JP5855407B2 - Droplet discharge apparatus and droplet discharge method - Google Patents

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この発明は、対象物に向けて液滴を吐出して所定のパターンの形成する技術に関し、特に、吐出部と対象物との間の離間距離の変動に応じて処理液を吐出するタイミングを補正して、対象物上の理想的な位置に液滴を着弾させる技術に関する。   The present invention relates to a technique for forming a predetermined pattern by ejecting liquid droplets toward an object, and in particular, corrects the timing at which a processing liquid is ejected according to a variation in the separation distance between the ejection unit and the object. In addition, the present invention relates to a technique for landing a droplet at an ideal position on an object.

インクジェット方式で液滴を吐出し、対象物に所望のパターンを形成する液滴吐出装置が知られている。例えば、液晶表示装置の製造過程においては、液晶を封入する2枚の基板の間隔を規制するために、基板間にスペーサが形成される。このスペーサは、スペーサ粒子を含む処理液を基板の各地点に塗布するインクジェット方式の塗布装置によって形成される場合がある。このような塗布装置は、例えば、特許文献1に開示されている。   2. Related Art There is known a droplet discharge device that discharges droplets by an inkjet method and forms a desired pattern on an object. For example, in the manufacturing process of a liquid crystal display device, a spacer is formed between substrates in order to regulate the interval between two substrates enclosing liquid crystals. In some cases, the spacer is formed by an ink jet type coating apparatus that applies a treatment liquid containing spacer particles to each point of the substrate. Such a coating apparatus is disclosed in Patent Document 1, for example.

ところで、液滴を吐出する吐出部に対して対象物を相対的に移動させた際に、吐出部と対象物との間の離間距離が意図せずに変動する場合がある。離間距離に意図しない変動が生じた場合、液滴の着弾位置にズレが生じてしまう。そこで、液滴を理想的な位置に着弾させるための技術が、これまでにもいくつか提案されている。   By the way, when the target is moved relative to the discharge unit that discharges the droplets, the separation distance between the discharge unit and the target may change unintentionally. When an unintentional change occurs in the separation distance, the landing position of the droplet is displaced. Thus, several techniques for landing droplets at ideal positions have been proposed so far.

例えば、特許文献2では、記録ヘッドをキャリッジによって往復走査させながら記録媒体にインクを吐出して記憶を行うインクジェット記録装置が開示されている。このインクジェット記録装置においては、記録ヘッドと記録媒体との間の距離を検出し、該距離の変動量に基づいて、インクの目標吐出位置からのズレを補正するようにインク吐出タイミングが制御されている。   For example, Patent Document 2 discloses an ink jet recording apparatus that performs storage by ejecting ink onto a recording medium while reciprocating a recording head with a carriage. In this ink jet recording apparatus, the ink discharge timing is controlled so as to detect the distance between the recording head and the recording medium and correct the deviation of the ink from the target discharge position based on the variation amount of the distance. Yes.

特開2010−210770号公報JP 2010-210770 A 特開2007−331315号公報JP 2007-331315 A

ところが、特許文献2に記載のインクジェット記録装置において、記録精度を向上するためには、上記距離を測定する記録媒体上の地点の数を増やす必要がある。このような場合、測定回数が増大することで、補正のための演算処理量が増大し、補正処理に時間がかかってしまう。このようなことは、上述のスペーサ粒子を塗布する塗布装置においても、同様に起こり得る。   However, in the ink jet recording apparatus described in Patent Document 2, in order to improve the recording accuracy, it is necessary to increase the number of points on the recording medium for measuring the distance. In such a case, as the number of measurements increases, the amount of calculation processing for correction increases, and the correction process takes time. Such a situation can also occur in the coating apparatus that applies the spacer particles.

本発明は、上記課題に鑑みなされたものであり、吐出部と対象物の間の離間距離の変動を検査する対象物上の地点が少ない場合でも、吐出タイミングの補正を良好に行うことができる技術を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above problems, and can correct the discharge timing satisfactorily even when there are few points on the object to be inspected for variations in the separation distance between the discharge unit and the object. The purpose is to provide technology.

上記の課題を解決するため、第1の態様は、液滴を吐出する複数の吐出口が形成された吐出部に対して対象物を移動機構によって相対的に移動させ、前記吐出部から吐出した前記液滴を前記対象物に着弾させる液滴吐出装置において、前記吐出部に対して吐出信号を出力することにより、前記吐出口からの液滴の吐出を制御する吐出制御部と、前記対象物の相対的な移動に応じた、前記吐出部と前記対象物との間の離間距離の変動を、前記対象物上の複数の地点について検査する検査部と、前記対象物上の領域のうち、前記複数の地点とは異なる地点における前記変動に関する情報を、前記検査部の検査結果に基づいた演算により補間する補間部と、前記補間部によって取得された前記変動に関する情報に基づいて、前記吐出口からの前記液滴の吐出タイミングを補正する補正部とを備え、前記移動機構は、前記吐出部に対して前記対象物を第一方向に沿って移動させ、複数の前記吐出口は、前記第一方向に直交する第二方向の成分を持つ方向に沿って配列された状態で前記液滴を吐出し、前記補間部は、前記第一方向及び前記第二方向のそれぞれに関して、前記変動に関する情報を補間し、前記吐出制御部は、前記対象物に補正用のパターンを形成するように前記吐出部を制御し、前記検査部は、前記対象物に形成されたパターンと前記補正用のパターンとの比較に基づいて、前記液滴の着弾位置のズレ量を取得し、該ズレ量から前記変動を検査する。 In order to solve the above-mentioned problem, the first aspect is that the object is moved relatively by a moving mechanism with respect to the discharge part in which a plurality of discharge ports for discharging droplets are formed, and discharged from the discharge part. In the droplet discharge device for landing the droplet on the object, a discharge control unit that controls discharge of the droplet from the discharge port by outputting a discharge signal to the discharge unit; and the target Inspecting a plurality of points on the object for fluctuations in the separation distance between the discharge unit and the object according to the relative movement of the object, and among the regions on the object, An interpolation unit that interpolates information on the variation at a point different from the plurality of points by calculation based on an inspection result of the inspection unit, and the discharge port based on the information on the variation acquired by the interpolation unit Said liquid from And a correction unit that corrects the ejection timing, the moving mechanism, said object with respect to the discharge portion is moved along the first direction, a plurality of said discharge ports is orthogonal to the first direction The droplets are ejected in a state of being arranged along a direction having a component in the second direction, and the interpolation unit interpolates information on the variation for each of the first direction and the second direction, and The ejection control unit controls the ejection unit to form a correction pattern on the object, and the inspection unit is based on a comparison between the pattern formed on the object and the correction pattern. obtains the displacement amount of the landing position of the droplet, you inspecting the change from the shift amount.

また、第2の態様は、第1の態様に係る液滴吐出装置において、前記補間部は、前記変動が検査された前記複数の地点の位置と、前記複数の地点における変動との相関を示す関数に基づいて、前記変動に関する情報を補間する。   Further, according to a second aspect, in the liquid droplet ejection apparatus according to the first aspect, the interpolation unit shows a correlation between the positions of the plurality of points where the variation is inspected and the variations at the plurality of points. Based on the function, information on the variation is interpolated.

また、第3の態様は、第2の態様に係る液滴吐出装置において、前記関数が、スプライン曲線を表す関数である。   Further, according to a third aspect, in the droplet discharge device according to the second aspect, the function is a function representing a spline curve.

また、第の態様は、第1から第の態様までのいずれか1態様に係る液滴吐出装置において、前記検査部は、前記離間距離を測定する測定器の測定結果に基づいて、前記変動を検査する。 Further, a fourth aspect is the liquid droplet ejection apparatus according to any one of the first to third aspects, wherein the inspection unit is based on a measurement result of a measuring instrument that measures the separation distance. Check for variations.

また、第の態様は、第1から第4の態様までのいずれか1態様に係る液滴吐出装置において、前記補正用のパターンが、前記対象物の表面の縦方向および横方向に沿って等間隔で液滴が着弾することにより形成されるパターンである。 According to a fifth aspect, in the droplet discharge device according to any one of the first to fourth aspects, the correction pattern is arranged along a vertical direction and a horizontal direction of the surface of the object. It is a pattern formed by droplets landing at equal intervals.

また、第の態様は、第1からの態様までのいずれか1態様に係る液滴吐出装置において、前記対象物の表面には、ブラックマトリックスが形成されており、前記液滴は、スペーサ粒子を含み、前記吐出ノズルが前記ブラックマトリックスに向けて前記液滴を吐出することによって、前記補正用のパターンが形成される。 Further, a sixth aspect is the droplet discharge device according to any one of the first to fifth aspects, wherein a black matrix is formed on a surface of the object, and the droplets are The correction pattern is formed by discharging the droplets toward the black matrix by the discharge nozzle including spacer particles.

また、第の態様は、液滴を吐出する複数の吐出口が形成された吐出部に対して対象物を移動機構によって相対的に移動させ、前記吐出部から吐出した前記液滴を前記対象物に着弾させる液滴吐出方法において、(a)前記吐出部に対して吐出信号を出力することにより、前記吐出部からの液滴の吐出を制御する工程と、(b)前記対象物の相対的な移動に応じた、前記吐出部と前記対象物との間の離間距離の変動を、前記対象物上の複数の地点について検査する工程と、(c)前記対象物上の領域のうち、前記複数の地点とは異なる地点における前記変動に関する情報を、前記(b)工程の検査結果に基づき演算により補間する工程と、(d)前記(b)工程および前記(c)工程において取得された前記変動に関する情報に基づいて、前記(a)工程における前記吐出部からの前記液滴の吐出タイミングを補正する工程とを含み、前記移動機構は、前記吐出部に対して前記対象物を第一方向に沿って移動させ、複数の前記吐出口は、前記第一方向に直交する第二方向の成分を持つ方向に沿って配列された状態で前記液滴を吐出し、前記(a)工程は、前記対象物に補正用のパターンを形成するように前記吐出部を制御する工程であり、前記(b)工程は、前記対象物に形成されたパターンと前記補正用のパターンとの比較に基づいて、前記液滴の着弾位置のズレ量を取得し、該ズレ量から前記変動を検査する工程であり、前記(c)工程は、前記第一方向及び前記第二方向のそれぞれに関して、前記変動に関する情報を補間する工程であるAccording to a seventh aspect, an object is moved relatively by a moving mechanism with respect to an ejection part having a plurality of ejection ports for ejecting liquid droplets, and the liquid droplets ejected from the ejection part are moved to the object. In a droplet discharge method for landing on an object, (a) controlling discharge of droplets from the discharge unit by outputting a discharge signal to the discharge unit; and (b) relative to the target object. A step of inspecting a plurality of points on the object for a variation in a separation distance between the discharge unit and the object according to a specific movement, and (c) among regions on the object, Information relating to the variation at a point different from the plurality of points, the step of interpolating by calculation based on the inspection result of the step (b), (d) acquired in the step (b) and the step (c) Based on the information on the variation, the discharge unit in the step (a) The solution seen including a step of correcting the ejection timing of droplets, the moving mechanism, the object to be moved along the first direction with respect to the discharge portion, a plurality of said discharge ports, said first The droplets are ejected in a state of being arranged along a direction having a component in the second direction orthogonal to the direction, and the step (a) includes the ejection unit so as to form a correction pattern on the object. The step (b) acquires a deviation amount of the landing position of the droplet based on a comparison between the pattern formed on the object and the correction pattern, and the deviation is performed. Inspecting the variation from the quantity, the step (c) is a step of interpolating information regarding the variation with respect to each of the first direction and the second direction .

第1から第の態様に係る液滴吐出装置によると、複数の地点における吐出部と対象物との間の離間距離の変動の検査結果に基づいて、未検査部分における離間距離の変動を演算により取得することができる。したがって、離間距離の変動の測定に必要な時間または演算量を軽減しつつ、対象物のあらゆる地点に対する液滴の吐出タイミングの補正を適切に行うことができる。
また、対象物の相対的な移動方向と直交する方向に関して、離間距離の変動を補間することができる。したがって、複数の吐出口のそれぞれの位置に対応する、対象物上の地点における離間距離の変動を補間することができる。
さらに、対象物の相対的な移動方向に関して、離間距離の変動を補間することができる。
また、実際の着弾位置と理想的な着弾位置とのズレ量から、離間距離の変動検査することができる。
According to the liquid droplet ejection device according to the first to sixth aspects, the variation in the separation distance in the uninspected part is calculated based on the inspection result of the variation in the separation distance between the ejection unit and the object at a plurality of points. It can be obtained by. Therefore, it is possible to appropriately correct the ejection timing of the liquid droplets at all points on the target object while reducing the time or the amount of calculation necessary for measuring the fluctuation of the separation distance.
Moreover, the fluctuation | variation of a separation distance can be interpolated regarding the direction orthogonal to the relative moving direction of a target object. Therefore, it is possible to interpolate fluctuations in the separation distance at points on the object corresponding to the positions of the plurality of ejection openings.
Furthermore, the variation of the separation distance can be interpolated with respect to the relative movement direction of the object.
Further, it is possible to inspect the variation in the separation distance from the amount of deviation between the actual landing position and the ideal landing position.

第2の態様にかかる検査装置によると、離間距離の変動を検査した複数の地点の位置と、各地点での離間距離の変動との相関を示す関数に基づいて、未検査の地点における離間距離の変動が補間される。このため、未検査部分における離間距離の変動を、検査された周辺部分の変動から合理的に取得することができる。   According to the inspection apparatus according to the second aspect, the separation distance at the unexamined point based on the function indicating the correlation between the positions of the plurality of points at which the variation in the separation distance is inspected and the variation in the separation distance at each point. Fluctuations are interpolated. For this reason, the fluctuation | variation of the separation distance in an uninspected part can be reasonably acquired from the fluctuation | variation of the inspected peripheral part.

第3の態様にかかる検査装置によると、スプライン曲線の関数に基づいて、未検査部分における離間距離の変動を合理的に補間することができる。   According to the inspection apparatus according to the third aspect, it is possible to rationally interpolate the variation in the separation distance in the uninspected portion based on the function of the spline curve.

の態様に係る液滴吐出装置によると、離間距離の変動量を直接的に取得することができる。 According to the droplet discharge device according to the fourth aspect, it is possible to directly acquire the fluctuation amount of the separation distance.

の態様に係る液滴吐出装置によると、補正用のパターンを縦方向および横方向に等間隔で着弾させて形成されるようにすることで、補正処理の演算のアルゴリズムを容易化できる。 According to the liquid droplet ejection apparatus according to the fifth aspect, the correction processing calculation algorithm can be facilitated by forming the correction patterns to be landed at equal intervals in the vertical and horizontal directions.

の態様に係る液滴吐出装置によると、ブラックマトリックス上にスペーサ領域を形成する場合と同条件で補正用パターンを形成することができる。したがって、補正精度を向上することができる。
According to the liquid droplet ejection apparatus according to the sixth aspect, the correction pattern can be formed under the same conditions as when the spacer region is formed on the black matrix. Therefore, the correction accuracy can be improved.

第1実施形態に係る液滴吐出装置の斜視図である。1 is a perspective view of a droplet discharge device according to a first embodiment. 表面にスペーサ粒子分散液が吐出された基板の表面の一部を示す部分平面図である。It is a partial top view which shows a part of surface of the board | substrate by which the spacer particle dispersion liquid was discharged to the surface. 吐出ヘッドユニットをその下面から見た斜視図である。It is the perspective view which looked at the discharge head unit from the lower surface. 吐出ヘッドユニットの移動機構を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the moving mechanism of a discharge head unit. 基板1におけるブラックマトリックスのピッチと、吐出ヘッドの吐出口の配置との関係を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the relationship between the pitch of the black matrix in the board | substrate 1, and arrangement | positioning of the discharge outlet of a discharge head. 液滴吐出装置の概略構成図である。It is a schematic block diagram of a droplet discharge apparatus. 制御部の機能ブロックをデータの流れとともに示す図である。It is a figure which shows the functional block of a control part with the flow of data. 吐出ヘッドユニットから処理液であるスペーサ粒子分散液を吐出する様子を示す概略側面図である。It is a schematic side view which shows a mode that the spacer particle dispersion liquid which is a process liquid is discharged from a discharge head unit. 理想的な補正用パターンが描画された基板の表面を示す概略平面図である。It is a schematic plan view which shows the surface of the board | substrate with which the ideal correction pattern was drawn. 補正用パターンが形成された基板の表面の一例を示す概略平面図である。It is a schematic plan view which shows an example of the surface of the board | substrate with which the correction pattern was formed. 図10に示した補正用パターンの一部を示す概略平面図である。FIG. 11 is a schematic plan view showing a part of the correction pattern shown in FIG. 10. 図10に示した補正用パターンの一部を示す概略平面図である。FIG. 11 is a schematic plan view showing a part of the correction pattern shown in FIG. 10. 第2実施形態に係る液滴吐出装置の概略構成図である。It is a schematic block diagram of the droplet discharge apparatus which concerns on 2nd Embodiment. 第2実施形態に係る制御部8Aの機能ブロックをデータの流れとともに示す図である。It is a figure which shows the functional block of 8 A of control parts which concern on 2nd Embodiment with the flow of data.

以下、この発明の実施形態を図面に基づいて説明する。ただし、以下の実施形態に記載されている構成要素はあくまでも例示であり、本発明の範囲をそれらのみに限定する趣旨のものではない。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. However, the components described in the following embodiments are merely examples, and are not intended to limit the scope of the present invention only to them.

<1. 第1実施形態>
図1は、第1実施形態に係る液滴吐出装置100の斜視図である。また、図2は、表面にスペーサ粒子分散液が吐出された基板1の表面の一部を示す部分平面図である。
<1. First Embodiment>
FIG. 1 is a perspective view of a droplet discharge device 100 according to the first embodiment. FIG. 2 is a partial plan view showing a part of the surface of the substrate 1 on which the spacer particle dispersion is discharged.

図1においては、吐出ヘッドユニット12の配列方向をx軸、テーブル11の移動方向をy軸および鉛直方向をz軸とする左手系のxyz座標系を付している。ただし、これらの軸方向は、液滴吐出装置100の各要素の配置方向を説明するために便宜上定義したものであり、本願発明の構成を限定する趣旨のものではない。   In FIG. 1, a left-handed xyz coordinate system in which the arrangement direction of the ejection head units 12 is the x axis, the movement direction of the table 11 is the y axis, and the vertical direction is the z axis is attached. However, these axial directions are defined for convenience in order to describe the arrangement direction of each element of the droplet discharge device 100, and are not intended to limit the configuration of the present invention.

液滴吐出装置100は、インクジェット方式により、基板1上にスペーサ粒子を分散させたスペーサ粒子分散液を塗布する。これにより、基板1上にスペーサ粒子を含むスペーサ領域が形成され、液晶層封入用のギャップが形成される。ここで、図2を参照しつつ、液晶表示装置の製造工程について説明する。この液晶表示装置の製造工程は、液晶の封入工程などの前工程として実行されるものであり、2枚の基板の間に、スペーサ粒子を介在させることによって、液晶層封入用のギャップを形成するものである。   The droplet discharge device 100 applies a spacer particle dispersion liquid in which spacer particles are dispersed on the substrate 1 by an inkjet method. As a result, a spacer region including spacer particles is formed on the substrate 1, and a gap for enclosing the liquid crystal layer is formed. Here, a manufacturing process of the liquid crystal display device will be described with reference to FIG. The manufacturing process of this liquid crystal display device is performed as a pre-process such as a liquid crystal sealing process, and a spacer particle is interposed between two substrates to form a gap for liquid crystal layer sealing. Is.

液晶表示装置が製造する工程の1つに、スペーサ領域生成工程がある。このスペーサ領域生成工程においては、透明の基板1上にスペーサ粒子を分散させたスペーサ粒子分散液が吐出される。これにより、スペーサ粒子を含むスペーサ領域31が形成される。具体的には、液滴吐出装置100において、多数の吐出ヘッド18が列設された吐出ヘッドユニット12が基板1に対して相対的に移動する(走査する)ことにより、基板1の表面にスペーサ粒子分散液を吐出する。   One of the processes manufactured by the liquid crystal display device is a spacer region generation process. In this spacer region generation step, a spacer particle dispersion liquid in which spacer particles are dispersed on a transparent substrate 1 is discharged. Thereby, the spacer area | region 31 containing a spacer particle | grain is formed. Specifically, in the droplet discharge device 100, the discharge head unit 12 in which a large number of discharge heads 18 are arranged in a row moves (scans) relative to the substrate 1, whereby spacers are formed on the surface of the substrate 1. Discharge the particle dispersion.

このスペーサ領域31が形成される透明の基板1の表面には、図2に示したように、それぞれ画素領域であるレッドのカラーフィルターの領域Rと、グリーンのカラーフィルターの領域Gと、ブルーのカラーフィルターの領域Bと、これらの画素領域を区画するブラックマトリックス33とが設けられている。スペーサ粒子分散液は、ブラックマトリックス33に向けて吐出され、そこにスペーサ領域31が形成される。図2に示した例では、縦方向および横方向に延在するブラックマトリックス33の交差点上にスペーサ領域31が形成されている。したがって、基板1上において、多数のスペーサ領域31が縦方向および横方向に沿って等間隔で点在している。   As shown in FIG. 2, on the surface of the transparent substrate 1 on which the spacer region 31 is formed, a red color filter region R, a green color filter region G, and a blue A color filter region B and a black matrix 33 for partitioning these pixel regions are provided. The spacer particle dispersion is discharged toward the black matrix 33, and the spacer region 31 is formed there. In the example shown in FIG. 2, the spacer region 31 is formed on the intersection of the black matrix 33 extending in the vertical direction and the horizontal direction. Therefore, on the substrate 1, a large number of spacer regions 31 are scattered at equal intervals along the vertical direction and the horizontal direction.

液晶表示装置の製造過程においては、スペーサ領域生成工程に引き続き、乾燥工程が実施される。この乾燥工程では、透明の基板1がホットプレートに搬送され、基板1がホットプレート上で加熱される。これにより、スペーサ粒子分散液から揮発成分が蒸発するとともに、スペーサ領域31のスペーサ粒子が基板1に固着することとなる。   In the manufacturing process of the liquid crystal display device, a drying step is performed following the spacer region generation step. In this drying process, the transparent substrate 1 is conveyed to a hot plate, and the substrate 1 is heated on the hot plate. As a result, volatile components are evaporated from the spacer particle dispersion, and the spacer particles in the spacer region 31 are fixed to the substrate 1.

この乾燥工程においては、最初にスペーサ粒子分散液から揮発成分が蒸発することにより、表面張力によりスペーサ領域31のスペーサ粒子同士が互いに集まって接触する。そして、それらを焼成して互いに固着させ、スペーサ領域31のスペーサ粒子を基板1に固着させる。このようにして製造された基板1ともう1枚の透明基板とを相互に貼り合わせた場合、スペーサ領域31のスペーサ粒子によって、基板間に隙間が形成される。この隙間に液晶が封入されることによって、液晶表示装置用のパネルが製造される。   In this drying step, first, the volatile components are evaporated from the spacer particle dispersion, whereby the spacer particles in the spacer region 31 gather together and come into contact with each other due to surface tension. Then, they are baked and fixed to each other, and the spacer particles in the spacer region 31 are fixed to the substrate 1. When the substrate 1 thus manufactured and the other transparent substrate are bonded to each other, a gap is formed between the substrates by the spacer particles in the spacer region 31. A liquid crystal display panel is manufactured by filling liquid crystal in the gap.

図1に戻って、本実施形態に係る液滴吐出装置100の構成について説明する。   Returning to FIG. 1, the configuration of the droplet discharge device 100 according to the present embodiment will be described.

液滴吐出装置100は、基板1を支持するテーブル11と、複数(ここでは、12個)の吐出ヘッドユニット12と、複数の吐出ヘッドユニット12を支持するガントリー13とを備えている。x軸に沿って延びるガントリー13の内側には、x軸に沿って延びる開口部が形成されている。複数の吐出ヘッドユニット12は、このガントリー13の内側に形成されたz軸方向に開口する開口部に配列されている。   The droplet discharge device 100 includes a table 11 that supports the substrate 1, a plurality (here, twelve) of discharge head units 12, and a gantry 13 that supports the plurality of discharge head units 12. An opening extending along the x-axis is formed inside the gantry 13 extending along the x-axis. The plurality of ejection head units 12 are arranged in openings formed in the z-axis direction formed inside the gantry 13.

テーブル11は、基台14上に配設されたリニアモータ15の駆動を受けて、一対のガイド部材16,16により案内された状態で、複数の吐出ヘッドユニット12の列設方向と直交するy軸方向を主走査方向として往復移動する。液滴吐出装置100においては、基板1を載置したテーブル11を主走査方向に移動させながら、12個の吐出ヘッドユニット12よりスペーサ粒子分散液を吐出することにより、基板1にスペーサ粒子を含むスペーサ領域31を形成する。   The table 11 is driven by a linear motor 15 disposed on the base 14 and is guided by a pair of guide members 16, 16 and is orthogonal to the direction in which the plurality of ejection head units 12 are arranged. It reciprocates with the axial direction as the main scanning direction. In the droplet discharge device 100, spacer particles are included in the substrate 1 by discharging the spacer particle dispersion from the 12 discharge head units 12 while moving the table 11 on which the substrate 1 is placed in the main scanning direction. A spacer region 31 is formed.

ガントリー13の両端部には、一対のリニアモータ21,21が配列されている。ガントリー13は、これらのリニアモータ21,21を介して基台14に支持されている。このため、ガントリー13は、これらのリニアモータ21,21を個別に駆動することにより、テーブル11による基板1の搬送方向と交差角度を変更することができる構成となっている。   A pair of linear motors 21 and 21 are arranged at both ends of the gantry 13. The gantry 13 is supported on the base 14 via these linear motors 21 and 21. For this reason, the gantry 13 is configured to be able to change the transport direction and the crossing angle of the substrate 1 by the table 11 by individually driving these linear motors 21 and 21.

基台14の一端には、吐出ヘッドユニット12を洗浄する洗浄部22が配設されている。この洗浄部22は、テーブル11による基板1のy軸に沿う搬送方向と直交するx軸に沿う方向(x軸方向)に往復移動可能となっている。また、この洗浄部22の移動方向に沿って、吐出ヘッドユニット12の乾燥を防止するための乾燥防止部23が複数(ここでは、12個)配設されている。後述する各吐出ヘッド18は、待機時においては、これらの乾燥防止部23と対向配置される。   A cleaning unit 22 for cleaning the ejection head unit 12 is disposed at one end of the base 14. The cleaning unit 22 can reciprocate in a direction along the x-axis (x-axis direction) orthogonal to the transport direction along the y-axis of the substrate 1 by the table 11. A plurality (in this case, twelve) of dry prevention units 23 for preventing the discharge head unit 12 from drying are disposed along the moving direction of the cleaning unit 22. Each ejection head 18 to be described later is disposed opposite to these drying prevention units 23 during standby.

図3は、吐出ヘッドユニット12をその下面から見た斜視図である。なお図3においては、吐出ヘッド18の一部を拡大して示している。   FIG. 3 is a perspective view of the discharge head unit 12 as viewed from the lower surface thereof. In FIG. 3, a part of the ejection head 18 is shown enlarged.

ガントリー13に支持された12個の吐出ヘッドユニット12には、ヘッド支持板17が配設されている。このヘッド支持板17には、一方向に沿って、複数(ここでは5個)の吐出ヘッド18が配設されている。そしてこれらの吐出ヘッド18には、一方向に沿って多数のスペーサ粒子分散液の吐出口19が配列されている。   Head support plates 17 are disposed on the 12 ejection head units 12 supported by the gantry 13. A plurality of (here, five) ejection heads 18 are disposed on the head support plate 17 along one direction. These discharge heads 18 have a large number of spacer particle dispersion discharge ports 19 arranged in one direction.

図4は、吐出ヘッドユニット12の移動機構を示す斜視図である。図4においては、図1に示した12個の吐出ヘッドユニット12のうちの1つのみを図示している。   FIG. 4 is a perspective view showing a moving mechanism of the ejection head unit 12. In FIG. 4, only one of the twelve ejection head units 12 shown in FIG. 1 is shown.

複数の吐出ヘッドユニット12が装着されるガントリー13の内周面のうちy軸方向において対向する両側内側面のそれぞれには、リニアガイド24とリニアスケール25と、リニアモータ26とが設けられている。リニアガイド24、リニアスケール25およびリニアモータ26は、長手方向がx軸に沿うようして設けられている。また、複数の吐出ヘッドユニット12は、それぞれ支持板27によって支持されている。各支持板27の下面には、リニアモータ26の固定子に沿って移動する図示しない可動子が設けられている。   A linear guide 24, a linear scale 25, and a linear motor 26 are provided on each of the inner surfaces on both sides facing in the y-axis direction of the inner peripheral surface of the gantry 13 to which the plurality of ejection head units 12 are mounted. . The linear guide 24, the linear scale 25, and the linear motor 26 are provided so that the longitudinal direction is along the x-axis. Further, the plurality of ejection head units 12 are each supported by a support plate 27. A movable element (not shown) that moves along the stator of the linear motor 26 is provided on the lower surface of each support plate 27.

支持板27は、リニアモータ26の駆動により、そのy軸方向おける両端部がリニアガイド24により案内された状態で、基板1の搬送方向(y軸方向)と交差するx軸に沿って移動する。そして、その移動量は、リニアスケール25により測定される。このような吐出ヘッドユニット12の移動機構によって、各吐出ヘッドユニット12を設定された移動量だけ基板1の搬送方向と交差する方向に移動させることができる。これにより、吐出ヘッドユニット12のピッチを変更することが可能となる。   The support plate 27 moves along the x-axis that intersects the transport direction (y-axis direction) of the substrate 1 in a state where both ends in the y-axis direction are guided by the linear guide 24 by driving the linear motor 26. . The movement amount is measured by the linear scale 25. By such a moving mechanism of the discharge head unit 12, each discharge head unit 12 can be moved in a direction intersecting the transport direction of the substrate 1 by a set movement amount. Thereby, the pitch of the ejection head unit 12 can be changed.

上述したように、ガントリー13は、一対のリニアモータ21,21を個別に駆動することにより、テーブル11による基板1の搬送方向との交差角度を変更する。この交差角度が変更されることにより、ガントリー13に支持された吐出ヘッドユニット12の角度も変更され、これに伴って、吐出ヘッドユニット12に配設された吐出ヘッド18におけるスペーサ粒子分散液の吐出口19の列設方向と基板1の搬送方向との交差角度が変更されることとなる。   As described above, the gantry 13 drives the pair of linear motors 21 and 21 individually to change the crossing angle of the table 11 with the transport direction of the substrate 1. By changing this crossing angle, the angle of the discharge head unit 12 supported by the gantry 13 is also changed. Accordingly, the discharge of the spacer particle dispersion liquid in the discharge head 18 provided in the discharge head unit 12 is changed. The crossing angle between the direction in which the outlets 19 are arranged and the direction in which the substrate 1 is transported is changed.

上述したように、吐出ヘッドユニット12のピッチと、吐出ヘッド18におけるスペーサ粒子分散液の吐出口19の列設方向と基板1の搬送方向との交差角度とを変更する構成を採用しているのは、以下の理由によるものである。   As described above, a configuration is adopted in which the pitch of the ejection head unit 12 and the intersection angle between the direction in which the ejection openings 19 of the spacer particle dispersion liquid 19 are arranged in the ejection head 18 and the transport direction of the substrate 1 are changed. The reason is as follows.

図5は、基板1におけるブラックマトリックス33のピッチと、吐出ヘッド18の吐出口19の配置との関係を示す説明図である。   FIG. 5 is an explanatory diagram showing the relationship between the pitch of the black matrix 33 on the substrate 1 and the arrangement of the ejection ports 19 of the ejection head 18.

ブラックマトリックス33のピッチは、液晶表示装置の種類や製造業者などによって異なっている。このようなブラックマトリックス33のピッチに対応するため、図5に示したように、吐出ヘッド18間において、スペーサ粒子分散液の吐出口19のピッチを調整する必要がある。そこで、液滴吐出装置100においては、ここでは、隣り合う吐出ヘッドユニット12間において、吐出ヘッドユニット12同士の距離を変更すればよい。このような理由から、この液滴吐出装置100においては、吐出ヘッドユニット12のピッチと、ガントリー13と基板1の搬送方向との交差角度とを変更する構成を採用している。   The pitch of the black matrix 33 differs depending on the type of liquid crystal display device and the manufacturer. In order to correspond to such a pitch of the black matrix 33, it is necessary to adjust the pitch of the discharge port 19 for the spacer particle dispersion liquid between the discharge heads 18 as shown in FIG. Therefore, in the droplet discharge device 100, here, the distance between the discharge head units 12 may be changed between the adjacent discharge head units 12. For this reason, the droplet discharge device 100 employs a configuration in which the pitch of the discharge head unit 12 and the intersection angle between the gantry 13 and the transport direction of the substrate 1 are changed.

以上のような構成を有する液滴吐出装置100を使用して基板1にスペーサ粒子分散液を塗布するときには、最初に、基板1をテーブル11上に位置決めして固定する。また、基板1におけるブラックマトリックス33のピッチに対応させて、吐出ヘッド18におけるスペーサ粒子分散液の吐出口19の列設方向と基板1の搬送方向との交差角度と、吐出ヘッドユニット12のピッチとを変更する。   When the spacer particle dispersion is applied to the substrate 1 using the droplet discharge device 100 having the above configuration, the substrate 1 is first positioned and fixed on the table 11. Further, in correspondence with the pitch of the black matrix 33 on the substrate 1, the intersection angle between the arrangement direction of the discharge ports 19 of the spacer particle dispersion liquid in the ejection head 18 and the transport direction of the substrate 1, and the pitch of the ejection head unit 12 To change.

この状態において、テーブル11を基板1とともに主走査方向に移動させながら12個の吐出ヘッドユニット12における各吐出ヘッド18からスペーサ粒子分散液を吐出することにより、基板1におけるブラックマトリックス33上にスペーサ粒子を含むスペーサ領域31を形成することができる。なお、スペーサ領域31をできるだけ基板1上の正確な位置に形成するため、テーブル11が等速で移動している期間中に、スペーサ粒子分散液の吐出が行われることが望ましい。ただし、テーブル11が加速中または減速中の間にであっても、スペーサ粒子分散液の吐出が行われてもよい。   In this state, the spacer particle dispersion is discharged from the discharge heads 18 of the 12 discharge head units 12 while moving the table 11 together with the substrate 1 in the main scanning direction, whereby spacer particles are formed on the black matrix 33 of the substrate 1. A spacer region 31 containing can be formed. In order to form the spacer region 31 as accurately as possible on the substrate 1, it is desirable that the spacer particle dispersion liquid be discharged during the period in which the table 11 is moving at a constant speed. However, the spacer particle dispersion may be discharged even while the table 11 is accelerating or decelerating.

図6は、液滴吐出装置100の概略構成図である。また、図7は、制御部8の機能ブロックをデータの流れとともに示す図である。図6に示したように、液滴吐出装置100は、レーザー測長器4と、撮影部5とを備えている。   FIG. 6 is a schematic configuration diagram of the droplet discharge device 100. FIG. 7 is a diagram showing the functional blocks of the control unit 8 together with the data flow. As shown in FIG. 6, the droplet discharge device 100 includes a laser length measuring device 4 and an imaging unit 5.

レーザー測長器4は、テーブル11の側面に取り付けられた図示しないコーナーキューブにレーザー光を照射して、該コーナーキューブにて反射されたレーザー光を検出することにより、テーブル11のy軸方向における位置を高精度に検出する。レーザー測長器4は、制御部8に向けてテーブル11の位置情報を送信する。   The laser length measuring device 4 irradiates a corner cube (not shown) attached to the side surface of the table 11 with a laser beam, and detects the laser beam reflected by the corner cube. The position is detected with high accuracy. The laser length measuring device 4 transmits the position information of the table 11 to the control unit 8.

撮影部5は、基板1の表面を撮影した表面画像を取得する。なお、撮影部5は、図示しない移動機構によって、x軸方向に沿って移動することができる。テーブル11をy軸方向に移動させるとともに、撮影部5をx軸方向に移動させることで、撮影部5により、テーブル11に固定された基板1の略全面の画像を撮影することができる。撮影部5は画像信号を制御部8に送信する。取得された画像データ93は画像処理部83において処理され、後述する吐出タイミングの補正のために利用される。なお、基板1の位置を特定して所要位置に配置させる際、または、スペーサ領域31の形成状況などの解析を行う際に、撮影部5で撮影した画像を利用するようにしてもよい。   The imaging unit 5 acquires a surface image obtained by imaging the surface of the substrate 1. Note that the photographing unit 5 can be moved along the x-axis direction by a moving mechanism (not shown). By moving the table 11 in the y-axis direction and moving the imaging unit 5 in the x-axis direction, the imaging unit 5 can capture an image of substantially the entire surface of the substrate 1 fixed to the table 11. The imaging unit 5 transmits an image signal to the control unit 8. The acquired image data 93 is processed by the image processing unit 83 and used for correcting the ejection timing described later. Note that an image captured by the imaging unit 5 may be used when the position of the substrate 1 is specified and placed at a required position, or when the formation status of the spacer region 31 is analyzed.

制御部8は、CPU、RAMなどのメモリを備えた一般的なコンピュータとして構成されている。本実施形態では、制御部8は、図7に示したように、吐出制御部81、画像処理部83、検査部85、補間部87および補正部89として機能する。これらの機能ブロックは、メモリ上に展開されるプログラム(図示せず)にしたがってCPUが動作することにより実現される。なお、制御部8は複数台のコンピュータで構成されていてもよい。また、図7に示した機能ブロックの一部または全部が、専用の回路によってハードウェア的に実現されてもよい。   The control unit 8 is configured as a general computer including a memory such as a CPU and a RAM. In the present embodiment, the control unit 8 functions as an ejection control unit 81, an image processing unit 83, an inspection unit 85, an interpolation unit 87, and a correction unit 89, as shown in FIG. These functional blocks are realized by the CPU operating in accordance with a program (not shown) developed on the memory. The control unit 8 may be composed of a plurality of computers. Also, some or all of the functional blocks shown in FIG. 7 may be realized in hardware by a dedicated circuit.

吐出制御部81は、吐出タイミングが記述されたデータに基づいて、吐出ヘッドユニット12に向けて吐出信号を出力することによって、吐出ヘッドユニット12からのスペーサ粒子分散液の吐出を制御する。本実施形態においては、吐出タイミングが記述されたデータとして、第一吐出タイミングデータ91および第二吐出タイミングデータ92とが記憶部9に格納されている。   The discharge controller 81 controls the discharge of the spacer particle dispersion from the discharge head unit 12 by outputting a discharge signal to the discharge head unit 12 based on the data describing the discharge timing. In the present embodiment, first discharge timing data 91 and second discharge timing data 92 are stored in the storage unit 9 as data describing the discharge timing.

第一吐出タイミングデータ91は、図2に示したブラックマトリックス33上にスペーサ領域31を基板1に形成するために、複数の吐出ヘッドユニット12がスペーサ粒子分散液(液滴191)を各吐出口19から吐出すべきタイミングを規定するデータである。また第二吐出タイミングデータ92は、基板1に補正用パターンを形成するために、複数の吐出ヘッドユニット12がスペーサ粒子分散液を各吐出口19から吐出すべきタイミングを規定するデータである。補正用パターンの詳細については後述する。   In order to form the spacer region 31 on the substrate 1 on the black matrix 33 shown in FIG. 2, the first discharge timing data 91 indicates that the plurality of discharge head units 12 apply the spacer particle dispersion (droplet 191) to each discharge port. 19 is data defining the timing at which ejection is to be started. The second ejection timing data 92 is data defining timings at which the plurality of ejection head units 12 should eject the spacer particle dispersion from the ejection ports 19 in order to form a correction pattern on the substrate 1. Details of the correction pattern will be described later.

第一吐出タイミングデータ91および第二吐出タイミングデータ92は、吐出タイミングが具体的な時間として規定されていてもよいし、吐出タイミングが基板1と吐出ヘッドユニット12との相対的な位置関係を基準にして規定されていてもよい。前者の場合は、液滴吐出が時間経過に基づいて行われるのに対し、後者の場合は、例えば、基板1が、吐出ヘッドユニット12から液滴を吐出すべき位置に到達したか否かで液滴吐出の制御が行われることとなる。   The first ejection timing data 91 and the second ejection timing data 92 may specify the ejection timing as a specific time, and the ejection timing is based on the relative positional relationship between the substrate 1 and the ejection head unit 12. It may be defined as follows. In the former case, droplet discharge is performed based on the passage of time, whereas in the latter case, for example, whether the substrate 1 has reached a position where droplets should be discharged from the discharge head unit 12 or not. The droplet discharge is controlled.

画像処理部83は、撮影部5から送られる画像信号に基づいて、ノイズ除去やコントラスト調整などの画像処理を適宜行い、基板1の表面画像に関する画像データ93を生成する。検査部85は、画像処理部83によって取得された画像データ93に基づいて、スペーサ粒子分散液が着弾した着弾位置を取得する。また、検査部85は、補正用パターンの理想的な着弾位置と、実際の着弾位置とを比較することによって、着弾位置のズレ量を取得する。さらに検査部85は、該ズレ量を測定することによって、基板1の移動に応じた、吐出ヘッド18と基板1との間の離間距離の変動を検査する。検査部85は、離間距離の変動の検査結果を検査結果データ95として記憶部9に格納する。ここで、離間距離の変動に伴う、吐出タイミングの補正について具体的に説明する。   The image processing unit 83 appropriately performs image processing such as noise removal and contrast adjustment based on the image signal sent from the photographing unit 5 to generate image data 93 relating to the surface image of the substrate 1. The inspection unit 85 acquires the landing position where the spacer particle dispersion has landed based on the image data 93 acquired by the image processing unit 83. Further, the inspection unit 85 obtains the amount of deviation of the landing position by comparing the ideal landing position of the correction pattern with the actual landing position. Further, the inspection unit 85 inspects the variation in the separation distance between the ejection head 18 and the substrate 1 according to the movement of the substrate 1 by measuring the deviation amount. The inspection unit 85 stores the inspection result of the variation in the separation distance in the storage unit 9 as the inspection result data 95. Here, the correction of the ejection timing accompanying the variation in the separation distance will be specifically described.

<吐出タイミングの補正>
図8は、吐出ヘッドユニット12から処理液であるスペーサ粒子分散液を吐出する様子を示す概略側面図である。
<Discharge timing correction>
FIG. 8 is a schematic side view showing a state in which the spacer particle dispersion liquid as the processing liquid is discharged from the discharge head unit 12.

図8に示したように、吐出ヘッドユニット12(詳細には吐出口19)から吐出されたスペーサ粒子分散液の液滴191は、鉛直方向に落下する。このとき、テーブル11はy軸に沿って移動しているため、y軸方向における、液滴191の着弾位置は、吐出時の位置から移動することとなる。具体的にこの着弾位置の移動量をDvとして、液滴191の落下速度をVd、テーブル11の移動速度をVs、吐出ヘッドユニット12(具体的には、吐出口19)と基板1表面との間の間隔(離間距離)をGapとすると、以下の等式が成立する。   As shown in FIG. 8, the droplets 191 of the spacer particle dispersion discharged from the discharge head unit 12 (specifically, the discharge port 19) fall in the vertical direction. At this time, since the table 11 is moving along the y-axis, the landing position of the droplet 191 in the y-axis direction is moved from the position at the time of ejection. Specifically, the movement amount of the landing position is Dv, the drop speed of the droplet 191 is Vd, the movement speed of the table 11 is Vs, and the discharge head unit 12 (specifically, the discharge port 19) and the surface of the substrate 1 are When the gap (separation distance) is Gap, the following equation is established.

Dv=Vs*(Gap/Vd) ・・・ 式(1)
ここで、離間距離に意図しない変動が生じなければ、基板1上の理想位置にスペーサ粒子分散液を着弾させることができる。しかしながら、テーブル11を移動させると、その移動精度に応じて、離間距離に意図しない変動が生じる場合がある。このように離間距離が変動すると、液滴191の実際の着弾位置が理想的な着弾位置からずれてしまうこととなる。
Dv = Vs * (Gap / Vd) (1)
Here, the spacer particle dispersion liquid can be landed on the ideal position on the substrate 1 if there is no unintentional fluctuation in the separation distance. However, when the table 11 is moved, an unintended variation may occur in the separation distance depending on the movement accuracy. When the separation distance varies as described above, the actual landing position of the droplet 191 is deviated from the ideal landing position.

具体的に、離間距離が想定よりも小さくなった場合、液滴191が基板1に着弾するタイミングが想定よりも早くなってしまう。したがって、理想位置よりも基板1の移動方向と同方向にずれて着弾することとなる。これに対して、離間距離が想定よりも大きくなった場合は、着弾するタイミングが遅延されるため、液滴191は理想位置よりも基板1の移動方向とは逆方向にずれて着弾することとなる。   Specifically, when the separation distance becomes smaller than expected, the timing at which the liquid droplet 191 lands on the substrate 1 is earlier than expected. Therefore, it will land in the same direction as the movement direction of the substrate 1 with respect to the ideal position. On the other hand, when the separation distance is larger than expected, the landing timing is delayed, and therefore the droplet 191 is landed with a deviation from the ideal position in the direction opposite to the moving direction of the substrate 1. Become.

図2に示したスペーサ領域31の形成を理想的に行うためには、基板1の移動に伴う離間距離の変動を検出して、該離間距離の変動に応じて吐出タイミングを補正することが望ましい。そこで本実施形態では、液滴吐出装置100によって基板1に補正用パターンを描画し、形成されたパターンと理想的な補正用パターンとを比較する。このとき、離間距離の意図しない変動は、スペーサ粒子分散液が着弾する理想的な位置と実際に着弾した位置の相違として検出される。液滴吐出装置100は、この着弾位置の相違から、吐出タイミングの補正を行う。具体的には、補正部89が、この吐出タイミングを補正するための補正量を所要の演算により算出する。次に、補正量を算出する方法について説明する。   In order to ideally form the spacer region 31 shown in FIG. 2, it is desirable to detect the variation in the separation distance accompanying the movement of the substrate 1 and correct the ejection timing according to the variation in the separation distance. . Therefore, in the present embodiment, a correction pattern is drawn on the substrate 1 by the droplet discharge device 100, and the formed pattern is compared with an ideal correction pattern. At this time, the unintended fluctuation of the separation distance is detected as a difference between an ideal position where the spacer particle dispersion is landed and a position where it is actually landed. The droplet discharge device 100 corrects the discharge timing from the difference in landing position. Specifically, the correction unit 89 calculates a correction amount for correcting the discharge timing by a required calculation. Next, a method for calculating the correction amount will be described.

図9は、理想的な補正用パターンが描画された基板1の表面を示す概略平面図である。また図10は、補正用パターンが形成された基板1の表面の一例を示す概略平面図である。なお、図9および図10においては、基板1の表面の一部分のみが図示されている。また図9では、基板1に補正用パターンを描画するときの複数の吐出口19(吐出口19a〜19j)の相対的な位置が概念的に図示されている。   FIG. 9 is a schematic plan view showing the surface of the substrate 1 on which an ideal correction pattern is drawn. FIG. 10 is a schematic plan view showing an example of the surface of the substrate 1 on which the correction pattern is formed. 9 and 10, only a part of the surface of the substrate 1 is shown. 9 conceptually illustrates the relative positions of the plurality of ejection ports 19 (ejection ports 19a to 19j) when the correction pattern is drawn on the substrate 1. FIG.

図9,10においては、左手系のXY座標系を付している。このXY座標系は、基板1上において定義される座標系であり、基板1の移動(テーブル11の移動)により、xyz座標系に対して相対的に移動する座標系となっている。ただし、X軸方向はx軸方向と平行であり、Y軸方向はy軸方向と平行としている。以下の説明において、基板1上の地点の位置は、このXY座標系における位置をいうものとする。   9 and 10, a left-handed XY coordinate system is attached. This XY coordinate system is a coordinate system defined on the substrate 1, and is a coordinate system that moves relative to the xyz coordinate system by the movement of the substrate 1 (the movement of the table 11). However, the X-axis direction is parallel to the x-axis direction, and the Y-axis direction is parallel to the y-axis direction. In the following description, the position of the point on the substrate 1 refers to the position in this XY coordinate system.

本実施形態では、補正用パターンとして、格子点状パターンを基板1の表面に描画するように第二吐出タイミングデータ92が設定されている。ここで、格子点状パターンとは、図9に示したように、縦方向(Y軸方向)または横方向(X軸方向)に関して、所要間隔で周期的にスペーサ粒子分散液を塗布することにより形成されるパターンをいう。図9では、ドットD01〜D16からなる格子点状パターンを図示している。ドットD01〜D16のそれぞれは、単一の吐出口19(吐出口19a,19d,19gまたは19j)から吐出されるスペーサ粒子分散液の液滴191が基板1に着弾したものに相当する。 In the present embodiment, the second ejection timing data 92 is set so as to draw a lattice point pattern on the surface of the substrate 1 as the correction pattern. Here, as shown in FIG. 9, the lattice point pattern is formed by periodically applying spacer particle dispersion liquid at a required interval in the vertical direction (Y-axis direction) or the horizontal direction (X-axis direction). A pattern to be formed. FIG. 9 illustrates a lattice point pattern composed of dots D 01 to D 16 . Each of the dots D 01 to D 16 corresponds to a droplet 191 of the spacer particle dispersion liquid discharged from the single discharge port 19 (discharge port 19a, 19d, 19g or 19j) landing on the substrate 1.

また、本実施形態では、Y軸に沿って一直線上に並ぶドットは、同一の吐出口19から所要時間間隔でスペーサ粒子分散液の液滴191が吐出されることにより形成される。例えば、ドットD01,D05,D09,D13は、吐出口19aから順次吐出された液滴191によって形成される。また、本実施形態では、基板1がY軸方向に沿って一方向(図9中、矢頭で示す「移動方向」であり+Y方向)に1回移動することによって、補正用パターンが形成されるようにしている。したがって、図9に示した例では、最初にドットD01〜D04が形成され、その次にドットD05〜D08,その次にドットD09〜D12、そして最後にドットD13〜ドットD16が形成されることとなる。なお、テーブル11をy軸方向に沿って往復移動させることで、ドットD01〜D16を形成するようにすることも可能である、しかしながら、ここでは、理解を容易にするため、基板1を一方向にのみ移動させて補正用パターンを形成させるものとする。 In the present embodiment, the dots arranged in a straight line along the Y axis are formed by discharging the droplets 191 of the spacer particle dispersion liquid from the same discharge port 19 at a required time interval. For example, the dots D 01 , D 05 , D 09 , and D 13 are formed by droplets 191 that are sequentially discharged from the discharge port 19a. In the present embodiment, the correction pattern is formed by the substrate 1 moving once in one direction along the Y-axis direction (the “moving direction” indicated by an arrow in FIG. 9 and the + Y direction). I am doing so. Accordingly, in the example shown in FIG. 9, dots D 01 to D 04 are formed first, then dots D 05 to D 08 , then dots D 09 to D 12 , and finally dots D 13 to D 12 D 16 will be formed. It is also possible to form dots D 01 to D 16 by reciprocating the table 11 along the y-axis direction. However, here, in order to facilitate understanding, the substrate 1 is The correction pattern is formed by moving only in one direction.

本実施形態では、吐出ヘッド18に設けられている多数の吐出口19のうちの一部のみからスペーサ粒子分散液が吐出されることにより補正用パターンが形成される。図9に示した例では、吐出口19a〜19jのうち、一部の吐出口19a,19d,19g,19jからのみ液滴191を吐出するようにしている。換言すると、ドットD01〜D16のうち、X軸方向に関して隣り合う2つのドット(例えばドットD01,D02)は、1つ以上の吐出口19(吐出口19b,19c)を飛ばして選択される2つの吐出口19(吐出口19a,19d)からスペーサ粒子分散液が吐出されることにより形成される。 In the present embodiment, the correction pattern is formed by discharging the spacer particle dispersion from only some of the many discharge ports 19 provided in the discharge head 18. In the example shown in FIG. 9, the liquid droplets 191 are ejected only from some of the ejection ports 19a, 19d, 19g, and 19j among the ejection ports 19a to 19j. In other words, of the dots D 01 to D 16 , two adjacent dots (for example, dots D 01 and D 02 ) in the X-axis direction are selected by skipping one or more discharge ports 19 (discharge ports 19b and 19c). The spacer particle dispersion is discharged from the two discharge ports 19 (discharge ports 19a and 19d).

なお、補正用パターンを形成するときのテーブル11の移動速度は、基板1にスペーサ領域31を形成するとき同じになるように設定されている。これにより、スペーサ領域31形成時に生じ得る離間距離の変動を同じように再現することができる。また、本実施形態では、テーブル11の移動開始位置、移動終了位置、およびテーブル11の加速条件なども一致させることで、スペーサ領域31形成時に生じる離間距離の変動を、補正用パターン形成時において略完全に再現するようにしている。   The moving speed of the table 11 when forming the correction pattern is set to be the same when forming the spacer region 31 on the substrate 1. Thereby, the fluctuation | variation of the separation distance which may arise at the time of spacer region 31 formation can be reproduced similarly. In the present embodiment, the movement start position, the movement end position, the acceleration condition of the table 11 and the like of the table 11 are also matched, so that the variation in the separation distance that occurs when the spacer region 31 is formed is substantially reduced when the correction pattern is formed. I try to reproduce it completely.

また、テーブル11上における基板1の配置位置は、補正用パターン形成時とスペーサ領域31形成時とで略一致させている。これにより、基板1上における補正用パターンを構成するドット(例えば、ドットD01〜D16)の位置情報を、そのままスペーサ領域31を形成するときの基板1上の位置情報として扱うことができる。ただし、補正パターン形成時とスペーサ領域31形成時とで、テーブル11上における基板1の配置位置が異なっていたとしても、基板1に描画された補正用パターンのドットの位置情報を、配置位置の相違分だけシフトさせる演算処理を行えばよい。 Further, the position of the substrate 1 on the table 11 is substantially the same when the correction pattern is formed and when the spacer region 31 is formed. Thereby, the position information of the dots (for example, dots D 01 to D 16 ) constituting the correction pattern on the substrate 1 can be handled as the position information on the substrate 1 when the spacer region 31 is formed as it is. However, even if the arrangement position of the substrate 1 on the table 11 is different between when the correction pattern is formed and when the spacer region 31 is formed, the position information of the dots of the correction pattern drawn on the substrate 1 is used as the arrangement position. An arithmetic process for shifting by the difference may be performed.

また、図9に示した補正用パターンの構成するドットを形成する基板1上の位置は、スペーサ領域31を形成する地点の一部に一致していてもよい。この場合、ドットの形成位置のズレ量から算出される吐出タイミングの補正量を、該形成位置に対応するスペーサ領域31の形成時に適用することができる。   Further, the position on the substrate 1 where the dots constituting the correction pattern shown in FIG. 9 are formed may coincide with a part of the point where the spacer region 31 is formed. In this case, the ejection timing correction amount calculated from the shift amount of the dot formation position can be applied when the spacer region 31 corresponding to the formation position is formed.

ここで、補正用パターンの形成中に、離間距離に意図しない変動が生じることで、ドットD01〜D16の位置が、図9に示した理想的な位置からずれるケースを想定する。図10に示した例では、補正用パターンとしてドットDa01〜Da16が形成されているが、一部のドットDa03,Da07,Da10,Da11が理想的な位置(つまり、ドットD01〜D16が形成される位置)に形成されずに、基板1の移動方向に平行なy軸方向に沿ってその着弾位置がずれている。 Here, it is assumed that the positions of the dots D 01 to D 16 deviate from the ideal positions shown in FIG. 9 due to unintentional fluctuations in the separation distance during the formation of the correction pattern. In the example shown in FIG. 10, dots Da 01 to Da 16 are formed as correction patterns, but some of the dots Da 03 , Da 07 , Da 10 , Da 11 are ideal positions (that is, dots D The landing positions are shifted along the y-axis direction parallel to the movement direction of the substrate 1 without being formed at positions 01 to D 16 .

具体的に、ドットDa03,Da11は、基板1の移動方向と同方向に距離dDv03,dDv11だけ位置ズレしている。このことから、ドットDa03,Da11が形成されるべき位置(つまり、ドットD03,D11が形成される位置)では、基板1と吐出ヘッド18(具体的には吐出口19g)との間の離間距離が、想定よりも短くなっていることが予想される。また、ドットDa07,Da10は、基板1の移動方向とは逆方向にdDv07,dDv10分の距離だけ位置ズレしている。このことから、ドットDa07,Da10が形成されるべき位置(つまり、ドットD07,D10が形成されるべき位置)における基板1と吐出ヘッド18(より具体的には吐出口19dまたは吐出口19g)との間の離間距離が、想定よりも長くなっていることが予想される。 Specifically, the dots Da 03 and Da 11 are displaced by distances dDv 03 and dDv 11 in the same direction as the movement direction of the substrate 1. Therefore, at the position where the dots Da 03 and Da 11 are to be formed (that is, the position where the dots D 03 and D 11 are formed), the substrate 1 and the discharge head 18 (specifically, the discharge port 19g) are not connected. It is expected that the distance between them is shorter than expected. Further, the dots Da 07 and Da 10 are displaced by a distance of dDv 07 and dDv 10 in the direction opposite to the moving direction of the substrate 1. From this, the substrate 1 and the discharge head 18 (more specifically, the discharge port 19d or the discharge port) at positions where the dots Da 07 and Da 10 are to be formed (that is, positions where the dots D 07 and D 10 are to be formed). It is expected that the separation distance from the outlet 19g) is longer than expected.

ここで、離間距離(Gap)の想定値からの変動量をdGapとし、着弾位置のズレ量をdDvとすると、離間距離の変動量は、以下の数式で表すことができる。   Here, when the fluctuation amount from the assumed value of the separation distance (Gap) is dGap and the deviation amount of the landing position is dDv, the fluctuation amount of the separation distance can be expressed by the following formula.

dGap=Vs*(dDv/Vd) ・・・ 式(2)
上記式(2)に示されるように、離間距離の変動量dGapは、着弾位置のズレ量dDvを変数とする関数として定義される。したがって、着弾位置のズレ量dDvを取得することと、離間距離の変動を検出することとは等価となっている。したがって、着弾位置のズレ量は、離間距離の変動に関する情報と言うこともできる。
dGap = Vs * (dDv / Vd) (2)
As shown in the above equation (2), the fluctuation amount dGap of the separation distance is defined as a function having the landing position deviation amount dDv as a variable. Therefore, obtaining the landing position deviation amount dDv is equivalent to detecting the variation in the separation distance. Therefore, it can be said that the deviation amount of the landing position is information relating to the variation in the separation distance.

なお、吐出口19から吐出される液滴191の大きさが想定している大きさと異なると、落下速度などに違いが生じてしまい、着弾位置がずれてしまう虞がある。そこで、吐出タイミングの補正を高精度に行うためには、吐出口19からの液滴191の吐出量は、予め調整されていることが望ましい。   If the size of the droplet 191 discharged from the discharge port 19 is different from the assumed size, a drop speed or the like may be different, and the landing position may be shifted. Therefore, in order to correct the ejection timing with high accuracy, the ejection amount of the droplet 191 from the ejection port 19 is desirably adjusted in advance.

検査部85は、図10に示したような基板1に形成されているドットの位置情報と、各ドットの着弾位置のズレ量とを検査結果データ95として記憶部9に格納する。つまり検査結果データ95は、基板1上の位置(X軸方向の位置およびY軸方向の位置)と、その位置での着弾位置のズレ量(離間距離の変動量(dGap)に相関する。)とで構成される3次元データの集合とされる。なお、着弾位置のズレ量の代わりに、上記式(2)などから算出される離間距離の変動量(dGap)を、検査結果データ95の一部としてもよい。   The inspection unit 85 stores the position information of the dots formed on the substrate 1 as shown in FIG. 10 and the deviation amount of the landing position of each dot in the storage unit 9 as inspection result data 95. That is, the inspection result data 95 correlates with the position on the substrate 1 (the position in the X-axis direction and the position in the Y-axis direction) and the landing position shift amount at that position (the variation amount (dGap) of the separation distance). And a set of three-dimensional data. Note that the fluctuation amount (dGap) of the separation distance calculated from the above equation (2) or the like may be a part of the inspection result data 95 instead of the landing position deviation amount.

ところで、図10に示したような補正用パターンのドットの位置については、画像処理部83によって取得された画像データから取得することができる。具体的には、検査部85が画像データ93から各ドットを画像認識により抽出して、各ドットの中心または重心などの位置情報を、各ドットの位置情報として取得するようにすればよい。このドットの画像認識については、従来の画像認識技術またはこれに類似する各種画像処理技術を適用することで容易に実現できる。   Incidentally, the positions of the dots of the correction pattern as shown in FIG. 10 can be acquired from the image data acquired by the image processing unit 83. Specifically, the inspection unit 85 may extract each dot from the image data 93 by image recognition and acquire position information such as the center or the center of gravity of each dot as the position information of each dot. This dot image recognition can be easily realized by applying a conventional image recognition technique or various image processing techniques similar thereto.

図7に戻って、検査部85によって検査結果データ95が生成されると、補間部87により、検査結果データ95について、補間処理が行われる。この補間処理について、図11および図12を参照しつつ説明する。   Returning to FIG. 7, when the inspection result data 95 is generated by the inspection unit 85, the interpolation unit 87 performs interpolation processing on the inspection result data 95. This interpolation processing will be described with reference to FIGS.

<補間処理>
図11および図12は、図10に示した補正用パターンの一部を示す概略平面図である。上述したように、本実施形態では、補正用パターンを格子点状パターンとしている。このため、検査部85によって着弾位置のズレ量(dDv)を測定した地点(つまり、離間距離の変動(dGap)を検査した地点)は、図10に示したように、基板1上において、所要間隔をあけて離散的に分散している。したがって、基板1上において、離間距離の変動が検査されていない地点は、多数存在していることとなる。
<Interpolation process>
11 and 12 are schematic plan views showing a part of the correction pattern shown in FIG. As described above, in the present embodiment, the correction pattern is a lattice point pattern. For this reason, the point at which the deviation amount (dDv) of the landing position is measured by the inspection unit 85 (that is, the point at which the variation (dGap) in the separation distance is inspected) is required on the substrate 1 as shown in FIG. It is dispersed discretely at intervals. Therefore, there are many points on the substrate 1 where the variation in the separation distance is not inspected.

補間部87は、この基板1上で離間距離の変動が検出されていない地点における離間距離の変動を所定の演算処理に基づいて補間する。この補間処理は、検査部85による検査結果に基づいて実施される。本実施形態においては、補間部87は、X軸方向に沿った補間処理と、Y軸方向に沿った補間処理とを独立して行う。それぞれの補間処理について、図11または図12を参照しつつ具体的に説明する。   The interpolation unit 87 interpolates the variation in the separation distance at a point where the variation in the separation distance is not detected on the substrate 1 based on a predetermined calculation process. This interpolation processing is performed based on the inspection result by the inspection unit 85. In the present embodiment, the interpolation unit 87 performs the interpolation process along the X-axis direction and the interpolation process along the Y-axis direction independently. Each interpolation processing will be specifically described with reference to FIG. 11 or FIG.

図11は、X軸方向に沿った補間処理を説明するための図である。ここでは、補間処理によって、ドットD10,D11の間における離間距離の変動を推定する場合について具体的に説明する。この場合、ドットD10,D11形成時の着弾位置のズレ量dDv10,dDv11と、各ドットD10,D11のX軸方向における位置との相関を示すスプライン曲線SC1の関数が取得される。このスプライン曲線SC1の関数は、n次の多項式(nは0以上の任意の整数)で定義される。なお、各ドットD10,D11のX軸方向に関する位置は、ドットD10,D11を通る直線SL1上に任意に設定される図示しない原点を基準として定義される。 FIG. 11 is a diagram for explaining the interpolation processing along the X-axis direction. Here, by interpolation will be described in detail the case of estimating the variation of the distance between the dots D 10, D 11. In this case, the shift amount dDv 10, dDv11 landing positions when dot D 10, D 11 form, function spline curve SC1 showing the correlation between the position in the X-axis direction of each dot D 10, D 11 is obtained . The function of the spline curve SC1 is defined by an nth order polynomial (n is an arbitrary integer greater than or equal to 0). The positions of the dots D 10 and D 11 in the X-axis direction are defined with reference to an unillustrated origin that is arbitrarily set on the straight line SL1 passing through the dots D 10 and D 11 .

スプライン曲線SC1は、図11に示したように、実際に形成されたドットDa10,Da11を通る(ここでは、中心点を通る)曲線と捉えることも可能である。このようなスプライン曲線SC1の関数を求めることによって、ドットを形成していない部分(つまり、離間距離の変動を検査していない部分)における着弾位置のズレ量を仮想的に取得できる。この仮想的に取得された着弾位置のズレ量から、離間距離の変動を演算により取得することができる。つまり、離間距離の変動が検査されていない部分についても、離間距離の変動を推定することが可能となる。 As shown in FIG. 11, the spline curve SC1 can also be regarded as a curve passing through the actually formed dots Da 10 and Da 11 (here, passing through the center point). By obtaining such a function of the spline curve SC1, it is possible to virtually acquire the deviation amount of the landing position in the portion where dots are not formed (that is, the portion where the variation in the separation distance is not inspected). The fluctuation of the separation distance can be obtained by calculation from the amount of deviation of the landing position virtually obtained. That is, it is possible to estimate the variation in the separation distance even for the portion where the variation in the separation distance is not inspected.

例えば、格子点状の補正用パターンを形成した場合、図11に示したように、吐出口19d,19gから液滴191が吐出されており、それらに挟まれる吐出口19e,19fからは液滴191が吐出されない。したがって、吐出口19e,19fに対応する位置における離間距離の変動は、検査部85によって検査されないこととなる。しかしながら、補間部87によって、これらの吐出口19e,19fから吐出したと想定した場合における、離間距離の変動を補間することができる。   For example, when a grid-point correction pattern is formed, as shown in FIG. 11, droplets 191 are discharged from the discharge ports 19d and 19g, and droplets are discharged from the discharge ports 19e and 19f sandwiched between them. 191 is not discharged. Therefore, the variation in the separation distance at the position corresponding to the discharge ports 19e and 19f is not inspected by the inspection unit 85. However, the interpolator 87 can interpolate fluctuations in the separation distance when it is assumed that the liquid is discharged from these discharge ports 19e and 19f.

具体的に、第二吐出タイミングデータ92において、吐出口19e,19fから直線SL1上に液滴191を吐出するように設定されていたと仮定する。すると、ドットD10,D11間における離間距離の変動を想定した場合、吐出口19e,19fから吐出された液滴191の着弾位置は、スプライン曲線SC1上の地点L1,L2となることが推定される。この地点L1,L2は、吐出口19e,19fが基板1に対して相対的に移動するときの移動軌跡線と、スプライン曲線SC1との交差部分である。そこで地点L1,L2の直線SL1からのY軸方向のズレ量dDv21,dDv22を算出することで、吐出口19e,19fに対応する位置での離間距離の変動を算出することができる。 Specifically, it is assumed that the second discharge timing data 92 is set to discharge the droplet 191 from the discharge ports 19e and 19f onto the straight line SL1. Then, assuming that the separation distance between the dots D 10 and D 11 varies, it is estimated that the landing positions of the liquid droplets 191 discharged from the discharge ports 19e and 19f are points L1 and L2 on the spline curve SC1. Is done. The points L1 and L2 are intersections between the movement trajectory line when the discharge ports 19e and 19f move relative to the substrate 1 and the spline curve SC1. Therefore, by calculating the deviation amounts dDv 21 and dDv 22 in the Y-axis direction from the straight line SL1 of the points L1 and L2, the variation in the separation distance at the position corresponding to the discharge ports 19e and 19f can be calculated.

以上のような補間処理を、他のX軸方向において隣り合う2つのドット間に適用することによって、各ドット間における、X軸方向に沿った離間距離の変動を容易に推定することができる。次にY軸方向に関する補間処理について説明する。   By applying the interpolation processing as described above between two adjacent dots in the other X-axis direction, it is possible to easily estimate the variation in the separation distance along the X-axis direction between the dots. Next, the interpolation process regarding the Y-axis direction will be described.

図12は、Y軸方向に関する補間処理を説明するための図である。ここでは、ドットD07,D11の間に関して補間処理を行う場合について具体的に説明する。この場合、実際に形成されたドットDa07,Da11の着弾位置のズレ量dDv07,dDv11と、ドットD07,D11のY軸方向における位置との相関を示すスプライン曲線SC2の関数が取得される。なお、ドットD07,D11のY軸方向における位置は、ドットD07,D11を通る直線SL2上に任意に設定される図示しない原点を基準にしてそれぞれ定義される。このスプライン曲線SC2の関数から、ドットD07とドットD11の間の各地点に対して、仮想的に液滴191を吐出した場合の、着弾位置のズレ量を算出することができる。そしてこの算出されたズレ量から、ドットD07,D11間における離間距離の変動を推定することができる。 FIG. 12 is a diagram for explaining the interpolation processing in the Y-axis direction. Here, the case where the interpolation process is performed between the dots D 07 and D 11 will be specifically described. In this case, the shift amount DDV 07, DDV 11 of the landing position of the actually formed dot Da 07, Da 11, the function of the spline curve SC2 showing the correlation between the position in the Y-axis direction of the dot D 07, D 11 To be acquired. The position in the Y-axis direction of the dot D 07, D 11 are defined, respectively, relative to the origin (not shown) which is arbitrarily set on a straight line SL2 which passes through the dot D 07, D 11. The function of the spline curve SC2, for each point between the dots D 07 and the dot D 11, can be calculated, the shift amount of the landing position when ejected virtually droplets 191. Then, the fluctuation of the separation distance between the dots D 07 and D 11 can be estimated from the calculated deviation amount.

補間部87は、以上のような補間処理を、他のY軸方向に関して隣り合うドット間に関して行う。これにより、基板1上の各ドット間におけるY軸方向に沿った離間距離の変動を容易に推定することができる。   The interpolation unit 87 performs the above-described interpolation processing between adjacent dots in the other Y-axis direction. Thereby, the fluctuation | variation of the separation distance along the Y-axis direction between each dot on the board | substrate 1 can be estimated easily.

なお、図11,12に示した例では、スプライン曲線SC1,SC2を補間方法として利用しているが、その他の一般的なデータ補間方法(例えばラグランジュ補間、ニュートン補間など)を適用してもよい。いずれのデータ補間方法が採用されたとしても、基板1に実際に形成された複数のドットの着弾位置のズレ量と、各ドットの位置情報との相関関係に基づいてデータ補間が行われる。   In the examples shown in FIGS. 11 and 12, the spline curves SC1 and SC2 are used as the interpolation method, but other general data interpolation methods (for example, Lagrange interpolation, Newton interpolation, etc.) may be applied. . Regardless of which data interpolation method is employed, data interpolation is performed based on the correlation between the deviation amounts of the landing positions of a plurality of dots actually formed on the substrate 1 and the positional information of each dot.

また、本実施形態では、X軸方向またはY軸方向に沿ってデータ補間するようにしているが、X軸方向およびY軸方向の双方に成分を持つ斜め方向に沿ってデータ補間することも可能である。この場合は、この斜め方向に沿って並ぶ2つのドット(例えばドットD01,D06など)を抽出し、それぞれのドットの位置情報と実際に描画されたそれぞれのドットの着弾位置のズレ量との相関関係から、スプライン曲線などのデータ補間用の関数を算出すればよい。 In this embodiment, data interpolation is performed along the X-axis direction or the Y-axis direction. However, data interpolation is also possible along an oblique direction having components in both the X-axis direction and the Y-axis direction. It is. In this case, two dots arranged in the oblique direction (for example, dots D 01 , D 06, etc.) are extracted, and the positional information of each dot and the amount of deviation of the landing position of each actually drawn dot From this correlation, a data interpolation function such as a spline curve may be calculated.

また、本実施形態では、ある地点のX軸方向またはY軸方向の位置情報(つまり一次元の位置情報)と、その地点での着弾位置のズレ量との相関から、スプライン曲線の関数を求めるようにしている。しかしながら、各地点のX軸方向およびY軸方向における位置情報(つまり2次元の位置情報)と、各地点での着弾位置のズレ量の相関関係を示す、スプライン曲面の関数を取得するようにしてもよい。このような関数を用いることで、基板1上のあらゆる地点における離間距離の変動を、容易に推定することが可能となる。   Further, in the present embodiment, a function of a spline curve is obtained from the correlation between the position information (that is, one-dimensional position information) in the X-axis direction or Y-axis direction at a certain point and the amount of deviation of the landing position at that point. I am doing so. However, a function of the spline curved surface indicating the correlation between the positional information of each point in the X-axis direction and the Y-axis direction (that is, two-dimensional positional information) and the deviation amount of the landing position at each point is acquired. Also good. By using such a function, it is possible to easily estimate the variation in the separation distance at any point on the substrate 1.

なお、補間部87は、基板1上のスペーサ領域31が形成される全地点のうち、検査部85によって着弾位置のズレ量が検査されていない地点について、仮想的なズレ量を補間処理により取得する。これにより、スペーサ領域31が形成される地点における離間距離の変動量を取得することができる。補間部87は、その補間処理結果を補間後データ96として記憶部9に格納する(図7参照)。以上が補間処理についての説明である。   The interpolation unit 87 obtains a virtual deviation amount by interpolation processing for all points where the spacer region 31 on the substrate 1 is formed, for points where the deviation amount of the landing position is not inspected by the inspection unit 85. To do. Thereby, the variation | change_quantity of the separation distance in the point in which the spacer area | region 31 is formed is acquirable. The interpolation unit 87 stores the interpolation processing result in the storage unit 9 as post-interpolation data 96 (see FIG. 7). The above is the description of the interpolation process.

補正部89は、補間後データ96を参照して、第一吐出タイミングデータ91を補正する。詳細には、補正部97は、スペーサ領域31を形成させる各地点のうち、離間距離が想定よりも短くなっているとされる地点については、その距離分に相当する時間量だけ、吐出タイミングを遅延させるように第一吐出タイミングデータ91を補正する。一方、離間距離が想定よりも長くなっているとされる地点については、補間部87は、その距離分に相当する時間量だけ、吐出タイミングを早めるように第一吐出タイミングデータ91を補正する。吐出制御部81は、このようにして補正された第一吐出タイミングデータ91に基づいて液滴191の吐出を行う。これにより、基板1上において、基板1上の理想的な位置に、スペーサ領域31を形成することができる。   The correction unit 89 corrects the first ejection timing data 91 with reference to the post-interpolation data 96. Specifically, the correction unit 97 sets the discharge timing for each point where the spacer region 31 is formed at a point where the separation distance is shorter than expected, by the amount of time corresponding to the distance. The first ejection timing data 91 is corrected so as to be delayed. On the other hand, for a point where the separation distance is longer than expected, the interpolation unit 87 corrects the first discharge timing data 91 so as to advance the discharge timing by the amount of time corresponding to the distance. The discharge controller 81 discharges the droplet 191 based on the first discharge timing data 91 corrected in this way. Thereby, the spacer region 31 can be formed at an ideal position on the substrate 1 on the substrate 1.

なお、図9に示した補正用パターンの構成するドットを形成する基板1上の位置を、スペーサ領域31を形成する地点の一部に一致させた場合、補正用パターンドットの形成位置のズレ量から算出される吐出タイミングの補正量を、該位置に対応するスペーサ領域31の形成時に適用できる。したがって、補正用パターンのドットの形成位置に対応するスペーサ領域31の基板1上の地点に関して、改めて離間距離の変動に関する情報を取得する必要がないため、補正処理に必要な演算処理または時間を軽減することができる。ただし、基板1上における、補正用パターンのドットの形成位置と、スペーサ領域31の形成位置とは、必ずしも一致していなくてもよい。このような場合であっても、上述した補間処理によって、スペーサ領域31が形成される地点の、離間距離の変動に関する情報は取得可能である。   In addition, when the position on the substrate 1 on which the dots constituting the correction pattern shown in FIG. 9 are formed coincides with a part of the point where the spacer region 31 is formed, the shift amount of the correction pattern dot formation position The correction amount of the ejection timing calculated from the above can be applied when the spacer region 31 corresponding to the position is formed. Therefore, since it is not necessary to acquire information regarding the variation in the separation distance for the point on the substrate 1 in the spacer region 31 corresponding to the dot formation position of the correction pattern, the calculation process or time required for the correction process is reduced. can do. However, the dot formation position of the correction pattern on the substrate 1 and the spacer region 31 formation position do not necessarily coincide with each other. Even in such a case, it is possible to acquire information related to the variation in the separation distance at the point where the spacer region 31 is formed by the interpolation process described above.

また、本実施形態では、補正用パターンを格子点状に形成している。しかしながら、補正用パターンは、このようなものに限定されるものではない。つまり、液滴191が着弾する位置を測定することができるのであれば、どのような補正用パターンが採用されてもよい。例えば図9,図10に示した例では、同じ吐出口19a,19d,19g,19jからのみ液滴191を吐出することで、Y軸方向に沿ってドットが形成されている。しかしながら、基板1の移動中の位置に応じて、液滴191を吐出する吐出口19の組み合せを切り替えるようにしてもよい。この場合、例えばジグザグ状に分散する複数のドットを補正用パターンとして基板1に形成することができる。   In this embodiment, the correction pattern is formed in a lattice point shape. However, the correction pattern is not limited to such a pattern. That is, any correction pattern may be adopted as long as the position where the droplet 191 reaches can be measured. For example, in the example shown in FIGS. 9 and 10, dots are formed along the Y-axis direction by ejecting the liquid droplets 191 only from the same ejection ports 19a, 19d, 19g, and 19j. However, the combination of the discharge ports 19 for discharging the droplets 191 may be switched depending on the position of the substrate 1 during movement. In this case, for example, a plurality of dots dispersed in a zigzag pattern can be formed on the substrate 1 as a correction pattern.

<2. 第2実施形態>
上記実施形態にかかる液滴吐出装置100は、補正用パターンを基板1に形成して、基板1上の各地点における着弾位置のズレ量から、各地点における吐出ヘッドユニット12と基板1との間の離間距離の変動を検査するように構成されている。しかしながら、離間距離の変動を直接的に測定するようにしてもよい。
<2. Second Embodiment>
The droplet discharge device 100 according to the above embodiment forms a correction pattern on the substrate 1, and determines the distance between the discharge head unit 12 and the substrate 1 at each point from the amount of deviation of the landing position at each point on the substrate 1. It is configured to inspect fluctuations in the separation distance. However, the variation in the separation distance may be directly measured.

図13は、第2実施形態に係る液滴吐出装置100Aの概略構成図である。なお、以下の説明において、第1実施形態の場合と同様の機能を有する要素については同一符号を付してその説明を省略する。   FIG. 13 is a schematic configuration diagram of a droplet discharge device 100A according to the second embodiment. In the following description, elements having the same functions as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted.

液滴吐出装置100Aは、撮影部5の代わりに、ギャップ計測器6を備えている。ギャップ計測器6は、テーブル11の上方の所要位置に固定されており、基板1の表面までの距離を測定する。したがって、ギャップ計測器6によって、テーブル11を駆動したとき(つまり基板1を移動させたとき)の吐出ヘッドユニット12と基板1との間の離間距離の変動を計測することができる。なお、ギャップ計測器6をx軸に沿って移動させる図示しない移動機構を設けられている。この移動機構を駆動してギャップ計測器6をx軸方向に移動させるとともに、基板1をy軸方向に沿って移動させることで、基板1上のあらゆる地点における離間距離の変動を計測することができる。   The droplet discharge device 100 </ b> A includes a gap measuring device 6 instead of the imaging unit 5. The gap measuring device 6 is fixed at a required position above the table 11 and measures the distance to the surface of the substrate 1. Therefore, the gap measuring device 6 can measure the variation in the separation distance between the ejection head unit 12 and the substrate 1 when the table 11 is driven (that is, when the substrate 1 is moved). A movement mechanism (not shown) that moves the gap measuring device 6 along the x-axis is provided. By driving this moving mechanism to move the gap measuring device 6 in the x-axis direction and moving the substrate 1 along the y-axis direction, it is possible to measure fluctuations in the separation distance at any point on the substrate 1. it can.

ギャップ計測器6の構成は、特に限定されるものではないが、例えば光学式変位計を利用することができる。光学式変位計では、レーザー光が投光レンズを通して集光され、該集光されたレーザー光が測定対象物(基板1)に照射される。そして測定対象物から反射された光線の一部について、受光レンズを通して受光素子(光センサ)上にスポットを結ばせる。このとき、測定対象物の変位に応じてスポットの位置が変動する。光学式変位計は、スポットの位置の変動から、測定対象物の変位量を測定するものである。光学式変位計の場合、離間距離をより精密に測定することができる。   The configuration of the gap measuring device 6 is not particularly limited. For example, an optical displacement meter can be used. In the optical displacement meter, laser light is condensed through a light projecting lens, and the collected laser light is irradiated onto a measurement object (substrate 1). Then, a spot is formed on a light receiving element (light sensor) through a light receiving lens for a part of the light beam reflected from the measurement object. At this time, the position of the spot varies according to the displacement of the measurement object. The optical displacement meter measures the amount of displacement of an object to be measured from the variation of the spot position. In the case of an optical displacement meter, the separation distance can be measured more precisely.

図14は、第2実施形態に係る制御部8Aの機能ブロックをデータの流れとともに示す図である。図14に示したように、制御部8Aは、検査部85Aとして機能する。検査部85Aは、基板1上の各地点における吐出ヘッドユニット12と基板1との間の離間距離の測定結果に基づき、離間距離の変動を検査することによって、検査結果データ95を生成し、記憶部9に格納する。   FIG. 14 is a diagram illustrating a functional block of the control unit 8A according to the second embodiment together with a data flow. As shown in FIG. 14, the control unit 8A functions as the inspection unit 85A. The inspection unit 85A generates and stores inspection result data 95 by inspecting the variation in the separation distance based on the measurement result of the separation distance between the ejection head unit 12 and the substrate 1 at each point on the substrate 1. Stored in section 9.

なお、ギャップ計測器6によって離間距離を測定する基板1上の各地点は、スペーサ領域31を形成する地点に一致していてもよい。ただし、スペーサ領域31が形成される地点の数は膨大であるため、全地点での離間距離を測定に時間がかかり、また、補正のための演算量も膨大となる。そこで、第1実施形態と同様に、スペーサ領域31が形成される全地点のうちの一部のみの地点のみについて、離間距離を測定すればよい。その結果に基づいて生成される検査結果データ95に対して、補間部87が補間処理を行うことによって、離間距離が測定されなかった地点においても離間距離の変動を取得することができる。   It should be noted that each point on the substrate 1 where the separation distance is measured by the gap measuring device 6 may coincide with a point where the spacer region 31 is formed. However, since the number of points where the spacer regions 31 are formed is enormous, it takes time to measure the separation distances at all points, and the amount of calculation for correction becomes enormous. Therefore, as in the first embodiment, the separation distance may be measured for only a part of all the points where the spacer region 31 is formed. The interpolation unit 87 performs an interpolation process on the inspection result data 95 generated based on the result, so that the fluctuation of the separation distance can be acquired even at a point where the separation distance is not measured.

なお、液滴吐出装置100Aの場合、ギャップ測定器6による離間距離の測定を、スペーサ領域31を形成する前に予め行ってもよいし、スペーサ領域31を形成する最中にリアルタイムで行ってもよい。後者の場合、基板1上のスペーサ領域31の形成地点が対応する吐出口19の位置に到達する前に、該形成地点における離間距離を測定するようにすればよい。このとき、x軸方向に沿ってギャップ測定器6を複数台並べておけば、基板1上のX軸方向に沿う複数の地点での離間距離を測定することができる。また、この測定結果に基づいて、補間部87により、スプライン曲線などの関数を利用した補間処理を行うことで、複数のギャップ測定器6によって測定されなかった基板1上の地点における離間距離を取得することができる。   In the case of the droplet discharge device 100A, the measurement of the separation distance by the gap measuring device 6 may be performed in advance before forming the spacer region 31, or may be performed in real time during the formation of the spacer region 31. Good. In the latter case, the separation distance at the formation point may be measured before the formation point of the spacer region 31 on the substrate 1 reaches the position of the corresponding discharge port 19. At this time, if a plurality of gap measuring devices 6 are arranged along the x-axis direction, the separation distances at a plurality of points along the X-axis direction on the substrate 1 can be measured. Further, based on the measurement result, the interpolation unit 87 performs an interpolation process using a function such as a spline curve, thereby obtaining a separation distance at a point on the substrate 1 that is not measured by the plurality of gap measuring devices 6. can do.

<3. 変形例>
以上、実施形態について説明してきたが、本発明は上記のようなものに限定されるものではなく、様々な変形が可能である。
<3. Modification>
Although the embodiment has been described above, the present invention is not limited to the above, and various modifications are possible.

例えば、第1実施形態では、説明を容易化するために、基板1を一方向にのみ移動させて補正用パターンを形成して、基板1上の各地点における離間距離の変動を検査するようにしているが、往復移動をさせて補正用パターンを形成することも可能である。この場合、液滴191の着弾位置のズレる方向が、往路移動と復路移動との間で逆転することを考慮する必要がある。   For example, in the first embodiment, for ease of explanation, the correction pattern is formed by moving the substrate 1 only in one direction, and the variation in the separation distance at each point on the substrate 1 is inspected. However, it is also possible to form a correction pattern by reciprocating. In this case, it is necessary to consider that the direction in which the landing position of the droplet 191 deviates between the forward movement and the backward movement.

また、上記実施形態では、液滴吐出装置100,100Aは、液晶表示装置を製造するとして説明している。しかしながら、本発明は、その他の表示装置(プラズマディスプレイ、有機ELディスプレイなど)用の基板や、半導体ウェハ、太陽電池用の基板に、液滴を吐出する装置にも適用可能である。もちろん、本発明は、記録媒体にインクを吐出して画像を記録するインクジェット記録装置にも適用可能である。   In the above-described embodiment, the liquid droplet ejection devices 100 and 100A are described as manufacturing a liquid crystal display device. However, the present invention can also be applied to a device for discharging droplets onto a substrate for other display devices (plasma display, organic EL display, etc.), a semiconductor wafer, or a substrate for solar cells. Of course, the present invention is also applicable to an inkjet recording apparatus that records an image by ejecting ink onto a recording medium.

また、上記各実施形態及び各変形例で説明した各構成は、相互に矛盾しない限り適宜組み合わせることができる。   In addition, the configurations described in the above embodiments and modifications can be appropriately combined as long as they do not contradict each other.

100,100A 液滴吐出装置
1 基板(対象物)
11 テーブル
12 吐出ヘッドユニット
15 リニアモータ
16 ガイド部材
18 吐出ヘッド
19 吐出口
191 液滴
31 スペーサ領域
33 ブラックマトリックス
4 レーザー測長器
5 撮影部
6 ギャップ計測器
8,8A 制御部
81 吐出制御部
83 画像処理部
85,85A 検査部
87 補間部
89 補正部
9 記憶部
91 第一吐出タイミングデータ
92 第二吐出タイミングデータ
93 画像データ
95 検査結果データ
96 補間後データ
97 補正部
CPU
01〜D16,Da01〜Da16 ドット
SC1,SC2 スプライン曲線
100,100A droplet discharge device 1 substrate (object)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 Table 12 Discharge head unit 15 Linear motor 16 Guide member 18 Discharge head 19 Discharge port 191 Droplet 31 Spacer area 33 Black matrix 4 Laser length measuring device 5 Imaging part 6 Gap measuring device 8, 8A Control part 81 Discharge control part 83 Image Processing unit 85, 85A Inspection unit 87 Interpolation unit 89 Correction unit 9 Storage unit 91 First ejection timing data 92 Second ejection timing data 93 Image data 95 Inspection result data 96 Post-interpolation data 97 Correction unit CPU
D 01 ~D 16, Da 01 ~Da 16 dots SC1, SC2 spline curve

Claims (7)

液滴を吐出する複数の吐出口が形成された吐出部に対して対象物を移動機構によって相対的に移動させ、前記吐出部から吐出した前記液滴を前記対象物に着弾させる液滴吐出装置において、
前記吐出部に対して吐出信号を出力することにより、前記吐出口からの液滴の吐出を制御する吐出制御部と、
前記対象物の相対的な移動に応じた、前記吐出部と前記対象物との間の離間距離の変動を、前記対象物上の複数の地点について検査する検査部と、
前記対象物上の領域のうち、前記複数の地点とは異なる地点における前記変動に関する情報を、前記検査部の検査結果に基づいた演算により補間する補間部と、
前記補間部によって取得された前記変動に関する情報に基づいて、前記吐出口からの前記液滴の吐出タイミングを補正する補正部と、
を備え
前記移動機構は、前記吐出部に対して前記対象物を第一方向に沿って移動させ、
複数の前記吐出口は、前記第一方向に直交する第二方向の成分を持つ方向に沿って配列された状態で前記液滴を吐出し、
前記補間部は、前記第一方向及び前記第二方向のそれぞれに関して、前記変動に関する情報を補間し、
前記吐出制御部は、前記対象物に補正用のパターンを形成するように前記吐出部を制御し、
前記検査部は、前記対象物に形成されたパターンと前記補正用のパターンとの比較に基づいて、前記液滴の着弾位置のズレ量を取得し、該ズレ量から前記変動を検査する液滴吐出装置。
A droplet discharge device that moves a target object relative to a discharge unit in which a plurality of discharge ports for discharging droplets are formed by a moving mechanism, and lands the droplet discharged from the discharge unit on the target object In
A discharge control unit that controls discharge of droplets from the discharge port by outputting a discharge signal to the discharge unit;
An inspection unit that inspects a change in a separation distance between the discharge unit and the object according to a relative movement of the object for a plurality of points on the object;
An interpolation unit that interpolates information on the variation at a point different from the plurality of points in the region on the object by calculation based on the inspection result of the inspection unit;
A correction unit that corrects the discharge timing of the droplets from the discharge port based on the information on the variation acquired by the interpolation unit;
Equipped with a,
The moving mechanism moves the object along the first direction with respect to the discharge unit,
The plurality of discharge ports discharge the droplets in a state arranged along a direction having a component in a second direction orthogonal to the first direction,
The interpolation unit interpolates the information on the variation for each of the first direction and the second direction,
The ejection control unit controls the ejection unit to form a correction pattern on the object;
The measurement part based on the comparison of the pattern for the said formed object pattern correction, acquires the shift amount of the landing position of the droplet, the liquid you inspecting the change from the shift amount Drop ejection device.
請求項1に記載の液滴吐出装置において、
前記補間部は、前記変動が検査された前記複数の地点の位置と、前記複数の地点における変動との相関を示す関数に基づいて、前記変動に関する情報を補間する液滴吐出装置。
The droplet discharge device according to claim 1,
The interpolating unit is a droplet ejection device that interpolates information on the variation based on a function indicating a correlation between the positions of the plurality of points where the variation is inspected and variations at the plurality of points.
請求項2に記載の液滴吐出装置において、
前記関数が、スプライン曲線を表す関数である液滴吐出装置。
The droplet discharge device according to claim 2,
The droplet discharge device, wherein the function is a function representing a spline curve.
請求項1から3までのいずれか1項に記載の液滴吐出装置において、  In the droplet discharge device according to any one of claims 1 to 3,
前記検査部は、前記離間距離を測定する測定器の測定結果に基づいて、前記変動を検査する液滴吐出装置。  The inspection unit is a droplet discharge device that inspects the variation based on a measurement result of a measuring instrument that measures the separation distance.
請求項1から4までのいずれか1項に記載の液滴吐出装置において、  In the droplet discharge device according to any one of claims 1 to 4,
前記補正用のパターンが、前記対象物の表面の縦方向および横方向に沿って等間隔で液滴が着弾することにより形成されるパターンである液滴吐出装置。  The droplet discharge device, wherein the correction pattern is a pattern formed by droplets landing at equal intervals along the vertical and horizontal directions of the surface of the object.
請求項1から5までのいずれか1項に記載の液滴吐出装置において、  In the droplet discharge device according to any one of claims 1 to 5,
前記対象物の表面には、ブラックマトリックスが形成されており、  A black matrix is formed on the surface of the object,
前記液滴は、スペーサ粒子を含み、  The droplet includes spacer particles;
前記吐出ノズルが前記ブラックマトリックスに向けて前記液滴を吐出することによって、前記補正用のパターンが形成される液滴吐出装置。  A droplet discharge device in which the correction pattern is formed by the discharge nozzle discharging the droplet toward the black matrix.
液滴を吐出する複数の吐出口が形成された吐出部に対して対象物を移動機構によって相対的に移動させ、前記吐出部から吐出した前記液滴を前記対象物に着弾させる液滴吐出方法において、  A droplet discharge method for moving a target object relative to a discharge unit in which a plurality of discharge ports for discharging droplets are formed by a moving mechanism and landing the droplet discharged from the discharge unit on the target object In
(a) 前記吐出部に対して吐出信号を出力することにより、前記吐出部からの液滴の吐出を制御する工程と、(a) controlling discharge of droplets from the discharge unit by outputting a discharge signal to the discharge unit;
(b) 前記対象物の相対的な移動に応じた、前記吐出部と前記対象物との間の離間距離の変動を、前記対象物上の複数の地点について検査する工程と、(b) inspecting a variation in the separation distance between the ejection unit and the object according to the relative movement of the object at a plurality of points on the object;
(c) 前記対象物上の領域のうち、前記複数の地点とは異なる地点における前記変動に関する情報を、前記(b)工程の検査結果に基づき演算により補間する工程と、(c) the step of interpolating by calculation based on the inspection result of the step (b) the information on the variation at a point different from the plurality of points in the region on the object;
(d) 前記(b)工程および前記(c)工程において取得された前記変動に関する情報に基づいて、前記(a)工程における前記吐出部からの前記液滴の吐出タイミングを補正する工程と、(d) correcting the droplet discharge timing from the discharge unit in the step (a) based on the information on the fluctuation obtained in the step (b) and the step (c);
を含み、Including
前記移動機構は、前記吐出部に対して前記対象物を第一方向に沿って移動させ、  The moving mechanism moves the object along the first direction with respect to the discharge unit,
複数の前記吐出口は、前記第一方向に直交する第二方向の成分を持つ方向に沿って配列された状態で前記液滴を吐出し、  The plurality of discharge ports discharge the droplets in a state arranged along a direction having a component in a second direction orthogonal to the first direction,
前記(a)工程は、前記対象物に補正用のパターンを形成するように前記吐出部を制御する工程であり、  The step (a) is a step of controlling the ejection unit so as to form a correction pattern on the object.
前記(b)工程は、前記対象物に形成されたパターンと前記補正用のパターンとの比較に基づいて、前記液滴の着弾位置のズレ量を取得し、該ズレ量から前記変動を検査する工程であり、  The step (b) obtains a deviation amount of the landing position of the droplet based on a comparison between the pattern formed on the object and the correction pattern, and inspects the variation from the deviation amount. Process,
前記(c)工程は、前記第一方向及び前記第二方向のそれぞれに関して、前記変動に関する情報を補間する工程である、液滴吐出方法。  The step (c) is a droplet discharge method, which is a step of interpolating information regarding the variation with respect to each of the first direction and the second direction.
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