JP6093861B2 - 質量分析装置 - Google Patents
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Description
イオン源と、
質量分析部と、
質量分析装置へのイオン導入軸に対して、直交方向からイオン導入可能な入口を有した電極としての複数の平板と、
前記質量分析部と前記複数の平板との間に設けられた細孔部材と、
前記複数の平板に対してイオン導入方向とは反対側にガスを流す機構とを備え、
前記複数の平板は大気圧下に配置されており、前記複数の電極は室温よりも高い温度に設定されている。
100 イオン源
110 対向電極
115 大気下イオン導入電極
120 電極前
130 電極後ろ
140 第一細孔
150 第二細孔
160 真空ポンプと接続
170 質量分析計
180 PC等、装置制御およびデータ処理機器
190 大気側
200 真空側
510 ガス流れ
520 イオン流れ
530 電極前120と電極後ろ130 間の距離
540 イオンの質量分析装置導入時の軸
550 イオンの質量分析装置導入時の軸
1000 電極後ろ130の電圧設定例(正弦波状)
1100 電極後ろ130の電圧設定例(矩形波状)
2000 大気下イオン導入電極部、RF電圧OFF
2100 大気下イオン導入電極部、RF電圧ON
Claims (7)
- イオン源と、
質量分析部と、
前記質量分析部へのイオン導入軸に対して、直交方向からイオン導入可能な入口を有した電極としての複数の平板と、
前記質量分析部と前記複数の平板との間に設けられた細孔部材と、
前記複数の平板に対してイオン導入方向とは反対側にガスを流す機構とを備え、
前記複数の平板は大気圧下に配置されており、前記複数の電極は室温よりも高い温度に
設定され、
前記複数の平板のうち2枚の平板は、その隙間が細孔部材に設けられた細孔に対向する
ように配置され、細孔の径は、2枚の平板の間隔よりも小さいことを特徴とする質量分析装置。 - 請求項1において、
2枚の平板の間隔は2mm以下であることを特徴とする質量分析装置。 - 請求項1において、
ガスを流す機構のガスの流量は、2.0L/min以下であることを特徴とする質量分析装置。 - 請求項1において、
前記複数の平板の電極温度は、250℃以下である質量分析装置。 - イオン源と、
質量分析部と、
前記質量分析部へのイオン導入軸に対して、直交方向からイオン導入可能な入口を有した電極としての複数の平板と、
前記質量分析部と前記複数の平板との間に設けられた細孔部材と、を備え、
前記複数の平板は、イオン源側から質量分析部側に近づくにつれて印加する直流電圧の絶対値が小さくなっていくように設定され、
前記複数の平板のうち2枚の平板は、その隙間が細孔部材に設けられた細孔に対向する
ように配置され、細孔の径は、2枚の平板の間隔よりも小さいことを特徴とする質量分析装置。 - イオン源と、
質量分析部と、
前記質量分析部へのイオン導入軸に対して、直交方向からイオン導入可能な入口を有した電極としての複数の平板と、
前記質量分析部と前記複数の平板との間に設けられた細孔部材と、を備え、
前記複数の平板のうち2枚の平板は、その隙間が細孔部材に設けられた細孔に対向する
ように配置され、これらの2枚の平板のうち少なくともいずれか一方の平板に正成分と負
成分が非対称となっているRF電圧を印加することを特徴とする質量分析装置。 - 請求項6において、
非対称となっているRF電圧の振幅は、液体クロマトグラフで使用する溶媒と測定対象の
試料で異なることを特徴とする質量分析装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013160931 | 2013-08-02 | ||
JP2013160931 | 2013-08-02 | ||
PCT/JP2014/067095 WO2015015965A1 (ja) | 2013-08-02 | 2014-06-27 | 質量分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2015015965A1 JPWO2015015965A1 (ja) | 2017-03-02 |
JP6093861B2 true JP6093861B2 (ja) | 2017-03-08 |
Family
ID=52431506
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015529461A Active JP6093861B2 (ja) | 2013-08-02 | 2014-06-27 | 質量分析装置 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9523663B2 (ja) |
JP (1) | JP6093861B2 (ja) |
CN (1) | CN105247652B (ja) |
DE (1) | DE112014002871B4 (ja) |
GB (1) | GB2531193B (ja) |
WO (1) | WO2015015965A1 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105849855B (zh) * | 2014-01-27 | 2017-08-29 | 株式会社日立高新技术 | 液相色谱质谱分析装置 |
JP6456863B2 (ja) * | 2016-03-04 | 2019-01-23 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | イオン移動度分離部を備える分析装置 |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2349270B (en) * | 1999-04-15 | 2002-02-13 | Hitachi Ltd | Mass analysis apparatus and method for mass analysis |
US6998605B1 (en) * | 2000-05-25 | 2006-02-14 | Agilent Technologies, Inc. | Apparatus for delivering ions from a grounded electrospray assembly to a vacuum chamber |
JP3555560B2 (ja) | 2000-06-22 | 2004-08-18 | 株式会社日立製作所 | 質量分析計 |
JP2004303497A (ja) | 2003-03-31 | 2004-10-28 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 粒子イオン化方法及び装置 |
US20060054805A1 (en) | 2004-09-13 | 2006-03-16 | Flanagan Michael J | Multi-inlet sampling device for mass spectrometer ion source |
JP5210418B2 (ja) | 2005-01-28 | 2013-06-12 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置 |
JP4802032B2 (ja) | 2006-04-14 | 2011-10-26 | 日本電子株式会社 | タンデム型質量分析装置 |
GB0620398D0 (en) * | 2006-10-13 | 2006-11-22 | Shimadzu Corp | Multi-reflecting time-of-flight mass analyser and a time-of-flight mass spectrometer including the time-of-flight mass analyser |
CN101606221A (zh) * | 2006-11-07 | 2009-12-16 | 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司 | 离子迁移装置 |
US20090283674A1 (en) | 2006-11-07 | 2009-11-19 | Reinhold Pesch | Efficient Atmospheric Pressure Interface for Mass Spectrometers and Method |
CN102150219B (zh) | 2008-07-28 | 2015-01-28 | 莱克公司 | 在射频场中使用网的离子操纵的方法和设备 |
GB201111569D0 (en) * | 2011-07-06 | 2011-08-24 | Micromass Ltd | Apparatus and method of mass spectrometry |
EP2765594B1 (en) * | 2011-10-03 | 2017-09-06 | Shimadzu Corporation | Time-of-flight mass spectrometer |
US9040902B2 (en) * | 2011-10-17 | 2015-05-26 | Shimadzu Corporation | Atmospheric pressure ionization mass spectrometer |
CN102818871B (zh) * | 2012-05-29 | 2014-10-15 | 上海烟草集团有限责任公司 | 液相色谱-气相色谱/质谱在线联用接口装置及方法 |
US9362098B2 (en) * | 2013-12-24 | 2016-06-07 | Waters Technologies Corporation | Ion optical element |
-
2014
- 2014-06-27 WO PCT/JP2014/067095 patent/WO2015015965A1/ja active Application Filing
- 2014-06-27 GB GB1600626.4A patent/GB2531193B/en active Active
- 2014-06-27 US US14/908,234 patent/US9523663B2/en active Active
- 2014-06-27 CN CN201480029914.9A patent/CN105247652B/zh active Active
- 2014-06-27 DE DE112014002871.1T patent/DE112014002871B4/de active Active
- 2014-06-27 JP JP2015529461A patent/JP6093861B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20160169845A1 (en) | 2016-06-16 |
CN105247652A (zh) | 2016-01-13 |
DE112014002871B4 (de) | 2022-09-15 |
WO2015015965A1 (ja) | 2015-02-05 |
GB201600626D0 (en) | 2016-02-24 |
JPWO2015015965A1 (ja) | 2017-03-02 |
GB2531193A (en) | 2016-04-13 |
GB2531193B (en) | 2020-07-29 |
US9523663B2 (en) | 2016-12-20 |
CN105247652B (zh) | 2017-05-31 |
DE112014002871T5 (de) | 2016-03-03 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20161018 |
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A521 | Request for written amendment filed |
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