JP6093990B2 - 穿孔された波形構造を有するトレランスリングおよびそれを備えるアセンブリ - Google Patents

Description

本開示は、トレランスリングに関し、詳細には、ハードディスクドライブ内のアクチュエータアームのトレランスリングに関する。

本発明は、トレランスリングアセンブリであって、トレランスリングは、アセンブリの部品間に締まり嵌めを提供し、この場合、第１の部品は、第２の部品の円筒ボア内に位置する円筒部分を有する、トレランスリングアセンブリに関する。本発明は、詳細には、シャフト又は軸受及びシャフトのハウジング等の円筒構成要素間に締まり嵌めを提供するトレランスリングを有するアセンブリに関する。

エンジニアリング技法の改良によって、機械部品にはより高い精度が要求されるようになっており、製造コストの上昇につながっている。プーリ、フライホイール又はドライブシャフト等の用途においてトルクを伝達するために圧入、スプライン、ピン又はキー溝が使用される場合、非常に厳密な公差が必要とされる。

トレランスリングは、トルクを伝達するために必要な部品間に締まり嵌めを提供するために用いることができる。トレランスリングは、正確な寸法に機械加工されない可能性のある部品間に締まり嵌めを提供する低コストの手段を提供する。トレランスリングは、部品間の異なる線膨張率を相殺するといった複数の他の潜在的な利点を有し、装置の迅速な組み付け及び耐久性を可能にする。

トレランスリングは概して、弾性材料、例えばばね鋼等の金属のストリップを含み、ストリップの端部同士が合わせられてリングを形成する。突起の帯が、リングから径方向外方に、又はリングの中心に向かって径方向内方に延びる。通常、突起は編成されており、起伏、***又は波形等の規則的な編成が考えられる。

リングが、例えば、シャフトと、シャフトが位置するハウジング内のボアとの間の環状スペースに位置すると、突起は圧縮される。各突起は、ばねとして働き、シャフト及びボアの表面に対して径方向の力を加え、シャフトとハウジングとの間に締まり嵌めを提供する。ハウジング又はシャフトの回転は、トルクがトレランスリングによって伝達されると、シャフト又はハウジングの他方における同様の回転を生む。通常、突起の帯は、編成を有しないリングの環状領域（当該技術分野においてトレランスリングの「未形成領域」として知られている）と軸方向に隣接する。

トレランスリングは通常、弾性材料のストリップを含み、ストリップは、ストリップの端部同士を重ね合わせることによってリングの容易な形成を可能にするように湾曲しているが、トレランスリングは環状の帯として作製することもできる。「トレランスリング」という用語は、本明細書において以下で用いられる場合、双方のタイプのトレランスリングを含む。「シャフト」という用語は、本明細書において以下で用いられる場合、シャフト又は軸受等の円筒部分を有する任意のアセンブリの構成要素を含む。

したがって、当業界では、依然として、トレランスリング、特にハードディスクドライブ内に据え付けられるトレランスリングの改良が必要とされている。

本開示は、添付の図面を参照することによってより良く理解することができ、その多くの特徴及び利点が当業者に明らかとなる。

一実施形態によるハードディスクドライブアセンブリの分解斜視図である。 一実施形態によるハードディスクドライブアセンブリの断面図である。 一実施形態によるトレランスリングの斜視図である。 図３の線４−４に沿った、一実施形態によるトレランスリングの断面図である。 一実施形態によるトレランスリングの詳細図である。 別の実施形態によるトレランスリングの斜視図である。 軸上の軸方向剛性を試験するハンマ試験の設定を示す図である。 軸外の剛性を試験するハンマ試験を示す図である。 軸外の剛性を試験するハンマ試験を示す図である。 種々のトレランスリングの軸上及び軸外の軸方向剛性の試験結果を示す図である。 種々のトレランスリングの軸上及び軸外の軸方向剛性の試験結果を示す図である。 種々のトレランスリングの径方向剛性の試験結果を示す図である。 種々のトレランスリングのピーク組み付け力（ＰＡＦ）、初期滑り（ＩＳ）、及びＩＳ／ＰＡＦの比の試験結果を示す図である。

異なる図における同じ参照符号の使用は、同様の又は同一の要素を示す。

以下の説明は、トレランスリング、詳細には、ハードディスクドライブ内の、ピボットと、アクチュエータアームに形成されるボアとの間に据え付けることができるトレランスリングに関する。１つの態様では、トレランスリングはピボットの周りに取り付けることができ、次に、このピボットリングアセンブリをボアに挿入することができる。代替的には、トレランスリングをボアに挿入することができ、ピボットをトレランスリングに挿入することができる。

典型的なトレランスリングでは、隙間に最も近い波形部が最も弱く、すなわち剛性が最も低くなる傾向があり、これは、その波形部が一方の側に隙間を有し、他方の側に材料を有し、トレランスリングの残りの波形部には、両側に材料が隣接するためである。この剛性の変化によって、性能、例えば共振及び位置合わせの変わりやすさが、ハードディスクドライブアセンブリの隙間の位置に大きく依存する可能性がある。１つの性能パラメータのために隙間の位置を最適化する試みは、他の性能パラメータに悪影響を及ぼす可能性がある。このことはさらに、全体的な性能を損なう可能性がある。

本明細書において記載される実施形態のうちの１つ又は複数によるトレランスリングは、１つ又は複数の波形部に制御された脆弱部を与えるために、トレランスリングの目的位置においてトレランスリングの側壁を貫通する複数の穴、すなわち穿孔を含むことができる。例えば、単一の穴が２つの隣り合う波形部を通ることができ、各波形部の肩部を除去することができる。肩部は波形部の強化特徴部であるため、波形部の肩部を除去することによって波形部の剛性を低下させることができる。

本明細書において開示される穿孔されたトレランスリングは、トレランスリングの周りで周方向に実質的に変化しない共振周波数及び剛性を有するトレランスリングを提供することができる。したがって、トレランスリングは、ボア内で支柱を位置合わせして維持することができ、ほぼいずれもの径方向への通常の動作荷重下でのボア内における支柱のいかなる揺れも実質的に防止することができる。

最初に図１を参照すると、ハードディスクドライブアセンブリが示されており、全体的に１００で示されている。ハードディスクドライブアセンブリ１００は、ハードディスクドライブのアクチュエータアーム１０２及びピボットアセンブリ１０４を含むことができる。

図示のように、アクチュエータアーム１０２は、近位端１１０及び遠位端１１２を含むことができる。複数の読み書きヘッド１１４が、アクチュエータアーム１０２の遠位端１１２から延びることができる。その上、アクチュエータアーム１０２は、アクチュエータアーム１０２の近位端１１０付近のボア１１６を有して形成することができる。

図１は、ピボットアセンブリ１０４がピボット１２０及びトレランスリング１２２を含むことができることを更に示している。ピボット１２０は、内側部材１２４及び外側部材１２６を含むことができ、外側部材１２６は内側部材１２４に対して回転することができる。

特定の態様では、トレランスリング１２２を、ピボット１２０の周りに嵌めることができ、次に、ピボットアセンブリ１０４をボア１１６内に据え付けることができる。別の態様では、トレランスリング１２２をボア１１６内に配置することができ、ピボット１２０をトレランスリング１２２内に挿入することができる。トレランスリング１２２は、ピボット１２０の外側部材１２６とアクチュエータアーム１０２のボア１１６との間で締まり嵌めを確立することができる。したがって、アクチュエータアーム１０２は、ピボット１２０の内側部材１２４の周りでピボット１２０の外側部材１２６とともに回転することができる。

したがって、図２に示されているように、トレランスリング１２２は、ボア１１６内に、外側構成要素すなわちアクチュエータアーム１０２と、内側構成要素すなわちピボット１２０との間に据え付けることができる。特定の態様では、据え付けられると、ボアの上部又は底部を越えて延びるトレランスリング１２２の部分はなく、トレランスリング１２２はボア１１６内に完全に収容することができる。別の態様では、トレランスリング１２２の一部、例えば上部、底部、上部の構造、底部の構造、又はそれらの組み合わせが、ボアから延びることができる。

図２に示されているように、また以下でより詳細に説明するように、トレランスリング１２２は、ピボット１２０をアクチュエータアーム１０２内で締まり嵌めして維持するために、ボア１１６の内側壁及びピボット１２０の外側壁に係合するように構成することができる。トレランスリング１２２は、ピボット１２０に据え付けられるときにピボット１２０の周りで拡張し、次に据え付け中にボア１１６内で少なくとも部分的に変形する、すなわち圧縮することによって、寸法変化を考慮することができる。

ここで図３、図４及び図５を参照すると、トレランスリング１２２に関する細部が示されている。図示のように、トレランスリング１２２は、概ね円筒形の側壁３０４を有する概ね円筒形の本体３０２を含むことができる。側壁３０４は上部３０６及び底部３０８を含むことができる。さらに、側壁３０４は第１の端３１０及び第２の端３１２を含むことができる。その上、側壁３０４の第１の端３１０と第２の端３１２との間に隙間３１４を形成することができる。隙間３１４は本体３０２の全長に沿って延びることができ、隙間３１４は本体３０２に割れ目を形成することができる。

図３に示されているように、トレランスリング１２２の本体３０２は、側壁３０４の上部３０６から延びる上側フランジ３１６、及び側壁３０４の底部３０８から延びる下側フランジ３１８を更に含むことができる。

トレランスリング１２２は中心軸３２０を含むことができ、図２及び図３に示されているように、特定の態様では、フランジ３１６、３１８は、トレランスリング１２２の中心軸３２０に対して外方方向に角度を付けることができる。フランジ３１６、３１８は中心軸３２０に対して内方方向に角度を付けることができることを理解されたい。いずれの場合も、フランジ３１６、３１８は、中心軸３２０に対して角度αを形成することができる。特定の態様では、αは５°以上、例えば１０°以上又は１５°以上であるものとすることができる。別の態様では、αは３０°以下、例えば２５°以下又は２０°以下であるものとすることができる。別の態様では、αは上記で開示した値のいずれかの間（それらの値を含む）の範囲内であるものとすることができる。

図２に最もはっきり示されているように、トレランスリング１２２は、トレランスリング１２２の側壁３０４の内面と、トレランスリング１２２の側壁３０４に形成される壁構造の外面との間の距離である、全体的な肉厚ｔ_ＯＷを含むことができる。さらに、各フランジ３１６、３１８は、トレランスリング１２２の側壁３０４の内面とフランジ３１６、３１８の外縁との間の距離である、全体的なフランジ厚ｔ_ＯＦを有するように、側壁３０４から延びることができる。特定の態様では、ｔ_ＯＦは、ｔ_ＯＷの３０％以上、例えばｔ_ＯＷの３５％以上、ｔ_ＯＷの４０％以上、ｔ_ＯＷの４５％以上、ｔ_ＯＷの５０％以上、ｔ_ＯＷの５５％以上、又はｔ_ＯＷの６０％以上であるものとすることができる。さらに、ｔ_ＯＦは、ｔ_ＯＷの９８％以下、例えばｔ_ＯＷの９５％以下、ｔ_ＯＷの９０％以下、ｔ_ＯＷの８５％以下、又はｔ_ＯＷの８０％以下であるものとすることができる。別の態様では、ｔ_ＯＦは、上記で開示したｔ_ＯＷのパーセンテージ値のいずれかの間（それらの値を含む）の範囲内であるものとすることができる。

中心軸３２０に対して内方方向に延びるフランジ及び壁構造を含む特定の実施形態では、ｔ_ＯＷは、トレランスリング１２２の側壁３０４の外面とトレランスリング１２２の側壁３０４に形成される壁構造の内面との間で測定することができる。さらに、そのような実施形態では、ｔ_ＯＦは、トレランスリング１２２の側壁３０４の外面とフランジ３１６、３１８の内縁との間で測定される。

図２及び図３を更に参照すると、トレランスリング１２２は、本体３０２の側壁３０４に形成される複数の波形部３２２を含むことができる。図示のように、１つの態様では、波形部３２２は、中心軸３２０に対して外方方向に延びることができる。しかし、別の態様では、波形部３２２は、中心軸３２０に対して内方方向に延びることができる。

波形部３２２は、本体３０２の側壁３０４に形成するか又は別様に配置することができるため、トレランスリング１２２は、トレランスリング１２２の本体３０２の側壁３０４の外周の周りに等間隔に離間した波形部の列３２４等の複数の波形構造を含む。

各波形部の列３２４は、トレランスリング１２２の本体３０２の側壁３０４に沿って、例えばトレランスリング１２２の長さに沿って互いに鉛直に位置合わせされる少なくとも２つの波形部３２２を含むことができる。

図３に示されているように、特定の態様では、トレランスリング１２２の各波形部の列３２４は、トレランスリング１２２の本体３０２の側壁３０４の上部３０６付近の第１の波形部３３０、及びトレランスリング１２２の本体３０２の側壁３０４の底部３０８付近の第２の波形部３３２であるものとすることができる。特定の態様では、第１の波形部３３０は、トレランスリング１２２の長さの上半分内に中心決めすることができる。その上、第２の波形部３３２は、トレランスリング１２２の長さの下半分内に中心決めすることができる。各波形部の列３２４は、第１の波形部３３０と第２の波形部３３２との間の第３の波形部３３４も含むことができる。第３の波形部３３４は、トレランスリング１２２の長さに沿って中心決めすることができる。

１つの態様では、第１の波形部３３０は、第２の波形部３３２と同じサイズ、例えば長さ、幅、高さ（側壁３０４の外面から測定した）であるものとすることができる。別の態様では、第１の波形部３３０、第２の波形部３３２及び第３の波形部３３４は同じサイズ、例えば長さ、幅、高さ（側壁３０４の外面から測定した）である。特に、第１の波形部３３０及び第２の波形部３３２は第１の長さＬ_１を有することができ、第３の波形部３３４は第２の長さＬ_２を含み、Ｌ_２≦Ｌ_１である。詳細には、Ｌ_２はＬ_１の７５％以下、例えばＬ_２はＬ_１の７０％以下、Ｌ_２はＬ_１の６５％以下、Ｌ_２はＬ_１の６０％以下、Ｌ_２はＬ_１の５５％以下、又はＬ_２はＬ_１の５０％以下であるものとすることができる。別の態様では、Ｌ_２はＬ_１の２５％以上、例えばＬ_２はＬ_１の３０％以上、Ｌ_２はＬ_１の３５％以上、又はＬ_２はＬ_１の４０％以上であるものとすることができる。別の態様では、Ｌ_２は、上記で開示したＬ_１のパーセンテージ値のいずれかの間（それらの値を含む）の範囲内であるものとすることができる。

図３、図４及び図５は、トレランスリング１２２の本体３０２の側壁３０４が複数の未形成セクション３４０を含むことができることを更に示している。各未形成セクション３４０は、隣り合う波形部の列３２４間に延びるとともに何らかの波形部又は他の構造を有して形成されない側壁３０４のセクションを含むことができる。その上、各未形成セクション３４０は、本体３０２の上側フランジ３１６と下側フランジ３１８との間に形成される何らかの付加的な構造又は特徴を有することなく、フランジ３１６、３１８間で隣り合う波形部の列３２４間に延びることができる。

図５に示されているように、波形部の列３２４及び未形成セクション３４０は、側壁３０４の外周の周りで交互になっていることができる。その上、特定の態様では、波形部の列３２４は、側壁３０４の未形成セクション３４０によって、側壁３０４の外周の周りで等間隔に離間する。

図３及び図５は、トレランスリング１２２の本体３０２の側壁３０４を、本体３０２の側壁３０４を径方向に貫通することができる複数の穿孔、すなわち穴３４２を有して形成することができることを示している。特に、少なくとも１つの穴３４２が、波形構造のうちの少なくとも１つに交差するか又は重なり、穿孔された波形構造を形成することができる。

さらに、特定の態様では、各穴３４２は主に、隣り合う波形部の列３２４間の未形成セクション３４０に形成することができ、穴３４２は、隣り合う波形部３２２内で波形部３２２の一部に重なることができる。各穴３４２は、単一の列３２４内の単一の波形部３２２、単一の列３２４内の２つの波形部３２２、２つの異なる列３２４内のそれぞれの２つの波形部３２２、又は２つの異なる列３２４内のそれぞれ２つである４つの波形部３２２に重なることができる。

特定の態様では、穴３４２の中心を未形成セクション３４０のうちの１つに位置付けることができ、穴３４２の周囲が波形部３２２に重なることができる。図４に示されているように、穴３４２は、未形成セクション３４０及び少なくとも１つの波形部３２２を含む本体３０２の側壁３０４の或る面積を除去することができる。さらに、穴３４２は、面積Ａ_ＵＳを有する未形成セクション部分４０２、及び、面積Ａ_Ｗを有する波形部分４０４又は複数の部分に形成され、これらを含むことができ、Ａ_Ｗは、Ａ_ＵＳ以下、例えばＡ_ＵＳの２５％以下、例えばＡ_ＵＳの２０％以下、Ａ_ＵＳの１５％以下、又はＡ_ＵＳの１０％以下であるものとすることができる。別の態様では、Ａ_Ｗは、Ａ_ＵＳの１％以上、例えばＡ_ＵＳの２％以上、Ａ_ＵＳの３％以上、Ａ_ＵＳの４％以上、又はＡ_ＵＳの５％以上であるものとすることができる。別の態様では、Ａ_Ｗは、本明細書において記載されるＡ_ＵＳ値のパーセンテージのいずれかの間（それらの値を含む）の範囲内であるものとすることができる。別の態様では、穴３４２の中心は、波形部３２２に位置付けることができ、穴３４２の周囲が未形成セクション３４０に重なることができる。

波形部３２２の一部、すなわち波形構造を除去することによって穿孔された波形構造が生じる。波形部３２２の一部を除去することによって、穿孔された波形部の剛性を、穴３４２を有しない同じ波形部から低下させるか又は別様に変化させることができる。換言すると、穿孔されない波形部又は穿孔されない波形構造は、剛性Ｓを含むことができ、波形部３２２に重なる穴を形成した後では、結果として生じる穿孔された波形部は、剛性Ｓ_Ｐを有することができる。Ｓ_ＰはＳ未満であるものとすることができる。例えば、Ｓ_ＰはＳの９５％以下、例えばＳ_ＰはＳの９０％以下、Ｓ_ＰはＳの８５％以下、Ｓ_ＰはＳの８０％以下、Ｓ_ＰはＳの７５％以下、Ｓ_ＰはＳの７０％以下、又はＳ_ＰはＳの６５％以下であるものとすることができる。その上、Ｓ_ＰはＳの２５％以上、例えばＳ_ＰはＳの３０％以上、Ｓ_ＰはＳの３５％以上、Ｓ_ＰはＳの４０％以上、Ｓ_ＰはＳの４５％以上、又はＳ_ＰはＳの５０％以上であるものとすることができる。別の態様では、Ｓ_Ｐは、上述したＳ値のパーセンテージのいずれかの間（それらの値を含む）の範囲内であるものとすることができる。

別の態様では、穴３４２を有して形成されない各波形部３２２又は波形構造は、波形部３２２の表面積を含む波形部の面積Ａを含むことができる。穴３４２が形成された後で、波形部３２２の表面積を低減することができ、穿孔された波形構造は、穿孔された波形部の面積Ａ_Ｐを含むことができる。したがって、Ａ_ＰはＡ未満である。詳細には、Ａ_ＰはＡの９５％以下、例えばＡ_ＰはＡの９０％以下、Ａ_ＰはＡの８５％以下、Ａ_ＰはＡの８０％以下、Ａ_ＰはＡの７５％以下、Ａ_ＰはＡの７０％以下、又はＡ_ＰはＡの６５％以下であるものとすることができる。波形部３２２を除去し過ぎると、ばねとして機能し、トレランスリング１２２が据え付けられるボアの内面に係合するのに十分に剛性がない波形部３２２が生じる可能性がある。したがって、Ａ_ＰはＡの２５％以上、例えばＡ_ＰはＡの３０％以上、Ａ_ＰはＡの３５％以上、Ａ_ＰはＡの４０％以上、Ａ_ＰはＡの４５％以上、又はＡ_ＰはＡの５０％以上であるものとすることができる。別の態様では、Ａ_Ｐは、本明細書において記載されるＡ値のパーセンテージのいずれかの間（それらの値を含む）の範囲内であるものとすることができる。

別の態様では、穴３４２は、複数の波形部３２２又は波形構造に交差するか又は重なることができる。さらに、穴３４２は：多角形、円形及び楕円形を含む群から選択される形状を有することができる。

図３に示されているように、各波形構造、例えば各波形部３２２は、少なくとも１つの***した肩部３４４を含むことができる。詳細には、図示のように、各波形部３２２は、各***した肩部３４４が波形部３２２の各角部に位置付けられた状態で、４つの***した肩部３４４を含むことができる。各肩部３４４は、側壁３０４の外面から波形部３２２の中心まで延びることができる、波形部３２２の折り目であるものとすることができる。２つの隣り合う肩部３４４は、波形部３２２の上部又は底部に沿う連続的な折り目を形成することができる。

***した肩部３４４は、トレランスリング１２２をロール成形するか又は別様に形作るか若しくは曲げて最終的な自由状態、すなわち据え付けられていない休止形状にすることができる前に、トレランスリング１２２を形作って形成するのに用いることができるスタンプ動作から生じることができる。***した肩部３４４は、強化部材、例えばリブとして働くことができ、波形部３２２に剛性を与えることができる。特定の態様では、穴３４２は、肩部の少なくとも一部を除去するために、波形構造又は波形部３２２に交差するか又は重なることができる。

各肩部３４４は、側壁３０４の外面から波形部３２２を長手方向に二分する中心線まで波形部３２２の湾曲した面に沿って測定した肩部の長さＬ_Ｓを含むことができる。波形部３２２に交差する穴３４２は、除去される長さＬ_ＲがＬ_Ｓ以下であることができるように、肩部３４４の長さの一部を除去することができる。１つの態様では、Ｌ_Ｒ＝Ｌ_Ｓである。別の態様では、Ｌ_ＲはＬ_Ｓ以下、例えばＬ_Ｓの５０％以下、Ｌ_Ｓの４５％以下、Ｌ_Ｓの４０％以下、Ｌ_Ｓの３５％以下、Ｌ_Ｓの３０％以下、又はＬ_Ｓの２５％以下であるものとすることができる。別の態様では、Ｌ_ＲはＬ_Ｓの１％以上、例えばＬ_Ｓの２％以上、Ｌ_Ｓの３％以上、Ｌ_Ｓの４％以上、Ｌ_Ｓの５％以上、又はＬ_Ｓの１０％以上であるものとすることができる。さらに、Ｌ_Ｒは、上述したＬ_Ｓ値のパーセンテージのいずれかの間（それらの値を含む）の範囲内であるものとすることができる。

別の態様では、図５に示されているように、側壁３０４の各未形成セクション３４０は、円弧、例えば、未形成セクション３４０を通って側壁３０４の外周に沿って延びる円弧を含むことができ、側壁３０４に形成される各穴３４２の一部が未形成セクション３４０の円弧を越えて径方向外方に延びることができる。換言すると、未形成セクション３４０及び波形構造、例えば波形部３２２を通して側壁３０４に形成される各穴３４２は、未形成セクション３４０の曲率に沿って延びるか又は対応する第１の部分、及び、波形構造又は波形部３２２の曲率に沿って延びるか又は対応する第２の部分を有する。

図５は、トレランスリング１２２が、トレランスリング１２２の中心３５２を通って隙間３１４を二分することができる中心軸３５０を含むことができることを示している。特定の態様では、トレランスリング１２２は中心軸３５０を中心に対称であるものとすることができる。

特定の態様では、ピボットアセンブリ１０４がアクチュエータアームのボア１１６内に、トレランスリング１２２が間に配置された状態で据え付けられると、ピボット１２０及びボア１１６は、トレランスリング１２２の中心軸３２０に沿って又はほぼ沿って延びる中心軸を含むことができる。トレランスリング１２２は、種々の方向へのアクチュエータアーム１０２のボア１１６内でのピボット１２０の径方向の移動に実質的に抵抗することができる径方向剛性を提供することができる。

拘束されないままである場合、ボア内のピボット１２０の移動によって読み書きヘッド１１４がハードディスクに対して移動する可能性があり、このことによって読み書きエラーが生じる可能性がある。この移動は望ましくない。波形構造を本明細書において記載されるように変更することによって、トレランスリング１２２の径方向剛性を操作、すなわち調整し、隙間３１４によって生じる径方向剛性のいかなる低下も実質的に低下させることができる。さらに、波形構造を変更することによって、トレランスリング１２２の径方向剛性を操作、すなわち調整することができるため、トレランスリング１２２の径方向剛性は、トレランスリング１２２の周りの周方向の種々の位置において測定したときに大きくは変化しない。

例えば、隙間３１４を通るトレランスリング１２２の径方向剛性ＲＳ_Ｇは、トレランスリング１２２の隙間３１４及び中心３６０を通る第１の方向に測定することができる。隙間３１４に垂直なトレランスリング１２２の径方向剛性ＲＳ_ＰＧは、第１の方向に垂直な第２の方向に測定することができる。ＲＳ_ＧはＲＳ_ＰＧの９０％以上、例えばＲＳ_ＰＧの９１％以上、ＲＳ_ＰＧの９２％以上、ＲＳ_ＰＧの９３％以上、ＲＳ_ＰＧの９４％以上、ＲＳ_ＰＧの９５％以上、又はＲＳ_ＰＧの９６％以上であるものとすることができる。さらに、ＲＳ_ＧはＲＳ_ＰＧの１００％以下、ＲＳ_ＰＧの９９％以下、ＲＳ_ＰＧの９８％以下、又はＲＳ_ＰＧの９７％以下であるものとすることができる。その上、ＲＳ_Ｇは、上記で開示したＲＳ_ＰＧのパーセンテージ値のいずれかの間（それらの値を含む）の範囲内であるものとすることができる。

さらに、トレランスリング１２２の共振周波数は、トレランスリング１２２が据え付けられるアセンブリの周方向の種々の位置で測定したときに大きくは変化しない。例えば、隙間３１４を通るトレランスリング１２２の共振周波数ＲＦ_Ｇは、トレランスリング１２２の隙間３１４及び中心３６０を通る第１の方向に測定することができる。隙間３１４に垂直なトレランスリング１２２の共振周波数ＲＦ_ＰＧは、第１の方向に垂直な第２の方向に測定することができる。ＲＦ_Ｇは、ＲＦ_ＰＧの９０％以上、例えばＲＦ_ＰＧの９１％以上、ＲＦ_ＰＧの９２％以上、ＲＦ_ＰＧの９３％以上、ＲＦ_ＰＧの９４％以上、又はＲＦ_ＰＧの９５％以上であるものとすることができる。さらに、ＲＦ_Ｇは、ＲＦ_ＰＧの１００％以下、ＲＦ_ＰＧの９９％以下、ＲＦ_ＰＧの９８％以下、ＲＦ_ＰＧの９７％以下、又はＲＦ_ＰＧの９６％以下であるものとすることができる。その上、ＲＦ_Ｇは、上記で開示したＲＦ_ＰＧのパーセンテージ値のいずれかの間（それらの値を含む）の範囲内であるものとすることができる。

ここで図６を参照すると、別の態様では、各波形構造は単一の細長い波形部６００を含むことができる。細長い波形部６００は、トレランスリング６０６の本体６０４の側壁６０２に沿って長手方向に延びることができる。さらに、各細長い波形部６００は、実質的に上側フランジ６０８と下側フランジ６１０との間でトレランスリング６０６の側壁６０２の長さに沿って延びることができる。トレランスリング６０６も隙間６１４を含むことができる。この態様では、各細長い波形部６００は、トレランスリング６０６の長さに沿って中心決めすることができる。その上、トレランスリング６０６のこの態様は、本明細書において開示される他のトレランスリングに関して本明細書において記載される特徴又は特性のうちの１つ又は複数を含むことができる。

この態様では、複数の穴６１２をトレランスリング６０６の側壁６０２に形成することができる。１つの態様では、各穴６１２は、単一の細長い波形部６００の底部の角部に交差することができる。別の態様では、各穴６１２は、第１の細長い波形部６００の底部の角部、及び第２の細長い波形部６００の底部の角部に交差することができる。別の態様では、第１の穴６１２が、１つの細長い波形部６００に交差することができ、第２の穴６１２が同じ細長い波形部６００に交差することができる。

さらに、図６に示されているように、第１の穴６１２は、一対の隣り合う細長い波形部６００に交差することができ、第２の穴６１２は、同じ対の細長い波形部６００に交差することができる。図示のように、第１の穴６１２は、第１の細長い波形部６００の底部の角部、及び第２の細長い波形部６００の底部の角部に交差することができ、第２の穴６１２は、第１の細長い波形部６００の上部の角部、及び第２の細長い波形部６００の上部の角部に交差することができる。

本明細書において記載される各実施形態では、２つの波形構造、例えば細長い波形部、波形部の列、又はそれらの組み合わせが常に、残りの波形構造よりも周方向に隙間３１４、６１４のより近くに位置する。隙間３１４、６１４に隣り合う２つの波形構造、すなわち隙間３１４に最も近い２つの波形構造は、第１の波形部の剛性ＳＷ_１を含むことができる。未形成セクションに隣り合う他の波形構造は、第２の波形部の剛性ＳＷ_２を含むことができる。トレランスリング１２２、６０６を変更せず、またトレランスリング１２２、６０６の同様のサイズ及び形状の波形構造では、ＳＷ_１はＳＷ_２以下であるものとすることができる。

しかし、波形構造３２２、６００の１つ又は複数の寸法を変えることによって、又は、１つ又は複数の穴３４２、６１２によって波形構造３２２、６００を穿孔することによって、波形構造３２２、６００を変更することにより、波形部の剛性を本明細書において記載されるように操作することができる。したがって、隙間３１４、６１４に周方向により近い、側壁３０４、６０２に形成される穴３４２、６１２は、隙間３１４、６１４から周方向に離れた、側壁３０４、６０２に形成される穴３４２、６１２とは、異なるサイズであるか、異なる形状であるか、又は異なるサイズ及び形状であるものとすることができる。特に、穴３４２、６１２は、隙間３１４、６１４から、隙間３１４、６１４から最も離れた側壁３０４、６０２の外周に沿う位置（すなわち隙間３１４、６１４から１８０°）まで側壁３０４、６０２の外周に沿ってサイズを大きくすることができる。

特定の態様では、本明細書において記載される態様のいずれかに従ったトレランスリングは、金属、金属合金又はそれらの組み合わせから作ることができる。金属は鉄系金属を含むことができる。さらに、金属は鋼を含むことができる。鋼は、オーステナイト系ステンレス鋼等のステンレス鋼を含むことができる。その上、鋼は、クロム、ニッケル、又はそれらの組み合わせを含むステンレス鋼を含むことができる。例えば、鋼はＸ１０ＣｒＮｉｌ８−８ステンレス鋼であるものとすることができる。さらに、トレランスリングは、３５０以上、例えば３７５以上、４００以上、４２５以上、又は４５０以上であるものとすることができるビッカースピラミッド硬さ、ＶＰＮを含むことができる。ＶＰＮはまた、５００以下、４７５以下、又は４５０以下であるものとすることができる。ＶＰＮはまた、本明細書において記載されるＶＰＮ値のいずれかの間（それらの値を含む）の範囲内であるものとすることができる。別の態様では、トレランスリングを、その耐食性を高めるように処理することができる。特に、トレランスリングを不動態化処理することができる。例えば、トレランスリングは、ＡＳＴＭ規格Ａ９６７に従って不動態化処理することができる。

別の態様では、トレランスリングを形成することができるストック材料は、厚さｔを有することができ、ｔは、０．０８５ｍｍ以上、例えば０．０８７ｍｍ以上、０．０９０ｍｍ以上、０．０９５ｍｍ以上、又は０．１００ｍｍ以上であるものとすることができる。別の態様では、ｔは０．１１５ｍｍ以下、０．１１３ｍｍ以下、０．１１０ｍｍ以下、又は０．１０５ｍｍ以下であるものとすることができる。その上、ｔは、上記で開示したｔの値のいずれかの間（それらの値を含む）の範囲内であるものとすることができる。

本明細書において記載される態様のいずれかに従ったトレランスリングは、全体的な外径ＯＤを有することができ、ＯＤは５ｍｍ以上、例えば６ｍｍ以上、７ｍｍ以上、８ｍｍ以上、９ｍｍ以上、又は１０ｍｍ以上であるものとすることができる。ＯＤは、２０ｍｍ以下、例えば１５ｍｍ以下、１４ｍｍ以下、１３ｍｍ以下、１２ｍｍ以下、又は１０ｍｍ以下であるものとすることができる。さらに、ＯＤは、本明細書において記載されるＯＤの値のいずれかの間（それらの値を含む）の範囲内であるものとすることができる。

別の態様では、トレランスリングは全長Ｌを有することができ、Ｌは、２０ｍｍ以下、例えば１７ｍｍ以下、１５ｍｍ以下、１４ｍｍ以下、又は１３ｍｍ以下であるものとすることができる。Ｌは５ｍｍ以上、６ｍｍ以上、７ｍｍ以上、８ｍｍ以上、９ｍｍ以上、又は１０ｍｍ以上であるものとすることができる。その上、Ｌは、上述したＬの値のいずれかの間（それらの値を含む）の範囲内であるものとすることができる。

さらに、本明細書において記載されるトレランスリングのいずれかを形成するのに用いられるストック材料を切断し、スタンプし、ロール成形してトレランスリングを形成した後で、結果として生じるトレランスリングには実質的にいかなるバリもない。詳細には、１０倍の倍率下でトレランスリングを目視検査することでは切断縁のいずれに沿ってもバリは見えない。

トレランスリングを、Ｘ１０ＣｒＮｉｌ８−８ステンレス鋼ストックから製造する。ステンレス鋼ストックは、０．１ｍｍ±０．０１３の厚さを有する。さらに、ステンレス鋼ストックは４００〜４５０のＶＰＮを有し、ＡＳＴＭ Ａ９６７に従って不動態化処理する。形成されたトレランスリングは、側壁の外周に沿って等間隔に離間した１３個の波形部の列を含む。側壁の外周に沿う波形部の列の各隣り合う対の中心間の距離は、およそ２．６２ｍｍである。

各波形部の列は、鉛直に位置合わせされる３つの波形部を含む。上側波形部及び下側波形部はおよそ１．６６ｍｍの幅及び３．０ｍｍの高さである。中間の波形部はおよそ１．６６ｍｍの幅及び１．５ｍｍの高さである。トレランスリングは、据え付け後に約０．３ｍｍの全体的な肉厚を有する。さらに、トレランスリングは、全体的な自由状態のおよそ１１．５ｍｍの直径及びおよそ１２．５ｍｍの全長を有する。

トレランスリングは、側壁を通して径方向に形成される２４個の穴を含む。詳細には、１２個の穴が波形部の上側の列に形成され、１２個が波形部の下側の列に形成される。各穴は、およそ１．２ｍｍの直径を有し、各穴は、波形部の角部を接続する線に沿って隣り合う波形部間に中心決めされる。

トレランスリングを、１１．１３５ｍｍの外径を有する支柱の周りに据え付け、このアセンブリを、およそ１１．７２２ｍｍのボアを有するリング内に据え付ける。このアセンブリを、釣り糸を用いて吊り下げ、レーザを、リングの外側円筒面に垂直に配置する。

図７は、軸上の軸方向剛性試験のハンマ試験設定を示している。トレランスリングを、１１．１３５ｍｍの外径を有する支柱７０２の周りに据え付け、このアセンブリを、およそ１１．７２２ｍｍのボアを有するリング７０４内に据え付ける。このアセンブリを、釣り糸７０６を用いて吊り下げ、２つのレーザを、リング７０８の同じ側にリングの平坦な面に垂直に配置する。レーザを、互いから１８０度に配置する。一方のレーザを基準レーザＲとして用い、他方のレーザを測定用レーザＭとして用いる。支柱を、Ｈと表記される矢印によって示されているように、レーザとは反対の側から軸上で叩く。レーザ、及びハンマの力変換器をマイクロプロセッサに結合し、マイクロプロセッサへの入力を提供する。

図８Ａは、軸外の軸方向剛性試験のハンマ試験設定を示している。トレランスリングを、図７に示されているようにリングを有するとともにリング内の支柱の周りに据え付け、釣り糸を用いて吊り下げる。図７におけるように、２つのレーザを、リングの同じ側にリングの平坦な面に垂直に配置する。レーザを、互いから１８０度に配置する。一方のレーザを基準レーザとして用い、他方のレーザを測定用レーザとして用いる。リングを、力変換器が組み込まれているハンマを用いて、Ｈと表記される矢印によって示されているように、測定レーザ下から軸外で叩く。レーザ、及びハンマの力変換器をマイクロプロセッサに結合し、マイクロプロセッサへの入力を提供する。図８Ｂは、入力を処理して、軸外をたたくことによって誘発される揺動モードＲ_Ｍ及び軸方向モードＡ_Ｍを相殺する方法を示している。

図９Ａ及び図９Ｂは、種々のトレランスリングに関する軸上及び軸外の軸方向剛性の試験結果を示している。図９Ａ及び図９Ｂにおいて、縦列は以下の意味を有する。Ｆ_Ｒは、リングの平均共振周波数（ｋＨｚ）を提供し；Δはリングの周りで求められた平均パーセント差である。

リング１は、３個の帯を有する１３個の波形部のハードディスクドライブのトレランスリングである比較リングである。リング２は４個の群の８個の波形部のリングである。リング３は、４個の群の１２個の波形部のトレランスリングである。リング４はリング１と同様であるが、二重の帯を含む。リング５は、ピッチが補正された６個の波形部を有する。ピッチが補正されたリングは、等しい角度間隔でアセンブリの周りに分散される波形部を有する。リング６及び７は、それぞれ、７個の波形部及び８個の波形部のピッチが補正された構成を有する。リング８は、１３個の波形部の３個の帯構成を有する新たなアセンブリバッチから作られる第２の比較リングである。リング９は、隙間に対向する未形成の（「プラニッシュ」）領域を有する。リング１０は、隙間に対向する中心決めされた波形部を有する。リング１１は、波形部間に位置するスリットを有する１２個の波形部のピッチが補正されたリングである。スリットは、実質的に波形部の列の長さにわたる長さを有する。

ダミーアセンブリにおけるリングの径方向剛性を、２つの位置；すなわち隙間、及び隙間に対して９０度においてハンマ試験を用いて測定する。％差を、各位置における５回の打撃を用いて試験される５個のリングの平均の間で計算する。試験は同じダミー質量を用いて行ったため、計算を容易にするために、剛性よりも共振周波数を報告する（式１）。

ダミーアセンブリにおけるリングの径方向剛性を、２つの位置；すなわち隙間、及び隙間に対して９０度においてハンマ試験を用いて測定する。％差を、各位置における５回の打撃を用いて試験される５個のリングの平均の間で計算する。試験は同じダミー質量を用いて行ったため、計算、式１を容易にするために剛性よりも共振周波数を報告する。

式中、ｆは共振周波数であり、ｍは有効質量であり、ｋは試験片の剛性である。

図１０は、種々のトレランスリングに関する径方向剛性試験の試験結果を示している。図１０において、縦列は図９Ａ及び図９Ｂにおけるものと同じであり、また以下で開示されるような意味を有する。Ｆ_Ｒは、リングの平均共振周波数（ｋＨｚ）を提供し；Δはリングの周りで求められた平均パーセント差である。

リング２Ａは、４０ｌｂｆの残りの組み付け力を有する。リング３Ｂは、３０ｌｂｆの残りの組み付け力を有する。リング１２は、波形部の列間に穴、より詳細には２つの波形部間に２つの穴を有する１２個の波形部のピッチが補正されたリングである。リング１３は１１個の波形部のピッチが補正されたリングである。リング１４は収容が可変であるリングであり、すなわち、リングを強く押して中央ボアに一致させることができる。リング１５は、閉じている、収容が可変であるリングであり、すなわち、リングはそのボアよりも直径が小さく、ボアに一致するように伸ばすことができる。

ピーク組み付け及び初期滑り試験に関して、最初にピボットのトルクを試験する。ピボットを次に、関連するトレランスリングを用いてアーム内に組み付け、ピーク組み付け力（ＰＡＦ）を記録する。次に、アセンブリのトルクを試験し、組み付けられていないトルクと組み付けられたトルクとの差、すなわち「トルクシフト」を記録する。次に、アセンブリを分解し、初期滑りを記録し、最後に、ピボットのトルクを再び測定する。ピボットは、組み付け後のトルクが高いとみなされるか、又は５回まで、どちらが先に生じるかにかかわらず再使用する。アームを５回再使用する。これらの再使用の方針は、以前の研究の結果であり、いかなる問題も引き起こすはずはないが、ピボット及びアームが毎回未使用ではないことを留意するべきである。

図１１は、種々のトレランスリングに関するＰＡＦ、ＩＳ及びＩＳ／ＰＡＦ試験の試験結果を示している。図１１において、縦列は図９Ａ、図９Ｂ及び図１０におけるものと同じ意味を有する。ＰＡＦ及びＩＳはｌｂｆであり、ＩＳ／ＰＡＦは％である。

マイクロプロセッサは、ハンマ及びレーザによって提供される入力からの共振周波数を計算するソフトウェアを含む。共振周波数は、トレランスリングの軸方向剛性に直接関連する。隙間を二分するとともにアセンブリの中心を通る軸に沿って測定した共振周波数は約６．６５ｋＨｚである。第１の軸に垂直な軸に沿って測定した共振周波数は、約２．２％の差である約６．８ｋＨｚである。したがって、隙間を通る軸方向剛性ＡＳ_Ｇは、隙間に垂直な軸方向剛性ＡＳ_ＰＧの約９７．８％である。

リングを、力変換器が組み込まれているハンマを用いて、レーザとは反対側からたたく。レーザ、及びハンマの力変換器をマイクロプロセッサに結合し、マイクロプロセッサへの入力を提供する。マイクロプロセッサは、ハンマ及びレーザによって提供される入力からの共振周波数を計算するソフトウェアを含む。共振周波数は、トレランスリングの径方向剛性に直接関連する。隙間を二分するとともにアセンブリの中心を通る軸に沿って測定した共振周波数は約１１．２９ｋＨｚである。第１の軸に垂直な軸に沿って測定した共振周波数は、約３．８％の差である約１１．７４ｋＨｚである。したがって、隙間を通して測定した径方向剛性ＲＳ_Ｇは、隙間に垂直な径方向剛性ＲＳ_ＰＧの約９６．２％である。

本明細書において記載されるトレランスリングは穿孔された波形部を含む。穿孔された波形部は、トレランスリングの周りで周方向に実質的に変化しない共振周波数及び剛性を有するトレランスリングを提供することができる。したがって、トレランスリングは、ボア内で支柱を位置合わせして維持することができ、ほぼいずれもの径方向への通常の動作荷重下でのボア内における支柱のいかなる揺れも実質的に防止することができる。

その上、各穴のサイズ及び位置を変えることによって、トレランスリングの性能特性を調節又は調整し、特定のアセンブリの特定の要件を満たすことができる。例えば、穴は、１つの方向への特定の径方向剛性又は軸方向剛性、及び別の方向への異なる径方向剛性、又は軸方向剛性を提供するように配置することができる。

当業者は、本明細書において記載される特徴のうちの１つ又は複数を有するトレランスリングを使用することができる他の用途があり得ることを理解できる。

上記で開示した主題は、例示的であるものとみなされ、限定的であるものとみなされるべきではなく、添付の特許請求の範囲は、本発明の真の範囲内に入る全てのそのような変更形態、改良形態及び他の実施形態を包含することが意図される。したがって、本発明の範囲は、法が許す可能な限りまで、以下の特許請求の範囲及びそれらの均等物の最も広範な許容される解釈によって決まり、上述の詳細な説明によっては制限又は限定されないものとする。

加えて、上述の詳細な説明において、種々の特徴はまとめてグループ分けされるか、又は本開示を簡素化するために単一の実施形態において記載することができる。本開示は、特許請求の範囲に記載の実施形態が各請求項において明示的に記載されるよりも多くの特徴を必要とするという意図を反映するものとして解釈されるべきではない。むしろ、以下の特許請求の範囲が反映するように、本発明の主題は、開示される実施形態のいずれかの全てではない特徴に関するものとすることができる。したがって、以下の特許請求の範囲は、詳細な説明に組み込まれ、各請求項は、特許請求される主題を別個に規定するものとして独立的である。

Claims (15)

1. トレランスリングであって：
   上部及び底部を画定する側壁を有する概ね円筒形の本体であって、前記側壁が：
   複数の波形構造と；
   複数の未形成セクションであって、各未形成セクションは一対の隣り合う波形構造間に位置付けられる、複数の未形成セクションと；
   前記本体の全長に沿って延びる隙間であって、前記本体に割れ目を形成する、前記隙間と；
   前記波形構造のうちの少なくとも１つ及び前記未形成セクションのうち少なくとも１つに交わって穿孔された波形構造を確立する、少なくとも１つの穴であって、該穴の中心は、前記未形成セクションのうちの１つに位置付けられ、該穴の外縁は前記波形構造に重なる、少なくとも１つの穴と
   を含む、概ね円筒形の本体
   を備える、トレランスリング。
2. トレランスリングであって：
   上部及び底部を画定する側壁を有する概ね円筒形の本体であって、前記側壁が：
   複数の波形構造と；
   複数の未形成セクションであって、各未形成セクションは一対の隣り合う波形構造間に位置付けられる、複数の未形成セクションと；
   前記本体の全長に沿って延びる隙間であって、前記本体に割れ目を確立する、前記隙間と；
   前記波形構造のうちの少なくとも１つ及び前記未形成セクションのうち少なくとも１つに交わって穿孔された波形構造を確立する、少なくとも１つの穴であって、該穴の中心は、前記波形構造に位置付けられ、該穴の外縁は前記未形成セクションに重なる、少なくとも１つの穴と
   を含む、概ね円筒形の本体
   を備える、トレランスリング。
3. 各波形構造は、剛性Ｓを含み、前記穿孔された波形構造は、穿孔された剛性Ｓ _Ｐ を含み、Ｓ _Ｐ はＳ未満である、請求項１又は２に記載のトレランスリング。
4. Ｓ _Ｐ はＳの９５％以下、Ｓ _Ｐ はＳの９０％以下、Ｓ _Ｐ はＳの８５％以下、Ｓ _Ｐ はＳの８０％以下、Ｓ _Ｐ はＳの７５％以下、Ｓ _Ｐ はＳの７０％以下、又はＳ _Ｐ はＳの６５％以下であり、Ｓ _Ｐ はＳの２５％以上、Ｓ _Ｐ はＳの３０％以上、Ｓ _Ｐ はＳの３５％以上、Ｓ _Ｐ はＳの４０％以上、Ｓ _Ｐ はＳの４５％以上、又はＳ _Ｐ はＳの５０％以上である、請求項３に記載のトレランスリング。
5. 各波形構造は、波形部の面積Ａを含み、前記穿孔された波形構造は、穿孔された波形部の面積Ａ _Ｐ を含み、Ａ _Ｐ はＡ未満である、請求項１又は２に記載のトレランスリング。
6. Ａ _Ｐ はＡの９５％以下、Ａ _Ｐ はＡの９０％以下、Ａ _Ｐ はＡの８５％以下、Ａ _Ｐ はＡの８０％以下、Ａ _Ｐ はＡの７５％以下、Ａ _Ｐ はＡの７０％以下、又はＡ _Ｐ はＡの６５％以下であり、Ａ _Ｐ はＡの２５％以上、Ａ _Ｐ はＡの３０％以上、Ａ _Ｐ はＡの３５％以上、Ａ _Ｐ はＡの４０％以上、Ａ _Ｐ はＡの４５％以上、又はＡ _Ｐ はＡの５０％以上である、請求項５に記載のトレランスリング。
7. 前記穴は複数の波形構造に交わる、請求項１又は２に記載のトレランスリング。
8. 前記穴は：多角形、円形及び楕円形を含む群から選択される形状を有する、請求項１又は２に記載のトレランスリング。
9. 前記未形成セクションは円弧を含み、前記穴の一部は前記未形成セクションの前記円弧を径方向に越えて延びる、請求項１又は２に記載のトレランスリング。
10. 各波形構造は、前記側壁から延びるとともに実質的に前記側壁の長さに沿って延びる細長い波形部を含み、前記穴は、第１の細長い波形部の底部の角部及び第２の細長い波形部の底部の角部に交わる、請求項１又は２に記載のトレランスリング。
11. 各波形構造は、前記側壁から延びるとともに実質的に前記側壁の長さに沿って延びる細長い波形部を含み、前記少なくとも１つの穴は、１つの細長い波形部に交わる第１の穴、及び同じ細長い波形部に交わる第２の穴を含む、請求項１又は２に記載のトレランスリング。
12. 各波形構造は、前記側壁から延びるとともに実質的に前記側壁の長さに沿って延びる細長い波形部を含み、前記少なくとも１つの穴は、一対の隣り合う細長い波形部に交わる第１の穴、及び同じ対の細長い波形部に交わる第２の穴を含む、請求項１又は２に記載のトレランスリング。
13. 前記トレランスリングは、該トレランスリングをボア内に据え付けるための組み付け力Ｆ _Ａ 、及び、該トレランスリングを前記ボアから取り出すための分解力Ｆ _Ｄ を含み、Ｆ _Ｄ はＦ _Ａ の７５％以上、Ｆ _Ｄ はＦ _Ａ の８０％以上、Ｆ _Ｄ はＦ _Ａ の８５％以上、又はＦ _Ｄ はＦ _Ａ の９０％以上であり、Ｆ _Ｄ はＦ _Ａ の１００％以下、Ｆ _Ｄ はＦ _Ａ の９９％以上、Ｆ _Ｄ はＦ _Ａ の９８％以上、Ｆ _Ｄ はＦ _Ａ の９７％以上、Ｆ _Ｄ はＦ _Ａ の９６％以上、又はＦ _Ｄ はＦ _Ａ の９５％以上である、請求項１又は２に記載のトレランスリング。
14. アセンブリであって：
    外側構成要素であって、該外側構成要素内のボアを含む、外側構成要素と；
    前記ボア内に配置される内側構成要素と；
    前記内側構成要素に取り付けられるトレランスリングであって：
    上部及び底部を画定する側壁を有する概ね円筒形の本体を含み、前記側壁は：
    複数の波形構造；
    複数の未形成セクションであって、各未形成セクションは一対の隣り合う波形構造間に位置付けられる、複数の未形成セクション；
    前記本体の全長に沿って延びる隙間であって、前記本体に割れ目を確立する、前記隙間；及び
    前記波形構造のうちの少なくとも１つ及び前記未形成セクションのうち少なくとも１つに交わって穿孔された波形構造を確立する、少なくとも１つの穴
    を含む、トレランスリングと、
    を備える、アセンブリ。
15. 前記アセンブリはハードディスクドライブを含む、請求項１４に記載のアセンブリ。

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