JP5922429B2 - ソーラシミュレータ及び太陽電池の欠陥判定方法 - Google Patents
ソーラシミュレータ及び太陽電池の欠陥判定方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5922429B2 JP5922429B2 JP2012032238A JP2012032238A JP5922429B2 JP 5922429 B2 JP5922429 B2 JP 5922429B2 JP 2012032238 A JP2012032238 A JP 2012032238A JP 2012032238 A JP2012032238 A JP 2012032238A JP 5922429 B2 JP5922429 B2 JP 5922429B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- solar cell
- defect
- curve
- solar
- defect determination
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
- Photovoltaic Devices (AREA)
Description
第1発明のソーラシミュレータによれば、太陽電池の出力特性曲線を取得することにより、太陽電池に欠陥の有無の判定ができる。このためEL(エレクトロルミネッセンス)を使用した欠陥判定方法を使用する際にその正確度を更に向上させることができる。
第2発明のソーラシミュレータによれば、前記欠陥の有無の判定は、前記欠陥判定部でI−V曲線の微分値で判定するので、パソコンなどの計算機を使用することによりデータ処理演算で容易に可能である。
第3発明のソーラシミュレータによれば、より簡単な方法で第1発明と同様の効果を発現することができる。
本発明によれば、第1発明と同様の効果を発現することができる。
第5発明の太陽電池の欠陥判定方法によれば、第2発明と同様の効果を発現することができる。
第6発明の太陽電池の欠陥判定方法によれば、第3発明と同様の効果を発現することができる。
図1は本発明によるソーラシミュレータの概略構成を示すブロック図である。フラッシュ光源1から放射された光を被測定物2である太陽電池(太陽電池セルを含む)上に照射する。被測定物2である太陽電池は自身の性能特性に従って発電し電流及び電圧を出力する。特性取得部3は被測定物2から発電され出力される電流及び電圧を測定する。測定された発電能力は、出力特性曲線(以下、I−V曲線と呼ぶ)として得られる。図7は、太陽電池に欠陥の無い状態のI−V曲線である。欠陥判定部4は、得られたI−V曲線に基づき太陽電池の欠陥の有無又は欠陥の種類などの判定を行う。全体制御装置5は、ソーラシミュレータの全体制御を行う。
2 被測定物(太陽電池)
3 特性取得部
4 欠陥判定部
5 全体制御装置
Claims (2)
- 太陽電池に擬似太陽光を照射する光源と
前記光源からの擬似太陽光を受光し、太陽電池から出力される電流電圧のI−V曲線を取得する特性取得部と
前記特性取得部により得られたI−V曲線の形状により太陽電池の欠陥を判定する欠陥判定部、及び
前記特性取得部及び前記欠陥判定部を全体制御する制御装置と
を含む太陽電池の出力特性測定用のソーラシミュレータであって、
前記欠陥判定部において、前記欠陥の有無は、前記I−V曲線の被測定物である太陽電池の電圧値が開放電圧(VOC)の0.001VOCから0.002VOCの電圧値幅に対して短絡電流(ISC)の0.005ISCから0.01ISCを越える段差の有無により判定することを特徴とするソーラシミュレータ。 - 太陽電池に擬似太陽光を照射する光源と
前記光源からの擬似太陽光を受光し、太陽電池から出力される電流電圧のI−V曲線を取得する特性取得部と
前記特性取得部により得られたI−V曲線の形状により太陽電池の欠陥を判定する欠陥判定部、及び
前記特性取得部及び前記欠陥判定部を全体制御する制御装置と
を含む太陽電池の出力特性測定用のソーラシミュレータによる太陽電池の欠陥判定方法であって、
前記欠陥判定部において、前記欠陥の有無は、前記I−V曲線の被測定物である太陽電池の電圧値が開放電圧(VOC)の0.001VOCから0.002VOCの電圧値幅に対して短絡電流(ISC)の0.005ISCから0.01ISCを越える段差の有無により判定することを特徴とする太陽電池の欠陥判定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012032238A JP5922429B2 (ja) | 2012-02-17 | 2012-02-17 | ソーラシミュレータ及び太陽電池の欠陥判定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012032238A JP5922429B2 (ja) | 2012-02-17 | 2012-02-17 | ソーラシミュレータ及び太陽電池の欠陥判定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013168591A JP2013168591A (ja) | 2013-08-29 |
JP5922429B2 true JP5922429B2 (ja) | 2016-05-24 |
Family
ID=49178761
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012032238A Expired - Fee Related JP5922429B2 (ja) | 2012-02-17 | 2012-02-17 | ソーラシミュレータ及び太陽電池の欠陥判定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5922429B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6779512B2 (ja) * | 2016-06-17 | 2020-11-04 | 国立大学法人 筑波大学 | 太陽電池監視システム、および太陽電池監視プログラム |
CN110703835B (zh) * | 2019-10-10 | 2020-12-22 | 深圳市航天新源科技有限公司 | 一种应用于太阳能电池阵列模拟器的i-v外环控制方法 |
CN111682846B (zh) * | 2020-06-17 | 2021-07-20 | 阳光电源股份有限公司 | 一种故障诊断方法及诊断设备 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5940588A (ja) * | 1982-08-31 | 1984-03-06 | Toshiba Corp | 異常太陽電池素子の検出装置 |
JP5162737B2 (ja) * | 2006-05-17 | 2013-03-13 | 英弘精機株式会社 | 太陽電池の特性評価装置 |
JP2008091807A (ja) * | 2006-10-05 | 2008-04-17 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 太陽光発電システム診断装置 |
EP2528103A4 (en) * | 2010-01-19 | 2015-10-07 | Omron Tateisi Electronics Co | EVALUATION METHOD FOR A SOLAR POWER SYSTEM, EVALUATION DEVICE AND EVALUATION PROGRAM |
JP2012231006A (ja) * | 2011-04-26 | 2012-11-22 | Mitsubishi Electric Corp | 評価装置及び評価方法 |
-
2012
- 2012-02-17 JP JP2012032238A patent/JP5922429B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2013168591A (ja) | 2013-08-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3203781U (ja) | ソーラシミュレータ | |
Pozza et al. | Crystalline silicon PV module degradation after 20 years of field exposure studied by electrical tests, electroluminescence, and LBIC | |
Buerhop et al. | Reliability of IR-imaging of PV-plants under operating conditions | |
JP5319593B2 (ja) | 太陽電池の検査方法および検査装置 | |
US20100266196A1 (en) | Photovoltaic devices inspection apparatus and method of determining defects in photovoltaic devices | |
JPWO2006059615A1 (ja) | 太陽電池の評価方法及び評価装置並びにその利用 | |
US20140039820A1 (en) | Quantitative series resistance imaging of photovoltaic cells | |
JP6172530B2 (ja) | 太陽光発電システムの異常診断方法 | |
JP6691705B2 (ja) | 欠陥セル検出方法およびその装置 | |
JP5922429B2 (ja) | ソーラシミュレータ及び太陽電池の欠陥判定方法 | |
Luo et al. | Photovoltaic module failures after 10 years of operation in the tropics | |
Vorasayan et al. | Limited laser beam induced current measurements: a tool for analysing integrated photovoltaic modules | |
Puranik et al. | Analysis and insight of electroluminescence imaging in the assessment of potential-induced degradation in crystalline silicon photovoltaic module | |
CN109781693B (zh) | 监视光伏电池的质量的方法和*** | |
Oh et al. | Initial detection of potential-induced degradation using dark I–V characteristics of crystalline silicon photovoltaic modules in the outdoors | |
KR101757104B1 (ko) | 광전 변환 소자 평가 장치 | |
JP5871141B2 (ja) | 光電変換素子評価装置 | |
JP2015059781A (ja) | 太陽電池検査装置、及び太陽電池検査方法 | |
Puranik et al. | Progress in module level quantitative electroluminescence imaging of crystalline silicon PV module: A review | |
WO2018079657A1 (ja) | 太陽電池の検査方法および検査装置、太陽電池の製造方法および太陽電池モジュールの製造方法、ならびに検査用プログラムおよび記憶媒体 | |
CN117561434A (zh) | 经由光学串调制进行光伏阵列的户外光致发光成像 | |
TWI708157B (zh) | 資料處理裝置、資料處理方法及太陽能電池模組的製造方法 | |
Kumar et al. | High-Speed Laser Beam Induced Current Imaging: A Complementary Quantitative Diagnostic Tool for Modules | |
Michl et al. | Application of luminescence imaging based series resistance measurement methods in an industrial environment | |
TWI494580B (zh) | 電池片檢測方法與裝置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20150210 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20151112 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20151124 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160120 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20160404 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20160414 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5922429 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |