JP6098333B2 - 撮像ユニットおよび撮像装置 - Google Patents

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本発明は、撮像ユニットおよび撮像装置に関する。
撮像ユニットに入射する入射光が散乱して不要光とならないように、撮像ユニット内に遮光処理を施すことが知られている。
[先行技術文献]
[特許文献]
[特許文献1]特開平10−257510号公報
近時ユニットの小型化が進み、撮像チップをフレキシブル基板に直接実装する技術も知られるようになってきたが、これに伴い、フレキシブル基板と撮像チップを電気的に接続する接続部で入射した被写体光が散乱する問題が浮上してきた。
本発明の第1の態様における撮像ユニットは、複数の画素からなる撮像領域を有する撮像素子と、複数の画素からの出力信号を伝送するフレキシブル基板とを備え、フレキシブル基板は、撮像領域に対応し、周縁部に反射防止加工が施された開口部と、周縁部の少なくとも一部が撮像領域の方向へ折り曲げられた折曲部とを有する。
本発明の第2の態様における撮像装置は、上記の撮像ユニットを備える。
なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではない。また、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。
本実施形態に係る撮像ユニットの分解斜視図である。 図1における撮像ユニットのA−A断面図である。 他の実施形態に係る撮像ユニットの断面図である。 更に他の実施形態に係る撮像ユニットの断面図である。 反射防止処理領域を示す図である。 本実施形態に係る撮像ユニットを搭載する撮像装置の断面図である。
以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではない。また、実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
図1は、本実施形態に係る撮像ユニット100の分解斜視図である。撮像ユニット100は、主に、撮像素子110、バンプ120、接着枠130、フレキシブル基板140、スペーサ枠150および保護ガラス160により構成されている。
撮像素子110は、複数の画素からなる撮像領域111を有する例えばCMOS撮像センサである。被写体光は、保護ガラス160を通過して撮像領域111に結像し、撮像領域111を構成する例えば2000万個の各画素は、受光した光量に応じた電気信号を出力する。各画素からの出力信号、制御信号、供給電力等は、撮像素子110上に設けられた素子端子112を介して外部回路と授受される。
素子端子112は、それぞれバンプ120を介して、フレキシブル基板140のフレキ端子141と電気的に接続される。フレキシブル基板140は、さらに外部の回路基板と接続されており、各画素からの出力信号は、フレキシブル基板140に設けられた配線パターンを経由して、外部回路基板上に設けられた画像処理用のASICに伝送される。
接着枠130は、撮像素子110とフレキシブル基板140を接着する接着層を構成する。接着枠130は、バンプ120の少なくとも一部を埋めるように撮像領域111を環囲する。すなわち、接着枠130は、撮像領域111へ入射する被写体光の妨げとならず、かつ、外部から撮像領域111への湿気、塵埃等の進入を防ぐ隔壁の役割を担う。接着枠130には、接着剤として熱硬化性接着剤などが用いられる。
フレキシブル基板140は、撮像領域111に対応する位置に開口部142を有する。すなわち、開口部142は、撮像領域111へ入射する被写体光を妨げないように、フレキシブル基板140の一部が切除されて設けられている。
特に本実施形態においては、フレキシブル基板140は、被写体光がバンプ120の表面で散乱して迷光とならないように、開口部142の周縁部の一部が撮像領域111の方向へ折り曲げられた折曲部143を有する。折曲部143は、開口部142と撮像領域111を繋ぐ空間と、接着枠130に少なくとも一部が埋め込まれたバンプ120が設置された空間とを分離する役割を担う。すなわち、折曲部143は、バンプ120の表面へ向かう被写体光を遮断する。なお、後述するように、開口部142の周縁部には、反射防止加工が施されている。
フレキシブル基板140のうち、接着枠130が設けられた面とは反対の面に、開口部142を環囲するスペーサ枠150が接着されている。さらに、スペーサ枠150のうち、フレキシブル基板140が接着された面とは反対の面に、枠内部を塞ぐように保護ガラス160が接着されている。すなわち、保護ガラス160は、スペーサ枠150を介して開口部142を閉塞することにより、撮像領域111との間に密封空間を形成する。
スペーサ枠150は、撮像素子110と保護ガラス160を予め定められた間隔に離間させる役割を担う。撮像素子110と保護ガラス160を離間させることにより、保護ガラス160に塵埃が付着したとしても、撮像領域111に投影される当該塵埃の影はぼけるので、画像形成に与える影響を低減できる。
図2は、図1に示す撮像ユニット100を組み立てた後の、A−A断面図である。図示するように、撮像ユニット100が組み上げられると、密封空間180が形成される。密封空間180は、接着枠130、スペーサ枠150で囲われ、保護ガラス160に閉塞された、撮像領域111が面する空間である。撮像領域111が面する空間を密封することにより、外部からの湿気、塵埃等の進入を防ぎ、各画素を保護する。
また、図示するように、バンプ120は、接着枠130の内部に埋め込まれるように、隔壁の一部を構成する。ここで、フレキシブル基板140の開口部142が、単に矩形に切り取られただけの形状であれば、保護ガラス160を通過した一部の被写体光がバンプ120の表面へ向かい、散乱光が発生し得る。散乱した光の一部は撮像領域111に到達し、ゴースト等の発生原因となる。
そこで、本実施形態においては、上述の通り、フレキシブル基板140の開口部142周縁に折曲部143を設ける。折曲部143は、開口部142の周縁からバンプ120を境界として撮像領域の方向へ斜めに折り曲げられた傾斜部144と、傾斜部144の先端から撮像領域111の表面と平行な方向へさらに折り曲げられた平行部145とから成る。平行部145は、接着剤170を介して、撮像素子110の表面に接着されている。平行部145は、図示するように傾斜部144の先端から撮像領域111の方向へ折り曲げる場合に限らず、バンプ120の方向へ折り曲げても良い。このように、折曲部143の先端を撮像素子110に固定することにより、折曲部143のバタツキをなくし、想定外の散乱光の発生を抑制することができる。また、折曲部143に傾斜部144を設けることにより、密封空間180において周縁部へ向かう不要光を反射させ、外部に放射することができる。
図3は、他の実施形態に係る撮像ユニット200の断面図である。図3は、図1におけるA−Aに対応する断面図である。図1および図2の実施形態と同様の要素については同一符番を付し、その機能において特に追加、変更がない限り説明を省略する。
図1および図2の実施形態においては、スペーサ枠150を設けることにより、撮像領域111と保護ガラス160の距離を確保した。しかし、バンプ120の高さをより柔軟に設定できるのであれば、スペーサ枠150を設けることなく撮像領域111と保護ガラス160の距離を確保できる。この場合、保護ガラス160は、フレキシブル基板140の開口部142を直接的に閉塞するように、フレキシブル基板140の表面に接着される。
また、フレキシブル基板140の折曲部143は、図1および図2の実施形態では設けられた平行部145を有さず、傾斜部144のみを有するように構成されている。このように構成すれば、平行部145に対応する撮像素子110の表面領域が不要となるので、撮像素子110の全体を小型化する場合に有効である。もちろん、スペーサ枠150を設けない構成において、折曲部143が平行部145を有する構成を採用することもできる。
図4は、更に他の実施形態に係る撮像ユニット300の断面図である。図4は、図3と同様に、図1におけるA−Aに対応する断面図である。図1および図2の実施形態と同様の要素については同一符番を付し、その機能において特に追加、変更がない限り説明を省略する。
図1および図2の実施形態においては、スペーサ枠150をフレキシブル基板140と保護ガラス160の間に介在させて、撮像領域111と保護ガラス160の距離を確保した。しかし、図4に示すように、撮像素子110とフレキシブル基板140の間に介在させても、撮像領域111と保護ガラス160の距離を確保することができる。この場合、保護ガラス160は、フレキシブル基板140の開口部142を直接的に閉塞するように、フレキシブル基板140の表面に接着される。
また、撮像ユニット300においては、折曲部143の平行部145にフレキ端子141が設けられており、フレキ端子141と撮像素子110の素子端子112は、バンプ120を介して電気的に接続されている。バンプ120の周辺には接着剤131が塗布されている。このように構成すれば、電気的な接続を実現すると共に、折曲部143のバタツキをなくすことができる。
つぎに、これまで説明した各実施形態に共通する反射防止処理について説明する。図5は、反射防止処理領域を示す図である。図は、各実施形態に共通するフレキシブル基板140と保護ガラス160を抽出して表した分解斜視図である。
入射する被写体光束は、さまざまな部材の表面で反射、散乱して不要光となって撮像領域111に到達し得る。そこで、反射の可能性がある箇所に反射防止加工を施すことが好ましい。反射防止加工としては、黒色塗装、植毛紙の貼着、表面の粗面化、遮光線の刻設などを採用し得る。
開口部142の周縁部149は、反射防止加工が施される。周縁部149は、これまで説明してきた折曲部143を含む。折曲部143は、上述の通り、矩形から成る開口部142のうちの短辺から延出する。しかし、短辺から延出するに限らず、長辺から延出する折曲部146を有しても良い。この場合、折曲部146も周縁部149に含まれる。
すなわち、折曲部143、146に限らず、保護ガラス160と対向する領域も含めた周縁部149に対して、反射防止加工が施されている。特に周縁部149の外縁は、保護ガラス160に対応する外縁であることが好ましい。このように反射防止加工を施すことにより、保護ガラス160の表面との間で複数回反射するような不要光を適切に減衰させることができる。
保護ガラス160の側面161は、反射防止加工が施される。このように側面161に反射防止加工を施すことにより、内面を通過して側面に到達する不要光を適切に減衰させることができる。なお、反射防止加工が施される側面161は、全部の側面でなくても良い。開口部142に対して近い側面と遠い側面がある場合には、遠い側の側面に対する反射防止加工を省略しても良い。
図6は、本実施形態に係る撮像ユニット100を搭載する撮像装置の一例としての一眼レフカメラ400の断面図である。搭載する撮像ユニットは、撮像ユニット100に限らず、上述の各実施形態で説明したいずれでも良いし、それぞれの特徴を組み合わせた撮像ユニットであっても良い。
一眼レフカメラ400は、カメラボディ600にレンズユニット500が装着されてカメラとしての機能を発揮する。レンズユニット500は、鏡筒内に配列された複数のレンズを備え、入射する被写体光束をカメラボディ600の撮像ユニット100へ導く。
カメラボディ600は、メインミラー672およびサブミラー674を備える。メインミラー672は、レンズユニット500から入射した被写体光束に斜設される斜設位置と、被写体光束から退避する退避位置との間で回動可能に軸支される。サブミラー674は、メインミラー672に対して回動可能に軸支される。
メインミラー672が斜設位置にある場合、レンズユニット500を通じて入射した被写体光束の多くはメインミラー672に反射されてピント板652に導かれる。ピント板652は、撮像素子110の受光面と共役な位置に配されて、レンズユニット500の光学系が形成した被写体像を可視化する。ピント板652に形成された被写体像は、ペンタプリズム654を通じてファインダ650から観察される。
斜設位置にあるメインミラー672に入射した被写体光束の一部は、メインミラー672のハーフミラー領域を透過しサブミラー674に入射する。サブミラー674は、ハーフミラー領域から入射した光束の一部を、焦点検出センサ682に導く。焦点検出センサ682は、検出結果をCPU622へ出力する。
ピント板652、ペンタプリズム654、メインミラー672、サブミラー674は、構造体としてのミラーボックス670に支持される。撮像ユニット100は、フレキシブル基板140が固定されるブラケット684を介してミラーボックス670に取り付けられる。フレキシブル基板140は、ボディ基板620へ電気的に接続される。
ボディ基板620には、CPU622、画像処理ASIC624等の電子回路が実装される。撮像素子110の出力信号は、フレキシブル基板140を介して当該出力信号を処理する処理チップである画像処理ASIC624へ引き渡される。
なお、以上説明した各撮像ユニットは、カメラボディ600に搭載されるので、カメラボディ600を撮像装置として捉えても良い。カメラボディ600は、さまざまな実施形態を採用し得る。上述の例以外にも、ミラーユニットを備えないミラーレスタイプのカメラボディであっても良い。また、撮像装置は、レンズ一体型カメラであっても良い。
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。
100、200、300 撮像ユニット、110 撮像素子、111 撮像領域、112 素子端子、120 バンプ、130 接着枠、140 フレキシブル基板、141 フレキ端子、142 開口部、143、146 折曲部、144 傾斜部、145 平行部、150 スペーサ枠、160 保護ガラス、161 側面、170 接着剤、180 密封空間、400 一眼レフカメラ、500 レンズユニット、600 カメラボディ、620 ボディ基板、622 CPU、624 画像処理ASIC、650 ファインダ、652 ピント板、654 ペンタプリズム、670 ミラーボックス、672 メインミラー、674 サブミラー、682 焦点検出センサ、684 ブラケット

Claims (10)

  1. 複数の画素からなる撮像領域を有する撮像素子と、
    前記複数の画素からの出力信号を伝送するフレキシブル基板と
    を備え、
    前記フレキシブル基板は、
    前記撮像領域に対応し、周縁部に反射防止加工が施された開口部と、
    前記周縁部の少なくとも一部が前記撮像領域の方向へ折り曲げられた折曲部と
    を有する撮像ユニット。
  2. 前記撮像素子と前記フレキシブル基板は、バンプを介して電気的に接続されており、
    前記折曲部は、前記バンプを境界として折り曲げられている請求項1に記載の撮像ユニット。
  3. 前記バンプの少なくとも一部を埋めるように前記撮像領域を環囲して前記撮像素子と前記フレキシブル基板を接着する接着層を備える請求項2に記載の撮像ユニット。
  4. 前記折曲部とは異なる領域で前記フレキシブル基板と接して、前記撮像素子と前記フレキシブル基板とを離間させるスペーサを備える請求項1から3のいずれか1項に記載の撮像ユニット。
  5. 前記スペーサは、前記撮像領域を環囲する請求項4に記載の撮像ユニット。
  6. 前記開口部を閉塞して前記撮像領域との間に密封空間を形成する保護ガラスを備える請求項1から5のいずれか1項に記載の撮像ユニット。
  7. 前記保護ガラスの少なくとも一つの側面は、反射防止加工が施されている請求項6に記載の撮像ユニット。
  8. 前記フレキシブル基板は、前記保護ガラスと対向する領域にも反射防止加工が施されている請求項6または7に記載の撮像ユニット。
  9. 前記折曲部は、前記撮像領域の方向へ折り曲げられた先の前記開口部方向において、前記撮像領域が設けられた平面と平行な方向にさらに折り曲げられて、前記撮像素子と接着されている請求項1から8のいずれか1項に記載の撮像ユニット。
  10. 請求項1から9のいずれか1項に記載の撮像ユニットを備えた撮像装置。
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