JP5888190B2 - Manufacturing method of ink discharge head - Google Patents

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Description

本発明は、インク吐出ヘッドの製造方法に関する。   The present invention relates to a method for manufacturing an ink discharge head.

従来より、フォトリソグラフィ法によりインク吐出口の形成を行う場合において、下地からの反射光の影響がなく安定したパターン形状にインク吐出口を形成するために、シリコン基板上に反射防止膜を形成するインク吐出ヘッドの製造方法が、特許文献1に記載されている。この製造方法では、この反射防止膜の上にインク流路となる型材料を形成し、この型材料周面にインク吐出部材となる被覆感光性樹脂を塗布する。その後、シリコン基板面に対して垂直方向からこの被覆感光性樹脂に露光し、現像を行い、インク吐出口を形成する。   Conventionally, when an ink discharge port is formed by a photolithography method, an antireflection film is formed on a silicon substrate in order to form the ink discharge port in a stable pattern shape without being affected by reflected light from the base. A method for manufacturing an ink discharge head is described in Patent Document 1. In this manufacturing method, a mold material to be an ink flow path is formed on the antireflection film, and a coated photosensitive resin to be an ink discharge member is applied to the peripheral surface of the mold material. Thereafter, the coated photosensitive resin is exposed from a direction perpendicular to the silicon substrate surface, and development is performed to form ink discharge ports.

特開2009−178906号公報JP 2009-178906 A

しかしながら、従来、露光時に、被覆感光性樹脂と型材料との界面となる流路壁の側面から反射した光がインク吐出口を形成する位置に当たると、インク吐出口が適切な形状に形成できず、インク吐出口が設計通りに形成できない問題があった。   However, conventionally, at the time of exposure, when light reflected from the side surface of the flow path wall that is an interface between the coated photosensitive resin and the mold material hits a position where the ink discharge port is formed, the ink discharge port cannot be formed in an appropriate shape. There is a problem that the ink discharge port cannot be formed as designed.

本発明は、上述した問題を解決するためになされたものであり、その目的は、インク吐出口を設計通りに形成できるインク吐出ヘッドの製造方法を提供することにある。   SUMMARY An advantage of some aspects of the invention is to provide an ink discharge head manufacturing method capable of forming ink discharge ports as designed.

この目的を達成するために、請求項1記載のインク吐出ヘッドの製造方法は、基板に設けられ、インクを吐出させる熱エネルギーを発生する複数のヒータと、複数のヒータ上に設けられたインク流路と、インク流路に連通する複数のインク吐出口とを有するインク吐出ヘッドの製造方法において、前記インク流路の側面を構成する流路壁を形成する工程と、前記インク流路の底面及び前記流路壁に反射防止膜を形成する工程と、前記インク流路の中に犠牲層樹脂を充填する工程と、前記インク流路の上部に、被覆感光性樹脂からなるカバー部を形成する工程と、前記基板に垂直な方向から前記カバー部を露光し、インク吐出口を形成する工程と、前記犠牲層樹脂を除去する工程とを含む。   In order to achieve this object, a method of manufacturing an ink discharge head according to claim 1 includes a plurality of heaters that are provided on a substrate and generate thermal energy for discharging ink, and an ink flow provided on the plurality of heaters. In a method of manufacturing an ink discharge head having a path and a plurality of ink discharge ports communicating with the ink flow path, a step of forming a flow path wall constituting a side surface of the ink flow path, a bottom surface of the ink flow path, A step of forming an antireflection film on the flow channel wall, a step of filling a sacrificial layer resin in the ink flow channel, and a step of forming a cover portion made of a coated photosensitive resin on the ink flow channel. And exposing the cover from a direction perpendicular to the substrate to form an ink discharge port, and removing the sacrificial layer resin.

請求項1記載のインク吐出ヘッドの製造方法によれば、インク流路の底面及び流路壁に反射防止膜を形成するため、露光時に流路壁の側面から反射した光がインク吐出口を形成する位置に当たることがない。したがって、露光時に流路壁の側面から反射した光による影響を受けることなく、インク吐出口を設計通りに形成できる。   According to the method for manufacturing an ink discharge head according to claim 1, since the antireflection film is formed on the bottom surface and the flow path wall of the ink flow path, the light reflected from the side surface of the flow path wall at the time of exposure forms the ink discharge port. There is no position to hit. Therefore, the ink discharge port can be formed as designed without being affected by light reflected from the side surface of the flow path wall during exposure.

また、請求項2記載のインク吐出ヘッドの製造方法は、前記基板に平行な方向に前記犠牲層樹脂及び前記反射防止膜の上部を切削して、その切削面を平坦化する工程を含む。   According to a second aspect of the present invention, there is provided a method for manufacturing an ink ejection head, comprising: cutting the sacrificial layer resin and the upper part of the antireflection film in a direction parallel to the substrate, and flattening the cut surface.

請求項2記載のインク吐出ヘッドの製造方法によれば、基板に平行な方向に犠牲層樹脂及び反射防止膜の上部を切削して、その切削面を平坦化するため、平坦な犠牲層樹脂及び反射防止膜の上に、基板に平行なカバー部を形成しやすくなる。   According to the method for manufacturing an ink ejection head according to claim 2, in order to cut the upper part of the sacrificial layer resin and the antireflection film in a direction parallel to the substrate and flatten the cut surface, a flat sacrificial layer resin and It becomes easy to form a cover portion parallel to the substrate on the antireflection film.

また、請求項3記載のインク吐出ヘッドの製造方法において、前記反射防止膜を形成する工程は、前記反射防止膜を30nmから100nmまでの範囲内の膜厚で形成する。   4. The method of manufacturing an ink ejection head according to claim 3, wherein in the step of forming the antireflection film, the antireflection film is formed with a film thickness within a range from 30 nm to 100 nm.

請求項3記載のインク吐出ヘッドの製造方法によれば、反射防止膜を30nmから100nmまでの範囲内の膜厚で形成するため、反射防止膜を30nmから100nmまでの範囲外の膜厚で形成した場合と比較して、露光時に反射防止膜からはね返る光の量を少なくできる。したがって、露光時に反射防止膜からはね返る光がインク吐出口を形成する位置に影響することを低減でき、設計通りの形状に一層正確に形成できる。   According to the method for manufacturing an ink ejection head according to claim 3, since the antireflection film is formed with a film thickness within a range from 30 nm to 100 nm, the antireflection film is formed with a film thickness outside the range from 30 nm to 100 nm. Compared to the case where the light is reflected, the amount of light rebounding from the antireflection film at the time of exposure can be reduced. Therefore, it is possible to reduce the influence of the light that rebounds from the antireflection film at the time of exposure on the position where the ink discharge port is formed, and it is possible to more accurately form the shape as designed.

また、請求項4記載のインク吐出ヘッドの製造方法において、前記反射防止膜を形成する工程は、前記反射防止膜をスパッタ法により形成する。   5. The method of manufacturing an ink ejection head according to claim 4, wherein in the step of forming the antireflection film, the antireflection film is formed by a sputtering method.

請求項4記載のインク吐出ヘッドの製造方法によれば、反射防止膜をスパッタ法により形成するため、反射防止膜を均一に薄く、低温で早く、かつ、低コストで形成することができる。   According to the method for manufacturing the ink discharge head of the fourth aspect, since the antireflection film is formed by the sputtering method, the antireflection film can be formed uniformly thin, quickly at low temperature and at low cost.

また、請求項5記載のインク吐出ヘッドの製造方法は、反射防止膜を除去する工程を含む。   According to a fifth aspect of the present invention, there is provided an ink discharge head manufacturing method including the step of removing the antireflection film.

請求項5記載のインク吐出ヘッドの製造方法によれば、反射防止膜を除去するため、除去されずに残った反射防止膜が流路壁から剥がれてインク吐出口に詰まることを防止できる。   According to the ink ejection head manufacturing method of the fifth aspect, since the antireflection film is removed, it is possible to prevent the remaining antireflection film from being removed from the flow path wall and clogging the ink ejection port.

本発明によれば、露光時に流路壁の側面から反射した光による影響を受けることがないので、インク吐出口を設計通りの形状に形成できる。   According to the present invention, since the ink is not affected by light reflected from the side surface of the flow path wall during exposure, the ink discharge port can be formed in a designed shape.

本発明の実施形態にかかるインク吐出ヘッドの一例を示す模式的斜視図である。FIG. 2 is a schematic perspective view illustrating an example of an ink discharge head according to an embodiment of the present invention. 図1に示すA−A線に従うインク吐出ヘッドの模式的断面図である。FIG. 2 is a schematic cross-sectional view of an ink discharge head according to the line AA shown in FIG. 1. 本実施形態にかかるインク吐出ヘッドのヒータ形成工程S1を示す模式的断面図である。It is a typical sectional view showing heater formation process S1 of the ink discharge head concerning this embodiment. 本実施形態にかかるインク吐出ヘッドの流路壁形成工程S2を示す模式的断面図である。It is a typical sectional view showing channel wall formation process S2 of the ink discharge head concerning this embodiment. 本実施形態にかかるインク吐出ヘッドの反射防止膜形成工程S3を示す模式的断面図である。It is a typical sectional view showing antireflection film formation process S3 of the ink discharge head concerning this embodiment. 本実施形態にかかるインク吐出ヘッドの犠牲層樹脂の充填工程S4を示す模式的断面図である。It is typical sectional drawing which shows filling process S4 of sacrificial layer resin of the ink discharge head concerning this embodiment. 本実施形態にかかるインク吐出ヘッドの平坦化工程S5を示す模式的断面図である。It is a typical sectional view showing flattening process S5 of the ink discharge head concerning this embodiment. 本実施形態にかかるインク吐出ヘッドのカバー部形成工程S6を示す模式的断面図である。It is a typical sectional view showing cover part formation process S6 of the ink discharge head concerning this embodiment. 本実施形態にかかるインク吐出ヘッドの紫外線照射工程S7を示す模式的断面図である。It is a typical sectional view showing ultraviolet irradiation process S7 of the ink discharge head concerning this embodiment. 本実施形態にかかるインク吐出ヘッドのノズル孔形成工程S8を示す模式的断面図である。It is a typical sectional view showing nozzle hole formation process S8 of the ink discharge head concerning this embodiment. 本実施形態にかかるインク吐出ヘッドのインク供給口形成工程S9を示す模式的断面図である。It is a typical sectional view showing ink supply port formation process S9 of the ink discharge head concerning this embodiment. 本実施形態にかかるインク吐出ヘッドの犠牲層除去工程S10を示す模式的断面図である。It is a typical sectional view showing sacrificial layer removal process S10 of the ink discharge head concerning this embodiment. 図9に示した紫外線照射工程S7の詳細を示す模式的断面図である。It is typical sectional drawing which shows the detail of ultraviolet irradiation process S7 shown in FIG. 図13に示した紫外線照射工程S7後のインク吐出ヘッドを示す模式的断面図である。FIG. 14 is a schematic cross-sectional view showing the ink discharge head after the ultraviolet irradiation step S7 shown in FIG. 従来の紫外線照射工程を示す模式的断面図である。It is typical sectional drawing which shows the conventional ultraviolet irradiation process. 図15に示した従来の紫外線照射工程後のインク吐出ヘッドを示す模式的断面図である。FIG. 16 is a schematic cross-sectional view showing the ink discharge head after the conventional ultraviolet irradiation process shown in FIG. 15.

以下に添付図面を参照して、この発明にかかるインク吐出ヘッドの製造方法の好適な実施の形態を詳細に説明する。   Exemplary embodiments of an ink discharge head manufacturing method according to the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings.

(実施形態)
(インク吐出ヘッドの構成)
図1を用いて、本発明の実施形態にかかるインク吐出ヘッドの構成について説明する。図1は、本発明の実施形態にかかるインク吐出ヘッドの一例を示す模式的斜視図である。図1において、インク吐出ヘッド100は、カバー部207に整列した複数のノズル孔110を有する。ノズル孔110のそれぞれは、図2で後述する個別に設けられたインク流路CHにそれぞれ連通する。図2は、図1に示すA−A線に従うインク吐出ヘッドの模式的断面図である。図2に示すインク吐出ヘッドは、インク吐出ヘッドの製造工程を終えた完成状態である。A−A断面は、図示上側鉛直方向からの断面で、複数のノズル孔110のうち、2つのノズル孔110を切断する断面の一例を示す。
(Embodiment)
(Configuration of ink ejection head)
The configuration of the ink ejection head according to the embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 1 is a schematic perspective view showing an example of an ink discharge head according to an embodiment of the present invention. In FIG. 1, the ink ejection head 100 has a plurality of nozzle holes 110 aligned with a cover portion 207. Each of the nozzle holes 110 communicates with an individually provided ink channel CH described later in FIG. FIG. 2 is a schematic cross-sectional view of the ink ejection head taken along line AA shown in FIG. The ink discharge head shown in FIG. 2 is in a completed state after the manufacturing process of the ink discharge head has been completed. The AA cross section is a cross section from the upper vertical direction in the figure, and shows an example of a cross section that cuts two nozzle holes 110 among the plurality of nozzle holes 110.

インク流路CHは、図2に詳述する基板201上に形成された複数の層の上に形成された流路壁203及びカバー部207などによって区画形成される。インク流路CH内には、インクを吐出するための熱エネルギーを発生する発熱抵抗体202(図2参照)がそれぞれ設けられる。インク吐出ヘッド100の下面からインク流路CHへとつながるインク供給口120によって、インク供給口120にインクを供給する図示しないインクタンクからインク流路CHへとインクが供給される。インク流路CHに供給されたインクは、発熱抵抗体202の加熱によりその一部が気泡となる。この気泡によって押し出されたインク流路CH内のインクは、ノズル孔110から吐出する。   The ink channel CH is defined by a channel wall 203 and a cover portion 207 formed on a plurality of layers formed on the substrate 201 described in detail in FIG. A heating resistor 202 (see FIG. 2) that generates thermal energy for ejecting ink is provided in each ink channel CH. Ink is supplied from an ink tank (not shown) that supplies ink to the ink supply port 120 from the lower surface of the ink ejection head 100 to the ink flow channel CH to the ink flow channel CH. A part of the ink supplied to the ink flow channel CH becomes bubbles due to the heating of the heating resistor 202. The ink in the ink channel CH pushed out by the bubbles is ejected from the nozzle hole 110.

(インク吐出ヘッドの製造方法)
図2から図16を用いて、本実施形態にかかるインク吐出ヘッドの製造方法について説明する。図2から図12は、本実施形態にかかるインク吐出ヘッドの製造方法について各工程の一例を示す模式的断面図である。図13は、図9に示した紫外線照射工程S7の詳細を示す模式的断面図である。図14は、図13に示した紫外線照射工程S7後のインク吐出ヘッドを示す模式的断面図である。図15は、従来の紫外線照射工程を示す模式的断面図である。図16は、図15に示した従来の紫外線照射工程後のインク吐出ヘッドを示す模式的断面図である。
(Ink discharge head manufacturing method)
A method of manufacturing the ink ejection head according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. 2 to 12 are schematic cross-sectional views illustrating an example of each process in the method for manufacturing the ink ejection head according to the present embodiment. FIG. 13 is a schematic cross-sectional view showing details of the ultraviolet irradiation step S7 shown in FIG. FIG. 14 is a schematic cross-sectional view showing the ink discharge head after the ultraviolet irradiation step S7 shown in FIG. FIG. 15 is a schematic cross-sectional view showing a conventional ultraviolet irradiation process. FIG. 16 is a schematic cross-sectional view showing the ink discharge head after the conventional ultraviolet irradiation step shown in FIG.

図3は、本実施形態にかかるインク吐出ヘッドのヒータ形成工程S1を示す模式的断面図である。ヒータ形成工程S1では、周知の形成方法によりヒータが形成される。シリコン製の基板201上に、蓄熱層302が10000Å程度の膜厚で形成され、形成された蓄熱層302の上に発熱抵抗体202と電極層303とが形成される。基板201の下面には、SiO2またはSiNなどの酸化物絶縁膜301が1000Åから10000Å程度の膜厚で形成される。発熱抵抗体202は、たとえば、TaNまたはTaAlなどを、200Åから1000Åまでの範囲内の厚みになるように、スパッタリング法によって発熱抵抗体202の形成位置に製膜することで形成される。   FIG. 3 is a schematic cross-sectional view showing the heater forming step S1 of the ink ejection head according to the present embodiment. In the heater forming step S1, a heater is formed by a known forming method. A heat storage layer 302 is formed with a film thickness of about 10,000 mm on a silicon substrate 201, and a heating resistor 202 and an electrode layer 303 are formed on the formed heat storage layer 302. An oxide insulating film 301 such as SiO 2 or SiN is formed on the lower surface of the substrate 201 with a film thickness of about 1000 to 10,000 mm. The heating resistor 202 is formed, for example, by forming a film of TaN or TaAl or the like at a position where the heating resistor 202 is formed by a sputtering method so as to have a thickness within a range of 200 to 1000 mm.

電極層303は、AlまたはAl合金を含み構成され、たとえば、500nm程度の厚さとなるように発熱抵抗体202上に形成される。周知の構成である電極パッド304が、電極層303に連結されて形成される。ドライバIC部306が、電極305に連結した状態で基板201内に埋設される。また、電極層303の上には、電極層303をインクから保護するための保護膜307が形成される。保護膜307の上には、インクを吐出する位置に、キャビテーションダメージから保護するための耐キャビテーション膜308が形成される。図示しない制御部から電気信号が、電極パッド304を介して、ドライバIC部306に伝わり、ドライバICが駆動する。図示しない電源部から、電圧が電極層303を介して発熱抵抗体202に印加される。ドライバIC部306を駆動することにより、インク吐出口110下の発熱抵抗体202に電流が流れて発熱し、インクが発砲することによりインク流路CHからインクの吐出が行われる。本実施形態における発熱抵抗体202及び電極層303は、本発明におけるヒータの一例に相当する。   The electrode layer 303 includes Al or an Al alloy, and is formed on the heating resistor 202 so as to have a thickness of about 500 nm, for example. An electrode pad 304 having a known configuration is formed connected to the electrode layer 303. A driver IC unit 306 is embedded in the substrate 201 in a state of being connected to the electrode 305. A protective film 307 for protecting the electrode layer 303 from ink is formed on the electrode layer 303. On the protective film 307, an anti-cavitation film 308 for protecting from cavitation damage is formed at a position where ink is ejected. An electrical signal is transmitted from the control unit (not shown) to the driver IC unit 306 via the electrode pad 304, and the driver IC is driven. A voltage is applied to the heating resistor 202 via the electrode layer 303 from a power supply unit (not shown). By driving the driver IC unit 306, a current flows through the heating resistor 202 below the ink ejection port 110 to generate heat, and ink is ejected from the ink flow channel CH by firing. The heating resistor 202 and the electrode layer 303 in the present embodiment correspond to an example of a heater in the present invention.

図4は、本実施形態にかかるインク吐出ヘッドの流路壁形成工程S2を示す模式的断面図である。流路壁形成工程S2では、保護膜307の上に、耐キャビテーション膜308が形成された位置を囲うように流路壁203を形成する。流路壁203は、保護膜307上に塗布された密着層205の上面に形成される。密着層205は、シランカップリング材を混合した感光性エポキシ樹脂を含み構成される。流路壁203は、たとえば、感光性ポリイミドとエポキシ樹脂とを含み構成される。流路壁形成工程S2では、フォトリソグラフィー法などによって流路壁203を形成する。   FIG. 4 is a schematic cross-sectional view showing the flow path wall forming step S2 of the ink ejection head according to the present embodiment. In the flow path wall forming step S2, the flow path wall 203 is formed on the protective film 307 so as to surround the position where the anti-cavitation film 308 is formed. The channel wall 203 is formed on the upper surface of the adhesion layer 205 applied on the protective film 307. The adhesion layer 205 includes a photosensitive epoxy resin mixed with a silane coupling material. The flow path wall 203 includes, for example, photosensitive polyimide and an epoxy resin. In the channel wall forming step S2, the channel wall 203 is formed by a photolithography method or the like.

図5は、本実施形態にかかるインク吐出ヘッドの反射防止膜形成工程S3を示す模式的断面図である。反射防止膜形成工程S3では、保護膜307の上面部、耐キャビテーション膜308の上面部、流路壁203の周囲を覆うように反射防止膜206を形成する。反射防止膜206は、酸化クロムを材料として形成される。また、反射防止膜206をスパッタ法により30nmから100nmまでの範囲内の膜厚で形成する。スパッタ法を用いることで、蒸着及びスピンコート法で反射防止膜206を形成するよりも、反射防止膜206を均一に薄く、低温で早く、かつ、低コストで形成することができる。また、反射防止膜206の膜厚を30nmから100nmまでの範囲内で形成することで、後述する紫外線照射工程S7において反射防止膜206からはね返る光の量を小さくすることができる。したがって、露光時に反射防止膜からはね返る光がインク吐出口を形成する位置に影響することを低減でき、設計通りの形状に一層正確に形成できる。   FIG. 5 is a schematic cross-sectional view showing the antireflection film forming step S3 of the ink ejection head according to the present embodiment. In the antireflection film forming step S3, the antireflection film 206 is formed so as to cover the upper surface portion of the protective film 307, the upper surface portion of the anti-cavitation film 308, and the periphery of the flow path wall 203. The antireflection film 206 is formed using chromium oxide as a material. Further, the antireflection film 206 is formed with a film thickness in the range from 30 nm to 100 nm by sputtering. By using the sputtering method, it is possible to form the antireflection film 206 uniformly and thinly, quickly at low temperature and at low cost, rather than forming the antireflection film 206 by vapor deposition and spin coating. Further, by forming the film thickness of the antireflection film 206 within a range from 30 nm to 100 nm, it is possible to reduce the amount of light rebounding from the antireflection film 206 in the ultraviolet irradiation step S7 described later. Therefore, it is possible to reduce the influence of the light that rebounds from the antireflection film at the time of exposure on the position where the ink discharge port is formed, and it is possible to more accurately form the shape as designed.

図6は、本実施形態にかかるインク吐出ヘッドの犠牲層樹脂の充填工程S4を示す模式的断面図である。犠牲層樹脂204の充填工程S4では、反射防止膜206、保護膜307、及び、電極パッド304の上に犠牲層樹脂204を充填する。犠牲層樹脂204は、アルカリ性の溶解液またはアセトンなどを含む溶解液に可溶な樹脂である。例えば、半硬化ポリイミド(例えば東レ株式会社の商品名セミコファイン)、ポリメチルイソプロペニルケトンを含む電離放射型のポジ型レジスト(例えば株式会社東京応化工業の商品名ODUR−1010)、メタクリル酸エステルとメタクリル酸との共重合を含む電離放射分解型のポジ型レジスト(例えばPMMA系共重合体)、または、旭有機材工業(株)製のEP4080G、EP4050Gなどのノボラック樹脂などが用いられる。   FIG. 6 is a schematic cross-sectional view showing a sacrificial layer resin filling step S4 of the ink ejection head according to the present embodiment. In the filling step S <b> 4 of the sacrificial layer resin 204, the sacrificial layer resin 204 is filled on the antireflection film 206, the protective film 307, and the electrode pad 304. The sacrificial layer resin 204 is a resin that is soluble in an alkaline solution or a solution containing acetone. For example, semi-cured polyimide (for example, trade name Semicofine of Toray Industries, Inc.), ionizing radiation type positive resist containing polymethylisopropenyl ketone (for example, trade name ODUR-1010 of Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd.), methacrylate ester An ionizing radiation decomposition type positive resist including copolymerization with methacrylic acid (for example, PMMA copolymer), or novolak resins such as EP4080G and EP4050G manufactured by Asahi Organic Materials Co., Ltd. are used.

図7は、本実施形態にかかるインク吐出ヘッドの平坦化工程S5を示す模式的断面図である。平坦化工程S5では、研磨または切削による機械加工などによって、流路壁203、犠牲層樹脂204、及び、反射防止膜206の3つの加工面が同一の平坦面Kとなるように、流路壁203のインク吐出口が形成される側の端面が露出するまで除去する。   FIG. 7 is a schematic cross-sectional view showing the flattening step S5 of the ink ejection head according to the present embodiment. In the flattening step S5, the flow path wall is formed such that the three processed surfaces of the flow path wall 203, the sacrificial layer resin 204, and the antireflection film 206 become the same flat surface K by mechanical processing such as polishing or cutting. It is removed until the end surface on the side on which the ink discharge port 203 is formed is exposed.

図8は、本実施形態にかかるインク吐出ヘッドのカバー部形成工程S6を示す模式的断面図である。カバー部形成工程S6では、平坦面K上に樹脂を塗布した後に乾燥させて15000nm程度の厚さのカバー部207を形成する。カバー部207は、たとえば、紫外線硬化性イミド、紫外線硬化性シリコン樹脂、または紫外線硬化性エポキシ等の紫外線硬化性樹脂などで、流路壁203及び犠牲層樹脂204上にスピンコート法などによって塗布される。   FIG. 8 is a schematic cross-sectional view showing the cover portion forming step S6 of the ink ejection head according to the present embodiment. In the cover portion forming step S6, the cover portion 207 having a thickness of about 15000 nm is formed by applying a resin on the flat surface K and then drying it. The cover portion 207 is made of, for example, an ultraviolet curable resin such as an ultraviolet curable imide, an ultraviolet curable silicone resin, or an ultraviolet curable epoxy, and is applied to the flow path wall 203 and the sacrificial layer resin 204 by a spin coating method or the like. The

図9は、本実施形態にかかるインク吐出ヘッドの紫外線照射工程S7を示す模式的断面図である。紫外線照射工程S7では、まず、カバー部207の上方に、フォトマスク208を配置する。フォトマスク208は、紫外線209を透過しない複数のマスク部208aを有する。フォトマスク208の配置に際して、カバー部207の中でノズル孔部207aが形成される領域と、電極パッド304が配置される領域であって流路壁203より外側の領域とに、複数のマスク部208aが位置するように、フォトマスク208を配置する。そして、フォトマスク208を通して、紫外線209をカバー部207に向けて露光を行う。露光では、フォトマスク208に対向する位置から紫外線209(図13参照)をカバー部207に照射して、カバー部207を硬化させる。   FIG. 9 is a schematic cross-sectional view showing the ultraviolet irradiation step S7 of the ink ejection head according to the present embodiment. In the ultraviolet irradiation step S <b> 7, first, a photomask 208 is disposed above the cover portion 207. The photomask 208 has a plurality of mask portions 208 a that do not transmit the ultraviolet rays 209. When the photomask 208 is disposed, a plurality of mask portions are provided in a region where the nozzle hole portion 207a is formed in the cover portion 207 and a region where the electrode pad 304 is disposed and outside the flow path wall 203. The photomask 208 is arranged so that 208a is located. Then, exposure is performed with the ultraviolet rays 209 directed toward the cover portion 207 through the photomask 208. In the exposure, the cover 207 is cured by irradiating the cover 207 with ultraviolet rays 209 (see FIG. 13) from a position facing the photomask 208.

具体的には、図13に示すように、紫外線照射工程S7によって照射される紫外線209は、マスク部208a以外のフォトマスク208を透過し、カバー部207を硬化させる。照射される紫外線209のうち、犠牲層樹脂204を透過する紫外線209の透過光401は、耐キャビテーション膜308上、及び、流路壁203の側面203bの反射防止膜206によって吸収される。したがって、耐キャビテーション膜308、及び流路壁203の側面203bなどによって透過光401が乱反射されることはない。特に透過光401が乱反射されやすい流路壁203の上面203aと側面203bとが交わる角部には、反射防止膜206が形成されているため、透過光401が乱反射されることはない。また、流路壁203の上面203aは平坦化されているため、透過光401が乱反射されることはない。保護膜307によって乱反射された反射光402は、反射防止膜206の内側に反射光402が吸収されるため、ノズル孔部207aに照射されることはない。つまり、透過光401及び反射光402がノズル孔部207aに照射されることがない。したがって、図14に示すように、ノズル孔110を、所望の形状に形成することができる。ノズル孔110は、真円に近いことが望ましい。本実施形態では、ノズル孔110が真円に近く、テーパ状に形成されることで設計通りの形状となる。テーパ状に形成される理由の1つは、紫外線209がカバー部207を透過していく深さに応じて、紫外線209が減衰し、透過する紫外線209がカバー部207と犠牲層樹脂204とが接する面に近づくにつれて、紫外線209の照射量が少なくなるためである。紫外線209の照射量が少ないほど、紫外線硬化性樹脂が硬化せずに溶解できる割合が多くなる。   Specifically, as shown in FIG. 13, the ultraviolet rays 209 irradiated in the ultraviolet irradiation step S7 are transmitted through the photomask 208 other than the mask portion 208a, and the cover portion 207 is cured. Of the irradiated ultraviolet ray 209, the transmitted light 401 of the ultraviolet ray 209 that passes through the sacrificial layer resin 204 is absorbed on the anti-cavitation film 308 and the antireflection film 206 on the side surface 203 b of the flow path wall 203. Therefore, the transmitted light 401 is not irregularly reflected by the anti-cavitation film 308, the side surface 203b of the flow path wall 203, and the like. In particular, since the antireflection film 206 is formed at the corner portion where the upper surface 203a and the side surface 203b of the flow path wall 203 where the transmitted light 401 is likely to be irregularly reflected, the transmitted light 401 is not irregularly reflected. Further, since the upper surface 203a of the flow path wall 203 is flattened, the transmitted light 401 is not irregularly reflected. The reflected light 402 diffusely reflected by the protective film 307 is not irradiated to the nozzle hole portion 207 a because the reflected light 402 is absorbed inside the antireflection film 206. That is, the transmitted light 401 and the reflected light 402 are not irradiated to the nozzle hole portion 207a. Therefore, as shown in FIG. 14, the nozzle hole 110 can be formed in a desired shape. The nozzle hole 110 is preferably close to a perfect circle. In the present embodiment, the nozzle hole 110 has a shape as designed by being formed in a tapered shape close to a perfect circle. One of the reasons for forming the taper shape is that the ultraviolet ray 209 attenuates in accordance with the depth that the ultraviolet ray 209 passes through the cover portion 207, and the transmitted ultraviolet ray 209 causes the cover portion 207 and the sacrificial layer resin 204 to be separated. This is because the irradiation amount of the ultraviolet ray 209 decreases as the surface comes into contact. The smaller the irradiation amount of the ultraviolet ray 209, the higher the proportion of the ultraviolet curable resin that can be dissolved without being cured.

また、従来のように紫外線反射による影響は、図15に示すように、照射される紫外線209のうち、犠牲層樹脂204を透過した後に、流路壁203の上面203aの角部及び側面203bにより乱反射してノズル孔部207aへ向かう紫外線209の反射光402が、ノズル孔部207aの斜線で示す部分(図15)に照射されてしまう。そのため照射されたノズル孔部207aの紫外線硬化性樹脂が硬化し、図16に示すようにノズル孔110に凸凹207bが形成され、ノズル孔110がいびつな形状となり所望の形状とはならず、ノズル孔110を設計通りの形状に形成することができないことがあった。ノズル孔110が設計通り形成されないと、吐出されるインクの量が減ってしまう問題、及び、吐出されたインクが想定した着弾位置から外れて着弾してしまう問題が発生する。   Further, as shown in FIG. 15, the influence of ultraviolet reflection as in the prior art is due to the corners and side surfaces 203b of the upper surface 203a of the flow path wall 203 after passing through the sacrificial layer resin 204 in the irradiated ultraviolet rays 209. The reflected light 402 of the ultraviolet rays 209 that is irregularly reflected and travels toward the nozzle hole portion 207a is applied to the hatched portion (FIG. 15) of the nozzle hole portion 207a. Therefore, the ultraviolet curable resin in the irradiated nozzle hole portion 207a is cured, and as shown in FIG. 16, the unevenness 207b is formed in the nozzle hole 110, and the nozzle hole 110 becomes an irregular shape and does not have a desired shape. In some cases, the hole 110 could not be formed in the shape as designed. If the nozzle hole 110 is not formed as designed, there will be a problem that the amount of ejected ink is reduced and a problem that the ejected ink is landed out of the assumed landing position.

図10は、本実施形態にかかるインク吐出ヘッドのノズル孔形成工程S8を示す模式的断面図である。ノズル孔形成工程S8では、ノズル孔部207aを除去して、カバー部207にノズル孔110を形成する。具体的には、たとえば、ノズル孔形成工程S8は、ノズル孔部207a以外の位置が硬化したカバー部207をキシレンなどの現像液に浸して、硬化していないノズル孔部207aを除去する。換言すれば、ノズル孔形成工程S8は、現像液に対して不溶である紫外線熱硬化性樹脂であるカバー部207のうち硬化した部位と、犠牲層樹脂204とを残して、現像液に可溶であり硬化していない部位であるノズル孔部207aを除去する工程である。   FIG. 10 is a schematic cross-sectional view showing the nozzle hole forming step S8 of the ink ejection head according to the present embodiment. In the nozzle hole forming step S <b> 8, the nozzle hole portion 207 a is removed and the nozzle hole 110 is formed in the cover portion 207. Specifically, for example, in the nozzle hole forming step S8, the cover part 207 having a cured position other than the nozzle hole part 207a is immersed in a developer such as xylene to remove the uncured nozzle hole part 207a. In other words, the nozzle hole forming step S8 is soluble in the developer, leaving the cured portion of the cover portion 207, which is an ultraviolet thermosetting resin insoluble in the developer, and the sacrificial layer resin 204. This is a step of removing the nozzle hole portion 207a, which is an uncured portion.

図11は、本実施形態にかかるインク吐出ヘッドのインク供給口形成工程S9を示す模式的断面図である。インク供給口形成工程S9では、ウェットエッチングによって基板201の一部を除去することで、基板201の下側から犠牲層204側へ向けてインク供給口120を形成する。本実施形態では、たとえば、ウェットエッチングは、水酸化カリウム(KOH)水溶液、または、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド(TMAH)水溶液を用いて行われる。具体的には、たとえば、基板201の下側の酸化物絶縁膜301上をフォトレジストで埋め、その後にフォトリソグラフィー法によりインク供給口120に相当する位置のフォトレジストを除去する。次にインク供給口120に相当する酸化物絶縁膜301をウェットエッチングする。その後、剥離液などによってフォトレジストを除去した後、インク供給口120に相当する位置以外に残存した酸化物絶縁膜301をエッチングマスクとして機能させることで、基板201を溶解除去する。   FIG. 11 is a schematic cross-sectional view showing the ink supply port forming step S9 of the ink ejection head according to the present embodiment. In the ink supply port forming step S9, the ink supply port 120 is formed from the lower side of the substrate 201 toward the sacrificial layer 204 side by removing a part of the substrate 201 by wet etching. In this embodiment, for example, wet etching is performed using a potassium hydroxide (KOH) aqueous solution or a tetramethylammonium hydroxide (TMAH) aqueous solution. Specifically, for example, the oxide insulating film 301 on the lower side of the substrate 201 is filled with a photoresist, and then the photoresist corresponding to the ink supply port 120 is removed by a photolithography method. Next, the oxide insulating film 301 corresponding to the ink supply port 120 is wet-etched. Then, after removing the photoresist with a stripping solution or the like, the substrate 201 is dissolved and removed by using the remaining oxide insulating film 301 other than the position corresponding to the ink supply port 120 as an etching mask.

図12は、本実施形態にかかるインク吐出ヘッドの犠牲層除去工程S10を示す模式的断面図である。犠牲層除去工程S10では、犠牲層樹脂204を可溶とし、基板201、流路壁203、反射防止膜206及びカバー部207を不溶とする溶媒を用いて犠牲層樹脂204を除去する。具体的には、たとえば、犠牲層樹脂204の除去は、基板201、流路壁203、反射防止膜206及びカバー部207を不溶とする犠牲層溶解溶液(PGMEA:プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートなど)に浸すことで行われる。   FIG. 12 is a schematic cross-sectional view showing the sacrificial layer removal step S10 of the ink ejection head according to the present embodiment. In the sacrificial layer removal step S <b> 10, the sacrificial layer resin 204 is removed using a solvent that makes the sacrificial layer resin 204 soluble and makes the substrate 201, the flow path wall 203, the antireflection film 206, and the cover portion 207 insoluble. Specifically, for example, the removal of the sacrificial layer resin 204 is performed with a sacrificial layer solution (PGMEA: propylene glycol monomethyl ether acetate or the like) that makes the substrate 201, the flow path wall 203, the antireflection film 206, and the cover portion 207 insoluble. It is done by soaking.

図2は、本実施形態にかかるインク吐出ヘッドの一例を示す模式的断面図であるが、インク吐出ヘッドの反射防止膜除去工程S11を示す模式的断面図でもある。反射防止膜除去工程S11では、反射防止膜206を除去する。具体的には、たとえば、反射防止膜206の除去は、ウェットエッチングにより行われる。   FIG. 2 is a schematic cross-sectional view showing an example of the ink discharge head according to the present embodiment, but is also a schematic cross-sectional view showing the antireflection film removing step S11 of the ink discharge head. In the antireflection film removing step S11, the antireflection film 206 is removed. Specifically, for example, the removal of the antireflection film 206 is performed by wet etching.

なお、本発明における各工程と、本実施形態の各工程とを関連付けて説明すると、図4に示した流路壁形成工程S2によって、本発明の流路壁を形成する工程の処理が実行される。図5に示した反射防止膜形成工程S3によって、本発明の反射防止膜を形成する工程の処理が実行される。図6に示した犠牲層樹脂の充填工程S4によって、本発明の犠牲層樹脂を充填する工程の処理が実行される。図7に示した平坦化工程S5によって、本発明の切削面を平坦化する工程の処理が実行される。図8に示したカバー部形成工程S6によって、本発明の被覆感光性樹脂からなるカバー部を形成する工程の処理が実行される。図9に示した紫外線照射工程S7及び図10に示したノズル孔形成工程S8によって、本発明のインク吐出口を形成する工程の処理が実行される。図12に示した犠牲層除去工程S10によって、本発明の犠牲層樹脂を除去する工程の処理が実行される。図2に示した反射防止膜除去工程S11によって、本発明の反射防止膜を除去する工程の処理が実行される。   In addition, if each process in this invention and each process of this embodiment are demonstrated and linked | related, the process of the process of forming the flow-path wall of this invention will be performed by flow-path wall formation process S2 shown in FIG. The By the antireflection film forming step S3 shown in FIG. 5, the process of the step of forming the antireflection film of the present invention is executed. The sacrificial layer resin filling step S4 shown in FIG. 6 performs the process of the sacrificial layer resin filling step of the present invention. By the flattening step S5 shown in FIG. 7, the process of the step of flattening the cutting surface of the present invention is executed. The process of the process of forming the cover part which consists of a covering photosensitive resin of this invention is performed by the cover part formation process S6 shown in FIG. The process of forming the ink discharge port of the present invention is executed by the ultraviolet irradiation step S7 shown in FIG. 9 and the nozzle hole forming step S8 shown in FIG. By the sacrificial layer removal step S10 shown in FIG. 12, the process of the step of removing the sacrificial layer resin of the present invention is performed. By the antireflection film removing step S11 shown in FIG. 2, the process of the step of removing the antireflection film of the present invention is performed.

以上説明したように、本実施形態によれば、保護膜307の上、耐キャビテーション膜308の上、流路壁203の上、及び、流路壁203の側面203bに紫外線を吸収する反射防止膜206を形成して、紫外線照射工程S7における紫外線209によりカバー部207におけるノズル孔部207aに紫外線209が照射されることを防ぐことができる。したがって、ノズル孔部207aは硬化されることなく除去できるため、ノズル孔110の形状の精度を保持することができる。   As described above, according to the present embodiment, the antireflection film that absorbs ultraviolet rays on the protective film 307, on the anti-cavitation film 308, on the flow path wall 203, and on the side surface 203b of the flow path wall 203. 206 can be formed to prevent the ultraviolet rays 209 from being applied to the nozzle holes 207a in the cover portion 207 by the ultraviolet rays 209 in the ultraviolet irradiation step S7. Therefore, since the nozzle hole portion 207a can be removed without being cured, the accuracy of the shape of the nozzle hole 110 can be maintained.

反射防止膜除去工程S11により、反射防止膜206がノズル孔部207a、カバー部207または流路壁203などの端面に残存することを防ぐことができる。   By the antireflection film removing step S11, it is possible to prevent the antireflection film 206 from remaining on the end face of the nozzle hole portion 207a, the cover portion 207, the flow path wall 203, or the like.

(変形例)
本実施形態では、反射防止膜206をスパッタ法により形成したが、本発明はこれに限られず、蒸着などにより反射防止膜206を形成してもよい。
(Modification)
In the present embodiment, the antireflection film 206 is formed by sputtering, but the present invention is not limited to this, and the antireflection film 206 may be formed by vapor deposition or the like.

本実施形態では、反射防止膜206を酸化クロム又は炭化ケイ素を材料として形成し、後に反射防止膜206を除去してインク吐出ヘッドを製造する方法を説明したが、遷移金属の酸化物、窒化ケイ素などを用いても良い。   In the present embodiment, the method of manufacturing the ink ejection head by forming the antireflection film 206 using chromium oxide or silicon carbide and removing the antireflection film 206 later is described. However, the transition metal oxide, silicon nitride is described. Etc. may be used.

本実施形態では、図10及び図12に示すように、ノズル孔部207aと、犠牲層樹脂204とを別々の工程で除去することとして説明したが、これに限ることはない。具体的には、ノズル孔部207aと、犠牲層樹脂204とを可溶な溶剤に基板201ごと浸して除去することとしてもよい。時間的にはノズル孔部207aが溶剤に溶解した後に、犠牲層樹脂204が溶解して、ノズル孔部207aと犠牲層樹脂204とが除去される。なお、ノズル孔部207aの材質は、感光性エポキシ樹脂を用い、犠牲層樹脂204の材質は、ノボラック樹脂を用い、溶解は、PGMEAを用いた。   In the present embodiment, as illustrated in FIGS. 10 and 12, the nozzle hole portion 207 a and the sacrificial layer resin 204 are removed in separate steps, but the present invention is not limited to this. Specifically, the nozzle hole portion 207a and the sacrificial layer resin 204 may be removed by immersing the substrate 201 together in a soluble solvent. In terms of time, after the nozzle hole portion 207a is dissolved in the solvent, the sacrificial layer resin 204 is dissolved, and the nozzle hole portion 207a and the sacrificial layer resin 204 are removed. The nozzle hole 207a is made of a photosensitive epoxy resin, the sacrificial layer resin 204 is made of a novolac resin, and PGMEA is used for dissolution.

また、上述した説明では、実施形態及び一部の変形例について別々の例として説明したが、これに限ることはない。すなわち、それぞれを組み合わせた構成として、実施形態及び一部の変形例を適宜組み合わせて利用してもよい。   In the above description, the embodiment and some modified examples have been described as separate examples, but the present invention is not limited to this. That is, as a configuration in which the components are combined, the embodiment and some of the modifications may be combined as appropriate.

100 インク吐出ヘッド
110 ノズル孔
CH インク流路
201 基板
202 発熱抵抗体
203 流路壁
203b 側面
204 犠牲層樹脂
206 反射防止膜
207 カバー部
207a ノズル孔部
307 保護膜
308 耐キャビテーション膜
S1 ヒータ形成工程
S2 流路壁形成工程
S3 反射防止膜形成工程
S4 埋め込み工程
S5 平坦化工程
S6 カバー部形成工程
S7 紫外線照射工程
S8 ノズル孔形成工程
S9 インク供給口形成工程
S10 犠牲層除去工程
S11 反射防止膜除去工程
DESCRIPTION OF SYMBOLS 100 Ink discharge head 110 Nozzle hole CH Ink flow path 201 Substrate 202 Heating resistor 203 Flow path wall 203b Side face 204 Sacrificial layer resin 206 Antireflection film 207 Cover part 207a Nozzle hole part 307 Protective film 308 Anti-cavitation film S1 Heater formation process S2 Channel wall forming process S3 Antireflection film forming process S4 Embedding process S5 Flattening process S6 Cover part forming process S7 Ultraviolet irradiation process S8 Nozzle hole forming process S9 Ink supply port forming process S10 Sacrificial layer removing process S11 Antireflection film removing process

Claims (5)

基板に設けられ、インクを吐出させる熱エネルギーを発生する複数のヒータと、複数のヒータ上に設けられたインク流路と、インク流路に連通する複数のインク吐出口とを有するインク吐出ヘッドの製造方法において、
前記インク流路の側面を構成する流路壁を形成する工程と、
前記インク流路の底面及び前記流路壁に反射防止膜を形成する工程と、
前記インク流路の中に犠牲層樹脂を充填する工程と、
前記インク流路の上部に、被覆感光性樹脂からなるカバー部を形成する工程と、
前記基板に垂直な方向から前記カバー部を露光し、インク吐出口を形成する工程と、
前記犠牲層樹脂を除去する工程とを含むことを特徴とするインク吐出ヘッドの製造方法。
An ink discharge head having a plurality of heaters that are provided on a substrate and generate thermal energy for discharging ink, an ink flow path provided on the plurality of heaters, and a plurality of ink discharge ports that communicate with the ink flow path In the manufacturing method,
Forming a flow path wall constituting a side surface of the ink flow path;
Forming an antireflection film on the bottom surface of the ink flow path and the flow path wall;
Filling the ink flow path with a sacrificial layer resin;
Forming a cover portion made of a coated photosensitive resin at the top of the ink flow path;
Exposing the cover from a direction perpendicular to the substrate to form an ink ejection port;
And a step of removing the sacrificial layer resin.
請求項1に記載のインク吐出ヘッドの製造方法において、
前記基板に平行な方向に前記犠牲層樹脂及び前記反射防止膜の上部を切削して、その切削面を平坦化する工程を含むことを特徴とするインク吐出ヘッドの製造方法。
In the manufacturing method of the ink discharge head according to claim 1,
A method of manufacturing an ink discharge head, comprising: cutting the sacrificial layer resin and the upper part of the antireflection film in a direction parallel to the substrate to flatten the cut surface.
請求項1又は請求項2に記載のインク吐出ヘッドの製造方法において、
前記反射防止膜を形成する工程は、前記反射防止膜を30nmから100nmまでの範囲内の膜厚で形成することを特徴とするインク吐出ヘッドの製造方法。
In the manufacturing method of the ink discharge head according to claim 1 or 2,
The method of forming an antireflection film comprises forming the antireflection film with a film thickness in a range from 30 nm to 100 nm.
請求項1から請求項3のいずれか1つに記載のインク吐出ヘッドの製造方法において、
前記反射防止膜を形成する工程は、前記反射防止膜をスパッタ法により形成することを特徴とするインク吐出ヘッドの製造方法。
In the manufacturing method of the ink discharge head according to any one of claims 1 to 3,
The step of forming the antireflection film comprises forming the antireflection film by a sputtering method.
請求項1から請求項4のいずれか1つに記載のインク吐出ヘッドの製造方法において、反射防止膜を除去する工程を含むことを特徴とするインク吐出ヘッドの製造方法。   5. The method of manufacturing an ink discharge head according to claim 1, further comprising a step of removing the antireflection film.
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