JP5924272B2 - Wire state inspection method and wire state inspection device - Google Patents
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 60
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 41
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims description 78
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 63
- 238000002788 crimping Methods 0.000 claims description 39
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 17
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 13
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 claims description 9
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims description 9
- 230000006870 function Effects 0.000 description 96
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 36
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 36
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 20
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 16
- 230000008569 process Effects 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 6
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 6
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 6
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 4
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 4
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 4
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 4
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 4
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 3
- 229910000881 Cu alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000012854 evaluation process Methods 0.000 description 2
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001369 Brass Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001128 Sn alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001174 ascending effect Effects 0.000 description 1
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 1
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010951 brass Substances 0.000 description 1
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000007765 extrusion coating Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000013011 mating Effects 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 1
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
この発明は、電線の状態を検査する技術に関する。 The present invention relates to a technique for inspecting the state of an electric wire.
電線の状態を検査する手法の一つとして、検査対象となる部分を撮像して、得られた撮像データを画像解析することにより、当該部分の状態を検査するものが知られている(いわゆる「外観検査」)。 One technique for inspecting the state of an electric wire is to inspect the state of the part by imaging the part to be inspected and analyzing the obtained image data (so-called "" Visual inspection").
例えば、電線は、その端部の絶縁被覆が皮剥ぎされることにより芯線が露出した状態とされる。また、その皮剥ぎされた端部に、端子が接続される。このような電線に対して、例えば、皮剥ぎされた端部を撮像して、得られた撮像データを画像解析することにより、芯線があるべき位置に絶縁被覆がないか、また、絶縁被覆があるべき位置に芯線がないか、などが検査される。皮剥ぎされた端部に端子が接続されている場合、例えば、芯線と絶縁被覆との境界と、端子との位置関係をみて、電線に対して端子が適切な位置に接続されているかが検査される場合もある。 For example, the electric wire is in a state where the core wire is exposed by peeling off the insulating coating at the end. A terminal is connected to the peeled end. For such an electric wire, for example, by imaging the peeled end and analyzing the obtained image data, there is no insulation coating at the position where the core wire should be, or the insulation coating is It is inspected whether there is a core wire at the position where it should be. When the terminal is connected to the peeled end, for example, the boundary between the core wire and the insulation coating and the positional relationship between the terminal and the terminal are inspected to determine whether the terminal is connected to an appropriate position. Sometimes it is done.
ところで、電線を撮像した撮像データにおいて、絶縁被覆と芯線とを判別するにあたっては、「色」が指標とされることが多かった。ところが、絶縁被覆には、様々なカラーバリエーションが存在するため、例えば、絶縁被覆と芯線とが似た色味となっている場合に、「色」を指標とした判別態様では、絶縁被覆と芯線とを正確に判別できない虞があった。 By the way, in the imaging data obtained by imaging the electric wire, “color” is often used as an index in distinguishing between the insulation coating and the core wire. However, since there are various color variations in the insulation coating, for example, when the insulation coating and the core wire have similar colors, in the discrimination mode using “color” as an index, the insulation coating and the core wire There is a possibility that cannot be accurately determined.
絶縁被覆とそれ以外の部分との判別精度を高める技術として、例えば、特許文献1では、端子が接続された電線を撮像したデータを、輝度を指標として2値化する構成が開示されている。ここでは、電線の色に応じて、撮像データを2値化する際の閾値を個別に設定することによって、電線の色に関係なく、安定して検査を行えるように担保している。
As a technique for improving the discrimination accuracy between the insulation coating and other parts, for example,
また、特許文献2では、端子が接続された電線を撮像するにあたって、金属部分が明るく、樹脂部分が暗くなるように、コントラストをつける技術が開示されている。この構成によると、例えば絶縁被覆が「白」の場合であっても、樹脂部分と金属部分とのコントラストが十分に維持されるため、誤判定を回避できる。
しかしながら、従来の技術では、絶縁被覆とその周囲の部材とが比較的近い輝度レベルである場合に、撮像の条件や、製造バラツキなど、検査条件の些細な変動の影響をうけて、簡単に誤判定が生じてしまう可能性が高い。また、例えば特許文献1のように、電線の色毎に閾値を設定する態様では、オペレータの作業負担も大きくなり、多様なカラーバリエーションに柔軟に対応することが難しかった。
However, in the conventional technology, when the insulation coating and the surrounding members have relatively close luminance levels, the error is easily caused by the influence of slight variations in inspection conditions such as imaging conditions and manufacturing variations. There is a high possibility that a determination will occur. Further, for example, as in
この発明は、上記の課題に鑑みてなされてものであり、電線の状態を、その色に関係なく、簡易かつ正確に評価できる技術を提供することを目的とする。 This invention is made in view of said subject, and it aims at providing the technique which can evaluate the state of an electric wire simply and correctly irrespective of the color.
第1の態様は、電線状態の検査方法であって、a)検査対象となる電線を撮像して撮像データを取得する工程と、b)前記撮像データ内に、対象領域を設定する工程と、c)前記対象領域内において、前記電線の延在方向と直交する方向に沿うラインを、前記電線の延在方向に沿って複数配列し、同一のラインに沿う輝度の変化量の絶対値を総和した値を、当該ラインのバラツキ量として取得する工程と、d)前記電線の延在方向に沿う前記バラツキ量の変化の態様に基づいて、前記電線の状態を評価する工程と、を備える。 The first aspect is a method for inspecting a wire state, in which a) a step of capturing an image of an electric wire to be inspected to acquire imaging data, and b) a step of setting a target region in the imaging data; c) In the target region, a plurality of lines along the direction perpendicular to the extending direction of the electric wires are arranged along the extending direction of the electric wires, and the absolute value of the amount of change in luminance along the same line is summed. And a step of evaluating the state of the electric wire on the basis of the variation of the variation amount along the extending direction of the electric wire.
第2の態様は、第1の態様に係る検査方法であって、検査対象となる電線の端部に端子が接続されており、前記電線における、前記端子の芯線圧着部が圧着されている第1部分と、前記端子の被覆圧着部が圧着されている第2部分との間の部分が、前記対象領域とされる。 A second aspect is an inspection method according to the first aspect, wherein a terminal is connected to an end of an electric wire to be inspected, and a core wire crimping portion of the terminal in the electric wire is crimped. A portion between one portion and the second portion to which the covering crimp portion of the terminal is crimped is the target region.
第3の態様は、第1または第2の態様に係る検査方法であって、e)前記バラツキ量の算出に先立って、前記対象領域内のデータ部分を、輝度成分を抽出した輝度データに変換するとともに、前記輝度データに、微分フィルタをかける前処理を行う工程、を備える。 A third aspect is an inspection method according to the first or second aspect, and e) converts a data portion in the target region into luminance data obtained by extracting a luminance component prior to calculating the variation amount. And a pre-processing for applying a differential filter to the luminance data.
第4の態様は、第1から第3のいずれかの態様に係る検査方法であって、前記c)工程において、前記ラインにおいて、その両端の部分領域を除いた中央部分を、対象ライン部分とし、前記対象ライン部分における前記輝度の変化量の絶対値を総和した値を、前記バラツキ量として取得する。 A fourth aspect is an inspection method according to any one of the first to third aspects, wherein in the step c), in the line, a central part excluding partial areas at both ends thereof is set as a target line part. Then, a value obtained by summing up the absolute values of the luminance change amounts in the target line portion is acquired as the variation amount.
第5の態様は、第1から第4のいずれかの態様に係る検査方法であって、前記d)工程が、d1)2次元のグラフの横軸に、前記複数のラインをその配列順に並べ、前記2次元のグラフの縦軸に、前記複数のラインの各々について算出された前記バラツキ量をプロットして、当該プロットを結んで得られる線を、変動関数として取得する工程と、d2)前記2次元のグラフ上に、定められた一定のバラツキ量で推移する閾値関数を規定するとともに、前記閾値関数と前記変動関数との交点の個数を計数する工程と、d3)前記交点の個数に基づいて、前記電線の状態を評価する工程と、を備える。 A fifth aspect is an inspection method according to any one of the first to fourth aspects, wherein the step d) arranges the plurality of lines in the arrangement order on the horizontal axis of the d1) two-dimensional graph. Plotting the variation amount calculated for each of the plurality of lines on the vertical axis of the two-dimensional graph, and obtaining a line obtained by connecting the plots as a variation function; d2) Defining a threshold function that transitions with a predetermined fixed variation amount on a two-dimensional graph and counting the number of intersections of the threshold function and the variation function; and d3) based on the number of intersections. And a step of evaluating the state of the electric wire.
第6の態様は、第5の態様に係る検査方法であって、前記d3)工程において、前記交点の個数がゼロの場合に否定的な評価を与える。 A sixth aspect is an inspection method according to the fifth aspect, and in the step d3), a negative evaluation is given when the number of intersections is zero.
第7の態様は、第5または第6の態様に係る検査方法であって、前記d3)工程において、前記交点の個数が1の場合であり、かつ、前記変動関数が定められた形状タイプに合致する場合に、肯定的な評価を与え、前記定められた形状タイプが、前記交点に対して定められた側で前記閾値関数より大きな値で推移するとともに、他方の側で前記閾値関数より小さな値で推移する形状である。 A seventh aspect is an inspection method according to the fifth or sixth aspect, wherein in the step d3), the number of the intersections is 1, and the shape type is defined with the variation function. If there is a match, give a positive rating and the defined shape type transitions with a value greater than the threshold function on the defined side relative to the intersection and smaller than the threshold function on the other side It is a shape that changes in value.
第8の態様は、第5から第7のいずれかの態様に係る検査方法であって、前記d3)工程において、前記交点の個数が2の場合に、いずれかの交点について、前記変動関数が定められた形状タイプに合致する場合に、肯定的な評価を与え、前記定められた形状タイプが、前記いずれかの交点に対して定められた側で前記閾値関数より大きな値で推移するとともに、他方の側で前記閾値関数より小さな値で推移する形状である。 An eighth aspect is an inspection method according to any one of the fifth to seventh aspects, wherein, in the step d3), when the number of intersection points is 2, the variation function is calculated for any intersection point. A positive rating is given if it matches a defined shape type, and the defined shape type transitions at a value greater than the threshold function on the defined side for any of the intersections; It is a shape that changes at a value smaller than the threshold function on the other side.
第9の態様は、第5から第8のいずれかの態様に係る検査方法であって、前記d3)工程において、前記交点の個数が3以上の場合に否定的な評価を与える。 A ninth aspect is an inspection method according to any of the fifth to eighth aspects, and in the step d3), a negative evaluation is given when the number of intersection points is 3 or more.
第10の態様は、電線状態の検査装置であって、検査対象となる電線を撮像して撮像データを取得する撮像データ取得部と、前記撮像データ内に、対象領域を設定する対象領域設定部と、前記対象領域内において、前記電線の延在方向と直交する方向に沿うラインを、前記電線の延在方向に沿って複数配列し、同一のラインに沿う輝度の変化量の絶対値を総和した値を、当該ラインのバラツキ量として取得するバラツキ量算出部と、前記電線の延在方向に沿う前記バラツキ量の変化の態様に基づいて、前記電線の状態を評価する評価部と、を備える。 A tenth aspect is an inspection apparatus for an electric wire state, an imaging data acquisition unit that acquires an imaging data by imaging an electric wire to be inspected, and a target area setting unit that sets a target area in the imaging data In the target region, a plurality of lines along a direction orthogonal to the extending direction of the electric wire are arranged along the extending direction of the electric wire, and the absolute value of the amount of change in luminance along the same line is summed. A variation amount calculation unit that acquires the calculated value as a variation amount of the line, and an evaluation unit that evaluates the state of the electric wire based on a variation aspect of the variation amount along the extending direction of the electric wire. .
第1、第10の態様によると、電線の延在方向に沿うバラツキ量の変化の態様に基づいて、電線の状態を評価する。ここにおいて、バラツキ量は、電線の延在方向と直交する方向に沿う輝度の変化量の絶対値を総和した値であるので、例えば、電線の露出芯線部と対応する部分は、その色に関係なく、バラツキ量が比較的大きな値となり、電線の絶縁被覆部と対応する部分は、その色に関係なく、バラツキ量が比較的小さな値となる。したがって、電線の状態を、その色に関係なく、簡易かつ正確に評価できる。 According to the 1st, 10th aspect, the state of an electric wire is evaluated based on the aspect of the variation | change_quantity of the variation amount along the extension direction of an electric wire. Here, the amount of variation is the sum of the absolute values of the amount of change in luminance along the direction orthogonal to the extending direction of the electric wire. For example, the portion corresponding to the exposed core portion of the electric wire is related to the color. However, the variation amount is a relatively large value, and the portion corresponding to the insulation coating portion of the electric wire has a relatively small variation amount regardless of the color. Therefore, the state of the electric wire can be easily and accurately evaluated regardless of its color.
第2の態様によると、電線における、端子の芯線圧着部が圧着されている第1部分と端子の被覆圧着部が圧着されている第2部分との間の部分が、対象領域とされる。この構成によると、電線に対して端子が適切な位置に接続されているかを評価することができる。 According to the 2nd aspect, the part between the 1st part in which the core wire crimping part of a terminal is crimped | bonded in the electric wire, and the 2nd part to which the coating crimping part of a terminal is crimped | bonded is made into an object area | region. According to this structure, it can be evaluated whether the terminal is connected to the electric wire at an appropriate position.
第3の態様によると、バラツキ量の算出に先立って、対象領域内のデータ部分に前処理が施される。この構成によると、例えば、検査対象となる電線の絶縁被覆部に電線識別用のマークなどが印刷されている場合であっても、それに由来する輝度成分は微分フィルタを通すことによりおおまかに除去される。したがって、このようなマークなどの影響を受けて電線の状態を誤って評価する、といった事態を回避できる。 According to the third aspect, prior to the calculation of the variation amount, the data portion in the target area is preprocessed. According to this configuration, for example, even when a wire identification mark or the like is printed on the insulation coating portion of the wire to be inspected, the luminance component derived therefrom is roughly removed by passing through the differential filter. The Therefore, it is possible to avoid a situation in which the state of the electric wire is erroneously evaluated under the influence of such a mark or the like.
第4の態様によると、ラインの中央部分のみが、バラツキ量の算出において考慮される。ラインの両端部付近は、電線以外が現れている部分となりやすいところ、この構成によると電線以外が現れている部分の影響を除去して、電線に由来する輝度の変化量のみを、バラツキ量に反映させることができる。その結果、電線の状態を正確に評価することができる。 According to the fourth aspect, only the central part of the line is taken into account in the calculation of the variation amount. The area near both ends of the line is likely to be the part where the wires other than the wire appear, but according to this configuration, the influence of the portion where the wires other than the wire appears is removed, and only the variation in luminance derived from the wire is changed to the amount of variation. It can be reflected. As a result, the state of the electric wire can be accurately evaluated.
第5〜第9の態様によると、変動関数と閾値関数との交点の個数に基づいて、電線の状態を評価するので、簡易かつ正確に、電線の状態を評価することができる。 According to the fifth to ninth aspects, since the state of the electric wire is evaluated based on the number of intersections between the variation function and the threshold function, the state of the electric wire can be evaluated easily and accurately.
以下、図面を参照しながら、実施の形態について説明する。なお、以下の実施の形態は、本発明を具体化した一例であり、本発明の技術的範囲を限定する事例ではない。また、図面においては、理解容易のため、各部の寸法や数が誇張または簡略化して図示されている場合がある。 Hereinafter, embodiments will be described with reference to the drawings. The following embodiment is an example embodying the present invention, and is not an example of limiting the technical scope of the present invention. In the drawings, the size and number of each part may be exaggerated or simplified for easy understanding.
<1.端子付電線80>
実施形態に係る検査装置100は、電線8(ここでは、例えば、端部に端子9が接続された端子付電線80)の状態を検査する装置である。検査装置100について説明する前に、検査装置100にて検査対象となる端子付電線80について、図1、図2を参照しながら説明する。図1は、端子付電線80を模式的に示す側面図である。図2は、端子付電線80を模式的に示す平面図である。
<1. Electric wire with
The
端子付電線80は、電線8の端部に端子9が圧着接続されることにより形成される。
The terminal-attached
電線8は、芯線部81と、芯線部81の外周を被覆する絶縁被覆部82とを備える。芯線部81は、例えば、銅、銅合金、アルミニウム、アルミニウム合金等の金属線の撚り合せ線又は単線によって構成される。絶縁被覆部82は、例えば、樹脂材料を押出被覆等することによって形成される。電線8の端部は、絶縁被覆部82が皮剥ぎされて、芯線部81が露出している。以下、電線8の端部に露出する芯線部81を、「露出芯線部81」ともいう。
The
端子9は、例えば、銅もしくは黄銅などの銅合金の部材、又はそれらの部材に錫(Sn)メッキもしくは錫に銀(Ag)、銅(Cu)、ビスマス(Bi)などが添加された錫合金のメッキが施された導体の部材である。端子9は、例えば、端子接続部91と、芯線圧着部92と、被覆圧着部93と、2つの連結部94,95とを備える。
The terminal 9 is, for example, a copper alloy member such as copper or brass, or a tin alloy in which tin (Sn) plating or tin (Ag), copper (Cu), bismuth (Bi) or the like is added to these members. It is a member of a conductor to which the plating is applied. The terminal 9 includes, for example, a
端子接続部91は、相手側の端子と接続される部分である。端子接続部91は、具体的には、例えば、略筒状の形状(いわゆるメス端子形状)に形成されており、ピン状、または、タブ状の接続部を有する相手側端子(いわゆるオス端子)が挿入接続可能とされている。なお、端子接続部91は、ピン状、または、タブ状の形状(いわゆるオス端子形状)に形成されていてもよく、また、ネジ等によって相手側の部材に接続可能な環状形状等に形成されていてもよい。
The
芯線圧着部92は、電線8の露出芯線部81に圧着されるべき部分である。芯線圧着部92は、電線8に圧着接続される前の状態においては、例えば断面略U字状に形成されており、これが、露出芯線部81を抱持するように圧縮変形されることによって、芯線圧着部92が露出芯線部81に圧着接続される。芯線圧着部92が露出芯線部81に圧着接続されることによって、端子9と芯線部81とが電気的に接続される。
The core
被覆圧着部93は、電線8の絶縁被覆部82に圧着されるべき部分である。被覆圧着部93は、電線8に圧着接続される前の状態においては、例えば断面略U字状に形成されており、これが、絶縁被覆部82を抱持するように圧縮変形されることによって、被覆圧着部93が絶縁被覆部82に圧着接続される。被覆圧着部93が絶縁被覆部82に圧着接続されることによって、端子9が電線8に対して強固に固定される。
The
2つの連結部94,95のうち、一方の連結部(第1連結部)94は、端子接続部91と芯線圧着部92とを連結する、また、他方の連結部(第2連結部)95は、芯線圧着部92と被覆圧着部93とを連結する。各連結部94,95は、一対の起立片と底部とによって形成される溝状の部分である。電線8に対して端子9が適切な位置に接続されている場合、第2連結部95の溝状の部分には、電線8における露出芯線部81と絶縁被覆部82の境界位置の付近の部分が収容された状態となる。すなわち、第2連結部95の溝の開口端(以下「窓部90」ともいう)から、当該境界位置が見える状態となる。
Of the two connecting
<2.検査装置100>
<2−1.ハードウェア構成>
検査装置100のハードウェア構成について、図3を参照しながら説明する。図3は、検査装置100のハードウェア構成を示すブロック図である。
<2.
<2-1. Hardware configuration>
A hardware configuration of the
検査装置100は、撮像部1と検査処理部2とを主として備える。
The
撮像部1は、検査対象となる端子付電線80を撮像する。撮像部1は、例えば、二次元イメージセンサおよび結像レンズ等から構成することができる。
The
検査処理部2は、撮像部1が取得した撮像データを解析することによって、端子付電線80の状態を評価する。検査処理部2は、例えば、CPU201、ROM202、RAM203、通信部204、記憶装置205等が、バスライン206を介して相互接続された一般的なコンピュータによって構成されている。ここにおいて、ROM202は基本プログラム等を格納しており、RAM203はCPU201が所定の処理を行う際の作業領域として供される。通信部204は、LAN等の通信回線を介したデータ通信機能を有する。記憶装置205は、フラッシュメモリ、あるいは、ハードディスク装置等の不揮発性の記憶装置によって構成されている。
The
記憶装置205にはプログラムPrが格納されており、このプログラムPrに記述された手順に従って、主制御部としてのCPU201が演算処理を行うことにより、検査装置100の各種機能が実現されるように構成されている。プログラムPrは、通常、予め記憶装置205等のメモリに格納されて使用されるものであるが、CD−ROMあるいはDVD−ROM、外部のフラッシュメモリ等の記録媒体に記録された形態(プログラムプロダクト)で提供され(あるいは、ネットワークを介した外部サーバからのダウンロードなどにより提供され)、追加的または交換的に記憶装置205等のメモリに格納されるものであってもよい。もっとも、検査処理部2において実現される一部あるいは全部の機能は、専用の論理回路等でハードウェア的に実現されてもよい。
A program Pr is stored in the
検査処理部2には、さらに、入力装置21、および、表示装置22が接続されている。入力装置21は、例えば、キーボード、マウス、各種スイッチ、タッチパネル等の少なくとも1つを含む入力デバイスであり、オペレータからの各種の操作(コマンドや各種データの入力といった操作)を受け付ける。表示装置22は、液晶表示装置、ランプ等により構成されており、CPU201による制御の下、各種の情報を表示する。
An
<2−2.機能構成>
検査処理部2が備える機能構成について、図4を参照しながら説明する。図4は、検査処理部2において実現される機能ブロック図である。
<2-2. Functional configuration>
A functional configuration provided in the
検査処理部2は、撮像制御部31と、対象領域設定部32と、前処理部33と、バラツキ量算出部34と、評価部35とを備えている。これら各機能部は、上述したとおり、例えば、CPU201がプログラムPrに従って所定の演算処理を行うことにより実現される。
The
<撮像制御部31>
撮像制御部31は、撮像部1を制御して、検査対象となる端子付電線80を撮像させる。つまり、撮像部1と撮像制御部31とが協働して、検査対象となる端子付電線80を撮像して撮像データを取得する撮像データ取得部を構成する。ただし、検査対象となる端子付電線80は、その延在方向が定められた軸に沿うような姿勢とされるとともに、窓部90を真上に向けた状態で配置され、撮像部1は、このような姿勢で配置された端子付電線80を真上から撮像する。撮像部1が取得した撮像データ(図5参照)は、例えば、検査処理部2の制御下で、表示装置22に表示される。
<
The
<対象領域設定部32>
対象領域設定部32は、撮像部1によって取得された端子付電線80の撮像データ内に、対象領域Mを設定する。対象領域Mは、図5に示されるように、矩形領域であり、平行な一対の辺の延在方向(以下「Y方向」ともいう)が、端子付電線80の延在方向とほぼ一致するように設定される。したがって、他方の一対の辺の延在方向(以下「X方向」ともいう)が、端子付電線80の延在方向と直交する方向(以下「端子付電線80を横断する方向」ともいう)とほぼ一致するように設定されることになる。
<Target
The target
ここでは、電線8(撮像データ上の電線8)における、芯線圧着部92が圧着されている第1の部分M1と被覆圧着部93が圧着されている第2の部分M2との間の部分(以下「間隙部分」ともいう)が、対象領域Mとされる。ただし、対象領域Mは、芯線圧着部92および被覆圧着部93を含まない範囲で、できるだけ大きな領域とされることが好ましい。このような好ましい対象領域Mを規定するには、例えば、対象領域MのY方向に沿う長さを、芯線圧着部92の被覆圧着部93側の端部と、被覆圧着部93の芯線圧着部92側の端部との離間距離(撮像データ上の離間距離)と略同一とし、さらに、+Y側の辺が芯線圧着部92の被覆圧着部93側の端部と一致するように設定すればよい。また、対象領域MのX方向に沿う長さを、端子付電線80の幅(撮像データ上の幅)よりも十分に大きなものとし、さらに、X方向に沿う辺の中心が、端子付電線80の中心線上にくるように設定すればよい。
Here, in the electric wire 8 (the
検査装置100においては、予め、検査対象となる端子付電線80と同じ形状タイプの端子付電線の撮像データ内に、理想的な寸法の対象領域を理想的な位置に設定するとともに、この端子付電線内の定められた箇所を代表箇所として規定して、この代表箇所の位置と、理想的な対象領域(具体的には、例えば、理想的な対象領域の各頂点位置)との相対位置関係を登録する処理が行われている。対象領域設定部32は、検査対象となる端子付電線80の撮像データが取得されると、当該撮像データ内から、代表箇所を検索してその位置を特定し、特定された位置に対して予め記憶されている相対位置関係にある各頂点位置から規定される領域を、対象領域Mとして設定する。なお、対象領域Mの設定に用いられる代表箇所は、一意に規定される箇所であればよく、例えば、芯線圧着部92の被覆圧着部93側の端縁を、代表箇所とすることができる。この端縁は、これを境に輝度が大きく変化する位置となっているので、対象領域設定部32は、輝度の変化に基づいて、当該端縁の位置を特定することができる。
In the
端子付電線80が、所期の姿勢で撮像されている場合、上記の処理によって設定された対象領域Mおいて、Y方向と端子付電線80の延在方向とが良好に一致する。ところが、端子付電線80が、例えば、定められた姿勢から微小に回転した姿勢で撮像されてしまった場合、Y方向と端子付電線80の延在方向とがずれる虞がある。そこで、対象領域設定部32は、例えば、対象領域Mの設定に先立って、撮像データに対して、必要に応じて、回転補正を施してもよい。この回転補正を行う場合、対象領域設定部32は、まず、撮像データにおける端子付電線80の延在方向を、例えば芯線圧着部92のエッジ部分を検出することにより特定し、この延在方向が所期の方向からずれている場合に、このずれが低減されるように撮像データを回転させる。そして、回転補正が施された後の撮像データ内に、対象領域Mを設定する。この回転補正を行っておけば、Y軸と端子付電線80の延在方向とが良好に一致するように担保される。
When the terminal-attached
<前処理部33>
前処理部33は、端子付電線80の撮像データにおける対象領域M内のデータ部分を対象データとして、対象データに対して前処理を施す。前処理とは、具体的には、対象データを、輝度成分を抽出した輝度データに変換し、さらに、得られた輝度データに、端子付電線80を横断する方向(X方向)の微分フィルタをかける処理である。微分フィルタをかけられた後の輝度データは、X方向に隣り合う輝度の変化量を表すデータとなる。この微分フィルタがかけられることによって、撮像データのY方向に沿うエッジが強調される。また、この微分フィルタがかけられることによって、絶縁被覆部82に電線識別用のマーク(例えばリングマーク)などが印刷されている場合であっても、その輝度成分は、微分フィルタを通すことによりおおまかに除去されることになる。
<
The preprocessing
<バラツキ量算出部34>
いま、撮像データ内に設定された対象領域Mが、端子付電線80を横断する方向(X方向)に沿って「m」画素、端子付電線80の延在方向(Y方向)に沿って「n」画素が、マトリクス状に配列された「m×n」の画素領域であったとする。ここで、X方向に沿って延在し、Y方向に沿う幅が1画素分の帯状領域を「ライン」とよぶとすると、対象領域Mは、Y軸に沿って「n」本のラインが配列された画素領域となっている。以下において、この「n」本のラインを、+Y側(端子付電線80の先端側)から順に、第1ラインL1、第2ラインL2、・・、第nラインLnという(図6参照)。
<Variation
Now, the target region M set in the imaging data is “m” pixels along the direction (X direction) crossing the terminal-attached
バラツキ量算出部34は、前処理後の対象データにおいて、Y方向に沿って配列される複数のラインL1,L2,・・,Lnのそれぞれについて、当該ラインLi(i=1,2,・・,n)に沿う輝度の変化量(具体的には、X方向に隣り合う画素間の輝度の差分値)の絶対値を総和した値を、当該ラインLiのバラツキ量Viとして取得する。
The variation
ただし、各ラインLiの両端付近は、バラツキ量Viの算出において考慮されないことが好ましい。すなわち、バラツキ量算出部34は、各ラインLiにおいて、その両端の部分領域を除いた中央部分を対象ライン部分Ciとし、対象ライン部分Ciにおける輝度の変化量の絶対値を総和した値を、バラツキ量Viとして取得することが好ましい。
However, it is preferable that the vicinity of both ends of each line Li is not considered in the calculation of the variation amount Vi. That is, the variation
対象ライン部分Ciは、例えば、次の態様で規定することができる。すなわち、バラツキ量算出部34は、まず、ラインLi内における、端子付電線80の一対のエッジ(X方向に沿う両端部)の各位置Eai,Ebiを特定する。端子付電線80のエッジ(すなわち、端子付電線80と背景との境界位置)は、当該境界位置を境に輝度が大きく変化する位置となっているので、バラツキ量算出部34は、輝度の変化量に基づいて、端子付電線80のエッジを特定することができる。そして、バラツキ量算出部34は、一対のエッジ位置Eai,Ebiの各々よりも定められたピクセル数分だけ(例えば、10ピクセル分だけ)内側の位置Fai,Fbiを特定し、これら一対の位置Fai,Fbiの間の領域を、対象ライン部分Ciとする。
The target line portion Ci can be defined in the following manner, for example. That is, the variation
上記の態様により規定された対象ライン部分Ciは、電線8以外が現れている部分(端子付電線80の背景、第2連結部95の起立片など)が除かれたものとなっている。したがって、背景や起立片の影響を除去して、電線8に由来する輝度の変化量のみを、バラツキ量Viに反映させることができる。
The target line portion Ci defined by the above-described aspect is such that portions other than the
各ラインLiについて算出されたバラツキ量Viをみると、当該ラインLiに電線8内のどの位置が現れているかを判別することができる。すなわち、素線により成り立ち、比較的凹凸の多い面領域をなす露出芯線部81が現れている領域は、電線8を横断する方向(X方向)について、輝度が比較的大きく変動する。したがって、あるラインLiに相当する位置に、露出芯線部81が存在している場合、当該ラインLiのバラツキ量Viは、比較的大きな値となる。一方、樹脂などで形成され、比較的凹凸の少ない面領域をなす絶縁被覆部82が現れている領域は、電線8を横断する方向(X方向)について、輝度があまり変化しない。したがって、あるラインLiに相当する位置に、絶縁被覆部82が存在している場合、当該ラインLiのバラツキ量Viは、比較的小さな値となる。
By looking at the variation amount Vi calculated for each line Li, it is possible to determine which position in the
<評価部35>
評価部35は、端子付電線80の延在方向(Y軸)に沿う、バラツキ量V1,V2,・・,Vnの変化の態様に基づいて、端子付電線80の状態を評価する。評価部35は、具体的には、例えば、バラツキ量V1,V2,・・,Vnの変化の態様に基づいて、間隙部分に露出芯線部81と絶縁被覆部82との両方が現れているか否か(すなわち、間隙部分に、露出芯線部81と絶縁被覆部82との境界が現れているか否か)を判断し、露出芯線部81と絶縁被覆部82との両方が現れている場合に、当該端子付電線80に肯定的な評価を与える。評価部35が端子付電線80を評価する処理の流れについては、後に具体的に説明する。
<Evaluation part 35>
The evaluation unit 35 evaluates the state of the terminal-attached
<2−3.処理の流れ>
検査装置100にて実行される処理の流れについて、図7を参照しながら説明する。図7は、当該処理の流れを示す図である。
<2-3. Process flow>
The flow of processing executed by the
<i.全体の流れ>
まず、撮像制御部31が、撮像部1を制御して、検査対象となる端子付電線80を撮像させて、撮像データを取得させる(ステップS1)。
<I. Overall flow>
First, the
続いて、対象領域設定部32が、ステップS1で取得された撮像データ内に、対象領域Mを設定する(ステップS2)。
Subsequently, the target
続いて、前処理部33が、ステップS2で設定された対象領域M内のデータ部分を対象データとして、対象データに対して前処理を施す(ステップS3)。
Subsequently, the preprocessing
続いて、バラツキ量算出部34が、前処理後の対象データにおける、n本のラインL1,L2,・・,Lnの各々について、バラツキ量V1,V2,・・,Vnを算出する(ステップS4)。
Subsequently, the variation
続いて、評価部35が、ステップS4で算出されたバラツキ量V1,V2,・・,Vnの、端子付電線80の延在方向(Y軸)に沿う変化の態様に基づいて、端子付電線80を評価する(ステップS5)。得られた評価結果は、例えば、表示装置22に表示されることによって、オペレータに報知される。
Subsequently, the evaluation unit 35 determines the variation amounts V1, V2,..., Vn calculated in step S4 based on the variation along the extending direction (Y axis) of the terminal-attached
<ii.評価処理の流れ>
評価部35が行う評価処理(ステップS5)の流れについて、図8〜図13を参照しながら説明する。図8は、当該処理の流れを示す図である。図9〜図13は、端子付電線80から得られる変動関数Tの一例を模式的に示す図である。
<Ii. Flow of evaluation process>
The flow of the evaluation process (step S5) performed by the evaluation unit 35 will be described with reference to FIGS. FIG. 8 is a diagram showing the flow of the processing. 9-13 is a figure which shows typically an example of the variation function T obtained from the
まず、評価部35は、2次元のグラフの横軸に、n本のラインL1,L2,・・,Lnをその配列順(具体的には、ライン番号の昇順)に並べ、当該2次元のグラフの縦軸に、各ラインLi(i=1,2,・・,n)について算出されたバラツキ量Viをプロットする。そして、当該プロットを結んで得られる線を、変動関数Tとして取得する(ステップS101)。ここで、得られた変動関数Tを、移動平均などを用いて平滑化しておくことも好ましい。 First, the evaluation unit 35 arranges n lines L1, L2,..., Ln in the arrangement order (specifically, ascending order of line numbers) on the horizontal axis of the two-dimensional graph. The variation amount Vi calculated for each line Li (i = 1, 2,..., N) is plotted on the vertical axis of the graph. Then, a line obtained by connecting the plots is acquired as a variation function T (step S101). Here, it is also preferable to smooth the obtained variation function T using a moving average or the like.
続いて、評価部35は、変動関数Tが規定される2次元のグラフ上に、定められた一定のバラツキ量(すなわち、閾値となるバラツキ量であり、以下単に「閾値」ともいう)qで推移する閾値関数Qを規定するとともに、この閾値関数Qと変動関数Tとの交点Pの個数を計数する(ステップS102)。なお、閾値qの値は、例えば、オペレータが任意に設定できる構成としてもよいし、変動関数Tに応じて評価部35が自動に算出する構成としてもよい。後者の場合、例えば、評価部35は、変動関数Tにおけるバラツキ量の最大値と最小値との平均値を算出して、得られた値を閾値qの値として用いてもよい。 Subsequently, the evaluation unit 35 uses a predetermined constant variation amount (that is, a variation amount serving as a threshold, hereinafter simply referred to as “threshold”) q on a two-dimensional graph in which the variation function T is defined. The transition threshold function Q is defined, and the number of intersection points P between the threshold function Q and the variation function T is counted (step S102). Note that the value of the threshold value q may be, for example, a configuration that can be arbitrarily set by an operator, or a configuration that the evaluation unit 35 automatically calculates according to the variation function T. In the latter case, for example, the evaluation unit 35 may calculate an average value of the maximum value and the minimum value of the variation amount in the variation function T, and use the obtained value as the value of the threshold value q.
続いて、ステップS102の計数結果に基づいて、変動関数Tと閾値関数Qとの交点Pの個数が、「0(ゼロ)」「1」「2」「3以上」のいずれであるか否かを判断する(ステップS103〜ステップS105)。 Subsequently, based on the counting result in step S102, whether the number of intersection points P between the variation function T and the threshold function Q is “0 (zero)”, “1”, “2”, “3 or more”. Is determined (steps S103 to S105).
(a)変動関数Tと閾値関数Qとの交点Pが0個の場合
変動関数Tと閾値関数Qとの交点Pの個数が「0」であると判断された場合(ステップS103でYES)、評価部35は、端子付電線80に否定的な評価を与える(ステップS106)。
(A) When the number of intersection points P between the variation function T and the threshold function Q is 0 When it is determined that the number of intersection points P between the variation function T and the threshold function Q is “0” (YES in step S103). Evaluation part 35 gives negative evaluation to
例えば、図9に示されるように、検査対象となる端子付電線80が、間隙部分に絶縁被覆部82しか現れていない場合(すなわち、露出芯線部81と絶縁被覆部82との境界位置が、芯線圧着部92の下に隠れている場合)、変動関数Tは、全ラインに亘って、低い値で推移するものとなり、閾値関数Qとの交点Pの個数がゼロとなる。評価部35は、このような変動関数Tを与える端子付電線80に対して、否定的な評価を与える。
For example, as shown in FIG. 9, when the terminal-attached
また例えば、図10に示されるように、検査対象となる端子付電線80が、間隙部分に露出芯線部81しか現れていない場合(すなわち、露出芯線部81と絶縁被覆部82との境界位置が、被覆圧着部93の下に隠れている場合)、変動関数Tは、全ラインに亘って、高い値で推移するものとなり、閾値関数Qとの交点Pの個数がゼロとなる。評価部35は、このような変動関数Tを与える端子付電線80に対しても、否定的な評価を与える。
Further, for example, as shown in FIG. 10, when the terminal-attached
(b)変動関数Tと閾値関数Qとの交点Pが1個の場合
変動関数Tと閾値関数Qとの交点Pの個数が「1」であると判断された場合(ステップS103でNO、ステップS104でYES)、評価部35は、続いて、変動関数Tが定められた形状タイプに合致するか否かを判断する(ステップS107)。ここで、定められた形状タイプとは、具体的には、交点Pよりもライン番号が小さい側(対象領域Mの+Y側の部分に相当)で閾値関数Qより大きな値で推移するとともに、他方の側(交点Pよりもライン番号が大きい側(対象領域Mの−Y側の部分に相当))で閾値関数Qより小さな値で推移するような形状である。
(B) When there is one intersection point P between the variation function T and the threshold function Q When it is determined that the number of intersection points P between the variation function T and the threshold function Q is “1” (NO in step S103, step Next, the evaluation unit 35 determines whether or not the variation function T matches the determined shape type (step S107). Here, specifically, the determined shape type is a value larger than the threshold function Q on the side where the line number is smaller than the intersection P (corresponding to the + Y side portion of the target region M), while the other (A side having a larger line number than the intersection point P (corresponding to a portion on the −Y side of the target region M)) is shifted in a value smaller than the threshold function Q.
ステップS107で肯定的な判断が得られた場合、評価部35は、端子付電線80に肯定的な評価を与える(ステップS108)。一方、ステップS107で否定的な判断が得られた場合、評価部35は、端子付電線80に否定的な評価を与える(ステップS109)。 When a positive determination is obtained in step S107, the evaluation unit 35 gives a positive evaluation to the terminal-attached electric wire 80 (step S108). On the other hand, when a negative determination is obtained in step S107, the evaluation unit 35 gives a negative evaluation to the terminal-attached electric wire 80 (step S109).
例えば、図11に示されるように、検査対象となる端子付電線80が、間隙部分に露出芯線部81と絶縁被覆部82との両方が現れている場合、変動関数Tは、ライン番号が相対的に小さい側に、バラツキ量が比較的高い値で推移する部分が現れるとともに、ライン番号が相対的に大きい側に、バラツキ量が比較的低い値で推移する部分が現れ、途中で閾値関数Qとの交差するものとなる。つまり、変動関数Tは、閾値関数Qとの交点Pが1個であり、かつ、上記の定められた形状タイプに合致するものとなる。評価部35は、このような変動関数Tを与える端子付電線80に対して、肯定的な評価を与える。
For example, as shown in FIG. 11, when both the exposed
(c)変動関数Tと閾値関数Qとの交点Pが2個の場合
変動関数Tと閾値関数Qとの交点Pの個数が「2」であると判断された場合(ステップS103でNO、ステップS104でNO、ステップS105でYES)、評価部35は、まず、変動関数Tの一部を評価の対象から除外する(ステップS110)。
(C) When there are two intersection points P between the variation function T and the threshold function Q When it is determined that the number of intersection points P between the variation function T and the threshold function Q is “2” (NO in step S103, step First, the evaluation unit 35 excludes a part of the variation function T from the evaluation target (step S110).
具体的には、評価部35は、まず、変動関数Tにおけるライン番号が小さい側(+Y側)の端部Hにおいて、変動関数Tが閾値関数Qよりも大きいか否かを判断する。すなわち、ライン番号が最も小さいラインL1において、そのバラツキ量V1が閾値qよりも大きいか否かを判断する。 Specifically, the evaluation unit 35 first determines whether or not the variation function T is greater than the threshold function Q at the end portion H on the side where the line number in the variation function T is small (+ Y side). That is, it is determined whether or not the variation amount V1 of the line L1 having the smallest line number is larger than the threshold value q.
そして、変動関数Tが、その端部Hにおいて閾値関数Qよりも小さい場合、評価部35は、2個の交点Pのうち、ライン番号が小さい側の交点P、および、当該交点Pよりもライン番号が小さい側の部分Jを、評価の対象から除外する(図12参照)。 When the variation function T is smaller than the threshold function Q at the end portion H, the evaluation unit 35 determines the intersection point P having the smaller line number among the two intersection points P, and the line from the intersection point P. The portion J having a smaller number is excluded from the evaluation target (see FIG. 12).
一方、変動関数Tが、その端部Hにおいて閾値関数Qよりも大きい場合、評価部35は、2個の交点Pのうち、ライン番号が大きい側の交点P、および、当該交点Pよりもライン番号が大きい側の部分Jを、評価の対象から除外する(図13参照)。 On the other hand, when the variation function T is larger than the threshold function Q at the end portion H, the evaluation unit 35 determines the intersection point P having the larger line number among the two intersection points P and the line from the intersection point P. The part J having the larger number is excluded from the evaluation target (see FIG. 13).
ステップS110を経ると、評価の対象として残された変動関数Tの部分には、閾値関数Qとの交点Pが1個だけ残ることになる。評価部35は、続いて、評価の対象として残された変動関数Tの部分が、定められた形状タイプに合致するか否かを判断する(ステップS107)。上述したとおり、定められた形状タイプとは、具体的には、交点Pよりもライン番号が小さい側で閾値関数Qより大きな値で推移するとともに、他方の側(交点Pよりもライン番号が大きい側)で閾値関数Qより小さな値で推移するような形状である。 After step S110, only one intersection point P with the threshold function Q remains in the portion of the variation function T that is left as an evaluation target. Subsequently, the evaluation unit 35 determines whether or not the portion of the variation function T left as an evaluation target matches the determined shape type (step S107). As described above, specifically, the determined shape type means that the line number is smaller than the intersection point P and changes with a value larger than the threshold function Q, and the other side (the line number is larger than the intersection point P). The shape is such that it changes at a value smaller than the threshold function Q.
ステップS107で肯定的判断が得られた場合、評価部35は、端子付電線80に肯定的な評価を与える(ステップS108)。つまり、変動関数Tと閾値関数Qとの交点Pが2個の場合、評価部35は、いずれかの交点について、変動関数Tが定められた形状タイプに合致する場合に、肯定的な評価を与えることになる。一方、ステップS107で否定的な判断が得られた場合、評価部35は、端子付電線80に否定的な評価を与える(ステップS109)。 When a positive determination is obtained in step S107, the evaluation unit 35 gives a positive evaluation to the terminal-attached electric wire 80 (step S108). That is, when there are two intersection points P between the variation function T and the threshold function Q, the evaluation unit 35 performs a positive evaluation when the variation function T matches the determined shape type at any one of the intersection points. Will give. On the other hand, when a negative determination is obtained in step S107, the evaluation unit 35 gives a negative evaluation to the terminal-attached electric wire 80 (step S109).
例えば、図12に示されるように、検査対象となる端子付電線80が、間隙部分に露出芯線部81と絶縁被覆部82との両方が現れている場合において、対象領域Mが芯線圧着部92を含むような位置に設定されてしまった場合、ライン番号が小さいラインのバラツキ量は、芯線圧着部92のベルマウス部分、あるいは、芯線圧着部92と電線8との境界の影になった部分などの影響で、比較的小さい値となる。したがって、この場合、変動関数Tは、ライン番号が相対的に大きい側とライン番号が相対的に小さい側とに、バラツキ量が比較的低い値で推移する部分が現れるとともに、これらの部分に挟まれて、バラツキ量が比較的高い値で推移する部分が現れ、途中で閾値関数Qと2回交差するものとなる。つまり、変動関数Tは、閾値関数Qとの交点Pが2個であり、かつ、ライン番号が大きい側の交点Pについて、上記の定められた形状タイプに合致するものとなる。評価部35は、このような変動関数Tを与える端子付電線80に対して、肯定的な評価を与える。
For example, as shown in FIG. 12, when the terminal-attached
また例えば、図13に示されるように、検査対象となる端子付電線80が、間隙部分に露出芯線部81と絶縁被覆部82との両方が現れている場合において、対象領域Mが被覆圧着部93を含むような位置に設定されてしまった場合、ライン番号が大きいラインのバラツキ量は、被覆圧着部93の影響で、比較的大きい値となる。したがって、この場合、変動関数Tは、ライン番号が相対的に大きい側とライン番号が相対的に小さい側とに、バラツキ量が比較的高い値で推移する部分が現れるとともに、これらの部分に挟まれて、バラツキ量が比較的低い値で推移する部分が現れ、途中で閾値関数Qと2回交差するものとなる。つまり、変動関数Tは、閾値関数Qとの交点Pが2個であり、かつ、ライン番号が小さい側の交点Pについて、上記の定められた形状タイプに合致するものとなる。評価部35は、このような変動関数Tを与える端子付電線80に対して、肯定的な評価を与える。
Further, for example, as shown in FIG. 13, in the case where the terminal-attached
(d)変動関数Tと閾値関数Qとの交点Pが3個以上の場合
変動関数Tと閾値関数Qとの交点Pの個数が「3以上」であると判断された場合(ステップS103でNO、ステップS104でNO,ステップS105でNO)、評価部35は、端子付電線80に否定的な評価を与える(ステップS111)。
(D) When the intersection point P between the variation function T and the threshold function Q is 3 or more When it is determined that the number of intersection points P between the variation function T and the threshold function Q is “3 or more” (NO in step S103) The evaluation unit 35 gives a negative evaluation to the terminal-attached electric wire 80 (NO in step S104, NO in step S105) (step S111).
<3.効果>
上記の実施の形態によると、端子付電線80の延在方向に沿うバラツキ量Vi(i=1,2,・・,n)の変化の態様に基づいて、端子付電線80の状態を評価する。ここにおいて、バラツキ量Viは、端子付電線80を横断する方向に沿う輝度の変化量の絶対値を総和した値であるので、例えば、電線8の露出芯線部81と対応する部分は、その色に関係なく、バラツキ量Viが比較的大きな値となり、電線8の絶縁被覆部82と対応する部分は、その色に関係なく、バラツキ量Viが比較的小さな値となる。したがって、端子付電線80の状態を、その色に関係なく、簡易かつ正確に評価できる。
<3. Effect>
According to said embodiment, the state of the
また、上記の実施によると、端子付電線80における、端子9の芯線圧着部92が圧着されている第1部分と端子9の被覆圧着部93が圧着されている第2部分との間の部分が、対象領域Mとされる。この構成によると、電線8に対して端子9が適切な位置に接続されているかを評価することができる。特に、第1部分と第2部分との間の部分の全体が、1つの対象領域Mとされると、端子付電線80の延在方向に沿う対象領域Mの長さを十分大きくとることができるので、撮像データ中の部分的なノイズなどの影響が低減される。したがって、評価の正確性を担保することができる。
Moreover, according to said implementation, in the
また、上記の実施の形態によると、バラツキ量Viの算出に先立って、対象領域M内のデータ部分に前処理が施される。この構成によると、例えば、検査対象となる端子付電線80の絶縁被覆部82に電線識別用のマークなどが印刷されている場合であっても、それに由来する輝度成分は微分フィルタを通すことによりおおまかに除去される。したがって、このようなマークなどの影響を受けて端子付電線80の状態を誤って評価する、といった事態を回避できる。
Further, according to the above-described embodiment, preprocessing is performed on the data portion in the target area M prior to the calculation of the variation amount Vi. According to this configuration, for example, even when a wire identification mark or the like is printed on the
また、上記の実施の形態によると、ラインLiの中央部分のみが、バラツキ量Viの算出において考慮される。ラインLiの両端部付近は、電線8以外が現れている部分(端子付電線80の背景、第2連結部95の起立片など)となりやすいところ、この構成によると電線8以外が現れている部分の影響を除去して、電線8に由来する輝度の変化量のみを、バラツキ量Viに反映させることができる。その結果、端子付電線80の状態を正確に評価することができる。
Further, according to the above-described embodiment, only the central portion of the line Li is considered in the calculation of the variation amount Vi. In the vicinity of both ends of the line Li, a portion other than the
また、上記の実施の形態によると、変動関数Tと閾値関数Qとの交点Pの個数に基づいて、端子付電線80の状態を評価するので、簡易かつ正確に、端子付電線80の状態を評価することができる。
Moreover, according to said embodiment, since the state of the
<4.変形例>
<4−1.第1の変形例>
上記の実施の形態においては、ステップS107(図8)で肯定的な判断が得られた場合に、端子付電線80に肯定的な評価を与える構成としていたが、評価部35は、ステップS107で肯定的な評価が得られた場合に、さらに、次の処理を行ってもよい。
<4. Modification>
<4-1. First Modification>
In the above embodiment, when a positive determination is obtained in step S107 (FIG. 8), a positive evaluation is given to the terminal-attached
すなわち、変形例に係る評価部35は、ステップS107で肯定的な評価が得られた場合、続いて、交点Pよりもライン番号が小さい側において、バラツキ量が閾値関数Qよりも大きいラインが連続する本数の最大値を計数するとともに、交点Pよりもライン番号が大きい側において、閾値関数Qよりも小さいラインが連続する本数の最大値を計数する。そして、得られた2つの計数値の両方が、オペレータにより設定された許容値よりも大きいか否かを判断する。ここで肯定的な判断が得られた場合、評価部35は、端子付電線80に肯定的な評価を与える。一方、ここで否定的な判断が得られた場合、評価部35は、端子付電線80に否定的な評価を与える。
That is, when a positive evaluation is obtained in step S107, the evaluation unit 35 according to the modified example continues on the side where the line number is smaller than the intersection P, and the lines whose variation is larger than the threshold function Q are continuous. The maximum value of the number of lines to be processed is counted, and the maximum value of the number of continuous lines smaller than the threshold function Q on the side where the line number is larger than the intersection P is counted. Then, it is determined whether or not both of the two obtained count values are larger than the allowable value set by the operator. When a positive determination is obtained here, the evaluation unit 35 gives a positive evaluation to the terminal-attached
この変形例によると、オペレータは、許容値を調整することによって、例えば、間隙部分にほんの少しだけ露出芯線部81(あるいは、絶縁被覆部82)が見えているような状態の端子付電線80に対して、否定的な評価を与えさせることができる。また、撮像データに含まれるノイズなどの影響で、否定的な評価を与えるべき端子付電線80に誤って肯定的な評価が与えられてしまうといった事態を回避できる。
According to this modification, the operator adjusts the allowable value, for example, to the electric wire with
<4−2.第2の変形例>
評価部35が端子付電線80を評価する態様は、上記に例示したものに限らない。例えば、評価部35は、次の処理によって端子付電線80を評価してもよい。
<4-2. Second Modification>
The aspect in which the evaluation unit 35 evaluates the terminal-attached
評価部35は、まず、図14に示されるように、変動関数Tを、横軸に沿って2等分割する(すなわち、ライン番号が小さい側とライン番号が大きい側とに2等分割する)中心線Kを規定し、中心線Kよりもライン番号が小さい側の変動関数Tの部分(第1部分)T1と、中心線Kよりもライン番号が大きい側の変動関数Tの部分(第2部分)T2との各々において、バラツキ量の平均値R1,R2を算出する。続いて、評価部35は、得られた2つの平均値R1,R2を比較して、第1部分T1の平均値R1が、第2部分T2の平均値よりも大きい場合に、端子付電線80に肯定的な評価を与える。
First, as shown in FIG. 14, the evaluation unit 35 divides the variation function T into two equal parts along the horizontal axis (that is, divides into two equal parts into a side with a smaller line number and a side with a larger line number). The center line K is defined, the portion of the variation function T (first portion) T1 on the side having a smaller line number than the center line K, and the portion of the variation function T on the side having a larger line number than the center line K (second portion). In each of (part) T2, average values R1 and R2 of variation are calculated. Subsequently, the evaluation unit 35 compares the obtained two average values R1, R2, and when the average value R1 of the first portion T1 is larger than the average value of the second portion T2, the electric wire with
この変形例によると、撮像条件などによって、変動関数Tが全体的に上側(あるいは、下側)にシフトしてしまった場合であっても、安定した評価結果を得ることができる。 According to this modification, a stable evaluation result can be obtained even when the variation function T is shifted upward (or downward) as a whole due to imaging conditions and the like.
<4−3.その他の変形例>
上記の実施の形態においては、検査対象は、端子付電線80であるとしたが、検査対象は必ずしも端子付電線80である必要はない。例えば、端子9が接続されていない電線8が検査対象とされてもよい。例えば、検査装置100を、端子9が接続されていない電線8において、皮剥ぎ位置が適切であるか否かの検査に用いてもよい。この場合、例えば、電線8の皮剥ぎ位置が存在するべき位置を含むように対象領域Mを設定して、上記の一連の処理を行って電線8の状態を評価すればよい。
<4-3. Other variations>
In the above embodiment, the inspection target is the terminal-attached
1 撮像部
2 検査処理部
31 撮像制御部
32 対象領域設定部
33 前処理部
34 バラツキ量算出部
35 評価部
80 端子付電線
8 電線
9 端子
90 窓部
100 検査装置
M 対象領域
T 変動関数
Q 閾値関数
DESCRIPTION OF
Claims (10)
a)検査対象となる電線を撮像して撮像データを取得する工程と、
b)前記撮像データ内に、対象領域を設定する工程と、
c)前記対象領域内において、前記電線の延在方向と直交する方向に沿うラインを、前記電線の延在方向に沿って複数配列し、同一のラインに沿う輝度の変化量の絶対値を総和した値を、当該ラインのバラツキ量として取得する工程と、
d)前記電線の延在方向に沿う前記バラツキ量の変化の態様に基づいて、前記電線の状態を評価する工程と、
を備える、検査方法。 A method for inspecting a wire condition,
a) capturing an imaging data by imaging an electric wire to be inspected;
b) setting a target area in the imaging data;
c) In the target region, a plurality of lines along the direction perpendicular to the extending direction of the electric wires are arranged along the extending direction of the electric wires, and the absolute value of the amount of change in luminance along the same line is summed. Obtaining a value obtained as a variation amount of the line;
d) a step of evaluating a state of the electric wire based on a variation of the variation amount along the extending direction of the electric wire;
An inspection method comprising:
検査対象となる電線の端部に端子が接続されており、
前記電線における、前記端子の芯線圧着部が圧着されている第1部分と、前記端子の被覆圧着部が圧着されている第2部分との間の部分が、前記対象領域とされる、検査方法。 The inspection method according to claim 1,
A terminal is connected to the end of the wire to be inspected,
The inspection method, wherein a portion between the first portion of the electric wire where the core crimping portion of the terminal is crimped and the second portion of which the covering crimping portion of the terminal is crimped is the target region. .
e)前記バラツキ量の算出に先立って、前記対象領域内のデータ部分を、輝度成分を抽出した輝度データに変換するとともに、前記輝度データに、微分フィルタをかける前処理を行う工程、
を備える、検査方法。 The inspection method according to claim 1 or 2,
e) prior to the calculation of the variation amount, converting the data portion in the target region into luminance data obtained by extracting a luminance component, and performing a preprocessing for applying a differential filter to the luminance data;
An inspection method comprising:
前記c)工程において、
前記ラインにおいて、その両端の部分領域を除いた中央部分を、対象ライン部分とし、前記対象ライン部分における前記輝度の変化量の絶対値を総和した値を、前記バラツキ量として取得する、検査方法。 The inspection method according to any one of claims 1 to 3,
In the step c),
An inspection method for obtaining a value obtained by summing up absolute values of the amount of change in luminance in the target line portion as the variation amount, with a central portion excluding partial regions at both ends of the line as the target line portion.
前記d)工程が、
d1)2次元のグラフの横軸に、前記複数のラインをその配列順に並べ、前記2次元のグラフの縦軸に、前記複数のラインの各々について算出された前記バラツキ量をプロットして、当該プロットを結んで得られる線を、変動関数として取得する工程と、
d2)前記2次元のグラフ上に、定められた一定のバラツキ量で推移する閾値関数を規定するとともに、前記閾値関数と前記変動関数との交点の個数を計数する工程と、
d3)前記交点の個数に基づいて、前記電線の状態を評価する工程と、
を備える、検査方法。 The inspection method according to any one of claims 1 to 4,
Step d)
d1) On the horizontal axis of the two-dimensional graph, the plurality of lines are arranged in the order of arrangement, and on the vertical axis of the two-dimensional graph, the variation amount calculated for each of the plurality of lines is plotted, Obtaining a line obtained by connecting the plots as a variation function;
d2) defining a threshold function that transitions with a predetermined amount of variation on the two-dimensional graph, and counting the number of intersections of the threshold function and the variation function;
d3) evaluating the state of the wires based on the number of the intersections;
An inspection method comprising:
前記d3)工程において、
前記交点の個数がゼロの場合に否定的な評価を与える、検査方法。 The inspection method according to claim 5,
In the step d3),
An inspection method that gives a negative evaluation when the number of intersections is zero.
前記d3)工程において、
前記交点の個数が1の場合であり、かつ、前記変動関数が定められた形状タイプに合致する場合に、肯定的な評価を与え、
前記定められた形状タイプが、前記交点に対して定められた側で前記閾値関数より大きな値で推移するとともに、他方の側で前記閾値関数より小さな値で推移する形状である、検査方法。 The inspection method according to claim 5 or 6,
In the step d3),
If the number of intersections is 1 and the variation function matches a defined shape type, give a positive evaluation,
The inspection method, wherein the defined shape type is a shape that transitions with a value larger than the threshold function on a defined side with respect to the intersection and a transition with a value smaller than the threshold function on the other side.
前記d3)工程において、
前記交点の個数が2の場合に、いずれかの交点について、前記変動関数が定められた形状タイプに合致する場合に、肯定的な評価を与え、
前記定められた形状タイプが、前記いずれかの交点に対して定められた側で前記閾値関数より大きな値で推移するとともに、他方の側で前記閾値関数より小さな値で推移する形状である、検査方法。 The inspection method according to any one of claims 5 to 7,
In the step d3),
If the number of intersections is 2, for any intersection, if the variation function matches the defined shape type, give a positive evaluation,
The defined shape type is a shape that transitions with a value greater than the threshold function on a defined side with respect to any of the intersections, and a shape that transitions with a value smaller than the threshold function on the other side. Method.
前記d3)工程において、
前記交点の個数が3以上の場合に否定的な評価を与える、検査方法。 The inspection method according to any one of claims 5 to 8,
In the step d3),
An inspection method that gives a negative evaluation when the number of intersections is 3 or more.
検査対象となる電線を撮像して撮像データを取得する撮像データ取得部と、
前記撮像データ内に、対象領域を設定する対象領域設定部と、
前記対象領域内において、前記電線の延在方向と直交する方向に沿うラインを、前記電線の延在方向に沿って複数配列し、同一のラインに沿う輝度の変化量の絶対値を総和した値を、当該ラインのバラツキ量として取得するバラツキ量算出部と、
前記電線の延在方向に沿う前記バラツキ量の変化の態様に基づいて、前記電線の状態を評価する評価部と、
を備える、検査装置。 A wire condition inspection device,
An imaging data acquisition unit that captures imaging data by imaging an electric wire to be inspected;
A target area setting unit for setting a target area in the imaging data;
Within the target area, a plurality of lines along the direction orthogonal to the extending direction of the electric wires are arranged along the extending direction of the electric wires, and a value obtained by summing up absolute values of luminance variations along the same line , And a variation amount calculation unit that acquires the variation amount of the line as
Based on the variation of the variation amount along the extending direction of the electric wire, the evaluation unit for evaluating the state of the electric wire,
An inspection apparatus comprising:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013001548A JP5924272B2 (en) | 2013-01-09 | 2013-01-09 | Wire state inspection method and wire state inspection device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014134409A JP2014134409A (en) | 2014-07-24 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013001548A Active JP5924272B2 (en) | 2013-01-09 | 2013-01-09 | Wire state inspection method and wire state inspection device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5924272B2 (en) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017156189A (en) * | 2016-03-01 | 2017-09-07 | 住友電装株式会社 | Inspection method and inspection device |
JP2017156298A (en) * | 2016-03-04 | 2017-09-07 | 住友電装株式会社 | Terminal position identification method, inspection method, terminal position identification device, and inspection device |
JP6911442B2 (en) * | 2017-03-27 | 2021-07-28 | 住友電装株式会社 | Inspection equipment and inspection method |
JP7164560B2 (en) * | 2020-03-30 | 2022-11-01 | 矢崎総業株式会社 | Appearance inspection device for crimp terminals |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59217137A (en) * | 1983-05-25 | 1984-12-07 | Shin Meiwa Ind Co Ltd | Inspecting device for processed wire terminal |
JP2517381B2 (en) * | 1989-01-18 | 1996-07-24 | 新明和工業株式会社 | Crimp terminal crimp condition inspection device |
JP2624054B2 (en) * | 1991-09-19 | 1997-06-25 | 住友電装株式会社 | Wire stripping condition inspection method |
JP5172876B2 (en) * | 2010-02-23 | 2013-03-27 | トルーソルテック株式会社 | Terminal crimp failure detection device |
-
2013
- 2013-01-09 JP JP2013001548A patent/JP5924272B2/en active Active
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2014134409A (en) | 2014-07-24 |
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