JP6246751B2 - 絶縁劣化検出システム、絶縁劣化検出方法および絶縁劣化検出用センサ - Google Patents
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Claims (15)
- 電気機器の絶縁劣化を検出する絶縁劣化検出システムであって、
弾性波を減衰させるための弾性波減衰部材を介して前記電気機器に取り付けられる第1の光ファイバ型センサと、前記第1の光ファイバ型センサに近接して前記電気機器に取り付けられる第2の光ファイバ型センサとを備えるセンサ部と、
前記センサ部に光学的に接続される光伝達部であって、光源からの光を前記第1の光ファイバ型センサへ供給し、前記光源からの光が前記第1の光ファイバ型センサの内部で反射した光を基準光として前記第2の光ファイバ型センサへ供給し、前記基準光が前記第2の光ファイバ型センサで反射した光を検出光として取り出す光伝達部と、
前記光伝達部により取り出された前記検出光を解析して前記電気機器の絶縁劣化を検出する解析部と、
を備える絶縁劣化検出システム。 - 前記第1の光ファイバ型センサと前記第2の光ファイバ型センサは、互いの相対的位置関係を決定するための位置決め部材に取り付けられている、
請求項1に記載の絶縁劣化検出システム。 - 前記第1の光ファイバ型センサは、その先端側が前記弾性波減衰部材および前記位置決め部材を介して前記電気機器に取り付けられており、
前記第2の光ファイバ型センサは、その先端側が前記位置決め部材を介して前記電気機器に取り付けられている、
請求項2に記載の絶縁劣化検出システム。 - 前記位置決め部材は、前記第1の光ファイバ型センサおよび前記第2の光ファイバ型センサを収容するセンサ筐体として構成されている、
請求項3に記載の絶縁劣化検出システム。 - 前記第1の光ファイバ型センサおよび前記第2の光ファイバ型センサは、着脱可能なコネクタ部を介して前記光伝達部に接続される、
請求項1〜4のいずれかに記載の絶縁劣化検出システム。 - 前記第1の光ファイバ型センサおよび前記第2の光ファイバ型センサは、所定の空間を介して前記コネクタ部と光学的に接続されている、
請求項5に記載の絶縁劣化検出システム。 - 前記第1の光ファイバ型センサおよび前記第2の光ファイバ型センサは、前記所定の空間に配置されるミラー部材を介して前記コネクタ部と光学的に接続されている、
請求項6に記載の絶縁劣化検出システム。 - 前記センサ部は前記電気機器に複数取り付けられており、
前記解析部は、前記各センサ部からの検出光をそれぞれ解析する、
請求項5に記載の絶縁劣化検出システム。 - 前記センサ部は、1つの前記第1の光ファイバ型センサと、複数の前記第2の光ファイバ型センサとを備えており、
前記解析部は、前記各第2の光ファイバ型センサの検出光をそれぞれ解析する、
請求項5に記載の絶縁劣化検出システム。 - 前記光源は、単一波長の光を出力する、
請求項1に記載の絶縁劣化検出システム。 - 前記電気機器は、絶縁劣化により部分放電現象の発生する可能性を有する高電圧機器である、
請求項1に記載の絶縁劣化検出システム。 - 前記第1の光ファイバ型センサおよび前記第2の光ファイバ型センサは、ファイバブラッググレーティングセンサである、
請求項1に記載の絶縁劣化検出システム。 - 前記弾性波減衰部材は、光ファイバよりも前記弾性波を減衰させる減衰度が高く、かつ、空気よりも熱伝導率の高い材質から形成される、
請求項1に記載の絶縁劣化検出システム。 - 電気機器の絶縁劣化を検出する絶縁劣化検出方法であって、
第1の光ファイバ型センサを、弾性波を減衰させるための弾性波減衰部材を介して前記電気機器に取り付け、
第2の光ファイバ型センサを、前記第1の光ファイバ型センサに近接して前記電気機器に取り付け、
光源からの光を前記第1の光ファイバ型センサへ供給し、
前記光源からの光が前記第1の光ファイバ型センサの内部で反射した光を基準光として前記第2の光ファイバ型センサへ供給し、
前記基準光が前記第2の光ファイバ型センサで反射した光を検出光として解析し、
解析結果を出力する、
絶縁劣化検出方法。 - 電気機器の絶縁劣化を検出する絶縁劣化検出システムで使用する絶縁劣化検出用のセンサであって、
弾性波を減衰させるための弾性波減衰部材を介して前記電気機器に取り付けられる第1の光ファイバ型センサと、
前記第1の光ファイバ型センサに近接して前記電気機器に取り付けられる第2の光ファイバ型センサと、
を有し、
前記第1の光ファイバ型センサは、光源から入射する光を反射することで基準光を生成し、前記第2の光ファイバ型センサは、前記第1の光ファイバ型センサから入射する前記基準光を反射することで検出光を生成し、前記検出光を解析することで前記電気機器の絶縁劣化を検出する
絶縁劣化検出用センサ。
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