JP6160667B2 - Thermal conductivity gas sensor - Google Patents

Thermal conductivity gas sensor Download PDF

Info

Publication number
JP6160667B2
JP6160667B2 JP2015187927A JP2015187927A JP6160667B2 JP 6160667 B2 JP6160667 B2 JP 6160667B2 JP 2015187927 A JP2015187927 A JP 2015187927A JP 2015187927 A JP2015187927 A JP 2015187927A JP 6160667 B2 JP6160667 B2 JP 6160667B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gas
thin film
temperature
output
measurement target
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2015187927A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2016170161A (en
Inventor
和海 犬伏
和海 犬伏
海田 佳生
佳生 海田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TDK Corp
Original Assignee
TDK Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by TDK Corp filed Critical TDK Corp
Publication of JP2016170161A publication Critical patent/JP2016170161A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP6160667B2 publication Critical patent/JP6160667B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Description

本発明は、ガスの熱伝導の変化からガス濃度を検出する熱伝導式ガスセンサに関するものである。 The present invention relates to a heat conduction type gas sensor that detects a gas concentration from a change in heat conduction of a gas.

熱伝導式ガスセンサは、ガスの種類や濃度によって環境雰囲気の熱伝導率が異なることを利用したもので、熱伝導の変化を温度変化として検出し、この温度変化を感熱素子の抵抗変化として電気的に検出するものである。例えば、図7の通り、雰囲気Aにおいて、ある温度T00に加熱制御された発熱体が、雰囲気Aとは異なる熱伝導率の雰囲気B、さらに雰囲気Bとは異なる熱伝導率の雰囲気Cとなった場合、発熱体から放熱される放熱量が変化することで発熱体の温度T00が温度T00´、T00´´と変化することを利用する。   A thermal conductivity gas sensor utilizes the fact that the thermal conductivity of the environmental atmosphere varies depending on the type and concentration of the gas. It detects the change in thermal conductivity as a temperature change, and electrically detects this temperature change as a resistance change in the thermal element. It is something to detect. For example, as shown in FIG. 7, in the atmosphere A, the heating element controlled to be heated to a certain temperature T00 becomes an atmosphere B having a thermal conductivity different from that of the atmosphere A, and further an atmosphere C having a thermal conductivity different from that of the atmosphere B. In this case, it is used that the temperature T00 of the heating element changes to temperatures T00 ′ and T00 ″ by changing the amount of heat released from the heating element.

このような検出原理を使った熱伝導式ガスセンサとして、特許文献1(特許第5079723号公報)には、基板の空洞部内に複数本の支持腕を介して第一および第二の薄膜支持体を支持し、その第一および第二の薄膜支持体に第一および第二の発熱体を形成する。そして、第一および第二の発熱体に対して加熱電力を供給して第一の発熱体を第一の温度に制御しかつ第二の発熱体を第一の温度よりも高温である第二の温度に制御し、第一および第二の発熱体の加熱電力に基づいて周囲気体の湿度を演算する熱伝導式ガスセンサの一つである湿度センサが開示されている。 As a heat conduction type gas sensor using such a detection principle, Patent Document 1 (Patent No. 5079723) discloses that the first and second thin film supports are provided in the cavity portion of the substrate via a plurality of support arms. The first and second heating elements are formed on the first and second thin film supports. Then, heating power is supplied to the first and second heating elements to control the first heating element to the first temperature, and the second heating element is higher than the first temperature. A humidity sensor is disclosed which is one of heat-conducting gas sensors that control the humidity of the surrounding gas based on the heating power of the first and second heating elements.

特許第5079723号公報Japanese Patent No. 5079723

しかしながら、実際にセンサが使用される環境は、目的とする測定対象ガスの他にも目的とする測定対象ガス以外のガスが混在しており、目的とする測定対象ガス濃度と同様に目的とする測定対象ガス以外のガス濃度も変化している。先行文献1では、第一の温度および第二の温度での周囲環境の熱伝導率の違いを利用し、予め求めた評価関数と絶対湿度の関係より絶対湿度を算出しているが、湿度以外の目的とする測定対象ガス以外のガスが混在し、そのガス濃度が変化した場合には検出誤差となる。 However, the environment in which the sensor is actually used includes a gas other than the target measurement target gas in addition to the target measurement target gas, and the target is the same as the target measurement target gas concentration. Gas concentrations other than the measurement target gas are also changing. In the prior art document 1, the absolute humidity is calculated from the relationship between the evaluation function and the absolute humidity obtained in advance using the difference in the thermal conductivity of the surrounding environment at the first temperature and the second temperature. When a gas other than the measurement target gas is mixed and the gas concentration changes, a detection error occurs.

本発明の目的は、以上の点を考慮してなされたもので、目的とする測定対象ガスの他に、目的とする測定対象ガス以外のガスが混在していても、目的とする測定対象ガスと目的とする測定対象ガス以外のガス濃度をそれぞれ検出することで、目的とする測定対象ガスの濃度を高精度で測定できる熱伝導式ガスセンサを提供することにある。 The object of the present invention has been made in consideration of the above points. Even if a gas other than the target measurement target gas is mixed in addition to the target measurement target gas, the target measurement target gas is used. Another object of the present invention is to provide a heat conduction type gas sensor capable of measuring the concentration of the target measurement target gas with high accuracy by detecting the gas concentration other than the target measurement target gas.

上記課題を解決するために、本発明の請求項1に係わる発明は、感熱素子と、前記感熱素子を加熱する発熱体と、前記感熱素子を用いて出力を行うブリッジ回路と、前記出力から近似式を用いた演算によりガス濃度を算出する演算処理装置を備えた熱伝導式ガスセンサであって、前記演算処理装置は複数のパルス電圧値によって前記感熱素子を複数の温度に加熱制御を行い、前記複数の温度に対応した前記出力と、目的とする測定対象ガスの前記複数の温度に対応したガス濃度の検出感度と、前記目的とする測定対象ガス以外の前記複数の温度に対応したガス濃度の検出感度を用いて、前記目的とする測定対象ガスのガス濃
度と前記目的とする測定対象ガス以外のガス濃度をそれぞれ算出することを特徴とする熱伝導式ガスセンサである。
In order to solve the above-mentioned problems, the invention according to claim 1 of the present invention includes a thermal element, a heating element that heats the thermal element, a bridge circuit that performs output using the thermal element, and an approximation from the output. A heat conduction type gas sensor including an arithmetic processing unit that calculates a gas concentration by calculation using an equation, wherein the arithmetic processing unit performs heating control of the thermosensitive element to a plurality of temperatures by a plurality of pulse voltage values, The output corresponding to a plurality of temperatures, the detection sensitivity of the gas concentration corresponding to the plurality of temperatures of the target measurement target gas, and the gas concentration corresponding to the plurality of temperatures other than the target measurement target gas It is a heat conduction type gas sensor characterized in that a gas concentration of the target measurement target gas and a gas concentration other than the target measurement target gas are calculated using detection sensitivity.

本発明の請求項2に係わる発明は、前記発熱体は、前記複数のパルス電圧値により、それぞれ一定間隔をあけ、且つそれぞれ算出したいガスの種類の数だけ異なる温度に加熱制御されることを特徴とする。 The invention according to claim 2 of the present invention is characterized in that the heating element is controlled to be heated to a temperature different from each other by the number of types of gas desired to be calculated, respectively, according to the plurality of pulse voltage values. And

本発明の請求項3に係わる発明は、前記感熱素子はメンブレン構造を有する薄膜サーミスタであり、環境温度を検出する参照素子を更に有し、前記演算処理装置は前記参照素子の出力により前記発熱体に印加するパルス電圧値を調整することを特徴とする。 According to a third aspect of the present invention, the thermosensitive element is a thin film thermistor having a membrane structure, and further includes a reference element for detecting an environmental temperature, and the arithmetic processing unit is configured to generate the heating element according to an output of the reference element. The pulse voltage value to be applied to is adjusted.

本発明の請求項4に係わる発明は、前記感熱素子はメンブレン構造を有する白金であり、環境温度を検出する参照素子を更に有し、前記演算処理装置は前記参照素子の出力により前記発熱体に印加するパルス電圧値を調整することを特徴とする。   According to a fourth aspect of the present invention, the heat sensitive element is platinum having a membrane structure, and further includes a reference element for detecting an environmental temperature, and the arithmetic processing unit is connected to the heating element by the output of the reference element. The pulse voltage value to be applied is adjusted.

本発明の請求項5に係わる発明は、前記感熱素子が前記発熱体の機能を併せ持つことを特徴とする。   The invention according to claim 5 of the present invention is characterized in that the thermal element has the function of the heating element.

本発明により、目的とする測定対象ガスの他に、目的とする測定対象ガス以外のガスが混在していても、目的とする測定対象ガスと目的とする測定対象ガス以外のガス濃度をそれぞれ検出することで、目的とする測定対象ガスの濃度を高精度で測定できる熱伝導式ガスセンサが得られる。 According to the present invention, even if a gas other than the target measurement target gas is mixed in addition to the target measurement target gas, the target measurement gas and the gas concentration other than the target measurement target gas are detected. By doing so, a heat conduction type gas sensor capable of measuring the concentration of the target measurement target gas with high accuracy can be obtained.

本発明における実施形態1を説明するための断面構造図である。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 本発明における実施形態1を説明するためのパルス波形である。It is a pulse waveform for demonstrating Embodiment 1 in this invention. 本発明における実施形態1を説明するためのパルス波形である。It is a pulse waveform for demonstrating Embodiment 1 in this invention. 本発明における実施形態1を説明するための温度と検出感度の関係を示す図である。It is a figure which shows the relationship between temperature and detection sensitivity for describing Embodiment 1 in this invention. 本発明における実施形態1を説明するための検知処理フロー図である。It is a detection processing flowchart for demonstrating Embodiment 1 in this invention. 本発明における実施形態1を説明するための回路構成図概略である。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is the circuit block diagram outline for describing Embodiment 1 in this invention. 本発明における環境温度と素子加熱するためのパルス電圧の関係を示す図である。It is a figure which shows the relationship between the environmental temperature in this invention, and the pulse voltage for element heating. 熱伝導式ガスセンサの検出原理を説明する図である。It is a figure explaining the detection principle of a heat conduction type gas sensor. 本発明における各近似式の係数と演算値の結果である。It is a result of the coefficient and operation value of each approximate expression in the present invention. 本発明における実施形態2を説明するための断面構造図である。It is sectional structure drawing for demonstrating Embodiment 2 in this invention. 本発明における実施形態2を説明するための回路構成図概略である。It is a circuit block diagram outline for describing Embodiment 2 in this invention.

(実施形態1)
以下、本発明における実施形態を説明する。なお、本発明の熱伝導式ガスセンサを水素センサに適用した場合を例に説明するが、前述のように、本発明はガスの種類によって熱伝導率が異なる性質であることを利用した検出原理に基づくもので、水素センサに限定されるものではない。
(Embodiment 1)
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described. In addition, although the case where the heat conduction type gas sensor of the present invention is applied to a hydrogen sensor will be described as an example, as described above, the present invention is based on a detection principle utilizing the property that the thermal conductivity differs depending on the type of gas. It is based on and is not limited to hydrogen sensors.

図1は、本実施形態1の水素センサを説明するための断面構造図である。本実施形態1による水素センサ1は、測定対象ガス濃度を検出する検知素子2と、環境温度を検出するための参照素子3を有し、測定環境に暴露された同じ空間に配置される。本実施例では、セラミックパッケージ4に検知素子2と参照素子3を配置し、測定環境に暴露させるために通気口6を備えたリッド5により水素センサ1を形成した。   FIG. 1 is a cross-sectional structure diagram for explaining a hydrogen sensor according to the first embodiment. The hydrogen sensor 1 according to the first embodiment includes a sensing element 2 that detects a measurement target gas concentration and a reference element 3 that detects an environmental temperature, and is arranged in the same space exposed to the measurement environment. In the present embodiment, the sensing element 2 and the reference element 3 are arranged in the ceramic package 4, and the hydrogen sensor 1 is formed by the lid 5 provided with the vent 6 in order to be exposed to the measurement environment.

検知素子2は、基板7、絶縁膜8、マイクロヒータ9、マイクロヒータ保護膜10、薄膜サーミスタ電極11、薄膜サーミスタ12、薄膜サーミスタ保護膜13を備える。   The sensing element 2 includes a substrate 7, an insulating film 8, a microheater 9, a microheater protective film 10, a thin film thermistor electrode 11, a thin film thermistor 12, and a thin film thermistor protective film 13.

参照素子3は、検知素子を加熱するための発熱体としてマイクロヒータ9を備えていない以外は検知素子2と同じである。このような構成にすることで、検知素子2と参照素子3の素子特性を同じにすることができる。すなわち、熱容量の違いによる応答時間の差がなく、環境温度の変化に対して常に同じ挙動とすることができる。   The reference element 3 is the same as the detection element 2 except that the microheater 9 is not provided as a heating element for heating the detection element. With this configuration, the element characteristics of the detection element 2 and the reference element 3 can be made the same. That is, there is no difference in response time due to a difference in heat capacity, and the same behavior can always be obtained with respect to changes in environmental temperature.

更には、検知素子2と参照素子3を隣接させて同時に形成することで、製造工程におけるばらつきも同じものとなり、素子間の特性がそろったものを作ることができる。これにより、素子間の特性がそろったものを組み合わせるといった選別工程もなくすことができる。   Furthermore, by forming the detection element 2 and the reference element 3 adjacent to each other at the same time, variations in the manufacturing process are the same, and elements with uniform characteristics can be produced. As a result, it is possible to eliminate a selection step of combining elements having the same characteristics between elements.

基板7としては、適度な機械的強度を有し、且つエッチングなどの微細加工に適した材質であれば、特に限定されるものではない。例えば、シリコン単結晶基板、サファイア単結晶基板、セラミック基板、石英基板、ガラス基板などが好適である。基板の表面および裏面には、シリコン酸化膜又はシリコン窒化膜などの絶縁膜8が形成される。絶縁膜8として、例えばシリコン酸化膜を形成するには、熱酸化法やCVD(Chemical Vapor Deposition)による成膜法を適用すればよい。膜厚は、絶縁膜8上に形成する膜と基板との絶縁がとれ、且つキャビティ14を形成する際のエッチング停止層として機能すればよい。通常0.1〜1.0μm程度が好適である。   The substrate 7 is not particularly limited as long as it has a suitable mechanical strength and is suitable for fine processing such as etching. For example, a silicon single crystal substrate, a sapphire single crystal substrate, a ceramic substrate, a quartz substrate, a glass substrate, or the like is suitable. An insulating film 8 such as a silicon oxide film or a silicon nitride film is formed on the front and back surfaces of the substrate. For example, in order to form a silicon oxide film as the insulating film 8, a thermal oxidation method or a film formation method by CVD (Chemical Vapor Deposition) may be applied. The film thickness may be such that the film formed on the insulating film 8 can be insulated from the substrate and function as an etching stop layer when the cavity 14 is formed. Usually, about 0.1-1.0 micrometer is suitable.

基板7には、マイクロヒータ9を高温動作させた時に、熱が基板へ伝導するのを抑制するためにマイクロヒータ9の位置に対応して基板の一部を薄肉化したキャビティ14を有している。このキャビティ14により基板が取り除かれた部分はメンブレン15と呼ばれる。メンブレン15では基板を薄肉化した分だけ熱容量が小さくなるため、非常に少ない消費電力でマイクロヒータ9を高温にすることができる。また、基板7への伝導経路が数μmの薄膜部分のみで形成された断熱構造であるため、基板7への熱伝導が小さく、効率よくマイクロヒータ9を高温にすることができる。 The substrate 7 has a cavity 14 in which a part of the substrate is thinned corresponding to the position of the microheater 9 in order to suppress heat conduction to the substrate when the microheater 9 is operated at a high temperature. Yes. A portion where the substrate is removed by the cavity 14 is called a membrane 15. Since the heat capacity of the membrane 15 is reduced by the thickness of the substrate, the microheater 9 can be heated to a high temperature with very little power consumption. Further, since the conduction path to the substrate 7 is a heat insulating structure formed only by a thin film portion of several μm, the heat conduction to the substrate 7 is small, and the microheater 9 can be efficiently heated to a high temperature.

マイクロヒータ9の材質としては、薄膜サーミスタ12の成膜工程および熱処理工程などのプロセスに耐えうる導電性物質で比較的高融点の材料からなる金属層であって、例えば、モリブデン(Mo)、白金(Pt)、金(Au)、タングステン(W)、タンタル(Ta)、パラジウム(Pd)、イリジウム(Ir)又はこれら何れか2種以上を含む合金などが好適である。また、イオンミリングなどの高精度なドライエッチングが可能である導電材質であることが好ましく、さらに耐腐食性が高い、Ptなどがより好適である。また絶縁膜8との密着性を向上させるためにはPtの下部にはチタン(Ti)などの密着層を形成するのが好ましい。 The material of the microheater 9 is a metal layer made of a material having a relatively high melting point, which is a conductive substance that can withstand processes such as a film forming process and a heat treatment process of the thin film thermistor 12, for example, molybdenum (Mo), platinum (Pt), gold (Au), tungsten (W), tantalum (Ta), palladium (Pd), iridium (Ir), or an alloy containing any two or more thereof is preferable. Further, a conductive material capable of high-precision dry etching such as ion milling is preferable, and Pt or the like having higher corrosion resistance is more preferable. In order to improve the adhesion with the insulating film 8, it is preferable to form an adhesion layer such as titanium (Ti) under the Pt.

図1において、ガスによるマイクロヒータ9の温度検出用の感熱素子として、薄膜サーミスタ12が形成されている。薄膜サーミスタ12は薄膜サーミスタ電極11を備え、マイクロヒータ9を覆うように形成される。これによりマイクロヒータ9の温度を直接検出することができる。 In FIG. 1, a thin film thermistor 12 is formed as a thermosensitive element for detecting the temperature of the microheater 9 by gas. The thin film thermistor 12 includes a thin film thermistor electrode 11 and is formed so as to cover the microheater 9. Thereby, the temperature of the micro heater 9 can be directly detected.

薄膜サーミスタ12を形成するサーミスタの材質としては、複合金属酸化物、アモルファスシリコン、ポリシリコン、ゲルマニウムなどの負の温度抵抗係数を持つ材料をスパッタ法、CVDなどの薄膜プロセスを用いて形成する。膜厚は目標とするサーミスタ抵抗値に応じて調整すればよく、例えばMnNiCo系酸化物を用いて室温での抵抗値(R25)を140kΩ程度に設定するのであれば、素子の電極間の距離にもよるが0.2〜1μm程度の膜厚に設定すればよい。 As a material of the thermistor for forming the thin film thermistor 12, a material having a negative temperature resistance coefficient such as a composite metal oxide, amorphous silicon, polysilicon, germanium or the like is formed using a thin film process such as sputtering or CVD. The film thickness may be adjusted according to the target thermistor resistance value. For example, if the resistance value (R25) at room temperature is set to about 140 kΩ using MnNiCo-based oxide, the distance between the electrodes of the element is set. However, it may be set to a film thickness of about 0.2 to 1 μm.

なお、マイクロヒータ9の温度検出用の感熱素子としては薄膜サーミスタ12が好適である。まず、薄膜の積層構造であるために、マイクロヒータ9の発熱を直上にて直接検出することができる。また、白金測温体などに比べて抵抗温度係数が大きいために、検出感度を大きくすることができるためである。 A thin film thermistor 12 is suitable as a thermal element for detecting the temperature of the microheater 9. First, because of the laminated structure of thin films, the heat generated by the microheater 9 can be directly detected. Moreover, since the resistance temperature coefficient is larger than that of a platinum temperature detector, the detection sensitivity can be increased.

薄膜サーミスタ12の電気信号を取り出す為に、薄膜サーミスタ電極11が形成される。薄膜サーミスタ電極11の材質としては、薄膜サーミスタ12の成膜工程および熱処理工
程などのプロセスに耐えうる導電性物質で比較的高融点の材料、例えば、モリブデン(Mo)、白金(Pt)、金(Au)、タングステン(W)、タンタル(Ta)、パラジウム(Pd)、イリジウム(Ir)又はこれら何れか2種以上を含む合金などが好適である。
In order to take out an electric signal from the thin film thermistor 12, a thin film thermistor electrode 11 is formed. The material of the thin film thermistor electrode 11 is a conductive material that can withstand processes such as a film forming process and a heat treatment process of the thin film thermistor 12, and has a relatively high melting point, such as molybdenum (Mo), platinum (Pt), gold ( Au), tungsten (W), tantalum (Ta), palladium (Pd), iridium (Ir), or an alloy containing any two or more thereof is preferable.

マイクロヒータ9及び絶縁膜8を覆うようにマイクロヒータ保護膜10が形成される。マイクロヒータ保護膜10としては、絶縁膜8と同じ材料であることが望ましい。マイクロヒータ9は数百度にまで上昇し、次に常温へ下がるという熱ストレスを繰り返し受ける。この熱ストレスを継続的に受けると層間剥離やクラックといった破壊につながる。同じ材料同士は、異種材料を積層した場合に比べて材料特性が同じであり密着性が強固で機械的強度も強い。このため、マイクロヒータ9の熱ストレスに対しても破壊を防止することができる。マイクロヒータ保護膜10として、例えばシリコン酸化膜を形成するには、熱酸化法やCVDによる成膜法を適用すればよい。膜厚は、マイクロヒータ9を確実に覆うことができ層間絶縁ができる厚みが良い。通常0.1〜3.0μm程度が好適である。 A microheater protective film 10 is formed so as to cover the microheater 9 and the insulating film 8. The microheater protective film 10 is preferably made of the same material as the insulating film 8. The microheater 9 is repeatedly subjected to thermal stress that rises to several hundred degrees and then drops to room temperature. Continuously receiving this thermal stress leads to destruction such as delamination and cracks. The same material has the same material characteristics, strong adhesion, and high mechanical strength compared to the case where different materials are laminated. For this reason, destruction can be prevented even against thermal stress of the microheater 9. In order to form, for example, a silicon oxide film as the microheater protective film 10, a thermal oxidation method or a film formation method by CVD may be applied. The film thickness is good enough to reliably cover the microheater 9 and to provide interlayer insulation. Usually, about 0.1-3.0 micrometers is suitable.

また、薄膜サーミスタ12に、複合金属酸化物等を利用する場合においては、マイクロヒータ保護膜10は、絶縁性を有する酸化膜であることが望ましく、例えばシリコン酸化膜等が望ましい。マイクロヒータ保護膜10の上には薄膜サーミスタ12および薄膜サーミスタ電極11が形成される。マイクロヒータ保護膜10は、マイクロヒータ9の保護膜であると同時に、薄膜サーミスタ12の下地層でもあり、薄膜サーミスタ12と直接接触する。 In the case of using a composite metal oxide or the like for the thin film thermistor 12, the microheater protective film 10 is preferably an insulating oxide film, for example, a silicon oxide film. A thin film thermistor 12 and a thin film thermistor electrode 11 are formed on the microheater protective film 10. The microheater protective film 10 is a protective film for the microheater 9 and is also an underlayer for the thin film thermistor 12 and is in direct contact with the thin film thermistor 12.

一般的に、複合金属酸化物を利用したサーミスタは、高温で還元劣化があるためサーミスタ全体を耐還元材料でコーティングする方法が知られている。即ち、サーミスタを還元性を持つ材料と接触させて高温状態にすると、サーミスタから酸素を奪って還元を引き起こし、サーミスタ特性に影響を与えてしまう。よって薄膜サーミスタ保護膜13においてもシリコン酸化膜等の絶縁性を有する酸化膜であることが望ましい。 In general, a thermistor using a composite metal oxide has a reduction deterioration at a high temperature. Therefore, a method of coating the whole thermistor with a reduction resistant material is known. That is, when the thermistor is brought into contact with a reducing material and brought to a high temperature state, oxygen is taken from the thermistor to cause reduction, which affects the thermistor characteristics. Therefore, the thin film thermistor protective film 13 is also preferably an insulating oxide film such as a silicon oxide film.

また、同様な理由により、薄膜サーミスタ電極11は薄膜サーミスタ12の基板側に形成されていることが望ましい。すなわち、マイクロヒータ9上に、絶縁層であるマイクロヒータ保護膜10を介して、薄膜サーミスタ電極11、薄膜サーミスタ12の順に積層し形成されている。つまり、薄膜サーミスタ電極11の上に薄膜サーミスタ12が形成される。一般的に、薄膜電極は、電極材料と下地との密着力を上げるために密着層が形成される。例えばクロム(Cr)やチタン(Ti)等が数nm程度の膜厚で形成される。薄膜サーミスタ12上に薄膜サーミスタ電極11が形成された場合、この密着層が直接薄膜サーミスタと接触し、サーミスタからの酸素を奪う等により酸化することで、界面抵抗が上昇し薄膜サーミスタ7の検出特性が変動してしまい好ましくない。 For the same reason, it is desirable that the thin film thermistor electrode 11 is formed on the substrate side of the thin film thermistor 12. That is, the thin film thermistor electrode 11 and the thin film thermistor 12 are laminated on the microheater 9 in this order via the microheater protective film 10 that is an insulating layer. That is, the thin film thermistor 12 is formed on the thin film thermistor electrode 11. In general, in the thin film electrode, an adhesion layer is formed in order to increase the adhesion between the electrode material and the base. For example, chromium (Cr), titanium (Ti), or the like is formed with a film thickness of about several nm. When the thin film thermistor electrode 11 is formed on the thin film thermistor 12, the adhesion layer is in direct contact with the thin film thermistor and is oxidized by depriving oxygen from the thermistor, thereby increasing the interface resistance and the detection characteristics of the thin film thermistor 7. Fluctuates and is not preferable.

薄膜サーミスタ電極11、マイクロヒータ9はメンブレン15の外で、電極パッド16と接続される。電極パッド16は、ワイヤーボンド17などでセラミックパッケージ電極18などで外部の回路と電気的接続され、例えばアルミニウム(Al)や金(Au)などの材料で形成され、必要に応じて積層してもよい。 The thin film thermistor electrode 11 and the micro heater 9 are connected to the electrode pad 16 outside the membrane 15. The electrode pad 16 is electrically connected to an external circuit by a ceramic package electrode 18 or the like by a wire bond 17 or the like, and is formed of a material such as aluminum (Al) or gold (Au), for example, and may be laminated as necessary. Good.

素子は、ウエハ状態から個片へと切断された後、ダイペースト(図示せず)を用いてパッケージ4に固定した後、電極パッド16と、パッケージ電極18を、ワイヤボンディング装置を用いて、ワイヤ17で接続する。ワイヤ17はAu、Al、Cuなど、抵抗の低い金属ワイヤが好適である。   After the element is cut from the wafer state into individual pieces, the element is fixed to the package 4 using a die paste (not shown), and then the electrode pad 16 and the package electrode 18 are wire-bonded using a wire bonding apparatus. Connect with 17. The wire 17 is preferably a metal wire having a low resistance such as Au, Al, or Cu.

最後に、パッケージ4と外気との通気口6を設けたリッド5を、樹脂(図示せず)を用いて固定する。この際、樹脂(図示せず)の硬化の加熱時に、樹脂に含まれる物質がガスとなって発生するが、通気口6により容易にパッケージ外へ放出されるため、素子自体に
悪影響を与えることはない。以上により水素センサ1を得ることができる。
Finally, the lid 5 provided with the vent 6 for the package 4 and the outside air is fixed using a resin (not shown). At this time, when the resin (not shown) is cured and heated, a substance contained in the resin is generated as a gas. However, since it is easily released from the package through the vent 6, the element itself is adversely affected. There is no. Thus, the hydrogen sensor 1 can be obtained.

続いて、図2〜図7を使ってガス検知の動作について説明する。説明の便宜上、ここでは目的とする測定対象ガスを水素、目的とする測定対象ガス以外のガスを湿度とし、水素と湿度の2種類のガス濃度を求める場合について説明する。   Subsequently, the gas detection operation will be described with reference to FIGS. For convenience of explanation, here, a case where the target measurement target gas is hydrogen and a gas other than the target measurement target gas is humidity, and two types of gas concentrations of hydrogen and humidity are obtained will be described.

まず、水素センサ1は図2A,Bに示すようにマイクロヒータ9を間欠動作、いわゆるパルス駆動で動作させる。パルスはそれぞれ一定間隔をあけて印加される。パルス電圧が印加されていないOFF時間を設けることで、加熱された薄膜サーミスタ12を環境温度Tに冷却することができ、素子自体の熱の蓄積による加熱制御精度の低下を防ぐことがでる。   First, as shown in FIGS. 2A and 2B, the hydrogen sensor 1 operates the micro heater 9 by intermittent operation, that is, so-called pulse drive. Each pulse is applied at regular intervals. By providing an OFF time during which no pulse voltage is applied, the heated thin film thermistor 12 can be cooled to the environmental temperature T, and deterioration in heating control accuracy due to heat accumulation in the element itself can be prevented.

また、パルス電圧は複数の異なるパルス電圧値が印加され、2種類のガス濃度を求める場合はV1、V2の2種類のパルス電圧の組み合わせで印加される。これにより薄膜サーミ
スタ12は異なるパルス電圧V1、V2に応じた異なる温度T1、T2に加熱されることになる。
Also, a plurality of different pulse voltage values are applied as the pulse voltage, and when two kinds of gas concentrations are obtained, a combination of two kinds of pulse voltages V1 and V2 is applied. Thereby, the thin film thermistor 12 is heated to different temperatures T1 and T2 corresponding to different pulse voltages V1 and V2.

測定タイミングは、マイクロヒータ9がOFFのタイミングにおいて参照素子3の出力Vcを検出し、ONのタイミングにおいて薄膜サーミスタ12が加熱され、検知素子2の出力Vdを検出する。出力Vcは環境温度に依存して出力される値であり、薄膜サーミスタ12の加熱制御温度がT1の時の出力がVdt1、薄膜サーミスタ12の加熱制御温度がT2の時の出力がVdt2である。 As for the measurement timing, the output Vc of the reference element 3 is detected when the microheater 9 is OFF, and the thin film thermistor 12 is heated when the microheater 9 is ON, and the output Vd of the detection element 2 is detected. The output Vc is a value output depending on the environmental temperature. The output when the heating control temperature of the thin film thermistor 12 is T1 is Vdt1, and the output when the heating control temperature of the thin film thermistor 12 is T2 is Vdt2.

また、パルス電圧V1、V2は参照素子3の出力Vcから得られる環境温度Tに基づき制御される。すなわち、環境温度T0の時に薄膜サーミスタ12の加熱制御温度をT1、T2にそれぞれ加熱制御する場合は、パルス電圧をそれぞれV1、V2とする。また、環境温度T0´(ただし、T0´<T0<T0´´)の時に薄膜サーミスタ12の加熱制御温度をT1、T2にそれぞれ加熱制御する場合は、パルス電圧をそれぞれV1´、V2´とする。また、環境温度T0´´の時に薄膜サーミスタ12の加熱制御温度をT1、T2にそれぞれ加熱制御する場合は、パルス電圧をそれぞれV1´´、V2´´とする。なお、上記の環境温度とパルス電圧の関係は、使用するマイクロヒータ9の材質や、温度制御方法等により異なる。   Further, the pulse voltages V1 and V2 are controlled based on the environmental temperature T obtained from the output Vc of the reference element 3. That is, when the heating control temperature of the thin film thermistor 12 is controlled to T1 and T2 at the environmental temperature T0, the pulse voltages are set to V1 and V2, respectively. Further, when the heating control temperature of the thin film thermistor 12 is controlled to T1 and T2 at the environmental temperature T0 ′ (where T0 ′ <T0 <T0 ″), the pulse voltages are V1 ′ and V2 ′, respectively. . When the heating control temperature of the thin film thermistor 12 is controlled to T1 and T2 at the environmental temperature T0 ″, the pulse voltages are set to V1 ″ and V2 ″, respectively. The relationship between the environmental temperature and the pulse voltage differs depending on the material of the microheater 9 used, the temperature control method, and the like.

このように、環境温度Tを基準にしてパルス電圧Vを制御することにより、環境温度Tに左右されずに薄膜サーミスタ12を所望の温度T1、T2に加熱制御することができるため高精度の温度制御が可能となる。   In this way, by controlling the pulse voltage V with reference to the environmental temperature T, the thin film thermistor 12 can be controlled to be heated to the desired temperatures T1 and T2 without being influenced by the environmental temperature T. Control becomes possible.

メンブレン15に形成されている薄膜サーミスタ12は非常に熱容量が小さいのでマイクロヒータ9がONになると直ちに所望の温度に到達し、OFFになると直ちに環境温度に戻る。測定は、検知素子2の出力Vdt1、Vdt2およびその直前に測定される参照素子3の出力Vcが測定フローの1サイクルとなる。例えば、パルス24、25であれば30のVcとVdt1、Vdt2、パルス26、27であれば31のVcとVdt1、Vdt2、パルス28、29であれば32のVcとVdt1、Vdt2の組み合わせが1サイクルである。 Since the thin film thermistor 12 formed on the membrane 15 has a very small heat capacity, it immediately reaches a desired temperature when the microheater 9 is turned on, and immediately returns to the environmental temperature when it is turned off. In the measurement, the outputs Vdt1 and Vdt2 of the sensing element 2 and the output Vc of the reference element 3 measured immediately before that are one cycle of the measurement flow. For example, if the pulses are 24 and 25, 30 Vc and Vdt1, Vdt2, if the pulses are 26 and 27, 31 Vc and Vdt1, Vdt2, and if the pulses are 28 and 29, the combination of 32 Vc, Vdt1, and Vdt2 is 1. Cycle.

ここで、参照素子3の出力Vcは薄膜サーミスタ12が加熱制御されていないタイミングで検出される。これは、検知素子2が隣接して形成されているので、薄膜サーミスタ12が加熱されると瞬間的に熱が基板や空間(空気)を主な経路として参照素子3に伝わってしまい、正確な環境温度を測定することができないためである。即ち、空間(空気)を経路として伝わってくる熱は、空間(空気)に存在するガスの熱伝導率によって左右され、
毎回同じでもないので、正確な環境温度を測定していることにはならない。
Here, the output Vc of the reference element 3 is detected at a timing when the thin film thermistor 12 is not controlled to be heated. This is because the sensing element 2 is formed adjacent to the thin film thermistor 12, and when the thin film thermistor 12 is heated, the heat is instantaneously transferred to the reference element 3 through the substrate and space (air) as a main path. This is because the environmental temperature cannot be measured. That is, the heat transferred through the space (air) depends on the thermal conductivity of the gas present in the space (air),
Since it is not the same every time, it does not mean that the correct ambient temperature is being measured.

次に、図4の検知処理フロー図を使って説明する。まず、図4(a)の通り、水素センサ1は参照素子3より得た環境温度による出力Vcから、検知素子2のマイクロヒータ9に印加するパルス電圧を制御する。即ち、薄膜サーミスタ12の加熱時の温度は環境温度の影響を受けて変動するので、定電圧や定電流で加熱した場合は加熱温度が安定しない。これに対し、環境温度を基準にして、マイクロヒータ9に印加するパルス電圧を都度制御することで常に所望の安定した加熱制御を実現することができる。図6はその関係を示し、予め環境温度とパルス電圧の関係式を作っておき、これに基づきマイクロヒータ9のパルス電圧が決定される。 Next, a description will be given using the detection processing flowchart of FIG. First, as shown in FIG. 4A, the hydrogen sensor 1 controls the pulse voltage applied to the microheater 9 of the detection element 2 from the output Vc based on the environmental temperature obtained from the reference element 3. That is, the temperature at which the thin film thermistor 12 is heated fluctuates due to the influence of the environmental temperature, so that the heating temperature is not stable when heated at a constant voltage or constant current. On the other hand, desired stable heating control can always be realized by controlling the pulse voltage applied to the micro heater 9 each time based on the environmental temperature. FIG. 6 shows the relationship. A relational expression between the environmental temperature and the pulse voltage is made in advance, and the pulse voltage of the microheater 9 is determined based on this.

次に、図4(b)の通り、マイクロヒータ9によって加熱制御された状態で検知素子2の出力Vdt1、Vdt2を検出する。出力Vdt1、Vdt2は、測定対象ガスと測定対象ガスを含んだガス中に混在する他のガスとの混合ガスの影響を含んだ出力値である。ここでは測定対象ガスは水素、他のガスは湿度を指す。ガスの熱伝導率はガスの種類、温度により異なるため、加熱制御温度が異なるとガスの検出感度もそれぞれ異なる。なお、出力Vdは近似式として式1で表すことができる。 Next, as shown in FIG. 4B, the outputs Vdt1 and Vdt2 of the sensing element 2 are detected in a state where the heating is controlled by the micro heater 9. The outputs Vdt1 and Vdt2 are output values including the influence of the mixed gas of the measurement target gas and other gases mixed in the gas including the measurement target gas. Here, the measurement target gas is hydrogen, and the other gases are humidity. Since the thermal conductivity of the gas varies depending on the type and temperature of the gas, the detection sensitivity of the gas varies depending on the heating control temperature. The output Vd can be expressed by Equation 1 as an approximate equation.

aX + bY = c (式1)
なお、aはある温度における水素の検出感度、bはある温度における湿度の検出感度、cは出力Vdであり、出力Vdは測定ガス中の水素濃度X、湿度濃度Yに依存する。
aX + bY = c (Formula 1)
Note that a is the hydrogen detection sensitivity at a certain temperature, b is the humidity detection sensitivity at a certain temperature, c is the output Vd, and the output Vd depends on the hydrogen concentration X and the humidity concentration Y in the measurement gas.

次に図4(c)の通り、式1を使って、出力Vdt1、Vdt2、および温度T1、T2における水素、湿度のそれぞれの温度における検出感度より、式2、式3を得る。
at1X + bt1Y = Vdt1 (式2)
at2X + bt2Y = Vdt2 (式3)
Next, as shown in FIG. 4C, using Expression 1, Expressions 2 and 3 are obtained from the detection sensitivities at the outputs Vdt1 and Vdt2 and the hydrogen and humidity temperatures at temperatures T1 and T2, respectively.
at1X + bt1Y = Vdt1 (Formula 2)
at2X + bt2Y = Vdt2 (Formula 3)

なお、図3に水素、湿度の温度と検出感度の関係を示す。温度T1での水素の検出感度がat1(μV/ppm)、湿度の検出感度がbt1(μV/ppm)、温度T2での水素の検出感度がat2(μV/ppm)、湿度の検出感度がbt2(μV/ppm)である。 FIG. 3 shows the relationship between hydrogen and humidity temperatures and detection sensitivity. Hydrogen detection sensitivity at temperature T1 is at1 (μV / ppm), humidity detection sensitivity is bt1 (μV / ppm), hydrogen detection sensitivity at temperature T2 is at2 (μV / ppm), and humidity detection sensitivity is bt2. (ΜV / ppm).

よって、式2、式3の連立方程式を解くことにより、出力Vd中の水素と湿度の影響による出力割合、すなわち水素濃度X、湿度濃度Yを求めることができるため、水素の影響と湿度の影響を切り分けることができる(図4(d))。これにより、測定対象ガスである水素濃度を精度よく算出することができる。   Therefore, by solving the simultaneous equations of Equations 2 and 3, the output ratios due to the influence of hydrogen and humidity in the output Vd, that is, the hydrogen concentration X and the humidity concentration Y can be obtained. Can be separated (FIG. 4D). Thereby, the hydrogen concentration that is the measurement target gas can be accurately calculated.

なお、予め水素、湿度のそれぞれの温度と検出感度を求めておく必要がある。水素検出感度は、乾燥空気と水素の混合ガス雰囲気中に水素センサ1を入れて測定し、水素濃度と出力Vdの関係から、また、湿度検出感度は、同様に乾燥空気と湿度の混合ガス雰囲気中に水素センサ1を入れて測定し、湿度濃度と出力Vdの関係から得る。また、薄膜サーミスタ12の加熱温度を変えて測定することで図3の通り温度と検出感度の関係を求めることができ、本実施形態1では4水準の温度で測定した。   It is necessary to obtain the respective temperatures and detection sensitivities of hydrogen and humidity in advance. The hydrogen detection sensitivity is measured by putting the hydrogen sensor 1 in a mixed gas atmosphere of dry air and hydrogen. From the relationship between the hydrogen concentration and the output Vd, the humidity detection sensitivity is similarly a mixed gas atmosphere of dry air and humidity. Measurement is performed with the hydrogen sensor 1 inserted therein, and is obtained from the relationship between the humidity concentration and the output Vd. In addition, the relationship between the temperature and the detection sensitivity can be obtained as shown in FIG. 3 by changing the heating temperature of the thin film thermistor 12, and in the first embodiment, the temperature is measured at four levels.

また、検出感度の測定にあたっては、実際にセンサが使用される環境を想定した雰囲気で測定することで、より精度のある検出感度を得ることができる。ここでは乾燥空気に対する水素、湿度との検出感度としたが、実際に使用される環境を想定して乾燥空気の代わりに窒素や、他のガス等であっても良い。例えば、窒素中の水素と湿度を検出する目的で水素センサを作製するのであれば、水素検出感度は窒素と水素の混合ガス雰囲気中で測定し、湿度検出感度は窒素と湿度の混合ガス雰囲気中で測定するのが好ましい。   Further, in measuring the detection sensitivity, more accurate detection sensitivity can be obtained by measuring in an atmosphere assuming an environment where the sensor is actually used. Here, the detection sensitivity for hydrogen and humidity with respect to dry air is used. However, nitrogen, other gas, or the like may be used instead of dry air in consideration of the actual use environment. For example, if a hydrogen sensor is produced for the purpose of detecting hydrogen and humidity in nitrogen, the hydrogen detection sensitivity is measured in a mixed gas atmosphere of nitrogen and hydrogen, and the humidity detection sensitivity is measured in a mixed gas atmosphere of nitrogen and humidity. It is preferable to measure by.

続いて図5の回路構成概略図を用いて説明する。水素センサ1を構成する検知素子2、参照素子3はセラミックパッケージ電極18を介してそれぞれ外部の固定抵抗R2、R1と接続されブリッジ回路を構成する。 Next, description will be made with reference to the schematic circuit configuration diagram of FIG. The sensing element 2 and the reference element 3 constituting the hydrogen sensor 1 are connected to external fixed resistors R2 and R1 via the ceramic package electrode 18 to form a bridge circuit.

固定抵抗R2、R1は同じ抵抗値である必要はなく、ハーフブリッジ回路を構成する参照素子3の抵抗値Rc、検知素子2の抵抗値Rdにおいて、出力Vc、出力Vdがそれぞれ大きくとれるような値に個々に調整することができる。これにより、それぞれ感度の高い測定が可能になるため、高精度なセンサを得ることができる。例えば、参照素子3は使用される環境温度域において扱いやすい抵抗値であればよく数キロΩから数百キロΩ程度が最適である。これは、抵抗値が小さ過ぎると素子に流れる電流値が大きくなり、結果として消費電力が大きくなってしまうためである。また、逆に大き過ぎると信号にノイズを含みやすくなる。一方、検知素子2においては、加熱されている時の抵抗値が扱いやすい値に調整し、例えばT1を200℃、T2を225℃とするのであれば、それぞれの温度で数キロΩ〜数百キロΩ程度になるような設計にするのが最適である。   The fixed resistors R2 and R1 do not have to have the same resistance value, and the resistance value Rc of the reference element 3 and the resistance value Rd of the detection element 2 constituting the half-bridge circuit are values that allow the output Vc and the output Vd to be large. Can be adjusted individually. As a result, high-sensitivity sensors can be obtained because highly sensitive measurements are possible. For example, the reference element 3 may have a resistance value that is easy to handle in the ambient temperature range in which it is used, and is optimally from several kiloohms to several hundred kiloohms. This is because if the resistance value is too small, the value of the current flowing through the element increases, resulting in an increase in power consumption. On the other hand, if it is too large, the signal tends to contain noise. On the other hand, in the detection element 2, when the resistance value when heated is adjusted to an easy-to-handle value, for example, when T1 is 200 ° C. and T2 is 225 ° C., several kiloΩ to several hundreds at each temperature. It is optimal to design for about kilo ohms.

そして、参照素子3の出力Vcがボルテージフォロワ19、アナログデジタルコンバータ20を介して演算処理装置であるマイクロプロセッサ23に入力される。マイクロプロセッサ23には予め図3に示すそれぞれのガス温度と検出感度の近似式、参照素子3の出力Vcに応じてマイクロヒータ9への印加電圧の近似式、それぞれの出力電圧とガス濃度を演算するための近似式等がメモリされており演算される。演算値はデジタルアナログコンバータ22を介して、マイクロヒータ9、および増幅回路21等へ出力される。   Then, the output Vc of the reference element 3 is input to the microprocessor 23 which is an arithmetic processing unit via the voltage follower 19 and the analog / digital converter 20. The microprocessor 23 calculates in advance an approximate expression of each gas temperature and detection sensitivity shown in FIG. 3, an approximate expression of the voltage applied to the microheater 9 according to the output Vc of the reference element 3, and the respective output voltage and gas concentration. Approximation formulas and the like are stored and calculated. The calculated value is output to the microheater 9, the amplifier circuit 21 and the like via the digital / analog converter 22.

そして、マイクロヒータ9にパルス電圧が印加され、検知素子2の薄膜サーミスタ12を加熱制御する。このタイミングにおいて出力Vdt1、Vdt2を検出する。その後、出力Vdt1、Vdt2は増幅回路21に入力され、マイクロプロセッサ23で、水素濃度、湿度濃度が算出される。   Then, a pulse voltage is applied to the microheater 9, and the thin film thermistor 12 of the sensing element 2 is controlled to be heated. At this timing, the outputs Vdt1 and Vdt2 are detected. Thereafter, the outputs Vdt1 and Vdt2 are input to the amplifier circuit 21, and the microprocessor 23 calculates the hydrogen concentration and the humidity concentration.

なお、異なる電圧値をV1、V2の2種類で説明したが、3種類のガスを測定したい場
合は異なる電圧値を3種類にするといった要領で、測定したいガスの種類だけ異なる電圧値を印加し、加熱制御温度をガスの種類だけ異なる温度で測定すればよく、得られた出力値とそれぞれの加熱温度における検出感度を使って、その数だけ連立方程式を立て解くことで、それぞれのガス濃度を算出することができる。
Although different voltage values have been described for two types, V1 and V2, if you want to measure three types of gas, apply different voltage values for the type of gas you want to measure in the same way that three different voltage values are used. It is only necessary to measure the heating control temperature at different temperatures for the type of gas, and by using the obtained output value and the detection sensitivity at each heating temperature, solve the simultaneous equations by that number and calculate the respective gas concentrations. Can be calculated.

(実施形態2)
図9は、本実施形態2の水素センサを説明するための断面構造図である。本実施形態2による水素センサ41は、測定対象ガス濃度を検出する検知素子42と、環境温度を検出するための参照素子43を有し、測定環境に暴露された同じ空間に配置される。本実施例では、セラミックパッケージ4に検知素子42と参照素子43を配置し、測定環境に暴露させるために通気口6を備えたリッド5により水素センサ41を形成した。
(Embodiment 2)
FIG. 9 is a cross-sectional structure diagram for explaining the hydrogen sensor of the second embodiment. The hydrogen sensor 41 according to the second embodiment includes a detection element 42 that detects a measurement target gas concentration and a reference element 43 that detects an environmental temperature, and is arranged in the same space exposed to the measurement environment. In the present embodiment, the detection element 42 and the reference element 43 are arranged in the ceramic package 4, and the hydrogen sensor 41 is formed by the lid 5 provided with the vent 6 in order to be exposed to the measurement environment.

検知素子42は、基板7、絶縁膜8、マイクロヒータ9、マイクロヒータ保護膜10、白金抵抗体51、白金保護膜53を備える。   The detection element 42 includes a substrate 7, an insulating film 8, a microheater 9, a microheater protective film 10, a platinum resistor 51, and a platinum protective film 53.

参照素子43は、検知素子を加熱するための発熱体としてマイクロヒータ9を備えていない以外は検知素子42と同じである。   The reference element 43 is the same as the detection element 42 except that the microheater 9 is not provided as a heating element for heating the detection element.

実施形態1の水素センサ1と、実施形態2の水素センサ41との構成の違いは、温度変化を検知するための感熱素子として、薄膜サーミスタを用いているか又は、白金抵抗体を用いているかの違いである。具体的には、水素センサ1の検知素子2は、感熱素子として薄膜サーミスタ12、薄膜サーミスタ電極11及び、薄膜サーミスタ保護膜13を有しているが、実施形態2に於いては、薄膜サーミスタ12、薄膜サーミスタ電極11の替わりとして白金抵抗体51が、薄膜サーミスタ保護膜13の替わりに白金保護膜53を備えていることである。その他の基板7、セラミックパッケージ4等の材質及び構成は同じである。 The difference in configuration between the hydrogen sensor 1 of the first embodiment and the hydrogen sensor 41 of the second embodiment is that a thin film thermistor or a platinum resistor is used as a thermal element for detecting a temperature change. It is a difference. Specifically, the detection element 2 of the hydrogen sensor 1 includes a thin film thermistor 12, a thin film thermistor electrode 11, and a thin film thermistor protective film 13 as heat sensitive elements. In the second embodiment, the thin film thermistor 12 is provided. The platinum resistor 51 includes a platinum protective film 53 instead of the thin film thermistor protective film 13 instead of the thin film thermistor electrode 11. The other substrates 7 and ceramic package 4 have the same material and configuration.

水素センサ41の感熱素子である検知素子42、参照素子43では、水素センサ1に於ける薄膜サーミスタ12が積層されていない。そのため水素センサ1に於ける薄膜サーミスタ12の熱伝導の変化を温度変化として検出する役割を、白金抵抗体51が担っている。   In the detection element 42 and the reference element 43 which are heat sensitive elements of the hydrogen sensor 41, the thin film thermistor 12 in the hydrogen sensor 1 is not laminated. Therefore, the platinum resistor 51 plays a role of detecting a change in thermal conductivity of the thin film thermistor 12 in the hydrogen sensor 1 as a temperature change.

水素センサ41を用いたガス検知動作は、水素センサ1を用いたガス検知動作と同じであり、水素センサ1については、前記、図2〜図7を使ってガス検知の動作を説明してあるため、ここでは説明を省略する。尚、図5に水素センサ41を適用する場合には、検知素子2を検知素子42とし、参照素子3を参照素子43とされたい。   The gas detection operation using the hydrogen sensor 41 is the same as the gas detection operation using the hydrogen sensor 1, and the gas detection operation of the hydrogen sensor 1 has been described with reference to FIGS. Therefore, the description is omitted here. When the hydrogen sensor 41 is applied to FIG. 5, the detection element 2 should be the detection element 42 and the reference element 3 should be the reference element 43.

また、図10は、実施形態2に於ける回路構成概略図である。水素センサ41を構成する検知素子42、参照素子43はセラミックパッケージ電極18を介してそれぞれ外部の固定抵抗R2、R1と接続されブリッジ回路を構成する。   FIG. 10 is a schematic circuit configuration diagram in the second embodiment. The detection element 42 and the reference element 43 constituting the hydrogen sensor 41 are connected to external fixed resistors R2 and R1 via the ceramic package electrode 18 to form a bridge circuit.

検知素子42、参照素子43は感熱素子として、白金抵抗体51を用いている。白金抵抗体51は、薄膜サーミスタ12に比べて抵抗値が低いために回路としての消費電力が大きくなる傾向にある。この消費電力を低く抑える手段として、ガス検出動作時に白金抵抗体51にパルス電圧を印加する動作が有効である。   The detection element 42 and the reference element 43 use a platinum resistor 51 as a thermal element. Since the resistance value of the platinum resistor 51 is lower than that of the thin film thermistor 12, power consumption as a circuit tends to increase. As means for suppressing this power consumption, an operation of applying a pulse voltage to the platinum resistor 51 during the gas detection operation is effective.

固定抵抗R2、R1は、マイクロヒータ9と同じく、デジタルアナログコンバータ22に接続される回路構成である。固定抵抗R2、R1には、それぞれ、ガス検出動作時に又、環境温度検出時に、デジタルアナログコンバータ22を介して、マイクロプロセッサ23にて制御されたパルス電圧を印加する。この動作により、パルス電圧印加時以外は、ブリッジ回路に電圧が印加されないため、消費電力が抑えられる。このブリッジ回路に対するパルス電圧印加手段以外は、図5の実施形態1に於ける回路と同じ構成である。   The fixed resistors R <b> 2 and R <b> 1 have a circuit configuration that is connected to the digital-analog converter 22 as in the micro heater 9. A pulse voltage controlled by the microprocessor 23 is applied to the fixed resistors R2 and R1 via the digital-analog converter 22 during the gas detection operation and the environmental temperature detection. By this operation, no voltage is applied to the bridge circuit except when a pulse voltage is applied, so that power consumption can be suppressed. Except for the pulse voltage application means for this bridge circuit, the configuration is the same as the circuit in the first embodiment of FIG.

ところで、検知素子42のように白金抵抗体51とマイクロヒータ9とが同じ材料で構成されている場合には、検知素子42がマイクロヒータ9を兼用してもよい。具体的には、図10に於けるマイクロヒータ(図9のマイクロヒータ9)を外す。代わりにマイクロヒータ9が担っていた白金抵抗体51を特定の温度に加熱するという役割を、白金抵抗体51が特定の温度にて発熱するように、白金抵抗体51を有するブリッジ回路にパルス電圧を印加する。これにより、検知素子42がマイクロヒータ9を兼用することが出来る。つまり、感熱素子が前記発熱体の機能を併せ持つということである。 By the way, when the platinum resistor 51 and the microheater 9 are made of the same material as in the detection element 42, the detection element 42 may also serve as the microheater 9. Specifically, the micro heater in FIG. 10 (micro heater 9 in FIG. 9) is removed. Instead, a pulse voltage is applied to the bridge circuit having the platinum resistor 51 so that the platinum resistor 51 that the microheater 9 has played is heated to a specific temperature. Apply. Thereby, the detection element 42 can also serve as the micro heater 9. That is, the thermosensitive element has the function of the heating element.

雰囲気中の測定対象ガスの検出に用いる感熱素子として、薄膜サーミスタ及び、白金抵抗体の例を上げたが、熱伝導の変化を温度変化として検出可能な素子であれば、前記薄膜サーミスタ及び、白金抵抗体に限られるものではない。   Examples of a thin film thermistor and a platinum resistor have been given as examples of a heat sensitive element used for detecting a gas to be measured in the atmosphere, but the thin film thermistor and the platinum can be used as long as the element can detect a change in heat conduction as a temperature change. It is not limited to resistors.

(実施例)
本発明の実施形態1に基づく水素センサの出力特性を図8に開示する。水素100ppm、湿度4900ppmを混合した環境下において、T1を200℃、T2を225℃に設定した水素センサ1で測定した。水素の検出感度は温度T1では3.18μV/ppm、T2では3.28μV/ppm。湿度の検出感度は温度T1では0.013μV/ppm、T2では0.009μV/ppmで、各温度での出力がVdt1は384.64μV、Vdt2は371.61μVであった。
(Example)
The output characteristic of the hydrogen sensor based on Embodiment 1 of this invention is disclosed in FIG. The measurement was performed with the hydrogen sensor 1 in which T1 was set to 200 ° C. and T2 was set to 225 ° C. in an environment where 100 ppm of hydrogen and 4900 ppm of humidity were mixed. The detection sensitivity of hydrogen is 3.18 μV / ppm at temperature T1, and 3.28 μV / ppm at T2. The humidity detection sensitivity was 0.013 μV / ppm at temperature T1 and 0.009 μV / ppm at T2, and the output at each temperature was 384.64 μV for Vdt1 and 371.61 μV for Vdt2.

T1、T2の測定結果を式2、式3に代入すると、式4、式5となる。   Substituting the measurement results of T1 and T2 into Equations 2 and 3, Equations 4 and 5 are obtained.

3.18X + 0.013Y = 384.64 (式4)
3.28X + 0.009Y = 371.61 (式5)
3.18X + 0.013Y = 384.64 (Formula 4)
3.28X + 0.009Y = 371.61 (Formula 5)

式4、式5の連立方程式より、X(水素)は100ppm、Y(湿度)は4900ppmと求まった。   From the simultaneous equations of Formula 4 and Formula 5, X (hydrogen) was found to be 100 ppm and Y (humidity) was found to be 4900 ppm.

(比較例)
比較例1として、同じ水素100ppm、湿度4900ppmを混合した環境下において、T1の200℃のみ設定した水素センサ1で水素濃度を測定した場合(式6)、比較例2としてT2の225℃のみ設定した水素センサ1で水素濃度を測定した(式7)。
(Comparative example)
As Comparative Example 1, when the hydrogen concentration is measured with the hydrogen sensor 1 in which only 200 ° C. of T1 is set in an environment where the same hydrogen is 100 ppm and humidity is 4900 ppm (Equation 6), only 225 ° C. of T2 is set as Comparative Example 2. The hydrogen concentration was measured with the hydrogen sensor 1 (Equation 7).

3.18X = 384.64 (式6)
3.28X = 371.61 (式7)
3.18X = 384.64 (Formula 6)
3.28X = 371.61 (Formula 7)

式6より、X(水素)は121ppmとなり、T1の200℃のみ設定した水素センサ1で水素濃度を測定した場合21ppmが測定誤差となる。また、式7より、X(水素)は113ppmとなり、T2の225℃のみ設定した水素センサ1で水素濃度を測定した場合13ppmが測定誤差となる。   From Equation 6, X (hydrogen) is 121 ppm, and when the hydrogen concentration is measured with the hydrogen sensor 1 set only at 200 ° C. of T1, 21 ppm becomes a measurement error. Further, from Equation 7, X (hydrogen) is 113 ppm, and when the hydrogen concentration is measured by the hydrogen sensor 1 set only at 225 ° C. of T2, 13 ppm becomes a measurement error.

図8の実施例、比較例共に、水素センサ1を用いた測定結果であり、水素センサ41を用いた結果は図示していないが、水素センサ41を用いても同様のガス濃度値の演算結果が得られている。   Both the example of FIG. 8 and the comparative example are measurement results using the hydrogen sensor 1, and the results using the hydrogen sensor 41 are not shown in the figure, but the same gas concentration value calculation results are also obtained using the hydrogen sensor 41. Is obtained.

以上の通り、目的とする測定対象ガスの他に、目的とする測定対象ガス以外のガスが混在していても、目的とする測定対象ガスと目的とする測定対象ガス以外のガス濃度をそれぞれ検出することで、目的とする測定対象ガスの濃度を高精度で測定できる熱伝導式ガスセンサを提供することができた。 As described above, in addition to the target measurement target gas, gas concentrations other than the target measurement target gas and gas concentrations other than the target measurement target gas can be detected. By doing so, it was possible to provide a heat conduction type gas sensor capable of measuring the concentration of the target measurement target gas with high accuracy.

本発明は、ガスの熱伝導の変化からガス濃度を検出する熱伝導式ガスセンサに好適である。   The present invention is suitable for a heat conduction type gas sensor that detects a gas concentration from a change in gas heat conduction.

1、41 水素センサ
2、42 検知素子
3、43 参照素子
4 セラミックパッケージ
5 リッド
6 通気口
7 基板
8 絶縁膜
9 マイクロヒータ
10 マイクロヒータ保護膜
11 薄膜サーミスタ電極
12 薄膜サーミスタ
13 薄膜サーミスタ保護膜
14 キャビティ
15 メンブレン
16 電極パッド
17 ワイヤー
18 セラミックパッケージ電極
19 ボルテージフォロワ
20 アナログデジタルコンバータ
21 増幅回路
22 デジタルアナログコンバータ
23 マイクロプロセッサ
24、25、26、27、28、29 パルス
51 白金抵抗体
53 白金保護膜
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1, 41 Hydrogen sensor 2, 42 Sensing element 3, 43 Reference element 4 Ceramic package 5 Lid 6 Vent 7 Substrate 8 Insulating film 9 Micro heater 10 Micro heater protective film 11 Thin film thermistor electrode 12 Thin film thermistor 13 Thin film thermistor protective film 14 Cavity DESCRIPTION OF SYMBOLS 15 Membrane 16 Electrode pad 17 Wire 18 Ceramic package electrode 19 Voltage follower 20 Analog digital converter 21 Amplifying circuit 22 Digital analog converter 23 Microprocessor 24, 25, 26, 27, 28, 29 Pulse 51 Platinum resistor 53 Platinum protective film

Claims (5)

感熱素子と、前記感熱素子を加熱する発熱体と、前記感熱素子を用いて出力を行うブリッジ回路と、環境温度を検出する参照素子と、
前記出力から近似式を用いた演算によりガス濃度を算出する演算処理装置を備えた熱伝導式ガスセンサであって、
前記演算処理装置は、複数のパルス電圧値によって前記感熱素子を複数の温度に加熱制御を行い、
前記参照素子の出力を前記発熱体に対する加熱が行われていないタイミングで検出し、
前記参照素子の出力により前記発熱体に印加するパルス電圧値を調整し、
前記複数の温度に対応した前記出力と、
目的とする測定対象ガスの前記複数の温度に対応したガス濃度の検出感度と、前記目的とする測定対象ガス以外の前記複数の温度に対応したガス濃度の検出感度を用いて、
前記目的とする測定対象ガスのガス濃度と前記目的とする測定対象ガス以外のガス濃度をそれぞれ算出することを特徴とする熱伝導式ガスセンサ。
A thermal element, a heating element that heats the thermal element, a bridge circuit that outputs using the thermal element, a reference element that detects ambient temperature,
A heat conduction type gas sensor provided with an arithmetic processing unit that calculates a gas concentration by calculation using an approximate expression from the output,
The arithmetic processing unit performs heating control of the thermosensitive element to a plurality of temperatures by a plurality of pulse voltage values,
Detecting the output of the reference element at a timing when the heating element is not heated;
Adjust the pulse voltage value applied to the heating element by the output of the reference element,
The output corresponding to the plurality of temperatures;
Using the gas concentration detection sensitivity corresponding to the plurality of temperatures of the target measurement target gas and the gas concentration detection sensitivity corresponding to the plurality of temperatures other than the target measurement target gas,
A heat conduction type gas sensor, wherein a gas concentration of the target measurement target gas and a gas concentration other than the target measurement target gas are calculated.
前記発熱体は、前記複数のパルス電圧値により、それぞれ一定間隔をあけ、且つそれぞれ算出したいガスの種類の数だけ異なる温度に加熱制御されることを特徴とする請求項1に記載の熱伝導式ガスセンサ。   2. The heat conduction type according to claim 1, wherein the heating element is controlled to be heated to a temperature different from each other by the number of types of gas to be calculated, respectively, at a predetermined interval according to the plurality of pulse voltage values. Gas sensor. 前記感熱素子はメンブレン構造を有する薄膜サーミスタであことを特徴とする請求項1または2に記載の熱伝導式ガスセンサ。 The thermally conductive gas sensor according to claim 1 or 2 heat sensitive element is characterized in that Ru thin film thermistor der having a membrane structure. 前記感熱素子はメンブレン構造を有する白金であことを特徴とする請求項1または2に記載の熱伝導式ガスセンサ。 The thermally conductive gas sensor according to claim 1 or 2 heat sensitive element is characterized in that Ru platinum der having a membrane structure. 前記感熱素子が前記発熱体の機能を併せ持つ素子であることを特徴とする請求項1、2、4の何れか1項に記載の熱伝導式ガスセンサ。   The heat conduction gas sensor according to any one of claims 1, 2, and 4, wherein the heat sensitive element is an element having a function of the heating element.
JP2015187927A 2015-03-12 2015-09-25 Thermal conductivity gas sensor Active JP6160667B2 (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015049729 2015-03-12
JP2015049729 2015-03-12

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2016170161A JP2016170161A (en) 2016-09-23
JP6160667B2 true JP6160667B2 (en) 2017-07-12

Family

ID=56983590

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015187927A Active JP6160667B2 (en) 2015-03-12 2015-09-25 Thermal conductivity gas sensor

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6160667B2 (en)

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6879060B2 (en) * 2017-06-05 2021-06-02 Tdk株式会社 Gas sensor
JP6896576B2 (en) 2017-09-20 2021-06-30 株式会社東芝 Gas sensor and its manufacturing method
JP7070175B2 (en) * 2017-09-26 2022-05-18 Tdk株式会社 Gas sensor
WO2019065127A1 (en) * 2017-09-26 2019-04-04 Tdk株式会社 Gas sensor
JP6926040B2 (en) 2018-09-10 2021-08-25 株式会社東芝 Hydrogen sensor, hydrogen detection method and program
US11162928B2 (en) * 2019-11-04 2021-11-02 Invensense, Inc. Humidity correction method in thermistor based gas sensing platform
JP7415493B2 (en) * 2019-12-02 2024-01-17 Tdk株式会社 gas sensor
CN112834562B (en) * 2021-01-04 2022-04-12 吉林大学 Device and method for detecting helium concentration in heat-conducting mixed gas
JP7456404B2 (en) 2021-03-12 2024-03-27 オムロン株式会社 Thermal sensors and measurement methods using thermal sensors
KR102487972B1 (en) * 2021-06-24 2023-01-16 (주)위드멤스 Thermal conductivity sensing type hydrogen detector having integrated structure
CN114323449B (en) * 2021-12-13 2023-06-30 苏州芯镁信电子科技有限公司 Hydrogen sensor and preparation method thereof
CN114720509B (en) * 2022-06-08 2022-08-26 苏州芯镁信电子科技有限公司 Gas detection assembly and preparation method thereof
KR102600398B1 (en) * 2023-06-23 2023-11-10 김세민 One Chip Gas Sensitive Device using Thermal Conductivity

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2673074B2 (en) * 1991-12-16 1997-11-05 シャープ株式会社 Humidity detection circuit
JPH0850109A (en) * 1994-08-08 1996-02-20 Yamatake Honeywell Co Ltd Gas analyzing method
JP3321315B2 (en) * 1994-10-03 2002-09-03 リコーエレメックス株式会社 Atmospheric gas detector
CA2184055C (en) * 1994-12-29 2001-12-18 Mitsuteru Kimura Humidity sensor
JP2005172655A (en) * 2003-12-12 2005-06-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd Gas sensor, fuel cell system using it, and vehicle

Also Published As

Publication number Publication date
JP2016170161A (en) 2016-09-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6160667B2 (en) Thermal conductivity gas sensor
JP7070175B2 (en) Gas sensor
US11408843B2 (en) Gas sensor
JP6679993B2 (en) Gas detector
KR101489104B1 (en) Electric element
JP2017166826A (en) Gas sensor
JP2015227822A (en) Heat conduction type gas sensor
JP2009168649A (en) Indirect heat type heat-sensitive resistance element, and absolute humidity sensor using the indirect heat type heat-sensitivie resistance element
JP6631049B2 (en) Gas detector
JP6879060B2 (en) Gas sensor
WO2019065127A1 (en) Gas sensor
US11898980B2 (en) Gas sensor
JP6119701B2 (en) Gas sensor
JP6729197B2 (en) Gas sensor
JP7188445B2 (en) gas sensor
JP7307525B2 (en) gas sensor
JP2016133404A (en) Gas detector
JP7156014B2 (en) Thermistor and gas sensor provided with the same
JP7314791B2 (en) gas sensor
JP6834358B2 (en) Gas sensor
JPH0829227A (en) Micro bridge type thermosensitive semiconductor flow velocity detection element and device using the same
JPH04285817A (en) Thermal type flow sensor

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20161025

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20161212

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20170516

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20170529

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6160667

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150