JP6249725B2

JP6249725B2 - Microscope system

Info

Publication number: JP6249725B2
Application number: JP2013232120A
Authority: JP
Inventors: 一大菅
Original assignee: Olympus Corp
Current assignee: Olympus Corp
Priority date: 2013-11-08
Filing date: 2013-11-08
Publication date: 2017-12-20
Anticipated expiration: 2033-11-08
Also published as: JP2015094595A

Description

本発明は、ステージ上に載置された標本を撮像することによって生成された画像データに対応する画像を表示する顕微鏡システムに関する。 The present invention relates to a microscope system that displays an image corresponding to image data generated by imaging a specimen placed on a stage.

従来、標本を測定する顕微鏡において、標本を載置するステージに、ステージの移動量を測定するスケールを設け、対物レンズを介して接眼レンズまたは撮像装置により標本を観察しながらステージを移動させ、その移動量をスケールで測定することによって、標本の任意の２箇所の距離を測定する技術が知られている（特許文献１参照）。この技術では、任意の２箇所の距離の測定を行う場合、標本の測定点を対物レンズの光軸上に配置することにより、標本の測定を行う。 Conventionally, in a microscope for measuring a specimen, a stage for placing the specimen is provided with a scale for measuring the amount of movement of the stage, and the stage is moved while observing the specimen with an eyepiece or an imaging device via the objective lens. A technique for measuring the distance between two arbitrary locations of a specimen by measuring the amount of movement with a scale is known (see Patent Document 1). In this technique, when measuring the distance between two arbitrary positions, the sample is measured by arranging the measurement point of the sample on the optical axis of the objective lens.

特開平０８−１７８６２３号公報JP 08-178623 A

しかしながら、上述した特許文献１では、標本の測定点を対物レンズの光軸上に配置するのには高度な技術が必要であり、技量が低い使用者にとって難しかった。 However, in Patent Document 1 described above, a high level of technology is required to arrange the measurement points of the specimen on the optical axis of the objective lens, which is difficult for a user with low skill.

本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、簡易な操作で精度の高い測定を容易に行うことができる顕微鏡システムを提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above, and an object of the present invention is to provide a microscope system that can easily perform high-precision measurement with a simple operation.

上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明に係る顕微鏡システムは、標本を載置し、水平方向に移動可能なステージと、前記ステージと対向して配置され、前記標本を観察する観察光学系と、前記観察光学系の倍率に関する倍率情報を検出する倍率情報検出部と、複数の画素を有し、前記観察光学系を介して前記標本を撮像し、前記標本の画像データを生成する撮像素子と、前記撮像素子が生成した前記画像データに対応する画像内において前記観察光学系の光軸が通過する位置であって、前記ステージの水平面における位置に関する位置情報を検出する位置情報検出部と、前記倍率情報、前記位置情報および前記撮像素子の１画素の幅に基づいて、前記撮像素子が生成した前記画像データに対応する画像内における任意の２点間の距離を算出する距離算出部と、を備えたことを特徴とする。 In order to solve the above-described problems and achieve the object, a microscope system according to the present invention is a stage on which a specimen is placed and which can be moved in a horizontal direction, and is arranged to face the stage, and observe the specimen. An observation optical system, a magnification information detector for detecting magnification information relating to the magnification of the observation optical system, and a plurality of pixels, imaging the specimen through the observation optical system, and obtaining image data of the specimen Position information that detects the position information related to the position of the stage on the horizontal plane, which is the position through which the optical axis of the observation optical system passes in the image corresponding to the image data generated by the image sensor generated by the image sensor Two arbitrary points in the image corresponding to the image data generated by the image sensor based on the detection unit, the magnification information, the position information, and the width of one pixel of the image sensor Characterized by comprising a distance calculation unit that calculates a distance.

また、本発明に係る顕微鏡システムは、上記発明において、前記撮像素子は、互いに異なる２つの測定視野領域の前記画像データをそれぞれ生成し、前記距離算出部は、前記倍率情報、前記位置情報および前記撮像素子の１画素の幅に基づいて、互いに異なる２つの測定視野領域の各画像データに対応する画像内における任意の２点間の距離を算出することを特徴とする。 In the microscope system according to the present invention, in the above invention, the imaging element generates the image data of two different measurement visual field regions, and the distance calculation unit includes the magnification information, the position information, and the Based on the width of one pixel of the image sensor, a distance between any two points in an image corresponding to each image data of two different measurement visual field regions is calculated.

また、本発明に係る顕微鏡システムは、上記発明において、前記撮像素子が生成した前記画像データに対応する画像を表示可能な表示部と、前記位置情報検出部が検出した前記位置情報に基づいて、前記撮像素子が生成した互いに異なる２つの測定視野領域の各画像データに対応する画像の位置関係を反映させて前記表示部に表示させる表示制御部と、をさらに備えたことを特徴とする。 Further, the microscope system according to the present invention is based on the display unit capable of displaying an image corresponding to the image data generated by the image sensor and the position information detected by the position information detection unit. And a display control unit configured to reflect the positional relationship of images corresponding to the respective image data of two different measurement visual field regions generated by the image sensor and to display on the display unit.

また、本発明に係る顕微鏡システムは、上記発明において、前記表示部が表示する前記画像内において、少なくとも２箇所を指定する指示信号の入力を受け付ける入力部をさらに備えたことを特徴とする。 Moreover, the microscope system according to the present invention is characterized in that in the above invention, the microscope system further includes an input unit that receives an input of an instruction signal designating at least two locations in the image displayed by the display unit.

また、本発明に係る顕微鏡システムは、上記発明において、前記ステージを前記ステージが載置される載置面と直交する上下方向へ移動させる焦準部と、前記撮像素子が前記画像データを生成した際に、前記ステージの上下方向の位置に関する上下位置情報を検出する上下位置情報検出部と、をさらに備え、前記距離算出部は、前記上下位置情報に基づいて、前記撮像素子が生成した前記画像データに対応する画像内における上下方向における任意の２箇所の高さを算出することを特徴とする。 Further, in the microscope system according to the present invention, in the above invention, a focusing unit that moves the stage in a vertical direction orthogonal to a placement surface on which the stage is placed, and the imaging element generates the image data. A vertical position information detector that detects vertical position information related to the vertical position of the stage, wherein the distance calculator generates the image generated by the imaging device based on the vertical position information. It is characterized in that the heights of two arbitrary positions in the vertical direction in the image corresponding to the data are calculated.

本発明に係る顕微鏡システムによれば、距離算出部が倍率情報検出部によって検出された観察光学系の倍率、位置情報検出部によって検出されたステージの位置に関する位置情報および撮像素子の１画素の幅に基づいて、撮像素子が生成した画像データに対応する画像内における任意の２点間の距離を算出するので、簡易な操作で精度の高い測定を容易に行うことができるという効果を奏する。 According to the microscope system of the present invention, the magnification of the observation optical system detected by the magnification information detection unit by the distance calculation unit, the position information regarding the position of the stage detected by the position information detection unit, and the width of one pixel of the image sensor Based on the above, the distance between any two points in the image corresponding to the image data generated by the image sensor is calculated, so that it is possible to easily perform highly accurate measurement with a simple operation.

図１は、本発明の実施の形態１に係る顕微鏡システムの構成を概略的に示す模式図である。FIG. 1 is a schematic diagram schematically showing a configuration of a microscope system according to Embodiment 1 of the present invention. 図２は、本発明の実施の形態１に係る顕微鏡システムが備える表示部が表示する表示画面の一例を示す図である。FIG. 2 is a diagram illustrating an example of a display screen displayed by the display unit included in the microscope system according to Embodiment 1 of the present invention. 図３は、本発明の実施の形態１に係る顕微鏡システムが実行する処理の概要を示すフローチャートである。FIG. 3 is a flowchart showing an outline of processing executed by the microscope system according to Embodiment 1 of the present invention. 図４は、本発明の実施の形態１に係る顕微鏡システムが備える距離算出部が算出する算出方法の概要を示す模式図である。FIG. 4 is a schematic diagram illustrating an outline of a calculation method calculated by a distance calculation unit included in the microscope system according to Embodiment 1 of the present invention. 図５は、本発明の実施の形態１に係る顕微鏡システムが備える表示部が表示する測定視野画像表示領域の画像の一例を示す図である。FIG. 5 is a diagram illustrating an example of an image in the measurement visual field image display region displayed by the display unit included in the microscope system according to Embodiment 1 of the present invention. 図６は、本発明の実施の形態１に係る顕微鏡システムが備える距離算出部が算出する算出方法の概要を示す模式図である。FIG. 6 is a schematic diagram illustrating an outline of a calculation method calculated by the distance calculation unit included in the microscope system according to Embodiment 1 of the present invention. 図７は、本発明の実施の形態１に係る顕微鏡システムが備える表示部が表示する測定視野画像表示領域の画像の別の一例を示す図である。FIG. 7 is a diagram illustrating another example of an image in the measurement visual field image display region displayed by the display unit included in the microscope system according to Embodiment 1 of the present invention. 図８は、本発明の実施の形態２に係る顕微鏡システムの構成を概略的に示す模式図である。FIG. 8 is a schematic diagram schematically showing the configuration of the microscope system according to the second embodiment of the present invention. 図９は、本発明の実施の形態２に係る顕微鏡システムが実行する処理の概要を示すフローチャートである。FIG. 9 is a flowchart showing an outline of processing executed by the microscope system according to Embodiment 2 of the present invention.

以下、図面を参照して、本発明を実施するための形態（以下、「実施の形態」という）について説明する。なお、以下に説明する実施の形態によって、本発明が限定されるものでない。また、以下の説明において参照する各図は、本発明の内容を理解でき得る程度に形状、大きさ、および位置関係を概略的に示してあるに過ぎない。すなわち、本発明は、各図で例示された形状、大きさおよび位置関係のみに限定されるものではない。 DESCRIPTION OF EMBODIMENTS Hereinafter, embodiments for carrying out the present invention (hereinafter referred to as “embodiments”) will be described with reference to the drawings. The present invention is not limited by the embodiments described below. The drawings referred to in the following description only schematically show the shape, size, and positional relationship so that the contents of the present invention can be understood. That is, the present invention is not limited only to the shape, size, and positional relationship illustrated in each drawing.

（実施の形態１）
図１は、本発明の実施の形態１に係る顕微鏡システムの構成を概略的に示す模式図である。図１において、顕微鏡システム１が載置される平面をＸＹ平面とし、ＸＹ平面と垂直な方向をＺ方向として説明する。 (Embodiment 1)
FIG. 1 is a schematic diagram schematically showing a configuration of a microscope system according to Embodiment 1 of the present invention. In FIG. 1, the plane on which the microscope system 1 is placed is described as an XY plane, and a direction perpendicular to the XY plane is described as a Z direction.

図１に示す顕微鏡システム１は、標本ＳＰを観察する顕微鏡装置２と、顕微鏡装置２を介して標本ＳＰを撮像し、標本ＳＰの画像データを生成する撮像装置３と、撮像装置３が生成した画像データに対応する画像を表示するとともに、顕微鏡システム１の各種の操作の入力を受け付ける表示入力部４と、顕微鏡装置２、撮像装置３および表示入力部４の駆動を制御する顕微鏡制御装置５と、を備える。顕微鏡装置２、撮像装置３、表示入力部４および顕微鏡制御装置５は、データが送受信可能に有線または無線で接続される。 A microscope system 1 shown in FIG. 1 is generated by a microscope apparatus 2 for observing a specimen SP, an imaging apparatus 3 for imaging the specimen SP through the microscope apparatus 2, and generating image data of the specimen SP, and the imaging apparatus 3. A display input unit 4 that displays an image corresponding to the image data and receives inputs of various operations of the microscope system 1; a microscope control device 5 that controls driving of the microscope device 2, the imaging device 3, and the display input unit 4; . The microscope device 2, the imaging device 3, the display input unit 4, and the microscope control device 5 are connected by wire or wireless so that data can be transmitted and received.

まず、顕微鏡装置２の構成について説明する。顕微鏡装置２は、略Ｃ字状の本体部１００と、本体部１００に取り付けられたステージ機構１０１と、ステージ機構１０１と対向して配置された対物レンズ１０２と、倍率が異なる複数の対物レンズ１０２を保持するレボルバ１０３と、標本ＳＰを透過させる光を照射する透過照明光学系１０４と、標本ＳＰに光を照射する落射照明光学系１０５と、本体部１００に取り付けられた三眼鏡筒ユニット１０６と、三眼鏡筒ユニット１０６を介して取り付けられた接眼レンズユニット１０７と、三眼鏡筒ユニット１０６に連結された結像レンズユニット１０８と、を備える。また、結像レンズユニット１０８の端部には、撮像装置３が設けられている。なお、本実施の形態１では、対物レンズ１０２と結像レンズユニット１０８が観察光学系として機能する。なお、本体部１００に三眼鏡筒ユニット１０６を設けず、本体部１００に直接、撮像装置３を設けても良い。 First, the configuration of the microscope apparatus 2 will be described. The microscope apparatus 2 includes a substantially C-shaped main body part 100, a stage mechanism 101 attached to the main body part 100, an objective lens 102 arranged to face the stage mechanism 101, and a plurality of objective lenses 102 having different magnifications. , A transmission illumination optical system 104 for irradiating light that passes through the specimen SP, an epi-illumination optical system 105 for irradiating the specimen SP with light, and a trinocular tube unit 106 attached to the main body 100. And an eyepiece unit 107 attached via a trinocular tube unit 106, and an imaging lens unit 108 connected to the trinocular tube unit 106. An imaging device 3 is provided at the end of the imaging lens unit 108. In the first embodiment, the objective lens 102 and the imaging lens unit 108 function as an observation optical system. Note that the imaging device 3 may be provided directly on the main body 100 without providing the trinocular tube unit 106 on the main body 100.

ステージ機構１０１は、ＸＹ平面内で水平方向に移動自在に構成されたステージ１０１ａと、ステージ１０１ａをＸＹ平面内で移動させるＸＹ駆動部１０１ｂと、ステージ１０１ａの位置を検出する位置情報検出部１０１ｃと、を有する。 The stage mechanism 101 includes a stage 101a configured to be movable in the horizontal direction within the XY plane, an XY drive unit 101b that moves the stage 101a within the XY plane, and a position information detection unit 101c that detects the position of the stage 101a. Have.

ＸＹ駆動部１０１ｂは、ステッピングモータや超音波モータ等を用いて構成される。ＸＹ駆動部１０１ｂは、顕微鏡制御装置５の制御のもと、ステージ１０１ａをＸＹ平面内で移動させることによって、標本ＳＰの観察箇所（観察領域）へステージ１０１ａを移動させる。なお、ステージ機構１０１は、ステッピングモータや超音波モータ等を用いて電動でステージ１０１ａを移動させるステージ機構としたが、手動でステージ１０１ａを移動させるステージ機構でもよい。 The XY drive unit 101b is configured using a stepping motor, an ultrasonic motor, or the like. The XY drive unit 101b moves the stage 101a to the observation spot (observation region) of the specimen SP by moving the stage 101a in the XY plane under the control of the microscope control device 5. The stage mechanism 101 is a stage mechanism that electrically moves the stage 101a using a stepping motor, an ultrasonic motor, or the like, but may be a stage mechanism that manually moves the stage 101a.

位置情報検出部１０１ｃは、リニアスケールやガラススケールまたはフォトインタラプタ等を用いて構成される。位置情報検出部１０１ｃは、図示しないＸＹ位置の原点センサによってＸＹ平面における所定の原点位置を検出し、この原点位置を基点としてステージ１０１ａのＸ位置およびＹ位置に関する位置情報（ＸＹ座標）を顕微鏡制御装置５へ出力する。なお、位置情報検出部１０１ｃによる所定の原点位置検出は、行わなくてもよく、任意の位置を原点位置として設定してもよい。 The position information detection unit 101c is configured using a linear scale, a glass scale, a photo interrupter, or the like. The position information detection unit 101c detects a predetermined origin position on the XY plane by an XY position origin sensor (not shown), and controls the position information (XY coordinates) on the X position and the Y position of the stage 101a using the origin position as a base point. Output to device 5. The predetermined origin position detection by the position information detection unit 101c may not be performed, and an arbitrary position may be set as the origin position.

対物レンズ１０２は、倍率が互いに異なる複数の対物レンズ（たとえば、５０倍の対物レンズ１０２ａ、１００倍の対物レンズ１０２ｂ）がレボルバ１０３に取り付けられている。 As the objective lens 102, a plurality of objective lenses having different magnifications (for example, a 50 × objective lens 102 a and a 100 × objective lens 102 b) are attached to the revolver 103.

レボルバ１０３は、本体部１００に対して回転自在に設けられ、対物レンズ１０２を標本ＳＰの上方に配置する。レボルバ１０３は、回転することによって、観察光路Ｌ上に配置された標本ＳＰの観察に用いる対物レンズ１０２を択一的に切り換えることで、視野内の画像の倍率を変化させる。また、レボルバ１０３は、観察光路Ｌ上における対物レンズ１０２の種類や倍率を検出するレボルバ検出部１０３ａを有する。なお、レボルバ検出部１０３ａが無くとも、例えば表示装置入力部４に表示された対物レンズ倍率を指定する手段を用いて測定者がマニュアルで現在の対物レンズ１０２の倍率を指定し、それを顕微鏡制御装置５によって処理し、正しい倍率と指定された倍率でサンプルの測定を行う構成としてもよい。 The revolver 103 is provided so as to be rotatable with respect to the main body 100, and the objective lens 102 is disposed above the specimen SP. The revolver 103 changes the magnification of the image in the field of view by selectively switching the objective lens 102 used for observing the specimen SP disposed on the observation optical path L by rotating. The revolver 103 includes a revolver detection unit 103a that detects the type and magnification of the objective lens 102 on the observation optical path L. Even if the revolver detection unit 103a is not provided, the measurer manually designates the magnification of the current objective lens 102 by means of designating the magnification of the objective lens displayed on the display device input unit 4, for example, and is controlled by a microscope. A configuration may be adopted in which processing is performed by the apparatus 5 and a sample is measured at a correct magnification and a designated magnification.

レボルバ検出部１０３ａは、観察光路Ｌ上に挿入された対物レンズ１０２の種類および倍率を検出し、この検出結果を顕微鏡制御装置５へ出力する。なお、対物レンズ１０２の種類および倍率の検出は、レボルバ検出部１０３ａによる方法以外に、ユーザが使用している対物レンズ１０２の種類および倍率を直接入力するようにしても良い。 The revolver detection unit 103 a detects the type and magnification of the objective lens 102 inserted on the observation optical path L, and outputs the detection result to the microscope control device 5. The type and magnification of the objective lens 102 may be detected by directly inputting the type and magnification of the objective lens 102 used by the user, in addition to the method using the revolver detection unit 103a.

透過照明光学系１０４は、透過照明光を出射する透過照明用光源１０４ａと、透過照明用光源１０４ａが出射した透過照明光を集光して観察光路Ｌの方向へ導く種々の透過光学部材１０４ｂと、有する。 The transmitted illumination optical system 104 includes a transmitted illumination light source 104a that emits transmitted illumination light, and various transmitted optical members 104b that collect and transmit the transmitted illumination light emitted by the transmitted illumination light source 104a in the direction of the observation optical path L. Have.

透過照明用光源１０４ａは、ハロゲンランプ、キセノンランプまたはＬＥＤ（Light Emitting Diode）等によって構成される。透過照明用光源１０４ａは、顕微鏡制御装置５の制御のもと、透過照明光を出射する。 The transmitted illumination light source 104a is configured by a halogen lamp, a xenon lamp, an LED (Light Emitting Diode), or the like. The transmitted illumination light source 104 a emits transmitted illumination light under the control of the microscope control device 5.

透過光学部材１０４ｂは、ミラー、コレクタレンズ、フィルタユニット、視野絞り、シャッタ、開口絞り、コンデンサ光学素子ユニットおよびトップレンズユニット等を用いて構成される。 The transmission optical member 104b includes a mirror, a collector lens, a filter unit, a field stop, a shutter, an aperture stop, a condenser optical element unit, a top lens unit, and the like.

落射照明光学系１０５は、落射照明光を出射する落射照明用光源１０５ａと、落射照明用光源１０５ａが出射した落射照明光を集光して観察光路Ｌの方向へ導く種々の落射光学部材１０５ｂと、を有する。 The epi-illumination optical system 105 includes an epi-illumination light source 105a that emits epi-illumination light, and various epi-illumination optical members 105b that collect the epi-illumination light emitted by the epi-illumination light source 105a and guide it in the direction of the observation optical path L. Have.

落射照明用光源１０５ａは、ハロゲンランプ、キセノンランプまたはＬＥＤ等によって構成される。落射照明用光源１０５ａは、顕微鏡制御装置５の制御のもと、落射照明光を出射する。 The epi-illumination light source 105a includes a halogen lamp, a xenon lamp, an LED, or the like. The epi-illumination light source 105 a emits epi-illumination light under the control of the microscope control device 5.

落射光学部材１０５ｂは、ハーフミラー、フィルタユニット、シャッタ、視野絞りおよび開口絞り等を用いて構成される。 The incident optical member 105b is configured using a half mirror, a filter unit, a shutter, a field stop, an aperture stop, and the like.

三眼鏡筒ユニット１０６は、対物レンズ１０２から入射した標本ＳＰの観察光を、撮像装置３の方向と接眼レンズユニット１０７の方向とに分岐する。接眼レンズユニット１０７は、ユーザが標本ＳＰを直接観察するためのものである。 The trinocular tube unit 106 branches the observation light of the specimen SP incident from the objective lens 102 into the direction of the imaging device 3 and the direction of the eyepiece unit 107. The eyepiece unit 107 is for the user to directly observe the specimen SP.

結像レンズユニット１０８には、複数のズームレンズと、これらのズームレンズの位置を変化させる駆動部（いずれも図示せず）とを含むズーム部が設けられている。ズーム部は、顕微鏡制御装置５の制御のもと、ズームレンズの位置を調整することにより、撮像視野内の撮像対象を拡大又は縮小させる。また、結像レンズユニット１０８は、ズーム倍率（投影倍率）を検出するズーム検出部１０８ａを有する。なお、本実施の形態１では、対物レンズ１０２および結像レンズユニット１０８が観察光学系として機能する。なお、ズーム部は、対物レンズ１０２と三眼鏡筒ユニット１０６の間に設けてもよい。 The imaging lens unit 108 is provided with a zoom unit including a plurality of zoom lenses and a drive unit (none of which is shown) that changes the position of these zoom lenses. The zoom unit adjusts the position of the zoom lens under the control of the microscope control device 5 to enlarge or reduce the imaging target in the imaging field. Further, the imaging lens unit 108 includes a zoom detection unit 108a that detects a zoom magnification (projection magnification). In the first embodiment, the objective lens 102 and the imaging lens unit 108 function as an observation optical system. Note that the zoom unit may be provided between the objective lens 102 and the trinocular tube unit 106.

ズーム検出部１０８ａは、観察光路Ｌ上における複数のズームレンズの位置に基づいて、結像レンズユニット１０８のズーム倍率を検出し、この検出結果を顕微鏡制御装置５へ出力する。なお、本実施の形態１では、ズーム検出部１０８ａおよびレボルバ検出部１０３ａが倍率情報検出部として機能する。 The zoom detection unit 108 a detects the zoom magnification of the imaging lens unit 108 based on the positions of the plurality of zoom lenses on the observation optical path L, and outputs the detection result to the microscope control device 5. In the first embodiment, the zoom detection unit 108a and the revolver detection unit 103a function as a magnification information detection unit.

次に、撮像装置３について説明する。撮像装置３は、結像レンズユニット１０８を介して入射された観察光を受光して光電変換を行うことによって、光を電気信号（アナログ信号）に変換する複数の画素を有するＣＣＤ（Charge Coupled Device）またはＣＭＯＳ（Complementary Metal Oxide Semiconductor）等の撮像素子３１と、撮像素子３１から出力される電気信号に増幅（ゲイン調整）等の信号処理を施した後、Ａ／Ｄ変換を行うことによってデジタルの標本ＳＰの画像データに変換して顕微鏡制御装置５へ出力する信号処理部と、を用いて構成される。撮像装置３は、顕微鏡制御装置５の制御のもと、結像レンズユニット１０８を介して入射された被写体である標本ＳＰの観察像を撮像して標本ＳＰの画像データを微小な時間間隔で連続的に生成する。 Next, the imaging device 3 will be described. The imaging device 3 receives a viewing light incident through the imaging lens unit 108 and performs photoelectric conversion to perform CCD (Charge Coupled Device) having a plurality of pixels that convert light into an electrical signal (analog signal). ) Or CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor) or the like, and an electric signal output from the image sensor 31 is subjected to signal processing such as amplification (gain adjustment), and then A / D conversion is performed to perform digital processing. A signal processing unit that converts the sample SP into image data and outputs the image data to the microscope control device 5. Under the control of the microscope control device 5, the imaging device 3 captures an observation image of the sample SP that is a subject incident through the imaging lens unit 108 and continuously acquires the image data of the sample SP at a minute time interval. Generate automatically.

次に、表示入力部４について説明する。表示入力部４は、顕微鏡制御装置５を介して撮像装置３が生成した画像データに対応する画像を表示する表示部４１と、外部からの物体の接触に応じた位置信号を出力する入力部として機能するタッチパネル４２と、顕微鏡システム１に関する各種の操作を指示する指示信号の入力を受け付ける入力部４３と、を備える。 Next, the display input unit 4 will be described. The display input unit 4 is a display unit 41 that displays an image corresponding to the image data generated by the imaging device 3 via the microscope control device 5, and an input unit that outputs a position signal corresponding to the contact of an object from the outside. A functioning touch panel 42 and an input unit 43 that receives input of instruction signals for instructing various operations related to the microscope system 1 are provided.

表示部４１は、液晶または有機ＥＬ（Electro Luminescence）等からなる表示パネルを用いて構成される。表示部４１は、顕微鏡制御装置５を介して入力される画像データに対応する画像および顕微鏡システム１の各種操作情報を表示する。具体的には、図２に示すように、表示部４１は、撮像装置３によって連続的に生成された画像データに対応するライブ画像を表示するライブ画像表示領域ＬＶ₁、顕微鏡装置２の測定視野画像を表示する測定視野画像表示領域ＰＶ₁、ステージ１０１ａの位置に関する情報を表示する位置情報表示領域ｍ₁および後述する標本ＳＰを計測した際の測定結果を表示する測定結果表示領域ｍ₂を有する。 The display unit 41 is configured using a display panel made of liquid crystal, organic EL (Electro Luminescence), or the like. The display unit 41 displays an image corresponding to image data input via the microscope control device 5 and various operation information of the microscope system 1. Specifically, as illustrated in FIG. 2, the display unit 41 includes a live image display area LV ₁ that displays a live image corresponding to image data continuously generated by the imaging device 3, and a measurement field of view of the microscope device 2. A measurement visual field image display area PV ₁ for displaying an image, a position information display area m ₁ for displaying information relating to the position of the stage 101a, and a measurement result display area m ₂ for displaying a measurement result when a specimen SP described later is measured. .

タッチパネル４２は、表示部４１の表示画面上に設けられ、外部からの物体の接触位置に応じた入力を受け付ける。具体的には、タッチパネル４２は、ユーザが表示部４１に表示される操作アイコンに従ってタッチ（接触）した位置を検出し、この検出したタッチ位置に応じた位置信号を顕微鏡制御装置５へ出力する。タッチパネル４２は、表示部４１が顕微鏡システム１の各種操作情報を表示領域内で表示することで、グラフィックユーザインターフェース（ＧＵＩ）として機能する。一般に、タッチパネルとしては、抵抗膜方式、静電容量方式および光学方式等がある。本実施の形態１では、いずれの方式のタッチパネルであっても適用可能である。 The touch panel 42 is provided on the display screen of the display unit 41 and receives an input corresponding to the contact position of an object from the outside. Specifically, the touch panel 42 detects a position where the user touches (contacts) according to an operation icon displayed on the display unit 41, and outputs a position signal corresponding to the detected touch position to the microscope control device 5. The touch panel 42 functions as a graphic user interface (GUI) when the display unit 41 displays various operation information of the microscope system 1 within the display area. In general, the touch panel includes a resistance film method, a capacitance method, an optical method, and the like. In the first embodiment, any type of touch panel is applicable.

入力部４３は、キーボード、マウス、ジョイスティックおよび各種スイッチ等を用いて構成され、各種スイッチの操作入力に応じた操作信号を顕微鏡制御装置５へ出力する。 The input unit 43 is configured using a keyboard, a mouse, a joystick, various switches, and the like, and outputs operation signals corresponding to operation inputs of the various switches to the microscope control device 5.

次に、顕微鏡制御装置５について説明する。顕微鏡制御装置５は、顕微鏡システム１に関する各種情報を記録する記録部５１と、顕微鏡システム１を構成する各部の動作を統括的に制御する制御部５２と、を備える。 Next, the microscope control device 5 will be described. The microscope control device 5 includes a recording unit 51 that records various information related to the microscope system 1 and a control unit 52 that comprehensively controls the operation of each unit constituting the microscope system 1.

記録部５１は、フラッシュメモリおよびＲＡＭ（Random Access Memory）等の半導体メモリを用いて構成される。記録部５１は、顕微鏡システム１に実行させる各種プログラム、プログラムの実行中に使用される各種データを記憶する。記録部５１は、制御部５２の処理中の情報を一時的に記憶する。また、記録部５１は、撮像装置３が生成した画像データに対応する画像内において、対物レンズ１０２の光軸が通過する位置（画像の中心）に位置情報検出部１０１ｃが検出した位置情報を対応付けて記録する位置情報記録部５１１を有する。 The recording unit 51 is configured using a semiconductor memory such as a flash memory and a RAM (Random Access Memory). The recording unit 51 stores various programs executed by the microscope system 1 and various data used during execution of the programs. The recording unit 51 temporarily stores information being processed by the control unit 52. In addition, the recording unit 51 corresponds to the position information detected by the position information detection unit 101c at the position (the center of the image) where the optical axis of the objective lens 102 passes in the image corresponding to the image data generated by the imaging device 3. A position information recording unit 511 is also provided for recording.

制御部５２は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）等を用いて構成され、入力部４３からの操作信号およびタッチパネル４２からの位置信号に応じて顕微鏡システム１を構成する各部に対応する指示やデータの転送等を行って顕微鏡システム１の動作を統括的に制御する。 The control unit 52 is configured using a CPU (Central Processing Unit) or the like, and transfers instructions and data corresponding to each unit constituting the microscope system 1 according to an operation signal from the input unit 43 and a position signal from the touch panel 42. Etc. to perform overall control of the operation of the microscope system 1.

ここで、制御部５２の詳細な構成について説明する。制御部５２は、距離算出部５２１と、撮像制御部５２２と、表示制御部５２３と、を有する。 Here, a detailed configuration of the control unit 52 will be described. The control unit 52 includes a distance calculation unit 521, an imaging control unit 522, and a display control unit 523.

距離算出部５２１は、レボルバ検出部１０３ａが検出した対物レンズ１０２の倍率とズーム検出部１０８ａが検出したズーム倍率とによって定まる顕微鏡装置２の倍率に関する倍率情報、位置情報検出部１０１ｃが検出した位置情報および撮像素子３１の１画素の幅に基づいて、撮像素子３１が生成した画像データに対応する画像内における任意の２点間の距離を算出する。また、距離算出部５２１は、レボルバ検出部１０３ａが検出した対物レンズ１０２の倍率とズーム検出部１０８ａが検出したズーム倍率とによって定まる顕微鏡装置２の倍率、位置情報検出部１０１ｃが検出した位置情報および撮像素子３１の１画素の幅に基づいて、互いに異なる測定視野領域の２つの画像データに対応する２つの画像内における任意の２点間の距離を算出する。さらに、距離算出部５２１は、タッチパネル４２または入力部４３から入力された操作信号に基づいて、対物レンズ１０２の光軸が通過する位置であって、画像内の中心を基準とした際の後述する表示部４１が表示する画像内で指定された測定位置の座標を算出する。なお、対物レンズ１０２の倍率と撮像素子３１の画素との関係については、予め校正をとられた校正部材や治具等によって対物レンズ１０２の倍率誤差および撮像素子３１の投影倍率誤差が補正されているものとする。 The distance calculation unit 521 includes magnification information regarding the magnification of the microscope apparatus 2 determined by the magnification of the objective lens 102 detected by the revolver detection unit 103a and the zoom magnification detected by the zoom detection unit 108a, and position information detected by the position information detection unit 101c. Based on the width of one pixel of the image sensor 31, the distance between any two points in the image corresponding to the image data generated by the image sensor 31 is calculated. The distance calculation unit 521 also includes the magnification of the microscope apparatus 2 determined by the magnification of the objective lens 102 detected by the revolver detection unit 103a and the zoom magnification detected by the zoom detection unit 108a, the position information detected by the position information detection unit 101c, and Based on the width of one pixel of the image sensor 31, a distance between any two points in two images corresponding to two image data in different measurement visual field regions is calculated. Furthermore, the distance calculation unit 521 is a position through which the optical axis of the objective lens 102 passes based on an operation signal input from the touch panel 42 or the input unit 43, and will be described later when the center in the image is used as a reference. The coordinates of the measurement position designated in the image displayed on the display unit 41 are calculated. As for the relationship between the magnification of the objective lens 102 and the pixels of the image sensor 31, the magnification error of the objective lens 102 and the projection magnification error of the image sensor 31 are corrected by a calibration member or jig that has been calibrated in advance. It shall be.

撮像制御部５２２は、撮像装置３の撮影動作を制御する。具体的には、撮像制御部５２２は、入力部４３から撮影を指示する指示信号が入力された場合、撮像装置３に撮影を実行させる。 The imaging control unit 522 controls the shooting operation of the imaging device 3. Specifically, the imaging control unit 522 causes the imaging device 3 to perform imaging when an instruction signal instructing imaging is input from the input unit 43.

表示制御部５２３は、撮像素子３１が生成した互いに異なる測定視野領域の２つの画像データに対応する２つの画像を並べて表示部４１に表示させる。また、表示制御部５２３は、顕微鏡システム１に関する各種情報を表示部４１に表示させる。 The display control unit 523 displays two images side by side on the display unit 41 corresponding to the two image data of the different measurement visual field regions generated by the image sensor 31. In addition, the display control unit 523 displays various information related to the microscope system 1 on the display unit 41.

以上の構成を有する顕微鏡システム１が実行する処理について説明する。図３は、顕微鏡システム１が実行する処理の概要を示すフローチャートである。 Processing executed by the microscope system 1 having the above configuration will be described. FIG. 3 is a flowchart showing an outline of processing executed by the microscope system 1.

図３に示すように、撮像装置３は、顕微鏡装置２のステージ１０１ａに載置された標本ＳＰを撮像する（ステップＳ１０１）。 As shown in FIG. 3, the imaging device 3 images the specimen SP placed on the stage 101a of the microscope device 2 (step S101).

続いて、表示制御部５２３は、撮像装置３から入力された画像データに対応するライブ画像を表示部４１のライブ画像表示領域ＬＶ₁に表示させる（ステップＳ１０２）。 Subsequently, the display control unit 523 displays a live image corresponding to the image data input from the imaging device 3 in the live image display area LV ₁ of the display unit 41 (step S102).

その後、タッチパネル４２または入力部４３から撮影指示があった場合（ステップＳ１０３：Ｙｅｓ）、撮像制御部５２２は、撮像装置３に撮影を実行させる（ステップＳ１０４）。 Thereafter, when there is a shooting instruction from the touch panel 42 or the input unit 43 (step S103: Yes), the imaging control unit 522 causes the imaging device 3 to perform shooting (step S104).

続いて、位置情報検出部１０１ｃは、ステージ１０１ａの位置情報を検出する（ステップＳ１０５）。 Subsequently, the position information detection unit 101c detects the position information of the stage 101a (step S105).

その後、表示制御部５２３は、撮像装置３が生成した画像データに対応する測定視野画像を表示部４１の測定視野画像表示領域ＰＶ₁に表示させる（ステップＳ１０６）。 Thereafter, the display control unit 523 displays the measurement visual field image corresponding to the image data generated by the imaging device 3 in the measurement visual field image display region PV ₁ of the display unit 41 (step S106).

続いて、表示部４１の測定視野画像表示領域ＰＶ₁で表示される測定視野画像に対して、タッチパネル４２または入力部４３を介して所定の位置が指定された場合（ステップＳ１０７：Ｙｅｓ）、距離算出部５２１は、撮像素子３１の１画素の幅、撮像装置３によって測定視野画像が生成された際の顕微鏡装置２の総合倍率、位置情報検出部１０１ｃが検出した位置情報に基づいて、測定視野画像Ｃ₁の中心から指定された位置までの距離を算出する（ステップＳ１０８）。 Subsequently, when a predetermined position is designated via the touch panel 42 or the input unit 43 for the measurement visual field image displayed in the measurement visual field image display region PV ₁ of the display unit 41 (step S107: Yes), the distance The calculation unit 521 is based on the width of one pixel of the image sensor 31, the total magnification of the microscope apparatus 2 when the measurement field image is generated by the imaging device 3, and the position information detected by the position information detection unit 101 c. The distance from the center of the image C ₁ to the designated position is calculated (step S108).

図４は、距離算出部５２１が算出する算出方法の概要を示す模式図である。図４において、図面の左右方向をＸ軸とし、図面の上下方向をＹ軸とする座標系として考える。さらに、図４において、対物レンズ１０２の光軸を通過する測定視野画像Ｃ₁の中心をＰ₁（Ｘ₀₁，Ｙ₀₁）とし、ユーザによって指定された指定位置をＰ₁₁（Ｘ₁₁，Ｙ₁₂）とする。 FIG. 4 is a schematic diagram illustrating an outline of a calculation method calculated by the distance calculation unit 521. In FIG. 4, a coordinate system is considered in which the horizontal direction of the drawing is the X axis and the vertical direction of the drawing is the Y axis. Further, in FIG. 4, the center of the measurement visual field image C ₁ passing through the optical axis of the objective lens 102 is P ₁ (X ₀₁ , Y ₀₁ ), and the designated position designated by the user is P ₁₁ (X ₁₁ , Y _12). ).

図４に示す場合、距離算出部５２１は、以下の式（１）によって、中心Ｐ_１から指定位置Ｐ₁₁までの距離ｄ₁を算出する。
ｄ₁＝（（Ｘ₁₁−Ｘ₀₁）²＋（Ｙ₁₁−Ｙ₀₁）²）^1/2 ・・・（１） In the case shown in FIG. 4, the distance calculation unit 521 calculates the distance d ₁ from the center P ₁ to the designated position P ₁₁ by the following equation (1).
d ₁ = ((X ₁₁ −X ₀₁ ) ² + (Y ₁₁ −Y ₀₁ ) ² ) ^1/2 (1)

図４において、単位をｍｍ、撮像素子３１の１画素の幅を２μｍ、中心Ｐ₁（Ｘ₀₁，Ｙ₀₁）を（０，０）、中心Ｐ₁からＸ軸方向に−４００画素、Ｙ軸方向に＋３００画素離れた点Ｐ₁₁（−０．８，０．６）とした場合、距離算出部５２１は、上述した式（１）を用いて距離ｄ₁を算出する。なお、撮像素子３１の１画素の幅は、縦横比が１：１とする。
ｄ₁＝（（−０.８−０）²＋（０.６−０）²）^1/2
＝１.０
その後、距離算出部５２１は、距離ｄ₁に、測定視野画像Ｃ₁を撮像した際の顕微鏡装置２の総合倍率を乗じることによって、中心Ｐ₁から指定位置Ｐ₁₁までの実際の距離ｄ₁を算出する。これにより、ユーザは、表示部４１が表示する画像を見ながら、タッチパネル４２または入力部４３を介して、所望の指定位置を指示するだけ、任意の２点間の距離を容易に把握することができる。 In FIG. 4, the unit is mm, the width of one pixel of the image sensor 31 is 2 μm, the center P ₁ (X ₀₁ , Y ₀₁ ) is (0, 0), −400 pixels from the center P _{1 in the} X-axis direction, and the Y axis When the point P ₁₁ (−0.8, 0.6) is +300 pixels away in the direction, the distance calculation unit 521 calculates the distance d ₁ using the above-described equation (1). Note that the width of one pixel of the image sensor 31 is 1: 1 in aspect ratio.
d ₁ = ((− 0.8-0) ² + (0.6-0) ² ) ^1/2
= 1.0
Then, the distance calculation unit 521, a distance d _1, by multiplying the total magnification of the microscope apparatus 2 at the time of imaging the measurement field of view image C _1, the actual distance d ₁ from the center P ₁ to a specified position P ₁₁ calculate. As a result, the user can easily grasp the distance between any two points only by instructing the desired designated position via the touch panel 42 or the input unit 43 while viewing the image displayed on the display unit 41. it can.

ステップＳ１０８の後、制御部５２は、位置情報検出部１０１ｃが検出した位置情報と測定視野画像Ｃ₁とを対応付けて記録部５１に記録する（ステップＳ１０９）。 After step S108, the control unit 52 associates the position information of the position information detecting unit 101c detects the measurement field of view image C ₁ is recorded in the recording unit 51 (step S109).

続いて、タッチパネル４２または入力部４３から標本ＳＰの測定を終了する指示信号が入力された場合（ステップＳ１１０：Ｙｅｓ）、顕微鏡システム１は、後述するステップＳ１１１へ移行する。これに対して、タッチパネル４２または入力部４３から標本ＳＰの測定を終了する指示信号が入力されていない場合（ステップＳ１１０：Ｎｏ）、顕微鏡システム１は、ステップＳ１０１へ戻る。 Subsequently, when an instruction signal for ending the measurement of the specimen SP is input from the touch panel 42 or the input unit 43 (step S110: Yes), the microscope system 1 proceeds to step S111 described later. On the other hand, when the instruction signal for ending the measurement of the specimen SP is not input from the touch panel 42 or the input unit 43 (step S110: No), the microscope system 1 returns to step S101.

ステップＳ１１１において、記録部５１に測定視野が異なる２つの測定視野画像データが記録されている場合（ステップＳ１１１：Ｙｅｓ）、表示制御部５２３は、測定視野が異なる２つの測定視野画像データに対応する２つの測定視野画像を表示部４１に表示させる（ステップＳ１１２）。具体的には、図５に示すように、表示制御部５２３は、測定視野が異なる２つの測定視野画像データに対応する２つの測定視野画像Ｃ₁，Ｃ₂を表示部４１の測定視野画像表示領域ＰＶ₁に表示させる。 In step S111, when two measurement visual field image data having different measurement visual fields are recorded in the recording unit 51 (step S111: Yes), the display control unit 523 corresponds to two measurement visual field image data having different measurement visual fields. Two measurement visual field images are displayed on the display unit 41 (step S112). Specifically, as shown in FIG. 5, the display control unit 523 displays two measurement field images C ₁ and C ₂ corresponding to two measurement field images having different measurement fields, on the display unit 41. to be displayed in the area PV _1.

続いて、表示部４１の測定視野画像表示領域ＰＶ₁で表示される測定視野が異なる２つの測定視野画像の各々に対して、タッチパネル４２または入力部４３を介して所定の位置が指定された場合（ステップＳ１１３：Ｙｅｓ）、距離算出部５２１は、２つの測定視野画像の各々に対して指定された２点間の距離を算出する（ステップＳ１１４）。 Subsequently, when a predetermined position is designated via the touch panel 42 or the input unit 43 for each of two measurement field images displayed in the measurement field image display region PV ₁ of the display unit 41 having different measurement fields. (Step S113: Yes), the distance calculation unit 521 calculates the distance between two points designated for each of the two measurement visual field images (Step S114).

図６は、距離算出部５２１が算出する算出方法の概要を示す模式図である。図６において、図面の左右方向をＸ軸とし、図面の上下方向をＹ軸とする座標系として考える。さらに、図６において、対物レンズ１０２の光軸を通過する測定視野画像Ｃ₁の中心をＰ₁（Ｘ₀₁，Ｙ₀₁）、ユーザによって指定された指定位置をＰ₁₁（Ｘ₁₁，Ｙ₁₂）、測定視野画像Ｃ₂の中心をＰ₂（Ｘ₀₂，Ｙ₀₂）、ユーザによって指定された指定位置をＰ₂₂（Ｘ₂₂，Ｙ₂₂）とする。 FIG. 6 is a schematic diagram illustrating an outline of a calculation method calculated by the distance calculation unit 521. In FIG. 6, a coordinate system is considered in which the horizontal direction of the drawing is the X axis and the vertical direction of the drawing is the Y axis. Further, in FIG. 6, the center of the measurement visual field image C ₁ passing through the optical axis of the objective lens 102 is P ₁ (X ₀₁ , Y ₀₁ ), and the designated position designated by the user is P ₁₁ (X ₁₁ , Y ₁₂ ). The center of the measurement visual field image C ₂ is P ₂ (X ₀₂ , Y ₀₂ ), and the designated position designated by the user is P ₂₂ (X ₂₂ , Y ₂₂ ).

図６に示す場合、距離算出部５２１は、以下の式（１）によって、指定位置Ｐ₁₁から指定位置Ｐ₂₂までの距離ｄ₂を算出する。
ｄ₂＝（（Ｘ₁₁−Ｘ₂₂）²＋（Ｙ₁₁−Ｙ₂₂）²）^1/2 ・・・（２） In the case illustrated in FIG. 6, the distance calculation unit 521 calculates the distance d ₂ from the designated position P ₁₁ to the designated position P ₂₂ by the following equation (1).
d ₂ = ((X ₁₁ −X ₂₂ ) ² + (Y ₁₁ −Y ₂₂ ) ² ) ^1/2 (2)

図６において、単位をｍｍ、撮像素子３１の１画素の幅を２μｍ、中心Ｐ₁（Ｘ₀₁，Ｙ₀₁）を（０，０）、点Ｐ₁₁（−０．８，０．６）、測定視野画像Ｃ₂の中心Ｐ₂を（２０，−５０）、中心Ｐ₂からＸ軸方向に＋５０画素、Ｙ軸方向に＋１００画素離れた指定位置Ｐ₂₂（２１．１，４９．８）とした場合、距離算出部５１２は、上述した式（２）を用いて距離ｄ₂を算出する。なお、撮像素子３１の１画素の幅は、縦横比が１：１とする。
ｄ₂＝（（−０．８−２１.１）²＋（０．６＋４９.８）²）^1/2
＝５４.５６
その後、距離算出部５２１は、距離ｄ₂に、測定視野画像Ｃ₁を撮像した際の顕微鏡装置２の総合倍率を乗じることによって、指定位置Ｐ₁₁から指定位置Ｐ₂₂までの実際の距離ｄ₂を算出する。これにより、ユーザは、任意の２点間の距離を容易に把握することができる。 In FIG. 6, the unit is mm, the width of one pixel of the image sensor 31 is 2 μm, the center P ₁ (X ₀₁ , Y ₀₁ ) is (0, 0), the point P ₁₁ (−0.8, 0.6), the center P ₂ of the measurement field of view image _{C 2 (20, -50),} +50 pixels in the X-axis direction from the center P _2, the designated position apart +100 pixels in the Y-axis direction P ₂₂ and (21.1,49.8) In this case, the distance calculation unit 512 calculates the distance d ₂ using the above-described equation (2). Note that the width of one pixel of the image sensor 31 is 1: 1 in aspect ratio.
d ₂ = ((− 0.8-21.1) ² + (0.6 + 49.8) ² ) ^1/2
= 54.56
Then, the distance calculation unit 521, a distance d _2, the measurement field of view image C ₁ by multiplying the total magnification of the microscope apparatus 2 at the time of imaging the actual distance d ₂ from the designated position P ₁₁ to a specified position P ₂₂ Is calculated. Thereby, the user can easily grasp the distance between any two points.

ステップＳ１１４の後、表示制御部５２３は、距離算出部５２１が算出した算出結果を測定結果表示領域ｍ₂に表示させる（ステップＳ１１５）。これにより、ユーザは、測定視野が異なる２つの測定視野画像の各々に対して、指定した任意の２箇所の距離を簡易な操作で容易に測定することができる。ステップＳ１１５の後、顕微鏡システム１は、本処理を終了する。 After step S114, the display control unit 523, the distance calculation unit 521 displays the calculated result calculated in the measurement result display area m ₂ (step S115). As a result, the user can easily measure the distances between any two specified positions with respect to each of two measurement field images having different measurement fields by a simple operation. After step S115, the microscope system 1 ends this process.

ステップＳ１０３において、タッチパネル４２または入力部４３から撮影を指示する撮影指示がない場合（ステップＳ１０３：Ｎｏ）、顕微鏡システム１は、ステップＳ１１０へ移行する。 In step S103, when there is no photographing instruction for instructing photographing from the touch panel 42 or the input unit 43 (step S103: No), the microscope system 1 proceeds to step S110.

ステップＳ１０７において、表示部４１の測定視野画像表示領域ＰＶ₁で表示される測定視野画像Ｃ₁に対して、タッチパネル４２または入力部４３を介して所定の位置が指定されていない場合（ステップＳ１０７：Ｎｏ）、顕微鏡システム１は、ステップＳ１０９へ移行する。 In step S107, the measurement field-of-view image C ₁ is displayed in the measurement field of view image display area PV ₁ of the display unit 41, when a predetermined position through the touch panel 42 or the input unit 43 is not designated (step S107: No), the microscope system 1 proceeds to step S109.

ステップＳ１１１において、記録部５１に測定視野が異なる２つの測定視野画像データが記録されていない場合（ステップＳ１１１：Ｎｏ）、顕微鏡システム１は、本処理を終了する。 In step S111, when two measurement visual field image data having different measurement visual fields are not recorded in the recording unit 51 (step S111: No), the microscope system 1 ends this process.

ステップＳ１１３において、表示部４１の測定視野画像表示領域ＰＶ₁で表示される測定視野が異なる２つの測定視野画像の各々に対して、タッチパネル４２または入力部４３を介して所定の位置が指定されていない場合（ステップＳ１１３：Ｎｏ）、顕微鏡システム１は、ステップＳ１１２へ戻る。 In step S113, for each of the measured-field image display area PV ₁ measurement field of view two different measurement field image displayed by the display unit 41, a predetermined position through the touch panel 42 or the input unit 43 is specified When there is not (step S113: No), the microscope system 1 returns to step S112.

以上説明した本発明の実施の形態１によれば、簡易な操作で精度の高い測定を容易に行うことができる。 According to the first embodiment of the present invention described above, highly accurate measurement can be easily performed with a simple operation.

また、本発明の実施の形態１によれば、表示制御部５２３が互いに異なる測定視野領域の２つの測定視野画像を表示部４１の測定視野画像表示領域ＰＶ₁に表示させるので、複数の測定視野領域の画像を容易に把握することができる。 In addition, according to the first embodiment of the present invention, the display control unit 523 displays two measurement field images in different measurement field regions on the measurement field image display region PV ₁ of the display unit 41, so that a plurality of measurement field regions are displayed. The image of the area can be easily grasped.

また、本発明の実施の形態１によれば、表示制御部５２３が互いに異なる測定視野領域の２つの測定視野画像を表示部４１の測定視野画像表示領域ＰＶ₁に表示させる。これにより、複数の画像を貼り合わせて顕微鏡装置２の視野範囲よりも大きい画像を生成する必要がないので、簡易に標本ＳＰを測定することができる。さらに、表示制御部５２３が２つの測定視野画像を１画面中に表示するため、レポート作成時にも１頁中に測定箇所を表示できるので、レポーティングを容易に行うことができる。 Further, according to the first embodiment of the present invention, the display control unit 523 displays two measurement field images in different measurement field regions on the measurement field image display region PV ₁ of the display unit 41. Thereby, since it is not necessary to produce a larger image than the field of view of the microscope apparatus 2 by pasting a plurality of images, the specimen SP can be measured easily. Furthermore, since the display control unit 523 displays two measurement visual field images on one screen, the measurement location can be displayed on one page even when a report is created, so that reporting can be performed easily.

また、本発明の実施の形態１によれば、測定位置以外の複数の画像を貼り合わせて顕微鏡装置２の視野範囲よりも大きい画像を生成する場合において、標本ＳＰの測定位置が広範囲に亘るとき、複数の画像を取得する必要がないうえ、表示制御部５２３が測定位置を有する画像のみを表示部４１に表示させればよいので、測定位置を容易に認識することができる。 Further, according to the first embodiment of the present invention, when a plurality of images other than the measurement position are bonded to generate an image larger than the visual field range of the microscope apparatus 2, the measurement position of the specimen SP covers a wide range. In addition, it is not necessary to acquire a plurality of images, and the display control unit 523 only needs to display only the image having the measurement position on the display unit 41, so that the measurement position can be easily recognized.

また、本発明の実施の形態１によれば、距離算出部５２１がレボルバ検出部１０３ａによって検出された対物レンズ１０２の倍率とズーム検出部１０８ａによって検出されたズーム倍率とによって定まる顕微鏡装置２の倍率、位置情報検出部１０１ｃによって検出された位置情報および撮像素子３１の１画素の幅に基づいて、撮像素子３１が生成した画像データに対応する画像内における任意の２点間の距離を算出する。これにより、ステージ１０１ａの位置決めを高精度で行う必要がないうえ、高価なステージ１０１ａが必要ないので、装置の構成を簡易にすることができる。 Further, according to Embodiment 1 of the present invention, the magnification of the microscope apparatus 2 determined by the distance calculator 521 determined by the magnification of the objective lens 102 detected by the revolver detector 103a and the zoom magnification detected by the zoom detector 108a. Based on the position information detected by the position information detection unit 101c and the width of one pixel of the image sensor 31, the distance between any two points in the image corresponding to the image data generated by the image sensor 31 is calculated. Accordingly, it is not necessary to position the stage 101a with high accuracy, and the expensive stage 101a is not necessary, so that the configuration of the apparatus can be simplified.

なお、本発明の実施の形態１では、表示制御部５２３が互いに異なる測定視野で撮影された２つの画像を並べて表示部４１に表示させていたが、たとえば、図７に示すように、表示制御部５２３は、位置情報検出部１０１ｃが検出した位置情報に基づいて、撮像素子３１が生成した互いに異なる測定視野領域の２つの画像データに対応する２つの画像を、ステージ１０１ａ上で標本ＳＰが撮影された際の距離間隔で表示部４１に表示させてもよい。 In the first embodiment of the present invention, the display control unit 523 displays two images taken in different measurement fields of view side by side on the display unit 41. For example, as shown in FIG. Based on the position information detected by the position information detection unit 101c, the unit 523 captures two images corresponding to two image data in different measurement visual field regions generated by the image sensor 31 on the stage 101a. You may display on the display part 41 by the distance space | interval at the time of being performed.

また、本発明の実施の形態１では、表示制御部５２３は、入力部４３から入力される指示信号に応じて、表示部４１の表示画面上において２つの画像を移動、拡大、縮小および回転のいずれかを行って表示させてもよい。 In the first embodiment of the present invention, the display control unit 523 moves, enlarges, reduces, and rotates two images on the display screen of the display unit 41 in accordance with an instruction signal input from the input unit 43. Any one of them may be displayed.

また、本発明の実施の形態１では、距離算出部５２１が１つの画像内において任意の２点間の距離を算出する場合、画像内の中心から指定位置までの距離を算出していたが、これに限らず、画像内の任意の２点間の距離も算出することができる。この場合、距離算出部５２１は、上述した式（２）を用いて算出することができる。 In the first embodiment of the present invention, when the distance calculation unit 521 calculates the distance between any two points in one image, the distance from the center in the image to the specified position is calculated. Not limited to this, the distance between any two points in the image can also be calculated. In this case, the distance calculation unit 521 can calculate using the above-described equation (2).

（実施の形態２）
次に、本発明の実施の形態２について説明する。本実施の形態２に係る顕微鏡システムは、上述した実施の形態１に係る顕微鏡システム１と構成が異なるうえ、実行する処理が異なる。具体的には、上述した実施の形態１に係る顕微鏡システム１は、標本ＳＰの水平面のみの測定を行っていたが、本実施の形態２に係る顕微鏡システムは、標本ＳＰの水平面および垂直方向の高さを測定する。このため、以下において、本実施の形態２に係る顕微鏡システムの構成を説明後、本実施の形態２に係る顕微鏡システムが実行する処理について説明する。なお、上述した実施の形態１に係る顕微鏡システム１と同様の構成には同一の符号を付して説明を省略する。 (Embodiment 2)
Next, a second embodiment of the present invention will be described. The microscope system according to the second embodiment has a configuration different from that of the microscope system 1 according to the first embodiment described above and a process to be executed. Specifically, the microscope system 1 according to the first embodiment described above measures only the horizontal plane of the specimen SP. However, the microscope system according to the second embodiment has a horizontal plane and a vertical direction of the specimen SP. Measure height. For this reason, below, after demonstrating the structure of the microscope system which concerns on this Embodiment 2, the process which the microscope system which concerns on this Embodiment 2 performs is demonstrated. In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the structure similar to the microscope system 1 which concerns on Embodiment 1 mentioned above, and description is abbreviate | omitted.

図８は、本実施の形態２に係る顕微鏡システムの構成を概略的に示す模式図である。図８に示す顕微鏡システム１ａは、標本ＳＰを観察する顕微鏡装置２ａと、撮像装置３と、表示入力部４と、顕微鏡制御装置５ａと、を備える。顕微鏡装置２ａ、撮像装置３、表示入力部４および顕微鏡制御装置５ａは、データが送受信可能に有線または無線で接続される。 FIG. 8 is a schematic diagram schematically showing the configuration of the microscope system according to the second embodiment. A microscope system 1a shown in FIG. 8 includes a microscope device 2a for observing the specimen SP, an imaging device 3, a display input unit 4, and a microscope control device 5a. The microscope device 2a, the imaging device 3, the display input unit 4, and the microscope control device 5a are connected by wire or wireless so that data can be transmitted and received.

顕微鏡装置２ａの構成について説明する。顕微鏡装置２ａは、本体部１００と、ステージ機構１０１と、対物レンズ１０２と、レボルバ１０３と、透過照明光学系１０４と、落射照明光学系１０５と、三眼鏡筒ユニット１０６と、接眼レンズユニット１０７と、結像レンズユニット１０８と、ステージ１０１ａをＺ軸方向へ移動させる焦準部１０９と、を備える。なお、本体部１００に三眼鏡筒ユニット１０６を設けず、本体部１００に直接、撮像装置３を設けても良い。 The configuration of the microscope apparatus 2a will be described. The microscope apparatus 2a includes a main body 100, a stage mechanism 101, an objective lens 102, a revolver 103, a transmission illumination optical system 104, an epi-illumination optical system 105, a trinocular tube unit 106, and an eyepiece unit 107. The imaging lens unit 108 and a focusing unit 109 that moves the stage 101a in the Z-axis direction are provided. Note that the imaging device 3 may be provided directly on the main body 100 without providing the trinocular tube unit 106 on the main body 100.

焦準部１０９は、ステージ１０１ａを保持するアーム部１０９ａと、顕微鏡制御装置５ａの制御のもと、アーム部１０９ａをＺ軸方向へ移動させる焦準駆動部１０９ｂと、ステージ１０１ａの鉛直方向（Ｚ軸方向）の位置に関する鉛直位置情報を検出する上下位置情報検出部１０９ｃと、を備える。なお、焦準部１０９は、顕微鏡制御装置５ａの制御のもと、アーム部１０９ａを電動でＺ軸方向へ移動させるとしたが、手動でアーム部１０９ａをＺ軸方向へ移動させるようにしてもよい。 The focusing unit 109 includes an arm unit 109a that holds the stage 101a, a focusing drive unit 109b that moves the arm unit 109a in the Z-axis direction under the control of the microscope control device 5a, and a vertical direction (Z A vertical position information detection unit 109c that detects vertical position information related to the position in the axial direction. The focusing unit 109 is configured to electrically move the arm unit 109a in the Z-axis direction under the control of the microscope control device 5a. However, the arm unit 109a may be manually moved in the Z-axis direction. Good.

焦準駆動部１０９ｂは、ステッピングモータや超音波モータ等を用いて構成される。焦準駆動部１０９ｂは、顕微鏡制御装置５ａの制御のもと、ステージ１０１ａを顕微鏡装置２ａが載置された載置面と直交する上下方向へ移動させることによって、標本ＳＰの全焦点画像を撮影可能にする。 The focusing drive unit 109b is configured using a stepping motor, an ultrasonic motor, or the like. The focusing drive unit 109b takes an all-in-focus image of the specimen SP by moving the stage 101a in the vertical direction perpendicular to the placement surface on which the microscope device 2a is placed under the control of the microscope control device 5a. to enable.

上下位置情報検出部１０９ｃは、リニアスケールやガラススケールまたはフォトインタラプタ等を用いて構成される。上下位置情報検出部１０９ｃは、ステージ１０１ａの上下方向の上下位置情報（Ｚ座標）を顕微鏡制御装置５ａへ出力する。 The vertical position information detection unit 109c is configured using a linear scale, a glass scale, a photo interrupter, or the like. The vertical position information detection unit 109c outputs the vertical position information (Z coordinate) of the stage 101a in the vertical direction to the microscope control device 5a.

顕微鏡制御装置５ａは、記録部５１と、顕微鏡システム１ａを構成する各部の動作を統括的に制御する制御部５２ａと、を備える。 The microscope control device 5a includes a recording unit 51 and a control unit 52a that comprehensively controls the operation of each unit constituting the microscope system 1a.

制御部５２ａは、ＣＰＵ等を用いて構成され、入力部４３からの操作信号およびタッチパネル４２から位置信号に応じて顕微鏡システム１ａを構成する各部に対応する指示やデータの転送等を行って顕微鏡システム１ａの動作を統括的に制御する。 The control unit 52a is configured using a CPU or the like, and performs a command or data transfer corresponding to each unit constituting the microscope system 1a according to an operation signal from the input unit 43 and a position signal from the touch panel 42, and the microscope system. The operation of 1a is comprehensively controlled.

ここで、制御部５２ａの詳細な構成について説明する。制御部５２ａは、距離算出部５２１と、撮像制御部５２２と、表示制御部５２３と、全焦点画像生成部５２４と、を有する。 Here, a detailed configuration of the control unit 52a will be described. The control unit 52a includes a distance calculation unit 521, an imaging control unit 522, a display control unit 523, and an omnifocal image generation unit 524.

全焦点画像生成部５２４は、入力部４３から撮影の指示信号が入力された場合、焦準駆動部１０９ｂを駆動することによって、ステージ１０１ａを鉛直方向へ移動させながら、撮像装置３に連続的に標本ＳＰを撮像させて複数の画像データを生成させ、複数の画像データのうち標本ＳＰに対して最もピントが合っている画素を抽出して一枚の全焦点画像データを生成し、この全焦点画像データと上下位置情報検出部１０９ｃが検出した上下位置情報とを対応付けて記録部５１に記録する。具体的には、全焦点画像生成部５２４は、標本ＳＰに対して最もピントが合っている画素が生成された際に、上下位置情報検出部１０９ｃが検出した上下位置情報（Ｚ座標）を画素毎に対応付けて記録部５１に記録する。 When an imaging instruction signal is input from the input unit 43, the omnifocal image generation unit 524 continuously drives the imaging device 3 while moving the stage 101a in the vertical direction by driving the focusing drive unit 109b. The sample SP is imaged to generate a plurality of image data, and a pixel that is most in focus with respect to the sample SP is extracted from the plurality of image data to generate one omnifocal image data. The image data and the vertical position information detected by the vertical position information detection unit 109c are associated and recorded in the recording unit 51. Specifically, the omnifocal image generation unit 524 uses the vertical position information (Z coordinate) detected by the vertical position information detection unit 109c as the pixel when the pixel that is most focused on the specimen SP is generated. The information is recorded in the recording unit 51 in association with each other.

以上の構成を有する顕微鏡システム１ａが実行する処理について説明する。図９は、顕微鏡システム１ａが実行する処理の概要を示すフローチャートである。 Processing executed by the microscope system 1a having the above configuration will be described. FIG. 9 is a flowchart showing an outline of processing executed by the microscope system 1a.

図９のステップＳ２０１〜ステップＳ２０３は、上述した図３のステップＳ１０１〜ステップＳ１０３にそれぞれ対応する。 Steps S201 to S203 in FIG. 9 correspond to steps S101 to S103 in FIG. 3 described above, respectively.

ステップＳ２０４において、全焦点画像生成部５２４は、標本ＳＰの全焦点画像を生成する。 In step S204, the omnifocal image generation unit 524 generates an omnifocal image of the specimen SP.

続いて、位置情報検出部１０１ｃは、ステージ１０１ａの位置情報（ＸＹ平面）を検出するとともに、上下位置情報検出部１０９ｃは、ステージ１０１ａの鉛直位置情報を検出する（ステップＳ２０５）。 Subsequently, the position information detection unit 101c detects the position information (XY plane) of the stage 101a, and the vertical position information detection unit 109c detects the vertical position information of the stage 101a (step S205).

ステップＳ２０６およびステップＳ２０７は、上述した図３のステップＳ１０６およびステップＳ１０７にそれぞれ対応する。 Step S206 and step S207 correspond to step S106 and step S107 of FIG. 3 described above, respectively.

ステップＳ２０８において、距離算出部５２１は、撮像素子３１の１画像の幅、撮像装置３によって全焦点画像が生成された際の顕微鏡装置２ａの総合倍率、位置情報検出部１０１ｃが検出した位置情報に基づいて、測定視野画像の中心から指定された位置までの距離を算出するとともに、上下位置情報検出部１０９ｃが検出した鉛直位置情報に基づいて、全焦点画像内における任意の２点間の高さ（差）を算出する。この場合、距離算出部５２１は、全焦点画像生成部５２４によって全焦点画素の各画素に対応付けられた鉛直位置情報に基づいて、全焦点画像内における任意の２点間の高さを算出する。 In step S208, the distance calculation unit 521 uses the width of one image of the imaging device 31, the total magnification of the microscope apparatus 2a when the omnifocal image is generated by the imaging device 3, and the position information detected by the position information detection unit 101c. Based on the vertical position information detected by the vertical position information detection unit 109c, the distance between any two points in the omnifocal image is calculated based on the distance from the center of the measurement visual field image to the designated position. (Difference) is calculated. In this case, the distance calculation unit 521 calculates the height between any two points in the omnifocal image based on the vertical position information associated with each pixel of the omnifocal pixel by the omnifocal image generation unit 524. .

ステップＳ２０９〜ステップＳ２１３は、上述した図３のステップＳ１０９〜ステップＳ１１３にそれぞれ対応する。 Steps S209 to S213 correspond to steps S109 to S113 of FIG. 3 described above, respectively.

ステップＳ２１４において、距離算出部５２１は、２つの測定視野画像の各々に対して指定された２点間の距離および高さを算出する。 In step S214, the distance calculation unit 521 calculates the distance and height between the two points designated for each of the two measurement visual field images.

ステップＳ２１５は、上述した図３のステップＳ１１５に対応する。ステップＳ２１５の後、顕微鏡システム１ａは、本処理を終了する。 Step S215 corresponds to step S115 of FIG. 3 described above. After step S215, the microscope system 1a ends this process.

以上説明した本発明の実施の形態２によれば、標本ＳＰの距離および高さを簡易な操作で容易に行うことができる。 According to the second embodiment of the present invention described above, the distance and height of the specimen SP can be easily performed by a simple operation.

（その他の実施の形態）
本発明では、顕微鏡装置、撮像装置、表示入力部および顕微鏡制御装置を備えた顕微鏡システムを例に説明したが、たとえば標本を拡大する対物レンズ、対物レンズを介して標本を撮像する撮像機能、および画像を表示する表示機能を備えた撮像装置、たとえばビデオマイクロスコープ等であっても、本発明を適用することができる。 (Other embodiments)
In the present invention, a microscope system including a microscope apparatus, an imaging apparatus, a display input unit, and a microscope control apparatus has been described as an example. For example, an objective lens for enlarging a specimen, an imaging function for imaging a specimen via the objective lens, and The present invention can also be applied to an imaging apparatus having a display function for displaying an image, such as a video microscope.

また、本発明では、顕微鏡装置として正立型顕微鏡装置を例に説明したが、たとえば倒立型顕微鏡装置であっても本発明を適用することができる。さらに、顕微鏡装置を組み込んだライン装置といった各種システムにも、本発明を適用することができる。 In the present invention, the upright microscope apparatus has been described as an example of the microscope apparatus, but the present invention can be applied to an inverted microscope apparatus, for example. Furthermore, the present invention can be applied to various systems such as a line apparatus incorporating a microscope apparatus.

また、本発明では、ステージとして電動ステージを例に説明したが、たとえば手動で移動させるマニュアルステージであっても、本発明を適用することができる。 In the present invention, the electric stage is described as an example of the stage. However, the present invention can be applied to a manual stage that is moved manually, for example.

また、本発明では、表示入力部と顕微鏡制御装置とが別々に構成されていたが、たとえば表示入力部と顕微鏡制御装置とが一体的に形成された携帯型端末であってもよい。 In the present invention, the display input unit and the microscope control device are separately configured. However, for example, a portable terminal in which the display input unit and the microscope control device are integrally formed may be used.

なお、本明細書におけるフローチャートの説明では、「まず」、「その後」、「続いて」等の表現を用いてステップ間の処理の前後関係を明示していたが、本発明を実施するために必要な処理の順序は、それらの表現によって一意的に定められるわけではない。すなわち、本明細書で記載したフローチャートにおける処理の順序は、矛盾のない範囲で変更することができる。 In the description of the flowchart in the present specification, the context of the processing between steps is clearly indicated using expressions such as “first”, “after”, “follow”, etc., in order to implement the present invention. The order of processing required is not uniquely determined by their representation. That is, the order of processing in the flowcharts described in this specification can be changed within a consistent range.

このように、本発明は、ここでは記載していない様々な実施の形態を含みうるものであり、特許請求の範囲によって特定される技術的思想の範囲内で種々の設計変更等を行うことが可能である。 As described above, the present invention can include various embodiments not described herein, and various design changes and the like can be made within the scope of the technical idea specified by the claims. Is possible.

１，１ａ顕微鏡システム
２，２ａ顕微鏡装置
３撮像装置
４表示入力部
５，５ａ顕微鏡制御装置
３１撮像素子
４１表示部
４２タッチパネル
４３入力部
５１記録部
５２，５２ａ制御部
１００本体部
１０１ステージ機構
１０１ａステージ
１０１ｂＸＹ駆動部
１０１ｃ位置情報検出部
１０２対物レンズ
１０３レボルバ
１０３ａレボルバ検出部
１０４透過照明光学系
１０５落射照明光学系
１０６三眼鏡筒ユニット
１０７接眼レンズユニット
１０８結像レンズユニット
１０８ａズーム検出部
１０９焦準機構
１０９ａアーム部
１０９ｂ焦準駆動部
１０９ｃ上下位置情報検出部
５１１位置情報記録部
５２１距離算出部
５２２撮像制御部
５２３表示制御部
５２４全焦点画像生成部
ＳＰ標本 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1,1a Microscope system 2,2a Microscope apparatus 3 Imaging apparatus 4 Display input part 5,5a Microscope control apparatus 31 Imaging element 41 Display part 42 Touch panel 43 Input part 51 Recording part 52,52a Control part 100 Main body part 101 Stage mechanism 101a Stage DESCRIPTION OF SYMBOLS 101b XY drive part 101c Position information detection part 102 Objective lens 103 Revolver 103a Revolver detection part 104 Transmission illumination optical system 105 Epi-illumination optical system 106 Trinocular tube unit 107 Eyepiece lens unit 108 Imaging lens unit 108a Zoom detection part 109 Focusing mechanism 109a arm unit 109b focusing drive unit 109c vertical position information detection unit 511 position information recording unit 521 distance calculation unit 522 imaging control unit 523 display control unit 524 omnifocal image generation unit SP sample

Claims

標本を載置し、水平方向に移動可能なステージと、
前記ステージと対向して配置され、前記標本を観察する観察光学系と、
前記観察光学系の倍率に関する倍率情報を検出する倍率情報検出部と、
複数の画素を有し、前記観察光学系を介して前記標本を撮像し、互いに異なる２つの測定視野領域の画像データを生成する撮像素子と、
前記撮像素子が生成した前記画像データに対応する画像を表示可能な表示部と、
前記撮像素子が生成した前記画像データに対応する画像内において前記観察光学系の光軸が通過する位置であって、前記ステージの水平面における位置に関する位置情報を検出する位置情報検出部と、
前記位置情報検出部が検出した前記位置情報に基づいて、前記撮像素子が生成した互いに異なる２つの測定視野領域の各画像データに対応する画像の位置関係を反映させて前記表示部に表示させる表示制御部と、
前記表示部が表示する前記画像内において、少なくとも２箇所を指定する指示信号の入力を受け付ける入力部と、
前記倍率情報、前記位置情報および前記撮像素子の１画素の幅に基づいて、前記撮像素子が生成した前記画像データに対応する画像内における前記指示信号に応じて指定された２箇所の２点間の距離を算出する距離算出部と、
を備えたことを特徴とする顕微鏡システム。 A stage on which a specimen can be placed and moved horizontally,
An observation optical system arranged to face the stage and observing the specimen;
A magnification information detector for detecting magnification information related to the magnification of the observation optical system;
An imaging device having a plurality of pixels, imaging the specimen through the observation optical system, and generating image data of two different measurement visual field regions ;
A display unit capable of displaying an image corresponding to the image data generated by the imaging element;
A position information detection unit for detecting position information relating to a position of the stage on the horizontal plane, at a position through which the optical axis of the observation optical system passes in an image corresponding to the image data generated by the image sensor;
Based on the position information detected by the position information detection unit, a display to be displayed on the display unit by reflecting the positional relationship of images corresponding to each image data of two different measurement visual field regions generated by the imaging device. A control unit;
In the image displayed by the display unit, an input unit that receives an input of an instruction signal that specifies at least two locations;
Based on the magnification information, the position information, and the width of one pixel of the image sensor, the two points specified in accordance with the instruction signal in the image corresponding to the image data generated by the image sensor A distance calculation unit for calculating the distance of
A microscope system comprising:

前記距離算出部は、前記倍率情報、前記位置情報および前記撮像素子の１画素の幅に基づいて、互いに異なる２つの測定視野領域の各画像データに対応する画像内における前記指示信号に応じて指定された２箇所の２点間の距離を算出することを特徴とする請求項１に記載の顕微鏡システム。 Prior Symbol distance calculation unit, the magnification information, the position information and on the basis of the width of one pixel of the imaging device, in response to the instruction signal in the image corresponding to the image data of two different measurement field area 2. The microscope system according to claim 1, wherein a distance between two designated two points is calculated.

前記ステージを前記ステージが載置される載置面と直交する上下方向へ移動させる焦準部と、
前記撮像素子が前記画像データを生成した際に、前記ステージの上下方向の位置に関する上下位置情報を検出する上下位置情報検出部と、
をさらに備え、
前記距離算出部は、前記上下位置情報に基づいて、前記撮像素子が生成した前記画像データに対応する画像内における上下方向における前記指示信号に応じて指定された２箇所の高さを算出することを特徴とする請求項１または２に記載の顕微鏡システム。 A focusing unit for moving the stage in a vertical direction orthogonal to a placement surface on which the stage is placed;
When the image sensor generates the image data, a vertical position information detection unit that detects vertical position information related to the vertical position of the stage;
Further comprising
The distance calculation unit calculates the heights of two locations specified in accordance with the instruction signal in the vertical direction in an image corresponding to the image data generated by the imaging element based on the vertical position information. The microscope system according to claim 1 or 2 .