JP5972651B2 - 飛行時間型質量分析計 - Google Patents
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Description
TOFMSは、一定量のエネルギーを与えてイオンを加速・飛行させ、検出器に到達するまでに要する時間からイオンの質量電荷比を求める質量分析装置である。TOFMSでは、イオンを一定のパルス電圧Vaで加速する。このとき、イオンの速度vは、エネルギー保存則から、
mv2/2 = qeVa ………(1)
v = √(2qeV/m) ………(2)
と表わされる(ただしm:イオンの質量、q:イオンの電荷、e:素電荷)。
式(3)により、飛行時間Tがイオンの質量mによって異なることを利用して、質量を分離する装置がTOFMSである。図3に直線型TOFMSの一例を示す。また、イオン源と検出器の間に反射場を置くことにより、エネルギー収束性の向上と飛行距離の延長を可能にする反射型TOFMSも広く利用されている。図4に反射型TOFMSの一例を示す。
TOFMSの質量分解能は、総飛行時間をT、ピーク幅をΔTとすると、
質量分解能 = T/2ΔT ………(4)
で定義される。すなわち、ピーク幅ΔTを一定にして、総飛行時間Tを延ばすことができれば、質量分解能を向上させられる。しかし、従来の直線型、反射型のTOFMSでは、総飛行時間Tを延ばすこと、すなわち総飛行距離を延ばすことは装置の大型化に直結する。装置の大型化を避け、かつ高質量分解能を実現するために開発された装置が、多重周回型TOFMS(非特許文献1)である。この装置は、円筒電場にマツダプレートを組み合わせたトロイダル電場を4個用い、8の字型の周回軌道を多重周回させることにより、総飛行時間Tを延ばすことができる。この装置では、初期位置、初期角度、初期運動エネルギーによる検出面での空間的な広がりと時間的な広がりを1次の項まで収束させることに成功している。
TOFMSから得られるマススペクトルは、検出器の電気信号をデジタル化するデジタイザにより作成される。近年では、高速デジタル回路技術の発達により、高分解能を達成できるTOFMSのデータ取得は、1〜4GHzサンプリングが主流である。つまり、0.25〜1nsの時間等間隔で電気信号、すなわちイオン強度をサンプリングしている。得られた時間等間隔のデータ列は、キャリブレーション式によって時間軸が質量電荷比(m/z)軸に変換される。このキャリブレーション式は、式(3)を基本に誘導される、
√(m/z)=a+bT+cT2+dT3+… ………(5)
といった多項式が用いられることが多い。ここで、a、b、c、dは定数である。
サンプルをイオン化するイオン源と、
生成したイオンを飛行させ、質量電荷比ごとに質量分離する飛行時間型質量分析部と、
該飛行時間型質量分析部により質量電荷比ごとに質量分離されたイオンを検出して電気信号を出力する検出部と、
該検出部から出力された電気信号を時間等間隔のデジタルデータに変換するデジタイザと、
該デジタイザから得られたデジタルデータが供給される処理装置と、
を備えた飛行時間型質量分析計において、
前記処理装置は、所定の飛行時間または所定の質量電荷比(m/z値)によって区切られたm/z領域ごとに設定された異なるデータ点数で、複数の隣り合ったデータ点をまとめて1つのデータ点とすることにより前記デジタルデータの点数を低減させる圧縮処理を行う低減手段を備え、該低減手段によりデータ点数が低減されたデジタルデータを保存するようにしたことを特徴としている。
サンプルをイオン化するイオン源と、
生成したイオンを飛行させ、質量電荷比ごとに質量分離する飛行時間型質量分析部と、
該飛行時間型質量分析部により質量電荷比ごとに質量分離されたイオンを検出して電気信号を出力する検出部と、
該検出部から出力された電気信号を時間等間隔のデジタルデータに変換するデジタイザと、
該デジタイザから得られたデジタルデータが供給される処理装置と、
を備えた飛行時間型質量分析計において、
前記処理装置は、所定の飛行時間または所定の質量電荷比(m/z値)によって区切られたm/z領域ごとに設定された異なるデータ点数で、複数の隣り合ったデータ点をまとめて1つのデータ点とすることにより前記デジタルデータの点数を低減させる圧縮処理を行う低減手段を備え、該低減手段によりデータ点数が低減されたデジタルデータを保存するようにしたので、
デジタイザによりデジタルデータに変換されたマススペクトルを、その全域において情報量を低減させることなく、データポイントを間引くことによりデータ量を圧縮・減少させることが可能になった。
図4は、本発明が適用される飛行時間質量分析装置の基本構成を示す図である。図中、1は飛行時間質量分析計を示している。飛行時間質量分析計1内には、イオンの質量電荷比の違いを反映して、異なる飛行時間でイオンが入射するマイクロチャンネルプレート(MCP)検出器2が置かれている。
飛行時間質量分析装置の基本構成は、実施例1と同じである。
飛行時間質量分析装置の基本構成は、実施例1、2と同じである。
Claims (5)
- サンプルをイオン化するイオン源と、
生成したイオンを飛行させ、質量電荷比ごとに質量分離する飛行時間型質量分析部と、
該飛行時間型質量分析部により質量電荷比ごとに質量分離されたイオンを検出して電気信号を出力する検出部と、
該検出部から出力された電気信号を時間等間隔のデジタルデータに変換するデジタイザと、
該デジタイザから得られたデジタルデータが供給される処理装置と、
を備えた飛行時間型質量分析計において、
前記処理装置は、所定の飛行時間または所定の質量電荷比(m/z値)によって区切られたm/z領域ごとに設定された異なるデータ点数で、複数の隣り合ったデータ点をまとめて1つのデータ点とすることにより前記デジタルデータの点数を低減させる圧縮処理を行う低減手段を備え、該低減手段によりデータ点数が低減されたデジタルデータを保存するようにしたことを特徴とする飛行時間型質量分析計。
- 前記低減手段は、飛行時間、m/z値、およびイオンの強度値を、設定されたデータ点数間で平均値を取ることによりデータ点数を低減させることを特徴とする請求項1記載の飛行時間型質量分析計。
- 前記所定の飛行時間または所定の質量電荷比(m/z値)によって区切られたm/z領域ごとに設定されるデータ点数は、測定されたイオンピークのm/z値が大きくなるにつれて、より大きな値に設定することを特徴とする請求項1記載の飛行時間型質量分析計。
- 前記所定の飛行時間または所定の質量電荷比(m/z値)によって区切られたm/z領域ごとに設定されるデータ点数は、予め指定された領域では、より小さな値に設定することを特徴とする請求項1記載の飛行時間型質量分析計。
- 前記イオン源に液体クロマトグラフ装置、またはガスクロマトグラフ装置を連結させ、クロマトグラフ法で分離された試料を測定したデジタルデータのデータ点数を低減させることを特徴とする請求項1記載の飛行時間型質量分析計。
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