JP6208843B1

JP6208843B1 - Solar cell panel inspection apparatus and solar cell panel inspection method

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Publication number: JP6208843B1
Application number: JP2016250931A
Authority: JP
Inventors: 和美高野; 千代美柴田; 祐介戸田
Original assignee: INTERNATIONAL TEST & ENGINEERING SERVICES CO., LTD.
Current assignee: INTERNATIONAL TEST & ENGINEERING SERVICES CO., LTD.
Priority date: 2016-12-26
Filing date: 2016-12-26
Publication date: 2017-10-04
Anticipated expiration: 2036-12-26
Also published as: JP2018105680A

Abstract

【課題】屋外等において迅速且つ簡便に利用できる太陽電池パネルのＥＬ検査装置を提供する。【解決手段】エレクトロルミネッセンス（ＥＬ）を利用した太陽電池パネルＭの検査装置１００であって、太陽電池パネルＭに交流を印加するための交流電力を発生する交流電源１０と、太陽電池パネルＭの表面を撮影するカメラ２０と、を備え、交流電力は、太陽電池パネルにＥＬ発光を誘起させる交流のインピーダンスが１ｋΩ以上となるように設定されている。【選択図】図１To provide an EL inspection apparatus for a solar cell panel that can be used quickly and easily outdoors. An inspection apparatus 100 for a solar cell panel M using electroluminescence (EL), an AC power source 10 for generating AC power for applying an AC current to the solar cell panel M, and a solar cell panel M The AC power is set so that the AC impedance for inducing EL light emission in the solar cell panel is 1 kΩ or more. [Selection] Figure 1

Description

本発明は、エレクトロルミネッセンス（ＥＬ）を利用した太陽電池パネルの検査装置、及び太陽電池パネルの検査方法に関する。 The present invention relates to a solar cell panel inspection apparatus and a solar cell panel inspection method using electroluminescence (EL).

近年、環境に配慮したクリーンなエネルギーへの関心の高まりから、エネルギー源が無尽蔵に存在する太陽光を利用した太陽光発電が注目されている。太陽光発電によって長期的に安定したエネルギーを供給するためには、発電に使用する太陽電池パネルに不具合が生じていないかを定期的に検査する必要がある。 In recent years, solar power generation using sunlight, which has an inexhaustible energy source, has attracted attention due to the growing interest in clean energy that is environmentally friendly. In order to supply long-term stable energy by solar power generation, it is necessary to periodically inspect the solar cell panel used for power generation for defects.

太陽電池パネルの検査では、通常、「クラック（マイクロクラックを含む）」や「断線」等の欠陥の有無の確認が行われる。太陽電池パネルにおける欠陥の有無の検査を行う方法の一つに、エレクトロルミネッセンス（ＥＬ）を利用したＥＬ検査法が知られている。一般に、半導体に所定のエネルギーを与えると、半導体中の励起された電子が基底状態に遷移する際に光が発生する。ここで、上記の所定のエネルギーを電気エネルギーによって与える方法をエレクトロルミネッセンス（ＥＬ）という。太陽電池パネルのＥＬ検査においては、半導体である太陽電池セルに禁制帯幅以上のエネルギーを持つ電流を印加すると、半導体中に電子と正孔が生成され、これらが再結合する際に発光する。このとき、半導体結晶中に欠陥や不純物が存在すると、これらの欠陥等は電気エネルギーを与えたときに形成される電子と正孔との再結合過程に影響を及ぼし、半導体結晶は正常な結晶よりも小さい強度のエネルギーの光（ＥＬ光）を放出する。この現象を利用し、ＥＬ発光によって得られた情報から太陽電池パネルの欠陥を検知することができる。 In the inspection of the solar cell panel, the presence or absence of defects such as “cracks (including microcracks)” and “disconnection” is usually confirmed. An EL inspection method using electroluminescence (EL) is known as one of methods for inspecting the presence or absence of defects in a solar cell panel. In general, when predetermined energy is given to a semiconductor, light is generated when excited electrons in the semiconductor transition to a ground state. Here, the method of applying the predetermined energy by electric energy is referred to as electroluminescence (EL). In an EL inspection of a solar battery panel, when a current having energy larger than the forbidden band width is applied to a solar battery cell that is a semiconductor, electrons and holes are generated in the semiconductor, and light is emitted when they are recombined. At this time, if there are defects or impurities in the semiconductor crystal, these defects affect the recombination process of electrons and holes formed when electric energy is applied, and the semiconductor crystal is more than a normal crystal. Also emits light (EL light) with low intensity energy. Using this phenomenon, it is possible to detect defects in the solar cell panel from information obtained by EL emission.

通常、太陽電池パネルは、太陽光を効率よく利用するために陰の影響の少ない場所に設置される。例えば、建物に太陽電池パネルを設置する場合、屋上等の高所に設置される。また、自動車等の乗り物に太陽電池パネルを設置する場合は、ルーフやボンネットの上に設置される。太陽電池パネルは、一度設置されると取り外すことが想定されていないため、現場で迅速且つ簡便に検査を行えることが望まれている。 Usually, a solar cell panel is installed in a place with little influence of shade in order to use sunlight efficiently. For example, when installing a solar cell panel in a building, it is installed at a high place such as a rooftop. Moreover, when installing a solar cell panel in vehicles, such as a motor vehicle, it installs on a roof or a bonnet. Since the solar cell panel is not supposed to be removed once installed, it is desired that the solar cell panel can be inspected quickly and easily on site.

これまで、本出願人は、太陽電池パネルの検査装置として、撮影画像の補正機能を備えたＥＬ検査装置を開発した（例えば、特許文献１を参照）。特許文献１の太陽電池パネルの検査装置は、主に最近の大型化した太陽電池パネルを検査するために開発したものであり、そのための構成として、太陽電池パネルにＥＬ発光を誘起させる直流電源と、太陽電池パネルの検査面全体を一括撮影可能な短焦点広角レンズを有するカメラとを備えている。 So far, the present applicant has developed an EL inspection device having a function of correcting a photographed image as a solar cell panel inspection device (see, for example, Patent Document 1). The solar cell panel inspection apparatus of Patent Document 1 was developed mainly for inspecting recent large-sized solar cell panels, and as a configuration therefor, a DC power source that induces EL emission in the solar cell panel and And a camera having a short-focus wide-angle lens capable of collectively photographing the entire inspection surface of the solar battery panel.

国際公開第２０１１／１５２４４５号International Publication No. 2011/152445

特許文献１の太陽電池パネルのＥＬ検査装置は、太陽電池パネルをインライン方式で連続的に検査することを想定したものである。すなわち、この検査装置は、出荷前の太陽電池パネルを暗室内でＥＬ方式により連続検査するものである。そのため、ＥＬ検査を行うにあたって、太陽電池パネルの欠陥を高精度で発見できるように、強力なＥＬ発光が誘起される検査条件が望ましい。また、特許文献１のように、検査室で太陽電池パネルの検査を行う場合、事前に検査環境を整えることができるため、検査を実施する際に設備面で制約を受けることは少ない。ちなみに、特許文献１では、検査対象の太陽電池パネルにＥＬ発光を誘起させるための電源として直流電源が使用されており、これはＥＬ検査装置の専用設備として設けられるものである。 The EL inspection apparatus for solar cell panels of Patent Document 1 assumes that solar cell panels are continuously inspected by an in-line method. That is, this inspection apparatus continuously inspects the solar cell panel before shipment in the dark room by the EL method. Therefore, when performing EL inspection, inspection conditions under which strong EL emission is induced are desirable so that defects of the solar cell panel can be found with high accuracy. Further, as in Patent Document 1, when a solar cell panel is inspected in an inspection room, an inspection environment can be prepared in advance, so that there are few restrictions on equipment when performing the inspection. Incidentally, in Patent Document 1, a DC power source is used as a power source for inducing EL emission in a solar cell panel to be inspected, and this is provided as a dedicated facility for an EL inspection apparatus.

これに対し、屋外に既に設置されている太陽電池パネルの検査では、出荷前の製品の検査程の高精度の検査は必要でない場合もあり、むしろ、迅速且つ簡便に検査を実施できることが求められている。しかしながら、屋外の太陽電池パネルの検査は、常に同じ条件や環境で実施できるわけではなく、インフラが整備されていない環境や、過酷な状況下での検査が強いられることもある。とりわけ、ＥＬ方式による検査では、現場において電源等の検査に必要な設備の確保が重要課題となっており、どのような状況でも迅速且つ簡便に利用できるＥＬ検査装置が望まれている。 On the other hand, in the inspection of solar cell panels that are already installed outdoors, high-accuracy inspection as inspecting products before shipment may not be necessary, but rather, it is required that inspection can be performed quickly and easily. ing. However, inspection of outdoor solar cell panels cannot always be performed under the same conditions and environment, and may be forced to be performed in environments where infrastructure is not established or in harsh conditions. In particular, in the inspection by the EL method, it is important to secure facilities necessary for the inspection of the power source and the like at the site, and an EL inspection apparatus that can be used quickly and easily in any situation is desired.

本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、屋外等において迅速且つ簡便に利用できる太陽電池パネルのＥＬ検査装置、及び太陽電池パネルのＥＬ検査方法を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above problems, and an object thereof is to provide a solar cell panel EL inspection apparatus and a solar cell panel EL inspection method that can be used quickly and easily outdoors.

上記課題を解決するための本発明に係る太陽電池パネルの検査装置の特徴構成は、
エレクトロルミネッセンス（ＥＬ）を利用した太陽電池パネルの検査装置であって、
前記太陽電池パネルに交流を印加するための交流電力を発生する交流電源と、
前記太陽電池パネルの表面を撮影するカメラと、
を備え、
前記交流電力は、前記太陽電池パネルにＥＬ発光を誘起させる交流のインピーダンスが１ｋΩ以上となるように設定されていることにある。 The characteristic configuration of the inspection apparatus for solar cell panel according to the present invention for solving the above problems is as follows.
An inspection device for a solar cell panel using electroluminescence (EL),
An AC power source for generating AC power for applying AC to the solar cell panel;
A camera for photographing the surface of the solar cell panel;
With
The AC power is set such that an AC impedance for inducing EL emission in the solar cell panel is 1 kΩ or more.

太陽電池パネルは、それ自体が半導体製品であり、特定の方向の電流のみが通過できるように構成されている。また、太陽電池パネルには、異常時に発生し得る発熱等を防止するため、バイパスダイオードが接続されている。通常、バイパスダイオードには電流は流れないが、例えば、太陽電池パネルのバスバーのハンダ付けがはがれるなどして高抵抗化すると、電流はインターコネクタからバイパスダイオード回路の方に迂回し、太陽電池パネルの配線の過熱が防止されるようになっている。
本構成の太陽電池パネルの検査装置によれば、太陽電池パネルに交流を印加して検査を行うものであるため、交流電源として商用電源を利用することができる。その際に交流電源が発生する交流電力は、太陽電池パネルにＥＬ発光を誘起させる交流のインピーダンスが１ｋΩ以上となるように設定されているため、特定の方向に流れる電流によって太陽電池パネルの検査に必要な程度のＥＬ発光を誘起させることができる。このような商用電源を利用できる本構成の太陽電池パネルの検査装置は、利便性に優れているため、屋外に既に設置されている太陽電池パネルについて、迅速且つ簡便に検査を行うことができる。 The solar cell panel itself is a semiconductor product, and is configured to allow only a current in a specific direction to pass therethrough. In addition, a bypass diode is connected to the solar cell panel in order to prevent heat generation or the like that may occur at the time of abnormality. Normally, no current flows through the bypass diode, but when the resistance of the solar panel bus bar is removed, for example, by increasing the resistance, the current is diverted from the interconnector to the bypass diode circuit, and the solar panel's Wiring is prevented from overheating.
According to the solar cell panel inspection apparatus of this configuration, since an inspection is performed by applying an alternating current to the solar cell panel, a commercial power source can be used as an AC power source. In this case, the AC power generated by the AC power source is set so that the AC impedance for inducing EL light emission in the solar cell panel is 1 kΩ or more. Therefore, the current flowing in a specific direction is used to inspect the solar cell panel. Necessary degree of EL emission can be induced. Since the solar cell panel inspection apparatus of the present configuration that can use such a commercial power supply is excellent in convenience, it can quickly and easily inspect solar cell panels that are already installed outdoors.

本発明に係る太陽電池パネルの検査装置において、
前記交流のインピーダンスが３ｋΩ以上となるように設定されていることが好ましい。 In the solar cell panel inspection apparatus according to the present invention,
It is preferable that the AC impedance is set to be 3 kΩ or more.

本構成の太陽電池パネルの検査装置によれば、太陽電池パネルにＥＬ発光を誘起させる交流のインピーダンスが３ｋΩ以上となるように設定されているため、発電回路に逆向きの半波が流れることが確実に防止しつつ、特定の方向に流れる電流によって太陽電池パネルの検査に十分なＥＬ発光を誘起させることができる。 According to the solar cell panel inspection apparatus of this configuration, since the impedance of alternating current that induces EL emission in the solar cell panel is set to be 3 kΩ or more, a reverse half wave may flow in the power generation circuit. While preventing reliably, EL light emission sufficient for the inspection of a solar cell panel can be induced by a current flowing in a specific direction.

本発明に係る太陽電池パネルの検査装置において、
前記交流電源は、出力が１００Ｖ又は２００Ｖの交流電力を発生する交流発電機であることが好ましい。 In the solar cell panel inspection apparatus according to the present invention,
The AC power supply is preferably an AC generator that generates AC power with an output of 100V or 200V.

本構成の太陽電池パネルの検査装置によれば、交流電源として出力が１００Ｖ又は２００Ｖの交流電力を発生する交流発電機を用いることで、一般家庭用の電源（商用電源）と同じ電力が供給可能となる。従って、通常のコンセントがあれば、どのような場所であっても、迅速且つ簡便に検査を行うことができる。 According to the solar cell panel inspection apparatus of this configuration, the same power as a general household power supply (commercial power supply) can be supplied by using an AC generator that generates 100V or 200V AC power as the AC power supply. It becomes. Therefore, if there is a normal outlet, the inspection can be performed quickly and easily at any place.

本発明に係る太陽電池パネルの検査装置において、
順方向の電流を通過させる第一ＬＥＤと、逆方向の電流を通過させる第二ＬＥＤとが並列に接続されてなる回路検査部をさらに備え、
前記太陽電池パネルの検査時において、前記交流電源と前記回路検査部との間に検査対象の太陽電池パネルを配置するように構成されていることが好ましい。 In the solar cell panel inspection apparatus according to the present invention,
The circuit further comprises a circuit inspection unit in which a first LED that passes a forward current and a second LED that passes a reverse current are connected in parallel.
It is preferable that the solar cell panel to be inspected is arranged between the AC power supply and the circuit inspection unit during the inspection of the solar cell panel.

本構成の太陽電池パネルの検査装置によれば、順方向の電流を通過させる第一ＬＥＤと、逆方向の電流を通過させる第二ＬＥＤとが並列に接続されてなる回路検査部を使用し、交流電源と回路検査部との間に検査対象の太陽電池パネルを配置することで、太陽電池パネルの状態（正常／故障）が第一ＬＥＤ及び第二ＬＥＤの点灯状態に反映されるため、異常発生箇所を特定することができ、その結果、迅速且つ簡便に検査できることに加えて、より正確な検査結果を得ることができる。 According to the inspection device of the solar cell panel of this configuration, a circuit inspection unit is used in which a first LED that passes a forward current and a second LED that passes a reverse current are connected in parallel. By placing the solar cell panel to be inspected between the AC power supply and the circuit inspection unit, the state (normal / failure) of the solar cell panel is reflected in the lighting state of the first LED and the second LED. The occurrence location can be specified, and as a result, in addition to being able to inspect quickly and easily, a more accurate inspection result can be obtained.

本発明に係る太陽電池パネルの検査装置において、
前記太陽電池パネルは、太陽電池セルが複数接続された太陽電池モジュールであることが好ましい。 In the solar cell panel inspection apparatus according to the present invention,
The solar cell panel is preferably a solar cell module in which a plurality of solar cells are connected.

本構成の太陽電池パネルの検査装置によれば、通常、太陽電池パネルは複数のセルが接続された太陽電池モジュールとして製品化されているため、販売されている殆どのタイプの太陽電池パネルについて検査を行うことができる。 According to the solar cell panel inspection apparatus of this configuration, since the solar cell panel is usually commercialized as a solar cell module to which a plurality of cells are connected, it is possible to inspect most types of solar cell panels that are sold. It can be performed.

本発明に係る太陽電池パネルの検査装置において、
前記太陽電池パネルは、単結晶シリコン型太陽電池、多結晶シリコン型太陽電池、又はＣＩＧＳ｛銅（Ｃｏｐｐｅｒ）−インジウム（Ｉｎｄｉｕｍ）−ガリウム（Ｇａｌｌｉｕｍ）−セレン（Ｓｅｌｅｎｉｕｍ）｝系化合物太陽電池であることが好ましい。 In the solar cell panel inspection apparatus according to the present invention,
The solar cell panel is a single crystal silicon solar cell, a polycrystalline silicon solar cell, or a CIGS {copper-indium-gallium-selenium} -based compound solar cell. Is preferred.

本構成の太陽電池パネルの検査装置によれば、上述の各種タイプの太陽電池パネルの検査に対応することができる。 According to the solar cell panel inspection apparatus of this configuration, it is possible to cope with the inspection of the various types of solar cell panels described above.

上記課題を解決するための本発明に係る太陽電池パネルの検査方法の特徴構成は、
エレクトロルミネッセンス（ＥＬ）を利用した太陽電池パネルの検査方法であって、
前記太陽電池パネルに交流を印加する電流印加工程と、
前記太陽電池パネルの表面を撮影する撮影工程と、
を備え、
前記電流印加工程において、前記太陽電池パネルにＥＬ発光を誘起させる交流のインピーダンスを１ｋΩ以上に設定することにある。 The characteristic configuration of the method for inspecting a solar cell panel according to the present invention for solving the above problems is as follows.
A method for inspecting a solar cell panel using electroluminescence (EL),
A current application step of applying alternating current to the solar cell panel;
A photographing step of photographing the surface of the solar cell panel;
With
In the current application step, an AC impedance for inducing EL emission in the solar cell panel is set to 1 kΩ or more.

本構成の太陽電池パネルの検査方法によれば、上述の太陽電池パネルの検査装置と同様の優れた作用効果を奏することができる。すなわち、太陽電池パネルに交流を印加する際、そのインピーダンスが１ｋΩ以上となるように設定されているため、特定の方向に流れる電流によって太陽電池パネルの検査に必要な程度のＥＬ発光を誘起させることができる。そして、このような検査方法によれば、商用の電源を利用できるため、利便性に優れており、屋外に既に設置されている太陽電池パネルについて、迅速且つ簡便に検査を行うことができる。 According to the method for inspecting a solar cell panel of this configuration, the same excellent operational effects as those of the above-described solar cell panel inspection device can be achieved. That is, when an alternating current is applied to the solar cell panel, the impedance is set to be 1 kΩ or more, so that the EL light emission necessary for the inspection of the solar cell panel is induced by the current flowing in a specific direction. Can do. And according to such a test | inspection method, since a commercial power source can be utilized, it is excellent in convenience and can test | inspect quickly and simply about the solar cell panel already installed outdoors.

図１は、本発明の第一実施形態に係る太陽電池パネルの検査装置の説明図である。FIG. 1 is an explanatory diagram of a solar cell panel inspection apparatus according to a first embodiment of the present invention. 図２は、太陽電池パネルに関する説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram relating to the solar cell panel. 図３は、太陽電池パネルの検査に関する説明図である。FIG. 3 is an explanatory diagram regarding inspection of a solar cell panel. 図４は、各種の太陽電池パネルに交流を印加したときに計測されるインピーダンスと周波数との関係を示すグラフである。FIG. 4 is a graph showing the relationship between impedance and frequency measured when alternating current is applied to various types of solar cell panels. 図５は、本発明の第二実施形態に係る太陽電池パネルの検査装置の説明図である。FIG. 5 is an explanatory diagram of a solar cell panel inspection apparatus according to the second embodiment of the present invention.

以下、本発明の太陽電池パネルの検査装置に関する実施形態を、図１〜図５に基づいて説明する。本発明の太陽電池パネルの検査方法については、太陽電池パネルの検査装置の中であわせて説明する。ただし、本発明は、以下に説明する実施形態や図面に記載される構成に限定されることを意図しない。 DESCRIPTION OF EMBODIMENTS Hereinafter, embodiments relating to a solar cell panel inspection apparatus of the present invention will be described with reference to FIGS. The solar cell panel inspection method of the present invention will be described in the solar cell panel inspection apparatus. However, the present invention is not intended to be limited to the configurations described in the embodiments and drawings described below.

［第一実施形態］
図１は、本発明の第一実施形態に係る太陽電池パネルの検査装置（以下、単に「検査装置」と称する。）１００の説明図である。検査装置１００は、半導体に電気エネルギーを付与したときに発生するエレクトロルミネッセンス（ＥＬ）を利用して太陽電池パネルＭを検査するものである。太陽電池パネルＭは、一般に、太陽電池セルＳが複数接続された太陽電池モジュールとして構成される。本発明の検査装置１００は、例えば、４８〜７２枚の太陽電池セルが直列に接続された太陽電池モジュールとしての太陽電池パネルの検査に使用可能であるが、特に、６０枚又は７２枚の太陽電池セルからなる太陽電池パネルの検査に好適である。検査対象の太陽電池パネルＭとしては、例えば、単結晶シリコン型太陽電池、多結晶シリコン型太陽電池、ＣＩＧＳ｛銅（Ｃｏｐｐｅｒ）−インジウム（Ｉｎｄｉｕｍ）−ガリウム（Ｇａｌｌｉｕｍ）−セレン（Ｓｅｌｅｎｉｕｍ）｝系化合物太陽電池等が挙げられる。 [First embodiment]
FIG. 1 is an explanatory view of a solar cell panel inspection apparatus (hereinafter simply referred to as “inspection apparatus”) 100 according to a first embodiment of the present invention. The inspection apparatus 100 inspects the solar cell panel M using electroluminescence (EL) generated when electric energy is applied to a semiconductor. The solar cell panel M is generally configured as a solar cell module in which a plurality of solar cells S are connected. The inspection apparatus 100 of the present invention can be used for, for example, inspection of a solar battery panel as a solar battery module in which 48 to 72 solar battery cells are connected in series. In particular, 60 or 72 solar batteries are used. It is suitable for inspection of a solar battery panel composed of battery cells. As the solar cell panel M to be inspected, for example, a single crystal silicon type solar cell, a polycrystalline silicon type solar cell, CIGS {copper (copper) -indium (indium) -gallium (gallium) -selenium (Selenium)} compound A solar cell etc. are mentioned.

本発明の検査装置１００は、太陽電池パネルＭに交流を印加するための交流電力を発生する交流電源１０と、太陽電池パネルＭの表面を撮影するカメラ２０とを備える。交流電源１０により、太陽電池パネルに交流を印加する電流印加工程が実施され、カメラ２０により、太陽電池パネルの表面を撮影する撮影工程が実施される。 The inspection apparatus 100 of the present invention includes an AC power supply 10 that generates AC power for applying AC to the solar cell panel M, and a camera 20 that photographs the surface of the solar cell panel M. A current application step of applying alternating current to the solar cell panel is performed by the AC power source 10, and a photographing step of photographing the surface of the solar cell panel is performed by the camera 20.

本発明の検査装置１００は、上述の特許文献１に例示される従来のＥＬ検査装置とは異なり、電源に交流電源１０を使用することに大きな特徴がある。交流電源１０としては、商用電源の他に、交流発電機を使用することが可能である。交流発電機の種類や性能等については特に限定されないが、汎用性、コスト、入手可能性の点において、出力が１００Ｖ又は２００Ｖの交流電力を発生する交流発電機が好ましい。このような交流発電機であれば、商用電源と同じ交流電力（５０Ｈｚ又は６０Ｈｚ）を発生することができる。すなわち、交流発電機を用いることで、一般家庭用の電源（商用電源）と同じ電力が供給可能となるため、通常のコンセントがあれば、どのような場所であっても、迅速且つ簡便に太陽電池パネルＭの検査を行うことができる。 Unlike the conventional EL inspection apparatus exemplified in Patent Document 1 described above, the inspection apparatus 100 of the present invention is characterized by using an AC power supply 10 as a power source. As the AC power source 10, an AC generator can be used in addition to the commercial power source. The type, performance, and the like of the AC generator are not particularly limited, but an AC generator that generates AC power with an output of 100 V or 200 V is preferable in terms of versatility, cost, and availability. With such an AC generator, the same AC power (50 Hz or 60 Hz) as that of the commercial power source can be generated. That is, by using an alternator, the same power as a general household power supply (commercial power supply) can be supplied. Therefore, if there is a normal outlet, the solar power can be quickly and easily provided at any location. The battery panel M can be inspected.

ここで、太陽電池パネルＭのＥＬ検査を実施するにあたり、検査に必要な程度のＥＬ発光を太陽電池パネルＭに誘起させるためには、検査対象の太陽電池パネルＭに応じて、交流電源１０から太陽電池パネルＭに印加する交流の周波数とインピーダンスとの関係を把握しておく必要がある。そこで、上記関係について、以下の考察を行った。 Here, in order to induce the EL light emission to the extent necessary for the inspection when the EL inspection of the solar cell panel M is performed, the AC power supply 10 depends on the solar cell panel M to be inspected. It is necessary to grasp the relationship between the frequency of alternating current applied to the solar cell panel M and the impedance. Therefore, the following consideration was made on the above relationship.

図２は、太陽電池パネルＭに関する説明図である。図２（ａ）は、太陽電池パネルＭの概略構成図である。上述のように、太陽電池パネルＭは複数のセルＳが直列に接続された太陽電池モジュールとして構成され、太陽電池パネルＭどうしも所望の枚数が直列に接続される。図２（ａ）では４枚の太陽電池パネルＭを例示している。夫々の太陽電池パネルＭを構成するセルＳは、負の電荷を有する電子を多く含むｎ型半導体と、正の電荷を有するホールを多く含むｐ型半導体とが接合されたものである。ホールがｎ型半導体に入ると電子と結合する。これと同様に、電子がｐ型半導体に入るとホールと結合する。このように、ｎ型半導体とｐ型半導体とが接合した際、接合面では電子もホールもない空乏層と呼ばれる領域が形成される。この空乏層には電界が生じており、空乏層に太陽光が入射すると光が半導体に吸収されて電子とホールが生じ、これらが電界で押し出されることにより外部回路へ電流として流れる。この一連の仕組みが発電である。太陽電池パネルＭで生成された電流は直流であり、電気として利用するためには交流に変換する必要がある。図２（ａ）に示すように、太陽電池パネルＭの各配線は接続箱１に集約されており、接続箱１はさらにパワーコンディショナー２に接続されている。太陽電池パネルＭで発電された直流は、パワーコンディショナー２によって交流に変換され、工場、オフィス、住居等で電力として利用される。 FIG. 2 is an explanatory diagram relating to the solar cell panel M. FIG. FIG. 2A is a schematic configuration diagram of the solar cell panel M. FIG. As described above, the solar cell panel M is configured as a solar cell module in which a plurality of cells S are connected in series, and a desired number of solar cell panels M are connected in series. FIG. 2A illustrates four solar cell panels M. Each cell S constituting each solar cell panel M is formed by joining an n-type semiconductor containing many negatively charged electrons and a p-type semiconductor containing many positively charged holes. When holes enter the n-type semiconductor, they combine with electrons. Similarly, when electrons enter the p-type semiconductor, they combine with holes. Thus, when the n-type semiconductor and the p-type semiconductor are joined, a region called a depletion layer having no electrons or holes is formed on the joint surface. An electric field is generated in the depletion layer. When sunlight enters the depletion layer, the light is absorbed by the semiconductor to generate electrons and holes, which are pushed out by the electric field and flow as current to the external circuit. This series of mechanisms is power generation. The current generated by the solar cell panel M is a direct current, and it is necessary to convert it into an alternating current in order to use it as electricity. As shown in FIG. 2A, each wiring of the solar cell panel M is concentrated in the connection box 1, and the connection box 1 is further connected to the power conditioner 2. The direct current generated by the solar cell panel M is converted into alternating current by the power conditioner 2 and used as power in factories, offices, residences, and the like.

図２（ｂ）は、太陽電池パネルＭを構成する１枚のセルＳにおける等価回路図である。太陽電池パネルＭ全体の構成は上記のとおりであるが、電気回路図で考えた場合、太陽電池パネルＭを構成する１枚のセルＳは、図２（ｂ）に示すように定電流源（Ｉ成分）、並列ダイオード（Ｄ成分）、直列抵抗（Ｒｓ成分）、及び並列抵抗（Ｒｓｈ成分）の組み合わせで表すことができる。太陽電池パネルＭはセルＳを直列に接続したモジュール構造をしているが、図２（ｂ）に示す等価回路がセルＳの枚数だけ直列に接続したものと考えることができる。従って、太陽電池モジュールの等価回路図は、直列抵抗等の各成分の値は変わるものの、セルＳが１枚のときと同様に図２（ｂ）の等価回路図として表すことができる。 FIG. 2B is an equivalent circuit diagram of one cell S constituting the solar battery panel M. The configuration of the entire solar cell panel M is as described above. However, when considered in terms of an electric circuit diagram, one cell S constituting the solar cell panel M has a constant current source (as shown in FIG. 2B). I component), parallel diode (D component), series resistance (Rs component), and parallel resistance (Rsh component). Although the solar cell panel M has a module structure in which the cells S are connected in series, it can be considered that the equivalent circuit shown in FIG. Accordingly, the equivalent circuit diagram of the solar cell module can be expressed as the equivalent circuit diagram of FIG. 2B, as in the case of one cell S, although the values of the components such as the series resistance change.

図３は、太陽電池パネルＭの検査に関する説明図である。図３（ａ）は、太陽電池パネルＭに交流を印加したときの交流波の流れを示す図である。図３（ｂ）は、図３（ａ）から導かれる実質的な等価回路図である。上記のとおり、セルＳ内には空乏層が形成され電界が生じている。ここに交流を印加すると、交流波は空乏層を電荷が蓄えられるコンデンサとして捉えるため、図３（ａ）に示すように、等価回路図には容量性リアクタンス（Ｃ成分）を表記することができる。そして、図３（ａ）中の矢印で示すように、交流波は並列抵抗（Ｒｓｈ成分）を通らず、電気容量の大きいコンデンサを通る。つまり、太陽電池パネルＭの発電回路は、一種のダイオードとして機能し、図３（ａ）において、実線で示してある部分の誘導性リアクタンス（Ｌ成分）、直列抵抗（Ｒｓ成分）、及び容量性リアクタンス（Ｃ成分）を通ることとなる。従って、図３（ｂ）に示すように、太陽電池パネルＭに交流波を入力した場合の等価回路図は、実質的には直列抵抗（Ｒｓ成分）と誘導性リアクタンス（Ｌ成分）と容量性リアクタンス（Ｃ成分）とで表される等価回路図となる。 FIG. 3 is an explanatory diagram relating to the inspection of the solar cell panel M. FIG. FIG. 3A is a diagram showing the flow of alternating current waves when alternating current is applied to the solar cell panel M. FIG. FIG. 3B is a substantial equivalent circuit diagram derived from FIG. As described above, a depletion layer is formed in the cell S and an electric field is generated. When alternating current is applied here, the alternating current wave captures the depletion layer as a capacitor that can store electric charge, so that capacitive reactance (C component) can be expressed in the equivalent circuit diagram as shown in FIG. . And as shown by the arrow in Fig.3 (a), an alternating current wave does not pass parallel resistance (Rsh component), but passes a capacitor | condenser with a large electrical capacitance. That is, the power generation circuit of the solar cell panel M functions as a kind of diode, and in FIG. 3A, the inductive reactance (L component), series resistance (Rs component), and capacitive part shown by the solid line in FIG. It will pass through the reactance (C component). Therefore, as shown in FIG. 3B, the equivalent circuit diagram when an AC wave is input to the solar panel M is substantially a series resistance (Rs component), an inductive reactance (L component), and a capacitive property. This is an equivalent circuit diagram represented by reactance (C component).

図３（ｂ）のような等価回路図で表されるとき、Ｚをインピーダンス（Ω）、Ｒを抵抗（Ω）、ωを角周波数（ｒａｄ／ｓ）とすると、次の式（１）が成り立つ。 When expressed as an equivalent circuit diagram as shown in FIG. 3B, when Z is impedance (Ω), R is resistance (Ω), and ω is angular frequency (rad / s), the following equation (1) is obtained. It holds.

式（１）において、角周波数ωは次の式（２）を意味する。 In the formula (1), the angular frequency ω means the following formula (2).

式（１）において、インピーダンスＺが一定以上であれば、太陽電池パネルＭの発電回路にバイアス電流（逆向きの半波）が流れず、特定の方向に流れる電流（順方向の半波）によって太陽電池パネルＭの検査に十分なＥＬ発光を誘起させることができる。そのためには、ω（すなわち、周波数ｆ）の値を太陽電池パネルＭの種類に応じて適切に選択する必要がある。そこで、交流の周波数ｆを変更しながら式（１）及び式（２）により各種太陽電池パネルＭのインピーダンスＺを計測し、太陽電池パネルＭに印加する交流の周波数ｆとインピーダンスＺとの関係を明らかにした。 In equation (1), if the impedance Z is equal to or greater than a certain value, the bias current (reverse half wave) does not flow in the power generation circuit of the solar panel M, but the current flowing in a specific direction (forward half wave) EL light emission sufficient for the inspection of the solar cell panel M can be induced. For this purpose, the value of ω (that is, frequency f) needs to be appropriately selected according to the type of solar cell panel M. Therefore, the impedance Z of various solar cell panels M is measured by the equations (1) and (2) while changing the AC frequency f, and the relationship between the AC frequency f and the impedance Z applied to the solar cell panel M is determined. Revealed.

図４は、各種の太陽電池パネルに交流を印加したときに計測されるインピーダンスＺと周波数ｆとの関係を示すグラフである。図４では、（ａ）単結晶シリコン型太陽電池（６インチ、６０セル）、（ｂ）多結晶シリコン型太陽電池（６インチ、６０セル）、（ｃ）薄膜型ＣＩＧＳ系化合物太陽電池（ソーラーフロンティア株式会社製太陽電池モジュール製品名：ＳＦ１４５−Ｋ）について、夫々の太陽電池パネルに印加する交流の周波数ｆを４２Ｈｚから５ＭＨｚまで変化させたときに計測されるインピーダンスＺを示してある。（ａ）単結晶シリコン型太陽電池においては、交流の周波数が１０００Ｈｚ以下であれば、交流のインピーダンスが１ｋΩ以上となった。この場合、太陽電池パネルＭに検査に必要な程度のＥＬ発光が誘起され、確実にＥＬ検査を実施することができる。同様に、（ｂ）多結晶シリコン型太陽電池においては、交流の周波数が１０００Ｈｚ以下であることが望ましく、（ｃ）薄膜型ＣＩＧＳ系化合物太陽電池においては、交流の周波数が２００００Ｈｚ以下であることが望ましいことが判明した。なお、太陽電池パネルＭの種類に関わらず、確実にＥＬ検査を実施するためには、交流電源１０から発生させる交流電力において、交流のインピーダンスが３ｋΩ以上となるように設定されていることが好ましい。この場合、太陽電池パネルＭの発電回路に逆向きの半波が流れることが確実に防止され、特定の方向に流れる電流によって太陽電池パネルＭの検査に十分なＥＬ発光を誘起させることができる。 FIG. 4 is a graph showing the relationship between impedance Z and frequency f measured when alternating current is applied to various solar cell panels. In FIG. 4, (a) a single crystal silicon solar cell (6 inches, 60 cells), (b) a polycrystalline silicon solar cell (6 inches, 60 cells), (c) a thin film CIGS compound solar cell (solar Frontier Corporation solar cell module Product name: SF145-K) shows the impedance Z measured when the frequency f of alternating current applied to each solar cell panel is changed from 42 Hz to 5 MHz. (A) In the single crystal silicon type solar cell, when the AC frequency was 1000 Hz or less, the AC impedance was 1 kΩ or more. In this case, EL light emission required for the inspection is induced in the solar cell panel M, and the EL inspection can be surely performed. Similarly, in (b) a polycrystalline silicon type solar cell, the AC frequency is desirably 1000 Hz or less, and (c) in a thin film type CIGS compound solar cell, the AC frequency may be 20000 Hz or less. It turns out to be desirable. Regardless of the type of solar cell panel M, in order to perform the EL inspection with certainty, the AC power generated from the AC power supply 10 is preferably set so that the AC impedance is 3 kΩ or more. . In this case, it is possible to reliably prevent a reverse half wave from flowing through the power generation circuit of the solar cell panel M, and it is possible to induce EL emission sufficient for the inspection of the solar cell panel M by a current flowing in a specific direction.

交流電源１０によって交流が印加された太陽電池パネルＭは、図１に示すように、カメラ２０を用いて検査面のＥＬ発光状態が撮影される。なお、図１では、紙面の関係でカメラ２０は太陽電池パネルＭの側方に配置されているように描かれているが、実際にはカメラ２０は太陽電池パネルＭの正面に配置され、正面から太陽電池パネルＭの表面全体を撮影可能である。カメラ２０で撮影された太陽電池パネルＭのＥＬ発光画像は、予め撮影しておいた正常な太陽電池パネルＭのＥＬ発光画像と比較することで、クラックや断線等の欠陥を認識することができる。 As shown in FIG. 1, the solar cell panel M to which alternating current is applied by the alternating current power supply 10 is photographed for the EL emission state of the inspection surface using the camera 20. In FIG. 1, the camera 20 is depicted as being disposed on the side of the solar cell panel M due to the space on the paper, but in reality, the camera 20 is disposed on the front surface of the solar cell panel M. The whole surface of the solar cell panel M can be photographed. By comparing the EL emission image of the solar panel M taken with the camera 20 with the EL emission image of the normal solar panel M taken in advance, defects such as cracks and disconnections can be recognized. .

カメラ２０は、ＥＬ発光の波長に感度を有するものであれば特に限定されないが、ＣＣＤセンサやＣＭＯＳセンサ等の受光素子を搭載したデジタルカメラを好適に利用することができる。カメラ２０による太陽電池パネルＭの撮影は、通常、検査員がカメラ２０のシャッターを直接操作することにより実施されるが、カメラ２０を無線ＬＡＮやＩＥＥＥ８０２．１５．１（いわゆる、Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ（登録商標））を介して携帯情報通信機器（スマートホン、タブレット端末等）と同期させ、当該携帯情報通信機器によってシャッター操作を行うことも可能である。また、検査対象の太陽電池パネル２０が高所にある場合など、撮影環境が厳しい場合は、カメラ２０を小型無人航空機（ドローン等）に搭載し、携帯情報通信機器とあわせて遠隔でシャッター操作を行うことも可能である。 The camera 20 is not particularly limited as long as it has sensitivity to the EL emission wavelength, but a digital camera equipped with a light receiving element such as a CCD sensor or a CMOS sensor can be preferably used. The photographing of the solar battery panel M by the camera 20 is usually performed by an inspector directly operating the shutter of the camera 20, but the camera 20 is connected to a wireless LAN or IEEE 802.15.1 (so-called Bluetooth (registered trademark)). ) Through a portable information communication device (smart phone, tablet terminal, etc.), and the shutter operation can be performed by the portable information communication device. In addition, when the shooting environment is severe, such as when the solar cell panel 20 to be inspected is at a high place, the camera 20 is mounted on a small unmanned aircraft (such as a drone), and the shutter operation is performed remotely together with a portable information communication device. It is also possible to do this.

カメラ２０は、画像処理機能を備えるものであってもよい。例えば、カメラ２０で撮影された画像からノイズを含むバックグラウンド画像を差し引くことにより、ノイズが低減されたＥＬ発光画像に加工することができる。このように、撮影された画像に対して適切な処理を施すことによって、太陽電池パネルＭの検査面の欠陥の判定に利用可能な鮮明な処理画像を得ることができる。なお、カメラ２０による撮影画像が鮮明である場合は、撮影画像の画像処理を特に実施する必要はない。従って、カメラ２０の画像処理機能は、必要に応じて設ければよい任意の構成である。 The camera 20 may have an image processing function. For example, by subtracting a background image including noise from an image captured by the camera 20, it can be processed into an EL emission image with reduced noise. In this way, by performing an appropriate process on the photographed image, a clear processed image that can be used for determining a defect on the inspection surface of the solar cell panel M can be obtained. Note that when the image captured by the camera 20 is clear, it is not necessary to perform image processing of the captured image. Therefore, the image processing function of the camera 20 is an arbitrary configuration that may be provided as necessary.

以上のように、第一実施形態の検査装置１００によれば、交流電源１０と、カメラ２０とを備えることで、太陽電池パネルＭを迅速且つ簡便に検査することができる。 As described above, according to the inspection apparatus 100 of the first embodiment, the solar battery panel M can be inspected quickly and easily by including the AC power supply 10 and the camera 20.

［第二実施形態］
図５は、本発明の第二実施形態に係る太陽電池パネルの検査装置（以下、単に「検査装置」と称する。）２００の説明図である。検査装置２００は、第一実施形態の検査装置１００に発電回路又はバイパスダイオード回路を検査するための回路検査部３０を追加したものである。従って、交流電源１０及びカメラ２０は、第一実施形態の検査装置１００のものと同様であるため、これらの説明は省略する。 [Second Embodiment]
FIG. 5 is an explanatory view of a solar cell panel inspection apparatus (hereinafter simply referred to as “inspection apparatus”) 200 according to the second embodiment of the present invention. The inspection device 200 is obtained by adding a circuit inspection unit 30 for inspecting a power generation circuit or a bypass diode circuit to the inspection device 100 of the first embodiment. Therefore, since the AC power supply 10 and the camera 20 are the same as those of the inspection apparatus 100 of the first embodiment, description thereof will be omitted.

回路検査部３０は、トランスを介して、第一ＬＥＤ３１と、第二ＬＥＤ３２とを並列接続したものである。ここで、第一ＬＥＤ３１及び第二ＬＥＤ３２は、夫々の電流通過方向が互いに反対となるように配置されている。このように配置することで、第一ＬＥＤ３１には、交流電源１０から太陽電池パネルＭの発電回路を通って再び交流電源１０に戻って来る交流波（プラス電圧の半波）のみ通過することができる。一方、第二ＬＥＤ３２には、交流電源１０から太陽電池パネルＭのバイパスダイオード回路を通って再び交流電源１０に戻って来る交流波（マイナス電圧の半波）のみ通過することができる。 The circuit test | inspection part 30 connects the 1st LED31 and the 2nd LED32 in parallel via the transformer. Here, the first LED 31 and the second LED 32 are arranged so that their current passing directions are opposite to each other. By arranging in this way, only the AC wave (a positive voltage half-wave) that returns from the AC power supply 10 to the AC power supply 10 through the power generation circuit of the solar cell panel M can pass through the first LED 31. it can. On the other hand, only the AC wave (a negative voltage half-wave) that returns from the AC power supply 10 to the AC power supply 10 through the bypass diode circuit of the solar cell panel M can pass through the second LED 32.

太陽電池パネルＭの検査を行う際には、図５に示すように、交流電源１０と回路検査部３０との間に検査対象の太陽電池パネルＭが配置される。このような配置とすることで、太陽電池パネルＭの状態（正常／故障）が回路検査部３０の第一ＬＥＤ３１及び第二ＬＥＤ３２の点灯状態に反映されるため、異常発生箇所を特定することが可能となる。具体的には、以下の４通りの点灯パターンより、太陽電池パネルＭの発電回路及びバイパスダイオード回路の状態を判定することができる。 When the solar cell panel M is inspected, as shown in FIG. 5, the solar cell panel M to be inspected is disposed between the AC power supply 10 and the circuit inspection unit 30. By setting it as such arrangement | positioning, since the state (normal / failure) of the solar cell panel M is reflected in the lighting state of the 1st LED31 of the circuit test | inspection part 30, and the 2nd LED32, it is possible to specify an abnormality occurrence location. It becomes possible. Specifically, the states of the power generation circuit and the bypass diode circuit of the solar cell panel M can be determined from the following four lighting patterns.

（１）第一ＬＥＤ：点灯／第二ＬＥＤ：点灯
この場合、第一ＬＥＤ３１には、交流電源１０から太陽電池パネルＭの発電回路を通って再び交流電源１０に戻って来る交流波（プラス電圧の半波）が通過していることになる。また、第二ＬＥＤ３２には、交流電源１０から太陽電池パネルＭのバイパスダイオード回路を通って再び交流電源１０に戻って来る交流波（マイナス電圧の半波）が通過していることになる。従って、第一ＬＥＤ３１及び第二ＬＥＤ３２の両方が点灯している場合は、太陽電池パネルＭの発電回路及びバイパスダイオード回路が共に正常であると判断できる。 (1) First LED: lighting / second LED: lighting In this case, the first LED 31 has an AC wave (plus voltage) that returns from the AC power supply 10 through the power generation circuit of the solar panel M to the AC power supply 10 again. Half-wave). In addition, an AC wave (a half wave of a negative voltage) returning from the AC power supply 10 to the AC power supply 10 through the bypass diode circuit of the solar battery panel M passes through the second LED 32. Therefore, when both the first LED 31 and the second LED 32 are lit, it can be determined that both the power generation circuit and the bypass diode circuit of the solar cell panel M are normal.

（２）第一ＬＥＤ：点灯／第二ＬＥＤ：消灯
この場合、第一ＬＥＤ３１には、交流電源１０から太陽電池パネルＭの発電回路を通って再び交流電源１０に戻って来る交流波（プラス電圧の半波）が通過していることになる。一方、第二ＬＥＤ３２には、交流電源１０から太陽電池パネルＭのバイパスダイオード回路を通って再び交流電源１０に戻って来る交流波（マイナス電圧の半波）は通過していないことになる。従って、第一ＬＥＤ３１が点灯し、第二ＬＥＤ３２が消灯している場合は、太陽電池パネルＭのバイパスダイオード回路が異常であると判断できる。 (2) First LED: On / Second LED: Off In this case, the first LED 31 has an AC wave (plus voltage) that returns from the AC power source 10 through the power generation circuit of the solar panel M to the AC power source 10 again. Half-wave). On the other hand, the second LED 32 does not pass an AC wave (a negative voltage half-wave) returning from the AC power supply 10 through the bypass diode circuit of the solar battery panel M to the AC power supply 10 again. Therefore, when the first LED 31 is turned on and the second LED 32 is turned off, it can be determined that the bypass diode circuit of the solar panel M is abnormal.

（３）第一ＬＥＤ：消灯／第二ＬＥＤ：点灯
この場合、第一ＬＥＤ３１には、交流電源１０から太陽電池パネルＭの発電回路を通って再び交流電源１０に戻って来る交流波（プラス電圧の半波）は通過していないことになる。一方、第二ＬＥＤ３２には、交流電源１０から太陽電池パネルＭのバイパスダイオード回路を通って再び交流電源１０に戻って来る交流波（マイナス電圧の半波）が通過していることになる。従って、第一ＬＥＤ３１が消灯し、第二ＬＥＤ３２が点灯している場合は、太陽電池パネルＭの発電回路が異常であると判断できる。 (3) First LED: Off / Second LED: On In this case, the first LED 31 has an AC wave (plus voltage) that returns from the AC power supply 10 through the power generation circuit of the solar panel M to the AC power supply 10 again. The half wave) is not passing. On the other hand, the second LED 32 passes an AC wave (a negative voltage half-wave) returning from the AC power supply 10 through the bypass diode circuit of the solar battery panel M to the AC power supply 10 again. Therefore, when the first LED 31 is turned off and the second LED 32 is turned on, it can be determined that the power generation circuit of the solar cell panel M is abnormal.

（４）第一ＬＥＤ：消灯／第二ＬＥＤ：消灯
この場合、第一ＬＥＤ３１及び第二ＬＥＤ３２には、何れも交流電源１０からの交流波が通過していないことになる。従って、第一ＬＥＤ３１が消灯し、第二ＬＥＤ３２が消灯している場合は、太陽電池パネルＭのバイパスダイオード回路及び発電回路が共に異常であると判断できる。 (4) First LED: Off / Second LED: Off In this case, neither the first LED 31 nor the second LED 32 passes an AC wave from the AC power supply 10. Therefore, when the first LED 31 is turned off and the second LED 32 is turned off, it can be determined that both the bypass diode circuit and the power generation circuit of the solar cell panel M are abnormal.

以上のように、第二実施形態の検査装置２００によれば、交流電源１０と、カメラ２０と、検査回路部３０とを備えることで、太陽電池パネルＭを迅速且つ簡便に検査できることに加えて、太陽電池パネルＭにおける異常発生箇所を正確に特定することができる。 As described above, according to the inspection apparatus 200 of the second embodiment, in addition to the AC power supply 10, the camera 20, and the inspection circuit unit 30, the solar cell panel M can be inspected quickly and easily. Thus, it is possible to accurately identify the abnormality occurrence location in the solar cell panel M.

本発明の太陽電池パネルの検査装置、及び太陽電池パネルの検査方法は、太陽電池の検査に利用されるものであるが、エレクトロミネッセンス（ＥＬ）により検査可能な半導体であれば、太陽電池以外のデバイスの検査に利用することも可能である。 The solar cell panel inspection apparatus and solar cell panel inspection method of the present invention are used for solar cell inspection, but solar cells can be used as long as they can be inspected by electroluminescence (EL). It is also possible to use it for inspection of other devices.

１０交流電源
２０カメラ
３０回路検査部
３１第一ＬＥＤ
３２第二ＬＥＤ
１００検査装置
２００検査装置
Ｓ太陽電池セル
Ｍ太陽電池パネル（太陽電池モジュール） 10 AC power supply 20 Camera 30 Circuit inspection part 31 First LED
32 Second LED
100 Inspection Device 200 Inspection Device S Solar Cell M Solar Panel (Solar Cell Module)

Claims

エレクトロルミネッセンス（ＥＬ）を利用した太陽電池パネルの検査装置であって、
前記太陽電池パネルに交流を印加するための交流電力を発生する交流電源と、
前記太陽電池パネルの表面を撮影するカメラと、
を備え、
前記交流電力は、前記太陽電池パネルにＥＬ発光を誘起させる交流のインピーダンスが１ｋΩ以上となるように設定され、前記交流の印加により、前記太陽電池パネルの発電回路に順方向の電流が流れ、前記太陽電池パネルの発電回路と並列に接続されたバイパスダイオードに逆方向の電流が流れることで、前記太陽電池パネルに順方向の電流及び逆方向の電流が交互に流れるように構成されている太陽電池パネルの検査装置。 An inspection device for a solar cell panel using electroluminescence (EL),
An AC power source for generating AC power for applying AC to the solar cell panel;
A camera for photographing the surface of the solar cell panel;
With
The alternating current power is set so that an alternating current impedance for inducing EL emission in the solar cell panel is 1 kΩ or more, and by applying the alternating current, a forward current flows in the power generation circuit of the solar cell panel, A solar cell configured such that a forward current and a reverse current flow alternately in the solar cell panel when a reverse current flows through a bypass diode connected in parallel with the power generation circuit of the solar cell panel Panel inspection device.

前記交流のインピーダンスが３ｋΩ以上となるように設定されている請求項１に記載の太陽電池パネルの検査装置。 The solar cell panel inspection apparatus according to claim 1, wherein the AC impedance is set to be 3 kΩ or more.

前記交流電源は、出力が１００Ｖ又は２００Ｖの交流電力を発生する交流発電機である請求項１又は２に記載の太陽電池パネルの検査装置。 The solar cell panel inspection apparatus according to claim 1, wherein the AC power supply is an AC generator that generates AC power having an output of 100 V or 200 V.

順方向の電流を通過させる第一ＬＥＤと、逆方向の電流を通過させる第二ＬＥＤとが並列に接続されてなる回路検査部をさらに備え、
前記太陽電池パネルの検査時において、前記交流電源と前記回路検査部との間に検査対象の太陽電池パネルを配置するように構成されている請求項１〜３の何れか一項に記載の太陽電池パネルの検査装置。 The circuit further comprises a circuit inspection unit in which a first LED that passes a forward current and a second LED that passes a reverse current are connected in parallel.
The solar according to any one of claims 1 to 3, wherein a solar cell panel to be inspected is arranged between the AC power source and the circuit inspection unit during the inspection of the solar cell panel. Battery panel inspection device.

前記太陽電池パネルは、太陽電池セルが複数接続された太陽電池モジュールである請求項１〜４の何れか一項に記載の太陽電池パネルの検査装置。 The solar cell panel inspection apparatus according to any one of claims 1 to 4, wherein the solar cell panel is a solar cell module in which a plurality of solar cells are connected.

前記太陽電池パネルは、単結晶シリコン型太陽電池、多結晶シリコン型太陽電池、又はＣＩＧＳ｛銅（Ｃｏｐｐｅｒ）−インジウム（Ｉｎｄｉｕｍ）−ガリウム（Ｇａｌｌｉｕｍ）−セレン（Ｓｅｌｅｎｉｕｍ）｝系化合物太陽電池である請求項１〜５の何れか一項に記載の太陽電池パネルの検査装置。 The solar cell panel may be a single crystal silicon solar cell, a polycrystalline silicon solar cell, or a CIGS {copper-indium-gallium-selenium} compound solar cell. Item 6. The solar cell panel inspection apparatus according to any one of Items 1 to 5.

エレクトロルミネッセンス（ＥＬ）を利用した太陽電池パネルの検査方法であって、
前記太陽電池パネルに交流を印加する電流印加工程と、
前記太陽電池パネルの表面を撮影する撮影工程と、
を備え、
前記電流印加工程において、前記太陽電池パネルにＥＬ発光を誘起させる交流のインピーダンスを１ｋΩ以上に設定し、前記交流の印加により、前記太陽電池パネルの発電回路に順方向の電流が流れ、前記太陽電池パネルの発電回路と並列に接続されたバイパスダイオードに逆方向の電流が流れることで、前記太陽電池パネルに順方向の電流及び逆方向の電流が交互に流れる太陽電池パネルの検査方法。 A method for inspecting a solar cell panel using electroluminescence (EL),
A current application step of applying alternating current to the solar cell panel;
A photographing step of photographing the surface of the solar cell panel;
With
In the current application step, an alternating current impedance for inducing EL emission in the solar cell panel is set to 1 kΩ or more, and by applying the alternating current, a forward current flows through the power generation circuit of the solar cell panel, and the solar cell A method for inspecting a solar cell panel , wherein a forward current and a reverse current flow alternately in the solar cell panel when a reverse current flows through a bypass diode connected in parallel with the power generation circuit of the panel .