JP5801286B2 - X線ソース及びx線生成方法 - Google Patents
X線ソース及びx線生成方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5801286B2 JP5801286B2 JP2012510429A JP2012510429A JP5801286B2 JP 5801286 B2 JP5801286 B2 JP 5801286B2 JP 2012510429 A JP2012510429 A JP 2012510429A JP 2012510429 A JP2012510429 A JP 2012510429A JP 5801286 B2 JP5801286 B2 JP 5801286B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electron
- electron beam
- target
- emitters
- ray source
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J35/00—X-ray tubes
- H01J35/02—Details
- H01J35/14—Arrangements for concentrating, focusing, or directing the cathode ray
- H01J35/153—Spot position control
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J35/00—X-ray tubes
- H01J35/02—Details
- H01J35/04—Electrodes ; Mutual position thereof; Constructional adaptations therefor
- H01J35/06—Cathodes
- H01J35/064—Details of the emitter, e.g. material or structure
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2235/00—X-ray tubes
- H01J2235/06—Cathode assembly
- H01J2235/062—Cold cathodes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2235/00—X-ray tubes
- H01J2235/06—Cathode assembly
- H01J2235/068—Multi-cathode assembly
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2235/00—X-ray tubes
- H01J2235/08—Targets (anodes) and X-ray converters
- H01J2235/086—Target geometry
Landscapes
- X-Ray Techniques (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
a) 電子ビームと衝突した際にX線を放出するターゲットと、
b) 少なくとも2つの電子ビームソースを有し、前記ターゲットの方向に収束する電子ビームを選択的に放出する電子ビーム生成部と
を有するX線ソースである。
a)電子ビームと衝突した場合にX線を放つ(放射する)ターゲット。そのようなターゲットに相応しい設計事項及び材料自体は当業者によく知られており、例えばタングステン電極が使用される。動作中、ターゲットは通常正の電位に接続され、以下の説明においてそれは「アノード(陽極)」とも言及される。
b)少なくとも2つの電子ビームソースを備え、上記のターゲットの方向において焦点に収束する(集まる)電子ビームを選択的に放出する電子ビーム生成部。電子ビーム生成部は、方向付けられた電子ビームを生成することが可能な任意の種類の装置としてよい。具体的な実施形態については後述する。
a)電子ビーム生成部の少なくとも2つの異なる電子ビームソースから電子ビームを選択的に生成するステップ。
b)ターゲットにおいて焦点を結ぶように電子ビームの焦点を合わせるステップ。
a)電子エミッタのアレイ又は配列を有する「エミッタ装置」(電子が材料から離れて自由電子として隣接する空間(通常は真空の空間)に入ることを可能にする)。通常、電子エミッタはカソードとして機能し、適切な電場を提供し、電子放出のためのエネルギ(仕事関数)を提供する。
b)エミッタ装置から放出される電子ビームを選択的に方向付ける電極ユニット配列を有する「電極装置」。電極ユニットを利用して、動作中に適切な電位が印加され、電子エミッタからの放出は、明確に規定された適切な方向のビームに形成される。典型的には、電極ユニット及び電子エミッタは互いに1対1の関係で指定されている。
1.タングステン合金のような適切な材料の基板又は板により実現されてもよいターゲット110。ターゲットがターゲットポイントTにおいて電子ビームBに当たると、X線ビームXが放出される。動作中、ターゲット110は、通常、コントローラ150により与えられる正の電位を有する。従って以下の説明においてターゲットは「アノード」と同義的である。
2.アノード110の方向において焦点を結ぶ電子ビームB、B’を生成する電子ビームソース121を有する電子ビーム生成部120。図示の形態の場合、電子ビーム生成部は以下の2つの要素を有する:
2.1 電極装置130。電極装置は、電子ビームB、B’が通過する孔131の配列を含む導電性基板により実現されてもよい。動作中、電極装置130はコントローラ150により或る電位が与えられ、その電位は電子の所望の平行化及び/又は偏向を達成できるように選択される。電極装置は2つ以上の電極から構成されていてもよい。
2.2 エミッタ装置140。エミッタ装置は、電子エミッタ141がマトリクスパターンで配置されている表面を伴う曲面により実現される。動作中、電子エミッタ141にはコントローラ150により選択的に(すなわち、個々に又は個別に)或る電位(負の電位)が与えられ、電子エミッタに電子を放出させる。通常、一度に1つの電子エミッタ141のみが活性化又はアクティブにされる。電子エミッタ141は、特に、カーボンナノチューブ(CNT)に基づいていてもよい。
Claims (8)
- 電子ビームが衝突するとX線を放出するターゲットと、
前記ターゲットに向かう電子ビームを選択的に放出する複数の電子ビームソースを有する電子ビーム生成部と
を有し、前記電子ビーム生成部は、
2次元的な行列形式に配置された複数の電子エミッタを有する電子エミッタ装置と、
前記電子エミッタ装置から放出された電子ビームを通過させるように所定の電位に設定される孔を複数個有する電極装置と
を有し、前記複数の電子ビームソースの各々は前記電子エミッタ及び前記孔を有し、
前記複数の電子エミッタのうち第1の列に沿って並ぶ電子エミッタの位置と、前記複数の電子エミッタのうち前記第1の列に隣接する第2の列に沿って並ぶ電子エミッタの位置とは、列方向に互いにずれており、
前記第1の列に沿って並ぶ電子エミッタ及び前記第2の列に沿って並ぶ電子エミッタから放出される複数の電子ビームが、前記ターゲットにおいて1つの1次元的な軌跡を描くように、前記複数の電子エミッタ又は孔が形成される面或いは前記ターゲットの表面が湾曲している、X線ソース。 - 前記電子ビームソースにより放出された前記電子ビームが、少なくとも1つの所与のライン上にあるターゲットポイントにおいて前記ターゲットに当たる、請求項1記載のX線ソース。
- 前記ライン上で隣接するターゲットポイント同士の相互距離が、隣接する電子ビームソース同士の相互距離よりも短い、請求項2記載のX線ソース。
- 前記複数の電子エミッタがカーボンナノチューブを含む、請求項1記載のX線ソース。
- 前記孔が電子ビームを偏向させるように設計されている、請求項1のX線ソース。
- 少なくとも2つの列に属する電子エミッタから放出された電子ビームが、前記ターゲット上の同じラインにおいて焦点を結ぶ、請求項1記載のX線ソース。
- 請求項1記載のX線ソースを有するX線画像処理装置であって、CT、μCT、材料分析、手荷物検査又はトモシンセシスにおいて使用されるX線画像処理装置。
- 2次元的な行列形式に配置された複数の電子エミッタのうち選択された電子エミッタにより電子ビームを放出し、所定の電位に設定された孔を介して該電子ビームを通過させ、該電子ビームがターゲットに衝突することにより前記ターゲットがX線を放出することを、前記複数の電子エミッタの各々について行うステップを有し、
前記複数の電子エミッタのうち第1の列に沿って並ぶ電子エミッタの位置と、前記複数の電子エミッタのうち前記第1の列に隣接する第2の列に沿って並ぶ電子エミッタの位置とは、列方向に互いにずれており、
前記第1の列に沿って並ぶ電子エミッタ及び前記第2の列に沿って並ぶ電子エミッタから放出される複数の電子ビームが、前記ターゲットにおいて1つの1次元的な軌跡を描くように、前記複数の電子エミッタ又は孔が形成される面或いは前記ターゲットの表面が湾曲している、X線生成方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP09159977 | 2009-05-12 | ||
EP09159977.9 | 2009-05-12 | ||
PCT/IB2010/052107 WO2010131209A1 (en) | 2009-05-12 | 2010-05-12 | X-ray source with a plurality of electron emitters |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012527079A JP2012527079A (ja) | 2012-11-01 |
JP5801286B2 true JP5801286B2 (ja) | 2015-10-28 |
Family
ID=42335289
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012510429A Active JP5801286B2 (ja) | 2009-05-12 | 2010-05-12 | X線ソース及びx線生成方法 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8989351B2 (ja) |
EP (1) | EP2430638B1 (ja) |
JP (1) | JP5801286B2 (ja) |
CN (1) | CN102422364B (ja) |
RU (1) | RU2538771C2 (ja) |
WO (1) | WO2010131209A1 (ja) |
Families Citing this family (42)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5833327B2 (ja) * | 2011-03-25 | 2015-12-16 | 株式会社日立ハイテクサイエンス | X線管及びx線分析装置 |
US20150117599A1 (en) | 2013-10-31 | 2015-04-30 | Sigray, Inc. | X-ray interferometric imaging system |
US20140321619A1 (en) | 2011-11-28 | 2014-10-30 | Koninklijke Philips N.V. | X-ray tube with heatable field emission electron emitter and method for operating same |
KR102076380B1 (ko) * | 2012-03-16 | 2020-02-11 | 나녹스 이미징 피엘씨 | 전자 방출 구조체를 갖는 장치 |
JP6024500B2 (ja) * | 2012-03-21 | 2016-11-16 | Jfeエンジニアリング株式会社 | アレイ型粒子線照射装置及びその制御方法 |
US9922793B2 (en) | 2012-08-16 | 2018-03-20 | Nanox Imaging Plc | Image capture device |
CN103903940B (zh) * | 2012-12-27 | 2017-09-26 | 清华大学 | 一种产生分布式x射线的设备和方法 |
JP6080610B2 (ja) | 2013-02-26 | 2017-02-15 | キヤノン株式会社 | マルチ放射線発生装置および放射線撮影システム |
CN104470176B (zh) * | 2013-09-18 | 2017-11-14 | 同方威视技术股份有限公司 | X射线装置以及具有该x射线装置的ct设备 |
JP6526014B2 (ja) * | 2013-09-18 | 2019-06-05 | 清華大学Tsinghua University | X線装置及び該x線装置を有するctデバイス |
CN104470177B (zh) * | 2013-09-18 | 2017-08-25 | 同方威视技术股份有限公司 | X射线装置及具有该x射线装置的ct设备 |
US10295485B2 (en) | 2013-12-05 | 2019-05-21 | Sigray, Inc. | X-ray transmission spectrometer system |
US10269528B2 (en) | 2013-09-19 | 2019-04-23 | Sigray, Inc. | Diverging X-ray sources using linear accumulation |
US10297359B2 (en) | 2013-09-19 | 2019-05-21 | Sigray, Inc. | X-ray illumination system with multiple target microstructures |
CN105556637B (zh) * | 2013-09-19 | 2019-12-10 | 斯格瑞公司 | 使用线性累加的x射线源 |
USRE48612E1 (en) | 2013-10-31 | 2021-06-29 | Sigray, Inc. | X-ray interferometric imaging system |
US10304580B2 (en) | 2013-10-31 | 2019-05-28 | Sigray, Inc. | Talbot X-ray microscope |
US10269527B2 (en) * | 2013-11-27 | 2019-04-23 | Nanox Imaging Plc | Electron emitting construct configured with ion bombardment resistant |
JP6529984B2 (ja) * | 2014-05-01 | 2019-06-12 | シグレイ、インコーポレイテッド | X線干渉イメージングシステム |
US10401309B2 (en) | 2014-05-15 | 2019-09-03 | Sigray, Inc. | X-ray techniques using structured illumination |
JP6980740B2 (ja) * | 2015-02-10 | 2021-12-15 | ルクスブライト・アーベー | X線デバイス |
US10352880B2 (en) | 2015-04-29 | 2019-07-16 | Sigray, Inc. | Method and apparatus for x-ray microscopy |
RU2618510C2 (ru) * | 2015-05-18 | 2017-05-04 | Общество с ограниченной ответственностью "СКБ Медрентех" | Способ рентгеноскопии |
US10295486B2 (en) | 2015-08-18 | 2019-05-21 | Sigray, Inc. | Detector for X-rays with high spatial and high spectral resolution |
US10991539B2 (en) * | 2016-03-31 | 2021-04-27 | Nano-X Imaging Ltd. | X-ray tube and a conditioning method thereof |
US11145431B2 (en) * | 2016-08-16 | 2021-10-12 | Massachusetts Institute Of Technology | System and method for nanoscale X-ray imaging of biological specimen |
US11152130B2 (en) * | 2016-08-16 | 2021-10-19 | Massachusetts Institute Of Technology | Nanoscale X-ray tomosynthesis for rapid analysis of integrated circuit (IC) dies |
US10247683B2 (en) | 2016-12-03 | 2019-04-02 | Sigray, Inc. | Material measurement techniques using multiple X-ray micro-beams |
JP6937380B2 (ja) | 2017-03-22 | 2021-09-22 | シグレイ、インコーポレイテッド | X線分光を実施するための方法およびx線吸収分光システム |
US10578566B2 (en) | 2018-04-03 | 2020-03-03 | Sigray, Inc. | X-ray emission spectrometer system |
CN112567893A (zh) * | 2018-05-25 | 2021-03-26 | 微-X有限公司 | 一种将波束成形信号处理应用于rf调制x射线的装置 |
US10989822B2 (en) | 2018-06-04 | 2021-04-27 | Sigray, Inc. | Wavelength dispersive x-ray spectrometer |
GB2591630B (en) | 2018-07-26 | 2023-05-24 | Sigray Inc | High brightness x-ray reflection source |
US10656105B2 (en) | 2018-08-06 | 2020-05-19 | Sigray, Inc. | Talbot-lau x-ray source and interferometric system |
US10962491B2 (en) | 2018-09-04 | 2021-03-30 | Sigray, Inc. | System and method for x-ray fluorescence with filtering |
DE112019004478T5 (de) | 2018-09-07 | 2021-07-08 | Sigray, Inc. | System und verfahren zur röntgenanalyse mit wählbarer tiefe |
RU2695637C1 (ru) * | 2018-10-02 | 2019-07-25 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Физический институт им. П.Н. Лебедева Российской академии наук, (ФГБУН ФИАН) | Устройство многопроекционной съёмки |
US10804062B2 (en) | 2019-01-31 | 2020-10-13 | Electronics And Telecommunications Research Institute | Field emission device |
WO2021011209A1 (en) | 2019-07-15 | 2021-01-21 | Sigray, Inc. | X-ray source with rotating anode at atmospheric pressure |
US11437218B2 (en) | 2019-11-14 | 2022-09-06 | Massachusetts Institute Of Technology | Apparatus and method for nanoscale X-ray imaging |
WO2021168686A1 (en) * | 2020-02-26 | 2021-09-02 | Shenzhen Xpectvision Technology Co., Ltd. | Imaging systems and methods of operating the same |
WO2023039774A1 (en) * | 2021-09-16 | 2023-03-23 | Shenzhen Xpectvision Technology Co., Ltd. | Imaging methods using multiple radiation beams |
Family Cites Families (36)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3482096A (en) * | 1965-08-02 | 1969-12-02 | Field Emission Corp | High energy field emission electron radiation pulse generator,x-ray apparatus and system employing same |
JP2579912B2 (ja) * | 1986-08-05 | 1997-02-12 | キヤノン株式会社 | 荷電粒子発生装置 |
FR2658002B1 (fr) * | 1990-02-02 | 1992-05-22 | Gen Electric Cgr | Cathode a deflexion en diedre pour tube a rayons x. |
US5173852A (en) | 1990-06-20 | 1992-12-22 | General Electric Company | Computed tomography system with translatable focal spot |
US5442678A (en) * | 1990-09-05 | 1995-08-15 | Photoelectron Corporation | X-ray source with improved beam steering |
US5303281A (en) * | 1992-07-09 | 1994-04-12 | Varian Associates, Inc. | Mammography method and improved mammography X-ray tube |
JP2630900B2 (ja) | 1993-04-22 | 1997-07-16 | 株式会社岡村製作所 | 衝立立設装置 |
US5796211A (en) * | 1994-12-22 | 1998-08-18 | Lucent Technologies, Inc. | Microwave vacuum tube devices employing electron sources comprising activated ultrafine diamonds |
US6283812B1 (en) * | 1999-01-25 | 2001-09-04 | Agere Systems Guardian Corp. | Process for fabricating article comprising aligned truncated carbon nanotubes |
RU2161843C2 (ru) * | 1999-02-17 | 2001-01-10 | Кванта Вижн, Инк. | Точечный высокоинтенсивный источник рентгеновского излучения |
US6504292B1 (en) * | 1999-07-15 | 2003-01-07 | Agere Systems Inc. | Field emitting device comprising metallized nanostructures and method for making the same |
US6538367B1 (en) * | 1999-07-15 | 2003-03-25 | Agere Systems Inc. | Field emitting device comprising field-concentrating nanoconductor assembly and method for making the same |
US6297592B1 (en) * | 2000-08-04 | 2001-10-02 | Lucent Technologies Inc. | Microwave vacuum tube device employing grid-modulated cold cathode source having nanotube emitters |
US6553096B1 (en) * | 2000-10-06 | 2003-04-22 | The University Of North Carolina Chapel Hill | X-ray generating mechanism using electron field emission cathode |
US6876724B2 (en) | 2000-10-06 | 2005-04-05 | The University Of North Carolina - Chapel Hill | Large-area individually addressable multi-beam x-ray system and method of forming same |
US7082182B2 (en) * | 2000-10-06 | 2006-07-25 | The University Of North Carolina At Chapel Hill | Computed tomography system for imaging of human and small animal |
US6980627B2 (en) * | 2000-10-06 | 2005-12-27 | Xintek, Inc. | Devices and methods for producing multiple x-ray beams from multiple locations |
JP2002243898A (ja) | 2001-02-13 | 2002-08-28 | Ebara Corp | ビーム取り出し装置 |
US20030002628A1 (en) * | 2001-06-27 | 2003-01-02 | Wilson Colin R. | Method and system for generating an electron beam in x-ray generating devices |
US6760407B2 (en) * | 2002-04-17 | 2004-07-06 | Ge Medical Global Technology Company, Llc | X-ray source and method having cathode with curved emission surface |
US20080267354A1 (en) * | 2003-05-22 | 2008-10-30 | Comet Holding Ag. | High-Dose X-Ray Tube |
FR2861215B1 (fr) * | 2003-10-20 | 2006-05-19 | Calhene | Canon a electrons a anode focalisante, formant une fenetre de ce canon, application a l'irradiation et a la sterilisation |
US7639774B2 (en) | 2003-12-23 | 2009-12-29 | General Electric Company | Method and apparatus for employing multiple axial-sources |
US7192031B2 (en) | 2004-02-05 | 2007-03-20 | General Electric Company | Emitter array configurations for a stationary CT system |
US7333587B2 (en) | 2004-02-27 | 2008-02-19 | General Electric Company | Method and system for imaging using multiple offset X-ray emission points |
US7203269B2 (en) | 2004-05-28 | 2007-04-10 | General Electric Company | System for forming x-rays and method for using same |
EP1754242A2 (en) * | 2004-05-28 | 2007-02-21 | The General Electric Company | System for forming x-rays and method for using same |
KR101118693B1 (ko) * | 2004-07-05 | 2012-03-12 | 전자빔기술센터 주식회사 | 멀티 마이크로칼럼에서 전자빔을 제어하는 방법 및 이방법을 이용한 멀티 마이크로칼럼 |
US7263156B2 (en) | 2005-05-12 | 2007-08-28 | Varian Medical Systems Technologies, Inc. | Method and apparatus to facilitate computerized tomography of relatively large objects |
JP5295503B2 (ja) * | 2007-01-15 | 2013-09-18 | ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー | X線発生装置およびx線ct装置 |
WO2009012453A1 (en) | 2007-07-19 | 2009-01-22 | The University Of North Carolina At Chapel Hill | Stationary x-ray digital breast tomosynthesis systems and related methods |
JP2009087633A (ja) * | 2007-09-28 | 2009-04-23 | Toshiba Corp | X線源およびx線源の製造方法 |
CN101470560B (zh) * | 2007-12-27 | 2012-01-25 | 清华大学 | 触摸屏及显示装置 |
US7826594B2 (en) * | 2008-01-21 | 2010-11-02 | General Electric Company | Virtual matrix control scheme for multiple spot X-ray source |
US7809114B2 (en) * | 2008-01-21 | 2010-10-05 | General Electric Company | Field emitter based electron source for multiple spot X-ray |
WO2009136349A2 (en) * | 2008-05-09 | 2009-11-12 | Philips Intellectual Property & Standards Gmbh | X-Ray Examination System with Integrated Actuator Means for Performing Translational and/or Rotational Disuplacement Movements of at Least One X-Radiation Emitting Anode's Focal Spot Relative to a Stationary Reference Position and Means for Compensating Resulting Parallel and/or Angular Shifts of the Emitted X-Ray Beams |
-
2010
- 2010-05-12 JP JP2012510429A patent/JP5801286B2/ja active Active
- 2010-05-12 US US13/266,478 patent/US8989351B2/en active Active
- 2010-05-12 EP EP10726259.4A patent/EP2430638B1/en active Active
- 2010-05-12 WO PCT/IB2010/052107 patent/WO2010131209A1/en active Application Filing
- 2010-05-12 CN CN201080020314.8A patent/CN102422364B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2010-05-12 RU RU2011150236/07A patent/RU2538771C2/ru not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
RU2011150236A (ru) | 2013-06-20 |
CN102422364B (zh) | 2015-08-05 |
RU2538771C2 (ru) | 2015-01-10 |
JP2012527079A (ja) | 2012-11-01 |
CN102422364A (zh) | 2012-04-18 |
US8989351B2 (en) | 2015-03-24 |
WO2010131209A1 (en) | 2010-11-18 |
EP2430638A1 (en) | 2012-03-21 |
EP2430638B1 (en) | 2018-08-08 |
US20120057669A1 (en) | 2012-03-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5801286B2 (ja) | X線ソース及びx線生成方法 | |
US9991085B2 (en) | Apparatuses and methods for generating distributed x-rays in a scanning manner | |
KR101810349B1 (ko) | 전자 소스, x선원 및 그 x선원을 사용한 설비 | |
US6980627B2 (en) | Devices and methods for producing multiple x-ray beams from multiple locations | |
US20120027173A1 (en) | Structured electron emitter for coded source imaging with an x-ray tube | |
JP5675794B2 (ja) | 2つの焦点スポットを生成するx線管及びこれを有する医療デバイス | |
US8488737B2 (en) | Medical X-ray imaging system | |
US20040240616A1 (en) | Devices and methods for producing multiple X-ray beams from multiple locations | |
CN103177919A (zh) | 电子光学设备、x射线发射装置及产生电子束的方法 | |
JP2007265981A (ja) | マルチx線発生装置 | |
JP2016502886A (ja) | カソード制御マルチカソード分散型x線装置、及びこの装置を有するct設備 | |
KR20170089387A (ko) | 전계 방출 소자 및 이를 구비하는 엑스선 방출원 | |
JP5295503B2 (ja) | X線発生装置およびx線ct装置 | |
KR20140106291A (ko) | 평판형 엑스선 발생기를 구비한 엑스선 영상 시스템, 엑스선 발생기 및 전자 방출소자 | |
WO2014209158A1 (ru) | Многолучевая рентгеновская трубка | |
US20230411106A1 (en) | Multi-beam x-ray source and method for forming same | |
KR102136062B1 (ko) | 전계 방출형 토모신테시스 시스템 | |
JP2012033505A (ja) | マルチx線発生装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20130510 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20140116 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140218 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140402 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20141125 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150217 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20150728 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20150826 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5801286 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |