JP5934180B2 - オブジェクトの材料特性を決定するための方法 - Google Patents
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Description
クロマチック対物レンズの手前に位置決めされていており、あるいは、結像のためのクロマチック対物レンズを用いて、クロマチック対物レンズ後に位置決めされていてもよい。実際また、自らの光学結像による第2の測定も可能である。該光学結像は、クロマチック対物レンズの結像と同軸上にある。
以下に、本願出願時の特許請求の範囲に記載された発明を付記する。
[1]オブジェクトの材料特性、特に、好ましくは半透明のオブジェクトの光学特性を決定するための方法において、
前記材料特性を決定するために、前記オブジェクトの、共焦点の3D測定システムを用いて測定された測定データからの、スペクトル的に分解された測定データを、基準体のスペクトル的に分解されたデータで相殺し、複数の測定点から、複数のスペクトル的に分解された測定データを、前記測定システムと前記オブジェクトとの互いに異なる距離で、決定することを特徴とする方法。
[2]共焦点の、色分散型の3D測定システムを用いることを特徴とする前記[1]に記載の方法。
[3]前記材料特性を決定するために、多焦点の照射パターンの、前記オブジェクト上に結像された複数の焦点から発せられる、直接に反射された第1の放射線の、スペクトル的に分解されたデータのみならず、各々の結像された焦点から距離Δxで乱反射された第2の放射線も測定することを特徴とする前記[1]または[2]に記載の方法。
[4]任意の或る焦点に割り当てられた直接に反射された第1の放射線と、乱反射された第2の放射線との間の距離が、5μmと3mmの間に、特に、10μmと200μmとの間にあることを特徴とする前記[1]ないし[3]の少なくとも1つに記載の方法。
[5]前記スペクトル的に分解されたデータを決定するために、前記3D測定システムによって、前記オブジェクトに、波長範囲Δλ1にある第1の放射線を当てること、前記オブジェクトに、波長範囲Δλ2にある第2の放射線を当てること、および、前記オブジェクトによって反射された第2の放射線から、前記オブジェクトの2D画像を決定することを特徴とする前記[1]ないし[4]の少なくとも1つに記載の方法。
[6]3D画像を、前記オブジェクトの空間的座標に割り当てられる第1のピクセルを有する第1のセンサを用いて、および、前記2D画像を、前記オブジェクトの空間的座標に割り当てられる第2のピクセルを有する第2のセンサを用いて測定すること、および、前記第1のおよび第2のピクセルを互いに割り当てることを特徴とする前記[1]ないし[5]の少なくとも1つに記載の方法。
[7]前記第1のセンサによって決定されたスペクトル情報および前記第2のセンサによって決定されたスペクトル情報を用いて、異なった挙動でおよび/または異なった時間で同一の測定点を示す1つのフレームまたは複数のクレームから、材料分類を計算することを特徴とする前記[1]ないし[6]の少なくとも1つに記載の方法。
[8]測定されたスペクトルに、基準体の複数のスペクトルから決定される補正因子を加え、該基準体の乱反射を、共焦点の測定条件なしに測定し、あるいは、前記基準体のスペクトルを、コンピュータに保管されたライブラリから読み取ることを特徴とする前記[1]ないし[7]の少なくとも1つに記載の方法。
[9]前記複数の測定点を、前記補正因子を用いて、ルックアップテーブルに保管されておりかつ材料特性を表わしているスペクトルと比較することを特徴とする前記[1]ないし[8]の少なくとも1つに記載の方法。
[10]任意の或る測定点の、共焦点の条件下で決定された測定スペクトルからのみならず、前記測定点の或る範囲のバックグラウンドスペクトルからも、材料特性を決定することを特徴とする前記[1]ないし[9]の少なくとも1つに記載の方法。
Claims (11)
- オブジェクトの光学特性を決定するための方法において、
共焦点の3次元測定システムの光センサを用いて、前記共焦点の3次元測定システムから任意の距離における前記オブジェクトから反射された第1および第2の放射線の測定データから、前記オブジェクトのスペクトル的に分解されたデータを得ることと、
ここで、前記第1の放射線は、前記オブジェクト上で結像された多焦点照射パターンの複数の焦点から直接に反射され、
前記第2の放射線は、前記多焦点照射パターンの結像された焦点から前記オブジェクト上で距離Δx離れた位置において乱反射され、前記光センサによって測定される、
基準体のスペクトル的に分解されたデータを用いて、前記オブジェクトのスペクトル的に分解されたデータを計算することと、
前記オブジェクトと前記共焦点の3次元測定システムとの間の可変距離において、前記オブジェクトのスペクトル的に分解されたデータを決定することと、
前記決定されたスペクトル的に分解されたデータに、共焦点測定条件のもとで測定されていない前記基準体の乱反射から決定されるか、またはコンピュータに保管されているライブラリから取った補正因子を適用することと、
を具備する、方法。 - 共焦点の、色分散型の3次元測定システムが提供される、請求項1に記載の方法。
- 前記焦点に割り当てられ直接に反射された前記第1の放射線と、乱反射された前記第2の放射線との間の距離が、光センサ上で5μm乃至3mmである、請求項1に記載の方法。
- 前記スペクトル的に分解されたデータを決定するために、前記共焦点の3次元測定システムによって、前記オブジェクトに、波長範囲Δλ1にある第1の放射線を当て、前記オブジェクトに、波長範囲Δλ2にある第2の放射線を当て、前記オブジェクトによって反射された前記第2の放射線から、前記オブジェクトの2次元画像を生成する、請求項1に記載の方法。
- 3次元画像を、前記オブジェクトの空間的座標に割り当てられる第1のピクセルを有する前記共焦点の3次元測定システムの第1のセンサを用いて測定し、前記2次元画像を、前記オブジェクトの位置座標に割り当てられる第2のピクセルを有する第2のセンサを用いて測定し、前記第1のピクセルおよび第2のピクセルを互いに割り当てる、請求項4に記載の方法。
- 前記第1のセンサを用いて決定された前記スペクトル的に分解されたデータのスペクトル情報および前記第2のセンサを用いて決定された前記スペクトル的に分解されたデータのスペクトル情報によって、異なった視点からのおよび/または異なった時間点における、同一の測定点を示す1つのフレームまたは複数のフレームが、材料分類を計算するために用いられる、請求項5に記載の方法。
- 前記スペクトル的に分解されたデータのスペクトルを、前記補正因子を考慮に入れて、前記オブジェクトの光学特定を表している、ルックアップテーブルに保管されているスペクトルと比較する、請求項1に記載の方法。
- 測定点の、共焦点の条件下で得られた測定スペクトルと、前記測定点の範囲のバックグラウンドスペクトルと、の両者から、前記オブジェクトの光学特性を決定する、請求項1に記載の方法。
- 前記距離は、10μm乃至200μmである、請求項3に記載の方法。
- 前記距離は、10μm乃至200μmである、請求項1に記載の方法。
- 前記第1の放射線のスペクトルは、前記測定点の起点として前記コンピュータに保管される、請求項8に記載の方法。
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