JP6257396B2 - 焦点検出装置及びその制御方法、プログラム、記憶媒体 - Google Patents
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Description
図1は、本発明の第1の実施形態に係わる撮像装置としてのデジタルカメラの構成を示すブロック図である。
以下、本発明の第2の実施形態における焦点検出動作を、図11のフローチャートを参照して説明する。なお、カメラ及び焦点検出装置の構成については、図1〜図5を参照して第1の実施形態で説明したものと同様であるため、ここでは説明を省略する。
第3の実施形態では、画素欠陥情報の記憶動作、さらに画素欠陥情報から読み出した画素信号の補正動作について、図12〜図14を用いて説明する。カメラ及び焦点調節装置の構成については、第1の実施形態で説明したものと同様であるため、ここでは説明を省略する。
ステップS1602では、CPU100は、出力回路108を介して、それぞれのラインセンサ対から画素信号を読み出す。ステップS1603では、ステップS1602で読み出した暗電流である画素信号と最大蓄積時間Tmaxから(1)式を用いて画素欠陥情報を算出し、CPU100内の記憶回路209に第1の欠陥情報とし記憶する。
ステップS1804では、第2の蓄積モードに対応した第2欠陥情報から画素補正を行う。補正式はステップS1803と同じであり(2)式を用いる。
第4の実施形態では、「PD部」と「容量CLおよびFD部」(光電変換素子以外の部分)で発生する暗電流を分離して、それぞれ記憶し、画素信号を補正する方法であり、図16を用いて説明する。カメラ及び焦点調節装置の構成については、第1の実施形態で説明したものと同様であるため、ここでは説明を省略する。
一方、第2の蓄積モードにおける画素信号の補正式の一例を次式で表す。
このように、蓄積モードに対応した(3)式、(4)式を用いて画素の補正を行う。
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されず、その要旨の範囲内で種々の変形及び変更が可能である。
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア(プログラム)を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ(またはCPUやMPU等)がプログラムを読み出して実行する処理である。
Claims (11)
- 被写体からの光を受光する光電変換素子と、該光電変換素子で生成された電荷を積分する積分容量とを有するラインセンサと、
前記ラインセンサの欠陥画素の情報を記憶する記憶手段と、
前記欠陥画素の信号を所定のしきい値と比較する第1の比較手段と、
前記光電変換素子の電荷蓄積期間に、前記光電変換素子で生成された電荷を対応する前記積分容量に転送し、該積分容量で積分する第1の蓄積モードと、前記電荷蓄積期間に前記光電変換素子で生成された電荷を、前記電荷蓄積期間の終了まで前記積分容量に転送せずに画素で蓄積し、前記電荷蓄積期間が終わった後に前記積分容量に転送し、前記積分容量で積分する第2の蓄積モードとを切り替える切り替え手段と、
前記第1の比較手段により、前記欠陥画素の信号が前記所定のしきい値以下と判定された場合は、前記ラインセンサを前記第1の蓄積モードに設定し、前記第1の比較手段により、前記欠陥画素の信号が前記所定のしきい値より大きいと判定された場合は、前記ラインセンサを前記第2の蓄積モードに設定するように前記切り替え手段を制御する制御手段と、
を備えることを特徴とする焦点検出装置。 - 複数の前記ラインセンサと、前記複数のラインセンサの欠陥画素の信号を比較する第2の比較手段とをさらに備え、前記制御手段は、前記複数のラインセンサの欠陥画素の信号のうちのいずれかが、前記所定のしきい値より大きい場合は、前記複数のラインセンサの欠陥画素の信号を前記第2の比較手段で比較し、前記複数のラインセンサのうちの欠陥画素の信号が相対的に小さいラインセンサを前記第1の蓄積モードに設定し、欠陥画素の信号が相対的に大きいラインセンサを前記第2の蓄積モードに設定するように前記切り替え手段を制御することを特徴とする請求項1に記載の焦点検出装置。
- 被写体の輝度情報を取得する取得手段と、取得した輝度情報に応じて欠陥画素を判定するしきい値を設定する設定手段とをさらに備え、前記制御手段は、前記設定手段により設定されたしきい値に応じて前記ラインセンサの蓄積モードを切り替えるように前記切り替え手段を制御することを特徴とする請求項1または2に記載の焦点検出装置。
- 前記記憶手段は、前記第1の蓄積モードにおける前記ラインセンサの第1の欠陥画素情報と、前記第2の蓄積モードにおけるラインセンサの第2の欠陥画素情報とを予め記憶することを特徴とする請求項1に記載の焦点検出装置。
- 前記切り替え手段により、前記第1の蓄積モードに設定された場合は、前記第1の欠陥画素情報に基づき、前記ラインセンサで得られた画素信号を補正し、前記第2の蓄積モードに設定された場合は、前記第2の欠陥画素情報に基づき、前記ラインセンサで得られた画素信号を補正することを特徴とする請求項4に記載の焦点検出装置。
- 前記第1の欠陥画素情報は、前記光電変換素子での欠陥に基づく信号と、前記積分容量を含む前記光電変換素子以外の部分での欠陥に基づく信号とに基づいて算出することを特徴とする請求項4または5に記載の焦点検出装置。
- 前記第1の欠陥画素情報に基づき、前記ラインセンサで得られた画素信号を補正する第1の式と、前記第2の欠陥画素情報に基づき、前記ラインセンサで得られた画素信号を補正する第2の式は互いに異なることを特徴とする請求項4乃至6のいずれか1項に記載の焦点検出装置。
- 前記欠陥画素情報とは暗電流成分の情報であることを特徴とする請求項4乃至7のいずれか1項に記載の焦点検出装置。
- 被写体からの光を受光する光電変換素子と、該光電変換素子で生成された電荷を積分する積分容量とを有するラインセンサと、前記ラインセンサの欠陥画素の情報を記憶する記憶手段とを備える焦点検出装置を制御する方法であって、
前記欠陥画素の信号を所定のしきい値と比較する第1の比較工程と、
前記光電変換素子の電荷蓄積期間に、前記光電変換素子で生成された電荷を対応する前記積分容量に転送し、該積分容量で積分する第1の蓄積モードと、前記電荷蓄積期間に前記光電変換素子で生成された電荷を、前記電荷蓄積期間の終了まで前記積分容量に転送せずに画素で蓄積し、前記電荷蓄積期間が終わった後に前記積分容量に転送し、前記積分容量で積分する第2の蓄積モードとを切り替える切り替え工程と、
前記第1の比較工程により、前記欠陥画素の信号が前記所定のしきい値以下と判定された場合は、前記ラインセンサを前記第1の蓄積モードに設定し、前記第1の比較工程により、前記欠陥画素の信号が前記所定のしきい値より大きいと判定された場合は、前記ラインセンサを前記第2の蓄積モードに設定するように前記切り替え工程を制御する制御工程と、
を有することを特徴とする焦点検出装置の制御方法。 - 請求項9に記載の制御方法の各工程をコンピュータに実行させるためのプログラム。
- 請求項9に記載の制御方法の各工程をコンピュータに実行させるためのプログラムを記憶したコンピュータが読み取り可能な記憶媒体。
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