JP6119618B2 - production equipment - Google Patents
production equipment Download PDFInfo
- Publication number
- JP6119618B2 JP6119618B2 JP2014006079A JP2014006079A JP6119618B2 JP 6119618 B2 JP6119618 B2 JP 6119618B2 JP 2014006079 A JP2014006079 A JP 2014006079A JP 2014006079 A JP2014006079 A JP 2014006079A JP 6119618 B2 JP6119618 B2 JP 6119618B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inspection
- manufacturing
- manufacturing steps
- shared
- dedicated
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P90/00—Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
- Y02P90/02—Total factory control, e.g. smart factories, flexible manufacturing systems [FMS] or integrated manufacturing systems [IMS]
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P90/00—Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
- Y02P90/30—Computing systems specially adapted for manufacturing
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Management, Administration, Business Operations System, And Electronic Commerce (AREA)
Description
本発明は、製品の生産あるいは検査等の製造処理を行う製造設備に関するものである。 The present invention relates to a manufacturing facility that performs manufacturing processing such as product production or inspection.
従来の製造設備として、例えば、特許文献1に記載されたものが知られている。特許文献1の製造設備は、半導体検査装置であり、まず、最も検査時間の長くかかる第1検査装置に第1ウエハを挿入して検査を開始する。次に、2番目に時間のかかる第2検査装置に第2ウエハを挿入して検査を開始する。更に、3番目に時間のかかる第3検査装置に第3ウエハを挿入して検査を開始する。 As a conventional manufacturing facility, for example, the one described in Patent Document 1 is known. The manufacturing facility of Patent Document 1 is a semiconductor inspection apparatus. First, a first wafer is inserted into a first inspection apparatus that requires the longest inspection time, and inspection is started. Next, the inspection is started by inserting the second wafer into the second inspection apparatus that takes the second most time. Further, the inspection is started by inserting the third wafer into the third inspection apparatus which takes the third time.
上記の検査を開始した後に、第3検査装置から検査後の第3ウエハを取り出してウエハカセットに挿入する。次に、第2検査装置から検査後の第2ウエハを取り出してウエハカセットに挿入する。更に、第1検査装置から検査後の第1ウエハを取り出してウエハカセットに挿入する。 After starting the above inspection, the third wafer after inspection is taken out from the third inspection apparatus and inserted into the wafer cassette. Next, the second wafer after the inspection is taken out from the second inspection apparatus and inserted into the wafer cassette. Further, the inspected first wafer is taken out from the first inspection apparatus and inserted into the wafer cassette.
これにより、特許文献1では、複数の検査装置を並列に処理することにより、検査時間の短縮化を図っている。 Thereby, in patent document 1, shortening of inspection time is aimed at by processing a plurality of inspection devices in parallel.
しかしながら、上記特許文献1は、単純に3つの検査装置を並列に配置し、それぞれ別々のサンプルに対して1種類ずつ、合計3種類の検査を行うものに過ぎず、同一品について3種類の検査を行うものではない。 However, the above-mentioned Patent Document 1 simply arranges three inspection devices in parallel and performs only three types of inspections, one for each separate sample, and three types of inspection for the same product. Is not something to do.
製造設備においては、複数の製造ステップを有する製造工程が、同一内容で複数設けられる場合がある。そして、複数の製造工程の所定の製造ステップに対しては、設備費の低減のために共用の設備をもって対応する場合が考えられる。 In a manufacturing facility, a plurality of manufacturing processes having a plurality of manufacturing steps may be provided with the same content. And it is conceivable that predetermined manufacturing steps of a plurality of manufacturing processes are handled with a common facility in order to reduce the facility cost.
このような場合、複数の製造工程間の所定の製造ステップにおいて、製造処理タイミングが重なると、一方の製造工程における製造ステップが終わるまで、他方の製造工程における製造ステップでは待ち時間が発生してしまい、トータル的な製造効率が低下してしまうおそれがある。また、待ち時間が長すぎると所定の時間内に製造処理ができなくなる場合も考えられる。 In such a case, if the manufacturing process timing overlaps in a predetermined manufacturing step between a plurality of manufacturing processes, a waiting time occurs in the manufacturing step in the other manufacturing process until the manufacturing step in one manufacturing process ends. The total production efficiency may be reduced. In addition, if the waiting time is too long, the manufacturing process may not be performed within a predetermined time.
本発明の目的は、上記問題に鑑み、複数の製造工程に対して、共用の設備を用いて製造処理するものにおいて、待ち時間の発生を抑制して、効率的な製造処理を可能とする製造設備を提供することにある。 In view of the above problems, an object of the present invention is to manufacture a plurality of manufacturing processes by using a common facility and suppressing the occurrence of waiting time and enabling an efficient manufacturing process. To provide facilities.
本発明は上記目的を達成するために、以下の技術的手段を採用する。 In order to achieve the above object, the present invention employs the following technical means.
本発明では、製造処理のための複数の製造ステップ(1〜5)を備える複数の製造工程(10、20)に適用されて、
ぞれぞれの製造工程(10、20)における複数の製造ステップ(1〜5)のうち、所定の製造ステップ(1、2、4)に対して、共用で使用される複数の共用機器(110、120)と、
それぞれの製造工程(10、20)における複数の製造ステップ(1〜5)のうち、残りの製造ステップ(3、5)に対して、それぞれ専用で使用される工程専用機器(130、140)と、
共用機器(110、120)、および工程専用機器(130、140)の作動制御を行う制御装置(150)とを備える製造設備であって、
制御装置(150)は、それぞれの製造工程(10、20)における製造ステップ(1〜5)の実施順位を設定するにあたって、
複数の共用機器(110、120)のうち、使用総時間のより長いものを優先し、且つ、所定の製造ステップ(1、2、4)に対して同一の共用機器(120)の使用が連続となるようにし、
次に、工程専用機器(130、140)において、残りの製造ステップ(3、5)に対して同一の工程専用機器(130、140)の使用が連続となるようにすると共に、
複数の製造工程(10、20)のうち、一方の製造工程(10)における製造処理がすでに開始されているとき、
一方の製造工程(10)において優先した共用機器(110、120)による待ち時間が発生しないように、他方の製造工程(20)における製造ステップ(1〜5)の実施順位を再割当てすることを特徴としている。
In the present invention, the present invention is applied to a plurality of manufacturing steps (10, 20) including a plurality of manufacturing steps (1 to 5) for manufacturing processing.
Among a plurality of manufacturing steps (1 to 5) in each manufacturing process (10, 20), a plurality of shared devices ( 110, 120)
Of the plurality of manufacturing steps (1 to 5) in each manufacturing process (10, 20), dedicated process equipment (130, 140) used exclusively for the remaining manufacturing steps (3, 5), respectively ,
A manufacturing facility comprising a shared device (110, 120) and a control device (150) for controlling the operation of the process dedicated device (130, 140),
The control device (150) sets the execution order of the manufacturing steps (1 to 5) in the respective manufacturing processes (10, 20).
Of the plurality of shared devices (110, 120), the one with the longer total usage time is given priority, and the same shared device (120) is continuously used for a predetermined manufacturing step (1, 2, 4). So that
Next, in the process-dedicated equipment (130, 140), the same process-dedicated equipment (130, 140) is continuously used for the remaining manufacturing steps (3, 5).
When the manufacturing process in one manufacturing process (10) among the plurality of manufacturing processes (10, 20) has already started,
Reassigning the execution order of the manufacturing steps (1-5) in the other manufacturing process (20) so as not to cause a waiting time due to the shared equipment (110, 120) having priority in one manufacturing process (10). It is a feature.
この発明によれば、予め定めた所定時間のうちに、各製造工程(10、20)において全ての製造ステップ(1〜5)を実施するにあたって、工程専用機器(130、140)については、それぞれの製造工程(10、20)において他の製造工程(10、20)の都合を配慮することなく、使用することができる。よって、工程専用機器(130、140)を用いて行う製造ステップ(3、5)については、所定時間内での優先度を下げても差支えがないことになる。 According to this invention, in carrying out all the manufacturing steps (1-5) in each manufacturing process (10, 20) within a predetermined time, the process dedicated devices (130, 140) are respectively The production process (10, 20) can be used without considering the convenience of the other production processes (10, 20). Therefore, for the manufacturing steps (3, 5) performed using the process-dedicated equipment (130, 140), there is no problem even if the priority is lowered within a predetermined time.
一方、共用機器(110、120)については、所定時間内において、共用機器(110、120)の使用、および同一の共用機器(120)による連続使用を優先することで、複数の製造工程(10、20)に対して共用機器(110、120)を共用するための自由度を高めることができる。 On the other hand, with regard to the shared devices (110, 120), priority is given to the use of the shared devices (110, 120) and the continuous use by the same shared device (120) within a predetermined time. , 20), the degree of freedom for sharing the shared device (110, 120) can be increased.
そして、複数の製造工程(10、20)のうち、一方の製造工程(10)における製造処理がすでに開始されているとき、一方の製造工程(10)において優先した共用機器(110、120)による待ち時間が発生しないように、他方の製造工程(20)における製造ステップ(1〜5)の実施順位を再割当てするようにしている。これにより、他方の製造工程(20)において、待ち時間の分だけ、トータルの製造処理時間が延びてしまうことを防止することができる。よって、待ち時間の発生を抑制して、効率的な製造処理を可能とする製造設備とすることができる。 And when the manufacturing process in one manufacturing process (10) has already started among a plurality of manufacturing processes (10, 20), it depends on the shared equipment (110, 120) preferential in one manufacturing process (10). The execution order of the manufacturing steps (1 to 5) in the other manufacturing process (20) is reassigned so that no waiting time occurs. Thereby, in the other manufacturing process (20), it is possible to prevent the total manufacturing processing time from being extended by the waiting time. Therefore, it can be set as the manufacturing facility which suppresses generation | occurrence | production of waiting time and enables an efficient manufacturing process.
尚、上記各手段の括弧内の符号は、後述する実施形態記載の具体的手段との対応関係を示すものである。 In addition, the code | symbol in the bracket | parenthesis of each said means shows a corresponding relationship with the specific means of embodiment description mentioned later.
以下に、図面を参照しながら本発明を実施するための複数の形態を説明する。各形態において先行する形態で説明した事項に対応する部分には同一の参照符号を付して重複する説明を省略する場合がある。各形態において構成の一部のみを説明している場合は、構成の他の部分については先行して説明した他の形態を適用することができる。各実施形態で具体的に組み合わせが可能であることを明示している部分同士の組み合わせばかりではなく、特に組み合わせに支障が生じなければ、明示していなくても実施形態同士を部分的に組み合せることも可能である。 A plurality of modes for carrying out the present invention will be described below with reference to the drawings. In each embodiment, parts corresponding to the matters described in the preceding embodiment may be denoted by the same reference numerals, and redundant description may be omitted. When only a part of the configuration is described in each mode, the other modes described above can be applied to the other parts of the configuration. Not only combinations of parts that clearly indicate that the combination is possible in each embodiment, but also a combination of the embodiments even if they are not clearly specified unless there is a problem with the combination. It is also possible.
(第1実施形態)
第1実施形態の製造設備について、図1〜図4を用いて説明する。製造設備は、製品の加工、組付け等を行う生産用設備、あるいは生産される途中段階の半完成品、生産された完成品等の検査を行う検査用設備等を含む製造処理用の設備である。第1実施形態の製造設備は、例えば、生産されたワーク50(完成品)のできばえを検査する検査用設備100に適用したものである。
(First embodiment)
The manufacturing equipment of the first embodiment will be described with reference to FIGS. Manufacturing equipment is equipment for production processing, including production equipment that processes and assembles products, or inspection equipment that inspects semi-finished products that are being produced and finished products that are produced. is there. The manufacturing equipment of the first embodiment is applied to, for example, an
ワーク50は、例えば、車両に適用されて、自車位置の表示、および乗員が希望する目的地への案内表示に加えて、テレビ、ビデオ等の映像表示、音楽データの再生、携帯電話のハンズフリー通話等を行うカーナビゲーション装置である。尚、当然のことながら、ワーク50は、カーナビゲーション装置に限定されるものではなく、種々の製品への適用が可能である。
The
そして、検査用設備100は、複数の工程、即ち、ここでは第1工程10と第2工程20において流動されるワーク50に対する検査を実施するものとなっている。第1、第2工程10、20は、本発明の製造工程に対応する。第1工程10と第2工程20は、並列に配置される工程となっている。尚、詳細説明は省略するが、製造工程は、第1、第2工程10、20に限定されるものではなく、更に第3工程、第4工程・・・等を備える場合もある。
The
第1工程10における検査内容、および第2工程20における検査内容は、ここでは、例えば5つの検査1〜5がそれぞれ実施されるようになっている。5つの検査1〜5は、本発明の複数の製造ステップに対応する。
As for the inspection content in the
5つの検査1〜5の検査内容を以下、簡単に説明する。はじめに、共用機器を使用する検査1、2、4について説明する。検査1は、ブルートゥース(登録商標)に基づくワーク50の送受信状態の良否を確認するブルートゥーステスタを用いた通信検査である。検査2は、所定方式のデータ転送に基づくワーク50の映像の良否を確認する映像信号発生器を用いた第1映像検査である。第4検査は、ワーク50のテレビ用映像の良否を確認する映像信号発生器を用いた第2映像検査である。
The inspection contents of the five inspections 1 to 5 will be briefly described below. First, inspections 1, 2, and 4 that use shared equipment will be described. The inspection 1 is a communication inspection using a Bluetooth tester that confirms the quality of the transmission / reception state of the
次に、各工程でのみ使用する工程専用機器での検査3、5について説明する。第1工程10では、第3検査はワーク50の作動時の電圧値計測で、第5検査は抵抗値計測で何れもマルチメータを用いた電気検査である。第2工程20では、第3検査はワーク50の音声出力1、第5検査は音声出力2の検査で何れもオーディオアナライザを用いた音声検査である。尚、各種検査内容は、上記内容に限定されるものではない。
Next,
検査用設備100は、図1に示すように、各種検査を行う第1共用機器110、第2共用機器120、第1工程専用機器130、第2工程専用機器140、および各機器110〜140の作動を制御する制御装置150等を備えている。
As shown in FIG. 1, the
第1共用機器110は、第1工程10および第2工程20におけるワーク50に対して共用される機器であり、例えば、図2に示すように、検査1(通信検査)を実施する機器となっている。第1共用機器110には、切替器111が設けられている。
The first shared
切替器111は、第1共用機器110の第1工程10のワーク50側、あるいは第2工程20のワーク50側への接続状態を切替えるものである。この切替器111によって、第1共用機器110は、第1工程10におけるワーク50の検査1、および第2工程20におけるワーク50の検査1ができるようになっている。
The
第2共用機器120は、第1工程10および第2工程20におけるワーク50に対して共用される機器であり、例えば、図2に示すように、検査2(第1映像検査)、および検査4(第2映像検査)を実施する機器となっている。第2共用機器120には、分配器121が設けられている。
The second shared
分配器121は、第2共用機器120の第1工程10のワーク50側、あるいは第2工程20のワーク50側への検査信号の出力を分配するものである。この分配器121によって、第2共用機器120は、第1工程10におけるワーク50の検査2、検査4、および第2工程20におけるワーク50の検査2、検査4ができるようになっている。
The
第1工程専用機器130は、第1工程10におけるワーク50に対して専用で設定された機器であり、例えば、図2に示すように、検査3および検査5(マルチメータによる電気検査)を実施する機器となっている。
The first process dedicated
第2工程専用機器140は、第2工程20におけるワーク50に対して専用で設定された機器であり、例えば、図2に示すように、検査3および検査5(オーディオアナライザによる音声検査)を実施する機器となっている。
The second process dedicated
制御装置150は、上記各機器110〜140の作動を制御することで、各工程10、20のワーク50に対する5つの検査を実施する制御部となっている。制御装置150は、ここでは、後述するように、各工程10、20における5つの検査の実施順位が最適となるように決定して、決定した順に各機器110〜140を作動させるようになっている。制御装置150は、図2に示す各機器110〜140における各検査1〜5に要するそれぞれの時間を予め記憶している。
The
検査用設備100の構成は、以上のようになっており、次に、図3、図4を加えて、作動の詳細について説明する。
The configuration of the
制御装置150は、工程より動作開始指示を受け取ると、図3に示すフローチャートのステップS110にて、検査種類及び使用機器情報に基づき、第1工程10の場合は、第1共用機器110、第2共用機器120、および第1工程専用機器130毎に、検査に要する機器使用総時間(以下、総時間)を集計する。また、制御装置150は、第2工程20の場合は、第1共用機器110、第2共用機器120、および第2工程専用機器140毎に、検査に要する機器使用総時間(以下、総時間)を集計する。総時間は、予測時間であり、予め1回以上実動作させた時間を記憶したものを使用することで検査順割当ての精度を高めることができる。
When the
集計結果は、図2に示すように、例えば、第1共用機器110が15秒、第2共用機器120が17秒、第1、第2工程専用機器130、140がそれぞれ18秒となる。
As shown in FIG. 2, for example, the total result is 15 seconds for the first shared
上記のステップS110にて、各機器110〜140毎に総時間を集計する理由は、同一機器を使用する検査を連続させることで機器の切替時間などの準備時間を最小にし、使用効率を最大にするためである。
The reason why the total time is totaled for each of the
次に、ステップS120にて、制御装置150は、第1、第2工程専用機器130、140よりも、第1、第2共用機器110、120において、総時間が長いものを優先、且つ連続になるように検査順割当てを実施する。ここでは、第1共用機器110と、第2共用機器120とでは、第2共用機器120における総時間の方が長くなっている(15秒<17秒)。よって、制御装置150は、第2共用機器120による検査2、検査4を優先すると共に、検査2および検査4が連続するように検査順を割り当て、第1共用機器110による検査1を、その次に割当てる。
Next, in step S120, the
次に、ステップS130にて、制御装置150は、第1、第2工程専用機器130、140において、同一の工程専用機器が連続するよう検査順割当てを実施する。ここでは、第1、第2工程専用機器130、140は、それぞれ同じように、検査3、検査5を実施するようになっている。よって、制御装置150は、上記の第1、第2共用機器110、120による検査2、検査4、検査1の次に、第1、第2工程専用機器130、140による検査3および検査5が連続するように割当てる。
Next, in step S130, the
次に、ステップS140にて、既に検査が開始されている工程の有無を確認し、無い場合は、ステップS150に移行して、上記ステップS120、S130で割当てた検査の順番、即ち、図4(a)に示すように第1工程10では検査2→検査4→検査1→検査3→検査5の順序で検査を開始する。
Next, in step S140, it is confirmed whether or not there is a process that has already been inspected. If there is no process, the process proceeds to step S150, and the inspection order assigned in steps S120 and S130, that is, FIG. As shown in a), in the
一方、ステップS140にて、既に検査が開始されている工程が有る場合は、ステップS160にて、制御装置150は、既開始工程の進捗中の検査に対し優先検査順に割当て確認し、待ち時間が発生しないように再割当てを実施する。
On the other hand, if there is a process in which inspection has already started in step S140, in step S160, the
この際、工程より受け取った動作開始指示のタイミングによって使用されている機器の状況が変わる。例えば、図4(a)の検査動作結果例に対して、図4(b)に示すように、第1工程10の動作開始後に、第2工程20が動作開始した場合で、第2工程20が第1工程10の開始1秒後の場合、待ち時間の発生が無いように、第2共用機器120の次に優先度の高い第1共用機器110による検査1が最初に割当てされる。つまり、第1工程10の開始1秒後であると、第2工程20では、第2共用機器120による検査2、4は実施できないため、第1共用機器110による検査1を先に割当てる訳である。
At this time, the status of the device being used varies depending on the timing of the operation start instruction received from the process. For example, with respect to the example of the inspection operation result of FIG. 4A, as shown in FIG. 4B, the
更に、その次に割当てられるのは優先度的には検査2、4であるが、第1工程10の検査4が完了するまでは、第2工程20において、第2共用機器120を使用することができず、待ち時間が発生してしまうことから、第2工程専用機器140による検査3を先に割当てる。このとき、第2工程専用機器140による連続検査を行うようにするために、検査3の次に検査5を割当てる。そして、最後に、第2共用機器120による検査2、検査4を割当てる。
Further, the inspections 2 and 4 are assigned next in priority, but the second shared
また、例えば、第1工程10の動作開始後に、第2工程20が動作開始した場合で、第2工程20が第1工程10の開始5秒後の場合、第2工程20での検査順は、図4(d)に示すように、検査1→検査2→検査4→検査3→検査5の順に割当てされる。つまり、第2工程20において、図4(b)の場合と同様に、まず最初に検査1を割当てる。そして、検査1が終了した時点では、第1工程10において第2共用機器120による検査2、検査4は終了していることになるので、第2共用機器120を第2工程20に使用することが可能となることから、検査1の次に、検査2、検査4を割当てるようにする。そして、その後に、第2工程専用機器140による検査3、検査5を割当てる。
Further, for example, when the
また、各共用機器110、120、および各工程専用機器130、140の同一機器を連続させることで、逆に、待ち時間が発生する場合は、ステップS170にて、制御装置150は、同一機器による連続検査を意図的にやめた割当てを実施することで待ち時間発生を回避させる。
On the other hand, if the waiting time is generated by connecting the
一例として、図4(c)に示すように、第2工程20の1秒後に第1、第2工程10、20と同じ形態の第3工程があると想定した時に、第3工程では、最初に検査3を割当て、この検査3に続いて同一の工程専用機器による検査5を実施させることになる。しかしながら、検査5を先に割当てると、その後に続く検査2、検査4が第2工程20の検査2、検査4と重なってしてしまう。これを回避するため検査3と検査5とを切り離し、先に検査2、検査4、検査1を割当て、最後に検査5を割当てることで待ち時間発生を回避させる。
As an example, as shown in FIG. 4C, when it is assumed that there is a third process having the same form as the first and
そして、上記ステップS160、S170による再割当てが完了したら、ステップS180にて検査を開始する。 When the reassignment in steps S160 and S170 is completed, the inspection is started in step S180.
尚、図4(e)には、一例として図4(a)の第1工程10に対して、再割当てを行わずに、第2工程20を第1工程10と同一のまま成行きで実施した場合を示しており、この場合であると、大きな待ち時間が発生してしまう。
In FIG. 4E, as an example, the
以上のように本実施形態では、制御装置150は、各工程10、20における各検査1〜5の実施順位を設定するにあたって、まず、複数の共用機器110、120のうち、使用総時間のより長いものを優先し、且つ、所定の検査1、2、4に対して同一の共用機器120の使用が連続となるようにしている(ステップS120)。次に、各工程専用機器130、140において、残りの検査3、5に対して同一の工程専用機器130、140の使用が連続となるようにしている(ステップS130)。そして、各工程10、20のうち、一方の工程(第1工程)10における検査がすでに開始されているとき、一方の工程10において優先した共用機器110、120による待ち時間が発生しないように、他方の工程(第2工程)20における検査1〜5の実施順位を再割当てするようにしている(ステップS160)。
As described above, in the present embodiment, the
予め定めた所定時間のうちに、各工程10、20において全ての検査1〜5を実施するにあたって、各工程専用機器130、140については、それぞれの工程10、20において他の工程10、20の都合を配慮することなく、使用することができる。よって、各工程専用機器130、140を用いて行う検査3、5については、所定時間内での優先度を下げても差支えがないことになる。
In carrying out all the inspections 1 to 5 in each
一方、各共用機器110、120については、所定時間内において、各共用機器110、120の使用、および同一の共用機器120による連続使用を優先することで、各工程10、20に対して各共用機器110、120を共用するための自由度を高めることができる。
On the other hand, with respect to each shared
そして、各工程10、20のうち、一方の工程(第1工程)10における製造処理がすでに開始されているとき、一方の工程10において優先した共用機器120による待ち時間が発生しないように、他方の工程20における検査1〜5の実施順位を再割当てするようにしている。これにより、他方の工程20において、待ち時間の分だけ、トータルの製造処理時間が延びてしまうことを防止することができる。よって、待ち時間の発生を抑制して、効率的な製造処理を可能とする製造設備とすることができる。
Then, when the manufacturing process in one process (first process) 10 among the
また、制御装置150は、同一の共用機器110、120、あるいは同一の工程専用機器130、140による連続使用によって、待ち時間が発生する場合は、意図的に連続使用を解除して、再割当てを行うようにしている(ステップS170)。
In addition, when a waiting time occurs due to continuous use by the same shared
これにより、検査1〜5の実施順位を設定するにあたって、各共用機器110、120、あるいは各工程専用機器130、140を使用する時間帯の設定に自由度を持たせることができるので、待ち時間を減らすことが可能となる。
Thereby, in setting the execution order of the inspections 1 to 5, it is possible to give a degree of freedom to the setting of the time zone in which each shared
(その他の実施形態)
上記第1実施形態では、第1工程10と第2工程20は、並列に配置されるものとして説明したが、これに限らず、直列に配置されるものとしても良いし、工程数は4工程以上でも良い。また、製造ステップ(検査)は6以上でも良い。
(Other embodiments)
In the first embodiment, the
また、上記第1実施形態では、本発明の製造設備を、ワーク50の検査を行う検査用設備100に適用したものとして説明したが、これに限らず、生産用設備に適用しても良い。生産用設備としては、例えば、溶接機において、部品同士の溶接を行う溶接部と、溶接後の溶接状態を確認するカメラ部とを要した画像処理装置が2工程あった場合、溶接電源とカメラ部を除く画像処理装置を共用機器として制御する等、種々の生産設備が揚げられる。
In the first embodiment, the manufacturing facility of the present invention has been described as being applied to the
10 第1工程(製造工程)
20 第2工程(製造工程)
100 製造設備
110 第1共用機器
120 第2共用機器
130 第1工程専用機器
140 第2工程専用機器
150 制御装置
10 1st process (manufacturing process)
20 Second process (manufacturing process)
DESCRIPTION OF
Claims (2)
ぞれぞれの前記製造工程(10、20)における複数の前記製造ステップ(1〜5)のうち、所定の製造ステップ(1、2、4)に対して、共用で使用される複数の共用機器(110、120)と、
それぞれの前記製造工程(10、20)における複数の前記製造ステップ(1〜5)のうち、残りの製造ステップ(3、5)に対して、それぞれ専用で使用される工程専用機器(130、140)と、
前記共用機器(110、120)、および前記工程専用機器(130、140)の作動制御を行う制御装置(150)とを備える製造設備であって、
前記制御装置(150)は、それぞれの前記製造工程(10、20)における前記製造ステップ(1〜5)の実施順位を設定するにあたって、
複数の前記共用機器(110、120)のうち、使用総時間のより長いものを優先し、且つ、前記所定の製造ステップ(1、2、4)に対して同一の前記共用機器(120)の使用が連続となるようにし、
次に、前記工程専用機器(130、140)において、前記残りの製造ステップ(3、5)に対して同一の工程専用機器(130、140)の使用が連続となるようにすると共に、
複数の前記製造工程(10、20)のうち、一方の前記製造工程(10)における製造処理がすでに開始されているとき、
一方の前記製造工程(10)において優先した前記共用機器(110、120)による待ち時間が発生しないように、他方の前記製造工程(20)における前記製造ステップ(1〜5)の実施順位を再割当てすることを特徴とする製造設備。 Applied to a plurality of manufacturing steps (10, 20) comprising a plurality of manufacturing steps (1-5) for a manufacturing process;
Among a plurality of the manufacturing steps (1 to 5) in each of the manufacturing steps (10 and 20), a plurality of commons used in common for a predetermined manufacturing step (1, 2, 4) Equipment (110, 120);
Of the plurality of manufacturing steps (1-5) in each of the manufacturing steps (10, 20), dedicated process devices (130, 140) used exclusively for the remaining manufacturing steps (3, 5). )When,
A manufacturing facility comprising the shared device (110, 120) and a control device (150) for controlling the operation of the process dedicated device (130, 140),
The control device (150) sets the execution order of the manufacturing steps (1 to 5) in the respective manufacturing steps (10, 20).
Of the plurality of shared devices (110, 120), the one with the longer total use time is given priority, and the same shared device (120) is used for the predetermined manufacturing step (1, 2, 4). Ensure continuous use,
Next, in the process-dedicated equipment (130, 140), the same process-dedicated equipment (130, 140) is continuously used for the remaining manufacturing steps (3, 5), and
When the manufacturing process in one of the manufacturing steps (10) among the plurality of manufacturing steps (10, 20) has already started,
The order of execution of the manufacturing steps (1 to 5) in the other manufacturing process (20) is repeated so that the waiting time due to the shared equipment (110, 120) prioritized in the one manufacturing process (10) does not occur. Manufacturing facility characterized by allocation.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014006079A JP6119618B2 (en) | 2014-01-16 | 2014-01-16 | production equipment |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014006079A JP6119618B2 (en) | 2014-01-16 | 2014-01-16 | production equipment |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015135866A JP2015135866A (en) | 2015-07-27 |
JP6119618B2 true JP6119618B2 (en) | 2017-04-26 |
Family
ID=53767543
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014006079A Active JP6119618B2 (en) | 2014-01-16 | 2014-01-16 | production equipment |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6119618B2 (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109753034B (en) * | 2018-12-10 | 2021-12-07 | 深圳绿米联创科技有限公司 | Control method, control device, electronic equipment and storage medium |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2778915B2 (en) * | 1993-12-28 | 1998-07-23 | 株式会社神戸製鋼所 | Production schedule creation device |
JPH10198403A (en) * | 1997-01-09 | 1998-07-31 | Hitachi Ltd | Production of many kinds |
JP2003022119A (en) * | 2001-07-06 | 2003-01-24 | Japan Science & Technology Corp | Multiproduct production system, its design/operation method, its design/operation program and recording medium recorded with the program |
US6842022B2 (en) * | 2002-09-20 | 2005-01-11 | Agilent Technologies, Inc. | System and method for heterogeneous multi-site testing |
JP2010152454A (en) * | 2008-12-24 | 2010-07-08 | Fujitsu Ltd | Method of determining assembling sequence of automatic machine in mixed production system |
WO2011072724A1 (en) * | 2009-12-15 | 2011-06-23 | Verigy (Singapore) Pte. Ltd. | Method and apparatus for scheduling a use of test resources of a test arrangement for the execution of test groups |
-
2014
- 2014-01-16 JP JP2014006079A patent/JP6119618B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2015135866A (en) | 2015-07-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5695619B2 (en) | Test system and test method | |
KR101620471B1 (en) | Method and apparatus of resource allocation or resource release | |
CN109376088B (en) | Automatic test system and automatic test method | |
JP6119618B2 (en) | production equipment | |
JP2013017060A5 (en) | Base station apparatus, mobile station apparatus, processing method and integrated circuit | |
CN107000972A (en) | By keying in the system and method that elevator call calls startup elevator service | |
US20150053529A1 (en) | Flexible manufacturing system | |
US10134560B2 (en) | Multi-stage/multi-chamber electron-beam inspection system | |
JP2012127951A (en) | Inspection method of semiconductor package and inspection device to be used for the same | |
CN115621164A (en) | Gas flow control method and device, electronic device, and storage medium | |
TW201728519A (en) | A method and apparatus for picking components from a carrier | |
JP2005069864A (en) | Apparatus, system, method, program and auxiliary means for inspecting substrate | |
JP2010251507A (en) | System and method for control of semiconductor manufacturing apparatus | |
CN106426188B (en) | A kind of program-controlled industrial robot | |
JP2005112527A (en) | Elevator control device | |
JP5086983B2 (en) | PROBE DEVICE, PROCESSING DEVICE, AND WAFER PROBE TEST PROCESSING METHOD | |
JP6580890B2 (en) | Control device, control system, control method, and control program | |
KR102503282B1 (en) | Probe station | |
KR102336909B1 (en) | Method of inspecting a wafer | |
US12000887B2 (en) | Wireless electronic-control system | |
JP6621964B1 (en) | Semiconductor device assembly system, semiconductor device manufacturing method using semiconductor device assembly method, and semiconductor device assembly program | |
JP2023101116A (en) | Annular twist jig | |
KR101266270B1 (en) | Wafer inspection system and wager inspection method thereof | |
JP2008294055A (en) | Substrate inspecting system and substrate inspecting method | |
KR20070012967A (en) | Data processing method of semiconductor test equipments |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20160314 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20170216 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20170228 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20170313 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 6119618 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |