JP5826535B2 - 変位センサシステム、センサ用コントローラ及び表示制御プログラム - Google Patents
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Description
この発明によれば、作業者が設定する基準レベルの値に応じて、複数の信号波形の表示パターンを変更させることができる。
この発明によれば、作業者が表示画面上で複数の信号波形の位置関係を任意に変更することにより、複数の信号波形を比較する基準となる基準レベル及び基準部位を決定することができる。
この発明によれば、一度、基準レベルを設定した後は、これ以降の抽出処理ごとに基準レベルを設定する必要がなく、メモリに記憶されている基準レベルを利用することができる。
図1は、:変位センサシステム10の全体構成を示す概要図である。この変位センサシステム10は、変位センサ11と、当該変位センサ11と信号ケーブルを介して接続されるセンサ用コントローラ12とを備える。同図には、変位センサ11の下方に、複数のワークWを、所定方向、具体的には同図に示す白抜き矢印方向に、順次搬送する搬送機構が有するベルト13が示されている。複数のワークWは、測定対象物の一例であり、本実施形態では、同じ規格で製造された複数の電子部品である。
変位センサ11は、投光素子としてのレーザダイオード(LD)15と、そのレーザダイオード15を駆動するためのLD駆動回路16と、レーザダイオード15から発せられたレーザ光L1をワークW表面上に照射させる投光レンズ17とを備えている。これらのレーザダイオード15、LD駆動回路16及び投光レンズ17は、投光部の一例である。
センサ用コントローラ12は、例えばFPGAによって構築された制御回路30、操作パネル31、メモリ32及び表示部33を備えている。制御回路30は、制御部の一例であり、後述するワーク形状比較処理を実行する。操作パネル31は、変位センサ11やセンサ用コントローラ12の各動作条件などの各種設定を行うためのものであり、設定部及び操作部の一例である。メモリ32には、ワーク形状比較処理を実行するためのプログラム等が記憶されており、不揮発性メモリであることが好ましい。表示部33の例としては、液晶ディスプレイ、LCDが挙げられる。
図2はワーク形状比較処理を示すフローチャートである。例えば作業者が操作パネル31にてワーク形状比較の実行指示を入力すると、制御回路30は、図2に示すワーク形状比較処理を実行する。また、変位センサ11は、図示しない電源スイッチがオンされると、制御回路21は、変位センサ11に前述した投光動作及び受光動作を繰り返し実行させ、設定サンプリング周期ごとに、CCD駆動回路20からの電圧信号SG1を受けて、CCDリニアセンサ19の受光面19a上の全画素から最大受光量の画素を検出し、このピーク画素の位置に対応した測定信号SG3を、センサ用コントローラ12へ出力する。なお、制御回路21は、センサ用コントローラ12の制御回路30からの指示をトリガとして、上記投光動作及び受光動作等を開始してもよい。
本実施形態によれば、複数の信号波形V1〜V4が、基準レベルを示す基準部位X1〜X4同士を一致させた状態で表示部33の表示画面33Aに表示される。従って、複数の信号波形V1〜V4を、基準部位同士1〜X4を一致させない状態で表示させる構成に比べて、複数の信号波形V1〜Vの比較を、作業者に簡易且つ正確にさせることができる。
本発明は上記記述及び図面によって説明した実施形態に限定されるものではなく、例えば次のような種々の態様も本発明の技術的範囲に含まれる。
Claims (6)
- 相対的に移動する複数の測定対象物に順次、光を照射する投光部と、
前記各測定対象物からの反射光を受光する受光面を有し、その反射光の前記受光面上での受光位置に応じた位置信号を出力する位置検出部と、
表示画面を有する表示部と、
前記位置検出部から出力された前記位置信号に基づき、前記複数の測定対象物それぞれの形状に対応した複数の信号波形それぞれについて当該信号波形のうち、任意の値に設定可能である基準レベルを示す部位である基準部位を抽出する抽出処理、及び、
前記抽出処理で抽出された前記基準部位同士を一致させた状態で、前記複数の信号波形を前記表示画面に表示させる表示処理を
実行する制御部と、を備える変位センサシステム。 - 請求項1に記載の変位センサシステムであって、
作業者に前記基準レベルを任意の値に設定させる設定部を備える、変位センサシステム。 - 請求項1に記載の変位センサシステムであって、
作業者の入力操作を受け付ける操作部を備え、
前記制御部は、
前記抽出処理において、前記複数の信号波形を前記表示画面に表示させ、前記複数の信号波形の横方向における位置関係を、前記操作部での入力操作に応じて任意に決定し、その決定された位置関係にある前記複数の信号波形の交差部位の信号レベルを、前記基準レベルとして設定する、変位センサシステム。 - 請求項2または3に記載の変位センサシステムであって、
メモリを備え、
前記制御部は、設定された前記基準レベルを前記メモリに記憶し、これ以降の前記抽出処理において前記メモリに記憶された前記基準レベルを読み出して前記基準部位を抽出する、変位センサシステム。 - 相対的に順次移動する複数の測定対象物それぞれの形状に応じた位置信号を出力する変位センサと通信可能に接続されるセンサ用コントローラであって、
表示画面を有する表示部と、
前記変位センサから出力された前記位置信号に基づき、前記複数の測定対象物それぞれの形状に対応した複数の信号波形それぞれについて当該信号波形のうち、任意の値に設定可能である基準レベルを示す部位である基準部位を抽出する抽出処理、及び、
前記抽出処理で抽出された前記基準部位同士を一致させた状態で、前記複数の信号波形を前記表示画面に表示させる表示処理を実行する制御部と、を備えるセンサ用コントローラ。 - 相対的に順次移動する複数の測定対象物それぞれの形状に応じた位置信号を出力する変位センサを有する変位センサシステムと通信可能に接続され、表示画面を有する表示部を備える情報処理装置が有するコンピュータに、
前記変位センサから出力された前記位置信号に基づき、前記複数の測定対象物それぞれの形状に対応した複数の信号波形それぞれについて当該信号波形のうち、任意の値に設定可能である基準レベルを示す部位である基準部位を抽出する抽出処理と、
前記抽出処理で抽出された前記基準部位同士を一致させた状態で、前記複数の信号波形を前記表示画面に表示させる表示処理と、
を実行させる、表示制御プログラム。
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