JP5998058B2 - 座標位置決め装置を用いて得られる測定値の誤差の補正 - Google Patents
座標位置決め装置を用いて得られる測定値の誤差の補正 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5998058B2 JP5998058B2 JP2012555477A JP2012555477A JP5998058B2 JP 5998058 B2 JP5998058 B2 JP 5998058B2 JP 2012555477 A JP2012555477 A JP 2012555477A JP 2012555477 A JP2012555477 A JP 2012555477A JP 5998058 B2 JP5998058 B2 JP 5998058B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- characteristic
- geometric characteristic
- measurement
- coordinate positioning
- geometric
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
- G01B21/02—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
- G01B21/04—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness by measuring coordinates of points
- G01B21/042—Calibration or calibration artifacts
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
- G01B21/02—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
- G01B21/04—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness by measuring coordinates of points
- G01B21/045—Correction of measurements
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B5/00—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
- G01B5/004—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring coordinates of points
- G01B5/008—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring coordinates of points using coordinate measuring machines
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Description
(i)一連の公称同一部品の中の第一の部品であって、該第一の部品の一つ以上の構造と関連する少なくとも第一の基準幾何学的特性が知られている上記第一の部品を選ぶこと、
(ii)上記第一の部品の上記一つ以上の構造を測定するために上記座標位置決め装置を用い、そこから、上記第一の基準幾何学的特性に対応する第一の測定幾何学的特性を決定すること、
(iii)上記第一の基準幾何学的特性と上記第一の測定幾何学的特性との差異を記述する、第一の特性補正値を決定すること、
(iv)上記一連の公称同一部品の一つ以上の他の部品の上記一つ以上の構造を測定するために上記座標位置決め装置を用い、そして、各々の他の部品のために、上記第一の基準幾何学的特性に対応する、更なる測定幾何学的特性を決定すること、および、
(v)各々の測定幾何学的特性に対して上記第一の特性補正値を適用すること、の工程を含む。
上記第一の部品の上記一つ以上の構造を測定するために上記測定プローブを用い、上記第一の部品の第一の測定幾何学的特性をそこから計算する工程であって、上記第一の測定幾何学的特性は、上記第一の基準幾何学的特性に対応している工程、および、
上記第一の基準幾何学的特性を上記第一の測定幾何学的特性と対比し、第一の特性補正値を計算する工程、を含み、
上記制御装置は、上記第一の部品と公称同一である一つ以上の他の部品の測定幾何学的特性を補正するために上記第一の特性補正値を記憶することを特徴としている。
(i)一連の部品の内の第一の部品を選択する工程であって、上記第一の部品は、一つ以上の構造を有し、上記一つ以上の構造に関連する少なくとも一つの基準幾何学的特性が知られている工程、
(ii)上記第一の部品の上記一つ以上の構造の各々の表面上の複数の点の位置を測定するために上記座標位置決め装置を用い、そこから、上記第一の部品の少なくとも一つの測定幾何学的特性を決定する工程であって、上記少なくとも一つの測定幾何学的特性は、上記少なくとも一つの基準幾何学的特性と対応している工程、および、
(iii)工程(i)の上記少なくとも一つの基準幾何学的特性と、工程(ii)の上記少なくとも一つの測定幾何学的特性を比較し、それにより、少なくとも一つの特性補正値を得る工程を含む。
(a)上述の手法において、第一の部品のために計算された少なくとも一つの特性補正値を選択する工程であって、上記第一の部品が、一つ以上の構造を含み、上記一つ以上の構造の少なくとも一つの基準幾何学的特性が知られている工程、
(b)上記第一の部品と公称同一である第二の部品の一つ以上の構造の各々の表面上の複数の点の位置を測定するために座標位置決め装置を用い、そこから、上記少なくとも一つの基準幾何学的特性に対応する、上記第二の部品の少なくとも一つの測定幾何学的特性を決定する工程、および、
(c)工程(b)で測定された上記少なくとも一つの測定幾何学的特性を、工程(a)の上記少なくとも一つの特性補正値を用いて補正し、それにより、上記第二の部品ための少なくとも一つの誤差補正測定幾何学的特性を提供する工程、を含む。
Claims (12)
- 測定プローブを有する座標位置決め装置を作動させる方法であって、該方法は、任意の適切な順序で、以下の、
(i)一連の公称同一部品の内の第一の部品であって、該第一の部品の一つ以上の構造と関連する少なくとも第一の基準幾何学的特性が知られている上記第一の部品を選ぶ工程、
(ii)上記第一の部品の上記一つ以上の構造を測定するために上記座標位置決め装置を用い、そこから、上記第一の基準幾何学的特性に対応する第一の測定幾何学的特性を決定する工程であって、上記第一の部品の上記一つ以上の構造の各々の表面の複数の点の位置を測定するために、上記座標位置決め装置を用いること、および、上記第一の測定幾何学的特性を確立するために、上記座標位置決め装置によって測定された上記複数の点を、関数に近似させることを含む工程、
(iii)上記第一の基準幾何学的特性と上記第一の測定幾何学的特性との差異を記述する、第一の特性補正値を決定する工程、
(iv)上記一連の公称同一部品の複数の他の部品の上記一つ以上の構造を測定するために上記座標位置決め装置を用い、そして、各々の他の部品のために、上記第一の基準幾何学的特性に対応する、他の測定幾何学的特性を決定する工程、および、
(v)各々の他の測定幾何学的特性に対して上記第一の特性補正値を適用する工程、を含むことを特徴とする方法。 - 請求項1の方法であって、上記第一の部品の上記一つ以上の構造が、第一の構造および第二の構造を含み、上記第一の基準幾何学的特性は、上記第一の構造と上記第二の構造の間の関係を記述することを特徴とする方法。
- 請求項2の方法であって、上記第一の基準幾何学的特性は、上記第二の構造に対する上記第一の構造の、平行度、垂直度、傾斜度、位置、同心度、同軸度、対称度、円周振れ、または、全振れの少なくとも一つを含むことを特徴とする方法。
- 請求項1の方法であって、上記第一の部品の上記一つ以上の構造は、第一の構造を含み、上記第一の基準幾何学的特性は、上記第一の構造のみの幾何学的特性を記述することを特徴とする方法。
- 請求項4の方法であって、上記第一の基準幾何学的特性は、上記第一の構造の大きさ、形、真っ直ぐさ、平坦性、真円度および円筒度の少なくとも一つを記述することを特徴とする方法。
- 請求項1〜5のいずれか一つの方法であって、上記第一の基準幾何学的特性は、上記第一の部品と関連する設計データから得られる公称の幾何学的特性を含むことを特徴とする方法。
- 請求項1〜5のいずれか一つの方法であって、工程(i)は、上記第一の部品を測定するために、基準座標位置決め装置を用いる工程を含み、上記第一の基準幾何学的特性は、上記基準座標位置決め装置を用いて得られる上記第一の部品の測定値から得られる測定基準幾何学的特性を含むことを特徴とする方法。
- 請求項7の方法であって、上記基準座標位置決め装置は、予め較正された、橋型の座標位置決め装置を含むことを特徴とする方法。
- 請求項1〜8のいずれか一つの方法であって、上記座標位置決め装置は、平行移動座標位置決め装置を含むことを特徴とする方法。
- 請求項1〜9のいずれか一つの方法であって、
工程(i)は、さらに、上記第一の部品の上記一つ以上の構造と関連する少なくとも一つの追加の基準幾何学的特性を知ることを含み、
工程(ii)は、さらに、上記少なくとも一つの追加の基準幾何学的特性に対応する少なくとも一つの追加の測定幾何学的特性を決定することを含み、
工程(iii)は、さらに、各々の追加の測定幾何学的特性と各々の対応する追加の基準幾何学的特性との差異を記述する、少なくとも一つの追加の特性補正値を決定することを含み、
工程(iv)は、さらに、各々の他の部品のために、各々の追加の基準幾何学的特性に対応する追加の測定幾何学的特性を決定することを含み、および、
工程(v)は、さらに、各々の他の部品の対応する追加の測定幾何学的特性に対して、各々の追加の特性補正値を適用することを含むことを特徴とする方法。 - 請求項1〜10のいずれか一つの方法であって、上記座標位置決め装置の上記測定プローブは、偏位可能なスタイラスを有する、接触式測定プローブを含むことを特徴とする方法。
- 測定プローブと制御装置を含む座標位置決め装置であって、上記制御装置は、一つ以上の構造を有する、一連の公称同一の部品の内の第一の部品のための誤差補正技術を実行するようプログラムされており、上記制御装置は、上記第一の部品の上記一つ以上の構造と関連する少なくとも第一の基準幾何学的特性を記憶し、上記制御装置によって実行される上記誤差補正技術は、
上記部品の上記一つ以上の構造を測定するために上記測定プローブを用い、上記第一の部品の第一の測定幾何学的特性をそこから計算する工程であって、上記第一の測定幾何学的特性は、上記第一の基準幾何学的特性に対応しており、上記工程は、上記第一の部品の上記一つ以上の構造の各々の表面の複数の点の位置を測定するために、上記座標位置決め装置を用いること、および、上記第一の測定幾何学的特性を確立するために、上記座標位置決め装置によって測定された上記複数の点を、関数に近似させることを含む工程、および、
上記第一の基準幾何学的特性を上記第一の測定幾何学的特性と対比し、第一の特性補正値を計算する工程、を含み、
上記制御装置は、上記第一の部品と公称同一である複数の他の部品の測定幾何学的特性を補正するために上記第一の特性補正値を記憶することを特徴としている座標位置決め装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB1003363.7 | 2010-03-01 | ||
GBGB1003363.7A GB201003363D0 (en) | 2010-03-01 | 2010-03-01 | Measurement method and apparatus |
PCT/GB2011/000274 WO2011107729A1 (en) | 2010-03-01 | 2011-02-28 | Correcting errors in measurements taken using a coordinate positioning apparatus |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013521488A JP2013521488A (ja) | 2013-06-10 |
JP5998058B2 true JP5998058B2 (ja) | 2016-09-28 |
Family
ID=42125768
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012555477A Active JP5998058B2 (ja) | 2010-03-01 | 2011-02-28 | 座標位置決め装置を用いて得られる測定値の誤差の補正 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8931183B2 (ja) |
EP (2) | EP2542857B1 (ja) |
JP (1) | JP5998058B2 (ja) |
CN (1) | CN103250025B (ja) |
BR (1) | BR112012021934B1 (ja) |
GB (1) | GB201003363D0 (ja) |
WO (1) | WO2011107729A1 (ja) |
Families Citing this family (31)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9482755B2 (en) | 2008-11-17 | 2016-11-01 | Faro Technologies, Inc. | Measurement system having air temperature compensation between a target and a laser tracker |
FR2945863B1 (fr) * | 2009-05-19 | 2011-12-23 | Celette Sa | Dispositif de mesure tridimentionnelle |
US9772394B2 (en) | 2010-04-21 | 2017-09-26 | Faro Technologies, Inc. | Method and apparatus for following an operator and locking onto a retroreflector with a laser tracker |
US9400170B2 (en) | 2010-04-21 | 2016-07-26 | Faro Technologies, Inc. | Automatic measurement of dimensional data within an acceptance region by a laser tracker |
US8619265B2 (en) | 2011-03-14 | 2013-12-31 | Faro Technologies, Inc. | Automatic measurement of dimensional data with a laser tracker |
US9377885B2 (en) | 2010-04-21 | 2016-06-28 | Faro Technologies, Inc. | Method and apparatus for locking onto a retroreflector with a laser tracker |
JP5843531B2 (ja) * | 2010-09-27 | 2016-01-13 | 株式会社ミツトヨ | 座標測定用ヘッドユニット及び座標測定機 |
CN103403575B (zh) | 2011-03-03 | 2015-09-16 | 法罗技术股份有限公司 | 靶标设备和方法 |
GB2510510B (en) * | 2011-03-14 | 2015-10-07 | Faro Tech Inc | Automatic measurement of dimensional data with a laser tracker |
US9482529B2 (en) | 2011-04-15 | 2016-11-01 | Faro Technologies, Inc. | Three-dimensional coordinate scanner and method of operation |
US9686532B2 (en) | 2011-04-15 | 2017-06-20 | Faro Technologies, Inc. | System and method of acquiring three-dimensional coordinates using multiple coordinate measurement devices |
US9164173B2 (en) | 2011-04-15 | 2015-10-20 | Faro Technologies, Inc. | Laser tracker that uses a fiber-optic coupler and an achromatic launch to align and collimate two wavelengths of light |
GB2504890A (en) | 2011-04-15 | 2014-02-12 | Faro Tech Inc | Enhanced position detector in laser tracker |
GB201113715D0 (en) | 2011-08-09 | 2011-09-21 | Renishaw Plc | Method and apparatus for inspecting workpieces |
GB201202557D0 (en) | 2012-02-15 | 2012-03-28 | Renishaw Plc | A gauge artefact and method for checking a coordinate positioning machine |
CN104094081A (zh) | 2012-01-27 | 2014-10-08 | 法罗技术股份有限公司 | 利用条形码识别的检查方法 |
GB201204947D0 (en) * | 2012-03-21 | 2012-05-02 | Renishaw Plc | Method and apparatus for inspecting workpieces |
WO2014029448A1 (en) * | 2012-08-24 | 2014-02-27 | Abb Technology Ltd | Calibration tool for a delta robot |
US9041914B2 (en) | 2013-03-15 | 2015-05-26 | Faro Technologies, Inc. | Three-dimensional coordinate scanner and method of operation |
GB201308467D0 (en) | 2013-05-10 | 2013-06-19 | Renishaw Plc | Method and Apparatus for Inspecting Workpieces |
GB201311600D0 (en) | 2013-06-28 | 2013-08-14 | Renishaw Plc | Calibration of a contact probe |
GB201316329D0 (en) * | 2013-09-13 | 2013-10-30 | Renishaw Plc | A Method of Using a scanning probe |
US9395174B2 (en) | 2014-06-27 | 2016-07-19 | Faro Technologies, Inc. | Determining retroreflector orientation by optimizing spatial fit |
EP3189302B1 (en) | 2014-09-02 | 2021-03-24 | Renishaw Plc. | Coordinate measuring method and apparatus for inspecting workpieces, comprising generating measurement correction values using a reference shape that is known not to deviate substantially from a perfect form |
WO2017149308A1 (en) | 2016-03-04 | 2017-09-08 | Renishaw Plc | An additive manufacturing method and system |
CN109596055A (zh) * | 2018-12-17 | 2019-04-09 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 垫料高度测量机的补正方法 |
CN109656195B (zh) * | 2018-12-18 | 2020-09-22 | 清华大学 | 机床原位检测***的综合误差标定装置及方法 |
US11347368B2 (en) | 2019-05-07 | 2022-05-31 | Hexagon Metrology, Inc. | Automated inspection process for batch production |
US11768574B2 (en) | 2019-05-07 | 2023-09-26 | Hexagon Metrology, Inc. | Graphical user interface for scheduling and monitoring an automated inspection process for batch production |
CN110091162A (zh) * | 2019-05-17 | 2019-08-06 | 格力电器(武汉)有限公司 | 打螺钉*** |
GB201908127D0 (en) * | 2019-06-07 | 2019-07-24 | Renishaw Plc | Manufacturing method and apparatus |
Family Cites Families (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
SE461548B (sv) | 1988-02-18 | 1990-02-26 | Johansson Ab C E | Foerfarande och anordning foer bestaemning av och korrigering foer laegesfel vid maetning av en punkts laege eller vid positionering till en punkt med ett bestaemt laege |
US5257460A (en) | 1991-06-18 | 1993-11-02 | Renishaw Metrology Limited | Machine tool measurement methods |
JP2809295B2 (ja) | 1992-03-26 | 1998-10-08 | 株式会社東京精密 | 座標測定機及びその測定方法 |
US5426861A (en) * | 1993-04-19 | 1995-06-27 | Advanced Metrological Development | Method and apparatus for inspecting parts for dimensional accuracy outside a laboratory environment |
DE19539148A1 (de) | 1995-10-20 | 1997-04-24 | Zeiss Carl Fa | Verfahren zur Koordinatenmessung von Werkstücken |
DE19821372A1 (de) | 1998-05-13 | 1999-11-18 | Zeiss Carl Fa | Koordinatenmeßgerät und Verfahren zur Steuerung eines solchen |
JP3462180B2 (ja) * | 2000-02-22 | 2003-11-05 | 株式会社浅沼技研 | 検査用マスタブロック及びその製造方法 |
GB0205332D0 (en) | 2002-03-06 | 2002-04-17 | Renishaw Plc | Dynamic artefact comparison |
GB0215478D0 (en) | 2002-07-04 | 2002-08-14 | Renishaw Plc | Method of scanning a calibrating system |
GB0228371D0 (en) | 2002-12-05 | 2003-01-08 | Leland E C E | Workpiece inspection method |
GB0322115D0 (en) | 2003-09-22 | 2003-10-22 | Renishaw Plc | Method of error compensation |
GB0329098D0 (en) | 2003-12-16 | 2004-01-21 | Renishaw Plc | Method of calibrating a scanning system |
AU2004305111B2 (en) * | 2003-12-19 | 2011-04-28 | Novartis Vaccines And Diagnostics, Inc. | Cell transfecting formulations of small interfering RNA, related compositions and methods of making and use |
JP5183884B2 (ja) | 2006-05-08 | 2013-04-17 | 株式会社ミツトヨ | 補正方法、及び測定装置 |
JP5189806B2 (ja) * | 2006-09-07 | 2013-04-24 | 株式会社ミツトヨ | 表面形状測定装置 |
DE102007011603B4 (de) * | 2007-03-02 | 2019-12-19 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen von Geometriedaten eines konischen Messobjekts |
GB0707921D0 (en) * | 2007-04-24 | 2007-05-30 | Renishaw Plc | Apparatus and method for surface measurement |
GB0713639D0 (en) | 2007-07-13 | 2007-08-22 | Renishaw Plc | Error correction |
DE102007051054A1 (de) * | 2007-10-19 | 2009-04-30 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Verfahren zum Korrigieren der Messwerte eines Koordinatenmessgeräts und Koordinatenmessgerät |
DE102007057093A1 (de) * | 2007-11-20 | 2009-05-28 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Verfahren zum Kalibrieren eines Koordinatenmessgerätes |
JP5317569B2 (ja) | 2008-07-31 | 2013-10-16 | 株式会社ミツトヨ | 形状測定装置、及び形状測定方法 |
DE102009016858B4 (de) * | 2009-03-18 | 2017-11-02 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zum Kalibrieren eines Probentisches eines Metrologiesystems sowie Metrologiesystem mit einem Probentisch |
JP6113958B2 (ja) * | 2012-01-13 | 2017-04-12 | 株式会社ミツトヨ | 測定座標補正方法、及び三次元測定機 |
JP2014056352A (ja) * | 2012-09-11 | 2014-03-27 | Canon Inc | 位置決め装置及び計測装置 |
-
2010
- 2010-03-01 GB GBGB1003363.7A patent/GB201003363D0/en not_active Ceased
-
2011
- 2011-02-28 BR BR112012021934A patent/BR112012021934B1/pt not_active IP Right Cessation
- 2011-02-28 US US13/581,594 patent/US8931183B2/en active Active
- 2011-02-28 EP EP11709164.5A patent/EP2542857B1/en active Active
- 2011-02-28 JP JP2012555477A patent/JP5998058B2/ja active Active
- 2011-02-28 WO PCT/GB2011/000274 patent/WO2011107729A1/en active Application Filing
- 2011-02-28 EP EP19153313.2A patent/EP3511677A1/en not_active Withdrawn
- 2011-02-28 CN CN201180011742.9A patent/CN103250025B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2013521488A (ja) | 2013-06-10 |
GB201003363D0 (en) | 2010-04-14 |
US8931183B2 (en) | 2015-01-13 |
EP2542857A1 (en) | 2013-01-09 |
EP3511677A1 (en) | 2019-07-17 |
CN103250025B (zh) | 2017-03-29 |
BR112012021934A2 (pt) | 2016-05-31 |
WO2011107729A1 (en) | 2011-09-09 |
BR112012021934B1 (pt) | 2020-05-05 |
EP2542857B1 (en) | 2019-04-10 |
CN103250025A (zh) | 2013-08-14 |
US20120317826A1 (en) | 2012-12-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5998058B2 (ja) | 座標位置決め装置を用いて得られる測定値の誤差の補正 | |
US9541385B2 (en) | Measurement method and apparatus | |
EP2591310B1 (en) | Method for recalibrating coordinate positioning apparatus | |
JP6199870B2 (ja) | 測定方法 | |
US8756973B2 (en) | Surface sensor offset | |
JP5539865B2 (ja) | 走査ヘッドの較正装置および方法 | |
JP2013503380A (ja) | 工作機械の校正方法 | |
JP2016083729A (ja) | 幾何誤差同定システム、及び幾何誤差同定方法 | |
JP6955991B2 (ja) | 空間精度補正方法、及び空間精度補正装置 | |
TWI754888B (zh) | 校準方法及校準系統 | |
JP7113814B2 (ja) | 物体を測定するための方法および装置 | |
JP6735735B2 (ja) | ワークピースを検査するための座標測定方法および同装置であって、理想的な形態から実質的に逸脱していないことが判っている基準形状を使用して測定補正値を生成するステップを含む、ワークピースを検査するための座標測定方法および同装置 | |
JP6514041B2 (ja) | 形状測定装置の制御方法 | |
KR102035334B1 (ko) | 4축 공작기계의 기하학적 오차 측정 방법 | |
JP2016090478A (ja) | 測定値補正方法、測定値補正プログラム及び測定装置 | |
JP6405195B2 (ja) | 測定値補正方法、測定値補正プログラム及び測定装置 | |
JP2006349411A (ja) | キャリブレーションゲージ | |
JP2020056735A (ja) | 形状測定方法、形状測定装置、および物品の製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20140117 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20140815 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140826 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20141126 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20141203 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20141222 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20150512 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20150812 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20160223 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160621 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20160628 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20160809 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20160829 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5998058 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |