JP6217110B2 - プロジェクターおよび調整方法 - Google Patents

Description

本発明は、プロジェクターおよび調整方法に関する。

プロジェクターが異なる階調を有するパターン画像を投射して当該プロジェクターのフ
ォーカス調整を行うものがある。例えば、特許文献１に記載の技術は、プロジェクターが
少なくとも３つの異なる階調を有する少なくとも１つのパターン画像を含むキャリブレー
ション画像を投写面に投写する投写部と、キャリブレーション画像を撮影して撮影画像を
生成する撮像部と、撮影画像に基づき、投写面までの距離である投写距離を示す投写距離
情報を生成する投写距離情報生成部と、投写距離情報に基づき、投写部のフォーカス調整
を行うフォーカス調整部と、を含むものである。

特開２０１０−２８８０６２号公報

撮像部が撮影したパターン画像に含まれる測定点の詳細な座標を算出するには、パター
ン画像を適切な明度値で撮影する必要がある。ここで、適切な明度値とは、明度値が白飽
和せず、かつ可能な限り大きな明度値のことである。しかしながら、特許文献１に記載の
技術を用いても、撮像部が撮影した撮影画像にパターン画像が明るく映り、明度値が飽和
している場合、現在の明度値を検出できないため、露出時間・ゲイン値を調整することが
必要であり、調整に時間がかかるという欠点があった。このように、プロジェクターを設
置するときのユーザーの利便性が十分でないという問題があった。

本発明は上記の点に鑑みてなされたものであり、プロジェクターを設置するときのユー
ザーの利便性を向上させることができるプロジェクターおよび調整方法を提供することを
課題とする。

（１）本発明は上記の課題を解決するためになされたものであり、本発明の一態様は、
明度値の異なる複数のパターンを投射する投射部と、前記投射部により投射された前記複
数のパターンを撮影する撮像部と、前記撮像部により撮影された前記複数のパターンのい
ずれかに基づいて、前記投射部が投射するときの投射状態を調整する投射状態調整部と、
を備えることを特徴とするプロジェクターである。

この構成によれば、プロジェクターは、撮影した明度値の異なる複数のパターンのいず
れかを選択することで投射状態を短時間で調整することができるため、自動補正機能の処
理時間を短縮できる。このため、プロジェクターを設置するときのユーザーの利便性を向
上させることができる。

（２）また、本発明の一態様は、前記投射状態調整部は、前記複数のパターンのうち、
所定の範囲内の明度値で撮影されたパターンに基づいて、前記投射状態を調整することを
特徴とするプロジェクターである。

この構成によれば、プロジェクターは、撮影した明度値の異なる複数のパターンのいず
れかを選択することで投射状態を短時間で調整することができる。

（３）また、本発明の一態様は、前記投射状態調整部は、前記投射部が投射するときの台形歪みを補正することを特徴とするプロジェクターである。

この構成によれば、プロジェクターは、撮影した明度値の異なる複数のパターンに基づいて台形歪みを補正することができる。

（４）また、本発明の一態様は、前記投射状態調整部は、前記投射部のフォーカス調整
を行うことを特徴とするプロジェクターである。

この構成によれば、プロジェクターは、撮影した明度値の異なる複数のパターンのいず
れかに基づいてフォーカス調整を行うことができる。

（５）また、本発明の一態様は、前記撮像部により撮影された前記複数のパターンのい
ずれかに基づいて前記撮像部が撮影するときの撮影条件を調整する撮影条件調整部を備え
ることを特徴とするプロジェクターである。

この構成によれば、プロジェクターは、撮影した明度値の異なる複数のパターンのいず
れかに基づいて撮影条件を調整することができる。

（６）また、本発明の一態様は、前記撮影条件調整部は、前記撮像部の露出、および前
記撮像部に備わるアナログデジタル変換回路のゲイン値の少なくとも一方を調整すること
を特徴とするプロジェクターである。

この構成によれば、プロジェクターは、撮像部の露出およびアナロクデジタル変換回路
のゲイン値の少なくとも一方を調整することができる。

（７）また、本発明の一態様は、測定パターンと、前記測定パターンよりも明度値が低
い補助パターンとを含むパターン画像を投射する投射部と、前記投射部により投射された
前記パターン画像を撮影する撮像部と、前記撮像部で撮影された前記測定パターンの明度
値が飽和している場合に、前記補助パターンの明度値に基づいて、前記撮像部の撮影条件
を調整する撮影条件調整部と、前記撮影条件調整部によって調整された撮影条件で撮影さ
れた測定パターンに基づいて、前記投射部が投射するときの投射状態を調整する投射状態
調整部と、を備えることを特徴とするプロジェクターである。

この構成によれば、プロジェクターは、撮影した測定パターンが飽和している場合にお
いても、補助パターンの明度値に基づいて撮影条件および投射状態を調整することができ
るため、自動補正機能の処理時間を短縮できる。このため、プロジェクターを設置すると
きのユーザーの利便性を向上させることができる。

（８）また、本発明の一態様は、プロジェクターが明度値の異なる複数のパターンを投
射する第１のステップと、投射された前記複数のパターンを撮影する第２のステップと、
前記第２のステップにおいて撮影された前記複数のパターンのいずれかに基づいて、前記
プロジェクターの投射状態を調整する第３のステップと、を有することを特徴とする調整
方法である。

この構成によれば、調整方法は、撮影した明度値の異なる複数のパターンのいずれかを
選択することで投射状態を短時間で調整することができるため、自動補正機能の処理時間
を短縮できる。このため、プロジェクターを設置するときのユーザーの利便性を向上させ
ることができる。

以上のように、本発明によれば、プロジェクターを設置するときのユーザーの利便性を
向上させることができる。

本発明の第１の実施形態に係る投射システムの構成の一例を示す概略図である。 第１の実施形態に係るプロジェクターが投射するパターン画像の配置の一例を示す概略図である。 第１の実施形態に係るプロジェクターの構成の一例を示す概略ブロック図である。 第１の実施形態に係るプロジェクターの調整処理の一例を示すフローチャートである。 第１の実施形態に係る撮像部が撮影したパターン画像の一例を示す概略図である。 第１の実施形態に係る調整部が撮影条件を調整したときのパターン画像の一例を示す概略図である。 本発明の第２の実施形態に係るプロジェクターの構成の一例を示す概略ブロック図である。 第２の実施形態に係るプロジェクターの調整処理の一例を示すフローチャートである。

（第１の実施形態）
以下、図面を参照しながら本発明の第１の実施形態について詳しく説明する。
図１は、本発明の第１の実施形態に係る投射システムＳ１の構成の一例を示す概略図で
ある。
投射システムＳ１は、プロジェクター１と、プロジェクター１を設置する設置台ＳＰと
、プロジェクター１が画像Ｇ１を投射する投影面ＳＣと、を含んで構成される。
プロジェクター１は、例えば、設置台ＳＰの上に載置され、投影面ＳＣに対し斜め上向
きに画像Ｇ１を投射する。また、プロジェクター１は、例えば、天井に設置されて、天井
から投影面ＳＣに対し斜め下向きに画像を投射する場合もある。このように、投影面ＳＣ
に対して斜め方向に画像を投射する場合には、投影面ＳＣに投射される画像は、台形状に
歪んだ形状となる。以下、プロジェクター１が投射する画像Ｇ１を投射画像という。

プロジェクター１は、台形状に歪んだ画像を自動で補正する機能（台形歪み調整機能）
や、フォーカスの調整を自動で行う機能（フォーカス調整機能）を有している。プロジェ
クター１は、これらの調整を行う際に、調整用のパターン画像を投射して、これを撮影す
ることにより、投影面ＳＣに対する投射角度や、投影面ＳＣまでの距離を検出する。また
、プロジェクター１は、パターン画像を適切な画質で撮影できるように、撮影時の撮影条
件（例えば、露出時間やアナログデジタル変換回路のゲイン値など）を調整する機能を有
している。

図２は、本実施形態に係るプロジェクター１が投射するパターン画像の一例を示す概略
図である。
図２に示すように、パターン画像Ｇ２は、暗色（例えば、黒色）の背景上に、４つの明
色（例えば、白色）の測定点Ｐ０、Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３を含んで構成されている。各測定点
Ｐ０、Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３の近傍（周囲）には、それぞれ明度値が異なる４つの補助点Ｈ１
、Ｈ２、Ｈ３、Ｈ４が配置されている。本実施形態では、測定点Ｐ０、Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３
および補助点Ｈ１、Ｈ２、Ｈ３、Ｈ４は、いずれも丸型のパターンで構成されている。こ
こで、１つの測定点と、その周りの４つの補助点とを含む部位、すなわち５つの丸型のパ
ターンを含む部位を測定パターン部と称する。つまり、パターン画像Ｇ２には、４つの測
定パターン部ＰＴ１、ＰＴ２、ＰＴ３、ＰＴ４が含まれている。４つの測定点Ｐ０、Ｐ１
、Ｐ２、Ｐ３の明度値は、いずれも同じ値である。また、補助点Ｈ１、Ｈ２、Ｈ３、Ｈ４
の明度値は、測定点Ｐ０、Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３の明度値よりも低く、順に、測定点Ｐ０、Ｐ
１、Ｐ２、Ｐ３の明度値の１／２、１／４、１／８、１／１６となっている。

図３は、本実施形態に係るプロジェクター１の構成の一例を示す概略ブロック図である
。
プロジェクター１は、撮像部１１と、解析部１２と、調整部１３と、算出部１４と、補
正部１５と、パターン記憶部１６と、映像入力部１７と、投射部１８と、を含んで構成さ
れる。プロジェクター１は、その他一般的なプロジェクターの機能を備えるが、図示およ
び説明は省略する。

撮像部１１は、ＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ Ｃｏｕｐｌｅｄ Ｄｅｖｉｃｅ：シーシーディ
ー）センサーやＣＭＯＳ（Ｃｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ Ｍｅｔａｌ Ｏｘｉｄｅ Ｓｅ
ｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ：シーモス）センサーなどの撮像素子（図示せず）と、撮像レン
ズ（図示せず）と、を備える。撮像部１１は、一例として、プロジェクター１の投射レン
ズ（図示せず）の近傍に配置され、投影面ＳＣに投射部１８から投射された投射画像を含
む範囲を撮像素子上に所定のフレームレートで結像させることで撮影する。
撮像部１１は、プロジェクター１（投射部１８）が投射したパターン画像を撮影する。
そして、撮影した画像（以下、撮影画像と称する。）を表す画像情報を生成し、生成した
画像情報を解析部１２に出力する。

解析部１２は、撮像部１１から入力される画像情報、すなわちパターン画像を撮影した
撮影画像の画像情報を解析して、パターン画像に含まれる測定点が適切な明るさであるか
否かを判定する。測定点の明るさが適切である場合には、解析部１２は、撮影画像の画像
情報を算出部１４に出力する。また、測定点の明るさが適切ではない場合には、解析部１
２は、測定点の明るさに関する明るさ情報を調整部１３に出力する。
調整部１３は、解析部１２から入力された明るさ情報に基づいて、撮像部１１の撮影条
件の調整値（露出、ゲインなどの調整値）を導出する。調整部１３は、導出した調整値を
用いて撮像部１１に調整値を設定し、露出、ゲインなどの撮影条件の調整を行う。

算出部１４は、解析部１２から入力された撮影画像の画像情報に基づいて、各測定パタ
ーン部における測定点の位置座標を特定する。そして、算出部１４は、特定した位置座標
に基づいて、フォーカスを調整するためのフォーカス調整値と、台形歪みを補正するため
の補正パラメーターを算出する。例えば、算出部１４は、少なくとも１つの測定点の位置
座標に基づいて、投写距離を求めて、この投写距離に応じたフォーカス調整値を算出する
。また、算出部１４は、少なくとも３つの測定点の位置座標に基づいて、投写角度を求め
て、この投写角度に応じた補正パラメーターを算出する。算出部１４は、算出したフォー
カス調整値および補正パラメーターを補正値情報として補正部１５に出力する。

補正部１５は、算出部１４から入力された補正値情報を用いて投射部１８に投射させる
画像に対し、補正を行う。具体的には、補正部１５は、算出部１４から入力されるフォー
カス調整値に基づいて、投射部１８のフォーカス調整を行う。そして、補正部１５は、映
像入力部１７から入力される入力画像信号に、算出部１４から入力される補正パラメータ
ーに応じた補正を施すことにより、台形歪みを補正する。このように、補正部１５は、パ
ターン画像に基づいて算出された補正値情報に応じて投射部１８の投射状態（台形歪み、
フォーカス）を調整する。

パターン記憶部１６は、パターン画像を記憶する。補正部１５は、映像入力部１７からの入力画像信号の代わりに、パターン記憶部１６からパターン画像を読み出し、読み出したパターン画像を投射部１８に投射させることができる。
映像入力部１７は、外部（例えば、パソコン）から画像信号の入力を受け付ける。映像入力部１７は、受け付けた画像信号を入力画像信号として補正部１５に出力する。
投射部１８は、放電ランプ、液晶パネル、分光素子、偏光素子、投射レンズ（いずれも図示せず）などを備え、補正部１５から入力される出力画像信号を投影面ＳＣに投射画像として投射する。

図４は、本実施形態に係るプロジェクター１の調整処理の一例を示すフローチャートで
ある。
ステップＳＴ１０１において、補正部１５は、パターン記憶部１６からパターン画像を
読み出し、読み出したパターン画像を投射部１８に出力し、投射部１８が投影面ＳＣに当
該パターン画像を投射する。撮像部１１は、投影面ＳＣに投射されたパターン画像を撮影
する。
ステップＳＴ１０２において、解析部１２は、撮影画像から測定パターン部を検出する
。解析部１２は、検出した測定パターン部から測定点を抽出する。

ステップＳＴ１０３において、解析部１２は、抽出した測定点の明るさが適切であるか
否かを判定する。具体的には、解析部１２は、撮影画像における測定点の明度値を所定の
閾値（第１閾値および第２閾値）と比較し、明度値が第１閾値以下で、第２閾値より大き
い場合に適切な明るさであると判断する。まず、解析部１２は、測定点の明度値が第１閾
値より大きいか否か（明るすぎるか否か）を判定する。測定点の明度値が第１閾値より大
きい（明るすぎる）場合（ＹＥＳ）、ステップＳＴ１０４に進む。一方、測定点の明度値
が第１閾値以下である場合、すなわち測定点の明度値が明るすぎず、飽和しない明度値（
明るさ）である場合（ＮＯ）、ステップＳＴ１０５に進む。
ステップＳＴ１０４において、解析部１２は、測定パターン部に含まれる複数の補助点
の明度値から測定点の明度値を推定する。

図５は、本実施形態に係る撮像部１１が撮影したパターン画像の一例を示す概略図であ
る。
撮像部１１が撮影した撮影画像Ｇ３には、パターン画像が投射された投影面ＳＣと、当
該投影面ＳＣの周囲が含まれている。撮影画像Ｇ３において、４つの測定点Ｐ０’、Ｐ１
’、Ｐ２’、Ｐ３’は、明るすぎの状態で撮影されており、それぞれの明度値は飽和して
いる。また、４つの測定点Ｐ０’、Ｐ１’、Ｐ２’、Ｐ３’の近傍に配置された補助点Ｈ
１’、Ｈ２’、Ｈ３’、Ｈ４’のうち、明度値が測定点の１／２である補助点Ｈ１’と明
度値が測定点の１／４である補助点Ｈ２’の明度値も飽和しており、明度値が測定点の１
／８である補助点Ｈ３’と明度値が測定点の１／１６である補助点Ｈ４’の明度値は飽和
していない。このとき、解析部１２は、明度値が飽和していない補助点のうち、最も明る
い補助点（明度値が測定点の１／８である補助点Ｈ３’）に基づいて、測定点Ｐ０’、Ｐ
１’、Ｐ２’、Ｐ３’の明度値を推定する。具体的には、解析部１２は、測定点Ｐ０’、
Ｐ１’、Ｐ２’、Ｐ３’の明度値が、撮影画像Ｇ３における補助点Ｈ３’の明度値の８倍
の値であると推定する。

図４に戻って、ステップＳＴ１０４において、解析部１２は、推定した測定点の明度値
を明るさ情報として調整部１３に出力してステップＳＴ１０６に進む。
ステップＳＴ１０６において、調整部１３は、解析部１２から入力される測定点の明度
値と、理想的な明るさである所定の明度値（目標明度値）との比率に基づいて、撮像部１
１の露出、ゲインなどの撮影条件の調整値を導出する。
ステップＳＴ１０７において、調整部１３は、導出した調整値を用いて撮像部１１に撮
影条件の調整値を設定し、ステップＳＴ１０３に戻る。調整部１３は、測定点が白飽和し
ない適切な明度値で撮影できるまで、撮像部１１、解析部１２と連動して撮影条件の調整
を繰り返す。

図６は、本実施形態に係る調整部１３において撮影条件を調整したときのパターン画像
の一例を示す概略図である。
撮影画像Ｇ４は、図５に示した撮影画像Ｇ３のパターン画像に基づいて調整部１３が撮
像部１１の露出およびゲインの調整を行ったときの画像である。
図６において明度値が飽和していた４つの測定点Ｐ０’、Ｐ１’、Ｐ２’、Ｐ３’は、
調整部１３が撮像部１１の露出およびゲインを調整したことにより、明度値が飽和しない
適切な明度値の測定点Ｐ０’’、Ｐ１’’、Ｐ２’’、Ｐ３’’となっている。

図４に戻って、ステップＳＴ１０５において、解析部１２は、撮影画像における測定点
の明度値が第２閾値以下か否か（暗すぎるか否か）を判定する。測定点の明度値が第２閾
値より大きい（暗すぎない）場合（ＮＯ）、解析部１２は、撮影画像の画像情報を算出部
１４に出力し、ステップＳＴ１０８に進む。一方、測定点の明度値が第２閾値以下である
場合、すなわち暗すぎる場合（ＹＥＳ）、解析部１２は、撮影画像における測定点の明度
値を明るさ情報として調整部１３に出力してステップＳＴ１０６に進む。

ステップＳＴ１０８において、算出部１４は、解析部１２から入力される撮影画像の画
像情報に基づいて、測定点の位置座標を特定する。ここで、撮影画像に含まれる測定点は
、適切な明度値で撮影されているため、算出部１４は、測定点の位置座標を正確に定める
ことができる。そして、算出部１４は、特定した位置座標に基づいて、フォーカスを調整
するためのフォーカス調整値と、台形歪を補正するための補正パラメーターを算出する。
算出部１４は、算出したフォーカス調整値および補正パラメーターを補正値情報として補
正部１５に出力する。
ステップＳ１０９において、補正部１５は、入力される補正値情報に応じて投射状態（
台形歪み、フォーカス）を調整する。

このように、本実施形態によれば、プロジェクター１は、明度値の異なる複数のパター
ンを投射する投射部１８と、投射部１８により投射された複数のパターンを撮影する撮像
部１１と、撮像部１１により撮影された複数のパターンのいずれかに基づいて、投射部１
８が投射するときの投射状態を調整する投射状態調整部（補正部１５）と、を備える。

これにより、プロジェクター１は、撮影した明度値の異なる複数のパターンのいずれかを選択することで投射状態を短時間で調整することができるため、自動補正機能の処理時間を短縮できる。このため、プロジェクターを設置するときのユーザーの利便性を向上させることができる。

また、プロジェクター１は、測定パターン（測定点）と、測定パターン（測定点）より
も明度値が低い補助パターン（補助点）とを含むパターン画像を投射する投射部１８と、
投射部１８により投射されたパターン画像を撮影する撮像部１１と、撮像部１１で撮影さ
れた測定パターン（測定点）の明度値が飽和している場合に、補助パターン（補助点）の
明度値に基づいて、撮像部１１の撮影条件を調整する撮影条件調整部（調整部１３）と、
撮影条件調整部（調整部１３）によって調整された撮影条件で撮影された測定パターン（
測定点）に基づいて、投射部１８が投射するときの投射状態を調整する投射状態調整部（
補正部１５）と、を備える。

これにより、プロジェクター１は、撮影した測定パターンが飽和している場合において
も、補助パターンの明度値に基づいて撮影条件および投射状態を調整することができるた
め、自動補正機能の処理時間を短縮できる。このため、プロジェクターを設置するときの
ユーザーの利便性を向上させることができる。

（第２の実施形態）
以下、図面を参照しながら本発明の第２の実施形態について詳しく説明する。
第１の実施形態では、補助点の明度値から測定点の明度値を推定し、撮影条件を調整す
ることで投射状態の調整を行う場合について説明した。本実施形態では、補助点または測
定点のいずれかから投射状態の調整を行う場合について説明する。

図７は、本発明の第２の実施形態に係るプロジェクター１Ａの構成の一例を示す概略ブ
ロック図である。
プロジェクター１Ａは、撮像部１１と、解析部１２Ａと、算出部１４Ａと、補正部１５
と、パターン記憶部１６と、映像入力部１７と、投射部１８と、を含んで構成される。プ
ロジェクター１Ａは、その他一般的なプロジェクターの機能を備えるが、図示および説明
は省略する。
ここで、第１の実施形態におけるプロジェクター１の構成と本実施形態におけるプロジ
ェクター１Ａの構成とを比較すると、調整部１３が削除されている。なお、解析部１２Ａ
、算出部１４Ａの動作が異なるので説明する。それ以外の構成は、同様であるので、説明
は省略する。

解析部１２Ａは、撮像部１１から入力される画像情報、すなわちパターン画像を撮影し
た撮影画像の画像情報を解析して、各測定パターン部において、１つの測定点および４つ
の補助点の中から、適切な明るさで撮影されている測定点または補助点を１つずつ抽出す
る。解析部１２Ａは、撮影画像の画像情報と、抽出した測定点または補助点を表すパター
ン情報とを算出部１４Ａに出力する。

算出部１４Ａは、解析部１２Ａから入力された撮影画像の画像情報に基づいて、解析部
１２Ａから入力されたパターン情報が表す測定点または補助点の位置座標を特定する。そ
して、算出部１４Ａは、特定した位置座標に基づいて、フォーカスを調整するためのフォ
ーカス調整値と、台形歪みを補正するための補正パラメーターとを算出する。算出部１４
Ａは、算出したフォーカス調整値および補正パラメーターを補正値情報として補正部１５
に出力する。

図８は、本実施形態に係るプロジェクター１Ａの調整処理の一例を示すフローチャート
である。
ステップＳＴ２０１において、補正部１５は、パターン記憶部１６からパターン画像を
読み出し、読み出したパターン画像を投射部１８に出力し、投射部１８が投影面ＳＣに当
該パターン画像を投射する。撮像部１１は、投影面ＳＣに投射されたパターン画像を撮影
する。
ステップＳＴ２０２において、解析部１２Ａは、撮影画像から測定パターン部を検出す
る。解析部１２Ａは、検出した測定パターン部から当該測定パターン部に含まれるパター
ン（補助点および測定点）を抽出する。

ステップＳＴ２０３において、解析部１２Ａは、各測定パターン部において、抽出した補助点および測定点の中から、適切な明るさで撮影されている測定点または補助点を１つ選択する。具体的には、解析部１２Ａは、画像情報を解析し、各測定パターン部に含まれる測定点と当該測定点の近傍に複数配置された補助点の中から、明度値が所定の範囲内である測定点または補助点を１つずつ抽出する。解析部１２Ａは、撮影画像の画像情報と、抽出した測定点または補助点を表すパターン情報とを算出部１４Ａに出力する。

ステップＳＴ２０４において、算出部１４Ａは、解析部１２Ａから入力された撮影画像
の画像情報に基づいて、解析部１２Ａから入力されたパターン情報が表す測定点または補
助点の位置座標を特定する。そして、算出部１４Ａは、特定した位置座標に基づいて、フ
ォーカスを調整するためのフォーカス調整値と、台形歪みを補正するための補正パラメー
ターとを算出する。算出部１４Ａは、算出したフォーカス調整値および補正パラメーター
を補正値情報として補正部１５に出力する。

ステップＳＴ２０５において、補正部１５は、入力される補正値情報に応じて投射状態
（台形歪み、フォーカス）を調整する。

このように、本実施形態によれば、プロジェクター１Ａは、明度値の異なる複数のパターンを投射する投射部１８と、投射部１８により投射された複数のパターンを撮影する撮像部１１と、撮像部１１により撮影された複数のパターンのいずれかに基づいて、投射部１８が投射するときの投射状態を調整する投射状態調整部（補正部１５）と、を備える。

これにより、プロジェクター１Ａは、撮影した明度値の異なる複数のパターンのいずれかを選択することで投射状態を短時間で調整することができるため、自動補正機能の処理時間を短縮できる。このため、プロジェクターを設置するときのユーザーの利便性を向上させることができる。

なお、上述した各実施形態において４つの測定パターン部を含むパターン画像を用いて説明したが、１つの測定パターン部のみを含むパターン画像を用いてもよいし、複数の測定パターン部を含むパターン画像を用いてもよい。また、複数の補助点を測定点の周囲に配置したが、複数の補助点を測定点の近傍に横一列や縦一列に配置してもよし、測定点の近傍に配置されればどのように配置されても構わない。また、測定パターン部に４つの補助点が含まれる場合を説明したが、１つの補助点のみが含まれてもよいし、２つ以上の補助点が含まれてもよい。
また、プロジェクター１、１Ａから斜め上向きに画像を投射する場合には、投射画像の下側が上側と比べて明るくなりやすい。このような場合には、投射画像の下側の測定点が飽和しやくなるため、下側の測定パターン部のみに補助点を配置してもよい。また、この逆で、プロジェクター１、１Ａから斜め下向きに画像を投射する場合には、投射画像の上側が下側と比べて明るくなりやすい。このような場合には、投射画像の上側の測定点が飽和しやすくなるため、上側の測定パターン部のみに補助点を配置してもよい。また、プロジェクター１、１Ａの投射画像において、明度値が高いところと、明度値が低いところの差異があることが想定できるとき、投射画像において明度値の高いところに配置する補助点の明度値と、明度値の低いところに配置する補助点の明度値と、で異なる明度値の補助点を配置してもよい。

なお、上述した各実施形態におけるプロジェクター１、１Ａの一部、または全部をコン
ピューターで実現するようにしても良い。その場合、この制御機能を実現するためのプロ
グラムをコンピューター読み取り可能な記憶媒体に記憶して、この記憶媒体に記憶された
プログラムをコンピューターシステムに読み込ませ、実行することによって実現しても良
い。

なお、ここでいう「コンピューターシステム」とは、プロジェクター１、１Ａに内蔵さ
れたコンピューターシステムであって、ＯＳや周辺機器などのハードウェアを含むものと
する。また、「コンピューター読み取り可能な記憶媒体」とは、フレキシブルディスク、
光磁気ディスク、ＲＯＭ、ＣＤ−ＲＯＭなどの可搬媒体、コンピューターシステムに内蔵
されるハードディスクなどの記憶装置のことをいう。さらに「コンピューター読み取り可
能な記憶媒体」とは、インターネットなどのネットワークや電話回線などの通信回線を介
してプログラムを送信する場合の通信線のように、短時間、動的にプログラムを保持する
もの、その場合のサーバーやクライアントとなるコンピューターシステム内部の揮発性メ
モリーのように、一定時間プログラムを保持しているものも含んでも良い。また上記プロ
グラムは、前述した機能の一部を実現するためのものであっても良く、さらに前述した機
能をコンピューターシステムにすでに記憶されているプログラムとの組み合わせで実現で
きるものであっても良い。

また、上述した実施形態におけるプロジェクター１、１Ａの一部、または全部を、ＬＳ
Ｉ（Ｌａｒｇｅ Ｓｃａｌｅ Ｉｎｔｅｇｒａｔｉｏｎ）などの集積回路として実現して
も良い。プロジェクター１、１Ａの各機能ブロックは個別にプロセッサー化してもよいし
、一部、または全部を集積してプロセッサー化しても良い。また、集積回路化の手法はＬ
ＳＩに限らず専用回路、または汎用プロセッサーで実現しても良い。また、半導体技術の
進歩によりＬＳＩに代替する集積回路化の技術が出現した場合、当該技術による集積回路
を用いても良い。

以上、図面を参照してこの発明の一実施形態について詳しく説明してきたが、具体的な
構成は上述のものに限られることはなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲内において様
々な設計変更などをすることが可能である。

ＳＰ・・・設置台、ＳＣ・・・投影面、１、１Ａ・・・プロジェクター、１１・・・撮像
部、１２、１２Ａ・・・解析部、１３・・・調整部、１４、１４Ａ・・・算出部、１５・
・・補正部、１６・・・パターン記憶部、１７・・・映像入力部、１８・・・投射部

Claims (9)

1. 明度値の異なる複数のパターンを投射する投射部と、
   前記投射部により投射された前記複数のパターンを撮影する撮像部と、
   前記撮像部により撮影された前記複数のパターンのうち、所定の範囲内の明度値で撮影されたパターンに基づいて、前記投射部が投射するときの投射状態を調整する投射状態調整部と、
   を備えること
   を特徴とするプロジェクター。
2. 前記投射状態調整部は、前記投射部が投射するときの台形歪みを補正すること
   を特徴とする請求項１に記載のプロジェクター。
3. 前記投射状態調整部は、前記投射部のフォーカス調整を行うこと
   を特徴とする請求項１または請求項２に記載のプロジェクター。
4. 前記撮像部により撮影された前記複数のパターンのいずれかに基づいて前記撮像部が撮影するときの撮影条件を調整する撮影条件調整部を備えること
   を特徴とする請求項１から請求項３のいずれか一項に記載のプロジェクター。
5. 前記撮影条件調整部は、前記撮像部の露出、および前記撮像部に備わるアナログデジタル変換回路のゲイン値の少なくとも一方を調整すること
   を特徴とする請求項４に記載のプロジェクター。
6. 測定パターンと、前記測定パターンよりも明度値が低い補助パターンとを含むパターン画像を投射する投射部と、
   前記投射部により投射された前記パターン画像を撮影する撮像部と、
   前記撮像部で撮影された前記測定パターンの明度値が飽和している場合に、明度値が飽和していない前記補助パターンの明度値に基づいて、前記撮像部の撮影条件を調整する撮影条件調整部と、
   前記撮影条件調整部によって調整された撮影条件で撮影された測定パターンに基づいて、前記投射部が投射するときの投射状態を調整する投射状態調整部と、
   を備えること
   を特徴とするプロジェクター。
7. 前記撮影条件調整部は、前記撮像部で撮影された前記測定パターンの明度値が飽和している場合に、明度値が飽和していない前記補助パターンのうち、最も明るい補助パターンの明度値に基づいて、前記撮像部の撮影条件を調整すること
   を特徴とする請求項６に記載のプロジェクター。
8. プロジェクターが明度値の異なる複数のパターンを投射する第１のステップと、
   投射された前記複数のパターンを撮影する第２のステップと、
   前記第２のステップにおいて撮影された前記複数のパターンのうち、所定の範囲内の明度値で撮影されたパターンに基づいて、前記プロジェクターの投射状態を調整する第３のステップと、
   を有すること
   を特徴とする調整方法。
9. プロジェクターが、測定パターンと、前記測定パターンよりも明度値が低い補助パターンとを含むパターン画像を投射する第１のステップと、
   投射された前記パターン画像を撮影する第２のステップと、
   撮影された前記測定パターンの明度値が飽和している場合に、明度値が飽和していない前記補助パターンの明度値に基づいて、撮影条件を調整する第３のステップと、
   調整された撮影条件で撮影された測定パターンに基づいて、前記プロジェクターの投射状態を調整する第４のステップと、
   を有すること
   を特徴とする調整方法。