JP5893604B2 - Ffs方式液晶表示装置用アレイ基板及びその製造方法 - Google Patents

Ffs方式液晶表示装置用アレイ基板及びその製造方法 Download PDF

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Description

本発明は、液晶表示装置(Liquid Crystal Display Device)に関し、特に、FFS(Fringe Field Switching)方式液晶表示装置用アレイ基板及びその製造方法に関する。
一般に、液晶表示装置の駆動原理は、液晶の光学的異方性と分極特性を利用するものである。前記液晶は細長い構造であるので分子配列に方向性を有し、人為的に前記液晶に電場を印加することで分子配列の方向を制御することができる。
つまり、前記液晶の分子配列の方向を任意に調節して前記液晶の分子配列を変化させると、光学的異方性により前記液晶の分子配列方向に光が屈折し、画像情報が表示される。
近年、薄膜トランジスタと前記薄膜トランジスタに接続された画素電極とがマトリクス方式で配列されたアクティブマトリクス液晶表示装置(AM−LCD(Active Matrix LCD)、以下液晶表示装置という)が、解像度及び動画表示能力に優れており、最も注目されている。
前記液晶表示装置は、共通電極が形成されたカラーフィルタ基板(すなわち、上部基板)と、画素電極が形成されたアレイ基板(すなわち、下部基板)と、上部基板と下部基板との間に充填された液晶とからなる。
このような液晶表示装置は、共通電極と画素電極が上下に印加される電場により液晶を駆動する方式であって、透過率や開口率などの特性に優れているという利点があるが、上下に印加される電場による液晶駆動は視野角特性に優れていないという欠点があった。
よって、上記欠点を克服するために新たに提案された技術がFFS方式の液晶駆動方法であるが、このFFS方式の液晶駆動方法は、視野角特性に優れているという利点を有する。
以下、このような従来のFFS方式液晶表示装置について図5及び図6を参照して説明する。
図5は従来のFFS方式液晶表示装置用アレイ基板の概略平面図である。
図6は図5のVIa-VIa, VIb-VIb線断面図であって従来のFFS方式液晶表示装置用アレイ基板の概略断面図である。
従来のFFS方式液晶表示装置用アレイ基板10は、図5及び図6に示すように、透明な絶縁基板11上に一方向に延び、互いに平行に離隔した複数のゲート配線14と、ゲート配線14と交差し、その交差して形成される領域に画素領域を定義する複数のデータ配線23と、ゲート配線14とデータ配線23との交差地点に設けられ、ゲート電極13、アクティブ層17、ソース電極23a及びドレイン電極23bを含む薄膜トランジスタTとを含む。
絶縁基板11の画素領域全面には、ゲート配線14及びデータ配線23と所定の間隔をおいて大面積の透明な画素電極29が配置されており、画素電極29の上部には、平坦化膜31を介して分岐した透明な棒状の共通電極35が複数配置されている。
また、画素電極29は、ドレイン電極23bに電気的に接続されている。
さらに、ゲート配線14の一端にはゲートパッド13aが延設されており、ゲートパッド13aにはゲートパッド接続パターン35aが接続されている。同様に、データ配線23の一端にはデータパッド13bが延設されており、データパッド13bにはデータパッド接続パターン35bが接続されている。
上記構成によれば、データ信号が薄膜トランジスタTを介して画素電極29に供給されると、共通電圧が供給された共通電極35と画素電極29との間にフリンジフィールドが形成されることにより、絶縁基板11と当該絶縁基板11と貼り合わせられるカラーフィルタ基板(図示せず)との間に水平方向に配列された液晶分子が誘電異方性により回転し、液晶分子の回転の程度に応じて画素領域を透過する光透過率が変化することにより、階調が実現される。
以下、上記構成の従来のFFS方式液晶表示装置用アレイ基板の製造時に用いられるマスク工程について図7を参照して概略的に説明する。
図7は従来のFFS方式液晶表示装置用アレイ基板の製造時に用いられるマスク工程を示すフローチャートである。
図7に示すように、従来のFFS方式液晶表示装置用アレイ基板のマスク工程は、絶縁基板11上にゲート配線14、ゲート電極13、ゲートパッド13a及びデータパッド13bを形成する第1マスク工程51と、ゲート電極13の上部にアクティブ層17を形成する第2マスク工程52と、アクティブ層17の上部に互いに離隔したソース電極23a及びドレイン電極23b、並びにデータ配線23を形成する第3マスク工程53と、ドレイン電極23bを露出するドレインコンタクトホール(図示せず)を形成する第4マスク工程54と、前記ドレインコンタクトホールを介してドレイン電極23bに電気的に接続される大面積の画素電極29を形成する第5マスク工程55と、ゲートパッド13aを露出するゲートパッドコンタクトホール(図示せず)及びデータパッド13bを露出するデータパッドコンタクトホール(図示せず)を形成する第6マスク工程56と、画素電極29に対応する共通電極35、ゲートパッド接続パターン35a及びデータパッド接続パターン35bを形成する第7マスク工程57とからなる。
一方、このように7回のマスク工程で製造される従来のFFS方式液晶表示装置用アレイ基板の製造方法について図8A〜図8Gを参照して概略的に説明する。
図8A〜図8Gは従来のFFS方式液晶表示装置用アレイ基板の製造工程を示す断面図である。
まず、図8Aに示すように、透明な絶縁基板11上にスイッチング領域を含む複数の画素領域を定義し、スパッタリング法により絶縁基板11上に第1金属導電層(図示せず)を蒸着し、その後フォトリソグラフィ技術を用いる第1マスク工程(図7のステップ51参照)により前記第1金属導電層をパターニングし、ゲート配線(図5の符号14参照)、前記ゲート配線から突出したゲート電極13、外部駆動回路部に電気的に接続されるゲートパッド13a及びデータパッド13bを形成する。
次に、図8Bに示すように、ゲート電極13を含む絶縁基板11全面にゲート絶縁膜15を蒸着し、その上に非晶質シリコン層(a−Si:H)(図示せず)と不純物を含む非晶質シリコン層(n+又はp+)(図示せず)を順次蒸着する。
次に、図示していないが、フォトリソグラフィ技術を用いる第2マスク工程(図7のステップ52参照)により前記不純物を含む非晶質シリコン層(n+又はp+)と前記非晶質シリコン層(a−Si:H)をパターニングし、アクティブ層17とオーミックコンタクト層(図示せず)を形成する。
次に、図8Cに示すように、アクティブ層17及びオーミックコンタクト層を含む絶縁基板11全面に第2金属導電層(図示せず)を蒸着し、その後フォトリソグラフィ技術を用いる第3マスク工程(図7のステップ53参照)により前記第2金属導電層を選択的にパターニングし、ゲート配線13と垂直に交差するデータ配線23、データ配線23から延びたソース電極23a及びドレイン電極23bを形成する。
次に、図8Dに示すように、データ配線23を含む絶縁基板11全面にパッシベーション膜25を蒸着し、その後フォトリソグラフィ技術を用いる第4マスク工程(図7のステップ54参照)によりパッシベーション膜25を選択的にパターニングし、ドレイン電極23bを露出するドレインコンタクトホール27、ゲートパッド13aを露出するゲートパッドコンタクトホール27a、及びデータパッド13bを露出するデータパッドコンタクトホール27bを形成する。
次に、図8Eに示すように、ドレインコンタクトホール27、ゲートパッドコンタクトホール27a及びデータパッドコンタクトホール27bを含むパッシベーション膜25の上部に第1透明導電物質層(図示せず)を形成し、その後フォトリソグラフィ技術を用いる第5マスク工程(図7のステップ55参照)により前記第1透明導電物質層を選択的にパターニングし、ドレイン電極23bに電気的に接続される大面積の画素電極29を形成する。
次に、図8Fに示すように、画素電極29を含む絶縁基板11全面に平坦化膜31を形成し、その後フォトリソグラフィ技術を用いる第6マスク工程(図7のステップ56参照)により平坦化膜31をパターニングし、ゲートパッド13aを露出するゲートパッド開口部33a及びデータパッド13bを露出するデータパッド開口部33bを形成する。
次に、図8Gに示すように、ゲートパッド開口部33a及びデータパッド開口部33bを含む平坦化膜31上に第2透明導電物質層(図示せず)を形成し、その後フォトリソグラフィ技術を用いる第7マスク工程(図7のステップ57参照)により前記第2透明導電物質層を選択的にパターニングし、画素電極29に対応する複数の分岐した共通電極35と共に、ゲートパッド13aに電気的に接続されるゲートパッド接続パターン35a及びデータパッド13bに電気的に接続されるデータパッド接続パターン35bを形成する。これにより、従来のFFS方式液晶表示装置用アレイ基板の製造工程が完了する。
次に、図示していないが、カラーフィルタ基板を製造する工程と、アレイ基板とカラーフィルタ基板との間に液晶層を形成する工程を行うことにより、FFS方式液晶表示装置を製造する。
しかし、従来のFFS方式液晶表示装置用アレイ基板及びその製造方法においては、FFS方式液晶表示装置用アレイ基板を製造する際にソース電極及びドレイン電極を形成する工程と画素電極を形成する工程とをそれぞれ別に行うため、全7回のマスク工程が必要であるので、それだけ製造工程が複雑になり、製造コストが増加する。
また、従来のFFS方式液晶表示装置用アレイ基板及びその製造方法においては、既知の低電圧駆動のために最上層(トップ)に共通電極(Vcom)を形成する構造を適用した場合、画素電極とデータ配線との重畳の程度に応じてキャパシタンス(Cdp)が変化し、偶数/奇数不良が生じる。特に、画素電極とデータ配線との重畳により偶数/奇数不良が生じるため、低消費電力駆動方式では共通電極の最上層への適用が困難である。
さらに、従来のFFS方式液晶表示装置用アレイ基板及びその製造方法においては、ドレイン電極と画素電極とを電気的に接続するためのドレインコンタクトホールを別途形成しなければならず、ドレインコンタクトホールを形成するための面積が必要であるので、透過率及び開口率が減少する。特に、ドレイン電極と画素電極とを電気的に接続するためのドレインコンタクトホールが必要であるので、それだけ開口面積が減少し、当該ドレインコンタクトホール形成領域を覆うためのブラックマトリクスがさらに必要であるので、それだけ開口面積がさらに減少する。
さらに、従来のFFS方式液晶表示装置用アレイ基板及びその製造方法においては、平坦化膜が絶縁基板全面に形成されているので、それだけ開口部の透過率が減少する。
本発明は、このような従来技術の問題を解決するためになされたものであり、FFS方式液晶表示装置を製造する際に、最上層に共通電極を形成する構造を適用できるように、画素電極とドレイン電極とを一度に形成してドレインコンタクトホール構造を省略することにより、開口率及び透過率を最大化することのできる、FFS方式液晶表示装置用アレイ基板及びその製造方法を提供することを目的とする。
上記目的を達成するための本発明によるFFS方式液晶表示装置用アレイ基板は、絶縁基板の一面に一方向に形成されたゲート配線と、前記ゲート配線から延びたゲート電極の上部に形成されたアクティブ層と、前記アクティブ層の上部一側に形成されたソース電極を有し、前記ゲート配線と交差して画素領域を定義するデータ配線と、前記ソース電極から離隔した前記アクティブ層の上部他側と前記絶縁基板の画素領域にわたって形成された大面積の画素電極と、前記データ配線及び前記ソース電極の上部に形成された平坦化膜と、前記平坦化膜を含む絶縁基板全面に形成されたパッシベーション膜と、前記パッシベーション膜の上部に形成され、前記画素電極及び前記データ配線とオーバーラップする共通電極とを含むことを特徴とする。
上記目的を達成するための本発明によるFFS方式液晶表示装置用アレイ基板の製造方法は、絶縁基板の一面に一方向にゲート配線、ゲートパッド及びデータパッドを形成する段階と、前記ゲート配線から延びたゲート電極の上部にアクティブ層を形成する段階と、前記ゲート配線と交差して画素領域を定義し、前記アクティブ層の上部一側に配置されるソース電極を含むデータ配線を形成する段階と、前記ソース電極から離隔した前記アクティブ層の上部他側と前記絶縁基板の画素領域にわたって大面積の画素電極を形成する段階と、前記データ配線及び前記ソース電極の上部に平坦化膜を形成する段階と、前記平坦化膜を含む絶縁基板全面にパッシベーション膜を形成する段階と、前記パッシベーション膜に前記ゲートパッドを露出するゲートパッドコンタクトホール及び前記データパッドを露出するデータパッドコンタクトホールを形成する段階と、前記パッシベーション膜の上部に前記画素電極及び前記データ配線とオーバーラップする共通電極を形成する段階とを含むことを特徴とする。
本発明によるFFS方式液晶表示装置用アレイ基板及びその製造方法によれば、FFS方式液晶表示装置を製造する際に、最上層に共通電極を形成する構造を適用できるように、画素電極とドレイン電極とを一度に形成してドレインコンタクトホール構造を省略することにより、開口率及び透過率を最大化することができる。
また、本発明によるFFS方式液晶表示装置用アレイ基板及びその製造方法によれば、ソース電極を含むデータ配線と画素電極とを同時に形成することができるので、それだけマスク数が低減され、ソース電極と画素電極との自己整合(self align)によりオーバーレイマージンがなくなるので、偶数/奇数不良が生じない。
さらに、本発明によるFFS方式液晶表示装置用アレイ基板及びその製造方法によれば、平坦化膜が絶縁基板全面に形成されているのではなく、データ配線の上部にのみ存在するので、それだけ開口部の透過率が増加する。
本発明によるFFS方式液晶表示装置用アレイ基板の概略平面図である。 図1のIIa-IIa, IIb-IIb線断面図であって本発明によるFFS方式液晶表示装置用アレイ基板の概略断面図である。 本発明によるFFS方式液晶表示装置用アレイ基板の製造時に用いられるマスク工程を示すフローチャートである。 本発明によるFFS方式液晶表示装置用アレイ基板の製造工程を示す断面図である。 図4Aに続く工程を示す図である。 図4Bに続く工程を示す図である。 図4Cに続く工程を示す図である。 図4Dに続く工程を示す図である。 図4Eに続く工程を示す図である。 図4Fに続く工程を示す図である。 図4Gに続く工程を示す図である。 図4Hに続く工程を示す図である。 図4Iに続く工程を示す図である。 従来のFFS方式液晶表示装置用アレイ基板の概略平面図である。 図5のVIa-VIa, VIb-VIb線断面図であって従来のFFS方式液晶表示装置用アレイ基板の概略断面図である。 従来のFFS方式液晶表示装置用アレイ基板の製造時に用いられるマスク工程を示すフローチャートである。 従来のFFS方式液晶表示装置用アレイ基板の製造工程を示す断面図である。 図8Aに続く工程を示す図である。 図8Bに続く工程を示す図である。 図8Cに続く工程を示す図である。 図8Dに続く工程を示す図である。 図8Eに続く工程を示す図である。 図8Fに続く工程を示す図である。
以下、本発明の好ましい実施の形態によるFFS方式液晶表示装置用アレイ基板の構造について添付図面を参照して詳細に説明する。
図1は本発明によるFFS方式液晶表示装置用アレイ基板の概略平面図である。
図2は図1のIIa-IIa, IIb-IIb線断面図であって本発明によるFFS方式液晶表示装置用アレイ基板の概略断面図である。
図1及び図2に示すように、本発明によるFFS方式液晶表示装置用アレイ基板100は、絶縁基板101の一面に一方向に形成されたゲート配線104と、ゲート配線104から延びたゲート電極103の上部に形成されたアクティブ層110と、アクティブ層110の上部一側に形成されたソース電極123aを有し、ゲート配線104と交差して画素領域を定義するデータ配線123と、ソース電極123aから離隔したアクティブ層110の上部他側、及びゲート配線104とデータ配線123とが交差して形成される絶縁基板101の画素領域に形成された大面積の画素電極113aと、データ配線123及びソース電極123aの上部に形成された平坦化膜パターン117aと、平坦化膜パターン117aを含む絶縁基板101全面に形成されたパッシベーション膜125と、パッシベーション膜125の上部に形成され、画素電極113a及びデータ配線123とオーバーラップする共通電極129とを含む。
同図において、符号Tは薄膜トランジスタであり、薄膜トランジスタTは、絶縁基板101上に形成されたゲート配線104から垂直方向に延びたゲート電極103と、ゲート電極103の上部に形成されたゲート絶縁膜105と、非晶質シリコン層パターン107a及びオーミックコンタクト層パターン109aからなるアクティブ層110のチャネル領域だけ互いに離隔したソース電極123a及び画素電極113aとからなる。ここで、画素電極113aは、ドレイン電極の役割も果たす。つまり、本発明においては、ドレイン電極を形成するのではなく、ドレイン電極として画素電極113aを用いる。
大面積の透明な画素電極113aは、ゲート配線104とデータ配線123とが交差して形成される絶縁基板101の画素領域に配置されている。ここで、画素電極113aは、透明導電物質層の単一層構造を有する。データ配線123は、透明導電物質層パターン113bと金属導電層パターン115bの積層構造を有し、ソース電極123aは、透明導電物質層パターン113cと金属導電層パターン115cの積層構造を有する。ここで、ソース電極123aは、データ配線123から延びている。
また、平坦化膜パターン117aは、データ配線123及びソース電極123aの上部にのみ形成されており、絶縁基板101の画素領域に配置された画素電極113aを含むゲートパッド103a及びデータパッド103bの上方には形成されていない。つまり、平坦化膜パターン117aは、絶縁基板101全面に形成されているのではなく、ソース電極123aを含むデータ配線123の上部にのみ形成されているので、それだけ開口部の透過率が増加する。
さらに、共通電極129は複数に分岐しており、その分岐した複数の共通電極129は、パッシベーション膜125を介して画素電極113aとオーバーラップしている。ここで、共通電極129は、データ配線123とオーバーラップしている。
よって、複数の共通電極129によっては液晶駆動のための基準電圧、すなわち共通電圧を各画素に供給する。共通電極129は、各画素領域でパッシベーション膜125を介して大面積の画素電極113aと重なり、フリンジフィールドを形成する。
さらに、共通電極129を含む絶縁基板101全面には、下部配向膜(図示せず)が形成されている。
一方、図示していないが、薄膜トランジスタ基板である絶縁基板101と所定の間隔をおいて貼り合わせられるカラーフィルタ基板(図示せず)上には、画素領域を除く領域から光が透過することを遮断するためのブラックマトリクス(Black Matrix; BM)(図示せず)が形成されている。
また、前記カラーフィルタ基板の画素領域には、赤(R)、緑(G)、青(B)のカラーフィルタ層(図示せず)が形成されている。このとき、前記赤(R)、緑(G)、青(B)のカラーフィルタ層間の前記カラーフィルタ基板上には前記ブラックマトリクスが形成されている。
ここで、前記ブラックマトリクスは、前記カラーフィルタ基板と前記薄膜トランジスタ基板である絶縁基板101とを貼り合わせる際に、絶縁基板101の画素領域を除く領域、例えば薄膜トランジスタT、ゲート配線104及びデータ配線123の上部とオーバーラップするように配置される。本発明においては、画素電極113aがドレイン電極の役割も果たすので、ドレインコンタクトホールを形成しなくてもよい。つまり、本発明においては、ドレインコンタクトホールを形成しないので、それだけ前記ブラックマトリクスが覆う領域が減少することにより、開口率及び透過率を最大化することができる。
さらに、前記カラーフィルタ層上には、液晶を一定方向に配列させる上部配向膜(図示せず)が形成されている。
よって、薄膜トランジスタTを介して画素電極113aにデータ信号が供給されると、共通電圧が供給された共通電極129と画素電極113aとの間にフリンジフィールドが形成され、絶縁基板101と前記カラーフィルタ基板との間に水平方向に配列された液晶分子が誘電異方性により回転し、液晶分子の回転の程度に応じて画素領域を透過する光透過率が変化することにより、階調が実現される。
従って、本発明によるFFS方式液晶表示装置用アレイ基板によれば、FFS方式液晶表示装置を製造する際に、最上層に共通電極を形成する構造を適用できるように、画素電極とドレイン電極とを一度に形成してドレインコンタクトホール構造を省略することにより、開口率及び透過率を最大化することができる。
また、本発明によるFFS方式液晶表示装置用アレイ基板によれば、平坦化膜が絶縁基板全面に形成されているのではなく、データ配線の上部にのみ存在するので、それだけ開口部の透過率が増加する。
以下、上記構成の本発明によるFFS方式液晶表示装置用アレイ基板の製造時に用いられるマスク工程について図3を参照して概略的に説明する。
図3は本発明によるFFS方式液晶表示装置用アレイ基板の製造時に用いられるマスク工程を示すフローチャートである。
図3に示すように、本発明によるFFS方式液晶表示装置用アレイ基板のマスク工程は、絶縁基板101上にゲート配線104、ゲート電極103、ゲートパッド103a及びデータパッド103bを形成する第1マスク工程151と、ゲート電極103の上部にアクティブ層110を形成する第2マスク工程153と、アクティブ層110の上部にソース電極123aを含むデータ配線123を形成すると共に、ソース電極123aから離隔するようにゲート配線104とデータ配線123とが交差して形成される画素領域に大面積の画素電極113aを形成する第3マスク工程155と、ゲートパッド103aを露出するゲートパッドコンタクトホール(図示せず、図4Iの127a参照)及びデータパッド103bを露出するデータパッドコンタクトホール(図示せず、図4Iの127b参照)を形成する第4マスク工程157と、画素電極113aに対応する共通電極129、ゲートパッド接続パターン129a及びデータパッド接続パターン129bを形成する第5マスク工程159とからなる。
以下、上記構成の本発明によるFFS方式液晶表示装置用アレイ基板の製造方法について図4A〜図4Jを参照して説明する。
図4A〜図4Jは本発明によるFFS方式液晶表示装置用アレイ基板の製造工程を示す断面図である。
まず、透明な絶縁基板101上にスイッチング領域を含む複数の画素領域を定義し、スパッタリング法により絶縁基板101上に第1金属導電層(図示せず)を蒸着する。ここで、前記第1金属導電層としては、アルミニウム(Al)、タングステン(W)、銅(Cu)、モリブデン(Mo)、クロム(Cr)、チタン(Ti)、モリブデンタングステン(MoW)、モリブデンチタン(MoTi)、銅/モリブデンチタン(Cu/MoTi)を含む導電性金属群から選択される少なくとも1つを使用する。
その後、前記第1金属導電層の上部に透過率の高いフォトレジストを塗布して第1感光膜(図示せず)を形成する。
次いで、フォトリソグラフィ技術を用いる第1マスク工程(図3のステップ151参照)により前記第1感光膜をパターニングし、第1感光膜パターン(図示せず)を形成する。
次に、図4Aに示すように、前記第1感光膜パターンをエッチングマスクとして前記第1金属導電層を選択的にエッチングし、絶縁基板101上にゲート電極103、ゲートパッド103a及びデータパッド103bを形成する。ここで、ゲート電極103はゲート配線104から延びる。
次に、図4Bに示すように、前記第1感光膜パターンを除去し、ゲート電極103を含む絶縁基板101全面に窒化シリコン(SiNx)又はシリコン酸化膜(SiO)からなるゲート絶縁膜105を形成する。
次に、図4Cに示すように、ゲート絶縁膜105の上部に非晶質シリコン層(a−Si:H)107及びオーミックコンタクト層109を順次積層する。ここで、オーミックコンタクト層109としては、モリブデンチタン(MoTi)又は不純物を含む非晶質シリコン層(n+又はp+)を用いる。本発明においては、オーミックコンタクト層109としてモリブデンチタン(MoTi)を用いる場合を例に挙げて説明する。
その後、オーミックコンタクト層109の上部に透過率の高いフォトレジストを塗布して第2感光膜(図示せず)を形成する。
次いで、フォトリソグラフィ技術を用いる第2マスク工程(図3のステップ153参照)により前記第2感光膜をパターニングし、第2感光膜パターン(図示せず)を形成する。
次に、図4Dに示すように、前記第2感光膜パターンをエッチングマスクとして非晶質シリコン層(a−Si:H)107及びオーミックコンタクト層109を選択的にエッチングし、非晶質シリコン層パターン107a及びオーミックコンタクト層パターン109aからなるアクティブ層110を形成する。
次に、図4Eに示すように、前記第2感光膜パターンを除去し、スパッタリング法によりアクティブ層110を含む絶縁基板101全面に第1透明導電物質層113及び第2金属導電層115を順次蒸着する。ここで、第1透明導電物質層113としては、ITO(Indium Tin Oxide)やIZO(Indium Zinc Oxide)を含む群から選択される少なくとも1つを使用する。また、第2金属導電層115としては、アルミニウム(Al)、タングステン(W)、銅(Cu)、モリブデン(Mo)、クロム(Cr)、チタン(Ti)、モリブデンタングステン(MoW)、モリブデンチタン(MoTi)、銅/モリブデンチタン(Cu/MoTi)を含む導電性金属群から選択される少なくとも1つを使用する。
その後、第2金属導電層115の上部に感光性を有する平坦化膜117を形成する。ここで、平坦化膜117としては、フォトアクリルを含む有機絶縁物質からいずれか1つを選択して使用する。
次いで、光遮断膜パターン120a及び半透過膜パターン120bを備えるハーフトーンマスク120を用いて平坦化膜117に紫外線を照射することで露光工程を行う。ここで、光遮断膜パターン120aは、ソース電極を含むデータ配線形成領域に対応する平坦化膜117の上方に位置し、半透過膜パターン120bは、画素電極形成領域に対応する平坦化膜117の上方に位置する。一方、ハーフトーンマスク120の代わりに、光の回折効果を利用する回折マスク(例えば、スリットマスクなど)を用いてもよい。
次に、図4Fに示すように、前記露光工程が行われると、現像工程で平坦化膜117を選択的に除去し、ソース電極を含むデータ配線形成領域に対応する平坦化膜パターン117a、及び画素電極形成領域に対応するダミー平坦化膜パターン117bを形成する。このとき、平坦化膜パターン117aは、光が透過しない状態であるので平坦化膜117の厚さをそのまま維持するが、ダミー平坦化膜パターン117bは、光の一部が透過して所定の厚さだけ除去される。つまり、ダミー平坦化膜パターン117bが平坦化膜パターン117aより薄い。
次に、図4Gに示すように、平坦化膜パターン117a及びダミー平坦化膜パターン117bをエッチングマスクとして第2金属導電層115及び第1透明導電物質層113を選択的にエッチングし、平坦化膜パターン117aの下部にデータ配線123及び当該データ配線123から延びたソース電極123aを形成する。このとき、データ配線123は、第1透明導電物質層パターン113bと第2金属導電層パターン115bの積層構造を有し、ソース電極123aは、第1透明導電物質層パターン113cと第2金属導電層パターン115cの積層構造を有する。また、平坦化膜パターン117aは、ソース電極123aを含むデータ配線123の上部にのみ形成されている。
次に、図4Hに示すように、平坦化膜パターン117a及びダミー平坦化膜パターン117bを硬化(キュア)処理し、その後アッシング工程を行ってダミー平坦化膜パターン117b全体を除去することにより、その下部のダミー金属導電層パターン115aを露出する。このとき、平坦化膜パターン117aの一部も共に除去される。
次に、図4Iに示すように、露出したダミー金属導電層パターン115aをウェットエッチング工程で除去し、絶縁基板101の画素領域に大面積の画素電極113aを形成する。このとき、画素電極113aは、ゲート配線104とデータ配線123とが交差して形成される画素領域に配置される。
その後、画素電極113aを含む絶縁基板101全面に無機絶縁物質又は有機絶縁物質を蒸着してパッシベーション膜125を形成し、パッシベーション膜125の上部に透過率の高いフォトレジストを塗布して第3感光膜(図示せず)を形成する。
次いで、フォトリソグラフィ技術を用いる第4マスク工程(図3のステップ157参照)により露光及び現像工程を行って前記第3感光膜を除去し、第3感光膜パターン(図示せず)を形成する。
次に、前記第3感光膜パターンをマスクとしてパッシベーション膜125及びその下部のゲート絶縁膜105を選択的にエッチングし、ゲートパッド103aを露出するゲートパッドコンタクトホール127a、及びデータパッド103bを露出するデータパッドコンタクトホール127bを同時に形成する。
次に、前記第3感光膜パターンを除去し、ゲートパッドコンタクトホール127a及びデータパッドコンタクトホール127bを含む絶縁基板101全面にDCマグネトロンスパッタリング法で第2透明導電物質層(図示せず)を蒸着する。ここで、前記第2透明導電物質層としては、ITOやIZOを含む透明な物質群から選択されるいずれかを使用する。
その後、前記第2透明導電物質層の上部に透過率の高いフォトレジストを塗布して第4感光膜(図示せず)を形成する。
次いで、フォトリソグラフィ技術を用いる第5マスク工程(図3のステップ159参照)により露光及び現像工程を行って前記第4感光膜を除去し、第4感光膜パターン(図示せず)を形成する。
次に、図4Jに示すように、前記第4感光膜パターンをエッチングマスクとして前記第2透明導電物質層をエッチングし、互いに離隔して分岐した複数の共通電極129、並びにゲートパッドコンタクトホール127aを介してゲートパッド103aに電気的に接続されるゲートパッド接続パターン129a、及びデータパッドコンタクトホール127bを介してデータパッド103bに電気的に接続されるデータパッド接続パターン129bを同時に形成する。
次に、前記第4感光膜パターンを除去し、複数の共通電極129を含む絶縁基板101全面に下部配向膜(図示せず)を形成することにより、本発明によるFFS方式液晶表示装置用アレイ基板の製造工程を完了する。
一方、図示していないが、絶縁基板101と所定の間隔をおいて貼り合わせられるカラーフィルタ基板(図示せず)上には、画素領域を除く領域から光が透過することを遮断するためのブラックマトリクス(図示せず)を形成する。
次に、前記カラーフィルタ基板の画素領域に赤(R)、緑(G)、青(B)のカラーフィルタ層(図示せず)を形成する。このとき、前記赤(R)、緑(G)、青(B)のカラーフィルタ層間の前記カラーフィルタ基板上には前記ブラックマトリクスが形成される。
ここで、前記ブラックマトリクスは、前記カラーフィルタ基板と前記薄膜トランジスタ基板である絶縁基板101とを貼り合わせる際に、絶縁基板101の画素領域を除く領域、例えば薄膜トランジスタT、ゲート配線104及びデータ配線123の上部とオーバーラップするように配置される。本発明においては、画素電極113aがドレイン電極の役割も果たすので、ドレインコンタクトホールを形成しなくてもよい。つまり、本発明においては、ドレインコンタクトホールを形成しないので、それだけ前記ブラックマトリクスが覆う領域が減少することにより、開口率及び透過率を最大化することができる。
次に、図示していないが、前記カラーフィルタ層上に液晶を一定方向に配列させるための上部配向膜(図示せず)を形成することにより、カラーフィルタ基板の製造工程を完了する。
次に、図示していないが、絶縁基板101と前記カラーフィルタ基板との間に液晶層(図示せず)を形成することにより、本発明によるFFS方式液晶表示装置を製造する。
これにより、本発明によるFFS方式液晶表示装置用アレイ基板及びその製造方法によれば、FFS方式液晶表示装置を製造する際に、最上層に共通電極を形成する構造を適用できるように、画素電極とドレイン電極とを一度に形成してドレインコンタクトホール構造を省略することにより、開口率及び透過率を最大化することができる。
また、本発明によるFFS方式液晶表示装置用アレイ基板及びその製造方法によれば、ソース電極を含むデータ配線と画素電極とを同時に形成することができるので、それだけマスク数が低減され、ソース電極と画素電極との自己整合によりオーバーレイマージンがなくなるので、偶数/奇数不良が生じない。
さらに、本発明によるFFS方式液晶表示装置用アレイ基板及びその製造方法によれば、平坦化膜が絶縁基板全面に形成されているのではなく、データ配線の上部にのみ存在するので、それだけ開口部の透過率が増加する。
以上、本発明の好ましい実施の形態について詳細に説明したが、当該技術分野における通常の知識を有する者であればこれから様々な変形及び均等な実施の形態が可能であることを理解するであろう。
よって、本発明の権利範囲はこれに限定されるものではなく、特許請求の範囲で定義される本発明の基本概念を用いた当業者の様々な変形や改良形態も本発明に含まれる。
101 絶縁基板
103 ゲート電極
103a ゲートパッド
103b データパッド
105 ゲート絶縁膜
107a 非晶質シリコン層パターン
109a オーミックコンタクト層パターン
110 アクティブ層
113a 画素電極
117a 平坦化膜パターン
123 データ配線
123a ソース電極
125 パッシベーション膜
127a ゲートパッドコンタクトホール
127b データパッドコンタクトホール
129 共通電極
129a ゲートパッド接続パターン
129b データパッド接続パターン

Claims (3)

  1. 絶縁基板の一面に一方向にゲート配線、ゲートパッド及びデータパッドを形成する段階と、
    前記ゲート配線から延びたゲート電極の上部にアクティブ層を形成する段階と、
    前記ゲート配線と交差して画素領域を定義し、前記アクティブ層の上部一側に配置されるソース電極を含むデータ配線を形成する段階と、
    前記ソース電極から離隔した前記アクティブ層の上部他側と前記絶縁基板の画素領域にわたって大面積の画素電極であって、透明導電物質層の単一層構造を有する画素電極を形成する段階と、
    前記データ配線及び前記ソース電極の上部に平坦化膜を形成する段階と、
    前記平坦化膜を含む絶縁基板全面にパッシベーション膜を形成する段階と、
    前記パッシベーション膜に前記ゲートパッドを露出するゲートパッドコンタクトホール及び前記データパッドを露出するデータパッドコンタクトホールを形成する段階と、
    前記パッシベーション膜の上部に前記画素電極及び前記データ配線と重なる共通電極を形成する段階と
    を含み、
    前記平坦化膜は、前記データ配線及び前記ソース電極の上部にのみに、前記データ配線又は前記ソース電極に接して形成されていて、
    前記ゲート電極、前記アクティブ層、前記ソース電極及びドレイン電極としての前記画素電極の一部分を含む薄膜トランジスタを形成し、
    前記ゲート配線と交差して前記アクティブ層の上部一側に配置されるソース電極を含むデータ配線を形成する段階と、前記ソース電極から離隔した前記アクティブ層の上部他側と前記絶縁基板の画素領域にわたって大面積の画素電極を形成する段階とは、同一のマスク工程で行われ、
    前記同一のマスク工程は、
    前記アクティブ層を含む前記絶縁基板全面に透明導電物質層及び金属導電層を順次蒸着し、
    前記金属導電層の上部に感光性を有する前記平坦化膜を形成し、
    前記平坦化膜を選択的に除去し、前記ソース電極を含むデータ配線形成領域に対応する平坦化膜パターン及び画素電極形成領域に対応するダミー平坦化膜パターンを形成し、
    前記平坦化膜パターン及び前記ダミー平坦化膜パターンをエッチングマスクとして前記金属導電層及び前記透明導電物質層を選択的にエッチングし、前記平坦化膜パターンの下部に前記ソース電極を含むデータ配線を形成し、
    前記ダミー平坦化膜パターン全体を除去することにより、その下部のダミー金属導電層パターンを露出し、
    露出した前記ダミー金属導電層パターンを除去し、前記絶縁基板の画素領域に大面積の前記画素電極を形成することを含むことを特徴とする液晶表示装置用アレイ基板の製造方法。
  2. 前記平坦化膜は、感光性を有する有機絶縁物質で形成されることを特徴とする請求項に記載の液晶表示装置用アレイ基板の製造方法。
  3. 前記ソース電極及び前記データ配線は、透明導電物質層パターンと金属導電層パターンの積層構造を有することを特徴とする請求項又はに記載の液晶表示装置用アレイ基板の製造方法。
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