
を行うように、配置構成および適合される、
項目17に記載の質量分析計。
[項目19]
前記噴霧器、前記標的およびイオン入口装置を収容する筐体をさらに含み、前記イオン入口装置は、前記質量分析計の第1の真空段階へ繋がる、項目1〜18のいずれか1項に記載の質量分析計。
[項目20]
前記イオン入口装置は、イオンオリフィス、イオン入口コーン、イオン入口キャピラリー、イオン入口加熱キャピラリー、イオントンネル、イオン移動度分光計または分離器、微分イオン移動度分光計、非対称場イオン移動度分光計(「FAIMS」)装置または他のイオン入口を含む、項目19に記載の質量分析計。
[項目21]
前記第1の管の前記出口は直径Dを有し、前記分析物液滴のスプレーは、前記標的の衝突ゾーンと衝突するように配置構成される、項目3〜20のいずれか1項に記載の質量分析計。
[項目22]
前記衝突ゾーンは最大寸法xを有し、x/Dの比は、<2、2〜5、5〜10、10〜15、15〜20、20〜25、25〜30、30〜35、35〜40または>40の範囲内にある、項目21に記載の質量分析計。
[項目23]
前記衝突ゾーンは、以下からなる群から選択された面積を有する:(i)<0.01mm 2 ;(ii)0.01〜0.10mm 2 ;(iii)0.10〜0.20mm 2 ;(iv)0.20〜0.30mm 2 ;(v)0.30〜0.40mm 2 ;(vi)0.40〜0.50mm 2 ;(vii)0.50〜0.60mm 2 ;(viii)0.60〜0.70mm 2 ;(ix)0.70〜0.80mm 2 ;(x)0.80〜0.90mm 2 ;(xi)0.90〜1.00mm 2 ;(xii)1.00〜1.10mm 2 ;(xiii)1.10〜1.20mm 2 ;(xiv)1.20〜1.30mm 2 ;(xv)1.30〜1.40mm 2 ;(xvi)1.40〜1.50mm 2 ;(xvii)1.50〜1.60mm 2 ;(xviii)1.60〜1.70mm 2 ;(xix)1.70〜1.80mm 2 ;(xx)1.80〜1.90mm 2 ;(xxi)1.90〜2.00mm 2 ;(xxii)2.00〜2.10mm 2 ;(xxiii)2.10〜2.20mm 2 ;(xxiv)2.20〜2.30mm 2 ;(xxv)2.30〜2.40mm 2 ;(xxvi)2.40〜2.50mm 2 ;(xxvii)2.50〜2.60mm 2 ;(xxviii)2.60〜2.70mm 2 ;(xxix)2.70〜2.80mm 2 ;(xxx)2.80〜2.90mm 2 ;(xxxi)2.90〜3.00mm 2 ;(xxxii)3.00〜3.10mm 2 ;(xxxiii)3.10〜3.20mm 2 ;(xxxiv)3.20〜3.30mm 2 ;(xxxv)3.30〜3.40mm 2 ;(xxxvi)3.40〜3.50mm 2 ;(xxxvii)3.50〜3.60mm 2 ;(xxxviii)3.60〜3.70mm 2 ;(xxxix)3.70〜3.80mm 2 ;(xl)3.80〜3.90mm 2 ;および(xli)3.90〜4.00mm 2 、項目21または22に記載の質量分析計。
[項目24]
前記標的は、第1の方向においてイオン入口装置から第1の距離X 1 において配置され、前記イオン入口装置は前記質量分析計の第1の真空段階へと繋がり、前記標的は、第2の方向において前記イオン入口装置から第2の距離Z 1 において配置され、前記第2の方向は前記第1の方向に直交し、
(i)X 1 は、以下からなる群から選択される:(i)0〜1mm;(ii)1〜2mm;(iii)2〜3mm;(iv)3〜4mm;(v)4〜5mm;(vi)5〜6mm;(vii)6〜7mm;(viii)7〜8mm;(ix)8〜9mm;(x)9〜10mm;および(xi)>10mmおよび/または、
(ii)Z 1 は、以下からなる群から選択される:(i)0〜1mm;(ii)1〜2mm;(iii)2〜3mm;(iv)3〜4mm;(v)4〜5mm;(vi)5〜6mm;(vii)6〜7mm;(viii)7〜8mm;(ix)8〜9mm;(x)9〜10mm;および(xi)>10mm、
項目1〜23のいずれか1項に記載の室料分析計。
[項目25]
前記標的は、前記分析物液滴の流れおよび/または前記複数の分析物イオンを前記質量分析計のイオン入口装置に向かって偏向させるように配置される、項目1〜24のいずれか1項に記載の質量分析計。
[項目26]
前記標的を前記質量分析計のイオン入口装置の上流に配置することにより、前記イオン入口装置の方向に向かってイオンを偏向させる、項目1〜25のいずれか1項に記載の質量分析計。
[項目27]
前記標的は、(i)ロッドまたは(ii)先細コーンを有するピンを含み、
前記分析物液滴の流れは、(i)前記ロッドまたはピンの中心線上において直接または(ii)前記質量分析計のイオン入口オリフィスに向かってまたは前記質量分析計のイオン入口オリフィスから離隔方向に設けられた前記ロッドまたは前記先細コーンの側部上において衝突前記ピンのロッドまたは先細コーンと衝突するように配置構成される、
項目1〜26のいずれか1項に記載の質量分析計。
[項目28]
前記イオン源は、大気圧イオン化(「API」)イオン源を含む、項目1〜27のいずれか1項に記載の質量分析計。
[項目29]
前記標的は、ステンレススチール標的、金属、金、非金属物質、半導体、金属または炭化物コーティングを含む他の物質、絶縁体またはセラミックを含む、項目1〜28のいずれか1項に記載の質量分析計。
[項目30]
前記標的は、前記噴霧器からの液滴が複数の標的プレート上においてカスケードするように複数のプレートを含み、かつ/または、前記標的は、液滴が複数の斜め方向の偏向によってイオン化されるように、複数の衝突点を有するように配置構成される、項目1〜29のいずれか1項に記載の質量分析計。
[項目31]
前記標的は、1つ以上のメッシュまたはグリッド標的を含む、項目1〜30のいずれか1項に記載の質量分析計。
[項目32]
前記1つ以上のメッシュまたはグリッド標的は、1つ以上のワイヤメッシュまたはグリッド標的を含む、項目31に記載の質量分析計。
[項目33]
前記ワイヤメッシュまたはグリッド標的は、以下からなる群から選択された直径を有するワイヤを含む:(i)<50μm;(ii)50〜100μm;(iii)100〜150μm;(iv)150〜200μm;(v)200〜250μm;(vi)250〜300μm;(vii)300〜350μm;(viii)350〜400μm;(ix)400〜450μm;(x)450〜500μm;(xi)500〜550μm;(xii)550〜600μm;(xiii)600〜650μm;(xiv)650〜700μm;(xv)700〜750μm;(xvi)750〜800μm;(xvii)800〜850μm;(xviii)850〜900μm;(xix)900〜950μm;(xx)950〜1000μm;および(xxi)>1mm、項目32に記載の質量分析計。
[項目34]
前記メッシュまたはグリッドは、以下からなる群から選択されたスペーシングを有する:(i)<50μm;(ii)50〜100μm;(iii)100〜150μm;(iv)150〜200μm;(v)200〜250μm;(vi)250〜300μm;(vii)300〜350μm;(viii)350〜400μm;(ix)400〜450μm;(x)450〜500μm;(xi)500〜550μm;(xii)550〜600μm;(xiii)600〜650μm;(xiv)650〜700μm;(xv)700〜750μm;(xvi)750〜800μm;(xvii)800〜850μm;(xviii)850〜900μm;(xix)900〜950μm;(xx)950〜1000μm;および(xxi)>1mm。項目31、32または33に記載の質量分析計。
[項目35]
前記1つ以上のメッシュまたはグリッド標的は、(i)前記1つ以上の噴霧器のスプレー軸に対して実質的に垂直であるかまたは(ii)前記1つ以上の噴霧器のスプレー軸に対して90°の角度で傾斜された面内に配置構成される、項目31〜34のいずれか1項に記載の質量分析計。
[項目36]
前記1つ以上のメッシュまたはグリッド標的は、複数の衝突ゾーンを提供する、項目31〜35のいずれか1項に記載の質量分析計。
[項目37]
前記1つ以上のメッシュまたはグリッド標的は、裂け目または開口部の1次元または2次元アレイを含む、項目31〜36のいずれか1項に記載の質量分析計。
[項目38]
前記1つ以上のメッシュまたはグリッド標的は、複数の層を含む、項目31〜37のいずれか1項に記載の質量分析計。
[項目39]
前記層のうち1つ以上は、メッシュまたはグリッドを含む、項目38に記載の質量分析計。
[項目40]
前記複数の層は、実質的に同じであるまたは実質的に異なるメッシュサイズを有する層を含む、項目38または39に記載の質量分析計。
[項目41]
前記標的を振動させるように配置構成および適合された振動装置をさらに含む、項目1〜40のいずれか1項に記載の質量分析計。
[項目42]
得られる第2の液滴のサイズが表面崩壊を通じて低減するように、前記標的を振動させるように配置構成および適合される、項目41に記載の質量分析計。
[項目43]
前記振動源は圧電振動源を含む、項目41または42に記載の質量分析計。
[項目44]
前記振動源は、以下からなる群から選択された周波数において前記標的を振動させるように、配置構成および適合される:(i)<1kHz;(ii)1〜2kHz;(iii)2〜3kHz;(iv)3〜4kHz;(v)4〜5kHz;(vi)5〜6kHz;(vii)6〜7kHz;(viii)7〜8kHz;(ix)8〜9kHz;(x)9〜10kHz;(xi)10〜11kHz;(xii)11〜12kHz;(xiii)12〜13kHz;(xiv)13〜14kHz;(xv)14〜15kHz;(xvi)15〜16kHz;(xvii)16〜17kHz;(xviii)17〜18kHz;(xix)18〜19kHz;(xx)19〜20kHz;および(xxi)>20kHz、項目41、42または43に記載の質量分析計。
[項目45]
前記標的を回転かつ/または平行移動させるように配置構成および適合された第1の装置をさらに含む、項目1〜44のいずれか1項に記載の質量分析計。
[項目46]
前記標的は、ピンまたはロッドを含む、項目45に記載の質量分析計。
[項目47]
前記標的は第1の中央長手方向軸を有し、前記第1の装置は、前記標的を第2の軸の周囲において回転させるように配置構成および適合され、前記第2の軸は、前記第1の軸から変位またはオフセットされる項目45または46に記載の質量分析計。
[項目48]
前記第1の装置は、使用時において前記標的を実質的に偏心または非円形の経路の上またはその周囲において回転させるように、配置構成および適合される、項目45、46または47に記載の質量分析計。
[項目49]
前記第1の装置は、前記標的を以下の速度で回転させるように配置構成および適合される:(i)<1rev/s;(ii)1〜2rev/s;(iii)2〜3rev/s;(iv)3〜4rev/s;(v)4〜5rev/s;(vi)5〜6rev/s;(vii)6〜7rev/s;(viii)7〜8rev/s;(ix)8〜9rev/s;(x)9〜10rev/s;(xi)>10rev/s;(xii)<1rpm;(xiii)1〜5rpm;(xiv)5〜10rpm;(xv)10〜15rpm;(xvi)15〜20rpm;(xvii)20〜25rpm;(xviii)25〜30rpm;(xix)30〜35rpm;(xx)35〜40rpm;(xxi)40〜45rpm;(xxii)45〜50rpm;(xxiii)50〜60rpm;(xxiv)60〜70rpm:(xxv)70〜80rpm;(xxvi)80〜90rpm;(xxvii)90〜100rpm;(xxviii)100〜150rpm;(xxix)150〜200rpm;(xxx)200〜250rpm;および(xxxi)>250rpm、項目45〜48のいずれか1項に記載の質量分析計。
[項目50]
前記第1の装置は、前記標的を実質的に連続的に回転させるように、配置構成および適合される、項目45〜49のいずれか1項に記載の質量分析計。
[項目51]
前記第1の装置は、前記標的を実質的に連続的に少なくとも期間Tにわたって回転させるように配置構成および適合され、Tは、以下からなる群から選択される:(i)<1s;(ii)1〜5s;(iii)5〜10s;(iv)10〜15s;(v)15〜20s;(vi)20〜25s;(vii)25〜30s;(viii)30〜35s;(ix)35〜40s;(x)40〜45s;(xi)45〜50s;(xii)50〜55s;(xiii)55〜60s;および(xiv)>60s、項目45〜50のいずれか1項に記載の質量分析計。
[項目52]
前記質量分析計は制御システムを含み、前記制御システムは、前記標的の位置に関する関数として分析物信号を監視するように配置構成および適合される、項目1〜51のいずれか1項に記載の質量分析計。
[項目53]
前記制御システムは、所望の位置まで装置を回転させかつ/または前記標的を平行移動させるように配置構成および適合され、これにより、分析物イオン信号が最適化されるかまたは分析物イオンの強度が制御される、項目52に記載の質量分析計。
[項目54]
前記制御システムは、前記標的を複数の所望の位置間において回転および/または平行移動させるように配置構成および適合され、これにより、分析物イオンの強度を変化させるかまたは制御する、項目52または53に記載の質量分析計。
[項目55]
質量分析の方法であって、
溶離液を経時的に放出するように配置構成および適合された分離装置を提供することであって、前記分離装置は、(i)aキャピラリー電気泳動(「CE」)分離装置、(ii)キャピラリー電子クロマトグラフィー(「CEC」)分離装置、(iii)実質的に剛性のセラミックベースの多層マイクロ流体基板(「セラミックタイル」)分離装置または(iv)超臨界流体クロマトグラフィー分離装置を含む、ことと、
標的を提供することと、
前記分離装置から放出された前記溶離液を噴霧することであって、分析物液滴の流れを方向付けて前記標的と衝突させて前記分析物をイオン化させて、複数の分析物イオンを形成することと、を含む、方法。
Claims (18)
- 質量分析計であって、
溶離液を経時的に放出するように配置構成および適合された分離装置であって、前記分離装置は、(i)キャピラリー電気泳動(「CE」)分離装置、(ii)キャピラリー電子クロマトグラフィー(「CEC」)分離装置、(iii)実質的に剛性のセラミックベースの多層マイクロ流体基板(「セラミックタイル」)分離装置、または(iv)超臨界流体クロマトグラフィー分離装置のいずれかを含む、分離装置と、
噴霧器と、
標的と、
を含み、
前記分離装置から放出された前記溶離液を使用時において前記噴霧器によって噴霧し、分析物液滴の流れを方向付けて前記標的と衝突させて、前記分析物をイオン化して複数の分析物イオンを形成する、質量分析計。 - 前記分離装置はキャピラリー電気泳動(「CE」)分離装置を含み、前記キャピラリー電気泳動分離装置の入口端部が第1の電位に維持され、前記キャピラリー電気泳動分離装置の出口端部が第2の電位に維持される、請求項1に記載の質量分析計。
- 前記実質的に剛性のセラミックベースの多層マイクロ流体基板分離装置が高温同時焼成セラミック(HTCC)を含む、請求項1に記載の質量分析計。
- 前記噴霧器が3軸プローブ配置で構成されている、請求項1〜3のいずれか1項に記載の質量分析計。
- 前記分離装置は、第1の管を含むかまたは接続される、請求項1〜4のいずれか1項に記載の質量分析計。
- 前記第1の管の出口は、使用時において、以下の範囲内の電位に維持される:
(i)−5〜−4kV;(ii)−4〜−3kV;(iii)−3〜−2kV;(iv)−2〜−1kV;(v)−1000〜−900V;(vi)−900〜−800V;(vii)−800〜−700V;(viii)−700〜−600V;(ix)−600〜−500V;(x)−500〜−400V;(xi)−400〜−300V;(xii)−300〜−200V;(xiii)−200〜−100V;(xiv)−100〜−90V;(xv)−90〜−80V;(xvi)−80〜−70V;(xvii)−70〜−60V;(xviii)−60〜−50V;(xix)−50〜−40V;(xx)−40〜−30V;(xxi)−30〜−20V;(xxii)−20〜−10V;(xxiii)−10〜0V;(xxiv)0〜10V;(xxv)10〜20V;(xxvi)20〜30V;(xxvii)30〜40V;(xxviii)40〜50V;(xxix)50〜60V;(xxx)60〜70V;(xxxi)70〜80V;(xxxii)80〜90V;(xxxiii)90〜100V;(xxxiv)100〜200V;(xxxv)200〜300V;(xxxvi)300〜400V;(xxxvii)400〜500V;(xxxviii)500〜600V;(xxxix)600〜700V;(xl)700〜800V;(xli)800〜900V;(xlii)900〜1000V;(xliii)1〜2kV;(xliv)2〜3kV;(xlv)3〜4kV;および(xlvi)4〜5kV、
請求項5に記載の質量分析計。 - 前記第1の管は第2の管によって包囲され、前記第2の管は、前記第1の管の出口から放出された前記溶離液と混合される液体流れを提供するように、配置構成および適合される、請求項5または6に記載の質量分析計。
- 前記第2の管はキャピラリー管を含む、請求項7に記載の質量分析計。
- 第3の管をさらに含み、前記第3の管は、前記第1の管の出口および/または前記第2の管へガス流れを提供するように配置構成および適合される、請求項7または8に記載の質量分析計。
- 前記標的は、使用時において以下の電位に維持される:
(i)−5〜−4kV;(ii)−4〜−3kV;(iii)−3〜−2kV;(iv)−2〜−1kV;(v)−1000〜−900V;(vi)−900〜−800V;(vii)−800〜−700V;(viii)−700〜−600V;(ix)−600〜−500V;(x)−500〜−400V;(xi)−400〜−300V;(xii)−300〜−200V;(xiii)−200〜−100V;(xiv)−100〜−90V;(xv)−90〜−80V;(xvi)−80〜−70V;(xvii)−70〜−60V;(xviii)−60〜−50V;(xix)−50〜−40V;(xx)−40〜−30V;(xxi)−30〜−20V;(xxii)−20〜−10V;(xxiii)−10〜0V;(xxiv)0〜10V;(xxv)10〜20V;(xxvi)20〜30V;(xxvii)30〜40V;(xxviii)40〜50V;(xxix)50〜60V;(xxx)60〜70V;(xxxi)70〜80V;(xxxii)80〜90V;(xxxiii)90〜100V;(xxxiv)100〜200V;(xxxv)200〜300V;(xxxvi)300〜400V;(xxxvii)400〜500V;(xxxviii)500〜600V;(xxxix)600〜700V;(xl)700〜800V;(xli)800〜900V;(xlii)900〜1000V;(xliii)1〜2kV;(xliv)2〜3kV;(xlv)3〜4kV;および(xlvi)4〜5kV、
請求項1〜9のいずれか1項に記載の質量分析計。 - 前記質量分析計は制御システムをさらに含み、前記制御システムは、(i)単回の実験実行時において前記標的の極性を切り換えることまたは(ii)単回の実験実行時において前記標的の極性を繰り返し切り換えることを行うように配置構成および適合される、請求項1〜10のいずれか1項に記載の質量分析計。
- 前記標的を振動させるように配置構成および適合された振動装置をさらに含み、
任意的なものとして、得られる第2の液滴のサイズが表面崩壊を通じて低減するように、前記標的を振動させるように配置構成および適合される、請求項1〜11のいずれか1項に記載の質量分析計。 - 前記標的を回転かつ/または平行移動させるように配置構成および適合された第1の装置をさらに含む、請求項1〜12のいずれか1項に記載の質量分析計。
- 前記質量分析計は制御システムを含み、前記制御システムは、前記標的の位置に関する関数として分析物信号を監視するように配置構成および適合され、
任意的なものとして、前記制御システムは、所望の位置まで装置を回転させかつ/または前記標的を平行移動させるように配置構成および適合され、これにより、分析物イオン信号が最適化されるかまたは分析物イオンの強度が制御される、請求項1〜13のいずれか1項に記載の質量分析計。 - 前記制御システムは、複数の所望の位置間において装置を回転させかつ/または前記標的を平行移動させるように配置構成および適合され、これにより、分析物イオンの強度を変化させるかまたは制御する、請求項14に記載の質量分析計。
- 前記分離装置はキャピラリー電気泳動(「CE」)分離装置を含み、キャピラリー電気泳動カラムの出口からの液体流れは、接地した好ましくは3軸空気式噴霧器プローブの内側キャピラリーへ接続されている、請求項1〜15のいずれか1項に記載の質量分析計。
- 質量分析の方法であって、
溶離液を経時的に放出するように配置構成および適合された分離装置を提供することであって、前記分離装置は、(i)aキャピラリー電気泳動(「CE」)分離装置、(ii)キャピラリー電子クロマトグラフィー(「CEC」)分離装置、(iii)実質的に剛性のセラミックベースの多層マイクロ流体基板(「セラミックタイル」)分離装置または(iv)超臨界流体クロマトグラフィー分離装置を含む、ことと、
標的を提供することと、
前記分離装置から放出された前記溶離液を噴霧することであって、分析物液滴の流れを方向付けて前記標的と衝突させて前記分析物をイオン化させて、複数の分析物イオンを形成することと、を含む、質量分析の方法。 - 前記分離装置からの液体流れと混合された液体の構成流れを送達することをさらに含む、請求項17に記載の質量分析の方法。
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